JP2001006525A - 電子放出源及びその製造方法、並びにその電子放出源を用いたディスプレイ装置 - Google Patents
電子放出源及びその製造方法、並びにその電子放出源を用いたディスプレイ装置Info
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Abstract
短絡防止、長寿命、製造歩留向上などを実現できる電子
放出源、その製造方法、ならびに同電子放出源を用いた
ディスプレイ装置を提供する。 【解決手段】下部基板11の表面上に帯状の複数本のカ
ソード電極ライン13を形成し、その上に絶縁層14を
成膜し、更にその上にカソード電極ラインと交差して帯
状に複数本のゲート電極ライン15が形成されており、
両電極ラインの交差領域にゲート電極ライン、絶縁層を
貫通してカソード電極ラインの表面に達する略円形又は
スリット形状の微細孔17を形成し、微細孔内にカソー
ド電極ラインの面上に電子放出部16として縦断面が台
形状の突出部161を設け、その上面に微小な凹凸を形
成し、その上に炭素薄膜16aを形成し、その表面を絶
縁層の表面よりカソード電極ライン側に位置させる。
Description
ィスプレイ装置に使用して好適な電子放出源及びその製
造方法、並びにその電子放出源を用いたディスプレイ装
置に関するものである。
置としては、画面の内側の箇所にパネル状の電子放出源
を設け、その各画素領域内に電子放出材料からなる多数
のマイクロチップを形成し、所定の電気信号に応じて対
応する画素領域のマイクロチップを励起することによ
り、スクリーンの蛍光面を光らせるものが知られてい
る。
数本のカソード電極ラインと、このカソード電極ライン
の上部においてカソード電極ラインと交差して帯状に形
成された複数本のゲート電極ラインとが設けられ、上記
カソード電極ラインの上記ゲート電極ラインとの各交差
領域がそれぞれディスプレイ装置における画素に対応
し、これらの領域に上記マイクロチップが配設されてい
る。
の電子放出源100は、図15に示すように、例えばガ
ラス材料よりなる下部基板101の表面に帯状の複数本
のカソード電極ライン103が形成されている。これら
のカソード電極ライン103上には各接続部103aを
除いて絶縁層104が成膜され、その上に各カソード電
極ライン103と交差して帯状に形成された複数本のゲ
ート電極ライン105が形成されている。各カソード電
極ライン103の接続端部103a及び各ゲート電極ラ
イン105の接続端部105aは制御手段109にそれ
ぞれ接続されている。
イン105との各交差領域には、ゲート電極ライン10
5と絶縁層104とを貫通してカソード電極ライン10
3の表面に至る多数の微細孔17が形成され、これらの
微細孔17内に円錐体状のマイクロチップ106が突設
されている。これらのマイクロチップ106は、例えば
モリブデンなどの電子放出材料よりなり、ほぼ円錘体に
形成され、それぞれカソード電極ライン103上に配さ
れている。そして、カソード電極ライン103とゲート
電極ライン105との各交差領域には、上記多数のマイ
クロチップ106を含む画素領域が形成され、個々の画
素領域がディスプレイ装置の1つの画素(ピクセル)に
対応している。
109により所定のカソード電極ライン103およびゲ
ート電極ライン105を選択してこれらの間に所定の電
圧をかけると、対応する画素領域内の各マイクロチップ
106に所定の電圧が印加され、各マイクロチップ10
6の先端からトンネル効果によって電子が放出される。
なお、この所定電圧は、各マイクロチップ106がモリ
ブデンの場合、各マイクロチップ106の円錘体の先端
部付近の電界の強さがおおむね108 〜1010V/m程
となる程度の値である。
に用いる場合には、ゲート電極ライン105との間に間
隔をおいて設けた透明な上部基板(図示せず)を電子放
出源100に対して組み合わせる。上部基板の下面には
帯状のアノード電極ラインとアノード電極ライン上の蛍
光ストライプとが形成されている。アノード電極ライン
は、ITO(Induim Tin Oxide) などの透明導電材料か
らなり、その接続端部において制御手段109に接続さ
れている。上部基板と下部基板101の間の空間は高真
空領域となっている。
定の画素領域を励起することによって各マイクロチップ
106から放出された電子は、制御手段109によりカ
ソード電極ライン103と上記アノード電極ライン間に
印加された電圧によって加速され、ゲート電極ライン1
05とアノード電極ライン間の高真空領域を通って上記
蛍光ストライプに到達する。そして、電子の入射箇所に
