JP2000323738A - 太陽電池モジュールの逆バイアス処理装置 - Google Patents

太陽電池モジュールの逆バイアス処理装置

Info

Publication number
JP2000323738A
JP2000323738A JP11134069A JP13406999A JP2000323738A JP 2000323738 A JP2000323738 A JP 2000323738A JP 11134069 A JP11134069 A JP 11134069A JP 13406999 A JP13406999 A JP 13406999A JP 2000323738 A JP2000323738 A JP 2000323738A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
solar cell
reverse bias
probe
probes
cell module
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11134069A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuhiko Hayashi
克彦 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
Original Assignee
Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd filed Critical Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
Priority to JP11134069A priority Critical patent/JP2000323738A/ja
Priority to AU22398/00A priority patent/AU766466B2/en
Priority to EP00106128A priority patent/EP1052704B1/en
Priority to DE60028452T priority patent/DE60028452T2/de
Priority to EP06005885A priority patent/EP1670067B1/en
Priority to US09/532,111 priority patent/US6365825B1/en
Priority to AT06005885T priority patent/ATE396505T1/de
Priority to ES06005885T priority patent/ES2303705T3/es
Priority to DE60038990T priority patent/DE60038990D1/de
Priority to AT00106128T priority patent/ATE329372T1/de
Publication of JP2000323738A publication Critical patent/JP2000323738A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Abstract

