JP6274938B2 - X線検査装置 - Google Patents

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Description

本発明は、肉、魚、加工食品、医薬品等の被検査物中に混入した異物を検出するX線検査装置に関し、特に、検出素子列を搬送方向に複数段備えるX線検査装置に関するものである。
一般に、X線検査装置は、搬送路上を所定間隔で順次搬送されてくる各品種の被検査物(例えば、肉、魚、加工食品、医薬品など)にX線発生器からX線を照射し、被検査物を透過したX線の透過量を検出することで、被検査物中の異物(金属、ガラス、石、骨など)の有無や欠品の有無などを検査するようになっている。
この種のX線検査装置には、ライン状に検出素子を有するX線センサを被検査物の搬送方向に複数本併設し、複数のX線センサからの検出信号を合成することにより、検査精度を向上させるようにしたものが従来知られている(例えば、特許文献1参照)。
特開2011−242374号公報
ここで、従来のX線検査装置は、スリットの開口部をX線を通過させることでX線の照射範囲を制限しており、X線センサの周辺の近傍にのみX線が照射されるようにスリットの開口面積等が設定されている。
従来のX線検査装置では、当初からの装置全体の機械誤差によって、スリットにより設定されたX線照射領域の外部にX線センサの一部がはみ出てしまい、X線センサにX線が均一に照射されないことがあった。
また、X線管内部のターゲット温度ドリフトによる照射範囲の移動等によって、X線照射領域の外側にX線センサの一部がはみ出てしまうことがあった。特に、検出データの加算平均化処理等を行うものでは、X線センサに正しくX線が照射されていない場合、加算平均化処理による効果が低減してしまう。
このため、X線センサによるX線の検出状態を確認してX線管の位置等を調整する必要がある。
しかしながら、特許文献1に記載されたX線検査装置は、合成等の画像処理を施された後のX線画像だけを表示しているため、X線センサの検出状態を確認することができないという問題があった。
そこで、本発明は、前述のような従来の問題を解決するためになされたもので、X線センサのX線検出状態を表示することで、正しい検出状態となるように調整することができるX線検査装置を提供することを目的としている。
本発明に係るX線検査装置は、搬送路の搬送面上を搬送される被検査物にX線を照射するX線管(31)と、前記被検査物の搬送方向(X方向)の平面上で搬送方向に直交する主走査方向(Y方向)に直線状に配置された複数の検出素子からなる検出素子列を前記搬送方向に複数段有し、前記X線の受光量に応じた輝度データを出力するX線センサ(51)と、前記X線センサにより出力される輝度データに画像処理を施す画像処理部(44)と、前記画像処理部により出力される画像処理済データに基づいて前記被検査物の良否判定を行う判定部(48)と、前記画像処理済データまたは前記判定部による良否判定結果の少なくとも一方を表示可能な表示器(5)と、前記搬送面上を前記被検査物が通過していないときの前記X線センサのX線の検出状態を前記表示器に表示させるX線検出状態表示制御部と、を備え、前記表示制御部は、前記X線センサから出力される輝度データの前記検出素子の輝度値を、前記検出素子の配置に対応させて、前記表示器に表示させることを特徴とする。
このため、利用者は、検出素子の配置に対応させて検出器に表示される検出素子の輝度値を見ることにより、均等に全ての検出素子がX線を検出しているか否かを確認することができる。また、どの検出素子がX線を検出していないかを確認することができるので、X線管の位置調整の方向を把握することができる。したがって、X線センサのX線検出状態を表示することで、正しい検出状態となるように調整することができる。
また、本発明に係るX線検査装置は、前記X線検出状態表示制御部は、所定の基準検出素子列の各検出素子の輝度値に対する他の残りの検出素子列の各検出素子の輝度値の差分または割合を演算し、算出された差分または割合を、前記検出素子の配置に対応させて、前記表示器に表示させることを特徴とする。
これにより、X線照射領域がX線センサに対して搬送方向にズレているような場合に、輝度値が他と異なる検出素子を容易に把握することができる。