おいて蛍光ストライプから可視光が発せられ、この可視
光が、透明なアノード電極ラインや上部基板を通して観
察されることになる。
源には次のような問題点がある。第1に、マイクロチッ
プ106は、特にその先端部をマイクロチップ106間
で均一に製造することが困難である。マイクロチップ1
06の形状がマイクロチップ106ごとに異なると、各
マイクロチップ106から放出される電子の量すなわち
電流量が画素内および画素ごとに変化してしまい、ディ
スプレイ装置の上部基板上に形成される光輝点が不均質
となって、画像品質が劣化する。
クロチップの高さがばらつくことになる。即ち、ゲート
電極の開口の縁とマイクロチップ先端との位置関係が変
わることになり、このことは各マイクロチップから放出
される電子の量が画素内でも画素間でも変化してしま
い、ディスプレイ装置の上部基板上に形成される光輝点
が不均質となって、画像品質が劣化する。
の高真空領域に残存するガスがイオン化し、マイクロチ
ップ106をスパッタリングすることにより、マイクロ
チップ106の先端形状が経時的に劣化しやすく、電流
量が減少する。
れる電子の飛翔方向は、カソード面垂直な方向に対して
±30度程度の範囲に拡がっているため、蛍光ストライ
プ面の発光領域も拡大する。これはディスプレイの高精
細化において不利である。
ロチップ106は通常、ゲート電極ライン105上にリ
フトオフスペーサを残して、モリブデンなどの高融点金
属を真空蒸着することで形成される。真空蒸着法の特性
であるステップカバレッジの悪さを逆に利用することに
より、円錐形のマイクロチップ106がセルフアライン
で形成される。その後、リフトオフスペーサ上にも堆積
したモリブデンなどの高融点金属をリフトオフで除去す
る。しかし、このとき剥離した金属片が微細孔内に入り
込み、マイクロチップ106とゲート電極ライン105
とが短絡され、従って、カソード電極ライン103とゲ
ート電極ライン105とが短絡してしまうことがあり、
その結果、製造歩留まりが低下する。
出を低電圧で生じさせるには開口17の径を例えば0.
5μm以下に小さくしなければならず、そのパターンを
形成するには縮小露光装置(ステッパ)を使用しなけれ
ばならないほどである。
564号公報には、電子放出面を用いた電子放出源が開
示されている。この従来技術では、マイクロチップ10
6に関わる上記問題は回避することができる。
103とゲート電極ライン105との間の距離が、マイ
クロチップ106を用いた場合より長くなり、したがっ
て、ディスプレイ装置において高輝度を得るために充分
な電流量を確保しようとすると、上記電極間に高い電圧
を印加する必要があり、絶縁破壊が懸念されるなどの新
たな問題が発生する。
決しようとするものであり、その目的とするところは、
低い電圧で駆動でき、電流量が均一であるとともに電子
ビームの拡がりが少なく、しかも長寿命であり、さらに
電極間の短絡の虞の少ない電子放出源とその製造方法、
ならびに同電子放出源を用いたディスプレイ装置を提供
することにある。
源は、基体上に、カソード電極ラインと、絶縁層と、前
記カソード電極ラインに交差するゲート電極ラインとが
この順に形成されていて、前記ゲート電極ラインと前記
カソード電極ラインとが交差する領域において、前記ゲ
ート電極ライン及び前記絶縁層を通して前記カソード電
極ラインに達する微細孔を有する電子放出源であって、
前記微細孔の底部に縦断面が台形状の突出部を電子放出
部として有し、この突出部の表面が微小な凹凸を有し、
前記微小な凹凸が電子放出物質からなる膜で被覆され、
前記膜の表面は、前記絶縁層の表面より前記カソード電
極ライン側に位置することを特徴とする。
基体上にカソード電極ラインを形成する工程と、前記基
体及び前記カソード電極ラインを被覆する絶縁層を形成
する工程と、前記絶縁層上に前記カソード電極ラインと
交差するゲート電極ラインを形成する工程と、前記カソ
ード電極ラインと前記ゲート電極ラインとが交差する領
域において、前記ゲート電極ライン及び絶縁層を貫通し
て前記カソード電極ラインに達する微細孔を形成する工
程と、前記微細孔の底部に縦断面が台形状で表面に微小
な凹凸を有する突出部を電子放出部として形成する工程
と、前記突出部の表面に、前記絶縁層の表面より前記カ
ソード電極ライン側に表面が位置し、前記微小な凹凸を
被覆する電子放出物質からなる膜を形成する工程とを有
することを特徴とする。
上に、カソード電極ラインと、絶縁層と、前記カソード
電極ラインに交差するゲート電極ラインとがこの順に形
成されていて、前記ゲート電極ラインと前記カソード電
極ラインとが交差する領域において、前記ゲート電極ラ