(57)【要約】 【課題】 多数段の太陽電池セルを集積した太陽電池モ
ジュールに対して逆バイアス処理を効率的に実施できる
逆バイアス処理装置を提供する。 【解決手段】 基板上にそれぞれ成膜およびスクライブ
加工された第1電極層、半導体層および第2電極層が順
次積層された複数段の太陽電池セルを有する太陽電池モ
ジュール(10)に対し、隣り合う太陽電池セルの電極
間に逆バイアス電圧を印加して短絡部を除去する逆バイ
アス処理装置であって、互いに隣り合う3段以上の太陽
電池セルの電極に接触する複数段のプローブ(15)
と、複数段のプローブ(15)を一体的に昇降させる昇
降手段と、複数段のプローブ(15)から隣り合う任意
の1対の太陽電池セルの電極間に逆バイアス電圧を印加
する1対のプローブを選択する切換スイッチ(17)と
を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、太陽電池モジュー
ル、特にアモルファス太陽電池モジュールの逆バイアス
処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】太陽電池モジュールを構成する個々の太
陽電池セルに短絡部(ピンホールともいう)が生じる
と、発電特性が低下する。そこで、発電特性を改善する
ために、隣り合う太陽電池セルの電極間に逆バイアス電
圧を印加して、短絡部を除去する工程が行われる。
【0003】このような逆バイアス電圧の印加による短
絡部の除去について図5を参照して説明する。図5にお
いて、ガラス基板1上にSnO2などの透明導電性酸化
物からなる透明電極(第1電極層)2が成膜され、レー
ザースクライビングにより分離されている。この透明電
極2上にたとえばp型a−Si層、i型a−Si層およ
びn型a−Si層の積層構造からなる半導体層3が成膜
され、透明電極2のスクライブ線とずらせてレーザース
クライビングにより分離されている。この半導体層3上
に金属からなる裏面電極(第2電極層)4が成膜され、
半導体層3のスクライブ線とずらせてレーザースクライ
ビングにより分離されている。このように各層のスクラ
イブ線をずらせることにより、ある太陽電池セルの裏面
電極4の端部は半導体スクライブ線を通して隣の太陽電
池セルの透明電極2の端部と導通しており、多数の太陽
電池セルが直列接続されている。この図に示されるよう
に、逆バイアス電圧は隣り合う太陽電池セルの裏面電極
4に1対のプローブ(印加手段)5を接触させて印加さ
れる。
【0004】太陽電池セルに短絡部Sが発生している場
合、逆バイアス電圧を印加すると短絡部に電流が集中し
てジュール熱が発生するため、短絡部Sにおいて裏面電
極を構成する金属が飛散したり、この金属が酸化されて
絶縁膜に変換される。こうして短絡部が絶縁した状態に
なってなくなるため、動作時の発電特性の低下を抑える
ことができる。
【0005】しかし、各太陽電池セルにおいて、複数の
ピンホールが全くランダムに発生する。このような複数
のピンホールを有する太陽電池セルに対して1対(2段
分で2個)の点接触のプローブを接触させて逆バイアス
電圧を印加する場合、長手方向に沿ってプローブからの
距離が長くなって電圧降下が無視できなくなる短絡部S
があると種々の問題が生じる。すなわち、プローブから
短絡部までの距離が短かければ、短絡部に十分な電流が
流れるため上記のように短絡部を飛散または酸化させて
除去できる。一方、プローブから短絡部までの距離が長
いと、電圧降下が大きく短絡部に十分な電流が流れない
ため短絡部を飛散または酸化させることができずに短絡
部を除去できなくなる。この問題に対応してプローブか
ら遠く離れた短絡部を確実に除去するために逆バイアス
電圧を大きくすると、プローブの近くにある短絡部に大
電流が流れ多量の発熱によりピンホールが大きくなった
り、耐電圧以上の電圧が印加されて正常な素子部が破壊
されるという問題が生じる。
【0006】そこで、本発明者らは特開平10−420
2号において、1対(2段分)のプローブとして、太陽
電池セルの長手方向に沿って1段当たり複数の点接触の
プローブを設けるか、または1段当たり1つもしくは複
数の線接触もしくは面接触のプローブを設けた逆バイア
ス処理装置を開示している。このような逆バイアス処理
装置では、プローブから短絡部までの距離を電圧降下が
問題にならない範囲に収めることができるので、短絡部
を除去できなくなったり、逆に正常な素子部が破壊され
るという問題を解消できる。
【0007】この逆バイアス処理装置では、一体化され
た1対(2段分)のプローブを太陽電池セルの電極に接
触させ、逆バイアス処理を行い、プローブを上昇させ、
隣の太陽電池セルの位置まで移動させるという操作を太
陽電池セルの段数分だけ繰り返す。この場合、太陽電池
セルの長手方向に沿って1段当たり複数の点接触のプロ
ーブまたは1段当たり1つもしくは複数の線接触もしく
は面接触のプローブを設けているため、位置によってプ
ローブ−太陽電池セル間の高低差が生じるのを避けられ
ない。このため、局所的に大きな応力が作用して素子を
機械的に傷つけることがないように、プローブをゆっく
りと下降させる必要がある。したがって、数十段にもお
よぶ太陽電池モジュールの全段にわたって逆バイアス処
理を施すには長時間を要し、太陽電池モジュールの生産
効率が低下する。また、一体化されたプローブの昇降回
数が多いため、摩耗による装置の故障回数が増加する。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、多数
段の太陽電池セルを集積した太陽電池モジュールに対し
て逆バイアス処理を効率的に実施できる逆バイアス処理
装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の太陽電池モジュ
ールの逆バイアス処理装置は、基板上にそれぞれ成膜お
よびスクライブ加工された第1電極層、半導体層および
第2電極層が順次積層された複数段の太陽電池セルを有
する太陽電池モジュールに対し、隣り合う太陽電池セル
の電極間に逆バイアス電圧を印加して短絡部を除去する
太陽電池モジュールの逆バイアス処理装置において、互
いに隣り合う3段以上の太陽電池セルの電極に接触する
複数段のプローブと、複数段のプローブを一体的に昇降
させる昇降手段と、複数段のプローブから隣り合う任意
の1対の太陽電池セルの電極間に逆バイアス電圧を印加
する1対のプローブを選択する切換スイッチとを具備し
たことを特徴とする。
【0010】本発明の逆バイアス装置を用いれば、プロ
ーブを下降させて太陽電池セルの電極に接触させた後、
スイッチ切換により複数段の太陽電池セルの逆バイアス
処理ができるので、最も時間のかかるプローブの下降操
作の回数を従来よりも大幅に減少させることができ、逆
バイアス処理全体の効率を向上できる。
【0011】本発明において、プローブとは逆バイアス
電圧を印加するための印加手段(電極)を意味し、プロ
ーブの太陽電池セルの電極に対する接触部は点状でも、
線状でも面状でもよい。太陽電池セルの1段分に着目す
れば、その長手方向に沿って1段当たり複数の点接触の
プローブ群を設けるか、または1段当たり1つもしくは
複数の線接触もしくは面接触のプローブ群を設けること
が好ましい。このようなプローブを設ければ、プローブ
から遠く離れた短絡部がなくなるので、電圧降下に起因
する悪影響を避けることができる。
【0012】なお、太陽電池セルの電極に対して線接触
または面接触するプローブを用いる場合、1つまたは複
数のプローブの(合計の)接触長さは太陽電池セルの長
手方向の長さの50%以上とすることが好ましい。
