JP2000340366A - 発光ダイオード - Google Patents

発光ダイオード

Info

Publication number
JP2000340366A
JP2000340366A JP11148796A JP14879699A JP2000340366A JP 2000340366 A JP2000340366 A JP 2000340366A JP 11148796 A JP11148796 A JP 11148796A JP 14879699 A JP14879699 A JP 14879699A JP 2000340366 A JP2000340366 A JP 2000340366A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
emitting diode
inorganic
oxide
transporting layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP11148796A
Other languages
English (en)
Inventor
Michio Arai
三千男 荒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TDK Corp filed Critical TDK Corp
Priority to JP11148796A priority Critical patent/JP2000340366A/ja
Priority to EP99926815A priority patent/EP1115270A1/en
Priority to US09/339,879 priority patent/US6111274A/en
Priority to PCT/JP1999/003397 priority patent/WO2000074443A1/ja
Publication of JP2000340366A publication Critical patent/JP2000340366A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/26Materials of the light emitting region
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/0004Devices characterised by their operation

Abstract

(57)【要約】 【課題】 比較的容易に大面積の表示装置を構成するこ
とができ、薄型、長寿命、低コストで、フルカラーのデ
ィスプレイにも対応可能な発光ダイオードを実現する。 【解決手段】 陽電極と陰電極と、これらの電極間に少
なくともエレクトロルミネッセンスを生じる無機発光層
を有し、前記無機発光層と陰電極の間には、主成分とし
て酸化ストロンチウム、酸化マグネシウム、酸化カルシ
ウム、酸化リチウム、酸化ルビジウム、酸化カリウム、
酸化ナトリウム、および酸化セシウムから選択される1
種または2種以上の酸化物を含有する無機電子輸送層を
有し、前記無機発光層と陽電極との間には無機ホール輸
送層を有し、この無機ホール輸送層は、シリコンおよび
/またはゲルマニウムの酸化物を主成分とする無機絶縁
性ホール輸送層である発光ダイオードとした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、LED(Light Em
itting Diode)素子に関し、詳しくは、一対の電極間に
ある無機蛍光体を発光させる素子の無機薄膜構造に関す
る。
【0002】
【従来の技術】近年の発光デバイスの進展は、著しい。
とくに、以下の2つの研究開発が活性化している。第一
に、半導体pn接合による電子とホールの注入再結合発
光を基本原理とするLED(発光ダイオード)およびL
D(レーザーダイオード)に関するものである。第二
に、発光層となる有機薄膜を電子輸送性およびホール輸
送性有機物質等とともに積層させ、半導体pn接合に類
似の電子とホールの注入発光再結合を基本原理とする有
機EL素子に関するものである。
【0003】上記LED、LDについては、古くから研
究されていたが、近年になって、GaN系、ZnSe系
の研究が進み、例えば日経エレクトロニクスno.674、p.
79(1996)に示されるように、これら窒化物半導体層の積
層構造を含み、青色、緑色等の短い波長の光を発光する
LEDがすでに開発されている。現在では試験的ながら
LDに関するものも報告されている。LED、LDの開
発において、長期にわたる時間を要した理由は、Ga
N、ZnSeなどワイドギャップ半導体材料では、n型
の半導体は得られるものの、p型の半導体化が不可能で
あったためである。最近になって、その結晶成長技術の
進歩によりp型化が報告され、LEDが可能になり、さ
らにはLDと急速な進展をみせた。
【0004】しかしながら、LED、LD等は面発光デ
バイスとしての応用が困難であり、たとえ面発光デバイ
スを構成したとしても高価なものとなってしまい、価格
面でも不利である。また、青色デバイスの量産において
は、結晶成長条件や装置、使用する単結晶基板など赤色
LEDなどにくらべるとコストが大きな問題となってい
る。現状、青色デバイスのコストが1/2になれば市場
が5倍になるといわれ、従来技術に対する低価格化と歩
留まり改善が急務である。
【0005】一方、有機ELにおいては、ガラス上に大
面積で素子を形成できるため、ディスプレー用に研究開
発が進められている。一般に有機EL素子は、ガラス基
板上にITOなどの透明電極を形成し、その上に有機ア
ミン系のホール注入輸送層、電子導電性を示しかつ強い
発光を示すたとえばAlq3 材からなる有機発光層を積
層し、さらに、MgAgなどの仕事関数の小さい電極を
形成し、基本素子としている。
【0006】これまでに報告されている素子構造として
は、ホール注入電極及び電子注入電極の間に1層または
複数層の有機化合物層が挟まれた構造となっており、有
機化合物層としては、2層構造あるいは3層構造があ
る。
【0007】しかし、いずれの構造のものも、電極材料
の一方(通常、電子注入側)に不安定な低仕事関数の金
属材料を使用しなければならず、素子寿命や発光効率、
製造の容易性および製造コスト、取り扱いの容易さ等の
面で満足しうるものは得られていない。
【0008】一方、エレクトロルミネッセンス(EL)
は、誘電体間にサンドイッチ状に挟んだ薄い蛍光体を用
いる発光素子であり、無機材料の取り扱いの容易さと、
視野角の広さ、素子寿命の長さ等の特徴を有し、今後の
開発が期待されている。
【0009】しかしながら、ELで使用される蛍光物質
の発光波長が限られているため、素子の発光波長帯には
限りがあり、フルカラーのディスプレイや、特定の色彩
が得られない等といった問題を有していた。また、無機
蛍光材料は十分な発光効率を得ることが難しく、素子の
発光輝度を高めたり、消費電力の低減を図る上で大きな
障害となっていた。更に、蛍光体の調整が難しく、微妙
な色彩の表現や、大盤のディスプレイへの対応を困難に
していた。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】この発明の目的は、比
較的容易に大面積の表示装置を構成することができ、薄
型、長寿命、低コストで、フルカラーのディスプレイに
も対応可能な発光ダイオードを実現することである。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的は以下の構成に
より達成される。 (1) 陽電極と陰電極と、これらの電極間に少なくと
もエレクトロルミネッセンスを生じる無機発光層を有
し、前記無機発光層と陰電極の間には、主成分として酸
化ストロンチウム、酸化マグネシウム、酸化カルシウ
ム、酸化リチウム、酸化ルビジウム、酸化カリウム、酸
化ナトリウム、および酸化セシウムから選択される1種
または2種以上の酸化物を含有する無機絶縁性電子注入
輸送層を有し、前記無機発光層と陽電極との間には無機
ホール注入輸送層を有し、この無機ホール注入輸送層
は、シリコンおよび/またはゲルマニウムの酸化物を主
成分とする無機絶縁性ホール注入輸送層である発光ダイ
オード。 (2)前記主成分の平均組成を、(Si1-xGex)Oy
と表したとき 0≦x≦1 1.7≦y≦1.99 である上記(1)の発光ダイオード。 (3) 前記無機絶縁性電子注入輸送層は、さらに安定
剤として酸化シリコン(SiO2)、および/または酸
化ゲルマニウム(GeO2)を含有する上記(1)また
は(2)の発光ダイオード。 (4) 前記無機絶縁性電子注入輸送層は、各構成成分
が全成分に対して、 主成分:80〜99 mol%、 安定剤: 1〜20 mol% 含有する上記(1)〜(3)のいずれかの発光ダイオー
ド。 (5) 前記無機絶縁性電子注入輸送層の膜厚は、0.