イン及び前記絶縁層を通して前記カソード電極ラインに
達する微細孔を有する電子放出源であって、前記微細孔
の底部に縦断面が台形状の突出部を電子放出部として有
し、この突出部の表面が微小な凹凸を有し、前記微小な
凹凸が電子放出物質からなる膜で被覆され、前記膜の表
面は、前記絶縁層の表面より前記カソード電極ライン側
に位置するように構成された電子放出源と;この電子放
出源と対向する位置に配された蛍光面及びアノード電極
と;を有し、前記電子放出源の冷陰極から放出される電
子により前記蛍光面を発光させるように構成されたこと
を特徴とする。
ライン上に縦断面が台形状の突出部が電子放出部として
形成されているので、電子放出面を用いた従来の電子放
出源に比べ、電子放出部とゲート電極ラインとの間の距
離が大幅に短縮し、従ってこれらの電極間に印加する電
圧を低くしても充分な電流量を確保することができる。
この電子放出部の表面に設ける電子放出物質として例え
ば炭素を用いた場合、数十V/μm程度もしくはそれ以
下の電界強度を電子放出部に印加すれば、ディスプレイ
装置として必要な電流量を確保することでき、そのた
め、カソード電極ラインとゲート電極ラインの間に印加
する電圧は数十V/μm以下で済み、低電圧駆動が可能
となる。
形成されていて、電子放出部を形成する炭素などの薄膜
表面もこれを反映して微小な凹凸を形成し(或いは、薄
膜表面に微小な凹凸を加工し)、その結果、突出部の突
起先端部に電界が集中し、さらに低い印加電圧でも電界
放出を生じさせることができる。即ち、低電圧駆動が可
能であり、その結果、消費電力を抑えることができる。
部の先端部の位置関係は、突出部の高さでのみ決定され
るので、突出部を均一に形成することが容易である。ま
た、主として電子放出が生じるのはゲ−ト電極ラインに
近い突出部上面の端部であり、ゲート電極ラインとの位
置関係は開口の大きさにそれほど依存しない。つまり、
開口の大きさがばらついても、電子放出量がばらつくこ
とが少ない。従って、画素内および画素によって電流量
がばらつくという問題が生じにくい。
ト電極ラインと電子放出部との間の距離を長くとること
ができるので、電極間の短絡は生じ難く、その結果、製
造歩留まりが向上する。
表面に前記微小な凹凸が存在し、この凹凸に追従して前
記電子放出物質の膜の表面に、微小な凹凸が形成されて
いるのが好ましい。また、前記突出部の表面に形成され
る凹凸の粗さは、平均表面粗さ(Ra)で10〜100
nmとし、前記電子放出物質の膜厚は、10〜100n
mとするのがよい。
にこのカーボン膜はダイヤモンド状炭素膜又はアモルフ
ァスカーボン膜であることが望ましい。
とするターゲット基板にレーザ光、電子、イオン等を照
射して成膜した薄膜であり、また、前記カーボン膜が、
炭素イオンを用いて成膜した薄膜であるのがよい。
ト状であることが望ましい。
に抵抗値の小さい電極本体と、この電極本体に重ねて延
設された相対的に抵抗値の大きい導体とからなり、前記
電極本体には、1カ所または複数箇所において部分的な
欠除領域が形成され、前記微細孔は前記欠除領域内に前
記欠除領域の縁部との間に間隔をおいて形成されている
ことが好ましい。
形に形成されているのがよい。
域が形成され、これらの複数の欠除領域はマトリクス状
に配列されているのがよい。
極ラインの材料とは異なっていることが望ましい。
に前記の諸工程からなり(工程の順序は限定されるもの
ではなく、必要に応じて変更したり、或いは同時に複数
工程を行うこともできる。)その実施には種々のバリエ
ーションが採用できるが、たとえば、前記ゲート電極ラ
インを形成したのち、このゲート電極ライン上に金属な
どの犠牲層を蒸着又はスパッタリングなどにより形成
し、つづいて前記微細孔の底部に前記突出部を形成し、
この突出部の上面に前記微小な凹凸を形成し、しかるの
ち、前記犠牲層を酸又はアルカリ溶液などによりリフト
オフする、製造方法が好ましい。
オン化させ、炭素イオンおよび荷電炭素クラスターのい
ずれか一方または両者を、磁場によって屈曲した軌道に
沿って飛翔させて基板に入射せしめ、前記微細孔内の前
記突出部の微小な凸凹の上面に被着させて電子放出部を
形成するのがよい。
光を真空中において炭素固形物のターゲット表面に入射
させて炭素イオン、中性炭素原子、ならびに炭素クラス
ターのいずれか1つまたは複数を前記ターゲットに対向
配置した基板に入射させ、前記微細孔内の前記突出部の
微小な凸凹の上面に被着させて電子放出部を形成するの
がよい。
ムを照射して炭素を加熱蒸発させ、発生した炭素原子、
炭素イオンならびに炭素クラスターのいずれか1つまた