【0013】本発明の逆バイアス処理装置では、スイッ
チ切換により2段分のプローブに通電して1段の太陽電
池セルの逆バイアス処理を行うので、一体化されたn段
分のプローブ群を下降させて太陽電池セルの電極に接触
させた状態でスイッチ切換により逆バイアス処理できる
太陽電池セルの段数は(n−1)段となる。本発明にお
いては、プローブの段数は3段以上であればよいが、5
〜10段であることが好ましい。プローブの段数が少な
いと、逆バイアス処理全体の効率がそれほど向上しな
い。プローブの段数が多いと、全てのプローブを太陽電
池セルの電極に均一な応力で接触させることが困難にな
り、局所的に素子が機械的に破壊される危険性が高くな
る。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面を
参照して説明する。図1(a)は本発明の装置の平面
図、図1(b)は本発明の装置の長手方向に沿う側面
図、図1(c)は本発明の装置の幅方向に沿う側面図で
ある。
【0015】図1に示されるように、基台11上にワー
クとして太陽電池モジュール10が載置される。太陽電
気モジュール10の微細構造は図5と同様であり、ガラ
ス基板1上にそれぞれ成膜およびスクライビングされた
透明電極(第1電極層)2、半導体層3および裏面電極
(第2電極層)4が積層されている。この太陽電池モジ
ュール10はたとえば装置の長手方向(図1(a)に矢
印で表示)に沿う片側に設けられた搬入コンベア(図示
せず)により搬入され、他方の側に設けられた搬出コン
ベア(図示せず)により搬出される。太陽電池モジュー
ル10の大きさは長さ840〜910mm、幅423〜
910mmであり、装置の長手方向に対して太陽電池セ
ルの長手方向(スクライブ線の方向)が直交するように
基台11上に載置される。この太陽電池モジュール10
では、40段の太陽電池セルが集積化されているものと
する。
【0016】基台11の一端側の上部にはステッピング
機構12が立設されている。このステッピング機構12
の上部には昇降機構13が基台11の内側に向かって突
出するように設けられている。昇降機構13にはプロー
ブのホルダー14が昇降可能に取り付けられており、ホ
ルダー14の下面に多数のプローブ15が取り付けられ
ている。
【0017】図2に一例を示すように、プローブ15は
1段の太陽電池セルの長手方向の全長にわたって30m
mの等間隔で約30個設けられており、6段分のプロー
ブ群が一体的に昇降するようになっている。1段分のプ
ローブ群は共通の接続ワイヤ16により接続されてい
る。接続ワイヤ16の一端側は、6段分のプローブから
隣り合う任意の1対の太陽電池セルの電極間に逆バイア
ス電圧を印加する1対のプローブ群を選択する切換スイ
ッチ17に接続されている。この切換スイッチ17の切
換順序をR1〜R5で示す。さらに、これらの切換スイ
ッチ17は逆バイアス電源18に接続されている。
【0018】この逆バイアス装置の操作について説明す
る。図示しない搬入コンベアから太陽電池モジュールが
搬入されて基台11上に載置され、位置合わせマーク
(図示せず)を基準として位置決めがなされる。次に、
ステッピング機構12を動作させて、昇降機構13、ホ
ルダー14およびプローブ15を逆バイアス処理すべき
太陽電池セルの上方に移動させる。次いで、昇降機構1
3を動作させ、局所的に大きな応力が作用して素子を機
械的に傷つけることがないように、ホルダー14および
プローブ15をゆっくりと下降させて太陽電池セルの上
部に接触させる。
【0019】そして、切換スイッチ17のスイッチR1
を接続して右端の2段分のプローブ群に通電して、最も
右端の太陽電池セルについて逆バイアス処理を施す。次
に、スイッチR2を接続して右端から2段目および3段
目の2段分のプローブ群に通電して、右端から2段目の
太陽電池セルについて逆バイアス処理を施す。このよう
なスイッチの切換を順次行い、右端から5段目の太陽電
池セルまで逆バイアス処理を施す。このように、1対
(2段分)のプローブ群を用いて1段の太陽電池セルに
ついて逆バイアス処理を行うので、上記のように6段分
のプローブ群を切換スイッチ17で切り換えて使用する
ことにより5段分の太陽電池セルの逆バイアス処理を実
施できる。このとき、1段の太陽電池セルあたり多数
(この例では約30個)のプローブが設けられているの
で、プローブから短絡部までの距離は電圧降下が問題に
ならない範囲内(最大でプローブ間の間隔30mmの半
分の15mm)にあり、短絡部を除去できなくなった
り、逆に正常な素子部が破壊されるという問題が生じる
ことはない。
【0020】続いて、昇降機構13を動作させてホルダ
ー14およびプローブ15を上昇させ、ステッピング機
構12を動作させて昇降機構13、ホルダー14および
プローブ15を次回に逆バイアス処理すべき太陽電池セ
ルの上方に移動させた後に上記の操作を繰り返す。すな
わち、本発明の逆バイアス処理装置を用いて40段分の
太陽電池セルについて逆バイアス処理するには、プロー
ブのステップ移動、プローブの下降、スイッチ切換によ
る逆バイアス処理およびプローブの上昇を一連の工程と
する操作を8回繰り返せばよい。これは、従来の逆バイ
アス処理装置を用いた場合には、40段の太陽電池セル
を逆バイアス処理するには上記のような操作を40回繰
り返す必要があったのと比較すると、生産効率を約5倍
に向上できることを意味する。また、本発明の逆バイア
ス処理装置では、一体化されたプローブ群の昇降回数が
従来より少ないため、摩耗による装置の故障回数も減少
する。
【0021】なお、本発明において、プローブの形状は
特に限定されない。例えば、図3に示すように太陽電池
セル10の裏面電極4と線接触する線状のプローブ21
を用いてもよい。また、図4に示すように太陽電池セル
10の裏面電極4と面接触するブロック状のプローブ2
2を用いてもよい。
【0022】
【発明の効果】以上詳述したように本発明の逆バイアス
処理装置を用いれば、複数段のプローブ群をスイッチ切
換により作動させて多数段の太陽電池セルを集積した太
陽電池モジュールに対して逆バイアス処理を効率的に実
施でき、しかも摩耗による装置の故障回数も減少する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る逆バイアス処理装置
を示す平面図および側面図。
【図2】図1の逆バイアス処理装置におけるプローブの
配置を示す図。
【図3】本発明の他の実施形態に係る逆バイアス処理装
置を示す斜視図。
【図4】本発明の他の実施形態に係る逆バイアス処理装
置を示す斜視図。
【図5】逆バイアス処理を説明する断面図。
【符号の説明】
1…ガラス基板 2…透明電極 3…半導体層 4…裏面電極 5…プローブ 10…太陽電池モジュール 11…基台 12…ステッピング機構 13…昇降機構 14…ホルダー 15…プローブ 16…接続ワイヤ 17…切換スイッチ 18…逆バイアス電源 21、22…プローブ
【手続補正書】
【提出日】平成12年2月3日(2000.2.3)
【手続補正1】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図2
【補正方法】変更
【補正内容】
【図2】
【手続補正2】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図3
【補正方法】変更
【補正内容】
【図3】
【手続補正3】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図4
【補正方法】変更
【補正内容】
【図4】

