JP2000292371A - Ｘ線検査装置 - Google Patents
Ｘ線検査装置Info
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- JP2000292371A JP2000292371A JP11100516A JP10051699A JP2000292371A JP 2000292371 A JP2000292371 A JP 2000292371A JP 11100516 A JP11100516 A JP 11100516A JP 10051699 A JP10051699 A JP 10051699A JP 2000292371 A JP2000292371 A JP 2000292371A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】被検物2の搬送速度が上昇しても、被検物2にＸ
線走査されない領域が発生することを防止できる、検出
性能の良いＸ線検査装置を提供することにある。 【解決手段】ベルトコンベア3上を搬送されてくる被検
物2にＸ線を照射し、その透過線量を配列状Ｘ線センサ4
に入力し、入力された計測内容はＭＰＸ回路5で搬送方
向と直交（図中矢印ロ）方向に1列の配列Ｘ線センサ21
の直列に並べられた計測内容を複数の4ブロックに分割
し、分割されたブロックの最初のチャンネルから並行し
てセンサの記憶内容を読み出し、読み出された信号をそ
れぞれＡ／Ｄ変換器6でＡ／Ｄ変換し、それぞれを64個
のアドレスを有するバッファメモリへ一時記憶し、その
内容をパラレル／シリアル変換器8で前記ベルとコンベ
アの搬送方向と直交（図中矢印ロ）方向に一列目の配列
Ｘ線センサ21のデータへ合成し、画像処理装置6にて画
像処理してフレームメモリ9に書き込み、表示器12に表
示する。
線走査されない領域が発生することを防止できる、検出
性能の良いＸ線検査装置を提供することにある。 【解決手段】ベルトコンベア3上を搬送されてくる被検
物2にＸ線を照射し、その透過線量を配列状Ｘ線センサ4
に入力し、入力された計測内容はＭＰＸ回路5で搬送方
向と直交（図中矢印ロ）方向に1列の配列Ｘ線センサ21
の直列に並べられた計測内容を複数の4ブロックに分割
し、分割されたブロックの最初のチャンネルから並行し
てセンサの記憶内容を読み出し、読み出された信号をそ
れぞれＡ／Ｄ変換器6でＡ／Ｄ変換し、それぞれを64個
のアドレスを有するバッファメモリへ一時記憶し、その
内容をパラレル／シリアル変換器8で前記ベルとコンベ
アの搬送方向と直交（図中矢印ロ）方向に一列目の配列
Ｘ線センサ21のデータへ合成し、画像処理装置6にて画
像処理してフレームメモリ9に書き込み、表示器12に表
示する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ベルトコンベア上
を搬送されてくる被検物にＸ線を照射し、その透過線量
をＸ線センサで計測し、計測データを画像処理装置で画
像データに変換して表示器に表示して被検物内部を検査
するＸ線検査装置に関する。
を搬送されてくる被検物にＸ線を照射し、その透過線量
をＸ線センサで計測し、計測データを画像処理装置で画
像データに変換して表示器に表示して被検物内部を検査
するＸ線検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の、Ｘ線センサを利用したＸ線検査
装置における被検物内部の情報読み取り方法を説明す
る。 （1）被検物をベルトコンベアで複数のＸ線センサの上
部を移動させる。 （2）被検物が全てのＸ線センサの幅分の距離を移動す
る間に、Ｘ線センサの各素子からの出力信号を全てのチ
ャンネルより読み出す。この信号には、Ｘ線が被検物の
内部を透過する際に内部構造の違いにより生じた信号変