は複数を前記微細孔内の前記突出部の微小な凸凹の上面
に被着させて電子放出部を形成するのがよい。
コール等の炭素源を導入し、これを加熱したフィラメン
トに接触させて加熱分解し、発生した炭素原子、炭素の
イオンならびに炭素クラスターを前記微細孔内の前記突
出部の微小な凸凹の上面に被着させて電子放出部を形成
するのがよい。
は、前記の電子放出源以外は従来の機器構成を採用する
ことができる。
ド電極ラインが側方に間隔をおいてほぼ同一方向に延設
され、複数の帯状の前記ゲート電極ラインが側方に間隔
をおき前記カソード電極ラインに交差して延設され、前
記両電極ラインが交差する箇所に前記微細孔が形成さ
れ、複数の帯状の前記アノード電極が各ゲート電極ライ
ンにそれぞれ対向して延設されているのがよい。
ド電極ラインが側方に間隔をおいてほぼ同一方向に延設
され、複数の帯状の前記ゲート電極ラインが側方に間隔
をおき前記カソード電極ラインに交差して延設され、前
記両電極ラインが交差する箇所に前記微細孔が形成さ
れ、前記電子放出源に対向して、蛍光面と、蛍光面の上
に蒸着によって形成した前記アノード電極が配設されて
いるのがよい。
れる好ましい実施形態に基づいて、本発明をさらに具体
的に説明する。
形態のディスプレイ装置は、図1に示すように、電子放
出源1と、その上部のアノードとなる上部基板2とが高
真空部3を介して組立てられている。
図3はその部分平面を示す。
なる下部基板11の表面上に帯状の複数本のカソード電
極ライン13が形成されている。これらのカソード電極
ライン13上には、絶縁層14を介して各カソード電極
ライン13と交差する帯状の複数本のゲート電極ライン
15が形成されて、各カソード電極ライン13とともに
マトリクス構造を構成している。さらに、各カソード電
極ライン13の接続端部及び各ゲート電極ライン15の
接続端部が図示しない制御手段にそれぞれ接続されてい
る。
4とを貫通して微細孔17がカソード電極13の表面に
到達しており、さらにこの微細孔17内にはカソード電
極13に接して縦断面が台形状の金属製の突出部161
が形成されており、その上面には微小な凹凸162が形
成されており、その上に電子放出部16が形成されてい
る。
aよりなる。そしてこの炭素薄膜16a表面は上記凹凸
162を反映して凹凸に形成される。
おいて高真空部3を介して電子放出源1の主面部と対向
して設けられている。この上部基板2の下面部には、蛍
光材料が塗布されて前記各カソード電極ライン13とそ
れぞれ平行に帯状の蛍光面が形成されている。
段が所定のカソード電極ライン13及びゲート電極ライ
ン15を選択して、これらの間に所定の電圧をかける。
これにより、対応する画素領域内の炭素薄膜16aの表
面に所定の電界がかかり、その表面からトンネル効果に
よって電子が放出される。
微小な凹凸が形成されているため、その凹凸の突起部1
62に電界が集中し、低い印加電圧でも充分な電界強度
が達成され、電子が放出される。
ィスプレイ装置においては、所定の画素領域を励起する
ことによって各微細孔17内の炭素薄膜16aから放出
された電子が、前記制御手段によりカソード電極ライン
13と上部基板(アノード)2間に印加された電圧によ
ってさらに加速され、ゲート電極ライン15と上部基板
2間の高真空部3を通って蛍光面に到達する。そして、
この電子線により蛍光面から可視光が放出される。
説明する。まず、ガラス等よりなる下部基板11上に、
ニオビウム、モリブデンまたはクロム等を材料として厚
さ約2000オングストローム程の導体膜を成膜する。
その後、写真製版法および反応性イオンエッチング法に
よりこの導体膜をライン形状にし、カソード電極ライン
13とする。
リングあるいは化学蒸着法により前記カソード電極ライ
ン13上に絶縁層14を成膜し、さらにその上にゲート
電極材料、例えばニオビウムまたはモリブデンからなる
導体膜を成膜する。その後、写真製版法及び反応性イオ
ンエッチング法によりこの導体膜をカソード電極ライン
13と交差するようにライン形状にし、これをゲート電
極ライン15とする。
縁層14を貫通し、カソード電極13に達する円形の微
細孔17を写真製版法および反応性イオンエッチング法
により形成する。
ように斜め蒸着によりリフトオフの犠牲層40としてア
ルミニウム膜を形成する。斜め方向から蒸着するのは、
微細孔17の底部にアルミニウム膜が付着しないように
するためである。
ン等の金属を蒸着することにより、微細孔内部に断面が
台形状の突出部161をゲート電極ライン15の上面よ
り300〜500nm低く形成する。
と犠牲層40の上部に成長するが、成長とともに犠牲層
40の上部に成長する金属膜50は微細孔の縁からせり
