JP2001100838A - 製造職場の不良の起こし易さ評価方法及びその装置、製品の品質評価方法及びその装置並びに記録媒体 - Google Patents

製造職場の不良の起こし易さ評価方法及びその装置、製品の品質評価方法及びその装置並びに記録媒体

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JP2001100838A
JP2001100838A JP27336899A JP27336899A JP2001100838A JP 2001100838 A JP2001100838 A JP 2001100838A JP 27336899 A JP27336899 A JP 27336899A JP 27336899 A JP27336899 A JP 27336899A JP 2001100838 A JP2001100838 A JP 2001100838A
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】製造職場において一連の製造作業によって製造
される製品の作業不良率等の品質を評価推定できる方法
を提供する。 【解決手段】職場評価用データベースを予め作成して記
憶準備しておく職場データベース準備過程と、該準備さ
れた職場評価用データベースから、入力された製造職場
における各職場条件不良影響項目についての職場水準レ
ベルに対応する不良発生度指標を抽出し、これを所望の
複数の職場条件不良影響項目に亘って総計して製造職場
における基準製造作業に対する不良の起こし易さを評価
推定して職場指標として製品評価用データベースに格納
する職場評価過程と、製造職場における職場指標を用い
て、複数の製造作業によって製造される製品としての作
業不良率を示す品質を評価推定する製品評価過程とを有
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、家電品、OA製品
など、部品を組立または加工して製造する製造職場にお
ける製造職場の不良の起こし易さ(実力)を評価する製
造職場の不良の起こし易さ評価方法及びその装置、更に
は、家電品、OA製品など、部品を組立または加工して
製造した製品の作業不良率等の品質を評価する製品の品
質評価方法及びその装置、並びに評価方法を実行するプ
ログラムを記録した記録媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】従来技術は、実際に起こった不良現象や
故障現象から、その発生原因を推定する技術が主であ
る。このように製造段階で発生した不良現象内容から不
良の原因を推定する技術の公知例としては、特開平1-
167631号公報(従来技術1)や特開平6-196
900号公報(従来技術2)がある。従来技術1には、
ワークの検査を行った後の適・不適項目の組合せに対応
させて不良原因を設定し、これら適・不適項目の組合せ
と不良原因との相関度合を、不良原因の手直しの結果に
基いて評価し、適・不適項目の組合せに対応する不良原
因のうち相関度合を基準に不良原因を推定して不良原因
を手直しによって解消させるワークの手直し方法が記載
されている。従来技術2には、電子部品を実装するため
の印刷・装着・半田付けの各工程において入力された品
質結果をプリント基板別に比較し、各工程間に関連して
不良が起こる可能性を示す品質不良関連規則を参照して
最終不良に対する各工程の影響度を算出して予測する実
装工程不良要因分析方法が記載されている。
【0003】また、同様の手法を故障診断に用いた例と
しては、特開平7-13617号公報(従来技術3)や
特開平7-271587号公報(従来技術4)がある。
従来技術3には、各不具合事象ごとに、不具合事象の状
況を表わす現象群とその不具合事象を発生させる原因群
を対比して、各現象ごとに関連する原因に対する関連の
度合を示す関連値を定めた関連表を作成し、不具合事象
に付随して発生した現象を求め、関連表の各原因につい
て、求めた現象に対する関連値に所定の方法で重み付け
した値を積算した積算値を算出し、この積算値の最大と
なる原因を不具合現象の原因とする不具合事象の原因推
定方法が記載されている。従来技術4には、故障原因と
不具合現象とを一義的に記述した知識データを利用して
不具合現象を探究して仮説を生成し、次いで不具合現象
と故障原因との因果関係を理論的に分析して構成した知
識データを利用して、上記仮説を検証する故障診断装置
が記載されている。上記従来技術1、2、3、4は、い
ずれも、不良現象や故障現象が起きた時に、実際に起き
た現象の内容を基に、その手直しや修理を迅速に的確に
行うためのものであり、過去の事象に基づいて直接的原
因を推定する技術である。
【0004】一方、実際に不良や故障が起きる前に、製
造する製品の品質評価を行う手法としては、主に製品の
設計段階で用いられるFMEA(Failure Mode Effect
Analysis)(日科技連信頼性工学シリーズ7「FME
A、FTAの活用」に記載されている。)が知られてい
る。これは評価者自身が「製品を構成する部品個々の起
き得る故障現象」を推定し、各部品に対する故障現象を
表形式にまとめるものである。これにより、評価者自身
が「それがおきた場合、製品にはどのような影響を及ぼ
すか」を推定をすることが可能となり、抜けのない品質
設計が可能となる。
【0005】また、FMECA(Failure Mode、Effect
& Criticalty Analysis)のように、FMEAにおい
て、評価者が推定した個々の部品の故障現象の起きる確
率(故障率)を与え、更にその個々の部品の故障によっ
て起こると推定される製品故障の重要度を与え、部品個
々の不良や故障の重要度を推察する手法もある。また、
工場の製造する製品の品質の高さのレベルを評価するも
のとしては、一般に外注工場審査のために種々の企業で
作成している外注工場審査チェックシートが知られてい
る。その他、工場の生産性を評価するものとして、「工
場診断装置」(特開平9−62309号公報)(従来技
術5)や、「実装工場診断システム」(特開平10−7
9599号公報)(従来技術6)などが知られている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記した過去
の事象に基づいて直接的原因を推定する技術、FMEA
およびFMECAは、いずれも実際に起きうる故障現象
の大部分を把握する必要があるため、その製品の有する
不良となるポテンシャルを精度良く推定することは出来
ない。従って、現状では検討漏れによる製造不良が多数
起き、品質低下の一要因となっている。また、外注工場
審査チェックシートでは、評価対象の工場の開発、製
造、品質保証などの体制やシステムの良さを評価するも
のではあるが、その評価結果から該評価対象の工場の不
良発生度を定量的に評価することはできない。また、上
記工場の生産性を評価する従来技術5、6では、製造職
場の有する不良発生度合いを評価することはできない。
このように、製造職場に関するいずれの従来技術も製造
職場の不良発生度を定量的に評価することに対して十分
ではない。例えば、二つの工場の評価をして、どちらの
工場がどれだけ不良発生度が高いかといったことを評価
するのは難しい。
【0007】本発明の目的は、上記課題を解決すべく、
設計段階や製造工程計画段階等の製造前の段階で、その
製品を製造する予定の製造職場(工場も含む)において
組立または加工等の製造作業を行った場合における製造
職場の不良の起こし易さを評価推定して、その製造職場
において一連の製造作業によって製造される製品の作業
不良率等の品質を評価推定できるようにした製品の品質
評価方法及びその装置並びに記録媒体を提供することに
ある。また、本発明の他の目的は、設計段階や製造工程
計画段階等の製造前の段階で、その製品を製造する予定
の製造職場(工場も含む)において組立等の製造作業を
行った場合における製造職場の不良の起こし易さを評価
推定できるようにした製造職場の不良の起こし易さ評価
方法及びその装置並びに記録媒体を提供することにあ
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、予め設定された複数の職場条件不良影響
項目と該各職場条件不良影響項目について少なくとも基
準職場水準レベルにおける基準製造作業に対する不良発
生度指標との対応関係を示す職場評価用データベースを
予め作成して記憶準備しておく職場データベース準備過
程と、該職場データベース準備過程で準備された職場評
価用データベースから、入力された評価対象の製造職場
における各職場条件不良影響項目についての職場水準レ
ベルに対応する前記不良発生度指標を抽出し、この抽出
された不良発生度指標を所望の複数の職場条件不良影響
項目に亘って総計して評価対象の製造職場における基準
製造作業に対する不良発生度を示す指標を算出すること
により評価対象の製造職場における不良の起こし易さ
(不良率)を評価推定する職場評価過程とを有すること
を特徴とする製造職場の不良の起こし易さ評価方法およ
びその装置である。また、本発明は、前記製造職場の不
良の起こし易さ評価方法およびその装置において、評価
対象の製造職場における前記各職場条件不良影響項目に
ついての少なくとも職場水準レベルを入力する職場水準
入力過程を有することを特徴とする。
【0009】また、本発明は、前記製造職場の不良の起
こし易さ評価方法およびその装置における職場データベ
ース準備過程において、前記職場評価用データベースと
して、予め設定された作業者、製造設備、製造条件、製
造物理的環境、およびマネージメントに関する職場条件
不良影響項目と該各職場条件不良影響項目について少な
くとも基準職場水準レベルにおける基準製造作業に対す
る不良発生抑制力となる不良作り込み指標、不良発生時
対処力となる不良対処時間度合指標、および不良検出力
となる不良摘出指標との対応関係を示すデータベースで
あることを特徴とする。
【0010】また、本発明は、前記製造職場の不良の起
こし易さ評価方法およびその装置における職場評価過程
において、抽出された3つの指標を合計して各職場条件
不良影響項目についての不良発生度を示す指標を算出
し、この算出された不良発生度を示す指標を所望の多数
の職場条件不良影響項目に亘って総計して評価対象の製
造職場における基準製造作業に対する不良発生度を示す
指標を算出することを特徴とする。また、本発明は、前
記製造職場の不良の起こし易さ評価方法およびその装置
における職場評価過程において、職場条件不良影響項目
間における相対的重み付けをすることを特徴とする。ま
た、本発明は、前記製造職場の不良の起こし易さ評価方
法およびその装置における職場データベース準備過程に
おいて、作業者、製造設備、製造条件、製造物理的環
境、およびマネージメントに関する職場条件不良影響項
目が、作業者、製造設備、製造条件、製造物理的環境、
およびマネージメントの各々において複数の項目に細分
類されることを特徴とする。また、本発明は、前記製造
職場の不良の起こし易さ評価方法およびその装置におい
て、更に、前記職場評価過程で評価推定された結果(職
場の不良の起こし易さ指標、評価カテゴリ別職場水準評
価結果、改善アドバイス等)を出力する出力過程を有す
ることを特徴とする。
【0011】また、本発明は、予め設定された複数の職
場条件不良影響項目と該各職場条件不良影響項目につい
て少なくとも基準職場水準レベルにおける基準製造作業
に対する不良発生度指標との対応関係を示す職場評価用
データベースを予め作成して記憶準備しておく職場デー
タベース準備過程と、該職場データベース準備過程で準