化分を含んでいる。よって、この信号を解析することで
内部構造の検査を行なうことが可能となる。 （3）上記の信号読み込み作業を被検物がセンサの幅分
の距離を異動するごとに繰り返し、被検物全長分に相当
するＸ線センサ信号を入手する。実際にはこれらの信号
データは記憶装置に格納される。 （4）入手したデータを電気的に処理し、データが得ら
れた順にディスプレイ上のラインデータとして画面上の
端からＸ線信号強度に応じた濃淡データとして表示さ
せ、被検物の透視映像を得る。 （5）この透視映像を目視、又は、画像処理により、被
検物内部の異物検査や、内部構造の解析を行なう。
装置における被検物内部の情報読み取り方法を説明す
る。 （1）被検物をベルトコンベアで複数のＸ線センサの上
部を移動させる。 （2）被検物が全てのＸ線センサの幅分の距離を移動す
る間に、Ｘ線センサの各素子からの出力信号を全てのチ
ャンネルより読み出す。この信号には、Ｘ線が被検物の
内部を透過する際に内部構造の違いにより生じた信号変
化分を含んでいる。よって、この信号を解析することで
内部構造の検査を行なうことが可能となる。 （3）上記の信号読み込み作業を被検物がセンサの幅分
の距離を異動するごとに繰り返し、被検物全長分に相当
するＸ線センサ信号を入手する。実際にはこれらの信号
データは記憶装置に格納される。 （4）入手したデータを電気的に処理し、データが得ら
れた順にディスプレイ上のラインデータとして画面上の
端からＸ線信号強度に応じた濃淡データとして表示さ
せ、被検物の透視映像を得る。 （5）この透視映像を目視、又は、画像処理により、被
検物内部の異物検査や、内部構造の解析を行なう。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このような方式の検査
装置には、以下の問題点がある。被検物の移動速度が早
くなると、1ライン分のＸ線センサ信号全ての読み出し
が完了する前に、被検物がＸ線センサの幅以上の距離を
移動するので、被検物にＸ線走査されない領域が発生
し、Ｘ線検査装置の検出性能が低下する。本発明の目的
は、被検物の移動速度が上昇しても、被検物にＸ線走査
されない領域が発生することが防止できる検出性能の良
いＸ線検査装置を提供することにある。
装置には、以下の問題点がある。被検物の移動速度が早
くなると、1ライン分のＸ線センサ信号全ての読み出し
が完了する前に、被検物がＸ線センサの幅以上の距離を
移動するので、被検物にＸ線走査されない領域が発生
し、Ｘ線検査装置の検出性能が低下する。本発明の目的
は、被検物の移動速度が上昇しても、被検物にＸ線走査
されない領域が発生することが防止できる検出性能の良
いＸ線検査装置を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明においては、ベルトコンベア上を搬送されて
くる被検物にＸ線を照射し、その透過線量をＸ線センサ
で計測し、計測データを画像処理装置で画像データに変
換して表示器に表示して被検物内部を検査するＸ線検査
装置において、前記Ｘ線センサを、ベルトコンベアの搬
送方向にＭ個（ＭはＭ≧1の整数）、ベルトコンベアの
搬送方向と直交方向にＮ個（ＮはＮ≧2の整数）のＭ×
Ｎ個の単位センサを配列して成る配列状Ｘ線センサと
し、前記配列状センサをベルトコンベアの搬送方向と直
交する方向へＰ個（ＰはＰ≧2の整数）のブロックを形
成すると共に前記計測時は各ブロック内の単位センサを
同時にベルトコンベアの搬送方向と直交する方向に順次
読み出す手段と、前記複数のブロック状センサの計測デ
ータを合成して単一画像を生成する手段とを設けた。
め、本発明においては、ベルトコンベア上を搬送されて
くる被検物にＸ線を照射し、その透過線量をＸ線センサ
で計測し、計測データを画像処理装置で画像データに変
