JP2000262953A - 塗布装置 - Google Patents

塗布装置

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JP2000262953A
JP2000262953A JP7416299A JP7416299A JP2000262953A JP 2000262953 A JP2000262953 A JP 2000262953A JP 7416299 A JP7416299 A JP 7416299A JP 7416299 A JP7416299 A JP 7416299A JP 2000262953 A JP2000262953 A JP 2000262953A
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JP
Japan
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coating
coating head
tip
vacuum chamber
head
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Application number
JP7416299A
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English (en)
Inventor
Shinsuke Takahashi
伸輔 高橋
Makoto Kashiwatani
誠 柏谷
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 塗布ヘッドの先端の欠け・摩耗を防止してス
ジの引き金になる異物付着を抑制すると同時に、当該塗
布ヘッドの先端に異物そのものが付着し難いような塗布
装置を提供すること。 【解決手段】 連続的に走行する可撓性支持体20に、
WC−Co、平均粒径3〜6ミクロンの超硬素材により
製作された塗布ヘッドを押し付けて、当該塗布ヘッドの
スリットから押出される塗布液を少なくとも一層塗布す
るように構成されたエクストルージョン型の塗布装置1
0に関する。前記塗布ヘッドの先端部11,12又は前
記スリットの内面13,14の少なくとも一方が、硬質
カーボン膜によって覆われている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、塗布装置、特に磁
気記録媒体の製造に好適な塗布装置に関する。さらに詳
しくは、連続的に走行する可撓性支持体上に塗布ヘッド
を押し付けてスリットから押出する塗布液を塗布するよ
うに構成された塗布装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、写真感光材料や磁気記録媒体等の
製造工程においては、可撓性支持体上に所望の塗布液を
塗着する塗布工程がある。この塗布液は、その用途に応
じて種々の液組成のものがあり、例えば写真感光材料に
おける感光乳剤層、下塗層、保護層、バック層等の塗布
液、磁気記録媒体における磁性層、下塗層、保護層、潤
滑剤層等の塗布液等を挙げることができる。これらの塗
布液は、それぞれの必須成分、バインダー及び必要に応
じて種々の添加物を含んだ水性及び有機溶剤溶液等であ
る。
【0003】このような塗布液を可撓性支持体表面に塗
布する方法として、従来から例えばロールコート法、グ
ラビアコート法、ロールコートプラスドクタ法、エクス
トルージョン型塗布方法、スライドコート等の種々の塗
布方法が行われている。そして、近年においては磁性塗
布液の塗布にはエクストルージョン型塗布ヘッドを用い
た塗布方法が多用されている。エクストルージョン型塗
布ヘッドを用いた代表的な方法は、周知のごとく可撓性
支持体に、塗布ヘッドを押し付けて、当該塗布ヘッドの
スリットから押出される塗布液を薄くかつ均一に塗布す
る塗布方法である。
【0004】上述のようなエクストルージョン型塗布ヘ
ッドによる塗布を行うにあたって、解決すべき課題がい
くつか知られている。すなわち、塗布ヘッドの先端部の
摩耗と異物付着による塗布層表面に発生するスジ発生の
問題である。前者の対策としては、塗布ヘッドの母材と
してごく硬く、耐摩耗性に優れる素材を用いることで対
応し、後者の対策としては、塗布ヘッドの先端部周辺を
高精度に機械加工することによって平滑な表面を得るこ
とで対応するのが通常である。
【0005】上述した課題を解決するため、特開平2−
265673号に塗布ヘッドのスリット先端部に特徴を
有する塗布装置が開示されている。すなわち、当該塗布
装置は、塗布ヘッドの少なくともスリット先端部を形成
する素材として超硬素材を用い、かつ、超硬の粒径を細
かいものにすることで、塗布ヘッド先端の欠けを極小に
