JP2000275679A - 液晶表示装置 - Google Patents

液晶表示装置

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JP2000275679A
JP2000275679A JP8368699A JP8368699A JP2000275679A JP 2000275679 A JP2000275679 A JP 2000275679A JP 8368699 A JP8368699 A JP 8368699A JP 8368699 A JP8368699 A JP 8368699A JP 2000275679 A JP2000275679 A JP 2000275679A
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liquid crystal
film
crystal display
display device
substrate
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Masaru Takahata
勝 高畠
Yuichi Harano
雄一 原野
Takahiro Ochiai
孝洋 落合
Toshiteru Kaneko
寿輝 金子
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】ゲート電極にアルミニウム膜を使用する場合の
形成プロセスの簡素化と低コスト化を図ると共に、耐圧
特性を向上させる。 【解決手段】画素電極と、走査信号を印加するゲート電
極と映像信号を印加するドレイン電極と、画素電極に接
続するソース電極を有する薄膜トランジスタを形成した
一方の基板と、少なくともカラーフィルタを有する他方
の基板とからなり、前記一方の基板と他方の基板の間に
液晶層を封入した液晶表示装置の前記ゲート電極2をア
ルミニウム−ネオジム合金膜2Aの上層に高融点金属膜
2Bを積層した積層構造で形成した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置に係
り、特にプロセスを簡略化してゲート電極の絶縁耐性を
向上させて低コストかつ高信頼性とした液晶表示装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】液晶表示装置は、基本的には少なくとも
一方が透明なガラス等からなる二枚の基板の間に液晶層
を挟持し、上記基板に形成した画素形成用の各種電極に
選択的に電圧を印加して所定画素の点灯と消灯を行う型
式(所謂、単純マトリクス型)と、上記各種電極と画素
選択用のスイッチング素子を形成してこのスイッチング
素子を選択することにより所定画素の点灯と消灯を行う
型式(所謂、薄膜トランジスタ(TFT)をスイッチン
グ素子として用いるアクティブマトリクス型)とに分類
される。
【0003】特に、後者のアクティブマトリクス型の液
晶表示装置は、コントラスト性能、高速表示性能等から
液晶表示装置の主流となっている。
【0004】このアクティブマトリクス型液晶表示装置
は、一方の基板に形成した電極と他方の基板に形成した
電極との間に液晶層の配向方向を変えるための電界を印
加する縦電界方式が一般的である。
【0005】図5は従来の縦電界方式アクティブマトリ
クス型液晶表示装置の画素部分の構成例を説明する要部
断面模式図である。この液晶表示装置では、下側ガラス
基板であるアクティブマトリクス基板1に形成した薄膜
トランジスタTFTで駆動される画素電極7と、上側ガ
ラス基板であるカラーフィルタ基板1’に形成した対向
電極10の間に形成される電界(縦電界)で液晶層12
を構成する液晶組成物の分子の配向方向を変化させてア
クティブマトリクス基板1側からカラーフィルタ基板
1’側への光の透過率を変えることで画像表示を行う。
【0006】すなわち、アクティブマトリクス基板1の
内面には、ゲート電極2、ゲート絶縁膜(SiN等)
3、a−Si等の半導体層4、およびドレイン電極5、
ソース電極6で構成される薄膜トランジスタTFTが形
成されている。
【0007】画素領域にはITO(インジウム・チン・
オキサイド)からなる画素電極7が形成されており、こ
の画素電極7にソース電極6が接続してある。また、符
号8は保護膜(SiN等)であり、薄膜トランジスタT
FTと画素電極7の一部を覆って形成されている。
【0008】一方、カラーフィルタ基板1’の内面に
は、ブラックマトリクス(図示せず)で区画された3色
(赤、緑、青)のカラーフィルタ層9が形成され、この
カラーフィルタ層9の上層に対向電極10が形成されて
いる。なお、ゲート電極にはゲート配線が一体的に形成
されている。
【0009】また、アクティブマトリクス基板およびカ
ラーフィルタ基板の液晶層12との界面には配向膜が形
成されているが図示は省略してある。
【0010】このような液晶表示装置においては、その
ゲート電極2の形成材料としてクロム(Cr)またはモ
リブデン(Mo)、もしくはこれらの積層材料を用い、
フォトリソ技法でパターニングしている。なお、ゲート
電極2は図示しないゲート配線と同層、同材料で形成さ
れるものであり、以下では「ゲート電極」はゲート配線
も含むものとする。
【0011】しかし、画面サイズが大きな液晶表示装置
では、駆動端から終端までの配線長が長くなって駆動波
形が歪むのを抑制するために低抵抗のアルミニウム材料
を用いてゲート電極を構成している。
【0012】アルミニウムを用いたゲート電極について
は、例えば、AM−LCD94 Digest of
Technical Paper,pp.188〜19
1に記載された積層構造としたものが知られている。
【0013】図6は上記文献に開示されたゲート電極の
構造を説明する模式断面図である。この構造では、ガラ
ス基板1上に形成するゲート電極2を、モリブデン−タ
ンタル/モリブデン/アルミニウム積層構造(Mo−T
a/Mo/Al)としている。
【0014】すなわち、このゲート電極の形成プロセス
は、ガラス基板1に上にアルミニウム(Al)膜21
を、さらにモリブデン(Mo)膜22を連続して成膜
し、一回のフォトリソ工程(1ホト)でモリブデン(M
o)膜22とアルミニウム(Al)膜21を順次パター
ニング加工する。その後、タンタル/モリブデン(Ta
/Mo)膜23を成膜し、1ホトでこのタンタル/モリ
ブデン23をパターニング加工する。
【0015】図中、タンタル/モリブデン(Ta/M
o)膜23はアルミニウム(Al)膜21のヒロックを
抑えるための所謂キャップメタル層である。
【0016】また、ゲート電極にアルミニウム(Al)
膜を用いた第2の従来技術として、例えば、電子材料別
冊「液晶ディスプレイ技術 1997年」(pp.72
〜75)を挙げることができる。
【0017】図7は上記の文献に開示されたゲート電極
の構造を説明する模式断面図である。この構造では、ガ
ラス基板1上に形成するゲート電極2を、超高真空雰囲
気中で純アルミニウム(Al)膜24を成膜し、さらに
連続してその上層にキャップメタル層25を成膜する。
このキャップメタル層25の材料としてはチタンが用い
られる。
【0018】そして、上記純アルミニウム(Al)膜2
4とキャップメタル層25の積層構造を1ホトで一括に
ドライエッチング加工でパターニングする。
【0019】ゲート電極にアルミニウム(Al)膜を用
いた第3の従来技術として、特開平5−184747号
公報に開示されたアルミニウム(Al)−ネオジム(N
d)合金(Al−Nd)を用いたものがある。
【0020】図8は上記の公報に開示されたゲート電極
の構造を説明する模式断面図である。この構造では、ガ
ラス基板1上にスパッタリングによってAl−Nd膜2
6を300nmの厚さに成膜し、幅20nmにパターニ
ング加工して300°Cの熱処理を施してゲート電極を
形成したものである。
【0021】このゲート電極について、その断面を走査
型電子顕微鏡で観察したところ、図示したような高さ
0.15μmを越えるヒロック27が観察された。
【0022】さらに、Al−Nd膜をパターニングした
基板に窒化シリコン膜(SiN)を被覆し、その上に金
属膜を成膜して絶縁耐圧特性を調査したところ、十分な
耐圧特性が得られないことが分かった。
【0023】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の技術のう
ち、図6で説明したものでは、ゲート電極にアルミニウ
ム膜を使用してパターニングする場合、2回のフォトリ
ソ工程を要し、パターニングのプロセスが複雑になると
いう問題がある。
【0024】また、図7で説明した従来技術では、成膜
時の超高真空成膜装置やドライエッチング装置が必要と
なるため、製造コストが高くなるという問題がある。
【0025】そして、図8で説明した従来技術はその耐
圧特性が不十分であることは前記したとおりである。
【0026】本発明の目的は、上記従来技術の諸問題を
解消し、ゲート電極にアルミニウム膜を使用する場合の
形成プロセスの簡素化と低コスト化を図ると共に、耐圧
特性を向上させた液晶表示装置を提供することにある。
【0027】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、ゲート電極として基本的にアルミニウム
膜を用い、このアルミニウム膜としてネオジムNd元素
を添加したアルミニウム:アルミニウム(Al)−ネオ
ジム(Nd)合金(以下、Al−Ndとも表記する)膜
とモリブデン(Mo)、クロム(Cr)、クロム−モリ
ブデン(Cr−Mo)合金、またはタンタル(Ta)等
の高融点金属膜の積層構造とし、この積層構造を1ホト
プロセスでパターニングすることを特徴とする。
【0028】本発明の典型的な構成を記述すれば、次の
とおりである。すなわち、 (1)画素電極と、走査信号を印加するゲート電極と映
像信号を印加するドレイン電極と、前記画素電極に接続
するソース電極を有する薄膜トランジスタを形成した一
方の基板と、少なくともカラーフィルタを有する他方の
基板とからなり、前記一方の基板と他方の基板の間に液
晶層を封入してなり、前記ゲート電極を、ネオジム元素
を添加したアルミニウム:アルミニウム−ネオジム(A
l−Nd)合金膜の上層に高融点金属膜を積層した積層
構造とした。
【0029】(2)(1)における前記高融点金属とし
て、モリブデン(Mo)、クロム(Cr)、クロム−モ
リブデン合金(Cr−Mo)、またはタンタル(Ta)
の何れを用いた。
【0030】なお、上記アルミニウム−ネオジム(Al
−Nd)合金膜とモリブデン(Mo)、クロム(C
r)、クロム−モリブデン合金(Cr−Mo)、または
タンタル(Ta)等の高融点金属の積層構造のパターニ
ングを一回のウエットエッチングプロセス(フォトリソ
プロセス)で加工する。
【0031】この構成により、ヒロックが無く、絶縁耐
圧特性を向上したゲート電極(およびゲート配線)が形
成でき、また安価なフォトリソプロセスの一回の工程で
所要のパターニング加工を実現できる。
【0032】本発明は、上記の構成に限定されるもので
はなく、本発明の技術思想を逸脱することなく種々の変
更が可能である。
【0033】
【発明の実施の形態】以下、上記した本発明の実施の形
態につき、実施例の図面を参照して詳細に説明する。
【0034】図1は本発明による液晶表示装置の一実施
例を説明するゲート電極の模式断面図である。本実施例
では、ガラス基板(アクティブマトリクス基板)1上に
アルミニウム−ネオジム合金膜(ネオジム元素を添加し
たアルミニウム合金膜:Al−Nd膜)2Aと高融点金
属膜モリブデン(Mo)膜2Bの積層構造でゲート電極
2を形成した。高融点金属膜モリブデン(Mo)膜2B
は、前記したキャップメタル層としての機能を有する。
【0035】このゲート電極2は、先ずAl−Nd膜2
AとMo膜2Bを順次スパッタリングで成膜し、その
後、一回のフォトプロセス、すなわち上記Al−Nd膜
2AとMo膜2Bの積層膜にフォトレジストを塗布し、
所定パターンの露光マスクを用いて露光し現像する一連
のウエットプロセスを施し、上記高融点金属であるMo
膜2BとAl−Nd膜2Aを順次エッチングして得られ
る。
【0036】なお、高融点金属として、クロム(C
r)、クロム−モリブデン合金(Cr−Mo)、または
タンタル(Ta)等も同様にウエットエッチングが可能
な金属であり、上記のMoに代えて用いることができ
る。
【0037】この実施例でも、ヒロックは発生するが、
その大きさは極めて小さいので、耐圧特性を劣化させる
ことはない。
【0038】図2は図1で説明した本発明による液晶表
示装置の一実施例におけるヒロック発生を具体的に説明
する模式断面図である。ガラス基板1にAl−Nd膜2
Aを厚さ300nmに、その上層にMo膜2Bを厚さ3
0nmに連続スパッタリング成膜した後、1ホトプロセ
スで幅20μmにパターニング加工する。その後、30
0°Cで熱処理し、その断面を走査型電子顕微鏡で観察
した。
【0039】図2に示したようにヒロック2Cが認めら
れたが、このヒロック2Cの高さは0.1μm以下であ
った。また、Al−Nd膜2Aの側面に、所謂サイドヒ
ロックの発生は認められなかった。
【0040】そして、この基板に、膜厚300nmの窒
化シリコン(SiN)膜を被覆し、その上に金属層を成
膜して絶縁耐圧特性を試験したところ、耐圧特性は10
MV/cm以上あり、極めて良好な絶縁耐圧特性を持つ
ことが実証された。
【0041】このように、Al−Nd膜2Aの上層に高
融点金属であるMo膜2Bを積層することによって、ヒ
ロックが発生しても、その高さが抑制され、結果として
絶縁耐圧特性が向上する。
【0042】以上のように、本実施例によれば、ヒロッ
クが発生しても極めて小さく、ゲート電極(ゲート配
線)の耐圧が向上し、信頼性の高い液晶表示装置が得ら
れる。また、高融点金属であるMo膜2B、Al−Nd
膜2Aはウエットエッチングが可能な金属であるため、
安価なウエットエッチング設備が使用でき、液晶表示装
置の製造コストを低減できる。
【0043】図3は本発明による液晶表示装置の画素部
分の構成例を説明するアクティブマスク基板側の要部断
面模式図である。この液晶表示装置では、そのゲート電
極(ゲート配線)に前記図1〜図2で説明したAl−N
d膜2AとMo膜2Bの積層構造を用いている。
【0044】図3において、1はガラス基板(アクティ
ブマトリクス基板)、2はゲート電極、2AはAl−N
d膜、2BはMo膜、3はSiN等からなるゲート絶縁
膜、4はアモルファスシリコン(a−Si)等の半導体
層、5はドレイン電極、6はソース電極、7は画素電極
(ITO等の透明電極)、8はSiN等からなる薄膜ト
ランジスタTFTの保護膜である。
【0045】この液晶表示装置は、そのゲート電極およ
びゲート配線を基本的にアルミニウム(Al−Nd合
金)で形成するため、大画面、高精細化に対応でき、ア
ルミニウムを用いているにも係わらず、ゲート電極(ゲ
ート配線)のパターニングプロセスが簡略化できるので
液晶表示装置の製造コストは安価となる。
【0046】なお、上記実施例は所謂縦電界方式の液晶
表示装置におけるゲート電極(ゲート配線)を例とした
が、本発明はこれに限るものではなく、同様の電極ある
いは配線にアルミニウムまたはアルミニウム合金を用い
る場合にも同様に適用でき、また他の方式の液晶表示装
置に対しても応用可能である。
【0047】図4は本発明による液晶表示装置の一構造
例を説明する分解斜視図であって、液晶表示装置(以
下、液晶表示パネル,回路基板,バックライト、その他
の構成部材を一体化したモジュール:MDLと称する)
の具体的構造を説明するものである。
【0048】同図において、SHDは金属板からなるシ
ールドケース(メタルフレームとも言う)、WDは表示
窓、INS1〜3は絶縁シート、PCB1〜3は回路基
板(PCB1はドレイン側回路基板:映像信号線駆動用
回路基板、PCB2はゲート側回路基板、PCB3はイ
ンターフェース回路基板)、JN1〜3は回路基板PC
B1〜3同士を電気的に接続するジョイナ、TCP1,
TCP2はテープキャリアパッケージ、PNLは液晶表
示パネル、GCはゴムクッション、ILSは遮光スペー
サ、PRSはプリズムシート、SPSは拡散シート、G
LBは導光板、RFSは反射シート、MCAは一体化成
形により形成された下側ケース(モールドフレーム)、
MOはMCAの開口、LPは蛍光管、LPCはランプケ
ーブル、GBは蛍光管LPを支持するゴムブッシュ、B
ATは両面粘着テープ、BLは蛍光管や導光板等からな
るバックライトを示し、図示の配置関係で拡散板部材を
積み重ねて液晶表示モジュールMDLが組立てられる。
【0049】液晶表示モジュールMDLは、下側ケース
MCAとシールドケースSHDの2種の収納・保持部材
を有し、絶縁シートINS1〜3、回路基板PCB1〜
3、液晶表示パネルPNLを収納固定した金属製のシー
ルドケースSHDと、蛍光管LP、導光板GLB、プリ
ズムシートPRS等からなるバックライトBLを収納し
た下側ケースMCAとを合体させてなる。
【0050】映像信号線駆動用回路基板PCB1には液
晶表示パネルPNLの各画素を駆動するための集積回路
チップが搭載され、またインターフェース回路基板PC
B3には外部ホストからの映像信号の受入れ、タイミン
グ信号等の制御信号を受け入れる集積回路チップ、およ
びタイミングを加工してクロック信号を生成するタイミ
ングコンバータTCON等が搭載される。
【0051】上記タイミングコンバータで生成されたク
ロック信号はインターフェース回路基板PCB3および
映像信号線駆動用回路基板PCB1に敷設されたクロッ
ク信号ラインCLLを介して映像信号線駆動用回路基板
PCB1に搭載された集積回路チップに供給される。
【0052】インターフェース回路基板PCB3および
映像信号線駆動用回路基板PCB1は多層配線基板であ
り、上記クロック信号ラインCLLはインターフェース
回路基板PCB3および映像信号線駆動用回路基板PC
B1の内層配線として形成される。
【0053】なお、液晶表示パネルPNLにはTFTを
駆動するためのドレイン側回路基板PCB1、ゲート側
回路基板PCB2およびインターフェース回路基板PC
B3がテープキャリアパッケージTCP1,TCP2は
で接続され、各回路基板間はジョイナJN1,2,3で
接続されている。
【0054】この液晶表示装置における液晶表示パネル
PNLは前記実施例で説明した構造のゲート電極を有
し、低コストで高信頼性、かつ高精細な画像表示が得ら
れる。
【0055】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ゲート電極(ゲート配線)に1ホトプロセスでパターニ
ングされたアルミニウム−ネオジム合金膜とモリブデ
ン、クロム、クロム−モリブデン合金、タンタル等の高
融点金属膜の積層構造を用いるため、パターニングプロ
セスが簡略化される。
【0056】上層に積層したモリブデン等の高融点金属
はアルミニウム−ネオジム合金膜のヒロックを抑制する
機能を有し、その結果、ゲート絶縁耐圧が向上する。
【0057】さらに、上記アルミニウム−ネオジム合金
膜とモリブデン、クロム、クロム−モリブデン合金、タ
ンタル等の高融点金属膜は残渣のないウエットエッチン
グが可能であるため、安価なウエットエッチング設備が
使用でき、全体として低コストの液晶表示装置を提供す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による液晶表示装置の一実施例を説明す
るゲート電極の模式断面図である。
【図2】図1で説明した本発明による液晶表示装置の一
実施例におけるヒロック発生を具体的に説明する模式断
面図である。
【図3】本発明による液晶表示装置の画素部分の構成例
を説明するアクティブマスク基板側の要部断面模式図で
ある。
【図4】本発明による液晶表示装置の一構造例を説明す
る分解斜視図である。
【図5】従来の縦電界方式アクティブマトリクス型液晶
表示装置の画素部分の構成例を説明する要部断面模式図
である。
【図6】従来の液晶表示装置におけるゲート電極の構造
を説明する模式断面図である。
【図7】従来の液晶表示装置におけるゲート電極の他の
構造を説明する模式断面図である。
【図8】従来の液晶表示装置におけるゲート電極のさら
に他の構造を説明する模式断面図である。
【符号の説明】
1 ガラス基板(アクティブマトリクス基板) 2 ゲート電極 2A アルミニウム−ネオジム合金膜 2B 高融点金属膜 2C ヒロック 3 ゲート絶縁膜 4 半導体層 5 ドレイン電極 6 ソース電極 7 画素電極 8 薄膜トランジスタTFTの保護膜。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 落合 孝洋 千葉県茂原市早野3300番地 株式会社日立 製作所電子デバイス事業部内 (72)発明者 金子 寿輝 千葉県茂原市早野3300番地 株式会社日立 製作所電子デバイス事業部内 Fターム(参考) 2H092 JA26 JA29 JA38 JA39 JA40 JA42 JA44 JB13 JB22 JB24 JB32 JB33 JB51 JB57 JB63 JB69 KA05 KA07 KA12 KA16 KA18 KB24 MA05 MA08 MA14 MA15 MA16 MA18 MA19 MA20 MA27 MA32 MA35 MA37 MA41 NA14 NA25 NA27 NA28

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】画素電極と、走査信号を印加するゲート電
    極と映像信号を印加するドレイン電極と、前記画素電極
    に接続するソース電極を有する薄膜トランジスタを形成
    した一方の基板と、少なくともカラーフィルタを有する
    他方の基板とからなり、前記一方の基板と他方の基板の
    間に液晶層を封入した液晶表示装置であって、 前記ゲート電極が、アルミニウム−ネオジム合金膜の上
    層に高融点金属膜を積層した積層構造であることを特徴
    とする液晶表示装置。
  2. 【請求項2】前記高融点金属がモリブデン、クロム、ク
    ロム−モリブデン合金、またはタンタルの何れかである
    ことを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002341367A (ja) * 2001-05-18 2002-11-27 Nec Corp 液晶表示装置及びその製造方法
US6731364B2 (en) * 2001-09-28 2004-05-04 Hitachi, Ltd. Liquid crystal display device
JP2012103698A (ja) * 2011-11-15 2012-05-31 Getner Foundation Llc 液晶表示装置及びその製造方法
JP2019168596A (ja) * 2018-03-23 2019-10-03 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
JP2022109334A (ja) * 2018-03-23 2022-07-27 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002341367A (ja) * 2001-05-18 2002-11-27 Nec Corp 液晶表示装置及びその製造方法
US6894311B2 (en) 2001-05-18 2005-05-17 Nec Lcd Technologies, Ltd. Active matrix substrate for liquid crystal display utilizing interconnection lines formed from multilayered films that include an aluminum-neodymium alloy layer
US6731364B2 (en) * 2001-09-28 2004-05-04 Hitachi, Ltd. Liquid crystal display device
JP2012103698A (ja) * 2011-11-15 2012-05-31 Getner Foundation Llc 液晶表示装置及びその製造方法
JP2019168596A (ja) * 2018-03-23 2019-10-03 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
JP7083675B2 (ja) 2018-03-23 2022-06-13 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
JP2022109334A (ja) * 2018-03-23 2022-07-27 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
JP7218467B2 (ja) 2018-03-23 2023-02-06 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置

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