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上にそれぞれ成膜およびスクライブ
    加工された第1電極層、半導体層および第2電極層が順
    次積層された複数段の太陽電池セルを有する太陽電池モ
    ジュールに対し、隣り合う太陽電池セルの電極間に逆バ
    イアス電圧を印加して短絡部を除去する太陽電池モジュ
    ールの逆バイアス処理装置において、互いに隣り合う3
    段以上の太陽電池セルの電極に接触する複数段のプロー
    ブと、複数段のプローブを一体的に昇降させる昇降手段
    と、複数段のプローブから隣り合う任意の1対の太陽電
    池セルの電極間に逆バイアス電圧を印加する1対のプロ
    ーブを選択する切換スイッチとを具備したことを特徴と
    する太陽電池モジュールの逆バイアス処理装置。
JP11134069A 1999-05-14 1999-05-14 太陽電池モジュールの逆バイアス処理装置 Pending JP2000323738A (ja)

Priority Applications (10)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11134069A JP2000323738A (ja) 1999-05-14 1999-05-14 太陽電池モジュールの逆バイアス処理装置
AU22398/00A AU766466B2 (en) 1999-05-14 2000-03-20 Reverse biasing apparatus for solar battery module
EP00106128A EP1052704B1 (en) 1999-05-14 2000-03-21 Reverse biasing apparatus for solar battery module
DE60028452T DE60028452T2 (de) 1999-05-14 2000-03-21 Eine umgekehrte Vorspannung liefernder Generator für ein Solarzellenmodul
EP06005885A EP1670067B1 (en) 1999-05-14 2000-03-21 Reverse biasing method and apparatus for solar battery module
US09/532,111 US6365825B1 (en) 1999-05-14 2000-03-21 Reverse biasing apparatus for solar battery module
AT06005885T ATE396505T1 (de) 1999-05-14 2000-03-21 Eine umgekehrte vorspannung liefernder generator für ein solarzellenmodul
ES06005885T ES2303705T3 (es) 1999-05-14 2000-03-21 Procedimiento de polarizacion inversa y aparato para un modulo de celulas solares.
DE60038990T DE60038990D1 (de) 1999-05-14 2000-03-21 Eine umgekehrte Vorspannung liefernder Generator für ein Solarzellenmodul
AT00106128T ATE329372T1 (de) 1999-05-14 2000-03-21 Eine umgekehrte vorspannung liefernder generator für ein solarzellenmodul

