JP2000326948A - 半導体素子収納用トレイ - Google Patents
半導体素子収納用トレイInfo
- Publication number
- JP2000326948A JP2000326948A JP14122599A JP14122599A JP2000326948A JP 2000326948 A JP2000326948 A JP 2000326948A JP 14122599 A JP14122599 A JP 14122599A JP 14122599 A JP14122599 A JP 14122599A JP 2000326948 A JP2000326948 A JP 2000326948A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tray
- semiconductor element
- semiconductor
- support
- back side
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
- H01L21/67333—Trays for chips
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2221/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
- H01L2221/67—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L2221/683—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L2221/68304—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
- H01L2221/68309—Auxiliary support including alignment aids
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2221/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
- H01L2221/67—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L2221/683—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L2221/68304—Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
- H01L2221/68313—Auxiliary support including a cavity for storing a finished device, e.g. IC package, or a partly finished device, e.g. die, during manufacturing or mounting
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Packaging Frangible Articles (AREA)
- Stackable Containers (AREA)
- Containers Having Bodies Formed In One Piece (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
変形や「す」が生じ難く、又、半導体の表裏両側からの
測定等において好適であり、更に、扱える半導体素子の
種類が多い汎用性の高い半導体素子収納用トレイを提供
すること。 【解決手段】 フラットタイプの半導体素子5を配列し
て収納する半導体素子収納用トレイにおいて、半導体素
子を支持する支持面3aに半導体素子5の外周に係合す
る複数の柱状突起7を半導体素子を囲むように一体に形
成し、以て前記の効果を得る。
Description
トレイに関し、さらに詳しくは、導電性プラスチックス
料により射出成形される半導体素子収納用トレイに関す
る。
よる小型化が進み、ピングリッドアレイ(以下、PGA
と称する)タイプから、ボールグリッドアレイ(以下、
BGA)タイプ、さらにはランドグリッドアレイ(LG
A)タイプへと移行しつつある。
するために、専用の収納トレイ(以下、単にトレイと云
う。)が用いられている。これは半導体素子を取り扱い
上保護することはもちろん、取り扱いを容易にし、手
動、自動による装填作業においても扱い易くするために
用いられる。また、このトレイの製造においては、半導
体素子の開発スピードに追従できる迅速な対応が要求さ
れており、さらには、コストダウンに加えて、納期の短
縮が要求されている。
Aタイプなどの半導体素子を収納するトレイは、半導体
素子の形状に適したものが数多く開発提供されており、
その代表的なものが図11、図12に示されている。こ
れらの図は、トレイ全体を示すものではなく、多数配列
される半導素子の内、その1つを収容する1区画のみを
示している。図11の(a)はこの区画の平面図を、
(b)はこの(a)におけるM−N−M−N線に沿う断
面図を示し、図12の(a)は図11(a)におけるO
−P−O−P線に沿う断面図を、(b)は図11(a)
の底面図を示している。なお、このトレイに収納される
半導体素子はBGAタイプである。
て、トレイの外形に沿った枠体(図示せず)の内側に縦
横、つまり梁が格子状に形成されて支持部101及び1
