JPS6333160Y2 - - Google Patents

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JPS6333160Y2
JPS6333160Y2 JP1980137391U JP13739180U JPS6333160Y2 JP S6333160 Y2 JPS6333160 Y2 JP S6333160Y2 JP 1980137391 U JP1980137391 U JP 1980137391U JP 13739180 U JP13739180 U JP 13739180U JP S6333160 Y2 JPS6333160 Y2 JP S6333160Y2
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JP
Japan
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inspected
roll
defect
rotation
light source
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JP1980137391U
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JPS5759353U (ja
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Priority to US06/594,430 priority patent/US4507564A/en
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は例えば熱間圧延鋼板や冷間圧延鋼板等
の被検査材の表面を検査する欠陥検査装置に関す
る。
本考案の目的とするところは、ロール疵による
欠陥とそれ以外の欠陥との峻別を容易にし、かつ
任意長さの被検査材の検査状況を展開図で表示し
系統的欠陥の明確化、被検査材全体の監視を容易
にする欠陥検査装置を提供するもである。
以下、本考案の一実施例について図面を参照し
て説明する。第１図は例えば圧延システムに適用
した一例であつて、１ａ，１ｂは圧延ロール、２
は圧延ロール１ａ，１ｂの圧接によつて圧延され
た圧延材としての被検査材、３はガイドロール、
４はガイドロール３を介して所定位置に移送する
被検査材２を巻取りロール５で巻取つて形成され
た巻装コイルを示す。６は圧延ロール１ａ，１ｂ
から繰り出された被検査材２の幅方向に光を照射
する光源であつて例えば螢光管のような棒状光源
を用いる。７は被検査材２の幅方向一端から他端
へ検出視野を走査しながらその被検査材２の表面
より反射された光源６の反射光を検出し電気信号
に変換する検出器である。この検出器７は例えば
CCD等を用いたテレビカメラ等を使用し、その
走査速度を任意に可変できるものが好適であり、
かつ一走査ラインの走査時間は圧延ロール１ａの
一回転時間と同期をとるか、少なくとも圧延ロー
ル１ａの一回転時間より短かいことを条件とす
る。８は波高弁別回路であつてここで波高弁別さ
れた信号はコイルメモリ９に一走査ライン相当の
信号ごとに整序されて格納される。このコイルメ
モリ９の書込みおよび読出し等の制御はメモリコ
ントロール１０で行なう。このメモリコントロー
ル１０は圧延ロール１ａに設けたパルス発生器１
１から発するパルス数から圧延ロール１ａの一回
転をとらえコイルメモリ９に格納するデータの行
送りを行ない、さらにパルス発生器１１からパル
スの到来しないことを検出してコイルメモリ９の
内容を読出す制御を行なう。１２はコイルメモリ
９から読出された内容を表示するビデオモニタで
ある。
次に、以上のように構成された欠陥検査装置の
作用を説明する。圧延ロール１ａ，１ｂによつて
圧延されて繰出された被検査材２はガイドロール
３を経て巻取りロール５で巻き取られるが、この
圧延ロール１ａ，１ｂとガイドロール３との中間
において被検査材２表面が光源６によつて幅方向
に照射される。この結果、光源６によつて照射さ
れている被検査材２の表面から反射光像が得られ
るので、これを検出器７により被検査材２幅方向
一端から他端へ予め定めた走査速度で走査しなが
ら受像し、さらに受像の後、１走査（１，２，…
Ｎ）毎にビデオ信号に変換して出力する。このビ
デオ信号は後続の波高弁別回路８によつてレベル
弁別され、例えばビデオ信号が弁別レベルより高
いとき“１”信号、低いとき“０”信号とする
と、波形弁別回路８からは第２図ａのようなロー
ル疵の欠陥信号○イおよびロール疵以外の欠陥信号
○ロを時系列で取り出すことができる。
一方、パルス発生器１１からは圧延ロール１ａ
の一回転毎に第２図ｂのようにＮ個のタイミン
グパルスが出るので、このパルスをもとにメモリ
コントロール１０は波形弁別回路８から出力する
第２図ａに示す１走査毎の欠陥出力を順次コイル
メモリ９へ格納していく。すなわち、被検査材２
の幅方向一端から他端へ走査されることにより得
られる欠陥信号は、第３図にａ，ｂで示すように
順次桁方向に格納されていく。そして、圧延ロー
ル一回転分の欠陥出力を一行とし、ロール一回
転毎に行を変えて格納することにより、被検査
材２の全部についてその欠陥出力をコイルメモリ
９に格納する。格納手段としては、例えば一回転
分つまり一行に相当する欠陥出力をシフトレジス
タに入れた後、Ｎ個目のパルスでメモリコントロ
ール１０はシフトレジスタから並列に読出して別
のレジスタに順次移し変えてもよく、或いはＮ個
目のパルスでコイルメモリ９の入力端を切換えて
一行相当分のレジスタに欠陥出力を順次格納する
ものでもよい。
このようにして任意長又は全長Ｄの被検査材２
の表面検査を行なつた後、メモリコントロール１
０によつてコイルメモリ９の内容を読出してビデ
オモニタ１２へ表示する。第３図はそのビデオモ