備された職場評価用データベースから、入力された製造
職場における各職場条件不良影響項目についての職場水
準レベルに対応する前記不良発生度指標を抽出し、この
抽出された不良発生度指標を所望の複数の職場条件不良
影響項目に亘って総計して製造職場における基準製造作
業(組立作業の場合最も単純な下移動作業となる。)に
対する不良発生度を示す指標を算出することにより製造
職場における基準製造作業に対する不良の起こし易さ
(職場補正定数(職場不良率))を評価推定して職場指
標として製品評価用データベースに格納する職場評価過
程と、該職場評価過程で製品評価用データベースに格納
された製造職場における職場指標を用いて、該製造職場
において複数の製造作業によって製造される製品として
の作業不良率を示す品質を評価推定する製品評価過程と
を有することを特徴とする製品の品質評価方法およびそ
の装置である。
【0012】また、本発明は、前記製品の品質評価方法
およびその装置において、更に、複数の互いに異なる標
準製造動作の各々における不良率を示す指標と各標準製
造動作をさせる際の部品の性質に基づく補正指標とを予
め製品評価用データベースに格納準備しておく製品デー
タベース準備過程と、製品を製造させるための複数の製
造作業に亘って各製造作業における部品の性質も含めて
標準製造動作を入力する製品入力過程とを有し、前記製
品評価過程において、該製品入力過程で入力された各製
造作業における部品の性質も含む標準製造動作を基に前
記製品データベース準備過程において準備された製品評
価用データベースから不良率を示す指標および補正指標
(補正係数)を抽出し、この抽出された不良率を示す指
標を、前記抽出された補正指標で補正し、この補正され
た不良率を示す指標を複数の製造作業に亘って総合し、
この総合された不良率を示す指標または前記抽出された
個別の不良率を示す指標を前記職場評価過程で格納され
た職場指標(職場補正定数)で補正して前記製品として
の作業不良率を示す品質を評価推定することを特徴とす
る。
【0013】また、本発明は、前記製造職場の不良の起
こし易さ評価方法または前記製品の品質評価方法を実行
するプログラムを記録したことを特徴とする記録媒体で
ある。
【0014】以上説明したように、前記構成によれば、
製品製造時の不良の発生度は、製品の製造構造条件と、
該製品の製造を行う製造職場における職場条件によって
決まることになる。特に、人間が組付または加工等の製
造作業動作を確実に行えない確率(以下、不確実度と称
す)に影響を与える因子に関する情報を基に、組立また
は加工等による不良率の推定値を算出することとした。
人間が製造作業動作を確実に行えない確率(以下、不確
実度と称す)に影響を与える因子とは、製品構造がもつ
製造作業の難しさと、職場環境の大きく2種類の因子が
ある。そこで、本発明では、まず第一に、評価対象製品
の構造条件によって、どの程度製品の不良率が高くなる
かを、製品製造の際の製造作業の動作内容の情報と、製
造対象の部品の性質に関する情報とを基に推定し、第二
に、該製品を製造する職場の職場環境条件によって、ど
の程度製造不良率が高くなるかを、不良発生原因となる
1以上の職場環境項目に関して該職場がどのような水準
状態であるかを示す情報を基に推定し、更に、上記第
一、および第二の推定結果を基に、製品を製造職場で製
造したときの不良率を推定することとした。前記評価対
象製品の構造条件によって、どの程度製造不良率が高く
なるかを推定する方法は、具体的には、製造作業(組立
の場合部品組付作業)の動作内容の情報と、部品の性質
に関する情報とを基に製品不良率の推定値を算出するこ
ととした。
【0015】また、組立の場合、部品組付作業の動作内
容を表現するために必要な動作種類を決定し(下移動動
作、横移動動作、等;標準組付動作と称す)、該決定し
た標準組付動作毎に、予め定めた「ある作業者条件、あ
る部品条件、ある作業職場条件」(基準条件と称す)の
下で該標準組付動作を行う場合にその標準組付動作を確
実に行うことの出来ない確率の大小を示す数値(標準組
付動作別不良率係数と称す)を設定することとした。ま
た、評価対象をこの予め設定した標準組付動作要素の組
み合わせで表現することで、ユーザインタフェースの使
い勝手を向上させた。また、更に組立不良率の推定精度
を高くするために、前記した部品組付作業の組付動作内
容を表現した標準組付動作要素に加えて、その組付動作
の不確実度に影響を与える部品(組付部品および被組付
品)の性質を以下に示す部品条件補正因子で表現し、該
表現された部品条件補正因子を基に組立不良率の推定値
を算出する。すなわち、部品の持つ性質のうちで人間の
行う組付作業動作の不確実度に影響を与える因子(以
下、部品条件補正因子と称す)を決定し、該決定した各
影響因子毎にその影響因子の組付動作への影響度合いを
示す数値(以下、部品条件補正係数と称す)を決定して
おき、組立不良率推定の対象の部品組付作業に関し、組
付動作内容を前記標準組付動作の組み合わせで表現する
のに加えて、上記予め設定した部品条件補正因子の中か
ら当該の部品組付作業の部品の持つ性質に当てはまるも
のを選び出して表現する。
【0016】
【発明の実施の形態】本発明に係る製造職場の評価の実
施の形態について図面を用いて説明する。
【0017】本発明に係る製造職場の評価手法を用いて
定量評価することによって、不良の実績データが無くと
も職場の不良の起こし易さ(不良発生度:不良発生率)
を推定できることにある。即ち、本発明は、製造職場の
評価手法を用いて定量評価すれば、不良の実績データと
ほぼ一致することを見出したことにある。製造職場の不
良起こし易さ(不良発生度)、即ち製造職場の実力とし
ては、[不良発生抑制力]×[不良発生時対処力]×
[不良検出力]で表わすことができる。[不良発生抑制
力]は、不良品を製造しないという職場の力であり、図
1において不良作り込み度=(ab)/(AB)で表わ
すことが可能となる。[不良発生時対処力]は、不良品
が発生してしまったとき、不良対処時間をできるだけ短
くして不良品を発生しないようにする職場の力であり、
図1において不良発生時から対処完了時までの間の不良
対処時間度合で表わすことが可能となる。[不良検出
力]は、製造職場からその後工程の職場に不良品を送り
込まないように不良品を検出(摘出)できる職場の力で
あり、図1において不良摘出度=(ab’)/(ab)
で表わすことが可能となる。
【0018】そこで、基準の製造作業(組立作業の場
合、基準組立作業は例えば最も単純な下移動作業とす
る。)に対する[不良発生抑制力]×[不良発生時対処
力]×[不良検出力]を算出することによって、製造職
場の実力を評価することが可能となる。ところで、製造
職場は、製造作業を行う作業者、該作業者を監督(マネ
ージメント)する監督者、製造作業に使用する工具・治
具や製造ライン設備等の製造設備、および作業者等が存
在する気温、湿度、明るさ、騒音などの職場環境で形成
される。従って、製造職場における不良発生要因(不良
発生カテゴリ)としては、製造作業者に関するもの、製
造設備に関するもの、製造ラインスピードや生産ロット
数/単位時間等の製造条件に関するもの、製造物理的環
境に関するもの、および製造職場のマネージメントに関
するもの等に分類されることが我々の研究から明らかに
なった。
【0019】しかしながら、これら製造職場における不
良発生要因と、[不良発生抑制力である不良作り込み
度]、[不良発生時対処力である不良対処時間度合]、
[不良検出力である不良摘出度]との対応を取ることが
できない。そこで、[不良発生抑制力である不良作り込
み度]、[不良発生時対処力である不良対処時間度
合]、[不良検出力である不良摘出度]との対応を取る
ことができる職場条件不良影響項目に細分類する必要が
ある。
【0020】製造作業者に関する細分類された職場条件
不良影響項目(評価要素)としては、製造作業者の出勤
率、製造作業者の性質や能力、製造作業者の作業熟練
度、製造作業者への作業指示体制等がある。製造設備に
関する細分類された職場条件不良影響項目(評価要素)
としては、設備の性能や信頼性、設備についての保守を
含む管理体制、設備に対する担当者の決定度合等があ
る。製造条件に関する細分類された職場条件不良影響項
目(評価要素)としては、製造ラインスピード、生産ロ
ット数/単位時間等の生産形態がある。製造物理的環境
に関する細分類された職場条件不良影響項目としては、
気温、湿度、明るさ、騒音等の物理的環境がある。製造
職場のマネージメントに関する細分類された職場条件不
良影響項目(評価要素)としては、作業者への教育・訓
練、作業者への作業指示・配分、不良発生時対処方法、
作業チェック方法等がある。
【0021】以上説明したように、細分類された職場条
件不良影響項目(評価要素)を設定することによって、
図2に矢印で示すように、[不良作り込み度]、[不良
対処時間度合]、[不良摘出度]との相関をとることが
可能となり、予め、これら各項目毎に、基準製造作業
(組立作業の場合、基準組立作業は例えば最も単純な下
移動作業とする。)に対する基準レベル(例えば最も不
良を発生しない高いレベル)における不良発生度係数で
ある不良作り込み係数、不良摘出度係数、不良対処時間
係数、および項目間相対的重み係数からなる職場評価用
データベース4a1(図3に示す。)を用意しておくこ
とによって、製造職場の不良起こし易さ(不良発生
度)、即ち製造職場の実力を推定することが可能とな
る。即ち、細分類された職場条件不良影響項目を設定す
ることによって、これら各項目毎に、基準製造作業に対
する[不良作り込み度]、[不良対処時間度合]、[不
良摘出度]との相関を示す基準レベルにおける不良発生
度係数である不良作り込み係数、不良摘出度係数、不良
対処時間係数、および項目間相対的重み係数を決めてお
くことが可能となる。なお、項目間相対的重み係数は、
不良発生度係数の中に盛り込むことも可能である。
【0022】なお、職場評価用データベースの作り方と
して、代表する製造職場において実測される職場条件不
良影響項目毎のレベルに応じた基準製造作業に対する不
良発生度度である不良作り込み度、不良摘出度、および
不良対処時間度合を基に、職場条件不良影響項目毎の基
準レベルにおける不良発生度係数である不良作り込み係
数、不良摘出度係数、不良対処時間係数、および項目間
相対的重み係数を算出すればよい。当然、代表する製造
職場における不良起こし易さ(不良発生度)、即ち実力
を示す不良発生度合計、および職場不良率も実測される
ことになる。このように、代表する製造職場における実
測値に基いて職場評価用データベースを作って用意して
おくことによって、様々な製造職場において職場条件不
良影響項目毎のレベルを入力するだけでその製造職場に
おける実力(不良発生度合計、および職場不良率)を評
価推定することが可能となる。これも、代表する製造職
場以外の複数の製造職場において実測値と推定値とがほ
ぼ一致することが発明者等によって確認できているから
である。
【0023】以上説明したように、様々な製造職場にお
いて職場条件不良影響項目毎のレベルを入力するだけで
その製造職場における実力(不良発生度合計、および職
場不良率)を評価推定することが可能となり、この推定
された製造職場の実力を図3に示す製品構造評価用デー
タベース(作業対象評価用データベース)4b1内の職
場定数(各製造職場の製造作業の信頼性の実力を示す指
標)として登録することによって、特開平10−334
151号公報に記載されているようにその製造職場にお
いて製造(例えば組立)する製品の不良率を推定するこ
とが可能となる。
【0024】次に、本発明に係る様々な製造職場におい
て職場条件不良影響項目毎のレベルを入力するだけでそ