02を形成している。これら支持部101、102によ
って、開口したポケット103が形成されている。各支
持部101及び102の裏側には平板状のリブ101
a、102aが垂下状態で形成されている。半導体素子
105は、該ポケット103の周縁に沿って各支持部1
01、102に形成された平面上の支持面101b、1
02b によって半導体素子105の基板部105aの外
周部を支えている。
に、前記各支持部101、102の裏側に形成されたリ
ブ101a及び102aには支持部101c、102c
が形成されており、これら支持部101c、102cの
先端部に形成された斜面及び平面からなる支持面101
d、102dも半導体素子105を支持できる。この支
持面101d及び102dは、トレイを重ねて上下反転
させたときに半導体素子を支持するもので、半導体素子
105の封止樹脂部105bの外周部を支持する。
表側、つまり前記支持面101b、102b上に載置さ
れて収納される。そして、この収納済みのトレイ上に他
のトレイが積み重ねられ、互いに係合状態におかれてス
トック、さらには、搬送等が行われる。
は、検査等の作業が前記トレイ上に載せられた状態で行
われる。この検査等の作業は、半導体素子105の表側
のみならず裏側に対しても行われる。半導体素子の表側
に対して検査等を施す場合には、前記トレイをその姿勢
を保って、つまり表側を上にしたまま作業工程に送れば
よい。一方、半導体素子の裏側に対して検査等を行う場
合には、次のようになされる。すなわち、表側を上にし
て積み重ねられているトレイ群を全て一緒に上下反転さ
せる。これにより、あるトレイ上に支持されている半導
体素子は、その下側になったトレイの裏側の支持面10
1d、102dによって支持されることとなる(図11
のb参照)。
使用することによって、半導体素子105のストック及
び搬送、並びに半導体素子105に対する各種作業を容
易になし得る。しかしながら、前述のトレイは、格子状
の支持部101及び102に加えて多種のリブを有し、
これら梁状支持部及びリブ上に半導体素子を支持するよ
うになっていて、このトレイは、鋭利な角部を持ってい
るため、成形に用いる金型は高価な放電加工等を必要と
し、コストの低減を図ることが困難であった。
たて肉厚を均一化し難く、そり、ひけを生じ易いと共
に、微細なリブでショートショット(溶融樹脂が完全に
行き渡らない現象)が発生するなどの問題があった。
行うときには半導体素子の基板部105aの外周部を支
持し、裏側の検査等を施す際には封止樹脂部105bの
外周部を支持するようになっていることから、双方の支
持状態で若干の差が生じ得る。詳しくは、半導体素子の
表及び裏を検査等するときの半導体素子の姿勢が一定せ
ず、トレイ状の半導体素子の姿勢がその表裏で異なって
しまうことがあり、トレイの反転により半導体素子を移
転させた場合、その姿勢が変わってしまう問題があっ
た。この点は、扱う半導体素子が小さいものであるほど
著しい。
を扱うことを考えた場合、前述のトレイでは、半導体素
子のボール(端子部)の配置状況によっては、このボー
ル配置部が前記ポケット103内に収まるものは扱える
が、収まらないものには使用できないこととなる。ま
た、トレイを反転させて半導体素子を支持する際には封
止樹脂部105bの外周を支えるから、この封止樹脂部
の形状によっても扱う半導体素子の種類が限られるとい
う問題がある。
なされたものであって、その目的とするところは、簡単
な構成でコストが安く、且つ、そり等の変形を防ぎ、半
導体の表裏両側からの測定等において好適であり、さら
に、扱える半導体素子の種類が多い汎用性の高い半導体
素子収納用トレイを提供することである。
に、本発明は、フラットタイプの半導体素子を配列して
収納する半導体素子収納用トレイにおいて、半導体素子
を支持する支持面に半導体素子の外周に係合する複数の
柱状突起が半導体素子を囲むように一体に形成されてい
ることを特徴とするものである。また、前記半導体素子
収納用トレイにおいて、トレイ裏側にも前記半導体素子
を支持し得る支持面が設けられ、この裏側の支持面に半
導体素子の外周に係合する複数の他の柱状突起が半導体
素子を囲み得るように一体に形成され、トレイ表側の柱
状突起と裏側の他の柱状突起とが、互いに支持面の中心
周りの角度位置が所定角度ずらされていることを特徴と
するものである。さらに、前記半導体素子収納用トレイ
において、トレイ表側の支持面を有する支持部は平板状
となされ、トレイ裏側の支持面は、該平板状支持部の裏
面に一体に突設された枠状リブの先端に形成されている
ことを特徴とするものである。さらにまた、前記半導体
素子収納用トレイにおいて、トレイ裏側の他の柱状突起
は、トレイ同士が重ねられたときにトレイ表側の柱状突
起と共に半導体素子の外周に沿って列をなして半導体素
子を囲み且つ先端部がトレイ表側の柱状突起の先端域に
達することを特徴とするものである。加えて、前記半導
体素子収納用トレイにおいて、トレイ表側及び裏側の各
柱状突起は円錐状であり、先端部が球面状、あるいは、
断面形状が台形状に形成されていることを特徴とするも
のである。さらに加えて、前記半導体素子収納用トレイ
において、トレイ裏側の前記枠状リブ間に板状リブが一
体に設けられていることを特徴とするものである。そし
て、前記半導体素子収納用トレイにおいて、前記平板状
支持部の支持面以外の部位に、肉抜きが施されているこ
とを特徴とするものである。
各柱状突起が半導体素子を囲むようにして位置し、支持
面上に半導体素子を位置決めする。また、トレイ裏側の
支持面は表側の柱状突起に対して支持面中心周りの角度
位置を例えば90°回転させた状態で設け、トレイを重