ニタ１２による表示例を示す図であつて、任意長
又は全長にわたる被検査材２の表面検査状態を展
開図として表示している。被検査材２の検査全長
Ｄはロール全回転数ｍでもある。ｄはロールの１
回転分の欠陥出力である。
従つて、以上のような構成によれば、圧延ロー
ル１ａ，１ｂの疵による欠陥信号○イは系統的に表
われるので、同欠陥信号○イとそれ以外の欠陥信号
○ロとの峻別が明確に分り、また被検査材２の任意
長又は全長Ｄがビデオモニタ１２に１回転毎の展
開図として表示されるため、欠陥個所や欠陥の傾
向を即座に把握でき、品質の評価もしやすい。さ
らに、ビデオモニタ１２の展開図から居ながらに
して被検査材全体の欠陥状況を迅速に監視でき
る。
なお、本考案は上記実施例に限定されず種々変
形実施できる。本装置は圧延材以外の板材の検査
も可能であり、また上記実施例では螢光管の如き
棒状光源を用いたが点光源を回転ミラーで走査し
てもよく、レーザ光によるスキヤンと受光素子と
の組合せたものでもよい。また放射線及び超音波
を用いた厚み計でも構成できる。さらに、被検査
材２の速度が遅ければ、コイルメモリ９を省いて
直接プリンタ等に印字することも可能である。こ
の場合の印字制御タイミングはパルス発生器１１
のパルスを使用する。従つて、上記実施例はビデ
オモニタ１２を用いたが、プリンタ装置や記録装
置であつてもよいことは言うまでもない。その
他、本考案はその要旨を逸脱しない範囲で種々変
形実施できる。
以上詳記したように本考案によれば、ロール疵
の欠陥とそれ以外の欠陥とを容易に峻別可能であ
り、さらに被検査材の全体が展開図として表示さ
れているため欠陥個所や欠陥傾向を迅速に把握で
き、品質の評価も容易である。また、製品の品質
を改善する点からも利用価値が高く、監視機能と
してもすぐれている欠陥検査装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本考案に係る欠陥検査装置の一実施例
を示す構成図、第２図ａ，ｂは欠陥出力とタイミ
ングパルスとの関係を示す図、第３図は第１図の
ビデオモニタによる表示例を示す図ある。 １ａ，１ｂ……圧延ローラ、２……被検査材、
４……巻装コイル、５……巻取りロール、６……
光源、７……検出器、８……波高弁別回路，コイ
ルメモリ、１０……メモリコントロール、１１…
…パルス発生器、１２……ビデオモニタ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. ロールから繰出される被検査材の表面の欠陥状
    態を検査する装置において、前記被検査材の幅方
    向に光を照射する光源と、この光源からの光照射
    によつて得られる被検査材表面からの反射光像
    を、前記被検査材の幅方向一端から他端方向へ走
    査しながら撮像する撮像装置と、この撮像装置か
    ら出力された１走査分の検査信号を所定の弁別レ
    ベルでレベル弁別して一つの欠陥信号を得る波高
    弁別回路と、前記ロールの回転軸に接続されロー
    ル１回転ごとにＮ個のパルスを発生するパルス発
    生器と、このパルス発生器から発生される各パル
    ス毎に前記波高弁別回路から出力される欠陥信号
    を順に桁方向に格納し、かつ、ロール１回転ごと
    に行を変えて格納するメモリ装置と、このメモリ
    装置に記憶された前記ロールの所定回転数分の桁
    行の内容を読出して展開図として表示する表示部
    とを備えたことを特徴とする欠陥検査装置。
JP1980137391U 1980-09-27 1980-09-27 Expired JPS6333160Y2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1980137391U JPS6333160Y2 (ja) 1980-09-27 1980-09-27
DE19813138071 DE3138071A1 (de) 1980-09-27 1981-09-24 Oberflaechenfehlerpruefvorrichtung
US06/594,430 US4507564A (en) 1980-09-27 1984-03-29 Surface defect detecting apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1980137391U JPS6333160Y2 (ja) 1980-09-27 1980-09-27

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5759353U JPS5759353U (ja) 1982-04-08
JPS6333160Y2 true JPS6333160Y2 (ja) 1988-09-05

Family

ID=15197577

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1980137391U Expired JPS6333160Y2 (ja) 1980-09-27 1980-09-27

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4507564A (ja)
JP (1) JPS6333160Y2 (ja)
DE (1) DE3138071A1 (ja)

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Also Published As

Publication number Publication date
JPS5759353U (ja) 1982-04-08
DE3138071C2 (ja) 1987-07-02
US4507564A (en) 1985-03-26
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