の製造職場における実力(不良発生度合計、および職場
不良率)を評価推定する方法の実施例について説明す
る。図3は、本発明に係る製造職場における実力(不良
発生度合計、および職場不良率)を評価推定する職場評
価部10aおよびその製造職場における製品もしくは製
品の部分品を製造する際の不良率を推定する製品評価部
(製造作業対象評価部)10bの一実施例を示す構成図
である。以下は、製造として組立して製品を製造する場
合について説明する。なお、製造職場における製品もし
くは製品の部分品を製造する際の不良率を推定する製品
評価部10bについては、特開平10−334151号
公報に記載されているため、簡単に説明する。
【0025】本発明に係る評価装置10は、バス35に
接続されたCPU32、所定のプログラムを記憶したR
OM31、および各種データを一時記憶するRAM33
等で構成される計算手段3と、該計算手段3にインター
フェース34を介して接続された入力手段1、表示手段
2、記憶装置4、および出力手段5とから構成される。
入力手段1は、部品の組付作業時の組付動作の情報1b
1、組付部品及び被組付品の性質情報1b2、チェック
工程有無の情報1b3、および製造職場名の情報1b
4、並びに製造職場を評価する時の製造職場条件情報1
a等を入力することができるように、キーボードやマウ
スや記録媒体やネットワーク等から構成される。表示手
段2は、入力手段1で各種の情報を入力するための入力
用画面を表示したり、製造職場の評価結果(診断結果お
よび改善アドバイス等)を表示したり、製品構造(製造
作業対象)の評価結果(製品の不良率、不良現象、およ
び製造コスト等)を表示したりすることができるように
構成される。記憶装置4は、製造職場評価用データベー
ス4a1、製造職場評価用計算プログラム4a2、およ
び製造職場評価用入出力制御プログラム4a3を格納し
た製造職場評価用記憶部分4aと、製品構造評価用デー
タベース4b1、製品構造評価用計算プログラム4b
2、および製品構造評価用入出力制御プログラム4b3
を格納した製品構造評価用記憶部分4bとで構成され
る。出力手段5は、製造職場の評価結果や製品構造の評
価結果を出力できるように、表示手段2とは別に設けら
れた記録媒体やネットワーク等で構成される。更に、評
価装置10は、設計システム20をネットワークまたは
記録媒体等で接続し、製造する製品の設計データを入力
できるように構成される。
【0026】以上説明したように、本発明に係る評価装
置10は、機能的には、大きく、製造職場の有する不良
発生度を評価処理する職場評価部10a(図5に示
す。)と、製造職場で製造する製品の不良発生度評価を
する製品評価部10b(図13に示す。)とから構成さ
れている。ところで、職場評価部10aだけで、職場評
価を行うことができるが、機能的に、製品評価部10b
とつないで、職場評価部10aによる製造職場の不良発
生度の評価情報と、製品評価部10bによる製品の不良
発生度評価とを用いることによって、ある製品をある製
造職場で製造したときの具体的な不良率を推定すること
が可能となる。
【0027】本発明に係る評価装置10は、上記した様
々な製造職場条件の中から、特に不良発生度に影響のあ
る条件項目(職場条件不良影響項目)を多数選定して、
該選定した職場条件不良影響項目毎に、該職場条件の基
準レベルに対して、製造職場の有する不良発生度にどの
程度影響するのか、その影響する不良発生度の大きさを
示す値(「不良作り込み係数」、「不良摘出度係数」、
「不良対処時間係数」からなる「不良発生度係数」およ
び「項目間相対的重み係数」)を定めて職場評価用デー
タベース4a1として記憶しておき、そして、計算手段
3は、入力手段1によって入力された様々な職場条件の
中から多数の職場条件不良影響項目の各々に対する評価
対象の職場はどの程度のレベルであるかの情報を基に、
各々の職場条件不良影響項目の当該職場の基準レベルに
対して設定されている「不良発生度係数」および「項目
間相対的重み係数」を読み出して、該読み出した各「不
良発生度係数」および「項目間相対的重み係数」によ
り、多数の職場条件不良影響項目に亘る評価対象製造職
場の不良発生度および不良率を計算し、記憶装置4の製
品構造評価用データベース4b1の職場定数の領域に登
録する。
【0028】予め、記憶装置4の職場評価用記憶部分4
aの職場評価用データベース4a1としては、図4に示
すように、製造職場における不良発生要因(不良発生カ
テゴリ)の情報60と、該不良発生要因を細分類した職
場条件不良影響項目の内容を記述する情報(複数の職場
水準(レベル)毎の職場状態を記述する情報63も含
む)62、63と、各職場条件不良影響項目に対して設
定された基準の製造作業に対する基準レベル(例えばレ
ベル1)における「不良作り込み係数」65a、「不良
摘出度係数」65b、「不良対処時間係数」65cから
なる「不良発生度係数」65および「項目間相対的重み
係数」64の情報と、製造職場における少なくとも不良
発生要因毎、もしくは細分類した職場条件不良影響項目
毎に不良発生度が著しく悪い場合の改善(対策)アドバ
イス等を情報66から構成されたものが用意されてい
る。
【0029】図4に示す例では、評価カテゴリ1(製造
作業者)に関する細分類された職場条件不良影響項目
(No.1)としては、製造作業者の出勤率を示し、評
価カテゴリ2(製造設備)に関する細分類された職場条
件不良影響項目(No.8)としては、設備の担当者の
決定を示し、評価カテゴリ4(製造物理的環境)に関す
る細分類された職場条件不良影響項目(No.13)と
しては、明るさ(照度)を示している。
【0030】そして、各職場条件不良影響項目62に対
して基準レベル(例えばレベル1(レベルが高い))を
基準にして複数のレベル(職場水準)63が設定され
る。例えば、職場条件不良影響項目「出勤率」に対して
は、レベル1(レベルが高い)が「出勤率97%以
上」、レベル2(中)が「出勤率90%以上97%未
満」、レベル3(低い)が「出勤率90%未満」という
ように3つの職場水準が設定される。例えば、職場条件
不良影響項目「設備の担当者」に対しては、レベル1が
「すべてきまっている」、レベル2が「決まっている
(全設備の90%以上)」、レベル3が「決まっている
(全設備90%未満)」というように3つの職場水準が
設定される。例えば、職場条件不良影響項目「照度
(L)」に対しては、レベル1が「L≧1000l
x」、レベル2が「1000lx>L≧600lx」、
レベル3が「600lx>L」というように3つの職場
水準が設定されている。このように、図4の例では各職
場条件不良影響項目毎の職場水準63をレベル1〜3の
3段階に設定しており、レベル1が最も不良が起きにく
い職場状態に該当し、レベル3が最も不良が起きやすい
職場状況に該当し、レベル2はレベル1とレベル3の中
間レベルの不良の起こし易さをもつ職場状態に該当す
る。設定する職場水準は少なくとも、その職場状態に該
当するか否かを示すための2水準は必要であるが、上限
は特に無い。水準数が多くなると、評価精度が向上でき
る長所はあるが、逆に入力時の選択肢が増え、入力の手
間は増えることになる。
【0031】更に、各職場条件不良影響項目62に対し
て設定された基準の製造作業(組立作業の場合、基準組
立作業は例えば最も単純な下移動作業とする。)に対す
る基準職場水準レベル(例えばレベル1)における「不
良作り込み係数」65a、「不良摘出度係数」65b、
「不良対処時間係数」65cからなる「不良発生度係
数」65および「項目間相対的重み係数」64が設定さ
れている。例えば、職場条件不良影響項目「出勤率」に
対しては、「不良作り込み係数」が「3」、「不良摘出
度係数」が「1」、「不良対処時間係数」が「2」から
なる「不良発生度係数」65および「項目間相対的重み
係数」が「2」として設定されている。職場条件不良影
響項目「設備の担当者」に対しては、「不良作り込み係
数」が「2」、「不良摘出度係数」が「2」、「不良対
処時間係数」が「1」からなる「不良発生度係数」65
および「項目間相対的重み係数」が「1」として設定さ
れている。職場条件不良影響項目「照度(L)」に対し
ては、「不良作り込み係数」が「2」、「不良摘出度係
数」が「2」、「不良対処時間係数」が「0」からなる
「不良発生度係数」65および「項目間相対的重み係
数」が「1」として設定されている。ここで、項目間相
対的重み係数が「2」であることは、他の項目に比べて
「不良発生度」が2倍であることを意味する。不良作り
込み係数、不良摘出度係数、不良対処時間係数が「2」
または「3」であることは、「1」に比べて2倍、3倍
であることを意味する。また、不良作り込み係数、不良
摘出度係数、不良対処時間係数が「0」であることは、
無関係であることを意味する。これら係数は、図4にお
いては判り易く全て整数で示しているが、整数で示す必
要はない。
【0032】更に、製造職場における少なくとも不良発
生要因(評価カテゴリ)毎、もしくは細分類した職場条
件不良影響項目毎に不良発生度が著しく悪い場合の改善
(対策)アドバイス66やコメント67が不良発生度の
悪さのレベル2、3に応じて短期的対策案と長期的対策
案が設定されている。
【0033】次に、職場評価部10aを用いて製造職場
における実力(不良発生度合計、および職場不良率)を
評価推定する処理フローについて、図6を用いて説明す
る。
【0034】まず、評価しようとする製造職場における
製造職場条件情報1aを、入力手段1を用いて入力する
(ステップ100a〜100h)。具体的には、各職場
条件不良影響項目に対して、該当する職場の水準を選択
して入力する。即ち、評価者(例えば製造職場の監督
者)などによって本評価装置が起動されると、まず、計
算手段3は、図7に示すような「新規入力」51aか、
「既登録ファイル開く」51bのか、どちらかを選択さ
せる画面51を表示手段2に表示する(ステップS10
0a)。既登録ファイルを開く場合は、一旦評価された
製造職場を参照して新たな製造職場を評価する場合や一
旦評価した製造職場について再度評価しなおす場合に使
用する。評価者が、「新規入力」51aを選択した場合
(ステップS100b)、その情報を計算手段3が認知
して、図8に示す入力画面70を表示手段2に表示する
(ステップS100c)。なお、評価者が、「既存ファ
イルを開く」51bを選択した場合(ステップS100
b)、図7(b)に示すファイル指定画面52が表示さ
れ(ステップS100f)、ファイル名を指定すること
によってファイル指定情報が受付され(ステップS10
0g)、該当ファイル(入力画面70に既入力情報を反
映して)が開くことになる(ステップS100h)。
【0035】入力情報となる質問項目75、回答選択肢
76は、記憶装置4の職場評価用記憶部分4aに記憶さ
れている評価カテゴリ毎の各職場条件不良影響項目の情
報62と、各職場条件不良影響項目に対してレベル分け
して記憶された職場水準項目の情報63とを読み出し
て、入力画面70上に表示される。こうすることで、評
価するべき項目や職場水準の設定の変更は、記憶装置4
に記憶されている情報を変更するだけで良いので、評価
装置の保守、改良が容易である。次いで、評価者が入力
画面70および入力手段1を用いて評価しようとする評
価対象職場の情報を入力することによって計算手段3は
該情報を受け付けて例えばRAM33に一時記憶される
(ステップS100e)。まず、評価しようとする評価
対象職場名「製造職場X」を入力する。そして、評価カ
テゴリ毎の質問項目(職場条件不良影響項目62)75
の各々について補足説明のボタン75aを押すことによ
って別ウインドウとして得られる質問項目を定義した文
書を参照しながら、回答76におけるどの職場水準レベ
ルか76a〜76cを指定することによって入力され
る。即ち、質問項目すなわち各職場条件不良影響項目毎
に、3つの回答選択肢(すなわち3つの水準の職場状
態)が予め表示されており、評価対象職場の職場条件に
該当するもののラジオボタンをマウスでクリックしてい
くだけで入力することが可能となる。このように入力
は、キーボードやマウスなどによる入力手段1からの入
力の他、コンピュータネットワークを通じて他の記憶装
置に記憶されている職場情報を取り込むようにしてもよ
い。なお、フロッピーディスクなどの記憶媒体を介し
て、計算手段3に入力することも可能である。必要に応
じて、評価に必要な情報を検索でき読み出せるように構
成すれば良い。
【0036】評価者の入力終了後、計算手段3であるC
PU32は、評価計算実行指示が与えられたのを認知
し、RAM33等に入力されて記憶された職場条件情報
に基づき、記憶装置4の職場評価用記憶部分4aより各
職場条件不良影響項目に対して設定された基準の製造作
業に対する基準職場水準レベルにおける「不良作り込み
係数」65a、「不良摘出度係数」65b、「不良対処
時間係数」65cからなる「不良発生度係数」65およ
び「項目間相対的重み係数」64の情報を読み出し、R
AM33に一時記憶する(ステップS110)。図5に
示す職場評価部(CPU32を有する計算手段3)10
aにおける判定部51は、入力手段1によって各職場条
件不良影響項目毎に入力された職場水準レベル情報を判
定し、職場条件不良影響項目を示す番号の情報と、職場
水準レベルを示す情報を検索キーとして、記憶装置4の
職場評価用記憶部分4aより該当する「不良発生度係
数」65および「項目間相対的重み係数」64の情報を
検索し読み出し、RAM33に一時記憶していく。これ
を、全ての評価するべき職場条件不良影響項目に関して
繰り返して行う。
【0037】図8に示す入力情報を用いて説明する。職
場条件不良影響項目が、「出勤率」に対して職場水準レ
ベル「2」、「設備の担当者」に対して職場水準レベル
「3」、「照度」に対して職場水準レベル「1」で入力
されている。この入力より、本職場評価部10aにおけ
るCPU32は、職場条件不良影響項目を示す番号が
「1」、「8」、「13」の項目に対しては、「レベル
2」、「レベル3」、「レベル1」の水準であると判断
し、これらの職場条件不良影響項目を示す番号情報
「1」、「8」、「13」と職場水準レベルを示す情報
「レベル2」、「レベル3」、「レベル1」の2つの情
報を検索キーとして、それに該当する基準職場水準レベ
ルに対する職場水準レベルの係数(不良発生度係数)、
「不良作り込み係数」65a、「不良摘出度係数」65
b、「不良対処時間係数」65cからなる「不良発生度
係数」65および「項目間相対的重み係数」64の情報
を、記憶装置4の職場評価用記憶部分4aに記憶されて
いる不良発生度係数データベースから検索して、RAM
33に記憶する。図4に示すデータベースの場合、基準
職場水準レベルに対する職場水準レベルの係数(不良発
生度係数)は、職場水準レベルに対応させている。
【0038】次に、計算手段3のCPU32(図5に示
す職場条件項目別影響度算出部52)は、図9に示す如
く、ステップS121aにおいて、職場条件不良影響項
目の番号iが指定されることによって、職場評価用記憶
部分4aに記憶された職場評価用計算プログラムを用い
て、RAM33に記憶された製造職場Xにおける職場条
件不良影響項目毎の基準職場水準レベルに対する職場水
準レベルの係数(不良発生度係数)(図4においては職
場水準レベルで示している。)、「不良作り込み係数」
65a、「不良摘出度係数」65b、「不良対処時間係
数」65cからなる「不良発生度係数」65および「項
目間相対的重み係数」64の情報に基いて、職場条件不
良影響項目毎の不良発生度92(「不良作り込み度」9
2a(ステップS121b)、「不良摘出度」92b
(ステップS121c)、「不良対処時間度合」92c
(ステップS121d)、これら「不良作り込み度」
「不良摘出度」「不良対処時間度合」を総計した「不良
発生度」92d(ステップS121e)、および「改善
余地」92e(ステップS121g))、「理想職場不
良発生度」93a、および「最悪職場不良発生度」93
b(ステップS121f)を計算し、一時RAM33に
記憶する。「理想職場不良発生度」93aは、例えば職
場水準レベル1(最もレベルが高い。)場合の不良発生
度を示すことになる。「最悪職場不良発生度」93b
は、例えば職場水準レベル3(最もレベルが低い。)場
合の不良発生度を示すことになる。「改善余地」92e
は、「不良発生度」92dと「理想職場不良発生度」9
3aとの差で示される。例えば、図10に示す評価カテ
ゴリが「1」の場合、職場水準レベルが「2」であり、
項目間相対的重み係数が「2」であるため、「不良作り
込み度」、「不良摘出度」、「不良対処時間度合」の各
々は、不良作り込み係数「3」、不良摘出度係数
「1」、不良対処時間係数「2」の4倍となり、「不良
発生度」はそれらの総計「12」となる。「理想職場不
良発生度」が「12」であることから、「改善余地」は
「12」となる。
【0039】そして、計算手段3のCPU32(図5に
示す職場定数算出部53)は、ステップS121hにお
いて、全ての不良発生要因(評価カテゴリ)に亘る職場
条件不良影響項目の全てについて累計の計算をして、図
10に示す如く「不良作り込み度」の合計98a、「不
良摘出度」の合計98b、および「不良対処時間度合」
の合計98c並びにそれらの合計98を算出して一時R
AM33に記憶させる(ステップS121i)。次に、
計算手段3のCPU32は、RAM33に記憶された
「不良作り込み度」、「不良摘出度」、および「不良対
処時間度合」の合計98を基に、職場不良率99を算出
し、記憶装置4の作業対象評価用記憶部分4bの作業対
象評価用データベース4b1の職場定数の部分に記憶さ
せる(ステップS121j)。このように、図10に示
す如く、評価しようとする製造職場Xにおける実力(不
良発生度合計98、および職場不良率99)が評価推定
されて作業対象評価用データベース4b1の職場定数の
部分に記憶されることになる。
【0040】ところで、製造職場毎に、得意な製造動作
(例えば組付動作)・不得意な製造動作(組付動作)が
ある。それを職場評価に反映するためには、単一の職場
定数ではなく、複数の職場定数を、作業対象評価用デー
タベース4b1の職場定数の部分に記憶設定することに
よって解決することができる。例えば、製造作業をいく
つかに分類される製造動作(組付動作の場合、「圧入」
「はんだ付け」「ねじ締め」など)別に職場定数を設定
すればよい。この場合、職場評価部10aにおいて製造
動作別に、それに対応する職場条件不良影響項目に基い
て職場の不良の起こし易さを評価することが必要とな
る。そして、製造職場評価のための入力情報である製造
職場条件情報1aとして、職場を細分類するための、製
造動作種別の情報を入力する必要がある。当然、製品を
評価するときにも、入力情報である製造職場名情報1b
4として、細分類された製造職場名情報か、あるいは製
造動作種別を追加させる必要がある。
【0041】次に、ステップS130において、製造職
場Xについて評価した評価計算結果として、職場不良率
99の外、職場診断結果1(評価カテゴリ別評点86
や、評価カテゴリ別コメント87)、職場診断結果2
(改善ポイントアドバイス)等を図11に画面80で示
すように例えば表示手段2に表示して出力しようとする
場合、計算手段3のCPU32(図5に示すメッセージ
制御部54におけるカテゴリ別影響度算出部54a)
は、ステップS122において、評価カテゴリ毎に、
「不良作り込み度」の合計、「不良摘出度」の合計、お
よび「不良対処時間度合」の合計並びにそれらの合計
(不良発生度)を算出し、この算出された不良発生度に
応じた評点(不良率)を求めて例えば記憶装置4に記憶
する。ついで、CPU32は、ステップS123におい
て、評価カテゴリ毎に、カテゴリに属する職場条件不良
影響項目の「改善余地」92eの中から値の最も大きい
職場条件不良影響項目を判定し、この判定された職場条
件不良影響項目に対応するコメントを職場評価用テーブ
ル4a1から検索して例えば記憶装置4に記憶する。さ
らに、CPU32は、ステップS124において、職場
条件不良影響項目の「改善余地」92eの値が大きい順
に複数の職場条件不良影響項目を選出し、該選出された
職場条件不良影響項目と、その項目に対して入力された
職場水準レベルとから、改善ポイントアドバイスを職場
評価用テーブル4a1から検索して例えば記憶装置4に
記憶する。従って、ステップS130において、製造職
場Xについて評価した評価計算結果が出力されることに
なり、改善することが可能となる。特に、評価カテゴリ
毎の評点を、円グラフや折線グラフ表示等をすれば、何
が影響しているかどうかを一目瞭然に把握することが可
能となる。以上説明したように、製造職場Xについての
評価推定結果の内必要とするデータが記憶装置4に記憶
されて保存されることになる。
【0042】ところで、図11には、本発明に係る職場
評価部10aの出力画面の一例を示す。図11の出力例
では(1)不良発生度として「職場基準不良率推定
値」、(2)職場診断結果1、(3)職場診断結果2の
3種類の評価結果を出力する。上記(1)に示す「職場
基準不良率推定値」は、評価対象製造職場Xにおける基
準製造作業をした場合の平均的な推定される不良率値で
あり、これにより製造職場間で不良発生度の比較が可能
となる。
【0043】更に、2種類の職場診断結果を出力してい
る。まず、職場診断結果1としては、評価カテゴリ毎に
おける職場レベルの評価点である。この評価点は、例え
ば、理想の製造職場を100点、最も水準の低い製造職
場を0点として、評価対象製造職場Xにおける評価カテ
ゴリ毎の各係数値の合計値が、それらの間のどこに位置
するかを示すものである。職場診断結果2としては、職
場改善ポイントのアドバイス内容である。これは、改善
余地の大きい、すなわち改善すると不良発生度低減効果
の大きい、職場条件不良影響項目を「職場改善ポイン
ト」として提示し、更に、その対策案を短期的にできう
る対策案と長期的に取り組むべき対策案とに分けて提示
する。これは、記憶装置4の製造職場評価用データベー
ス4a1に、職場条件不良影響項目毎に、短期的にでき
うる対策案と長期的に取り組むべき対策案とを分けて記
憶しておき、それを読み出すことで実現することができ
る。また、必要に応じて、複数の職場条件不良影響項目
の職場水準の組合せに対しても、短期的にできうる対策
案と長期的に取り組むべき対策案とを分けて記憶してお
いてもよい。
【0044】また、改善余地の大きい、すなわち改善す
ると不良発生度低減効果の大きい順に表示することが、
効率の良く、的を得た対策を行うのには好ましい。改善
余地の計算を行い、その大きい順に並べ替えて出力する
ことによってこれは可能である。具体的には、各職場条
件不良影響項目毎に、評価対象製造職場の不良発生度係
数と理想の製造職場(即ち職場水準がレベル1の職場)
の不良発生度係数との差を計算し、その大きさを比較す
ることで大きな順に出力が可能である。
【0045】以上の処理により、簡単な入力により信頼
性の高い製造職場評価結果を提供することが可能とな
る。また、この評価結果として、改善余地の大きな順に
製造職場条件項目(即ち職場改善ポイント)を出力する
ので、すぐに効果的な製造職場改善に取りかかれる。こ
のように職場評価部10aを用いれば、評価対象の製造