ね合わせた状態で表裏の柱状突起が互いに干渉せずに隣
合った状態となり、半導体素子の表及び裏を検査等する
ときの半導体素子の姿勢が一定し、表裏の両面の検査を
支障なく行うことができる。さらに、具体的には、トレ
イ表側の支持面を有する支持部を平板状とし、この平板
状支持部の裏面に枠状リブを一体に突設し、この枠状リ
ブの先端にトレイ裏側の支持面を形成した構成を採用す
ることにより、トレイは実質的にこの平板状支持部、枠
状リブ、前記柱状突起により構成され、構造が簡単であ
る。さらにまた、前述のトレイ裏側の他の柱状突起は、
トレイ同士が重ねられたときにトレイ表側の柱状突起と
共に半導体素子の外周に沿って列をなして半導体素子を
囲み、且つ先端部がトレイ表側の柱状突起の先端域に達
することから、半導体素子の裏側の検査等を行う際、重
ねられたトレイを上下反転させて半導体素子を新たに下
側となるトレイに移すときに、半導体素子がズレを生ず
ることなくそのまま移行する。さらに、トレイ表側及び
裏側の各柱状突起は円錐状であり、先端部が球面状に形
成され、あるいは、先端部が平坦な円錐台形に形成され
ているから、トレイ上に半導体素子を載置する際に半導
体素子が所定位置に円滑に案内される。この柱状突起の
平面視上の形状は3角形または星形などを選択すること
ができる。加えて、トレイ裏側の前記枠状リブ間に設け
た板状リブが補強となり、トレイ全体の剛性が高まって
いる。さらに加えて、前記平板状支持部の支持面以外の
部位に、肉抜きが施されているから、トレイの軽量化が
達成され、搬送する際など、取り扱いが容易となる。
納用トレイの実施形態を添付した図面を参照して説明す
る。
々、本発明に係る半導体素子収納用トレイ(以下、単に
トレイと略称する)1の平面図、左側面図及び正面図で
あり、図2は底面図である。このトレイ1は、導電性プ
ラスチックを素材として射出成形によって得られ、全体
として矩形板状に形成されている。詳しくは、トレイ1
は全体としての外形をした枠体2と、この枠体2の内側
全域にわたる平板状の支持部3とを有している。この支
持部3の全面上がトレイ1の長手方向で30、短手方向
で12に略均等の寸法で区画されており、1区画に1個
の半導体素子を支持でき、合計で366個の半導体素子
を配列して収納することができる。これら各区画におけ
る半導体素子の支持状態はほぼ同様であるので、以下、
数個の区画に関して詳しく説明する。具体的には、トレ
イ1の一つの角部の4区画について説明する。なお、支
持する半導体素子の数は半導体素子の数、大きさなどで
決められる。
に行う。図3は、図1における部分A−1の拡大図で、
説明しようとする4区画を示すものである。また、図4
及び図5は、図3における夫々、B−B断面及びC−C
断面を示すものである。なお、図2における部分A−2
は、この部分A−1の背面部分を示す。更に、図1及び
図3における部分D−1の拡大図を図6に示し、図2に
おける部分D−2の拡大図を図7に示す。この図6に示
すD−1部分と図7に示すD−2部分とは、互いに同じ
1区画についての平面図及び背面図となっている。ま
た、図8及び図9は各々、図6及び図7に関するE−E
断面及びF−F断面を示し、図10は、図8における部
分Gの拡大図である。
られる半導体素子5は、BGAタイプのものであり、外
形はほぼ正方形をしている。LGAタイプの半導体素子
を収容支持することもある。
3の1区画の支持面3a上に、1個の半導体素子5が載
置される。但し、このBGAタイプの半導体素子5は、
そのボール(端子部)を下側にして支持部3上に置かれ
る。つまり、支持部3は、半導体素子5の下面全面を支
持している。支持部3には、1個の半導体素子5毎に、
その外周に係合する複数、本実施形態の場合6本の柱状
突起7が一体に形成されており、半導体素子5を囲むよ
うに配置されている。これらの柱状突起7は、互いに同
形状、同寸法であり、その高さは半導体素子5の高さよ
りも高く、しかもトレイ1の深さを越えないものになっ
ている。各柱状突起の配置を具体的に述べると、略正方
形の半導体素子5の1組の対向する辺に1本ずつ、他の
対向する1組の辺に2本ずつが配置されている。これは
トレイ1を重ね合せたとき下向き上向きの柱状突起が互
いに干渉することのないようにするためである。
端部が球面状に形成されている。この形態は、後述する
トレイ裏側の柱状突起に関しても同様である。柱状突起
をこのように形成したので、トレイ1上に半導体素子を
載置する際に半導体素子5が所定位置に円滑に案内され
る。円柱突起の形状は円錐台形でもよく、また、平面視
上3角形、星形などを自由に選択することができる。
トレイ1にはその裏側にも半導体素子5を支持し得る支
持面3bが設けられている。この支持面3bは、トレイ
表側の前記支持面3aの正反対面に位置している。この
支持面3bは、平板状の支持部3の裏面に突設形成され
た枠状のリブ3cの先端面に形成されている。
体素子5の外周に沿って他の柱状突起8が複数、この場
合6本が半導体素子5を囲んで形成されている。これら
柱状突起8は詳しくは、半導体素子5の1組の対向する
辺に1本ずつ、他の対向する1組の辺に2本ずつが配置
されている。
行われ、トレイ1上に載せられた状態で作業に供され
る。検査等は多くは、半導体素子5の表側のみならず裏
側に対しても行われる。トレイ裏側のこれら支持面3b
及び柱状突起8は、半導体素子5の裏側に対して検査等
を行う際に用いられるものである。
場合には、トレイ1をその姿勢を保って、つまり表側を
上にしたまま作業工程に移せばよい。一方、半導体素子
5の裏側に対して検査等を行う場合には、次のように行
われる。支持面3a上に半導体素子5を載置した状態の