換して表示器に表示して被検物内部を検査するＸ線検査
装置において、前記Ｘ線センサを、ベルトコンベアの搬
送方向にＭ個（ＭはＭ≧1の整数）、ベルトコンベアの
搬送方向と直交方向にＮ個（ＮはＮ≧2の整数）のＭ×
Ｎ個の単位センサを配列して成る配列状Ｘ線センサと
し、前記配列状センサをベルトコンベアの搬送方向と直
交する方向へＰ個（ＰはＰ≧2の整数）のブロックを形
成すると共に前記計測時は各ブロック内の単位センサを
同時にベルトコンベアの搬送方向と直交する方向に順次
読み出す手段と、前記複数のブロック状センサの計測デ
ータを合成して単一画像を生成する手段とを設けた。
【０００５】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態について
図を元に説明する。図1は本発明によるＸ線検査装置の
構成を示すブロック図で、図2は本発明によるＸ線検査
装置の搬送方向と直交する方向に1列の配列状Ｘ線セン
サの動作説明図を示す。図1、図2において、1は被検物
に向かってＸ線を照射するＸ線発生装置、2はＸ線検査
装置の検査対象である被検物、3は被検物2を搬送するベ
ルトコンベア、4は配列状Ｘ線センサ（詳細は後記）、5
は配列状Ｘ線センサ4を構成する単位センサで検知した
透過Ｘ線信号を制御装置の制御信号により順次切換え接
続を行なって読み出すＭＰＸ回路、６はＡ／Ｄ変換器、
７はＭＰＸ回路5の制御、Ｘ線の管電圧、管電流の制
御、Ｘ線発生装置の照射タイミングを図る制御回路、8
はパラレル／シリアル変換器、9はパラレル／シリアル
変換器8から出力されたライン状の配列状Ｘ線センサ4の
計測データを順次記憶するフレームメモリ、10はフレー
ムメモリ9から読み出されたデータに対し画像処理を行
う画像処理回路、11はＤ／Ａ変換器、12は画像処理装置
6により処理された画像データを表示する表示器、21は
配列状Ｘ線センサ4の中の1列目のＸ線センサ、30は被検
物2に含まれている異物、Ｓａは1ブロックのセンサの読
み出し時間内のベルトコンベア3の移動距離を示す。
図を元に説明する。図1は本発明によるＸ線検査装置の
構成を示すブロック図で、図2は本発明によるＸ線検査
装置の搬送方向と直交する方向に1列の配列状Ｘ線セン
サの動作説明図を示す。図1、図2において、1は被検物
に向かってＸ線を照射するＸ線発生装置、2はＸ線検査
装置の検査対象である被検物、3は被検物2を搬送するベ
ルトコンベア、4は配列状Ｘ線センサ（詳細は後記）、5
は配列状Ｘ線センサ4を構成する単位センサで検知した
透過Ｘ線信号を制御装置の制御信号により順次切換え接
続を行なって読み出すＭＰＸ回路、６はＡ／Ｄ変換器、
７はＭＰＸ回路5の制御、Ｘ線の管電圧、管電流の制
御、Ｘ線発生装置の照射タイミングを図る制御回路、8
はパラレル／シリアル変換器、9はパラレル／シリアル
変換器8から出力されたライン状の配列状Ｘ線センサ4の
計測データを順次記憶するフレームメモリ、10はフレー
ムメモリ9から読み出されたデータに対し画像処理を行
う画像処理回路、11はＤ／Ａ変換器、12は画像処理装置
6により処理された画像データを表示する表示器、21は
配列状Ｘ線センサ4の中の1列目のＸ線センサ、30は被検
物2に含まれている異物、Ｓａは1ブロックのセンサの読
み出し時間内のベルトコンベア3の移動距離を示す。
【０００６】次に、配列状Ｘ線センサ4について説明す
る。配列状Ｘ線センサ4はベルトコンベア3の搬送方向に
対しＭ列（ＭはＭ≧1の整数）、例えば図2に示すように
1列、またベルトコンベア3の搬送方向と直交する方向に
Ｎ個（ＮはＮ≧2の整数）、例えば256個のＭ×256個の
単位センサを1次元または2次元配列したものから成る。
本発明では、ベルトコンベア3の搬送方向と直交する方
向に対し、Ｎ個の配列センサをＰ個（ＰはＰ≧2の整
数）、例えば4個のブロックに分割してＭＰＸ回路5へ接