抑え、スジ発生を防止するようにしている。
【0006】また、上述した課題を解決するために、特
開平4−145977号には、ドクターエッジ面の下流
端に特徴を有する塗布装置が開示されている。すなわ
ち、可撓性支持体表面とドクターエッジ面の下流端との
間隙を、前記ドクターエッジ面の上流側と前記可撓性支
持表面との間隙よりも大きくすることで、前記ドクター
エッジ面の腐食摩耗の発生等を抑制するようにしてい
る。
【0007】さらに、特開平7−108213号には、
塗布ヘッドの異物の付着のうち塗布液の乾きブツによる
ものを対象とした塗布装置が開示されている。当該塗布
装置は、塗布待機状態の塗布ヘッドの先端部を溶剤によ
って湿潤状態に保ち、乾きを発生させないようにするも
のである。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したよ
うに、エクストルージョン型の塗布装置による塗布を工
業的に成立させるためには塗布層表面に発生するスジを
抑制することが必要とされる。特に、塗布ヘッドの先端
の付着物、摩耗によって発生するスジは高精度な塗布を
行う上で最大の課題である。しかしながら、近年、磁気
材料塗布における要求から、この課題を解決するため
に、上述したようなエクストルージョン型の塗布装置よ
りもさらにスジの発生を抑制できる塗布装置が望まれて
いる。
【0009】本発明はかかる事情に鑑み、塗布ヘッドの
先端の欠け・摩耗を防止してスジの引き金になる異物付
着を抑制すると同時に、当該塗布ヘッドの先端に異物そ
のものが付着し難いような塗布装置を提供することを目
的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の上記目的は、連
続的に走行する可撓性支持体に、WC−Co、平均粒径
3〜6ミクロンの超硬素材により製作された塗布ヘッド
を押し付けて、当該塗布ヘッドのスリットから押出され
る塗布液を少なくとも一層塗布するように構成されたエ
クストルージョン型の塗布装置において、前記塗布ヘッ
ドの先端部又は前記スリットの内面の少なくとも一方
が、硬質カーボン膜によって覆われたことを特徴とする
塗布装置によって達成される。
【0011】本発明の上記構成によれば、塗布ヘッドの
先端部又は前記スリットの内面の少なくとも一方に覆わ
れた硬質カーボン膜により、塗布ヘッドの欠け・腐食・
摩耗を防止できるとともに異物の付着を抑制できる。し
たがって、良好な単層、重層塗布を安定的に継続して行
うことができる。なお、平均粒径を3〜6ミクロンとし
ているのは、超硬素材そのものの変形が少ないという条
件と、素材自体の欠けという問題を両立できる範囲だか
らである。
【0012】本発明で定義する「硬質カーボン膜」と
は、スパッタカーボン膜又はDLC膜をいう。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明において、エクストルージ
ョン型の塗布装置として特公平5−8065号公報、特
公平6−77712号公報、特公平7−106332号
公報等に示されている形態のものを採用することができ
るが、こららに限定されない。以下、本発明の実施形態
を添付図面に基いて詳細に説明する。
【0014】図1に、単層塗布用のエクストルージョン
型の塗布装置10を示す。パスローラ21間に装架され
て走行方向Pに走行している可撓性支持体20に、塗布
装置10の塗布ヘッドが押し付けられている。塗布ヘッ
ドは、可撓性支持体20の走行方向Pに沿って上流側に
配置されたフロントエッジ面11と、下流側に配置され
たドクターエッジ面12とを備えており、各エッジ間の
間の、幅Sのスリットから塗布液が押出されている。塗
布装置10はその内部に、スリットに連通する液溜15
を備えており、液溜15には、塗布液供給源16からポ
ンプ手段(図示せず)等を介して塗布液が供給されてい
る。
【0015】塗布装置10のフロントエッジ面11は、
可撓性支持体20の進入角に略近似した傾斜面になって
いる。また、ドクターエッジ面12は、その上流端Aか
ら下流端Bにかけて、支持体20との間隔が略漸減する
ような凸な湾曲面になっている。ドクターエッジ面12
としては、通常、刃厚Wが0.05〜10mm程度のも
のが使用される。
【0016】次に、本発明の特徴的構成である硬質カー
ボン膜の形成方法について説明する。硬質カーボン膜の
成膜方法は、一般的に大きく2種に大別でき、焼結カー
ボン材、グラッシーカーボン材等をターゲット材にした
スパッタリングによる方法と炭化水素ガスを反応ガスに
用いたプラズマCVDによる方法がある。以下に、スパ
ッタリング、プラズマCVDで使用する装置、成膜方法
について説明する。最初にスパッタリングによる硬質カ