トレイ1を複数段重ね合わせ、これらを一斉に反転させ
ることで、支持面3a上の半導体素子5を支持面3b上
に移すことになる。これにより、あるトレイ上に支持さ
れている半導体素子5は、その下側になったトレイ1の
裏側の支持面3b上によって支持され、素子の裏側が上
面の状態になる。
イ裏側の各柱状突起8とは、互いに支持面3a、3bの
中心周りの角度位置が所定角度、本実施例の場合90
°、互いにずらされている。これは次の理由による。
とき、半導体素子5が収容されたトレイ1を重ね合せ、
これを一体的に反転することで半導体素子5の上下姿勢
を逆転させることができる。この反転作業の際にはトレ
イ1を上下方向に積み重ね含ませるのであって、このと
きトレイ1の表裏両面に形成してある柱上突起の端部と
端部とが突き当たることで干渉減少が生じないことが必
要である。そこで、この干渉現象を防ぐため、さらに詳
しくは柱上突起が互いに当たらず、互いに噛み合う状態
になるようにその位置が90度分だけオフセットしてい
る。
に、前記トレイ裏側の各柱状突起8は、トレイ1同士が
上下に重ねられたときにトレイ表側の柱状突起7と共に
半導体素子5の外周に沿って列をなして半導体素子5を
囲み且つ先端部がトレイ表側の柱状突起7の先端域に達
する(図8ないし図10参照)。これにより、半導体素
子5の裏側の検査等を行う際、重ねられたトレイ1を上
下反転させて半導体素子5を新たに下側となるトレイ1
に移すときに、半導体素子が横へのズレを生ずることな
くそのまま移行させることができる。したがって、トレ
イ1を重ねた状態で柱状突起7、8で囲まれる空間中に
半導体素子5が収納されて移動、輸送に供される。これ
により、重量状態のトレイ1が重ね合されている限りで
は半導体素子5が脱落することはない。以上は、半導体
素子が正方形あるいはこれに近い場合であって、長方形
の場合には円柱突起の配置が変更される。
表側の円柱突起7と、トレイ裏側の円柱突起8とが干渉
することのない(当たることのない)位置関係に配置さ
れるのであって、その関係は、図6と図7に示してあ
る。
構成が付加されていて、詳しくは、図2、図4、図5、
図7に示すように、トレイ裏側に設けられた前記枠状リ
ブ3c間に板状リブ3dが一体に設けられている。この
板状リブ3dが補強となり、トレイ全体の剛性を高めて
いる。
イ1の平板状支持部3の支持面3a以外の部位に、例え
ば円形の肉抜き3eが施されている。よって、トレイの
軽量化が図られ、搬送や、取り扱い上便利である。
の半導体素子5の全面を支持面で支持するようにしてい
るが、ボール(端子部)とトレイ1の支持面とが接触す
ることで、その半導体素子は支持される。以上の説明に
おいてトレイ1の表、裏の表現をしているが、これは国
語における表裏の意味ではなく、第1面、第2面の意味
に解するものである。
による半導体素子収納用トレイは、半導体素子を支持す
る支持面に半導体素子の外周に係合する複数の柱状突起
が半導体素子を囲むように形成されている。したがっ
て、トレイの構成が簡単になっている。具体的には、ト
レイ表側の支持面を有する支持部を平板状となし、この
平板状支持部の裏面には枠状リブを突設形成し、この枠
状リブの先端面にトレイ裏側の支持面を形成した構成を
採用したので、トレイは実質的にこの平板状支持部、枠
状リブ、前記柱状突起にて構成されることとなる。よっ
て、トレイを射出成形するための金型が簡単であり、金
型の製造がきわめて簡単となり、コストが低減される。
また、トレイの構造が簡単であるから、トレイ全体にわ
ったて肉厚を均一化し易く、そりなどの変形が生じ難
い。また、半導体素子の表裏両側から検査測定等を行う
場合、半導体が表の状態と裏の状態とで支持状態に差が
なく、半導体素子の角度位置が一定となり、検査事項を
関連させる必要等があって相互の角度位置を一定にしな
ければならない場合に好適である。更に、外形が同一な
複数種の半導体素子を扱うことを考えた場合、半導体素
子はその全面を支持され、外周囲は柱状突起で位置決め
されるから、例えばBGAタイプの半導体素子の場合に
そのボール(端子部)の配置状況の影響は全くなく、扱
うことができる半導体素子の種類が多く、汎用性が高い
などの効果がある。
であり、 (a)(b)及び(c)は各々、半導体素子
収納用トレイの平面図、左側面図及び正面図である。
である。
る。
(a)におけるM−N−M−N線に沿う断面図である。
P線に沿う断面図、(b)は図11(a)の底面図であ
る。
Claims (7)
- 【請求項1】 フラットタイプの半導体素子を配列して
収納する半導体素子収納用トレイにおいて、半導体素子
を支持する支持面に半導体素子の外周に係合する複数の
柱状突起が半導体素子を囲むように一体に形成されてい
ることを特徴とする半導体素子収納用トレイ。 - 【請求項2】 トレイ裏側にも前記半導体素子を支持し
得る支持面が設けられ、この裏側の支持面に半導体素子
の外周に係合する複数の他の柱状突起が半導体素子を囲
み得るように一体に形成され、トレイ表側の柱状突起と
裏側の他の柱状突起とが、互いに支持面の中心周りの角
度位置が所定角度ずらされていることを特徴とする請求
項1記載の半導体素子収納用トレイ。 - 【請求項3】 トレイ表側の支持面を有する支持部は平
板状となされ、トレイ裏側の支持面は、該平板状支持部
の裏面に一体に突設された枠状リブの先端に形成されて
いることを特徴とする請求項1又は請求項2記載の半導
体素子収納用トレイ。 - 【請求項4】 トレイ裏側の他の柱状突起は、トレイ同
士が重ねられたときにトレイ表側の柱状突起と共に半導
体素子の外周に沿って列をなして半導体素子を囲み且つ
先端部がトレイ表側の柱状突起の先端域に達することを