続する構成としている。なお、Ｍの数及びＮの数はベル
トコンベアの搬送速度、被検物の大きさ及び希望する画
像の分解能に応じて適宜設定することができる。
る。配列状Ｘ線センサ4はベルトコンベア3の搬送方向に
対しＭ列（ＭはＭ≧1の整数）、例えば図2に示すように
1列、またベルトコンベア3の搬送方向と直交する方向に
Ｎ個（ＮはＮ≧2の整数）、例えば256個のＭ×256個の
単位センサを1次元または2次元配列したものから成る。
本発明では、ベルトコンベア3の搬送方向と直交する方
向に対し、Ｎ個の配列センサをＰ個（ＰはＰ≧2の整
数）、例えば4個のブロックに分割してＭＰＸ回路5へ接
続する構成としている。なお、Ｍの数及びＮの数はベル
トコンベアの搬送速度、被検物の大きさ及び希望する画
像の分解能に応じて適宜設定することができる。
【０００７】次に上記構成のＸ線検査装置の動作につい
て図を元に説明する。図1，図2において、ベルトコンベ
ア3に搬送された被検物2が検出位置にくると検出器（図
示省略）は制御 回路7に信号を発し、制御回路7はＸ線
発生装置1にＸ線照射命令を発しＸ線発生装置1からＸ線
を被検物2に向かい照射する。
て図を元に説明する。図1，図2において、ベルトコンベ
ア3に搬送された被検物2が検出位置にくると検出器（図
示省略）は制御 回路7に信号を発し、制御回路7はＸ線
発生装置1にＸ線照射命令を発しＸ線発生装置1からＸ線
を被検物2に向かい照射する。
【０００８】照射されたＸ線は被検物2を透過し、ベル
トコンベア3の下部にある配列状Ｘ線センサ4に入力され
る。ＭＰＸ回路5は搬送方向と直交（図中矢印ロ）方向
に1列の配列Ｘ線センサ21の計測内容を4ブロック（Ｐ＝
4）に分割し、分割されたブロックの最初のチャンネル
から並行して、センサの記憶内容を読み出す。
トコンベア3の下部にある配列状Ｘ線センサ4に入力され
る。ＭＰＸ回路5は搬送方向と直交（図中矢印ロ）方向
に1列の配列Ｘ線センサ21の計測内容を4ブロック（Ｐ＝
4）に分割し、分割されたブロックの最初のチャンネル
から並行して、センサの記憶内容を読み出す。
【０００９】読み出された信号はそれぞれＡ／Ｄ変換器
6でＡ／Ｄ変換され、それぞれが64個のアドレスを有す
るバッファメモリへ一時記憶され、その内容はパラレル
／シリアル変換器8を介して前記ベルトコンベア3の搬送
方向と直交（図中矢印ロ）方向に1列目の配列Ｘ線セン
サのデータへ合成され、フレームメモリ9に書き込まれ
る。
6でＡ／Ｄ変換され、それぞれが64個のアドレスを有す
るバッファメモリへ一時記憶され、その内容はパラレル
／シリアル変換器8を介して前記ベルトコンベア3の搬送
方向と直交（図中矢印ロ）方向に1列目の配列Ｘ線セン
サのデータへ合成され、フレームメモリ9に書き込まれ
る。
【００１０】次に、フレームメモリ9からデータを読み
出し、画像処理装置10にて画像処理を行ない、Ｄ／Ａ変
換器11でＤ／Ａ変換し表示器12に画像を表示する。表示
された画像を見て監視者は被検物2の内部の検討を行な
う。このベルトコンベア3の搬送方向と直交する方向に
Ｎ個（ＮはＮ≧2の整数）の配列状Ｘ線センサ4をＰ個の
ブロックに分割して読み出す方法は一列を始めから終ま
で連続して読み出す方法に対して読み取速度は最大でＰ
倍となる。
出し、画像処理装置10にて画像処理を行ない、Ｄ／Ａ変
換器11でＤ／Ａ変換し表示器12に画像を表示する。表示
された画像を見て監視者は被検物2の内部の検討を行な
う。このベルトコンベア3の搬送方向と直交する方向に
Ｎ個（ＮはＮ≧2の整数）の配列状Ｘ線センサ4をＰ個の
ブロックに分割して読み出す方法は一列を始めから終ま
で連続して読み出す方法に対して読み取速度は最大でＰ
倍となる。
【００１１】次に、ベルトコンベア3の搬送方向に4列
（Ｍ＝4）の配列状Ｘ線センサ4を配した場合の読み出し