1〜2nmである上記(1)〜(4)のいずれかの発光ダ
イオード。 (6) 前記無機絶縁性ホール注入輸送層の膜厚は、
0.1〜3nmである上記(1)〜(5)のいずれかの発
光ダイオード。 (7) 前記無機ホール注入輸送層は高抵抗の無機ホー
ル注入輸送層であって、抵抗率が1〜1×1011Ω・cm
である上記(1)の発光ダイオード。 (8) 前記高抵抗の無機ホール注入輸送層は、金属お
よび/または金属の酸化物、炭化物、窒化物、ケイ化物
および硼化物のいずれか1種以上を含有する上記(7)
の発光ダイオード。 (9) 前記高抵抗の無機ホール注入輸送層は、シリコ
ンおよび/またはゲルマニウムの酸化物を主成分とし、
この主成分を(Si1-xGex)Oyと表したとき、 0≦x≦1、 1.7≦y≦2.2 であり、さらに、仕事関数4.5eV以上の金属および/
または金属の酸化物、炭化物、窒化物、ケイ化物および
硼化物のいずれか1種以上を含有する上記(7)または
(8)のいずれかの発光ダイオード。 (10) 前記金属は、Au,Cu、Fe、Ni、R
u、Sn,Cr,Ir,Nb,Pt,W,Mo,Ta,
PdおよびCoのいずれか1種以上である上記(9)の
発光ダイオード。 (11) 前記金属および/または金属の酸化物、炭化
物、窒化物、ケイ化物および硼化物の含有量は、0.2
〜40 mol%である上記(9)または(10)の発光ダ
イオード。 (12) 前記高抵抗の無機ホール注入輸送層の膜厚
は、0.2〜100nmである上記(9)〜(11)のい
ずれかの発光ダイオード。 (13) 前記無機発光層は、少なくとも硫化ストロン
チウムとセシウムとを含有する上記(1)〜(12)の
いずれかの発光ダイオード。
【0012】
【発明の実施の形態】本発明の発光ダイオードは、陽電
極と陰電極と、これらの電極間に少なくともエレクトロ
ルミネッセンスを生じる無機発光層を有し、前記無機発
光層と陰電極の間には、主成分として酸化ストロンチウ
ム、酸化マグネシウム、酸化カルシウム、酸化リチウ
ム、酸化ルビジウム、酸化カリウム、酸化ナトリウム、
および酸化セシウムから選択される1種または2種以上
の酸化物を含有する無機電子注入輸送層を有し、前記無
機発光層と陽電極との間には無機ホール注入輸送層を有
し、この無機ホール注入輸送層は、シリコンおよび/ま
たはゲルマニウムの酸化物を主成分とする無機絶縁性ホ
ール注入輸送層である。
【0013】このように、電子注入輸送機能を有する無
機絶縁性電子注入輸送層と、ホール注入輸送機能を有す
る無機絶縁性ホール注入輸送層との間に、エレクトロル
ミネッセンスを発する無機発光層を配置することで、安
価で、大面積の表示器に対応できるLEDを構成するこ
とができる。しかも薄膜工程による製造が可能なため、
表示面形状の自由度が高く、薄型で、しかも長寿命の表
示装置を得ることができる。
【0014】陰電極(電子注入電極)材料は、低仕事関
数の物質が好ましく、例えば、K、Li、Na、Mg、
La、Ce、Ca、Sr、Ba、Al、Ag、In、S
n、Zn、Zr等の金属元素単体、または安定性を向上
させるためにそれらを含む2成分、3成分の合金系、あ
るいはこれらの酸化物等を用いることが好ましい。ま
た、Li、Na、K、Rb、Csなどのアルカリ金属の
酸化物、フッ化物でもよい。合金系としては、例えばA
g・Mg(Ag:0.1〜50at%)、Al・Li(L
i:0.01〜12at%)、In・Mg(Mg:50〜
80at%)、Al・Ca(Ca:0.01〜20at%)
等が挙げられる。電子注入電極層にはこれらの材料から
なる薄膜、それらの2種類以上の多層薄膜が用いられ
る。
【0015】陰電極(電子注入電極)薄膜の厚さは、電
子注入を十分行える一定以上の厚さとすれば良く、0.
1nm以上、好ましくは0.5nm以上、特に1nm以上とす
ればよい。また、その上限値には特に制限はないが、通
常膜厚は1〜500nm程度とすればよい。陰電極の上に
は、さらに補助電極(保護電極)を設けてもよい。
【0016】補助電極の厚さは、電子注入効率を確保
し、水分や酸素あるいは有機溶媒の進入を防止するた
め、一定以上の厚さとすればよく、好ましくは50nm以
上、さらには100nm以上、特に100〜500nmの範
囲が好ましい。補助電極層が薄すぎると、その効果が得
られず、また、補助電極層の段差被覆性が低くなってし
まい、端子電極との接続が十分ではなくなる。一方、補
助電極層が厚すぎると、補助電極層の応力が大きくなる
ため、ダークスポットの成長速度が速くなってしまう等
といった弊害が生じてくる。
【0017】補助電極は、組み合わせる電子注入電極の
材質により最適な材質を選択して用いればよい。例え
ば、電子注入効率を確保することを重視するのであれば
Al等の低抵抗の金属を用いればよく、封止性を重視す
る場合には、TiN等の金属化合物を用いてもよい。
【0018】陰電極電極と補助電極とを併せた全体の厚
さとしては、特に制限はないが、通常50〜500nm程
度とすればよい。
【0019】陽電極(ホール注入電極)材料は、高抵抗
の無機ホール注入層等へホールを効率よく注入すること
のできるものが好ましく、仕事関数4.5eV〜5.5eV
の物質が好ましい。具体的には、錫ドープ酸化インジウ
ム(ITO)、亜鉛ドープ酸化インジウム(IZO)、
酸化インジウム(In23 )、酸化スズ(SnO2)お
よび酸化亜鉛(ZnO)のいずれかを主組成としたもの
が好ましい。これらの酸化物はその化学量論組成から多
少偏倚していてもよい。In2 3 に対するSnO2
混合比は、1〜20wt%、さらには5〜12wt%が好ま
しい。また、IZOでのIn2 3 に対するZnOの混
合比は、通常、12〜32wt%程度である。
【0020】陽電極(ホール注入電極)は、仕事関数を
調整するため、酸化シリコン(SiO2 )を含有してい
てもよい。酸化シリコン(SiO2 )の含有量は、IT
Oに対するSiO2 の mol比で0.5〜10%程度が好
ましい。SiO2 を含有することにより、ITOの仕事
関数が増大する。
【0021】光を取り出す側の電極は、発光波長帯域、
通常400〜700nm、特に各発光光に対する光透過率
が50%以上、さらには80%以上、特に90%以上で
あることが好ましい。透過率が低くなりすぎると、発光
層からの発光自体が減衰され、発光素子として必要な輝
度を得難くなってくる。
【0022】電極の厚さは、50〜500nm、特に50
〜300nmの範囲が好ましい。また、その上限は特に制
限はないが、あまり厚いと透過率の低下や剥離などの心
配が生じる。厚さが薄すぎると、十分な効果が得られ
ず、製造時の膜強度等の点でも問題がある。
【0023】本発明の発光ダイオードは、無機発光層と
陰電極との間に、無機絶縁性電子注入輸送層を有する。
【0024】このように、無機材料からなる無機絶縁性
電子注入輸送層を設けることで、電極や無機発光層と、
無機電子注入輸送層との界面での物性が安定し、耐久
性、耐候性が向上するとともに製造が容易になる。ま
た、従来の有機EL素子やLEDと同等かそれ以上の輝
度が得られ、しかも、耐熱性、耐候性が高いので従来の
ものよりも寿命が長く、リークやダークスポットの発生
もない。また、比較的高価な有機物質ではなく、安価で
入手しやすい無機材料を用いているので、製造が容易と
なり、製造コストを低減することができる。
【0025】無機絶縁性電子注入輸送層は、陰電極から
の電子の注入を容易にする機能、電子を安定に輸送する
機能およびホールを妨げる機能を有するものである。こ
の層は、発光層に注入されるホールや電子を増大・閉じ
こめさせ、再結合領域を最適化させ、発光効率を改善す
る。
【0026】すなわち、無機絶縁性電子注入輸送層を、
上記主成分等により構成することにより、特別に電子注
入機能を有する電極を形成する必要がなく、比較的安定
性が高く、導電率の良好な金属電極を用いることができ
る。そして、無機絶縁性電子注入輸送層の電子注入輸送
効率が向上すると共に、素子の寿命が延びることにな
る。
【0027】無機絶縁性電子注入輸送層は、主成分とし
て酸化リチウム(Li2O)、酸化ルビジウム(Rb
2O)、酸化カリウム(K2O)、酸化ナトリウム(Na
2O)、酸化セシウム(Cs2O)、酸化ストロンチウム
(SrO)、酸化マグネシウム(MgO)、および酸化
カルシウム(CaO)の1種または2種以上を含有す
る。これらは単独で用いてもよいし、2種以上を混合し
て用いてもよく、2種以上を用いる場合の混合比は任意
である。また、これらのなかでは酸化ストロンチウムが
最も好ましく、次いで酸化マグネシウム、酸化カルシウ
ム、さらに酸化リチウム(Li2O)の順で好ましく、
次いで酸化ルビジウム(Rb2O)、次いで酸化カリウ
ム(K2O)、および酸化ナトリウム(Na2O)が好ま
しい。これらを混合して用いる場合には、これらのなか
で酸化ストロンチウムが40 mol%以上、または酸化リ
チウムと酸化ルビジウムの総計が40 mol%以上、特に
50 mol%以上含有されていることが好ましい。