特徴とする請求項1ないし請求項3記載のうちいずれか
1記載の半導体収納用トレイ。 - 【請求項5】 トレイ表側及び裏側の各柱状突起は円錐
状であり、先端部が球面状に形成されていることを特徴
とする請求項1ないし請求項4のうちいずれか1記載の
半導体素子収納用トレイ。 - 【請求項6】 トレイ裏側の前記枠状リブ間に板状リブ
が一体に設けられていることを特徴とする請求項3ない
し請求項5のうちいずれか1記載の半導体素子収納用ト
レイ。 - 【請求項7】 前記平板状支持部の支持面以外の部位
に、肉抜きが施されていることを特徴とする請求項1な
いし請求項6のうちいずれか1記載の半導体素子収納用
トレイ。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14122599A JP4446260B2 (ja) | 1999-05-21 | 1999-05-21 | 半導体素子収納用トレイ |
US09/708,730 US6505741B1 (en) | 1999-05-21 | 2000-11-09 | Tray for receiving semiconductor devices |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14122599A JP4446260B2 (ja) | 1999-05-21 | 1999-05-21 | 半導体素子収納用トレイ |
US09/708,730 US6505741B1 (en) | 1999-05-21 | 2000-11-09 | Tray for receiving semiconductor devices |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000326948A true JP2000326948A (ja) | 2000-11-28 |
JP4446260B2 JP4446260B2 (ja) | 2010-04-07 |
Family
ID=26473510
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14122599A Expired - Fee Related JP4446260B2 (ja) | 1999-05-21 | 1999-05-21 | 半導体素子収納用トレイ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6505741B1 (ja) |
JP (1) | JP4446260B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009517301A (ja) * | 2005-11-29 | 2009-04-30 | レクサム・ペタイナー・リドチエピング・アー・ベー | 飲料を分配し小出しするシステムおよび方法 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB0801820D0 (en) * | 2008-02-01 | 2008-03-05 | Univ Coventry | Container for waste electrical and electronic equipment |
KR101750095B1 (ko) | 2015-12-08 | 2017-07-03 | (주) 루리텍 | 트레이 장치 |
US10315821B2 (en) | 2016-11-15 | 2019-06-11 | Nxp B.V. | Component carrier |
USD895607S1 (en) * | 2019-05-31 | 2020-09-08 | Apple Inc. | Electronic device |
EP4092721A1 (en) * | 2021-05-21 | 2022-11-23 | STMicroelectronics S.r.l. | Containment and transportation tray for electronic components having small dimensions and low weight |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
USRE32344E (en) * | 1981-01-28 | 1987-02-03 | Bigelow-Sanford, Inc. | Shipping pallet and a package formed therefrom |
JPH0245381A (ja) | 1988-07-29 | 1990-02-15 | Nec Corp | 半導体装置の包装容器 |
US5746319A (en) * | 1990-09-25 | 1998-05-05 | R.H. Murphy Co., Inc. | Tray for integrated circuits |
JP2588332B2 (ja) | 1991-10-22 | 1997-03-05 | 積水化学工業株式会社 | 家屋ユニットの据付け調整治具 |
US5400904C1 (en) | 1993-10-15 | 2001-01-16 | Murphy R H Co Inc | Tray for ball terminal integrated circuits |
US5492223A (en) * | 1994-02-04 | 1996-02-20 | Motorola, Inc. | Interlocking and invertible semiconductor device tray and test contactor mating thereto |