ーボン膜(以下、スパッタカーボン膜)の形成について
説明し、次にプラズマCVDによる硬質カーボン膜(以
下、DLC膜)の形成について説明する。
【0017】〔スパッタカーボン膜形成〕図2に、スパ
ッタカーボン膜形成装置100の概略図を示す。スパッ
タカーボン膜形成装置100は、真空チャンバー10
1、ガス導入手段102、スパッタリング手段103、
塗布ヘッド支持手段109、塗布ヘッドエッチング手段
とを備えている。
【0018】1)真空チャンバー101 カソード用磁場が外乱を受けないように、SUS304
等の非磁性材質を使用することが好ましい。真空チャン
バー101の真空シール性能は、初期排気の到達圧力で
2×10-5Torr以下、好ましくは5×10-6Tor
r以下、成膜中は1×10-4Torr〜1×10-2To
rrを維持できればよい。真空排気ポンプ111は、ロ
ータリーポンプ、メカニカルブースターポンプ、ターボ
ポンプの組み合わせ、ターボポンプの代わりにディフュ
ージョンポンプ、クライオポンプ等が選択できる。排気
能力、台数は真空チャンバー111の容積、使用するガ
スの流量に合わせて選択すればよい。また、排気速度を
調整するために、図示は省略するが、バイパス配管を設
け配管の抵抗により排気速度を変化させる方法やオリフ
ィスバルブを設けその開口度により排気速度を変化させ
る方法等も採用できる。また、真空チャンバー101に
は、塗布ヘッド支持手段109に支持される塗布ヘッド
(図示略)とターゲット材105の間を開閉するシャッ
ター部材112が設けられている。
【0019】2)ガス導入手段102 ガスの流量制御にはマスフローコントローラー(MF
C)を使用する。真空チャンバー101内へのガスの導
入は、酸化防止のためSUS製のパイプを使用するとと
もに、その導入部を密封性確保のためOリング等で真空
シールする。真空チャンバー101内では、プラズマ発
生領域の近傍にガスが吹き出すようにする。吹き出し位
置は、プラズマの分布に影響しないように最適化すれば
よい。プラズマ発生用のガスには、例えば、He、N
e、Ar、Kr、Xe等の不活性ガスを用いる。特に、
Arは入手し易く、安価である点が有利であり、その他
のガスは高価である点が不利である。
【0020】3)スパッタリング手段103 スパッタリングではカソード104にスパッタリングす
るターゲット材105を配設し、カソード104を負電
位にすると共に、その表面にプラズマを発生させ、対向
して配設した塗布ヘッドの表面にスパッタリングにより
弾き出されたターゲット材料を付着させることで成膜す
る。ターゲット材105にプラズマを発生するには、負
電位の直流電源106を直接カソード104に接続し、
負の300〜1000V程度の直流電圧を印加すること
でプラズマ発生させる。直流電源106は、1〜10k
W程度のものから所望の投入パワーに応じて選択すれば
よい。また、2〜20kHzにパルス変調した負の直流
電源もアーク防止に有効である。高周波電源を用いる場
合には、マッチングボックスを介してカソード104に
高周波電圧を印加することによりプラズマを発生させ
る。その際、マッチングボックスによりインピーダンス
整合を行い、高周波電圧の反射波が入射波に対して25
%以下なるように調整する。高周波電源は、工業用の1
3.56MHzで、1〜10kW程度のものから所望の
投入パワーに応じて選択すればよい。また、パルス変調
した高周波電源も使用できる。ターゲット材105は、
直接カソード104にIn系ハンダ等を用いて張り付け
てもよく、また機械的にボルト等で固定してもよい。一
般的に、無酸素銅、SUSからなるバッキングプレート
107の上にターゲット材105を張り付ける。カソー
ド104、バッキングプレート107は水冷し、間接的
にターゲット材105も水冷できる構造にする。また、
カソード104の内部に永久磁石、電磁石を配設しター
ゲット材105表面に磁場を形成することでプラズマを
閉じこめるマグネトロンスパッタリング方法もある。マ
グネトロンスパッタリング方法は、成膜速度を向上でき
るので、有用である。カソード104の形状は、成膜す
る塗布ヘッドの形状に合わせて最適化すればよい。ま
た、マグネトロンスパッタリングの場合の永久磁石10
8の配置、電磁石の形状も膜厚分布に対して最適化すれ
ばよい。永久磁石108には、SmCo、NdFeB等
の高磁場を発生するものを使用するとプラズマを十分に
閉じこめることができる。磁場の強さも膜厚分布に応じ
て最適化すればよい。
【0021】4)塗布ヘッド支持手段109 塗布ヘッドは、カソード104に対し静止対向させる。
また、図示しない駆動手段により回転させたり、カソー
ド104上を移動できるようにしてもよい。これは塗布
ヘッドのサイズ、膜厚分布から適宜選択すればよい。ま