【0028】無機絶縁性電子注入輸送層は、好ましくは
安定剤として酸化シリコン(SiO 2)、および/また
は酸化ゲルマニウム(GeO2)を含有する。これらは
いずれか一方を用いてもよいし、両者を混合して用いて
もよく、その際の混合比は任意である。
【0029】上記の各酸化物は、通常、化学量論的組成
(stoichiometric composition)となっているが、これ
から多少偏倚し、非化学量論的組成(non-stoichiometr
y)となっていてもよい。
【0030】また、本発明の無機絶縁性電子注入輸送層
は、好ましくは上記各構成成分が全成分に対して、Sr
O、MgO、CaO、Li2O、Rb2O、K2O、Na2
O、Cs2O、SiO2、GeO2に換算して、 主成分:80〜99 mol%、より好ましくは90〜95
mol%、 安定剤: 1〜20 mol%、より好ましくは 5〜10
mol%、 含有する。
【0031】無機絶縁性電子注入輸送層の膜厚として
は、好ましくは0.1〜2nm、より好ましくは0.3〜
0.8nmである。電子注入層がこれより薄くても厚くて
も、電子注入層としての機能を十分に発揮できなくなく
なってくる。
【0032】無機絶縁性電子注入輸送層には、他に、不
純物として、Hやスパッタガスに用いるNe、Ar、K
r、Xe等を合計5at%以下含有していてもよい。
【0033】なお、無機絶縁性電子注入輸送層全体の平
均値としてこのような組成であれば、均一でなくてもよ
く、膜厚方向に濃度勾配を有する構造としてもよい。
【0034】無機絶縁性電子注入輸送層は、通常、非晶
質状態である。
【0035】上記の無機絶縁性電子注入輸送層の製造方
法としては、スパッタ法、蒸着法などの各種の物理的ま
たは化学的な薄膜形成方法などが考えられるが、スパッ
タ法が好ましい。なかでも、上記第1成分と第2成分の
ターゲットを別個にスパッタする多元スパッタが好まし
い。多元スパッタにすることで、それぞれのターゲット
に好適なスパッタ法を用いることができる。また、1元
スパッタとする場合には、第1成分と第2成分の混合タ
ーゲットを用いてもよい。
【0036】無機絶縁性電子注入輸送層をスパッタ法で
形成する場合、スパッタ時のスパッタガスの圧力は、
0.1〜1Paの範囲が好ましい。スパッタガスは、通常
のスパッタ装置に使用される不活性ガス、例えばAr,
Ne,Xe,Kr等が使用できる。また、必要によりN
2 を用いてもよい。スパッタ時の雰囲気としては、上記
スパッタガスに加えO2 を1〜99%程度混合して反応
性スパッタを行ってもよい。
【0037】スパッタ法としてはRF電源を用いた高周
波スパッタ法や、DCスパッタ法等が使用できる。スパ
ッタ装置の電力としては、好ましくはRFスパッタで
0.1〜10W/cm2 の範囲が好ましく、成膜レートは
0.5〜10nm/min 、特に1〜5nm/min の範囲が好
ましい。
【0038】成膜時の基板温度としては、室温(25
℃)〜150℃程度である。
【0039】本発明の発光ダイオードは、上記発光層と
陽電極との間に、無機絶縁性ホール注入輸送層を有す
る。この無機絶縁性ホール注入輸送層は、シリコンおよ
び/またはゲルマニウムの酸化物を主成分とする。
【0040】また、好ましくは、主成分の平均組成、よ
り好ましくはラザフォード後方散乱により得られる主成
分の平均組成を、(Si1-xGex)Oyと表したとき 0≦x≦1 1.7≦y≦1.99 である。
【0041】このように、無機絶縁性ホール注入輸送層
の主成分である酸化物を上記組成範囲とすることによ
り、陽電極から発光層側へ効率よくホールを注入するこ
とができる。しかも、発光層から陽電極への電子の移動
を抑制することができ、発光層でのホールと電子との再
結合を効率よく行わせることができる。また、ホール注
入輸送を目的としているため、逆バイアスをかけると発
光しない。特に、時分割駆動方式など、高い発光輝度が
要求されるディスプレイに効果的に応用できる。
【0042】本発明の発光ダイオードは、従来の有機E
L素子やLEDと同等の輝度が得られ、しかも、耐熱
性、耐候性が高いので従来のものよりも寿命が長く、リ
ークやダークスポットの発生もない。また、比較的高価
な有機物質ではなく、安価で入手しやすい無機材料を用
いているので、製造が容易となり、製造コストを低減す
ることができる。
【0043】酸素の含有量を表すyは、上記組成範囲と
なっていればよく、1.7以上であって1.99以下で
ある。yがこれより大きくても、yがこれより小さくて
もホール注入能が低下し、輝度が低下してくる。また、
好ましくは、好ましくは1.85以上であって1.98
以下である。
【0044】無機絶縁性ホール注入輸送層は、酸化ケイ
素でも酸化ゲルマニウムでもよく、それらの混合薄膜で
もよい。これらの組成比を表すxは、0≦x≦1であ
る。また、好ましくはxは0.4以下、より好ましくは
0.3以下、特に0.2以下であることが好ましい。
【0045】あるいは、xは好ましくは0.6以上、よ
り好ましくは0.7以上、特に0.8以上であってもよ
い。
【0046】上記酸素の含有量は、ラザフォード後方散
乱により得られた膜中の平均組成であるが、これに限定
されるものではなく、これと同等な精度が得られる分析
方法であればいずれの手法を用いてもよい。
【0047】無機絶縁性ホール注入輸送層には、他に、
不純物として、スパッタガスに用いるNe、Ar、K
r、Xe等を好ましくは合計10at%以下、より好まし
くは0.01〜2wt%、特に0.05〜1.5wt%程度
含有していてもよい。これらの元素は1種でも2種以上
を含有していてもよく、これらを2種以上用いる場合の
混合比は任意である。
【0048】これらの元素はスパッタガスとして使用さ
れ、無機絶縁性ホール注入輸送層成膜時に混入する。こ
れらの元素の含有量が多くなるとトラップ効果が極端に
低下し、所望の性能が得られない。
【0049】スパッタガスの含有量は、成膜時の圧力
と、スパッタガスと酸素の流量比、成膜レート等によ
り、特に成膜時の圧力で決められる。スパッタガスの含
有量を上記範囲とするためには、高真空側で成膜した方
が好ましく、具体的には、1Pa以下、特に0.1〜1Pa
の範囲が好ましい。
【0050】なお、無機絶縁性ホール注入輸送層全体の
平均値としてこのような組成であれば、均一でなくても
よく、膜厚方向に濃度勾配を有する構造としてもよい。
この場合は、有機層(発光層)界面側が酸素プアである
ことが好ましい。
【0051】無機絶縁性ホール注入輸送層は、通常、非
晶質状態である。
【0052】無機絶縁性ホール注入輸送層の膜厚として
は、特に制限はないが、好ましくは0.05〜10nm、
より好ましくは0.1〜5nm、特に1〜5nm、あるいは
0.5〜3nm程度である。無機絶縁性ホール注入輸送層
がこれより薄くても厚くても、ホール注入を十分には行
えなくなってくる。
【0053】上記の無機絶縁性ホール注入輸送層の製造
方法としては、スパッタ法、EB蒸着法などの各種の物
理的または化学的な薄膜形成方法などが可能であるが、
スパッタ法が好ましい。
【0054】無機絶縁性ホール注入層をスパッタ法で形
成する場合、スパッタ時のスパッタガスの圧力は、0.
1〜1Paの範囲が好ましい。スパッタガスは、通常のス
パッタ装置に使用される不活性ガス、例えばAr,N
e,Xe,Kr等が使用できる。また、必要によりN2
を用いてもよい。スパッタ時の雰囲気としては、上記ス
パッタガスに加えO2 を1〜99%程度混合して反応性
スパッタを行ってもよい。ターゲットとしては上記酸化
物を用い、1元または多元スパッタとすればよい。
【0055】スパッタ法としてはRF電源を用いた高周
波スパッタ法や、DC反応性スパッタ法等が使用できる
が、特にRFスパッタが好ましい。スパッタ装置の電力
としては、好ましくはRFスパッタで0.1〜10W/
cm2 の範囲が好ましく、成膜レートは0.5〜10nm/
min 、特に1〜5nm/min の範囲が好ましい。成膜時の
基板温度としては、室温(25℃)〜150℃程度であ
る。
【0056】また、反応性スパッタを行ってもよく、反
応性ガスとしては、窒素を混入する場合、N2 、N
3 、NO、NO2 、N2 O等が挙げられ、炭素を混入
する場合、CH4 、C22 、CO等が挙げられる。こ
れらの反応性ガスは単独で用いても、2種以上を混合し
て用いてもよい。
【0057】本発明の発光ダイオード素子は、無機のホ
ール注入輸送層を設けることにより、耐熱性、耐候性が
向上し、素子の長寿命化を図れる。また、比較的高価な
有機物質ではなく、安価で入手しやすい無機材料を用い
ているので、製造が容易となり、製造コストを低減する
ことができる。さらには、無機材料である電極との接続
性も良好になる。このため、リーク電流の発生やダーク
スポットの発生を抑えることができる。
【0058】発光層は、通常のEL素子と同様の材料に
より形成することができる。
【0059】好ましい発光層の材料としては、例えば、