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11134069A JP2000323738A (ja) 1999-05-14 1999-05-14 太陽電池モジュールの逆バイアス処理装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009247833A Division JP2010021593A (ja) 2009-10-28 2009-10-28 太陽電池モジュールの逆バイアス処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000323738A true JP2000323738A (ja) 2000-11-24

Family

ID=15119661

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11134069A Pending JP2000323738A (ja) 1999-05-14 1999-05-14 太陽電池モジュールの逆バイアス処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000323738A (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008041454A1 (fr) 2006-10-03 2008-04-10 Sharp Kabushiki Kaisha Appareil de traitement de polarisation inverse pour un dispositif de conversion photoélectrique et procédé pour un traitement de polarisation inverse
WO2009020073A1 (ja) * 2007-08-06 2009-02-12 Sharp Kabushiki Kaisha 薄膜光電変換モジュールの製造方法および製造装置
WO2009101857A1 (ja) 2008-02-13 2009-08-20 Sharp Kabushiki Kaisha 薄膜光電変換モジュールの製造方法および製造装置
JP2009206364A (ja) * 2008-02-28 2009-09-10 Sharp Corp 薄膜光電変換モジュールの製造方法および製造装置
WO2010001729A1 (ja) * 2008-06-30 2010-01-07 シャープ株式会社 太陽光発電装置の補修方法と太陽光発電装置
JP2010525593A (ja) * 2007-04-26 2010-07-22 ヘリアンソス,ビー.ブイ. 導電性スポットを有する層を含んでいる光起電モジュール
WO2010119841A1 (ja) * 2009-04-15 2010-10-21 シャープ株式会社 太陽電池パネル検査装置、太陽電池パネル検査方法および太陽電池パネルの製造方法
KR20130100981A (ko) * 2010-07-09 2013-09-12 오스텐도 테크놀로지스 인코포레이티드 교류 바이어스 핫 캐리어 태양 셀
KR20170130638A (ko) * 2014-03-03 2017-11-28 솔라리틱스, 인크. 광전 변환 소자 관리 시스템 및 방법
JP2019506702A (ja) * 2015-12-17 2019-03-07 サン−ゴバン グラス フランス 導電性コーティング及びレーザ切断パターンを有する基材を修復する方法