た、塗布ヘッドとターゲット材105表面との距離は2
0〜200mm程度の範囲で選択し、膜厚分布が良好に
なるように最適化すればよい。
【0022】5)塗布ヘッドエッチング手段 膜の密着性を向上するために、塗布ヘッド表面をプラズ
マでエッチングするのがよい。エッチングの方法は、塗
布ヘッドにマッチングボックスを介して高周波電圧を印
加する。高周波電源は、工業用の13.56MHzで1
〜5kW程度のものから選択すればよい。エッチングの
強さは、塗布ヘッドに印加される自己バイアス電圧を目
安にするのがよい。自己バイアス電圧は、負の100〜
500V程度であるが最適化すればよい。
【0023】〔DLC膜形成〕図3に、DLC膜形成装
置200を示す。DLC膜形成装置200は、真空チャ
ンバー201、ガス導入手段202、プラズマ発生手段
203、塗布ヘッド支持手段209、塗布ヘッドバイア
ス手段、塗布ヘッドエッチング手段を備えている。
【0024】1)真空チャンバー201 プラズマ発生用磁場が外乱を受けないように、SUS3
04等の非磁性材質が好ましい。真空チャンバー201
の真空シール性能は、初期排気の到達圧力で2×10-5
Torr以下、好ましくは5×10-6Torr以下、成
膜中は1×10 -4Torr〜1×10-2Torrを維持
できればよい。真空排気ポンプ211は、ロータリーポ
ンプ、メカニカルブースターポンプ、ターボポンプの組
み合わせ、ターボポンプの代わりにディフュージョンポ
ンプ、クライオポンプ等が選択できる。排気能力、台数
は真空チャンバー201の容積、使用するガスの流量に
合わせて選択すればよい。また、排気速度を調整するた
めにバイパス配管を設け、配管の抵抗により排気速度を
変化させる方法や、オリフィスバルブを設けその開口度
により排気速度を変化させる方法等も採用できる。プラ
ズマやプラズマ発生用の電磁波によりアークが発生する
箇所には、絶縁性部材で覆い隠す手段も使用できる。絶
緑性部材には、MCナイロン、テフロン、PPS樹脂等
のプラスチック部材やPEN、PET等のフィルムを使
用できる。フィルムを使用する際には、フィルムからの
脱ガスにより真空度を低下する場合があるので、注意す
る必要がある。
【0025】2)ガス導入手段202 ガスの流量制御には、マスフローコントローラー(MF
C)を使用する。真空チャンバー201内へのガスの導
入は、酸化防止のためSUS製のパイプを使用するとと
もに、その導入部を密封性確保のためOリング等で真空
シールする。真空チャンバー201内では、プラズマ発
生領域の近傍にガスが吹き出すようにする。吹き出し位
置は、プラズマの分布に影響しないように最適化すれば
よい。特にガスの吹き出し位置は膜厚分布にも影響する
ので、塗布ヘッドの形状に合わせて最適化すればよい。
プラズマ発生用のガスには例えば、He、Ne、Ar、
Kr、Xe等の不活性ガスを用いる。図3では、不活性
ガス用のガス導入手段202は、符号202aに示すも
のとしている。特に、Arは入手し易く、安価である点
が有利であり、その他のガスは高価である点が不利であ
る。一方、反応ガスには、例えば、CH4、C26、C3
8、C24、C22、C66等の炭化水素ガスを用い
る。図3では、反応ガス用のガス導入手段202は、符
号202bに示すものとしている。それぞれ使用するガ
スに応じて、マスフローコントローラー(MFC)のセ
ンサーを校正する。
【0026】3)プラズマ発生手段203 プラズマCVDに使用するプラズマ発生手段203は、
直流放電、高周波放電、直流アーク放電、マイクロEC
R波放電が使用できる。特に直流アーク放電、マイクロ
波ECR放電は、プラズマ密度が高く高速成膜に有利で
ある。直流放電は、塗布ヘッド−電極間に負の直流電圧
を印加することによりプラズマを発生させる。直流電源
は1〜10kW程度のもので、所望の投入パワーに応じ
て選択すればよい。また、2〜20kHzにパルス変調
した負の直流電源も、アーク防止に有効である。高周波
放電は、マッチングボックスを介して電極に高周波電圧
を印加することによりプラズマを発生させる。その際、
マッチングボックスによりインピーダンス整合を行い、
高周波電圧の反射波が入射波に対して25%以下なるよ
うにする。高周波電源は工業用の13.56MHzで1
〜10kW程度のものから所望の投入パワーに応じて選
択すればよい。また、パルス変調した高周波電源も使用
できる。直流アーク放電は、熱陰極を使用するプラズマ
を発生させる。熱陰極にはW、LaB6、等を使用でき
る。また、ホローカソードを用いた直流アーク放電も使
用できる。直流アーク放電の直流電源には、1〜10k
W程度で10〜150A程度流せるものがよい。マイク
ロ波ECR放電は、マイクロ波とECR磁場によりプラ
ズマを発生させる。マイクロ波電源には、工業用の2.