月刊ディスプレイ ’98 4月号最近のディスプレイ
の技術動向 田中省作 p1〜10に記載されているような
材料を挙げることができる。具体的には、赤色発光を得
る材料として、ZnS、Mn/CdSSe等、緑色発光
を得る材料として、ZnS:TbOF、ZnS:Tb、
ZnS:Tb等、青色発光を得るための材料として、S
rS:Ce、(SrS:Ce/ZnS)n、CaCa2
4:Ce、Sr2Ga25:Ce等を挙げることができ
る。
【0060】また、白色発光を得るものとして、Sr
S:Ce/ZnS:Mn等が知られている。
【0061】これらのなかでも、上記IDW(Internati
onal Display Workshop)’97 X.Wu"Multicolor Thin-Fi
lm Ceramic Hybrid EL Displays" p593 to 596 で検討
されている、SrS:Ceの青色発光層を用いることに
より特に好ましい結果を得ることができる。
【0062】発光層の膜厚としては、特に制限されるも
のではないが、厚すぎると駆動電圧が上昇し、薄すぎる
と発光効率が低下する。具体的には、蛍光材料にもよる
が、好ましくは100〜1000nm、特に150〜50
0nm程度である。
【0063】発光層の形成方法は、気相堆積法を用いる
ことができる。気相堆積法としては、スパッタ法や蒸着
法等の物理的気相堆積法や、CVD法等の化学的気相堆
積法を挙げることができる。これらのなかでもCVD法
等の化学的気相堆積法が好ましい。
【0064】また、特に上記IDWに記載されているよ
うに、SrS:Ceの発光層を形成する場合には、H2
S雰囲気下、エレクトロンビーム蒸着法により形成する
と、高純度の発光層を得ることができる。
【0065】発光層の形成後、好ましくは加熱処理を行
う。加熱処理は、基板側から電極層(陽電極/陰電
極)、発光層と積層した後に行ってもよいし、基板側か
ら電極層、発光層、電極層を形成した後にキャップアニ
ールしてもよい。通常、キャップアニール法を用いるこ
とが好ましい。熱処理の温度は、好ましくは600〜基
板の焼結温度、より好ましくは600〜1300℃、特
に800〜1200℃程度、処理時間は10 〜600
分、特に30〜180分程度である。アニール処理時の
雰囲気としては、N2 、Ar、HeまたはN2 中にO2
が0.1%以下の雰囲気が好ましい。
【0066】本発明の発光ダイオードは、上記発光層
と、ホール注入層との間に、無機ホール注入輸送層とし
て高抵抗の無機ホール注入輸送層を有してもよい。
【0067】このように、ホールの導通パスを有し、電
子をブロックできる高抵抗の無機ホール注入輸送層を無
機発光層と陽電極(ホール注入電極)との間に配置する
ことで、無機発光層へホールを効率よく注入することが
でき、発光効率が向上するとともに駆動電圧が低下す
る。
【0068】また、好ましくは高抵抗の無機ホール注入
輸送層の主成分としてシリコンや、ゲルマニウム等の金
属または半金属の酸化物を用い、これに仕事関数4.5
eV以上、好ましくは4.5〜6eVの金属や、半金属およ
び/またはこれらの酸化物、炭化物、窒化物、ケイ化
物、硼化物のいずれか1種以上を含有させて導電パスを
形成することにより、ホール注入電極から無機発光層側
へ効率よくホールを注入することができる。しかも、無
機発光層からホール注入電極側への電子の移動を抑制す
ることができ、無機発光層でのホールと電子との再結合
を効率よく行わせることができる。
【0069】高抵抗の無機ホール注入輸送層は、その抵
抗率が好ましくは1〜1×1011Ω・cm、特に1×10
3〜1×108Ω・cmである。高抵抗の無機ホール注入輸
送層の抵抗率を上記範囲とすることにより、高い電子ブ
ロック性を維持したままホール注入効率を飛躍的に向上
させることができる。高抵抗の無機ホール注入輸送層の
抵抗率は、シート抵抗と膜厚からも求めることができ
る。この場合、シート抵抗は4端子法等により測定する
ことができる。
【0070】主成分の材料は、シリコン、ゲルマニウム
の酸化物であり、好ましくは(Si1-xGex)Oyにお
いて 0≦x≦1、 1.7≦y≦2.2、好ましくは1.7≦y≦1.99 である。高抵抗の無機ホール注入輸送層の主成分は、酸
化ケイ素でも酸化ゲルマニウムでもよく、それらの混合
薄膜でもよい。yがこれより大きくても小さくてもホー
ル注入機能は低下してくる傾向がある。組成は、例えば
ラザフォード後方散乱、化学分析等で調べればよい。
【0071】高抵抗の無機ホール注入輸送層は、さらに
主成分に加え、仕事関数4.5eV以上の金属(半金属を
含む)の酸化物、炭化物、窒化物、ケイ化物および硼化
物を含有することが好ましい。仕事関数4.5eV以上、
好ましくは4.5〜6eVの金属は、好ましくはAu,C
u、Fe、Ni、Ru、Sn,Cr,Ir,Nb,P
t,W,Mo,Ta,PdおよびCoのいずれか1種ま
た2種以上である。これらは一般に金属としてあるいは
酸化物の形で存在する。また、これらの炭化物、窒化
物、ケイ化物、硼化物であってもよい。これらを混合し
て用いる場合の混合比は任意である。これらの含有量は
好ましくは0.2〜40 mol%、より好ましくは1〜2
0 mol%である。含有量がこれより少ないとホール注入
機能が低下し、含有量がこれを超えると電子ブロック機
能が低下してくる。2種以上を併用する場合、合計の含
有量は上記の範囲にすることが好ましい。
【0072】上記金属または金属(半金属を含む)の酸
化物、炭化物、窒化物、ケイ化物および硼化物は、通
常、高抵抗の無機ホール注入輸送層中に分散している。
分散粒子の粒径としては、通常、1〜5nm程度である。
この導体である分散粒子同士との間で高抵抗の主成分を
介してホールを搬送するためのホッピングパスが形成さ
れるものと考えられる。
【0073】高抵抗の無機ホール注入輸送層には、他
に、不純物として、Hやスパッタガスに用いるNe、A
r、Kr、Xe等を合計5at%以下含有していてもよ
い。
【0074】なお、高抵抗の無機ホール注入輸送層全体
の平均値としてこのような組成であれば、均一でなくて
もよく、膜厚方向に濃度勾配を有する構造としてもよ
い。
【0075】高抵抗の無機ホール注入輸送層は、通常、
非晶質状態である。
【0076】高抵抗の無機ホール注入輸送層の膜厚とし
ては、好ましくは0.2〜100nm、より好ましくは
0.2〜30nm、特に0.2〜10nm程度が好ましい。
高抵抗の無機ホール注入輸送層がこれより薄くても厚く
ても、ホール注入輸送層としての機能を十分に発揮でき
なくなくなってくる。
【0077】上記の高抵抗の無機ホール注入輸送層の製
造方法としては、スパッタ法、蒸着法などの各種の物理
的または化学的な薄膜形成方法などが考えられるが、ス
パッタ法が好ましい。なかでも、上記主成分と金属また
は金属酸化物等のターゲットを別個にスパッタする多元
スパッタが好ましい。多元スパッタにすることで、それ
ぞれのターゲットに好適なスパッタ法を用いることがで
きる。また、1元スパッタとする場合には、主成分のタ
ーゲット上に上記金属または金属酸化物等の小片を配置
し、両者の面積比を適当に調整することにより、組成を
調整してもよい。
【0078】高抵抗の無機ホール注入輸送層をスパッタ
法で形成する場合、成膜条件等は上記高抵抗の無機電子
注入輸送層の場合と同様である。
【0079】本発明の発光ダイオードは、例えば図1に
示すように、基板1/ホール注入電極2/無機ホール注
入輸送層3/発光層4/無機絶縁性電子注入輸送層5/
陰電極(電子注入電極)6とが順次積層された構成する
ことができる。また、上記の積層順を逆にした、いわゆ
る逆積層構成としてもよい。これらは、たとえば、ディ
スプレーの仕様や作製プロセス等により、好適な態様を
適宜選択すればよい。
【0080】また、上記発明の素子は、膜厚方向に多段
に重ねてもよい。このような素子構造により、発光色の
色調調整や多色化を行うこともできる。
【0081】さらに、素子の有機層や電極の劣化を防ぐ
ために、素子を封止板等により封止することが好まし
い。封止板は、湿気の浸入を防ぐために、接着性樹脂層
を用いて、封止板を接着し密封する。封止ガスは、A
r、He、N2 等の不活性ガス等が好ましい。また、こ
の封止ガスの水分含有量は、100ppm 以下、より好ま
しくは10ppm 以下、特には1ppm 以下であることが好
ましい。この水分含有量に下限値は特にないが、通常
0.1ppm 程度である。
【0082】封止板の材料としては、好ましくは平板状
であって、ガラスや石英、樹脂等の透明ないし半透明材
料が挙げられるが、特にガラスが好ましい。このような
ガラス材として、コストの面からアルカリガラスが好ま
しいが、この他、ソーダ石灰ガラス、鉛アルカリガラ
ス、ホウケイ酸ガラス、アルミノケイ酸ガラス、シリカ
ガラス等のガラス組成のものも好ましい。特に、ソーダ
ガラスで、表面処理の無いガラス材が安価に使用でき、
好ましい。封止板としては、ガラス板以外にも、金属