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008041454A1 (fr) 2006-10-03 2008-04-10 Sharp Kabushiki Kaisha Appareil de traitement de polarisation inverse pour un dispositif de conversion photoélectrique et procédé pour un traitement de polarisation inverse
US8134111B2 (en) 2006-10-03 2012-03-13 Sharp Kabushiki Kaisha Reverse bias processing apparatus and reverse bias processing method for photoelectric conversion devices
JP2010525593A (ja) * 2007-04-26 2010-07-22 ヘリアンソス,ビー.ブイ. 導電性スポットを有する層を含んでいる光起電モジュール
JP2012138637A (ja) * 2007-08-06 2012-07-19 Sharp Corp 薄膜光電変換モジュールの解析方法
WO2009020073A1 (ja) * 2007-08-06 2009-02-12 Sharp Kabushiki Kaisha 薄膜光電変換モジュールの製造方法および製造装置
JPWO2009020073A1 (ja) * 2007-08-06 2010-11-04 シャープ株式会社 薄膜光電変換モジュールの製造方法および製造装置
US8349623B2 (en) 2007-08-06 2013-01-08 Sharp Kabushiki Kaisha Method and apparatus for manufacturing thin film photoelectric conversion module
WO2009101857A1 (ja) 2008-02-13 2009-08-20 Sharp Kabushiki Kaisha 薄膜光電変換モジュールの製造方法および製造装置
JP2009194082A (ja) * 2008-02-13 2009-08-27 Sharp Corp 薄膜光電変換モジュールの製造方法および製造装置
US8679862B2 (en) 2008-02-13 2014-03-25 Sharp Kabushiki Kaisha Method and device for manufacturing thin film photoelectric conversion module
JP2009206364A (ja) * 2008-02-28 2009-09-10 Sharp Corp 薄膜光電変換モジュールの製造方法および製造装置
WO2010001729A1 (ja) * 2008-06-30 2010-01-07 シャープ株式会社 太陽光発電装置の補修方法と太陽光発電装置
CN102460723A (zh) * 2009-04-15 2012-05-16 夏普株式会社 太阳能电池板检查装置、太阳能电池板检查方法及太阳能电池板的制造方法
JP5173020B2 (ja) * 2009-04-15 2013-03-27 シャープ株式会社 太陽電池パネル検査装置、太陽電池パネル検査方法および太陽電池パネルの製造方法
WO2010119841A1 (ja) * 2009-04-15 2010-10-21 シャープ株式会社 太陽電池パネル検査装置、太陽電池パネル検査方法および太陽電池パネルの製造方法
US8878562B2 (en) 2009-04-15 2014-11-04 Sharp Kabushiki Kaisha Solar battery panel inspection apparatus for inspecting the insulation state in the outer circumferential insulating region of a solar battery panel, method of inspecting, and method of manufacturing
KR20130100981A (ko) * 2010-07-09 2013-09-12 오스텐도 테크놀로지스 인코포레이티드 교류 바이어스 핫 캐리어 태양 셀
KR101867419B1 (ko) 2010-07-09 2018-07-23 오스텐도 테크놀로지스 인코포레이티드 교류 바이어스 핫 캐리어 태양 셀
KR20170130638A (ko) * 2014-03-03 2017-11-28 솔라리틱스, 인크. 광전 변환 소자 관리 시스템 및 방법
KR101978083B1 (ko) 2014-03-03 2019-05-13 솔라리틱스, 인크. 광전 변환 소자 관리 시스템 및 방법
JP2019506702A (ja) * 2015-12-17 2019-03-07 サン−ゴバン グラス フランス 導電性コーティング及びレーザ切断パターンを有する基材を修復する方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6365825B1 (en) Reverse biasing apparatus for solar battery module
JP5409837B2 (ja) 薄膜光電変換モジュールの解析方法
US7648906B2 (en) Method and apparatus for processing a conductive thin film
US7964476B2 (en) Method and apparatus for the laser scribing of ultra lightweight semiconductor devices
JP2000323738A (ja) 太陽電池モジュールの逆バイアス処理装置
KR101530035B1 (ko) 태양전지 셀스트링 제조장치
US20130037836A1 (en) Light emitting device and method for fabricating the same
US8134111B2 (en) Reverse bias processing apparatus and reverse bias processing method for photoelectric conversion devices
CN101515609A (zh) 薄膜型太阳能电池及其制造方法
JP2001135835A (ja) 薄膜光電変換セルの欠陥修復方法、薄膜光電変換モジュールの製造方法、及び薄膜光電変換モジュールの欠陥修復装置
JP2010021593A (ja) 太陽電池モジュールの逆バイアス処理装置
JP2014093288A (ja) 表示装置
JP4783487B2 (ja) 太陽電池モジュールの逆バイアス処理装置
JPH0377672B2 (ja)
JP4194728B2 (ja) 集積型薄膜太陽電池
JP2001135839A (ja) 薄膜光電変換モジュールの製造方法及び薄膜光電変換モジュールの欠陥修復装置
JP4272320B2 (ja) 薄膜光電変換モジュールの欠陥修復方法及び薄膜光電変換モジュールの製造方法
CN220627829U (zh) 一种激光诱导烧结的加工设备
EP2214215A1 (en) Scribing Device and Method of Producing a Thin-Film Solar Cell Module
WO2012108256A1 (ja) 逆バイアス処理装置およびそれを用いた逆バイアス処理方法
JP5162683B2 (ja) 逆バイアス処理装置およびそれを用いた逆バイアス処理方法
JP2000208786A (ja) 集積型薄膜太陽電池の製造方法
JP2000261020A (ja) 集積型薄膜太陽電池
JPS61238082A (ja) 画像表示装置
CN114141704A (zh) 显示装置的制造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060420

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090423

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090428

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090629

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090728

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091028

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20091104

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20091127