職場で実際に製品を作らなくても、その製造職場の不良
の起こし易さ(実力)を定量的に把握することができ
る。また、製造部門では、その製造職場における不良発
生に影響の大きい職場条件項目と、その項目を改善、ま
たは対策すればどれだけ不良発生度が低減できるかを定
量的に把握することができるため、職場水準向上を効率
的に行うための製造職場改善計画立案に役立ち、不良発
生防止の効果がある。また、生産前に評価を行えば、製
造職場における重点管理ポイントが事前に明らかになる
ので、的確な検査工程配置、検査方法の選択などが可能
になり、不良摘出にも大きな効果がある。また、設計・
開発部門においては、事前に、製品を製造する予定の製
造職場の不良発生度を推定することができるので、その
製造職場に応じた製品開発・設計を効率的に行うことが
できる。
【0046】次に、製品評価部10bにおいて、以上説
明したように作業対象評価用データベース4b1の職場
定数の部分に記憶された製品を製造しようとする製造職
場の不良率99を基に、その製造職場において製造(例
えば組立)する製品の不良率を推定する実施例について
簡単に説明する。以下、製品を製造する作業の内、組立
作業の場合について説明する。なお、設計システム20
からは製品を構成するための部品の部品名、部品番号、
材質、重量、単価などの情報が提供されることになる。
【0047】本発明に係る製品の不良発生モデルとして
は、図12で示される。一つの組立作業の順序として
「位置決め動作」と、その後「結合動作」となる。即
ち、一つの組立作業は、「位置決め動作」と、その後の
「結合動作」とで構成される。不良の発生としては、
[動作のばらつき]が[ばらつきの許容範囲]を越え
て、しかも不良の発見ができなかった場合と考えられ
る。[動作のばらつき]は、組付動作および部品の性質
によって決まる「位置決め動作」の際生じる「位置決め
のばらつき」、および「結合動作」の際生じる「力のば
らつき」等から成り立つ。[ばらつきの許容範囲]は、
部品の性質から「位置決め動作」の際決まる「寸法精
度、損傷し易さ等」と「結合動作」の際決まる「必要動
作力」等とによって決まる。そこで、「位置決め」に起
因する不良発生としては、損傷変形などがあり、「力」
に起因する不良発生としては、挿入未完などがある。
【0048】以上説明したように、一つの組立作業動作
は、基本的には「位置決め動作」「その後の結合動作」
の繰り返しと考えられる。標準組付動作の中には、部品
を保持する動作や、電線を整形する動作のような「位置
決め動作」だけの動作もあるが、多くの組付動作は「位
置決め」をした上で「結合動作」を行っている。このよ
うに、標準組付動作は「位置決め動作」「結合動作」か
ら構成され、作業不良も大きく、位置決め動作時に発生
するものと、結合動作時に発生するものの2つに分かれ
る。
【0049】まず、位置決め動作時に発生する不良は、
位置決め動作時の部品位置や部品姿勢のばらつき(不正
確さ)に起因して発生する不良である。位置決めが不十
分なまま、本結合動作へ移行すると、本結合動作が行え
ない不良(作業不完全不良)が発生するが、組付部品や
被組付品の結合部の強度や本動作の動作力によっては、
結合部の損傷不良、変形不良に至る。通常、作業者は位
置決めが十分である事を確認した上で結合動作へ移行す
るため、位置決めが不十分であれば、本結合動作へ移行
する前に位置決めの修正を行ったうえで結合動作へ移行
する。作業部位が見にくいなど位置決め確認が困難であ
ったり、うっかり位置決め確認を忘れてしまったときに
上記のような不良が特に発生し易くなる。
【0050】その他、結合動作が原因で起こる組立不良
は、結合動作の軌跡の制御不良、即ち動作軌跡のばらつ
きが原因で起こるものと、結合動作力が不足して起こる
ものとがある。上記結合動作の軌跡の制御不良が原因で
起こる組立不良は、特に長区間動作時に発生頻度が高
い。一方、結合動作力が不足して起こる組立不良は、組
み付けに必要な動作力が発揮できない場合であり、特
に、圧入動作など必要動作力が大きい時、または動作や
部品の性質条件などにより所定の動作力が発揮できない
場合に発生頻度が高い。
【0051】従って、評価対象となる製品、部組品の組
立作業は、複数の部品を順次組み立てる複数の組立作業
から構成されるため、予め設定された複数の標準組付動
作(下移動、横移動、反転、圧入、はんだ付け、ねじ締
め、整形等)の組み合わせで表現される。そして、評価
対象となる製品、部組品の組立作業における組立不良の
起き易さ(不良率)は、それぞれの標準組付動作の有す
る不良率係数を総合することによって算出することがで
きる。そして、それぞれの標準組付動作の有する不良率
係数を、任意の組立作業を完成させるまでの組付動作の
数、組付部品・被組付部品の性質条件(例えば、機能
(意匠品等の部品種)、大きさ、重量、形状(組付部品
条件としては微小部品、複数組付け姿勢(多点同時位置
合わせ)、被組付品条件としては微細穴/小穴、組付完
了判定、位置合わせ箇所数、組付部周囲空間、位置決め
ガイド無、可動部への組付等)、寸法精度、表面精度、
材質(接触不可面有り、特殊な材質)、機能せ)等)、
組立職場の条件(職場定数)、組付完了を確認するチェ
ック工程の有無を補正係数として補正することで、評価
対象となる製品、部組品の組立作業における組立不良の
起き易さ(不良率)の推定精度を向上させることができ
る。
【0052】すなわち、評価対象を標準組付動作の組み
合わせで表現し、それぞれの標準組付動作の有する不良
率係数を、組付動作の数、組付部品・被組付部品の性質
条件、組立職場の条件、組付完了を確認する工程の有無
により補正した値を総合して不良率を算出する。このよ
うに、部品組付作業の組立不良率を、組付作業の動作の
内容と、組付部品および被組付品の性質と、作業が適切
に完了しているか否かを確認するチェック工程の有無
と、組付作業を行う職場の条件とで決定する理由は以下
の通りである。組付動作があれば当然、組立不良が起き
うるポテンシャル(組立不良率係数)があり、主として
不良の発生し易さに影響の大きいものは組付動作であ
る。
【0053】この組付動作の持つ組立不良率係数を増減
する要素として、組付部品および被組付品の性質と、組
付作業を行う職場の条件がある。組付部品および被組付
品の性質に関して言えば、例えば、組み付ける部品や組
み付けられる部品の形状が組み付けにくい形状であれ
ば、組付動作の持つ組立不良率係数は増幅される。ま
た、組付部品および被組付品の性質として部品種(機
能)を入力出来るようにしたのは、以下の理由による。
【0054】即ち、組立不良には大きく分けて、組立不
完全と部品損傷・汚れの2種類がある。「組立不完全」
は主に人間の作業動作のぶれ(動作精度のばらつき)や
間違えにより起こるもので、この種の不良事例として
は、コネクタ挿入作業の場合、「挿入不完全(奥まで完
全に挿入されていない状態)」や「コネクタの左右逆向
き挿入」などがある。一方、「部品損傷・汚れ」は、主
に、上記の人間の作業動作のぶれ(動作精度のばらつ
き)や間違えの結果として起こるものであるが、「部品
損傷・汚れ」として不良になるか否かは、同じ損傷・汚
れ具合でも部品の種類によって異なる。例えば、外観に
露出する意匠部品は、その他の例えば製品内部の部品と
は異なり、ちょっとした傷や汚れでも不良となり得る部
品種である。つまり、部品種すなわち部品の機能によっ
ては、同じ外力(ストレス)がその部品に働いても、不
良になるかどうかは一律ではないのである。そこで、部
品種毎にその部品種のもつ外力に対する強さ(抗力)を
示す係数値をデータベースに持ち、組付部品および被組
付品の部品種の入力を可能とし、評価対象部品の外力に
対する強さ(抗力)と、当該部品の組付動作時に部品に
働く外力(ストレス)の大きさとを比較して「部品損傷
・汚れ」不良となる確率も考慮して推定不良率を算出し
た。このように組立不良として「組立不完全」の不良だ
けでなく「部品損傷・汚れ」の不良も考慮して不良率を
推定している。
【0055】同様に、組立作業を行う職場の条件によっ
ても組付動作の持つ組立不良率係数は影響を受ける。例
えば、作業に用いる設備が不良の出やすいものであれ
ば、同じ組付動作でも組付動作のもつ不良率係数は高く
なり、また職場の作業者の技術レベルが全体的に高けれ
ば、同じ組付動作でも、逆にその組付動作のもつ不良率
係数は低くなる。その他、不良発見ポテンシャルとし
て、組立不良率推定対象の組付作業工程の後に、当該組
付作業が適切に完了しているか否かを確認するチェック
工程が有るならば、もし不良が発生していたとしても、
その工程で発見され、手直し対策が施されることによ
り、最終的に不良となる確率は低下する。このようなこ
とから、製品評価部10bでは、組立不良に大きく影響
を与える、組付作業の動作の内容と、組付部品および被
組付品の性質と、作業が適切に完了しているか否かを確
認するチェック工程の有無と、組付作業を行う職場の条
件とに基いて、不良率を算出することとした。
【0056】このため、記憶装置4の製品構造評価用記
憶部分4bには、標準組付動作(部品の組付動作)の種
類に対応した標準組付動作別不良率係数、任意の組立作
業を完成させるまでの組付動作の数(組付数と称す)に
対応した動作順補正係数、組付部品および被組付品の性
質等に対応した組付部品条件および被組付品条件補正係
数、組付作業の後工程において組付完了を確認する工程
が設けていた場合のチェック工程補正係数、組立作業を
行う組立職場の条件に対応した職場定数を格納した製品
構造評価用データベース4b1と、本製品評価部の不良
率の算出を実行する算術式を含んだ製品構造評価用計算
プログラムを格納した部分4b2と、製品構造評価用入
出力制御プログラムを格納した部分4b3等がある。こ
れら製品構造評価用データベース4b1に記憶される係
数は、それぞれ不良の発生しやすい項目ほど大きく、も
しくは小さくなるように組立不良の発生実績データに基
いて設定されている。
【0057】そこで、まず、入力画面を表示手段2に表
示し、入力手段1を用いて、図3に示す部品の組付作業
時の組付動作の情報(動作の種類、動作の順番)1b
1、組付部品及び被組付品の性質情報(組付動作の不確
実度に影響を与える因子に関する情報)1b2、チェッ
ク工程有無の情報1b3、および組付作業を行う製造職
場名の情報1b4を、組付動作に対応させて入力し、R
AM33に一時記憶する。
【0058】ついで、CPU32(図13に示す判別部
131における抽出部131a〜131c)は、入力さ
れたそれぞれの標準組付動作要素に対応する不良率係数
をデータベース4b1に格納された標準組付動作別不良
率係数から抽出し、入力されたそれぞれの標準組付動作
における組付数(標準組付動作の順番)に対応する補正
係数をデータベース4b1に格納された動作順補正係数
から抽出し、入力されたそれぞれの標準組付動作におけ
る組付部品及び被組付品の性質情報に対応する補正係数
をデータベース4b1に格納された組付部品条件および
被組付品条件補正係数から抽出し、入力されたそれぞれ
の標準組付動作におけるチェック工程有無に対応する補
正係数をデータベース4b1に格納されたチェック工程
補正係数から抽出し、入力された一連の標準組付動作が
行われる製造職場名に対応する補正係数をデータベース
4b1に格納された職場定数から抽出し、一時RAM3
3に記憶させる。
【0059】ついで、CPU32(図13に示す製品構
造の不良率算出部132)は、製品の組立不良率推定値
を、部分4b2に格納された製品構造評価用計算プログ
ラムに従って、次に示す(数1)式の関係に基づく(数
2)式の組立不良推定式に基いて、部品組付動作毎の不
良率推定値を積算することによって算出する。