板、プラスチック板等を用いることもできる。
【0083】封止板は、スペーサーを用いて高さを調整
し、所望の高さに保持してもよい。なお、封止板に凹部
を形成した場合には、スペーサーは使用しても、使用し
なくてもよい。使用する場合の好ましい大きさとして
は、前記範囲でよいが、特に2〜8μm の範囲が好まし
い。
【0084】スペーサーは、予め封止用接着剤中に混入
されていても、接着時に混入してもよい。封止用接着剤
中におけるスペーサーの含有量は、好ましくは0.01
〜30wt%、より好ましくは0.1〜5wt%である。
【0085】接着剤としては、安定した接着強度が保
て、気密性が良好なものであれば特に限定されるもので
はないが、カチオン硬化タイプの紫外線硬化型エポキシ
樹脂接着剤を用いることが好ましい。
【0086】本発明において、発光ダイオードを形成す
る基板としては、非晶質基板たとえばガラス、石英な
ど、結晶基板たとえば、Si、GaAs、ZnSe、Z
nS、GaP、InPなどがあげられ、またこれらの結
晶基板に結晶質、非晶質あるいは金属のバッファ層を形
成した基板も用いることができる。また金属基板として
は、Mo、Al、Pt、Ir、Au、Pdなどを用いる
ことができ、好ましくはガラス基板が用いられる。基板
は、光取り出し側となる場合、上記電極と同様な光透過
性を有することが好ましい。
【0087】さらに、本発明素子を、平面上に多数並べ
てもよい。平面上に並べられたそれぞれの素子の発光色
を変えて、カラーのディスプレーにすることができる。
【0088】基板に色フィルター膜や蛍光性物質を含む
色変換膜、あるいは誘電体反射膜を用いて発光色をコン
トロールしてもよい。
【0089】本発明の発光ダイオードは、通常、直流駆
動型、パルス駆動型のEL素子として用いられるが、交
流駆動とすることもできる。印加電圧は、通常、2〜3
0V程度とされる。
【0090】本発明の発光ダイオードは、ディスプレイ
としての応用の他、例えばメモり読み出し/書き込み等
に利用される光ピックアップ、光通信の伝送路中におけ
る中継装置、フォトカプラ等、種々の光応用デバイスに
用いることができる。
【0091】
【実施例】<実施例1>ガラス基板としてコーニング社
製商品名7059基板を中性洗剤を用いてスクラブ洗浄
した。
【0092】この基板上にITO酸化物ターゲットを用
いRFマグネトロンスパッタリング法により、基板温度
250℃で、膜厚200nmのITOホール注入電極層を
形成した。
【0093】ITO電極層等が形成された基板の表面を
UV/O3 洗浄した後、スパッタ装置の基板ホルダーに
固定して、槽内を1×10-4Pa以下まで減圧した。
【0094】次いで、ターゲットにSiO2 を用い、無
機絶縁性ホール注入輸送層を2nmの膜厚に成膜した。こ
のときのスパッタガスはArに対しO2 を5%混入して
用いた、基板温度25℃、成膜レート1nm/min 、動作
圧力0.5Pa、投入電力5W/cm2 とした。成膜したホ
ール注入層の組成は、SiO1.9 であった。
【0095】次ぎに、真空状態を破らずスパッタ装置か
ら蒸着装置に移し、ZnSとMnの共蒸着法によりZn
S:Mnを0.3μmの厚さに真空蒸着した。特性の改
善のためにAr中で650〜750℃に加熱し、2時間
のアニールを行った。
【0096】さらに、減圧を保ったまま、スパッタ装置
に移し、原料として酸化ストロンチウム(SrO)、酸
化リチウム(Li2O)、酸化シリコン(SiO2
を、全成分に対しそれぞれ、 SrO:80 mol% Li2O:10 mol% SiO2 :10 mol% となるように混合したターゲットを用い、無機絶縁性電
子注入輸送層を0.8nmの膜厚に成膜した。このときの
成膜条件として、基板温度25℃、スパッタガスAr、
成膜レート1nm/min 、動作圧力0.5Pa、投入電力5
W/cm2 とした。このとき、初めにスパッタガスをA
r:100%として100SCCM供給しながら無機絶縁性
電子注入輸送層を0.4nmの膜厚に成膜し、続けてAr
/O2 :1/1として100SCCM供給しながら無機絶縁
性電子注入輸送層を0.4nmの膜厚に成膜した。
【0097】さらに、減圧を保ったまま、Alを200
nmの厚さに蒸着して陰電極とし、最後にガラス封止して
発光ダイオード素子を得た。
【0098】得られた発光ダイオードを空気中で、10
mA/cm2 の定電流密度で駆動したところ、駆動電圧10
V 、初期輝度は500cd/m2 であった。
【0099】<実施例2>実施例1において、無機絶縁
性電子注入輸送層の主成分、安定剤を、それぞれ、Sr
OからMgO、CaO、またはこれらの混合酸化物に、
Li2OからK2O、Rb2O、K2O、Na2O、Cs
2O、またはこれらの混合酸化物に、SiO2からGeO
2 、またはSiO2 とGeO2 の混合酸化物に代えたと
ころほぼ同様な結果が得られた。
【0100】<実施例3>実施例1において、無機絶縁
性ホール注入輸送層を成膜する際に、ターゲットの組成
をSiO2 とし、スパッタガスのO2 流量を変えてAr
に対する混合比を5%とし、その組成をSiO1.9 とし
た他は実施例1と同様にして発光ダイオードを作製し、
ターゲットの組成をSiO2 とし、スパッタガスのO2
流量を変えてArに対する混合比を30%とし、その組
成をSiO1.95とした他は実施例1と同様にして発光ダ
イオードを作製し、ターゲットの組成をGeO2 とし、
スパッタガスのO2 流量を変えてArに対する混合比を
30%とし、その組成をGeO1.96とした他は実施例1
と同様にして有機EL素子を作製し、ターゲットの組成
をSi0.5Ge0.52 とし、スパッタガスのO2 流量を
変えてArに対する混合比を10%とし、その組成をS
0.5Ge0.51.92とした他は実施例1と同様にして発
光ダイオードを作製し、評価した。
【0101】その結果、いずれの発光ダイオード素子も
実施例1とほぼ同様の結果が得られることが確認でき
た。
【0102】<実施例4>実施例1において、無機絶縁
性ホール注入輸送層を成膜する際に、これに換えて、タ
ーゲットにSiO2と、この上に所定の大きさのAuの
ペレットを配置して用い、高抵抗の無機ホール注入輸送
層を2nmの膜厚に成膜した。このときのスパッタガスは
Ar:30sccm、O2:5sccmで、室温(25℃)下、
成膜レート1nm/min 、動作圧力0.2〜2Pa、投入電
力500Wとした。成膜した高抵抗の無機ホール注入輸
送層の組成は、SiO1.9にAuを4 mol%含有するも
のであった。
【0103】得られた有機EL素子を空気中で、10mA
/cm2 の定電流密度で駆動したところ、駆動電圧10V
、初期輝度は500cd/m2 であった。また、4端子法
により高抵抗の無機ホール注入輸送層のシート抵抗を測
定したところ、膜厚100nmでのシート抵抗は3 kΩ/
cm2 であり、抵抗率に換算すると3×108Ω・cmであ
った。
【0104】<実施例5>実施例4において、高抵抗の
無機ホール注入輸送層を成膜する際、ターゲットにGe
2と、このターゲット上に所定の大きさのAuのペレ
ットを配置し、高抵抗の無機ホール注入輸送層を20nm
の膜厚に成膜した。このときのスパッタガスはAr:3
0sccm、O2:5sccmで、室温(25℃)下、成膜レー
ト1nm/min、動作圧力0.2〜2Pa、投入電力500
Wとした。成膜した無機ホール注入輸送層の組成は、G
eO2にAuを2 mol%含有するものであった。
【0105】その他は実施例1と同様にして発光ダイオ
ードを得た。得られた発光ダイオードを実施例1と同様
にして評価したところ、実施例1とほぼ同様の結果が得
られた。
【0106】<実施例6>実施例4において、高抵抗の
無機ホール注入輸送層を成膜する際にスパッタガスのO
2流量、および膜組成によりターゲットを変えてその主
成分の組成をSiO1.7、SiO1.95、GeO1.96、S
0.5Ge0.51.92とした他は実施例1と同様にして有
機EL素子を作製し、発光輝度を評価したところほぼ同
等の結果が得られた。
【0107】<実施例7>実施例4において、高抵抗の
無機ホール注入輸送層の金属を、AuからCu、Fe、
Ni、Ru、Sn,Cr,Ir,Nb,Pt,W,M
o,Ta,PdおよびCoのいずれか1種以上、または
これらの酸化物、炭化物、窒化物、ケイ化物、硼化物に
代えても同等の結果が得られた。
【0108】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、比較的容
易に大面積の表示装置を構成することができ、薄型、長
寿命、低コストで、フルカラーのディスプレイにも対応
可能な発光ダイオードを実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の発光ダイオードの基本構成を示す概略
断面図である。
【符号の説明】
1 基板 2 陽電極 3 無機ホール注入層 4 発光層 5 高抵抗の電子注入輸送層 6 陰電極