動作について説明する。図3において、22は配列状Ｘ線
センサ4の中の2列目のＸ線センサ、23は配列状Ｘ線セン
サ4の中の3列目のＸ線センサ、24は配列状Ｘ線センサ4
の中の4列目のＸ線センサを示す。
（Ｍ＝4）の配列状Ｘ線センサ4を配した場合の読み出し
動作について説明する。図3において、22は配列状Ｘ線
センサ4の中の2列目のＸ線センサ、23は配列状Ｘ線セン
サ4の中の3列目のＸ線センサ、24は配列状Ｘ線センサ4
の中の4列目のＸ線センサを示す。
【００１２】図３において先の例では1列目のＸ線セン
サ4を使用しているが、本例ではベルトコンベア3の搬送
方向に4列目のＸ線センサ4を備え、被検物2の透過画像
をベルトコンベア3の下部にある4列のＸ線センサ4で検
出する。計測データはＭＰＸ回路5で搬送方向と直交
（図中矢印ロ）方向の4列のＸ線センサ21，22，23，24
のそれぞれを4ブロックに分割し、合計16ブロックの各
ブロックの最初のチャンネルから平行して、センサの記
憶内容を読み出す。読み出された信号をそれぞれＡ／Ｄ
変換器6でＡ／Ｄ変換し、それぞれを64個のアドレスを
有するバッファメモリへ一時記憶し、その内容をパラレ
ル／シリアル変換器8で前記ベルトコンベアの搬送方向
と直交（図中矢印ロ）方向へのラインデータとして各々
合成し、フレームメモリ9に書き込み、画像処理装置10
にて濃淡の情報を付加してＤ／Ａ変換器11でＤ／Ａ変換
し表示器12に表示する。表示された画像を見て監視者は
被検物2の内部の検討を行なう。
サ4を使用しているが、本例ではベルトコンベア3の搬送
方向に4列目のＸ線センサ4を備え、被検物2の透過画像
をベルトコンベア3の下部にある4列のＸ線センサ4で検
出する。計測データはＭＰＸ回路5で搬送方向と直交
（図中矢印ロ）方向の4列のＸ線センサ21，22，23，24
のそれぞれを4ブロックに分割し、合計16ブロックの各
ブロックの最初のチャンネルから平行して、センサの記
憶内容を読み出す。読み出された信号をそれぞれＡ／Ｄ
変換器6でＡ／Ｄ変換し、それぞれを64個のアドレスを
有するバッファメモリへ一時記憶し、その内容をパラレ
ル／シリアル変換器8で前記ベルトコンベアの搬送方向
と直交（図中矢印ロ）方向へのラインデータとして各々
合成し、フレームメモリ9に書き込み、画像処理装置10
にて濃淡の情報を付加してＤ／Ａ変換器11でＤ／Ａ変換
し表示器12に表示する。表示された画像を見て監視者は
被検物2の内部の検討を行なう。
【００１３】このように配列されたＭ列の配列Ｘ線セン
サ4を使用しベルトコンベア3の搬送方向と直交する方向
にＰ個（ＰはＰ≧2の整数）のブロックに分割して読み
出す方法は、1列を始めから終まで連続して読み出す方
法に対して読み取り速度はＭ×Ｐ倍となる。したがっ
て、ベルトコンベア3の搬送速度が非常に早いものに対
しては本実施例が有効となる。
サ4を使用しベルトコンベア3の搬送方向と直交する方向
にＰ個（ＰはＰ≧2の整数）のブロックに分割して読み
出す方法は、1列を始めから終まで連続して読み出す方
法に対して読み取り速度はＭ×Ｐ倍となる。したがっ
て、ベルトコンベア3の搬送速度が非常に早いものに対
しては本実施例が有効となる。
【００１４】
【発明の効果】ベルトコンベアの搬送方向にＭ列のＸ線
センサを配備し、搬送方向と直交する方向にＮ個の単位
センサを配列してなる配列状センサを用いたＸ線検査装
置において、ベルトコンベアの搬送方向に直交する方向
に対して配列状センサをＰ個のブロックに分割して読み
出すようにすると、Ｘ線検査装置の読み取り速度はベル
トコンベアの搬送方向に1列のＸ線センサ21を配備し、
Ｘ線センサの始めから終まで連続して読み出すＸ線検査
装置に対し、最大でM×Ｐ倍となり、被検物の移動速度
が上昇しても被検物がＸ線走査されない領域の発生を防
止する効果がある。