また、本発明に係るX線検査装置は、前記X線検出状態表示制御部は、互いに隣接する複数の検出素子を含む検出素子区分における、最大輝度値と最小輝度値との差分、または最大輝度値に対する最小輝度値の割合を、前記検出素子区分の代表輝度値として演算し、前記代表輝度値を、前記検出素子の配置に対応させて、前記表示器に表示させることを特徴とする。
これにより、X線照射領域がX線センサに対して回転方向にズレているような場合に、輝度値が他と異なる検出素子を容易に把握することができる。
また、本発明に係るX線検査装置は、前記X線検出状態表示制御部は、前記輝度値に応じた濃淡階調を付して、前記輝度値を前記表示器に表示させることを特徴とする。
これにより、輝度値が他と異なる検出素子を視覚的に容易に把握することができる。
また、本発明に係るX線検査装置は、前記X線検出状態表示制御部は、前記輝度値に応じた色彩を付して、前記輝度値を前記表示器に表示させることを特徴とする。
これにより、輝度値が他と異なる検出素子を視覚的に容易に把握することができる。
また、本発明に係るX線検査装置は、前記X線検出状態表示制御部は、前記画像処理済データと同時に、前記輝度値を前記表示器に表示させることを特徴とする。
これにより、画像処理済データと各検出素子の輝度値を比較し易くなるので、輝度値が他と異なる検出素子が画像処理済データに与える影響度等を確認することができる。
本発明は、X線センサのX線検出状態を表示することで、正しい検出状態となるように調整することができる。
本発明の一実施の形態に係るX線検査装置の概略構成を示す斜視図である。 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置の側面および内部構成を示す図である。 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置のX線センサの構成を示す図である。 (a)はX線センサが正しくX線照射領域内に位置する状態を示す図であり、(b)、(c)はX線センサがX線照射領域からはみ出ている状態を示す図である。 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置のX線検出状態表示制御部により表示される各検出素子の輝度値を示す図である。 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置のX線検出状態表示制御部により表示される各検出素子の輝度値を示す図である。 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置のX線検出状態表示制御部により表示される各検出素子の輝度値を示す図である。 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置のX線検出状態表示制御部により表示される各検出素子の輝度値の差分を示す図である。 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置のX線検出状態表示制御部により表示される各検出素子の輝度値の差分を示す図である。 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置のX線検出状態表示制御部が、輝度値に濃淡階調を付して表示する例を示す図である。 本発明の一実施の形態に係るX線検査装置のX線検出状態表示制御部が、輝度値と画像処理済データを同時に表示する例を示す図である。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。まず構成について説明する。図1に示すように、X線検査装置1は、搬送部2と検査部3とを筐体4の内部に備え、表示器5を筐体4の前面上部に備えている。
搬送部2は、被検査物Wを所定間隔をおいて順次搬送するものである。この搬送部2は、例えば筐体4の内部で水平に配置されたベルトコンベアにより構成されている。搬送部2は、図1に示す駆動モータ6の駆動により予め設定された搬送速度で搬入口7から搬入された被検査物Wを搬出口8側(図中X方向)に向けて搬送面としてのベルト面2a上を搬送させるようになっている。
筐体4の内部においてベルト面2a上を搬入口7から搬出口8まで貫通する空間は搬送路21を形成している。
検査部3は、順次搬送される被検査物Wに対し、搬送路21の途中の検査空間22においてX線を照射するとともに被検査物Wを透過するX線を検出するものであり、搬送路21の途中の検査空間22の上方に所定高さ離隔して配置されたX線発生器9と、搬送部2内にX線発生器9と対向して配置されたX線検出器10を備えている。