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 陽電極と陰電極と、これらの電極間に少
    なくともエレクトロルミネッセンスを生じる無機発光層
    を有し、 前記無機発光層と陰電極の間には、主成分として酸化ス
    トロンチウム、酸化マグネシウム、酸化カルシウム、酸
    化リチウム、酸化ルビジウム、酸化カリウム、酸化ナト
    リウム、および酸化セシウムから選択される1種または
    2種以上の酸化物を含有する無機絶縁性電子注入輸送層
    を有し、 前記無機発光層と陽電極との間には無機ホール注入輸送
    層を有し、 この無機ホール注入輸送層は、シリコンおよび/または
    ゲルマニウムの酸化物を主成分とする無機絶縁性ホール
    注入輸送層である発光ダイオード。
  2. 【請求項2】前記主成分の平均組成を、(Si1-x
    x)Oyと表したとき 0≦x≦1 1.7≦y≦1.99 である請求項1の発光ダイオード。
  3. 【請求項3】 前記無機絶縁性電子注入輸送層は、さら
    に安定剤として酸化シリコン(SiO2)、および/ま
    たは酸化ゲルマニウム(GeO2)を含有する請求項1
    または2の発光ダイオード。
  4. 【請求項4】 前記無機絶縁性電子注入輸送層は、各構
    成成分が全成分に対して、 主成分:80〜99 mol%、 安定剤: 1〜20 mol% 含有する請求項1〜3のいずれかの発光ダイオード。
  5. 【請求項5】 前記無機絶縁性電子注入輸送層の膜厚
    は、0.1〜2nmである請求項1〜4のいずれかの発光
    ダイオード。
  6. 【請求項6】 前記無機絶縁性ホール注入輸送層の膜厚
    は、0.1〜3nmである請求項1〜5のいずれかの発光
    ダイオード。
  7. 【請求項7】 前記無機ホール注入輸送層は高抵抗の無
    機ホール注入輸送層であって、抵抗率が1〜1×1011
    Ω・cmである請求項1の発光ダイオード。
  8. 【請求項8】 前記高抵抗の無機ホール注入輸送層は、
    金属および/または金属の酸化物、炭化物、窒化物、ケ
    イ化物および硼化物のいずれか1種以上を含有する請求
    項7の発光ダイオード。
  9. 【請求項9】 前記高抵抗の無機ホール注入輸送層は、
    シリコンおよび/またはゲルマニウムの酸化物を主成分
    とし、この主成分を(Si1-xGex)Oyと表したと
    き、 0≦x≦1、 1.7≦y≦2.2 であり、 さらに、仕事関数4.5eV以上の金属および/または金
    属の酸化物、炭化物、窒化物、ケイ化物および硼化物の
    いずれか1種以上を含有する請求項7または8のいずれ
    かの発光ダイオード。
  10. 【請求項10】 前記金属は、Au,Cu、Fe、N
    i、Ru、Sn,Cr,Ir,Nb,Pt,W,Mo,
    Ta,PdおよびCoのいずれか1種以上である請求項
    9の発光ダイオード。
  11. 【請求項11】 前記金属および/または金属の酸化
    物、炭化物、窒化物、ケイ化物および硼化物の含有量
    は、0.2〜40 mol%である請求項9または10の発
    光ダイオード。
  12. 【請求項12】 前記高抵抗の無機ホール注入輸送層の
    膜厚は、0.2〜100nmである請求項9〜11のいず
    れかの発光ダイオード。
  13. 【請求項13】 前記無機発光層は、少なくとも硫化ス
    トロンチウムとセシウムとを含有する請求項1〜12の
    いずれかの発光ダイオード。
JP11148796A 1999-05-27 1999-05-27 発光ダイオード Withdrawn JP2000340366A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11148796A JP2000340366A (ja) 1999-05-27 1999-05-27 発光ダイオード
EP99926815A EP1115270A1 (en) 1999-05-27 1999-06-25 Light-emitting diode
US09/339,879 US6111274A (en) 1999-05-27 1999-06-25 Inorganic light emitting diode
PCT/JP1999/003397 WO2000074443A1 (en) 1999-05-27 1999-06-25 Light-emitting diode