45GHzで1〜3kW程度のものから所望の投入パワ
ーに応じて選択すればよい。また、ECR用磁場には、
永久磁石、電磁石を用いて発生させればよい。2.45
GHzの場合のECR磁場は875Gaussになるの
で、プラズマ発生領域が500〜2000Gaussに
なるようにする。マイクロ波の導入には導波管を使用し
誘電体窓、同軸変換器を使用して導入すればよい。磁場
の配置やマイクロ波の導入路は膜厚分布に影響するので
最適化すればよい。
【0027】4)塗布ヘッド支持手段209 塗布ヘッドは、カソードに対し静止対向させる。また、
例えば、図示しない駆動手段により、回転させたり、カ
ソード上を移動できるようにしてもよい。これは塗布ヘ
ッドのサイズ、膜厚分布から適宜選択すればよい。ま
た、塗布ヘッドとプラズマ発生部204との距離は、2
0〜200mm程度の範囲で選択し膜厚分布が良好にな
るように最適化すればよい。
【0028】5)塗布ヘッドバイアス手段 プラズマCVDにて硬質膜を得るためには、塗布ヘッド
に負のバイアス電圧を印加しながら成膜する。DLC膜
は絶縁性のため、バイアス電圧には高周波電圧の自己バ
イアス電圧を使用するのがよい。自己バイアス電圧は、
負の100〜500V程度である。高周波電源は、工業
用の13.56MHzで1〜5kW程度のものから所望
の投入パワーに応じて選択すればよく、膜質に応じて最
適化すればよい。また、2〜20kHzにパルス変調し
た負の直流電源を使用することもできる。
【0029】6)塗布ヘッドエッチング手段 膜の密着性を向上するために、塗布ヘッド表面をプラズ
マでエッチングするのがよい。エッチングの方法は、塗
布ヘッドにマッチングボックスを介して高周波電圧を印
加する。高周波電源は工業用の13.56MHzで1〜
5kW程度のものから所望の投入パワーの応じて選択す
ればよい。エッチングの強さは、塗布ヘッドに印加され
る自己バイアス電圧を目安にするのがよい。自己バイア
ス電圧は、負の100〜500V程度であるが最適化す
ればよい。
【0030】
〔スパッタカーボン膜成膜装置及び成膜条件の実施例〕
1)真空チャンバー101 排気速度が1500リットル/分のロータリーポンプを
1台、12000リットル/分のメカニカルブースター
ポンプを1台、3000リットル/分のターボポンプを
1台備え、材質がSUS304製で容積が約0.5m3
の真空チャンバーを使用した。また、ターボホンプの直
上にオリフィスバルブを配設し、開口度を10〜100
%可変できるようにした。
【0031】2)ガス導入手段102 最大流量100〜500sccmのマスフローコントロ
ーラー(MFC)とΦ6mmのSUSパイプを使用し、
Arガスを真空チャンバー101内に導入した。前記S
USパイプの真空導入部は、Oリングで真空シールし
た。
【0032】3)スパッタリング手段103 SmCo磁石を内部に配設した矩形型で幅500mm、
高さ200mmのカソード104を使用し、磁石108
とカソード104内部とバッキングプレート107の裏
面を水冷した。バッキングプレート107には、矩形状
に加工した焼結カーボン材をIn系ハンダを用いて張り
付けた。電源には、最大出力8kWの負電位の直流電源
を用い3〜6kW印加した。2〜20kHzの範囲でパ
ルス状に変調できるようにした。
【0033】4)塗布ヘッド支持手段109 塗布ヘッドは、カソード104に対向して配設できるよ
うにした。塗布ヘッドとターゲット材105表面との距
離が50〜150mmになるようにした。また、エッチ
ング用の高周波電圧が印加できるように塗布ヘッドホル
ダー部分を浮遊電位にした。
【0034】5)塗布ヘッドエッチング手段 塗布ヘッド支持手段109に、マッチングボックスを介
して高周波電源を接続した。高周波電源は、周波数1
3.56MHzで最大出力3kWにした。自己バイアス
電圧をモニターし、負の100〜500Vになるように
高周波出力を調整した。
【0035】〔成膜条件1〕最初に、真空チャンバー1
01内に塗布ヘッドをセットし、真空チャンバー101
内の圧力が5×10-6Torrになるまで真空排気をし
た。次に、真空排気を継続しながら、Arガスを導入