出すように成長し、微細孔17の口径を狭めていく。
る金属膜50aは上部が徐々に狭まって成長していき、
その縦断面形状は台形状となる。突出部161が一定の
高さまで成長し、また微細孔17の口が完全に閉じられ
る前に蒸着を完了する。
すように、エッチングガスとしてSF6 を用いて、タン
グステンの結晶粒と粒界との間でエッチング速度の差が
大きくなるような条件に設定して、反応性エッチングを
実施する。この結果、図8に示すように、タングステン
の結晶粒径をほぼ反映した寸法を有する平均表面粗さ
(Ra)が10〜100nmの微小な凹凸162が前記
突出部161の上面に形成される。
図9に示すようにアーク放電法またはレーザーアブレー
ション法によって厚さ10〜100nmに形成する。
161上面の微小な凹凸162を反映して、微小な凹凸
が形成される。
液もしくは、水酸化ナトリウム等のアルカリ溶液によっ
て犠牲層40であるアルミニウム膜をエッチングすると
ともに、その上部の金属膜とカーボン膜をリフトオフに
より除去する。
となる微細孔17の形状は円形だけでなく多角形や楕円
形であっても構わず、さらに図4に示すように1方向に
伸びた溝状(スリット状)であっても良い。
微細孔17内部の突出部161の縦断面が台形状になっ
ており、その上端はカソード電極ライン13表面よりゲ
ート電極ライン15に近づいているため、電界が有効に
突出部161上面の炭素薄膜16aの表面に印加する。
さらに、炭素薄膜16aの表面に微小な凹凸が形成さ
れ、その凸部の先端部に電界が集中するので、より低い
電圧でフィールドエミッション電流を得ることができ
る。
161を形成した後は、金属膜50のせり出しの分の距
離だけ微細孔17の口径が狭まっているため、炭素が入
り込むのを抑制でき、炭素薄膜によるゲート電極、カソ
ード電極間の電気的接触のトラブルが減少し、信頼性が
向上する。
の実施形態について説明する。
の実施形態の電子放出源と同様の構成及び効果を有する
が、犠牲層であるアルミニウム膜の生成法が異なる。
ン15と絶縁層14及びカソード電極ラインが形成され
た後に、犠牲層40であるアルミニウム薄膜が蒸着また
はスパッタリングにより形成される。
エッチングにより微細孔17をアルミニウムの犠牲層4
0、ゲート電極15、絶縁層14を貫通して形成する。
び電子放出部である炭素薄膜16の生成法は第1の実施
形態と同様である。
源となる微細孔の形状は円形だけでなく多角形んや楕円
形であっても構わず、さらに図4に示すように1方向に
伸びた溝状であっても良い。
の実施形態を図13及び図14について説明する。
した第1の実施形態の電子放出源とほぼ同様の構成と効
果を有するが、特徴的なのはカソード電極ライン13a
の1画素に対応する領域が格子状構造であり、さらに、
このカソード電極ラインに接して導体もしくは半導体の
薄膜18が形成されていることである。格子のメッシュ
は任意の形にすることができるが、好ましくは、長方
形、もしくは正方形がよい。
カソード電極ライン13aの上部に薄膜18が形成され
ている。そして、ゲート電極ライン15と絶縁層14を
貫通して薄膜18の表面に達する円形の微細孔17が網
目の内部にそれぞれ1個もしくは複数個形成される。そ
して、微細孔17の内部に、前記薄膜18に接して上面
に微小な凹凸が形成されているタングステン製の突出部
161と、さらにその上面に電子放出炭素薄膜16とが
形成される。
からなり、カソード電極ライン13aと電気的に接して
いるので、カソード電極と同電位となり、カソード電極
として機能する。
子状構造であると、それと微細孔17との間に十分な距
離をとることができ、金属粒子等が微細孔17に入り込
んでカソード電極ライン13aとゲート電極ライン15
とが仮に短絡しても、電子放出用の炭素薄膜16の抵抗
破壊を防ぐことができる。
なる微細孔の形状は円形だけでなく多角形や楕円形であ
っても構わず、さらに1方向に伸びた溝状であっても良
い。
カソード電極ライン13aは、薄膜18の上部に形成し
ても良い。
8の形成以降の製造工程は、第1の実施の形態及び第2
の実施の形態で述べた製造工程と同様である。
ば、カソード電極ラインの上に台形状の突出部が設けら
れ、その上に電子放出用の膜が形成されているので、電
子放出面を用いた従来の電子放出源に比べ電子放出部と
ゲート電極ラインとの間の距離は大幅に短縮し、従って
これらの電極間に印加する電圧を低くしても充分な電流
量を確保することができ、ディスプレイ装置として必要
な電流量を確保することができ、低電圧駆動が可能とな
る。さらに、前記突出部の上面に微小な凸凹が形成され