センサを配備し、搬送方向と直交する方向にＮ個の単位
センサを配列してなる配列状センサを用いたＸ線検査装
置において、ベルトコンベアの搬送方向に直交する方向
に対して配列状センサをＰ個のブロックに分割して読み
出すようにすると、Ｘ線検査装置の読み取り速度はベル
トコンベアの搬送方向に1列のＸ線センサ21を配備し、
Ｘ線センサの始めから終まで連続して読み出すＸ線検査
装置に対し、最大でM×Ｐ倍となり、被検物の移動速度
が上昇しても被検物がＸ線走査されない領域の発生を防
止する効果がある。
【図1】本発明によるＸ線検査装置の構成を示すブロッ
ク図。
ク図。
【図2】本発明によるＸ線検査装置の１列の配列状Ｘ線
センサの動作説明図。
センサの動作説明図。
【図3】本発明によるＸ線検査装置の4列の配列状Ｘ線セ
ンサの動作説明図。
ンサの動作説明図。
1 Ｘ線発生装置 2 被検物 3 ベルトコンベア 4 配列状Ｘ線センサ 5 ＭＰＸ回路 6 Ａ／Ｄ変換器 7 制御回路 8 パラレル／シリアル変換器 9 フレームメモリ 10 画像処理装置 12 表示器 21 1列目のＸ線センサ 22 2列目のＸ線センサ 23 3列目のＸ線センサ 24 4列目のＸ線センサ 30 異物 Ｓａ ベルトコンベア3の移動距離
Claims (1)
- 【請求項1】 ベルトコンベア上を搬送されてくる被検
物にＸ線を照射し、その透過線量をＸ線センサで計測
し、計測データを画像処理装置で画像データに変換して
表示器に表示して被検物内部を検査するＸ線検査装置に
おいて、前記Ｘ線センサを、ベルトコンベアの搬送方向
にＭ個（ＭはＭ≧1の整数）、ベルトコンベアの搬送方
向と直交する方向にＮ個（ＮはＮ≧2の整数）のＭ×Ｎ
個の単位センサをそれぞれ配列して成る配列状Ｘ線セン
サとし、前記配列状センサをベルトコンベアの搬送方向
と直交する方向へＰ個（ＰはＰ≧2の整数）のブロック
を形成すると共に計測時は各ブロック内の単位センサを
同時にベルトコンベアの搬送方向と直交する方向に順次
読み出す手段と、前記複数のブロック状センサの計測デ
ータを合成して単一画像を生成する手段とを設けたこと
を特徴とするＸ線検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11100516A JP2000292371A (ja) | 1999-04-07 | 1999-04-07 | Ｘ線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11100516A JP2000292371A (ja) | 1999-04-07 | 1999-04-07 | Ｘ線検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000292371A true JP2000292371A (ja) | 2000-10-20 |
Family
ID=14276127
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11100516A Pending JP2000292371A (ja) | 1999-04-07 | 1999-04-07 | Ｘ線検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000292371A (ja) |
Cited By (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| CN100406948C (zh) * | 2005-08-10 | 2008-07-30 | 三星电机株式会社 | 更薄的移动摄像机光学透镜系统和使用该系统的图像形成方法 |
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