【0060】 製品の組立不良率推定値 =Σf1(組付動作内容、組付数、部品の性質、職場条件、チェック工程の有 無) (数1) =Σf2(組付動作別不良率係数、動作順補正係数、部品補正係数、職場補正 係数、チェック工程補正係数) (数2) なお、上記f1()、f2()は関数を表す。これら関
数としては、例えば、組付動作別不良率係数に、動作順
補正係数、部品補正係数、職場補正係数、チェック工程
補正係数を乗算する方式、または加減算する方式、また
は指数関数的に補正を加える等の種々の方式がある。ま
た、一つの組付動作に対し、複数の動作順補正係数、部
品補正係数、職場補正係数、チェック工程補正係数があ
る場合の補正方法についても、当該の組付動作の組付動
作別不良率係数に、全ての動作順補正係数、部品補正係
数、職場補正係数、チェック工程補正係数を掛け合わせ
る方式、当該の組付動作の組付動作別不良率係数に、全
ての動作順補正係数、部品補正係数、職場補正係数、チ
ェック工程補正係数を加算(減算含む)する方式等があ
る。
【0061】本発明では、いずれの手法を選択しても良
く、組付動作別不良率係数を、動作順補正係数、部品補
正係数、職場補正係数、チェック工程補正係数により補
正するもので有ればよい。データベース4b1における
動作順補正係数は、複数の標準組付動作要素で表現され
る組付作業の場合に、動作数が増えるに従って、作業の
複雑さが増すことから、その組付作業を構成する個々の
組付動作の順番に応じて、各々の動作の「組付動作別不
良率基本係数」を大きくするための補正係数である。
【0062】更に、各組付動作のもつ作業不良の起き易
さは、組付部品や被組付品やその周辺部の条件によっ
て、影響を受けることから、部品条件補正係数を設け
る。すなわち、各組付動作のもつ作業不良の起き易さ
は、組付部品の大きさ、重量、材質、合せ箇所数、など
の組付部品の性質の条件によって変化する。また、同様
に被組付品の性質条件によっても変化する。以上のこと
からデータベース4b1における組付部品条件補正係数
データベースと被組付部品条件補正係数データベース
は、組付動作のもつ作業不良の起き易さに重要な影響を
及ぼす、組付部品性質因子及び被組付品性質因子を設定
し、各因子毎に、標準組付動作別不良率係数を補正する
ための部品条件補正係数である。なお、組付部品条件補
正係数データベースと被組付部品条件補正係数データベ
ースとのデータベースの構造を異ならせても良い。
【0063】更に、各組付動作のもつ作業不良の起き易
さは、組立作業を行なう製造職場の条件によって大きく
異なることから、職場評価部10aで評価推定された
「下移動」のような基準組立作業(基準製造作業)に対
する製造職場の平均的な不良の起き易さ(製造職場の実
力の指標)を示す職場定数がデータベース4b1に格納
されている。なお、職場定数として、製造職場における
平均的な不良の起き易さ(製造職場の実力の指標)を示
すものであるが、必ずしも、単一の職場定数にする必要
がなく、一連の組付動作を複数の組付動作に分類し、こ
の分類された複数の組付動作毎に職場定数を職場評価部
10aにおいて評価してデータベース4b1に格納して
もよい。即ち、複数の職場定数を職場評価部10aにお
いて評価してデータベース4b1に格納してもよい。こ
のようにすることによって、上記(数2)式において複
数の組付動作毎に職場定数である職場補正係数を変える
ことが可能となる。
【0064】更に、チェック工程補正係数は、組立不良
率推定対象の部品組付作業を行った後に当該部品組付作
業が適切に行われているか否かをチェックする工程が有
る場合、そのために不良率は低下するため、その効果を
反映するための補正係数である。なお、チェック作業の
種類によって、不良摘出率が異なる場合は、異なるチェ
ック工程毎にチェック工程補正係数を設定しても良い。
なお、チェック工程の有無に関する情報1b3は、必ず
しも必要ではなく、該情報が無くとも所望の不良率を算
出することができる。
【0065】以上説明した製品の不良率を評価推定する
際、組付部品自身には不良が無いとしているが、実際に
は組付部品自身にも不良率が存在するので、組付部品自
身の不良率を考慮すれば、真の製品の不良率を算出する
ことができる。組付部品自身の不良率は、組付部品を製
造している職場あるいはメーカの管理によるものである
ことからして、製造職場の評価と同様に組付部品自身の
不良率による補正係数を算出して、組付部品名に対応さ
せて製品構造評価用データベース4b1に格納すること
ができる。
【0066】次に、製品評価部10bに設けられた不良
現象推定部(CPU32)133について説明する。製
品構造の不良率算出部132からは、組付動作別の補正
された合計の不良率係数もしくは不良率が算出されるの
で、不良現象推定部133において、この算出された組
付動作別の合計の不良率係数もしくは不良率の群の中か
ら例えば最も大きいものから複数選択することによっ
て、不良現象を最も起こしているものと推定される組付
動作を選択することができる。そして、不良現象推定部
133は、更に、組付動作別の合計の不良率係数を決め
ている不良率係数、動作順補正係数、部品補正係数等を
探索することによって、「位置決め動作」によるもの
か、「結合動作」によるものか等不良現象を突き止める
ことができる。
【0067】次に、製品評価部10bに設けられた組立
コスト算出部134a、組立不良による損失コスト算出
部134b、および総コスト算出部134cからなる製
造コスト算出部(CPU32)134について説明す
る。組付部品の単価は、設計システム20から入力され
て製品構造評価用データベース4b1に格納されてい
る。また、製品構造評価用データベース4b1には、標
準組付動作別に要する作業時間と、組付部品条件、被組
付品条件、動作順、チェック工程有無の補正係数に対応
させた作業時間補正係数と、製造職場定数に応じた単位
作業時間当たりの費用とが格納されている。従って、組
立コスト算出部134aでは、標準組付動作別の作業時
間と、作業時間補正係数と、製造職場定数に応じた単位
作業時間当たりの費用とを基に組立コストを算出して推
定することができる。また、製品全体の不良率、および
標準組付動作別の合計不良率が算出できているので、組
立不良による損失コスト算出部134bでは、分解して
不良の組付部品を良品の組付部品に交換して再度組付け
る作業時間を、組立コストを算出する際に使用したデー
タを基に算出して推定することが可能となる。なお、こ
の際、良品の組付部品の単価や不良の組付部品を廃棄に
要する費用を加味する必要が有る。また、不良の組付部
品を良品にすることができる場合には、その修理に要す
る費用を加味すればよい。以上、総コスト算出部134
cでは、組立コスト算出部134aで算出された総組立
コストと、組立不良による損失コスト算出部134bで
算出された総損失コストと、組付部品の総単価とを総計
することによって、製品の製造コストを算出することが
できる。
【0068】以上説明したように、製品構造の不良率算
出部132で推定された製品または部組品の不良率、不
良現象推定部133で推定された不良現象、製造コスト
算出部134で推定された製品または部組品の製造コス
トを製品または部組品の名称と共に表示手段2または出
力手段5に出力することができる。なお、製品または部
組品の不良率等の推定を、組立作業の場合について説明
したが、加工作業の場合にも同様に適用することが可能
である。加工作業の場合には、標準組付動作別を細分類
した標準加工動作別に置き換え、組付部品、被組付品条
件を、加工手段、被加工品の条件(性質)に置き換え、
組付動作順を加工動作順に置き換えれば良い。
【0069】以上説明した本評価装置10を、品質保証
部門において工場の審査に使用することで、その工場の
製造プロセスの評価が可能となり、必要な品質を満たす
工場か否かの判定や、品質向上のための指導に活用する
ことができ、品質向上に効果がある。また、本評価装置
10により、設計・製造・品質保証の各部門で不良発生
防止・不良摘出活動が的確にできるようになる。以上の
ことより、製品の開発・製造の各プロセスの中で本発明
に係る評価装置10を用いることで、製造工程内で発生
する不良、市場で発生する不良を大幅に低減することが
でき、その結果、出荷製品の信頼性を大幅に高めること
が可能となる。
【0070】
【発明の効果】本発明によれば、設計段階や製造工程計
画段階等の製造前の段階で、その製品を製造する予定の
製造職場(工場も含む)において組立または加工等の製
造作業を行った場合における製造職場の不良の起こし易
さを評価推定して、その製造職場において一連の製造作
業によって製造される製品の作業不良率等の品質を高精
度で評価推定することができ、その結果、設計・製造・
品質保証の各部門で不良発生防止・不良摘出活動が的確
にでき、出荷製品の信頼性を大幅に高めることができる
効果を奏する。
【0071】また、本発明によれば、製品設計段階、製
造工程計画段階、等の製品生産前に、その製品の製造作
業毎に不良率の推定値を高精度に推定できるので、不良
率係数の高い製造作業を容易に摘出でき、その結果、そ
れらを改良を施すことで、効率良く効果的に製品の不良
率を低減でき、信頼性の高い製品設計、製造が可能とな
る。
【0072】また、本発明によれば、設計段階や製造工
程計画段階等の製造前の段階で、その製品を製造する予
定の製造職場(工場も含む)において組立等の製造作業
を行った場合における製造職場の不良の起こし易さを高
い精度で評価推定することができ、予め製造職場の改善
を図ることができる効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る製造職場の不良起こし易さを決め
る「不良作り込み度」「不良対処時間度合」「不良摘出
度」を説明するための図である。
【図2】本発明に係る製造職場の不良起こし易さを決め
る「不良発生抑制力」「不良発生時対処力」「不良検出
力」が様々な評価要素(細分類された職場条件不良影響
項目)に関係していることを説明するための図である。
【図3】本発明に係る職場評価部と製品評価部とからな
る評価装置の一実施例を示すハード構成図である。
【図4】図3に示す記憶装置に記憶された製造職場評価
用データベースの具体的内容を示す図である。
【図5】本発明に係る評価装置の職場評価部における機
能構成の一実施例を示す機能ブロック図である。
【図6】本発明に係る職場評価部において実行する製造
職場評価フローの全体を示す図である。
【図7】新規入力/既登録ファイル開くの選択画面、お
よびファイル指定画面を示す図である。
【図8】職場評価用の評価対象職場名および評価カテゴ
リ別、職場条件不良影響項目別の職場水準レベルを入力
するための入力画面の一実施例を示す図である。
【図9】図7に示す職場条件不良影響項目別、職場全体
の不良発生度および職場全体の平均的な不良率を評価す
る計算の具体的フローを示す図である。
【図10】図9に示すフローで評価された結果である評
価カテゴリ別、職場条件不良影響項目別、および職場全
体の不良発生度並びに職場全体の平均的な不良率を示す
図である。
【図11】職場評価結果を出力する画面の一実施例を示
す図である。
【図12】本発明に係る部品組付動作によって不良が発
生するモデルを説明するための図である。
【図13】本発明に係る評価装置の製品評価部における
機能構成の一実施例を示す機能ブロック図である。
【符号の説明】
1…入力手段、2…表示手段、3…計算手段、4…記憶
装置、4a…製造職場評価用記憶部分、4a1…製造職
場評価用データベース、4b…製品構造評価用記憶部
分、4b1…製品構造評価用データベース、5…出力手