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11148796A JP2000340366A (ja) 1999-05-27 1999-05-27 発光ダイオード

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000340366A true JP2000340366A (ja) 2000-12-08

Family

ID=15460906

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11148796A Withdrawn JP2000340366A (ja) 1999-05-27 1999-05-27 発光ダイオード

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6111274A (ja)
EP (1) EP1115270A1 (ja)
JP (1) JP2000340366A (ja)
WO (1) WO2000074443A1 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6707249B2 (en) 2000-08-30 2004-03-16 Hokushin Corporation Electroluminescent device and oxide phosphor for use therein
WO2005004545A1 (ja) * 2003-07-02 2005-01-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 発光素子及び表示デバイス
WO2005004546A1 (ja) * 2003-07-02 2005-01-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 電界発光素子及び表示装置
JP2008166343A (ja) * 2006-12-27 2008-07-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 線状発光装置
JP2012023388A (ja) * 2005-02-16 2012-02-02 Massachusetts Inst Of Technol <Mit> 半導体ナノクリスタルを含む発光デバイス
JP2020140946A (ja) * 2018-03-19 2020-09-03 株式会社リコー 無機el素子、表示素子、画像表示装置、及びシステム
US11374054B2 (en) 2018-03-19 2022-06-28 Ricoh Company, Ltd. Inorganic el element, display element, image display device, and system
KR20230030292A (ko) * 2021-08-25 2023-03-06 재단법인대구경북과학기술원 신축 가능한 멀티 발광체 및 이의 제조방법

Families Citing this family (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9609282D0 (en) * 1996-05-03 1996-07-10 Cambridge Display Tech Ltd Protective thin oxide layer
JP2000123976A (ja) * 1998-10-09 2000-04-28 Tdk Corp 有機el素子
JP2000164361A (ja) * 1998-11-25 2000-06-16 Tdk Corp 有機el素子
JP2000208277A (ja) * 1999-01-13 2000-07-28 Tdk Corp 有機el素子
US6198219B1 (en) * 1999-01-13 2001-03-06 Tdk Corporation Organic electroluminescent device
JP2000223272A (ja) * 1999-01-27 2000-08-11 Tdk Corp 有機el素子
JP2000223273A (ja) * 1999-01-27 2000-08-11 Tdk Corp 有機el素子
IL133453A0 (en) * 1999-12-10 2001-04-30 Shellcase Ltd Methods for producing packaged integrated circuit devices and packaged integrated circuit devices produced thereby
US6706551B2 (en) * 2001-02-07 2004-03-16 Agfa-Gevaert Thin film inorganic light emitting diode
CA2352567A1 (en) * 2001-07-06 2003-01-06 Mohamed Latreche Translucent material displaying ultra-low transport of gases and vapors, and method for its production
US7033664B2 (en) 2002-10-22 2006-04-25 Tessera Technologies Hungary Kft Methods for producing packaged integrated circuit devices and packaged integrated circuit devices produced thereby
US7291967B2 (en) * 2003-08-29 2007-11-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting element including a barrier layer and a manufacturing method thereof
US7816863B2 (en) * 2003-09-12 2010-10-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and method for manufacturing the same
US7492090B2 (en) 2003-09-19 2009-02-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and method for manufacturing the same
US7205716B2 (en) * 2003-10-20 2007-04-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device
US7902747B2 (en) 2003-10-21 2011-03-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light-emitting device having a thin insulating film made of nitrogen and silicon and an electrode made of conductive transparent oxide and silicon dioxide
US20060181197A1 (en) * 2004-07-01 2006-08-17 Kumio Nago Electroluminescent device and display
CN101027942B (zh) 2004-09-24 2010-06-16 株式会社半导体能源研究所 发光器件
JP4939809B2 (ja) 2005-01-21 2012-05-30 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
US8729795B2 (en) 2005-06-30 2014-05-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light emitting device and electronic device
KR100789559B1 (ko) * 2006-12-20 2007-12-28 삼성전자주식회사 절연층을 포함하는 무기 전계발광 소자, 그의 제조방법 및이를 포함하는 전자소자
KR20090041639A (ko) * 2007-10-24 2009-04-29 삼성전자주식회사 분산형 무기 전계발광 소자의 제조방법 및 분산형 무기전계발광 소자
US9525148B2 (en) 2008-04-03 2016-12-20 Qd Vision, Inc. Device including quantum dots
KR101995369B1 (ko) 2008-04-03 2019-07-02 삼성 리서치 아메리카 인코포레이티드 양자점들을 포함하는 발광 소자
KR101508893B1 (ko) * 2008-04-28 2015-04-07 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 정공 주입 수송층을 갖는 디바이스, 및 그 제조 방법, 및 정공 주입 수송층 형성용 잉크
WO2009133903A1 (ja) * 2008-04-28 2009-11-05 大日本印刷株式会社 正孔注入輸送層を有するデバイス、及びその製造方法、並びに正孔注入輸送層形成用インク
JP2010157493A (ja) * 2008-12-02 2010-07-15 Sony Corp 表示装置およびその製造方法
US8227962B1 (en) 2011-03-09 2012-07-24 Allen Hui Long Su LED light bulb having an LED light engine with illuminated curved surfaces
TW201248894A (en) 2011-05-16 2012-12-01 Qd Vision Inc Device including quantum dots and method for making same
CN103797600A (zh) * 2011-11-28 2014-05-14 海洋王照明科技股份有限公司 一种具有三元掺杂空穴传输层的有机电致发光器件及其制备方法
US20150028311A1 (en) * 2011-11-28 2015-01-29 Ocean's King Lighting Science & Technology Co., Lt Doped organic electroluminescent device and method for preparing same
KR102610365B1 (ko) * 2012-04-09 2023-12-05 미쯔비시 케미컬 주식회사 유기 전계 발광 소자용 조성물 및 유기 전계 발광 소자
CN103733728B (zh) * 2012-06-14 2017-03-08 株式会社日本有机雷特显示器 缺陷检测方法、有机el元件的修复方法以及有机el显示面板
US9024205B2 (en) 2012-12-03 2015-05-05 Invensas Corporation Advanced device assembly structures and methods
US8941111B2 (en) 2012-12-21 2015-01-27 Invensas Corporation Non-crystalline inorganic light emitting diode
US20170350752A1 (en) * 2016-06-01 2017-12-07 Ventsislav Metodiev Lavchiev Light emitting structures and systems on the basis of group iv material(s) for the ultraviolet and visible spectral ranges
CN112424969A (zh) 2018-05-18 2021-02-26 株式会社半导体能源研究所 发光元件、发光装置、电子设备及照明装置
KR20220063861A (ko) * 2020-11-10 2022-05-18 삼성디스플레이 주식회사 발광 소자 및 이를 포함한 전자 장치