X線発生器9は、金属製の箱体からなるX線ユニット33の内部に円筒状のX線源としてのX線管31を備えた構成となっており、X線管31は、X線ユニット33内で絶縁油または絶縁樹脂等により絶縁されている。X線ユニット33は、高電圧発生部を含んだモノタンク型であってもよく、または、高電圧発生部を別ユニットとした構成であってもよい。
X線管31は、その陰極からの電子ビームを陽極のターゲットに照射させてX線を生成している。X線管31は、その長手方向が被検査物Wの搬送方向(X方向)となるよう配置されている。X線管31により生成されたX線は、下方のX線検出器10に向けて、検査空間22(図1、図2参照)の上面に固定されたスリット60の開口部62を通過することにより、略三角形状のスクリーン状となって搬送方向(X方向)を横切るように照射されるようになっている。
図2に示すように、搬送路21内の天井部21aには、搬送方向(X方向)に沿って複数個所にX線遮蔽用の遮蔽カーテン16が吊り下げ配置されている。遮蔽カーテン16は、X線を遮蔽する鉛粉を混入したゴムシートをのれん状(上部が繋がっており下部が帯状に分割された状態)に加工したものから構成されており、検査空間22から搬送路21を介してX線が筐体4の外部に漏えいすることを防止するものである。
遮蔽カーテン16は、本実施の形態では、搬入口7と検査空間22との間、および検査空間22と搬出口8との間にそれぞれ2枚ずつ設けられており、1つの遮蔽カーテン16が被検査物Wと接触して弾性変形して隙間が生じた場合でも、他の遮蔽カーテン16がX線を遮蔽するので漏えい基準量を超えることなくX線の漏えいを防止できるようになっている。
なお、検査空間22の上面にはスリット60が配置され、検査空間22の下面、側面は、X線の遮蔽のために筐体4等により略閉塞されている。搬送路21における遮蔽カーテン16、スリット60、および筐体4等により囲まれた内側の空間が検査空間22を構成している。
図3に示すように、X線検出器10は、X線の検出部としてのX線センサ51を備えている。X線センサ51は、幅方向、すなわち搬送される被検査物Wの搬送方向(X方向)の平面上で搬送方向と直交するY方向に複数の検出素子sを一直線上に配置するとともに、この複数の検出素子sからなる検出素子列を、搬送方向(X方向)に複数段並べたものから構成されている。
X線センサ51の検出素子sは、例えば、X線を受けて光(蛍光)を発するシンチレータと、このシンチレータからの光を光電変換して出力するフォトダイオード等の受光素子とから構成されている。
X線センサ51の検出素子sは、他の例として、テルル化カドミウム(CdTe)のような半導体を用いて、X線を直接的に効率良く電気信号に変換するように構成されていてもよい。
X線センサ51には、被検査物Wを透過したX線が入射するようになっている。X線センサ51の検出素子sは、各検出素子sに入射するX線の強度に応じた検出データを出力するようになっている。X線センサ51の検出素子sから出力される検出データは、輝度(X線検出量を示すデータ)を表すアナログデータ信号またはデジタルデータである。
本実施形態では、X線センサ51は、TDI(Time Delay Integration:時間遅延積分)センサとして構成されている。
ここで、TDIセンサは、検出素子列の段数分だけ被検査物Wを繰り返し露光・撮影することで時間遅延積分した合成データを1ライン分出力することができるものであり、1段の検出素子列のみを有する通常のラインセンサと比較して、高解像度かつ明るく鮮明な画像を得ることができるものである。
X線センサ51は、TDI読み出しモードとフレーム読み出しモードとの間で切り換え可能に構成されており、読み出しモードに対応した検出データ(2次元画像データ)を出力するようになっている。
X線センサ51は、TDI読み出しモード時には、複数の検出素子列の段ごとに各検出素子sから得た検出データを時間遅延積分により合成して合成データを1ラインX線画像として出力するようになっている。
また、X線センサ51は、フレーム読み出しモード時には、時間遅延積分を行わずに検出素子列の検出データを検出素子列の素子数および段数に対応する大きさのフレームの2次元X線画像として出力するようになっている。
X線センサ51からフレーム読み出しモード時に出力される検出データは、アナログ信号またはデジタル信号の輝度データ(検出量を示すデータ)である。