段、10…評価装置、10a…職場評価部、10b…製
品評価部、20…計算システム、31…ROM、32…
CPU、33…RAM、34…インターフェース、35
…バスライン、51…判別部、52…職場条件項目別影
響度算出部、53…職場定数算出部、54…メッセージ
制御部、54a…カテゴリ別影響度算出部、54b…メ
ッセージ決定部、131…判別部、132…製品構造の
不良率算出部、133…不良現象推定部、134…製造
コスト算出部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮川 正威 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 (72)発明者 浅野 匡昭 茨城県ひたちなか市大字稲田1410番地 株 式会社日立製作所デジタルメディア製品事 業部内 (72)発明者 久保田 ▲たかし▼ 茨城県ひたちなか市大字稲田1410番地 株 式会社日立製作所デジタルメディア製品事 業部内 Fターム(参考) 5B049 BB07 CC21 CC23 DD01 EE01 EE05 EE12 FF03 FF04 GG04 GG07 5H223 AA05 CC08 DD03 EE30 9A001 JJ01 JJ45 KK54

Claims (21)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】予め設定された複数の職場条件不良影響項
    目と該各職場条件不良影響項目について少なくとも基準
    職場水準レベルにおける基準製造作業に対する不良発生
    度指標との対応関係を示す職場評価用データベースを予
    め作成して記憶準備しておく職場データベース準備過程
    と、 該職場データベース準備過程で準備された職場評価用デ
    ータベースから、入力された評価対象の製造職場におけ
    る各職場条件不良影響項目についての職場水準レベルに
    対応する前記不良発生度指標を抽出し、この抽出された
    不良発生度指標を所望の複数の職場条件不良影響項目に
    亘って総計して評価対象の製造職場における基準製造作
    業に対する不良発生度を示す指標を算出することにより
    評価対象の製造職場における不良の起こし易さを評価推
    定する職場評価過程とを有することを特徴とする製造職
    場の不良の起こし易さ評価方法。
  2. 【請求項2】予め設定された複数の職場条件不良影響項
    目と該各職場条件不良影響項目について少なくとも基準
    職場水準レベルにおける基準製造作業に対する不良発生
    度指標との対応関係を示す職場評価用データベースを予
    め作成して記憶準備しておく職場データベース準備過程
    と、 評価対象の製造職場における前記各職場条件不良影響項
    目についての少なくとも職場水準レベルを入力する職場
    水準入力過程と、 前記職場データベース準備過程で準備された職場評価用
    データベースから、前記職場水準入力過程で入力された
    各職場条件不良影響項目についての職場水準レベルに対
    応する前記不良発生度指標を抽出し、この抽出された不
    良発生度指標を所望の複数の職場条件不良影響項目に亘
    って総計して評価対象の製造職場における基準製造作業
    に対する不良発生度を示す指標を算出することにより評
    価対象の製造職場における不良の起こし易さを評価推定
    する職場評価過程とを有することを特徴とする製造職場
    の不良の起こし易さ評価方法。
  3. 【請求項3】予め設定された作業者、製造設備、製造条
    件、製造物理的環境、およびマネージメントに関する職
    場条件不良影響項目と該各職場条件不良影響項目につい
    て少なくとも基準職場水準レベルにおける基準製造作業
    に対する不良発生抑制力となる不良作り込み指標、不良
    発生時対処力となる不良対処時間度合指標、および不良
    検出力となる不良摘出指標との対応関係を示す職場評価
    用データベースを予め作成して記憶準備しておく職場デ
    ータベース準備過程と、 評価対象の製造職場における前記各職場条件不良影響項
    目についての少なくとも職場水準レベルを入力する職場
    水準入力過程と、 前記職場データベース準備過程で準備された職場評価用
    データベースから、前記職場水準入力過程で入力された
    各職場条件不良影響項目についての職場水準レベルに対
    応する前記3つの指標を抽出し、この抽出された3つの
    指標を所望の多数の職場条件不良影響項目に亘って総計
    して評価対象の製造職場における基準製造作業に対する
    不良発生度を示す指標を算出することにより評価対象の
    製造職場における不良の起こし易さを評価推定する職場
    評価過程とを有することを特徴とする製造職場の不良の
    起こし易さ評価方法。
  4. 【請求項4】予め設定された作業者、製造設備、製造条
    件、製造物理的環境、およびマネージメントに関する職
    場条件不良影響項目と該各職場条件不良影響項目につい
    て少なくとも基準職場水準レベルにおける基準製造作業
    に対する不良発生抑制力となる不良作り込み指標、不良
    発生時対処力となる不良対処時間度合指標、および不良
    検出力となる不良摘出指標との対応関係を示す職場評価
    用データベースを予め作成して記憶準備しておく職場デ
    ータベース準備過程と、 評価対象の製造職場における前記各職場条件不良影響項
    目についての少なくとも職場水準レベルを入力する職場
    水準入力過程と、 前記職場データベース準備過程で準備された職場評価用
    データベースから、前記職場水準入力過程で入力された
    各職場条件不良影響項目についての職場水準レベルに対
    応する前記3つの指標を抽出し、この抽出された3つの
    指標を合計して各職場条件不良影響項目についての不良
    発生度を示す指標を算出し、この算出された不良発生度
    を示す指標を所望の多数の職場条件不良影響項目に亘っ
    て総計して評価対象の製造職場における基準製造作業に
    対する不良発生度を示す指標を算出することにより評価
    対象の製造職場における不良の起こし易さを評価推定す
    る職場評価過程とを有することを特徴とする製造職場の
    不良の起こし易さ評価方法。
  5. 【請求項5】前記職場評価過程において、職場条件不良
    影響項目間における相対的重み付けをすることを特徴と
    する請求項1または2または3または4記載の製造職場
    の不良の起こし易さ評価方法。
  6. 【請求項6】前記職場データベース準備過程において、
    作業者、製造設備、製造条件、製造物理的環境、および
    マネージメントに関する職場条件不良影響項目が、作業
    者、製造設備、製造条件、製造物理的環境、およびマネ
    ージメントの各々において複数の項目に細分類されるこ
    とを特徴とする請求項3または4記載の製造職場の不良
    の起こし易さ評価方法。
  7. 【請求項7】更に、前記職場評価過程で評価推定された
    結果を出力する出力過程を有することを特徴とする請求
    項1または2または3または4記載の製造職場の不良の
    起こし易さ評価方法。
  8. 【請求項8】予め設定された複数の職場条件不良影響項
    目と該各職場条件不良影響項目について少なくとも基準
    職場水準レベルにおける基準製造作業に対する不良発生
    度指標との対応関係を示す職場評価用データベースを予
    め作成して記憶準備しておく職場データベース準備過程
    と、 該職場データベース準備過程で準備された職場評価用デ
    ータベースから、入力された製造職場における各職場条
    件不良影響項目についての職場水準レベルに対応する前
    記不良発生度指標を抽出し、この抽出された不良発生度
    指標を所望の複数の職場条件不良影響項目に亘って総計
    して製造職場における基準製造作業に対する不良発生度
    を示す指標を算出することにより製造職場における基準
    製造作業に対する不良の起こし易さを評価推定して職場
    指標として製品評価用データベースに格納する職場評価
    過程と、 該職場評価過程で製品評価用データベースに格納された
    製造職場における職場指標を用いて、該製造職場におい
    て複数の製造作業によって製造される製品としての作業
    不良率を示す品質を評価推定する製品評価過程とを有す
    ることを特徴とする製品の品質評価方法。
  9. 【請求項9】更に、複数の互いに異なる標準製造動作の
    各々における不良率を示す指標と各標準製造動作をさせ
    る際の部品の性質に基づく補正指標とを予め製品評価用
    データベースに格納準備しておく製品データベース準備
    過程と、 製品を製造させるための複数の製造作業に亘って各製造
    作業における部品の性質も含めて標準製造動作を入力す
    る製品入力過程とを有し、 前記製品評価過程において、該製品入力過程で入力され
    た各製造作業における部品の性質も含む標準製造動作を
    基に前記製品データベース準備過程において準備された
    製品評価用データベースから不良率を示す指標および補
    正指標を抽出し、この抽出された不良率を示す指標を、
    前記抽出された補正指標で補正し、この補正された不良
    率を示す指標を複数の製造作業に亘って総合し、この総
    合された不良率を示す指標を前記職場評価過程で格納さ
    れた職場指標で補正して前記製品としての作業不良率を
    示す品質を評価推定することを特徴とする請求項8記載
    の製品の品質評価方法。
  10. 【請求項10】更に、複数の互いに異なる標準製造動作
    の各々における不良率を示す指標と各標準製造動作をさ
    せる際の部品の性質に基づく補正指標とを予め製品評価
    用データベースに格納準備しておく製品データベース準
    備過程と、 製品を製造させるための複数の製造作業に亘って各製造
    作業における部品の性質も含めて標準製造動作を入力す
    る製品入力過程とを有し、 前記製品評価過程において、該製品入力過程で入力され
    た各製造作業における部品の性質も含む標準製造動作を
    基に前記製品データベース準備過程において準備された
    製品評価用データベースから不良率を示す指標および補
    正指標を抽出し、この抽出された不良率を示す指標を、
    前記抽出された補正指標および前記職場評価過程で格納
    された職場指標で補正し、この補正された不良率を示す
    指標を複数の製造作業に亘って総合して製品としての作
    業不良率を評価推定することを特徴とする請求項8記載
    の製品の品質評価方法。
  11. 【請求項11】請求項1または2または3または4記載
    の製造職場の不良の起こし易さ評価方法を用いて評価推
    定された製造職場における基準製造作業に対する不良の
    起こし易さを職場指標として製品評価用データベースに
    格納しておく職場評価過程と、 該職場評価過程で製品評価用データベースに格納された
    製造職場における職場指標を用いて、該製造職場におい
    て複数の製造作業によって製造される製品としての作業
    不良率を示す品質を評価推定する製品評価過程とを有す
    ることを特徴とする製品の品質評価方法。
  12. 【請求項12】請求項1または2または3または4記載