ているのでこの凸凹の突起先端部に電界が集中し、さら
に印加電圧でも電界放出を生じさせることができる。
出部上面の端部との位置関係は、突出部の高さでのみ決
定されるので、突出部を均一に形成することが容易であ
る。また、主として電子放出が生じるのはゲート電極に
近い突出部上面の端部であり、ゲート電極ラインとの位
置関係は開口の大きさにそれほどよらない。つまり開口
の大きさがばらついても、電子放出量がばらつくことが
少ない。したがって画素内および画素によって電流量が
ばらつくという問題が生じにくい。
ト電極ラインと電子放出部との間の距離を長くとること
ができるので、電極間の短絡は生じ難く、製造歩留まり
が向上する。特に大型のディスプレイ装置では、電子放
出源も大型化することから、その製造歩留まりが大き
く、電子放出源の歩留まり向上の効果は大きい。
た本発明のディスプレイ装置は低電圧で駆動することが
できる。そして、電子放出源において画素ごとの電流量
がばらつくという問題が小さいので、高画質である。そ
して、電子放出源の製造歩留まりが良好であることか
ら、低コストで製造できる。
適用したディスプレイ装置を模式的に示す斜視図であ
る。
の製造過程の説明図である。
の部分平面図である。
断面図である。
下部基板、13…カソード電極ライン、13a…格子構
造を有するカソード電極ライン、14…絶縁層、15…
ゲート電極ライン、16…電子放出部、16a…炭素薄
膜、161…突出部、162…突出部上面の微小な凹
凸、17…微細孔、18…導体もしくは半導体の薄膜、
21…蛍光面、40…犠牲層、50…金属膜
Claims (41)
- 【請求項1】 基体上に、カソード電極ラインと、絶縁
層と、前記カソード電極ラインに交差するゲート電極ラ
インとがこの順に形成されていて、 前記ゲート電極ラインと前記カソード電極ラインとが交
差する領域において 、前記ゲート電極ライン及び前記絶縁層を通して前記カ
ソード電極ラインに達する微細孔を有する電子放出源で
あって、 前記微細孔の底部に縦断面が台形状の突出部を電子放出
部として有し、この突出部の表面が微小な凹凸を有し、 前記微小な凹凸が電子放出物質からなる膜で被覆され、 前記膜の表面は、前記絶縁層の表面より前記カソード電
極ライン側に位置することを特徴とする電子放出源。 - 【請求項2】 前記突出部の表面に、前記微小な凹凸が
存在し、この凹凸に追随して前記膜の表面に微小な凹凸
が形成されている、請求項1に記載の電子放出源。 - 【請求項3】 前記膜の表面に前記微小な凹凸が存在し
ている、請求項1に記載の電子放出源。 - 【請求項4】 前記膜がカーボン膜である、請求項1に
記載の電子放出源。 - 【請求項5】 前記カーボン膜がダイヤモンド状炭素膜
又はアモルファスカーボン膜である、請求項4に記載の
電子放出源。 - 【請求項6】 前記カーボン膜が、炭素を主体とするタ
ーゲット基板にレーザ光、電子、イオン等を照射して成
膜した薄膜である、請求項5に記載の電子放出源。 - 【請求項7】 前記カーボン膜が、炭素イオンを用いて
成膜した薄膜である、請求項5に記載の電子放出源。 - 【請求項8】 前記微細孔が略円形又はスリット状であ
る、請求項1に記載の電子放出源。 - 【請求項9】 前記カソード電極ラインは、相対的に抵
抗値の小さい電極本体と、この電極本体に重ねて延設さ
れた相対的に抵抗値の大きい導体とから成り、前記電極
本体には、1カ所または複数箇所において部分的な欠除
領域が形成され、前記微細孔は前記欠除領域内に前記欠
除領域の縁部との間に間隔をおいて形成されている、請
求項1に記載の電子放出源。 - 【請求項10】 前記電極本体の前記欠除領域は矩形に
形成されている、請求項9に記載の電子放出源。 - 【請求項11】 前記電極本体に複数の前記欠除領域が
形成され、これらの複数の欠除領域はマトリクス状に配
列されている、請求項10に記載の電子放出源。 - 【請求項12】 前記突出部の材料は前記カソード電極
ラインの材料とは異なっている、請求項1に記載の電子
放出源。 - 【請求項13】 基体上にカソード電極ラインを形成す
る工程と、 前記基体及び前記カソード電極ラインを被覆する絶縁層
を形成する工程と、 前記絶縁層上に前記カソード電極ラインと交差するゲー
ト電極ラインを形成する工程と、 前記カソード電極ラインと前記ゲート電極ラインとが交
差する領域において、前記ゲート電極ライン及び絶縁層
を貫通して前記カソード電極ラインに達する微細孔を形
成する工程と、 前記微細孔の底部に縦断面が台形状で表面に微小な凹凸
を有する突出部を電子放出部として形成する工程と、 前記突出部の表面に、前記絶縁層の表面より前記カソー