なお、TDI方式のセンサとしては、例えば、検出素子列を被検査物Wの搬送方向に128段備えた仕様のものを用いることができるが、図3では、説明を容易にするため、10個の検出素子sからなる検出素子列Lを被検査物Wの搬送方向に6列備えた構成を例示している。
X線センサ51から出力される検出データは、後述する総合制御部40(図2参照)に入力され、TDI読み出しモードのときは、被検査物Wへの異物混入の有無の判定に用いられ、フレーム読み出しモードのときは、検出素子sへのX線の照射状態の確認や、X線管31の位置調整等に用いられる。
X線検査装置1は、X線検査装置1の総合的な制御を行う総合制御部40を備えており、この総合制御部40は、記憶部43と、画像処理部44と、判定部48とを有している。
記憶部43は、データを高速に記憶および読み出しが可能なメモリから構成されており、X線センサ51から出力された検出データを一時的に記憶するようになっている。
画像処理部44は、X線センサ51の各検出素子からの検出データ(輝度を表すデータ)に対して合成処理、フィルタ処理等の画像処理を施し、合成処理済データ、フィルタ処理済データを、画像処理済データとして出力するようになっている。更に、画像処理部44は、X線センサ51からの検出データに対して、被検査物Wに吸収されたX線吸収量を示すデータに対数変換等の変換を行って、吸収量が大きいほど濃度が高くなるような濃度画像データを画像処理済データとして作成して出力するようになっている。
判定部48は、画像処理部44からの画像処理済データ(例えば、濃度画像データ)に対して被検査物Wと異物との判別を行うことで、異物の混入の有無を判定と良否判定を行うようになっている。判定部48による良否判定結果は表示器5に表示されるようになっている。
このように、判定部48は、X線センサ51からTDI読み出しモードで出力された検出データから生成された画像処理済データに対して異物の混入の有無を判定している。
また、総合制御部40は、詳細は後述するが、X線検出状態表示制御部46と、駆動制御部82とを有している。X線検出状態表示制御部46は、X線センサ51のX線の検出状態に関する表示制御を行うようになっている。また、駆動制御部82は、後述するY軸駆動モータ112およびX軸駆動モータ115の駆動制御を行うようになっている。
また、X線検査装置1は、設定操作部49を備えており、この設定操作部49は、筐体4の前面上部の表示器5の隣に配置されており、X線管31のX線出力の設定、被検査物Wの搬送速度の設定、検査部3の検査パラメータの設定、動作モードの設定等が行われるようになっている。なお、設定操作部49と表示器5は、タッチパネルのような一体型であってもよい。
ここで、X線センサ51へのX線の照射状態は、X線ユニット33とスリット60とX線センサ51との位置関係によって異なり、これらの3つの部材の位置関係が正しく配置されていないと、X線センサ51の全体に均等にX線が照射されない。
このため、図4(a)に示すように、スリット60を通過したX線のX線照射領域61内にX線センサ51が配置されるように、X線ユニット33とスリット60とX線センサ51との位置関係が設定される必要がある。
X線ユニット33の位置が不適切な場合は、図4(b)、図4(c)に示すように、全ての検出素子sがX線照射領域61の内部に位置していないため、全ての検出素子sが均一にX線を検出することができない。
そこで、本実施形態では、総合制御部40には、X線検出状態表示制御部46が更に設けられており、このX線検出状態表示制御部46は、ベルト面上を被検査物Wが通過していないときのX線センサ51のX線の検出状態を表示器5に表示させるようになっている。
具体的には、X線検出状態表示制御部46は、図5に示すように、X線センサ51から出力される輝度データの検出素子の輝度値を、各検出素子sの配置に対応させて、表示器5に表示させるようになっている。
図5において、表示器5には、各検出素子sからの輝度値が、検出素子sの配置と同じ配置で、0〜255までの256段階(8ビット)で表示されている。図5は、図4(a)のようにX線照射領域61内にX線センサ51が正しく配置されている場合の検出状態を表しており、全ての検出素子からの輝度値が150で等しくなっている。
また、図6は、図4(b)のようにX線照射領域61の延在方向がX線センサ51の延在方向に対して傾いている場合の検出状態を表しており、1列目の6番から10番の検出素子sの輝度値、および6列目の1番から5番の検出素子sの輝度値が150より小さくなっており、残りの検出素子の輝度値が150で等しくなっている。