    の製造職場の不良の起こし易さ評価方法を用いて評価推
    定された製造職場における基準製造作業に対する不良の
    起こし易さを職場指標として製品評価用データベースに
    格納しておく職場評価過程と、 複数の互いに異なる標準製造動作の各々における不良率
    を示す指標と各標準製造動作をさせる際の部品の性質に
    基づく補正指標とを予め製品評価用データベースに格納
    準備しておく製品データベース準備過程と、 製品を製造させるための複数の製造作業に亘って各製造
    作業における部品の性質も含めて標準製造動作を入力す
    る製品入力過程と、 該製品入力過程で入力された各製造作業における部品の
    性質も含む標準製造動作を基に前記製品データベース準
    備過程において準備された製品評価用データベースから
    不良率を示す指標および補正指標を抽出し、この抽出さ
    れた不良率を示す指標を、前記抽出された補正指標で補
    正し、この補正された不良率を示す指標を複数の製造作
    業に亘って総合し、この総合された不良率を示す指標を
    前記職場評価過程で格納された職場指標で補正して前記
    製品としての作業不良率を示す品質を評価推定する製品
    評価過程とを有することを特徴とする製品の品質評価方
    法。
  13. 【請求項13】請求項1または2または3または4記載
    の製造職場の不良の起こし易さ評価方法を用いて評価推
    定された製造職場における基準製造作業に対する不良の
    起こし易さを職場指標として製品評価用データベースに
    格納しておく職場評価過程と、 複数の互いに異なる標準製造動作の各々における不良率
    を示す指標と各標準製造動作をさせる際の部品の性質に
    基づく補正指標とを予め製品評価用データベースに格納
    準備しておく製品データベース準備過程と、 製品を製造させるための複数の製造作業に亘って各製造
    作業における部品の性質も含めて標準製造動作を入力す
    る製品入力過程と、 該製品入力過程で入力された各製造作業における部品の
    性質も含む標準製造動作を基に前記製品データベース準
    備過程において準備された製品評価用データベースから
    不良率を示す指標および補正指標を抽出し、この抽出さ
    れた不良率を示す指標を、前記抽出された補正指標およ
    び前記職場評価過程で格納された職場指標で補正し、こ
    の補正された不良率を示す指標を複数の製造作業に亘っ
    て総合して製品としての作業不良率を評価推定する製品
    評価過程とを有することを特徴とする製品の品質評価方
    法。
  14. 【請求項14】予め設定された複数の職場条件不良影響
    項目と該各職場条件不良影響項目について少なくとも基
    準職場水準レベルにおける基準製造作業に対する不良発
    生度指標との対応関係を示す職場評価用データベースを
    予め作成して記憶しておく記憶手段と、 該記憶手段に記憶された職場評価用データベースから、
    入力された評価対象の製造職場における各職場条件不良
    影響項目についての職場水準レベルに対応する前記不良
    発生度指標を抽出し、この抽出された不良発生度指標を
    所望の複数の職場条件不良影響項目に亘って総計して評
    価対象の製造職場における基準製造作業に対する不良発
    生度を示す指標を算出することにより評価対象の製造職
    場における不良の起こし易さを評価推定する職場評価手
    段とを備えたことを特徴とする製造職場の不良の起こし
    易さ評価装置。
  15. 【請求項15】予め設定された複数の職場条件不良影響
    項目と該各職場条件不良影響項目について少なくとも基
    準職場水準レベルにおける基準製造作業に対する不良発
    生度指標との対応関係を示す職場評価用データベースを
    予め作成して記憶しておく記憶手段と、 評価対象の製造職場における前記各職場条件不良影響項
    目についての少なくとも職場水準レベルを入力する入力
    手段と、 前記記憶装置に記憶された職場評価用データベースか
    ら、前記入力手段で入力された各職場条件不良影響項目
    についての職場水準レベルに対応する前記不良発生度指
    標を抽出し、この抽出された不良発生度指標を所望の複
    数の職場条件不良影響項目に亘って総計して評価対象の
    製造職場における基準製造作業に対する不良発生度を示
    す指標を算出することにより評価対象の製造職場におけ
    る不良の起こし易さを評価推定する職場評価手段とを備
    えたことを特徴とする製造職場の不良の起こし易さ評価
    装置。
  16. 【請求項16】予め設定された作業者、製造設備、製造
    条件、製造物理的環境、およびマネージメントに関する
    職場条件不良影響項目と該各職場条件不良影響項目につ
    いて少なくとも基準職場水準レベルにおける基準製造作
    業に対する不良発生抑制力となる不良作り込み指標、不
    良発生時対処力となる不良対処時間度合指標、および不
    良検出力となる不良摘出指標との対応関係を示す職場評
    価用データベースを予め作成して記憶しておく記憶手段
    と、 評価対象の製造職場における前記各職場条件不良影響項
    目についての少なくとも職場水準レベルを入力する入力
    手段と、 前記記憶手段に記憶された職場評価用データベースか
    ら、前記入力手段で入力された各職場条件不良影響項目
    についての職場水準レベルに対応する前記3つの指標を
    抽出し、この抽出された3つの指標を所望の多数の職場
    条件不良影響項目に亘って総計して評価対象の製造職場
    における基準製造作業に対する不良発生度を示す指標を
    算出することにより評価対象の製造職場における不良の
    起こし易さを評価推定する職場評価手段とを備えたこと
    を特徴とする製造職場の不良の起こし易さ評価装置。
  17. 【請求項17】更に、前記職場評価手段で評価推定され
    た結果を出力する出力手段を備えたことを特徴とする請
    求項14または15または16記載の製造職場の不良の
    起こし易さ評価装置。
  18. 【請求項18】予め設定された複数の職場条件不良影響
    項目と該各職場条件不良影響項目について少なくとも基
    準職場水準レベルにおける基準製造作業に対する不良発
    生度指標との対応関係を示す職場評価用データベースを
    予め作成して記憶しておく記憶手段と、 該記憶手段に記憶された職場評価用データベースから、
    入力された製造職場における各職場条件不良影響項目に
    ついての職場水準レベルに対応する前記不良発生度指標
    を抽出し、この抽出された不良発生度指標を所望の複数
    の職場条件不良影響項目に亘って総計して製造職場にお
    ける基準製造作業に対する不良発生度を示す指標を算出
    することにより製造職場における基準製造作業に対する
    不良の起こし易さを評価推定して職場指標として前記記
    憶手段の製品評価用データベースに格納する職場評価部
    と、該職場評価部で製品評価用データベースに格納され
    た製造職場における職場指標を用いて、該製造職場にお
    いて複数の製造作業によって製造される製品としての作
    業不良率を示す品質を評価推定する製品評価部とを有す
    る評価手段とを備えたことを特徴とする製品の品質評価
    装置。
  19. 【請求項19】予め設定された複数の職場条件不良影響
    項目と該各職場条件不良影響項目について少なくとも基
    準職場水準レベルにおける基準製造作業に対する不良発
    生度指標との対応関係を示す職場評価用データベースを
    予め作成して記憶しておき、更に複数の互いに異なる標
    準製造動作の各々における不良率を示す指標と各標準製
    造動作をさせる際の部品の性質に基づく補正指標とを予
    め製品評価用データベースに格納しておく記憶手段と、 該記憶手段に記憶された職場評価用データベースから、
    入力された製造職場における各職場条件不良影響項目に
    ついての職場水準レベルに対応する前記不良発生度指標
    を抽出し、この抽出された不良発生度指標を所望の複数
    の職場条件不良影響項目に亘って総計して製造職場にお
    ける基準製造作業に対する不良発生度を示す指標を算出
    することにより製造職場における基準製造作業に対する
    不良の起こし易さを評価推定して職場指標として前記記
    憶手段の製品評価用データベースに格納する職場評価部
    と、入力された製品を製造させるための複数の製造作業
    に亘って各製造作業における部品の性質も含めて標準製
    造動作を基に前記記憶手段に格納された製品評価用デー
    タベースから不良率を示す指標および補正指標を抽出
    し、この抽出された不良率を示す指標を、前記抽出され
    た補正指標で補正し、この補正された不良率を示す指標
    を複数の製造作業に亘って総合し、この総合された不良
    率を示す指標を前記職場評価部によって記憶手段に格納
    された職場指標で補正して製品としての作業不良率を示
    す品質を評価推定する製品評価部とを有する評価手段と
    を備えたことを特徴とする製品の品質評価装置。
  20. 【請求項20】予め設定された複数の職場条件不良影響
    項目と該各職場条件不良影響項目について少なくとも基
    準職場水準レベルにおける基準製造作業に対する不良発
    生度指標との対応関係を示す職場評価用データベースを
    予め作成して記憶しておき、更に複数の互いに異なる標
    準製造動作の各々における不良率を示す指標と各標準製
    造動作をさせる際の部品の性質に基づく補正指標とを予
    め製品評価用データベースに格納しておく記憶手段と、 該記憶手段に記憶された職場評価用データベースから、
    入力された製造職場における各職場条件不良影響項目に
    ついての職場水準レベルに対応する前記不良発生度指標
    を抽出し、この抽出された不良発生度指標を所望の複数
    の職場条件不良影響項目に亘って総計して製造職場にお
    ける基準製造作業に対する不良発生度を示す指標を算出
    することにより製造職場における基準製造作業に対する
    不良の起こし易さを評価推定して職場指標として前記記
    憶手段の製品評価用データベースに格納する職場評価部
    と、入力された製品を製造させるための複数の製造作業
    に亘って各製造作業における部品の性質も含めて標準製
    造動作を基に前記記憶手段に格納された製品評価用デー
    タベースから不良率を示す指標および補正指標を抽出
    し、この抽出された不良率を示す指標を、前記抽出され
    た補正指標および前記職場評価部で前記記憶手段に格納
    された職場指標で補正し、この補正された不良率を示す
    指標を複数の製造作業に亘って総合して製品としての作
    業不良率を示す品質を評価推定する製品評価部とを有す
    る評価手段とを備えたことを特徴とする製品の品質評価
    装置。
  21. 【請求項21】請求項8または9または10または11
    または12または13記載の製品の品質評価方法を実行
    するプログラムを記録したことを特徴とする記録媒体。
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