し、さらにオリフィスバルブの調整をし、真空チャンバ
ー101内の圧力が5.0×10-3、8.0×10-3
orrの水準になるようにした。次に、塗布ヘッドに高
周波電圧を印加し、自己バイアス電圧200、300、
400Vの水準で10分間塗布ヘッドエッチングをし
た。エッチングを省略し、エッチングなしの水準も含め
た。次に、焼結グラファイト材をターゲットにし、真空
チャンバー101内の圧力を1.0×10-3、3.0×
10-3、5.0×10-3、8.0×10-3Torrの水
準になるようArガス流量、オリフィスバルブを再調整
して、シャッター部材112を閉じた状態で、ターゲッ
トに直流電力0.5kWを印加し、5分間スパッタリン
グをした。次に、同じ圧力のまま、スパッタリングパワ
ーを5kWに設定した後、シャッター部材112を開
き、塗布ヘッドに付着する膜厚が1,2,3μmの水準
になる時間だけスパッタリングをした。なお、成膜時間
は予め成膜速度を求めておき、膜厚/成膜速度で計算し
た。
【0036】〔成膜条件2〕最初に、真空チャンバー1
01内に塗布ヘッドをセットし、真空チャンバー101
内の圧力が5×10-6Torrになるまで真空排気をし
た。次に、真空排気を継続しながら、Arガスを導入
し、さらにオリフィスバルブの調整をし、真空チャンバ
ー101内の圧力が5.0×10-3、8.0×10-3
orrの水準になるようにした。次に、塗布ヘッドに高
周波電圧を印加し、自己バイアス電圧200、300、
400Vの水準で10分間塗布ヘッドエッチングをし
た。エッチングを省略し、エッチングなしの水準も含め
た。次に、グラッシーカーボン材をターゲットにし、真
空チャンバー101内の圧力を1.0×10-3、3.0
×10-3、5.0×10-3、8.0×10-3Torrの
水準になるようArガス流量、オリフィスバルブを再調
整して、シャッター部材112を閉じた状態で、ターゲ
ットに直流電力0.5kWを印加し、5min間スパッ
タリングをした。次に、同じ圧力のまま、スパッタリン
グパワーを5kWに設定した後シャッター部材112を
開き、塗布ヘッドに付着する膜厚が1、2、3μmの水
準になる時間だけスパッタリングをした。なお、成膜時
間は予め成膜速度を求めておき、膜厚/成膜速度で計算
した。
【0037】〔DLC膜成膜装置及び成膜条件の実施
例〕 1)真空チャンバー201 排気速度が、1500リットル/分のロータリーポンプ
を1台、12000リットル/分のメカニカルブースタ
ーポンプを1台、3000リットル/分のターボポンプ
を1台備え、材質がSUS304製で容積が0.5m3
の真空チャンバー201を使用した。また、ターボポン
プの直上にオリフィスバルブを配設し開口度を10〜1
00%可変できるようにした。
【0038】2)ガス導入手段202 最大流量100〜500sccmのマスフローコントロ
ーラー(MFC)とΦ6mmのSUSパイプを使用しA
rガス、炭化水素ガスをそれぞれ真空チャンバー201
内に導入した。SUSパイプの真空導入部はOリングで
真空シールした。
【0039】3)プラズマ発生手段203 マイクロ波ECRプラスマ発生装置206を使用した。
発振周波数2.45GHz、最大出力1.5kWのマイ
クロ波電源を使用し0.8〜1.2kWを印加した。マ
イクロ波は導波管にて真空チャンバー201近傍まで導
き、同軸変換後真空チャンバー201内の放射状アンテ
ナ205に導入した。プラズマ発生部204の大きさ
は、矩形型で幅500mm、高さ200mmとした。E
CR用磁場はSmCo製の磁石を複数個使用しプラズマ
発生部204の形状に合わせて配設した。また、真空チ
ャンバー201内に誘電体板212を配設した。
【0040】4)塗布ヘッド支持手段209 塗布ヘッドは、プラズマ発生部204に対向して配設で
きるようにした。塗布ヘッドとプラズマ発生部204と
の距離が50〜150mmになるようにした。また、エ
ッチング用の高周波電圧が印加できるように塗布ヘッド
ホルダー部分を浮遊電位にした。
【0041】5)塗布ヘッドバイアス手段 塗布ヘッド支持手段209にマッチングボックスを介し
て高周波電源を接続した。高周波電源は、周波数13.