また、図7は、図4(c)のようにX線照射領域61がX線センサ51に対してX方向(搬送方向下流側)にズレている場合の検出状態を表しており、1列目の全ての検出素子sの輝度値が50となっており、残りの検出素子の輝度値が150になっている。
また、X線検出状態表示制御部46は、所定の基準検出素子列の各検出素子の輝度値に対する他の残りの検出素子列の各検出素子sの輝度値の差分または割合を演算し、算出された差分の輝度値または割合を、検出素子sの配置に対応させて、表示器5に表示させるようになっている。
具体的には、X線の検出状態が図7のようになっているときに差分を演算して表示する場合、3列目を所定の基準検出素子列とした場合、他の残りの検出素子列との間で輝度値の差分を演算すると、差分の輝度値は、図8に示すように、一列目の全ての輝度値が−100となって表示器5に表示される。
これにより、X線照射領域がX線センサに対して搬送方向にズレているような場合に、輝度値が他と異なる検出素子sを容易に把握することができる。
また、X線検出状態表示制御部46は、互いに隣接する複数の検出素子sを含む検出素子区分における、最大輝度値と最小輝度値との差分、または最大輝度値に対する最小輝度値の割合を、その検出素子区分の代表輝度値として演算し、算出した代表輝度値を、検出素子sの配置に対応させて、表示器に表示させるようになっている。
具体的には、X線の検出状態が図6のようになっているときに差分を演算して表示する場合、各列において1番目から3番目の検出素子sをその列の第1区分とし、4番目から7番目の検出素子sをその列の第2区分とし、8番目から10番目の検出素子sをその列の第3区分とする。すなわち、各列の検出素子sを、第1区分、第2区分、第3区分の3つの検出素子区分に分けている。この場合、例えば、1列目の検出素子列の第1区分の輝度値は、150、150、150で等しいため輝度値の差分は0である。また、1列目の検出素子列の第2区分の輝度値は150、150、130、120であり、最大輝度値150と最小輝度値120との差分は30である。同様に、1列目の検出素子列の第3区分の輝度値は100、70、50であり、最大輝度値100と最小輝度値50との差分は50である。
したがって、各検出素子区分の最大輝度値と最小輝度値との差分を演算した結果は、図9に示すものとなる。なお、最大輝度値に対する最小輝度値の割合も、図9の差分の表示と同様の態様で表示される。これにより、X線照射領域がX線センサに対して回転方向にズレているような場合に、輝度値が他と異なる検出素子sを容易に把握することができる。
また、X線検出状態表示制御部46は、図5〜図9のように輝度値を数値で表示したが、数値の代わりに、または数値と併用して、輝度値に応じた濃淡階調または色彩を付して表示器5に表示させることが好ましい。図10では、図6と同様の輝度値が、各検出素子sの輝度値に応じて、輝度値が小さいほど濃くなるように、濃淡階調を付して表示されている。これにより、輝度値が他と異なる検出素子を視覚的に容易に把握することができる。
また、図11に示すように、X線検出状態表示制御部46は、輝度値を画像処理済データと同時に表示器5に表示させてもよい。図11において、表示器5の表示領域上部には、図6と同様の輝度値が表示され、表示器5の表示領域下部には、画像処理済データとしての濃度画像が表示されている。この濃度画像は、X線センサ51上に被検査物W等が載置されていないときに、X線センサ51からTDI読み出しモードで出力される検出データを受けて画像処理部44が出力した画像処理済データである。これにより、画像処理済データと各検出素子の輝度値を比較し易くなるので、輝度値が他と異なる検出素子sが画像処理済データに与える影響度等を確認することができる。
本実施の形態では、X線管31を収納するX線ユニット33は、後述する位置調整機構によりX軸上(搬送部2の搬送方向)およびY軸上(搬送部2の幅方向)で移動可能となっている。
図2に示すように、本実施の形態では、X線検査装置1は、X線ユニット33をX軸、Y軸上で変位可能に支持する支持機構100を備えている。支持機構100は、X線ユニット33を上面で支持する第1ステージ101と、第1ステージ101を下方から支持する第2ステージ102と、第2ステージ102を下方から支持する第3ステージ103とを備えている。