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5873994A (ja) * 1981-10-27 1983-05-04 コニカ株式会社 エレクトロルミネツセンス装置及びその製造方法
JPS5885798U (ja) * 1981-12-07 1983-06-10 カルソニックカンセイ株式会社 エレクトロルミネツセンス素子
JPS6028519B2 (ja) * 1982-09-13 1985-07-05 松下電器産業株式会社 遠心脱水機のバランス装置
JPS6213357A (ja) * 1985-07-12 1987-01-22 Tokyo Electric Co Ltd インクジエツトプリンタ
GB9004480D0 (en) * 1989-03-15 1990-04-25 Asahi Chemical Ind High luminance thin-fim electroluminescent device
JPH03210791A (ja) * 1990-01-12 1991-09-13 Hitachi Ltd 有機薄膜el素子
JPH04363892A (ja) * 1991-03-12 1992-12-16 Nippon Sheet Glass Co Ltd 直流エレクトロルミネッセンス素子
JPH0541285A (ja) * 1991-08-07 1993-02-19 Ricoh Co Ltd 電界発光素子
JP3300069B2 (ja) * 1992-11-19 2002-07-08 パイオニア株式会社 有機エレクトロルミネッセンス素子
US5625255A (en) * 1992-12-25 1997-04-29 Fuji Xerox Co., Ltd. Inorganic thin film electroluminescence device
US5589733A (en) * 1994-02-17 1996-12-31 Kabushiki Kaisha Toyota Chuo Kenkyusho Electroluminescent element including a dielectric film of tantalum oxide and an oxide of either indium, tin, or zinc
KR960028705A (ko) * 1994-12-08 1996-07-22 이헌조 칼라 일렉트로루미네선스(el) 소자 및 그 제조방법
JP3561549B2 (ja) * 1995-04-07 2004-09-02 三洋電機株式会社 有機エレクトロルミネッセンス素子
JPH10125469A (ja) * 1996-10-24 1998-05-15 Tdk Corp 有機el発光素子
JPH10125474A (ja) * 1996-10-24 1998-05-15 Tdk Corp 有機el発光素子
JPH10162960A (ja) * 1996-11-27 1998-06-19 Tdk Corp 有機el発光素子

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6707249B2 (en) 2000-08-30 2004-03-16 Hokushin Corporation Electroluminescent device and oxide phosphor for use therein
WO2005004545A1 (ja) * 2003-07-02 2005-01-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 発光素子及び表示デバイス
WO2005004546A1 (ja) * 2003-07-02 2005-01-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 電界発光素子及び表示装置
JP2012023388A (ja) * 2005-02-16 2012-02-02 Massachusetts Inst Of Technol <Mit> 半導体ナノクリスタルを含む発光デバイス
JP2008166343A (ja) * 2006-12-27 2008-07-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 線状発光装置
JP2020140946A (ja) * 2018-03-19 2020-09-03 株式会社リコー 無機el素子、表示素子、画像表示装置、及びシステム
KR20200131886A (ko) * 2018-03-19 2020-11-24 가부시키가이샤 리코 무기 el 소자, 표시 소자, 화상 표시 장치 및 시스템
US11374054B2 (en) 2018-03-19 2022-06-28 Ricoh Company, Ltd. Inorganic el element, display element, image display device, and system
KR102590717B1 (ko) * 2018-03-19 2023-10-17 가부시키가이샤 리코 무기 el 소자, 표시 소자, 화상 표시 장치 및 시스템
KR20230030292A (ko) * 2021-08-25 2023-03-06 재단법인대구경북과학기술원 신축 가능한 멀티 발광체 및 이의 제조방법
KR102620754B1 (ko) * 2021-08-25 2024-01-04 재단법인대구경북과학기술원 신축 가능한 멀티 발광체 및 이의 제조방법

Also Published As

Publication number Publication date
EP1115270A1 (en) 2001-07-11
WO2000074443A1 (en) 2000-12-07
US6111274A (en) 2000-08-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000340366A (ja) 発光ダイオード
JP4142782B2 (ja) 有機el素子
JP2001043977A (ja) 発光ダイオード
US6281627B1 (en) Organic electroluminescent device with a high resistant inorganic electron injecting layer
JP4543446B2 (ja) 有機el素子
US6284394B1 (en) Organic electroluminescent device
WO2000005928A1 (fr) Dispositif electroluminescent organique
JP2000252074A (ja) 有機el素子
JP2000208276A (ja) 有機el素子
KR100338251B1 (ko) 유기발광전계소자
US6340537B1 (en) Organic electroluminescent device
JP2000100575A (ja) 有機el素子
WO2000056122A1 (fr) Dispositif el organique
JP2001057286A (ja) 有機el素子
US6296954B1 (en) Organic electroluminescent device
JP2000030870A (ja) 有機el素子
JP2003031360A (ja) 有機el素子およびその製造方法
JP2000268967A (ja) 有機el素子
JP2000268966A (ja) 有機el素子
JP4142779B2 (ja) 有機el素子
EP1071314A1 (en) Organic el device
JP2000223274A (ja) 有機el素子
JP2000100574A (ja) 有機el素子
JP2000200686A (ja) 有機el素子の製造方法
JP2000294377A (ja) 有機el素子

Legal Events

Date Code Title Description
RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20040601

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060214

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20081105