ド電極ライン側に表面が位置し、前記微小な凹凸を被覆
する電子放出物質からなる膜を形成する工程とを有する
ことを特徴とする、電子放出源の製造方法。 - 【請求項14】 前記ゲート電極ラインを形成したの
ち、このゲート電極ライン上に犠牲層を形成し、つづい
て前記微細孔の底部に前記突出部を形成し、この突出部
の上面に前記微小な凹凸を形成し、しかるのち、前記犠
牲層をリフトオフする、請求項13に記載の電子放出源
の製造方法。 - 【請求項15】 前記膜をカーボン膜で形成する、請求
項13に記載の電子放出源の製造方法。 - 【請求項16】 前記カーボン膜をダイヤモンド状炭素
膜又はアモルファスカーボン膜で形成する、請求項15
に記載の電子放出源の製造方法。 - 【請求項17】 前記カーボン膜を、炭素を主体とする
ターゲット基板にレーザ光、電子、イオン等を照射して
成膜する、請求項16に記載の電子放出源の製造方法。 - 【請求項18】 前記カーボン膜を、炭素イオンを用い
て成膜する、請求項16に記載の電子放出源の製造方
法。 - 【請求項19】 前記微細孔を略円形又はスリット状に
形成する、請求項13に記載の電子放出源の製造方法。 - 【請求項20】 前記カソード電極ラインを、相対的に
抵抗値の小さい電極本体と、この電極本体に重ねて延設
された相対的に抵抗値の大きい導体とから構成し、前記
電極本体には、1カ所または複数箇所において部分的な
欠除領域を形成し、前記微細孔は前記欠除領域内に前記
欠除領域の縁部との間に間隔をおいて形成する、請求項
13に記載の電子放出源の製造方法。 - 【請求項21】 前記電極本体の前記欠除領域を矩形に
形成する、請求項20に記載の電子放出源の製造方法。 - 【請求項22】 電極本体に複数の前記欠除領域を形成
し、これらの複数の欠除領域をマトリクス状に配列す
る、請求項21に記載の電子放出源の製造方法。 - 【請求項23】 前記突出部の材料は前記カソード電極
ラインの材料とは異なるものとする、請求項13に記載
の電子放出源の製造方法。 - 【請求項24】 炭素固形物をアーク放電によってイオ
ン化させ、炭素イオンおよび荷電炭素クラスターのいず
れか一方または両者を、磁場によって屈曲した軌道に沿
って飛翔させて基板に入射せしめ、前記微細孔内の前記
突出部の微小な凸凹の上面に被着させて電子放出部を形
成する、請求項13に記載の電子放出源の製造方法。 - 【請求項25】 レンズにより収束させたレーザー光を
真空中において炭素固形物のターゲット表面に入射させ
て炭素イオン、中性炭素原子、ならびに炭素クラスター
のいずれか1つまたは複数を前記ターゲットに対向配置
した基板に入射させ、前記微細孔内の前記突出部の微小
な凸凹の上面に被着させて電子放出部を形成する、請求
項13に記載の電子放出源の製造方法。 - 【請求項26】 真空中にて炭素固形物に電子ビームを
照射して炭素を加熱蒸発させ、発生した炭素原子、炭素
イオンならびに炭素クラスターのいずれか1つまたは複
数を前記微細孔内の前記突出部の微小な凸凹の上面に被
着させて電子放出部を形成する、請求項13に記載の電
子放出源の製造方法。 - 【請求項27】 真空中にメタン、アセトン、アルコー
ル等の炭素源を導入し、これを加熱したフィラメントに
接触させて加熱分解し、発生した炭素原子、炭素のイオ
ンならびに炭素クラスターを前記微細孔内の前記突出部
の微小な凸凹の上面に被着させて電子放出部を形成す
る、請求項13に記載の電子放出源の製造方法。 - 【請求項28】 基体上に、カソード電極ラインと、絶
縁層と、前記カソード電極ラインに交差するゲート電極
ラインとがこの順に形成されていて、 前記ゲート電極ラインと前記カソード電極ラインとが交
差する領域において、前記ゲート電極ライン及び前記絶
縁層を通して前記カソード電極ラインに達する微細孔を
有する電子放出源であって、 前記微細孔の底部に縦断面が台形状の突出部を電子放出
部として有し、この突出部の表面が微小な凹凸を有し、 前記微小な凹凸が電子放出物質からなる膜で被覆され、 前記膜の表面は、前記絶縁層の表面より前記カソード電
極ライン側に位置するように構成された電子放出源と;
この電子放出源と対向する位置に配された蛍光面及びア
ノード電極と;を有し、前記電子放出源の冷陰極から放
出される電子により前記蛍光面を発光させるように構成
されたことを特徴とするディスプレイ装置。 - 【請求項29】 前記突出部の表面に、前記微小な凹凸
が存在し、この凹凸に追随して前記膜の表面に微小な凹
凸が形成されている、請求項28に記載のディスプレイ
装置。 - 【請求項30】 前記膜の表面に前記微小な凹凸が存在
している、請求項28に記載のディスプレイ装置。 - 【請求項31】 前記膜がカーボン膜である、請求項2
8に記載のディスプレイ装置。 - 【請求項32】 前記カーボン膜がダイヤモンド状炭素
膜又はアモルファスカーボン膜である、請求項31に記
載のディスプレイ装置。 - 【請求項33】 前記カーボン膜が、炭素を主体とする
ターゲット基板にレーザ光、電子、イオン等を照射して
成膜した薄膜である、請求項32に記載のディスプレイ
装置。 - 【請求項34】 前記カーボン膜が、炭素イオンを用い
て成膜した薄膜である、請求項31に記載のディスプレ
イ装置。 - 【請求項35】 前記微細孔が略円形又はスリット状で
ある、請求項28に記載のディスプレイ装置。 - 【請求項36】 前記カソード電極ラインは、相対的に
抵抗値の小さい電極本体と、この電極本体に重ねて延設
された相対的に抵抗値の大きい導体とから成り、前記電
極本体には、1カ所または複数箇所において部分的な欠
除領域が形成され、前記微細孔は前記欠除領域内に前記
欠除領域の縁部との間に間隔をおいて形成されている、
請求項28に記載のディスプレイ装置。 - 【請求項37】 前記電極本体の前記欠除領域は矩形に
形成されている、請求項36に記載のディスプレイ装
置。 - 【請求項38】 電極本体に複数の前記欠除領域が形成
され、これらの複数の欠除領域はマトリクス状に配列さ
れている、請求項37に記載のディスプレイ装置。 - 【請求項39】 前記突出部の材料は前記カソード電極
ラインの材料とは異なっている、請求項28に記載のデ
ィスプレイ装置。 - 【請求項40】 基板上に、複数の帯状の前記カソード
電極ラインが側方に間隔をおいてほぼ同一方向に延設さ
れ、複数の帯状の前記ゲート電極ラインが側方に間隔を
おき前記カソード電極ラインに交差して延設され、前記
両電極ラインが交差する箇所に前記微細孔が形成され、
複数の帯状の前記アノード電極が各ゲート電極ラインに
それぞれ対向して延設されている、請求項28に記載の
ディスプレイ装置。 - 【請求項41】 基板上に、複数の帯状の前記カソード
電極ラインが側方に間隔をおいてほぼ同一方向に延設さ
れ、複数の帯状の前記ゲート電極ラインが側方に間隔を
おき前記カソード電極ラインに交差して延設され、前記
両電極ラインが交差する箇所に前記微細孔が形成され、
前記電子放出源に対向して、蛍光面と、蛍光面の上に蒸
着によって形成した前記アノード電極が配設されてい
る、請求項28に記載のディスプレイ装置。
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JP17198799A JP4217933B2 (ja) | 1999-06-18 | 1999-06-18 | 電子放出源及びその製造方法、並びにその電子放出源を用いたディスプレイ装置 |
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JP2001006525A true JP2001006525A (ja) | 2001-01-12 |
JP2001006525A5 JP2001006525A5 (ja) | 2006-03-30 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002208345A (ja) * | 2001-01-09 | 2002-07-26 | Sony Corp | 冷陰極電界電子放出素子の製造方法、及び、冷陰極電界電子放出表示装置の製造方法 |
JP2005332704A (ja) * | 2004-05-20 | 2005-12-02 | Kochi Prefecture | 電界放出型素子の駆動装置及びその駆動方法 |
-
1999
- 1999-06-18 JP JP17198799A patent/JP4217933B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JP4649739B2 (ja) * | 2001-01-09 | 2011-03-16 | ソニー株式会社 | 冷陰極電界電子放出素子の製造方法 |
JP2005332704A (ja) * | 2004-05-20 | 2005-12-02 | Kochi Prefecture | 電界放出型素子の駆動装置及びその駆動方法 |
JP4528926B2 (ja) * | 2004-05-20 | 2010-08-25 | 高知県 | 電界放出型素子の駆動装置及びその駆動方法 |
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