第1ステージ101は、Y軸上をスライド移動可能に第2ステージ102に支持されている。第2ステージ102は、X軸上をスライド移動可能に第3ステージ103に支持されている。
また、X線検査装置1は、第1ステージ101をY軸方向で位置調整するY軸駆動モータ112と、第2ステージ102をX軸方向で位置調整するX軸駆動モータ115を備えている。
Y軸駆動モータ112、X軸駆動モータ115はステッピングモータから構成されている。駆動制御部82は、Y軸駆動モータ112、X軸駆動モータ115をパルス駆動するようになっている。
駆動制御部82は、X線検出状態表示制御部46からのX線検出状態に基づいて、Y軸駆動モータ112、X軸駆動モータ115を駆動し、X線ユニット33の位置を調整している。なお、X線ユニット33の位置の調整は手動で行ってもよい。また、X線ユニット33の位置を調整する代わりに、スリット60の位置をX軸方向に調整してもよい。
なお、本実施形態では、X線センサ51がTDIラインセンサから構成されている場合を例示したが、X線センサは、1本の検出素子列を有するX線ラインセンサを搬送方向に複数本備えるものから構成されていてもよい。すなわち、検出素子列を搬送方向に複数段備える構成であればよい。
以上のように、本実施の形態に係るX線検査装置1において、X線検出状態表示制御部46は、ベルト面上を被検査物Wが通過していないときのX線センサ51のX線の検出状態を表示器5に表示させるようになっており、検出状態として、X線センサ51から出力される輝度データの検出素子の輝度値を、各検出素子sの配置に対応させて、表示器5に表示させるようになっている。
この構成により、利用者は、検出素子sの配置に対応させて表示器5に表示される検出素子sの輝度値を見ることにより、均等に全ての検出素子sがX線を検出しているか否かを確認することができる。
また、どの検出素子sがX線を検出していないかを確認することができるので、X線管31の位置調整の方向を把握することができる。したがって、X線センサ51のX線検出状態を表示することで、正しい検出状態となるように調整することができる。
また、X線検出状態表示制御部46は、所定の基準検出素子列と他の残りの検出素子列との間で輝度値の差分を演算し、差分の輝度値を、検出素子sの配置に対応させて、表示器5に表示させるようになっている。
これにより、X線照射領域がX線センサに対して搬送方向にズレているような場合に、輝度値が他と異なる検出素子sを容易に把握することができる。
また、X線検出状態表示制御部46は、互いに隣接する複数の検出素子sを含む検出素子区分における、輝度値の差分の最大値または輝度値の割合の最大値を検出素子区分の代表輝度値として演算し、代表輝度値を、検出素子sの配置に対応させて、表示器に表示させるようになっている。
これにより、X線照射領域がX線センサに対して回転方向にズレているような場合に、輝度値が他と異なる検出素子sを容易に把握することができる。
また、X線検出状態表示制御部46は、輝度値に応じた濃淡階調または色彩を付して表示器5に表示させる。これにより、輝度値が他と異なる検出素子を視覚的に容易に把握することができる。また、X線検出状態表示制御部46は、画像処理済データと同時に、輝度値を表示器5に表示させてもよい。
これにより、画像処理済データを各検出素子の輝度値と比較し易くなるので、輝度値が他と異なる検出素子sが画像処理済データに与える影響度等を確認することができる。
以上のように、本発明に係るX線検査装置は、X線センサのX線検出状態を表示することで、正しい検出状態となるように調整することができるという効果を有し、検出素子列を搬送方向に複数段備えるX線検査装置として有用である。
1 X線検査装置
2a ベルト面(搬送面)
5 表示器
9 X線発生器
10 X線検出器
31 X線管
33 X線ユニット
44 画像処理部
46 X線検出状態表示制御部
48 判定部
49 設定操作部
51 X線センサ

Claims (6)

  1. 搬送路の搬送面上を搬送される被検査物にX線を照射するX線管(31)と、
    前記被検査物の搬送方向(X方向)の平面上で搬送方向に直交する主走査方向(Y方向)に直線状に配置された複数の検出素子からなる検出素子列を前記搬送方向に複数段有し、前記X線の受光量に応じた輝度データを出力するX線センサ(51)と、
    前記X線センサにより出力される輝度データに画像処理を施す画像処理部(44)と、
    前記画像処理部により出力される画像処理済データに基づいて前記被検査物の良否判定を行う判定部(48)と、
    前記画像処理済データまたは前記判定部による良否判定結果の少なくとも一方を表示可能な表示器(5)と、
    前記搬送面上を前記被検査物が通過していないときの前記X線センサのX線の検出状態を前記表示器に表示させるX線検出状態表示制御部(46)と、を備え、
    前記表示制御部は、前記X線センサから出力される輝度データの前記検出素子の輝度値を、前記検出素子の配置に対応させて、前記表示器に表示させることを特徴とするX線検査装置。
  2. 前記X線検出状態表示制御部は、所定の基準検出素子列の各検出素子の輝度値に対する他の残りの検出素子列の各検出素子の輝度値の差分または割合を演算し、算出された差分または割合を、前記検出素子の配置に対応させて、前記表示器に表示させることを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
  3. 前記X線検出状態表示制御部は、互いに隣接する複数の検出素子を含む検出素子区分における、最大輝度値と最小輝度値との差分、または最大輝度値に対する最小輝度値の割合を、前記検出素子区分の代表輝度値として演算し、前記代表輝度値を、前記検出素子の配置に対応させて、前記表示器に表示させることを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
  4. 前記X線検出状態表示制御部は、前記輝度値に応じた濃淡階調を付して、前記輝度値を前記表示器に表示させることを特徴とする請求項1〜請求項3の何れかに記載のX線検査装置。
  5. 前記X線検出状態表示制御部は、前記輝度値に応じた色彩を付して、前記輝度値を前記表示器に表示させることを特徴とする請求項1〜請求項3の何れかに記載のX線検査装置。
  6. 前記X線検出状態表示制御部は、前記画像処理済データと同時に、前記輝度値を前記表示器に表示させることを特徴とする請求項1〜請求項5の何れかに記載のX線検査装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6979185B2 (ja) * 2016-12-12 2021-12-08 株式会社 システムスクエア X線検査装置
JP6625082B2 (ja) * 2017-03-09 2019-12-25 アンリツインフィビス株式会社 X線検査装置
JP7123702B2 (ja) * 2018-08-31 2022-08-23 アンリツ株式会社 X線検査装置
CN112027516A (zh) * 2018-10-16 2020-12-04 宋海燕 一种进出口用的带安检功能的传输设备
JP7328667B2 (ja) * 2019-03-19 2023-08-17 株式会社イシダ 検査装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4509352B2 (ja) * 1999-11-05 2010-07-21 株式会社東芝 カラーレントゲン方法とカラーレントゲン装置、およびそれに用いられるカラー発光シート
JP2002272727A (ja) * 2001-03-05 2002-09-24 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc X線ct装置の調整方法およびx線ct装置
US7344304B2 (en) * 2005-06-14 2008-03-18 Varian Medical Systems Technologies, Inc. Self-alignment of radiographic imaging system
JP4630305B2 (ja) * 2007-05-10 2011-02-09 名古屋電機工業株式会社 X線検査装置、x線検査方法およびx線検査装置の制御プログラム
JP5829087B2 (ja) * 2011-09-15 2015-12-09 株式会社イシダ X線検査装置
US9846244B2 (en) * 2011-09-30 2017-12-19 Analogic Corporation Photon count correction
JP5860305B2 (ja) * 2012-02-27 2016-02-16 アンリツインフィビス株式会社 X線異物検出装置

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