US5418692A (en) * | 1994-08-22 | 1995-05-23 | Shinon Denkisangyo Kabushiki-Kaisha | Tray for semiconductor devices |
US5988394A (en) * | 1996-11-28 | 1999-11-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Tray for containing parts for storage and transportation |
-
1999
- 1999-05-21 JP JP14122599A patent/JP4446260B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-11-09 US US09/708,730 patent/US6505741B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009517301A (ja) * | 2005-11-29 | 2009-04-30 | レクサム・ペタイナー・リドチエピング・アー・ベー | 飲料を分配し小出しするシステムおよび方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4446260B2 (ja) | 2010-04-07 |
US6505741B1 (en) | 2003-01-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100390324B1 (ko) | 반도체 집적회로장치용 트레이 | |
JP4261411B2 (ja) | 積重ね可能な集積回路用トレイ | |
US5400904A (en) | Tray for ball terminal integrated circuits | |
US5791486A (en) | Integrated circuit tray with self aligning pocket | |
US5725101A (en) | Thin-plate supporting container | |
US6981595B2 (en) | Carrier tape for electronic components | |
JP2000326948A (ja) | 半導体素子収納用トレイ | |
JP2007109763A (ja) | 半導体チップ収容トレイ及び半導体チップの搬送方法 | |
JP2006076617A (ja) | 収納トレイおよび収納装置 | |
US11387124B2 (en) | Wafer container and method for holding wafer | |
US20070068846A1 (en) | Wafer packing | |
JP4106225B2 (ja) | 電子部品等の収納トレー | |
JPH08156944A (ja) | 部品トレー | |
JP2001278238A (ja) | 電子部品収納用トレイ | |
TWI424525B (zh) | 晶片封裝體的承載裝置及承載組件 | |
JP7361614B2 (ja) | 半導体チップトレイ及び半導体チップの収容方法 | |
KR101030006B1 (ko) | 전자 소자 적재용 트레이 | |
JPH11208764A (ja) | 電子部品収納用トレイ | |
TW202340045A (zh) | 具抵持元件之可伸縮基板承載裝置 | |
CN210140085U (zh) | 运载装置 | |
KR101898477B1 (ko) | 캐리어 커버를 세정하기 위한 커버 홀더 | |
JP4591679B2 (ja) | 半導体チップ収容トレイ、半導体チップの収容方法、及び半導体チップ搬送体 | |
JP6501723B2 (ja) | 支持トレイ | |
KR20200076436A (ko) | 전자 소자 적재용 트레이 | |
JP2000109169A (ja) | Icパッケージ用トレイ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060502 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090625 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090703 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090828 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20091210 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20091221 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100108 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20091221 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130129 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |