JP2000273169A - 多層配線用層間絶縁膜及びそれに用いる樹脂の製造方法 - Google Patents

多層配線用層間絶縁膜及びそれに用いる樹脂の製造方法

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JP2000273169A
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Masanori Tokuhiro
真紀 徳広
Hidenori Saito
英紀 斎藤
Takeshi Watanabe
毅 渡邉
Ayako Yoshihashi
彩子 吉橋
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
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  • Macromolecular Compounds Obtained By Forming Nitrogen-Containing Linkages In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 耐熱性、吸水率ともに電気特性に優れた半導
体の多層配線用層間絶縁膜とその製造方法を提供する。 【解決手段】 4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリ
デンジフェニル−1,1’−ジカルボン酸と式(2)で
表される化合物群から選ばれる1種類の化合物との反応
により得られる生成物を精製してなるジカルボン酸ジエ
ステルと、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシ
フェニル)ヘキサフルオロプロパンとを反応させること
により得られる式(1)で表される構造を有する含フッ
素ポリヒドロキシアミド樹脂の製造方法。 【化1】 ただし、mは10〜500の整数を示す。 【化2】 前記含フッ素ポリヒドロキシアミド樹脂を加熱脱水閉環
させる製造方法により得られる耐熱性、吸水率とともに
電気特性に優れた式(3)で表される構造を有する含フ
ッ素ポリベンゾオキサゾール樹脂からなる多層配線用層
間絶縁膜。 【化3】

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、含フッ素ポリベン
ゾオキサゾール樹脂からなる半導体の多層配線用層間絶
縁膜及びそれに用いる樹脂の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】化学気相成長法などで形成した二酸化シ
リコンを用いた無機絶縁膜が層間絶縁膜用材料として検
討されているが、誘電率が高く、また高い平坦性を必要
とする多層配線構造の層間絶縁膜としては性能は十分で
あるとは言えなかった。
【0003】それと比較して有機絶縁膜は高い平坦性を
有し、誘電率も低い。有機絶縁膜材料としてポリイミド
樹脂が盛んに検討されているが、吸湿性が高く、層間絶
縁膜材料として十分な性能とは言えなかった。
【0004】また、ポリベンゾオキサゾール樹脂につい
ても同様に検討されているが、その製造方法には、ジカ
ルボン酸ジクロリドとビス(アミノフェノール)化合物
とから得られるポリヒドロキシアミド樹脂を加熱処理し
て脱水閉環させる酸クロリド法があるが、合成途中で発
生する塩素イオンが電子材料向け用途には好ましくな
い。前記の塩素イオンが不純物として混入するおそれが
ないものとして、ジシクロヘキシルカルボジイミド(以
下DCCと略)を用い、ジカルボン酸とビス(アミノフ
ェノール)化合物とから直接ポリヒドロキシアミド樹脂
を得るDCC法があるが、2,2−ビス(3−アミノ−
4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパンのよ
うな反応性の低い原料を使用すると得られるポリヒドロ
キシアミド樹脂の分子量は低いものになり、十分な耐熱
性が得られない。
【0005】また、特公平7−55984号公報に示さ
れている4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリデンジ
フェニル−1,1’−ジカルボン酸のフェニルエステル
やアルキルエステルと2,2−ビス(3−アミノ−4−
ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパンとから得
られるポリヒドロキシアミド樹脂の分子量も上がらず、
加工性や耐熱性に問題がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、前記
従来技術の問題点を解決し、耐熱性、吸水率とともに電
気特性に優れた半導体の多層配線用層間絶縁膜とその製
造方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、従来の多
層配線用層間絶縁膜材料の持つ問題点を解決すべく鋭意
努力した結果、式(2)で表される化合物群のうち1種
類の化合物と4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリデ
ンジフェニル−1,1’−ジカルボン酸との反応により
得られる生成物を精製して得られるジカルボン酸ジエス
テルと、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフ
ェニル)ヘキサフルオロプロパンとを反応させることに
より得られる式(1)で表される構造の含フッ素ポリヒ
ドロキシアミド樹脂の製造方法、
【0008】
【化1】 (ただし、mは10〜500の整数を示す。)
【0009】
【化2】
【0010】前記製造方法で得られる式(1)で表され
る構造の含フッ素ポリヒドロキシアミド樹脂を加熱脱水
閉環させる製造方法により得られる耐水性、吸水率とも
に電気特性に優れた式(3)で表される構造の含フッ素
ポリベンゾオキサゾール樹脂を見出し、本発明を完成さ
せるに至った。
【化3】 (ただし、nは10〜500の整数を示す。)
【0011】
【発明の実施の形態】本発明の含フッ素ポリヒドロキシ
アミド樹脂は、ジアミン成分とジカルボン酸成分との反
応により製造されるが、ジアミン成分としては、2,2
−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサ
フルオロプロパンを用いる。
【0012】また、ジカルボン酸成分としては、4,
4’−ヘキサフルオロイソプロピリデンジフェニル−
1,1’−ジカルボン酸と、前記式(2)で表される化
合物群、例えば1−ヒドロキシベンゾトリアゾール、4
−ニトロフェノール、2−メルカプトベンゾオキサゾー
ル等から選ばれる1種類の化合物との反応から得られる
ジカルボン酸ジエステルを用いる。
【0013】本発明に用いるジカルボン酸ジエステルの
合成では4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリデンジ
フェニル−1,1’−ジカルボン酸と、前記式(2)で
表される化合物群から選ばれる1種類の化合物とを1,
4−ジオキサン、酢酸エチル、テトラヒドロフラン、ジ
メチルホルムアミドなどの脱水有機溶媒に溶解させ、−
10〜5℃でジシクロヘキシルカルボジイミド等の縮合
剤を添加し、その後15〜25℃で18〜24時間反応
させる。
【0014】この反応液を濾過し、濾液を濃縮して、ジ
エチルエーテル、石油エーテル、ヘキサンなどの貧溶媒
を加え、析出する生成物を濾過により回収し、イソプロ
ピルアルコールを混合して30〜60分間攪拌する。生
成物を濾別し、減圧乾燥して、ジカルボン酸ジエステル
を得られる。この精製工程は、高分子量のポリヒドロキ
シアミド樹脂を得るために必要である。
【0015】本発明の含フッ素ポリヒドロキシアミド樹
脂の製造は前記ジカルボン酸ジエステルと前記ジアミン
成分をテトラヒドロフラン、N−メチル−2−ピロリド
ン、γ−ブチロラクトンなどの脱水有機溶媒中、30〜
90℃で24〜36時間反応させることにより行われ
る。4−ニトロフェノール、ペンタフルオロフェノール
からなるジカルボン酸ジエステルを用いる場合には、ト
リエチルアミン、N,N−ジメチルアミノベンゼン、ピ
リジンなどの酸受容剤下、反応させることが効果的であ
る。
【0016】本発明の含フッ素ポリベンゾオキサゾール
樹脂は、前記製造方法により得られる含フッ素ポリヒド
ロキシアミド樹脂を加熱脱水閉環することにより行われ
る。
【0017】本発明の多層配線用層間絶縁膜は、前記式
(1)で表される含フッ素ポリヒドロキシアミド樹脂を
有機溶媒に溶かし5〜40%のワニスを作製し、スピン
ナーを用いた回転塗布、スプレーコーターを用いた噴霧
塗布、浸漬、印刷、ロールコーティング等を用いて塗布
・成膜後、好ましくは300〜500℃で乾燥し、含フ
ッ素ポリヒドロキシアミド樹脂を加熱脱水閉環させるこ
とによって製造できる。
【0018】この方法に使用できる有機溶媒は、一般に
公知の非水系有機溶媒が使用できる。具体的にはN,N
−ジメチルホルムアミド、N−メチル−2−ピロリド
ン、ジメチルスルホキシド、γ−ブチロラクトン等を例
示できる。必要によりシランカップリング剤等の密着
剤、フッ素系等のレベリング剤など、各種添加剤を使用
することができる。
【0018】本発明は、前記の製造方法により得られる
含フッ素ポリベンゾオキサゾール樹脂からなることを特
徴とする半導体の多層配線用層間絶縁膜である。
【0019】
【実施例】以下、実施例により本発明を詳しく説明する
が、これに限定されるものではない。
【0020】実施例1 (1)ジカルボン酸ジエステルの合成 4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリデンジフェニル
−1,1’−ジカルボン酸39.22gならびに1−ヒ
ドロキシベンゾトリアゾール27.02gを脱水テトラ
ヒドロフラン(THF)400mlと脱水N,N−ジメ
チルホルムアミド(DMF)15mlの混合溶媒に溶解
し、この溶液を0〜5℃に冷却した。液温を0〜5℃に
保ちながら、ジシクロヘキシルカルボジイミド(DCC
と略)溶液(DCC22.41.27gを脱水THF8
0mlに溶かしたもの)を滴下し、その後室温で24時
間攪拌した。攪拌を停止した後、反応液を濾過し、濾液
を濃縮して、ヘキサン200mlを加えた。析出した生
成物を濾過により回収し、イソプロピルアルコール(I
PA)200ml混合して30分攪拌した。生成物を濾
別し、減圧乾燥して、ジカルボン酸ジエステル47.6
2gを得た。
【0021】(2)ポリヒドロキシルアミド樹脂の合成 得られたジカルボン酸ジエステル9.40g、2,2−
ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフ
ルオロプロパン5.50g、γ−ブチロラクトン44.
7gを100ml三口フラスコに入れ、窒素雰囲気下、
室温で30分攪拌した。その後、液温60℃で10時
間、75℃で24時間攪拌し、室温まで冷却した。反応
液を濾過後、濾液を水/IPA=5/2の混合溶媒70
0mlに滴下し、ポリヒドロキシアミド樹脂の沈殿を得
た。乾燥後、GPC(ポリスチレン換算)により分子量
を測定したところ、重量平均分子量が2万1千であっ
た。
【0022】(3)ポリベンゾオキサゾール樹脂フィル
ムの作製と評価 得られたポリヒドロキシアミド樹脂をNMPに溶解し濃
度30wt%の溶液になるよう調製した。得られた溶液
をスピンナーを用いて回転数800rpmで10秒、次
いで2000rpmで10秒の条件でウエハー上に塗布
し、120℃で10分、150℃で1時間、350℃で
3時間オーブンを用いて乾燥させた。この乾燥により加
熱脱水閉環し、褐色の強靱な含フッ素ポリベンゾオキサ
ゾール樹脂のフィルムを得た。この樹脂について赤外吸
収スペクトルにより1628cm−1のオキサゾール環
のC=N伸縮に由来するピークを確認した。熱重量分析
(窒素中、昇温速度10℃/分)により熱分解開始温度
を測定したところ、約480℃であった。フィルムの誘
電率は1MHzで2.5であり、吸水率は、JISK6
911に準拠し、23℃/24時間で0.1%であっ
た。
【0023】実施例2 (1)ジカルボン酸ジエステルの合成 4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリデンジフェニル
−1,1’−ジカルボン酸19.61gと4−ニトロフ
ェノール15.30gを脱水THF100mlに溶か
し、この混合液を0〜5℃に保ちながら、ジシクロヘキ
シルカルボジイミド(DCCと略)溶液(DCC22.
70gを脱水THF50mlに溶かしたもの)を滴下
し、その後室温で24時間攪拌した。反応液を濾過し、
濾液を濃縮して、ヘキサン200mlを加えた。析出した
生成物を濾過により回収し、IPA150mlと混合し
て1時間攪拌した。生成物を濾別し、減圧乾燥して、ジ
カルボン酸ジエステル22.20gを得た。
【0024】(2)ポリヒドロキシルアミド樹脂の合成 得られたジカルボン酸ジエステル10.15g、2,2
−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサ
フルオロプロパン5.86g、ピリジン2.6ml、γ
−ブチロラクトンを200ml三口フラスコに入れ、窒
素雰囲気下、室温で30分攪拌した。その後、液温60
℃で8時間、80℃で7時間、90℃で18時間攪拌
し、室温まで冷却した。反応液を濾過後、濾液を水/I
PA=5/1の混合溶媒1000mlに滴下し、ポリヒ
ドロキシアミド樹脂の沈殿を濾過した。樹脂を水/IP
A=5/1の混合溶媒1000mlと混合し、室温で1
時間攪拌した後、吸引濾過した。樹脂を乾燥後、GPC
(ポリスチレン換算)により分子量を測定したところ、
重量平均分子量が1万8千であった。
【0025】(3)ポリベンゾオキサゾール樹脂フィル
ムの作製と評価 実施例1と同様の方法で褐色の強靱な含フッ素ポリベン
ゾオキサゾール樹脂のフィルムを得た。この樹脂につい
て赤外吸収スペクトルにより1628cm−1のオキサ
ゾール環のC=N伸縮に由来するピークを確認した。熱
重量分析(窒素中、昇温速度10℃/分)により熱分解
開始温度を測定したところ、約480℃であった。フィ
ルムの誘電率は1MHzで2.5であり、吸水率はJI
S K6911に準拠し、23℃/24時間で0.1%
であった。
【0026】比較例1 (1)ポリヒドロキシルアミド樹脂の合成 4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリデンジフェニル
−1,1’−ジカルボン酸3.92gと1−ヒドロキシ
ベンゾトリアゾール2.70gをNMP56.6gに溶
かし、0〜5℃でDCC溶液(DCC4.12gをNM
P4.7gに溶かしたもの)を滴下した後、室温で24
時間攪拌した。
【0027】この反応液に2,2−ビス(3−アミノ−
4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン4.
07gをNMP6.95gを使って添加し、窒素雰囲気
下75℃で24時間反応させた。反応液を濾過すること
により生成したジシクロヘキシルウレア(DCUと略)
を取り除き、濾液を水182ml/IPA45.5ml
の混合溶媒中に滴下し、ポリヒドロキシアミド樹脂の沈
殿を得た。乾燥後GPC(ポリスチレン換算)により分
子量を測定したところ、重量平均分子量で7千であっ
た。
【0028】(2)ポリベンゾオキサゾール樹脂フィル
ムの作製と評価 得られたポリヒドロキシアミド樹脂をNMPに溶かし濃
度30wt%溶液になるように調製した。得られた溶液
をスピナーを用いて回転数200rpmで10秒、10
00rpmで10秒の条件でウエハー上に塗布し、12
0℃で10分、150℃で1時間、325℃で3時間オ
ーブンを用いて乾燥させて、熱重量分析(空気中、昇温
速度10℃/分)により熱分解開始温度を測定したとこ
ろ、約400℃で、誘電率は1MHzで2.6であっ
た。これにより得られたものは褐色透明の塗膜にはなっ
たが、非常に脆くフィルムとしては実用的でないもので
あった。
【0029】比較例2 (1)ポリヒドロキシルアミド樹脂の合成 2,4,5,6−テトラフルオロイソフタル酸2.38
gと2−メルカプトベンゾオキサゾール3.02gをN
MPに溶かしながら、DCC溶液(DCC4.12gを
NMP4.7gに溶かしたもの)を0〜5℃で滴下した
後、室温で24時間攪拌した。反応液に2,2−ビス
(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオ
ロプロパン4.07gをNMP6.95gを使って添加
し、窒素雰囲気下75℃で24時間反応させた。反応液
を濾過することにより生成したDCUを取り除き、濾液
を水182ml/IPA45.5mlの混合溶媒中に投
入し、黄色のポリヒドロキシアミド樹脂の沈殿を得た。
乾燥後GPC(ポリスチレン換算)により分子量を測定
したところ、重量平均分子量で1万3千であった。
【0030】(2)ポリベンゾオキサゾール樹脂フィル
ムの作製と評価 このポリヒドロキシアミド樹脂をNMPに溶かし、濃度
25wt%の溶液になるように調製した。得られた溶液
をスピンナーにより回転数800rpmで10秒、次い
で2000rpmで10秒の条件でウエハー上に塗布
し、オーブンを用いて120℃で10分、150℃で1
時間、350℃で3時間乾燥させた。この乾燥により加
熱閉環し、黄色透明の強靱なフィルムを得た。熱重量分
析(空気中、昇温速度10℃/分)により熱分解開始温
度を測定したところ、約385℃であった。フィルムの
誘電率は1MHzで2.8であり、吸水率はJIS K
6911に準拠し、23℃/24時間で0.4%であっ
た。
【0031】
【発明の効果】本発明の手段により、4,4’−ヘキサ
フルオロイソプロピリデンジフェニル−1,1’−ジカ
ルボン酸と一般式(2)で表される化合物群のうち1種
類の化合物とを反応させて得られるジカルボン酸ジエス
テルを精製し、このジカルボン酸ジエステルと2,2−
ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフ
ルオロプロパンとを反応させて合成される高分子量の含
フッ素ポリベンゾオキサゾール樹脂からなるフィルムは
耐熱性、機械強度、電気的特性の点で従来のもので得ら
れなかった優れた性能を有しており半導体用層間絶縁膜
に使用可能な工業価値の高いものである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉橋 彩子 東京都品川区東品川2丁目5番8号 住友 ベークライト株式会社内 Fターム(参考) 4J001 DA01 DB04 DC14 DD04 DD05 EA04 EB44 EB56 EC66 GA11 JA07 JB38 4J043 PA04 PC145 QB33 RA05 SA06 SA54 SA72 TA02 TA41 TA52 TA55 TA60 TA76 UA131 UA132 UB061 UB062 ZA12 ZA21 ZA41 ZB11 ZB47 5F058 AA04 AC05 AC10 AF04 AG01 AH01 AH02

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリ
    デンジフェニル−1,1’−ジカルボン酸と式(2)で
    表される化合物群から選ばれる1種類の化合物との反応
    により得られる生成物を精製してなるジカルボン酸ジエ
    ステルと、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキ
    シフェニル)ヘキサフルオロプロパンとを反応させるこ
    とを特徴とする、式(1)で表される構造を有する含フ
    ッ素ポリヒドロキシアミド樹脂の製造方法。 【化1】 (ただし、mは10〜500の整数を示す。) 【化2】
  2. 【請求項2】 請求項1記載の含フッ素ポリヒドロキシ
    アミド樹脂を加熱脱水閉環させることを特徴とする、式
    (3)で表される構造を有する含フッ素ポリベンゾオキ
    サゾール樹脂の製造方法。 【化3】 (ただし、nは10〜500の整数を示す。)
  3. 【請求項3】 請求項2記載の製造方法により得られる
    式(3)で表される構造の含フッ素ポリベンゾオキサゾ
    ール樹脂からなることを特徴とする半導体の多層配線用
    層間絶縁膜。
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