56MHzで最大出力3kWにした。自己バイアス電圧
をモニターし、負の200〜500Vになるように高周
波出力を調整した。
【0042】6)塗布ヘッドエッチング手段 塗布ヘッド支持手段209にマッチングボックスを介し
て高周波電源を接続した。高周波電源は周波数13.5
6MHzで最大出力3kWにした。自己バイアス電圧を
モニターし、負の100〜500Vになるように高周波
出力を調整した。本実施例では、塗布ヘッドバイアス手
段で塗布ヘッドエッチング手段を兼用した。
【0043】〔成膜条件1〕最初に、真空チャンバー2
01内に塗布ヘッドをセットし、真空チャンバー201
内の圧力が5×10-6Torrになるまで真空排気をし
た。次に、真空排気を継続しながら、Arガスを導入
し、さらにオリフィスバルブの調整をし、真空チャンバ
ー201内の圧力が0.8×10-3、1.0×10-3
5.0×10-3Torrの水準になるようにした。次
に、マイクロ波を導入しマイクロ波ECRプラズマを発
生させた。次に、塗布ヘッドに高周波電圧を印加し、自
己バイアス電圧200、300、400Vの水準で5分
間塗布ヘッドエッチングをした。エッチングを省略し、
エッチングなしの水準も含めた。次に、自己バイアス電
圧が200V、300V、400Vの水準で高周波電圧
の印加を継続しながら、CH4ガスを2.0×10-3
3.0×10-3、5.0×10-3Torrの水準になる
よう導入し、プラズマCVDにて塗布ヘッドに1、2、
3μmの水準になる時間だけ成膜した。なお、成膜時間
は予め成膜速度を求めておき、膜厚/成膜速度で計算し
た。
【0044】〔成膜条件2〕最初に、真空チャンバー2
01内に塗布ヘッドをセットし、真空チャンバー201
内の圧力が5×10-6Torrになるまで真空排気をし
た。次に、真空排気を継続しながら、Arガスを導入
し、さらにオリフィスバルブの調整をし、真空チャンバ
ー201内の圧力が0.8×10-3、1.0×10-3
5.0×10-3Torrの水準になるようにした。次
に、マイクロ波を導入しマイクロ波ECRプラズマを発
生させた。次に、塗布ヘッドに高周波電圧を印加し、自
己バイアス電圧200、300、400Vの水準で5分
間、塗布ヘッドエッチングをした。エッチングを省略
し、エッチングなしの水準も含めた。次に、自己バイア
ス電圧が200V、300V、400Vの水準で高周波
電圧の印加を継続しながら、C22ガスを2.0×10
-3、3.0×10-3、5.0×10-3Torrの水準に
なるよう導入し、プラズマCVDにて塗布ヘッドに1、
2、3μmの水準になる時間だけ成膜した。なお、成膜
時間は予め成膜速度を求めておき、膜厚/成膜速度で計
算した
【0045】また、塗布条件を以下に示す
【0046】 走行条件 速度 400m/分、テンション 20kg/m 可撓性支持体 550mm幅PENベース 支持体厚み9.5μm 溶剤塗布ヘッド エクストルージョン型塗布ノズル 塗布巾:500mm 下記実施例/比較例に詳細に記載 磁性塗布条件 下記塗布液を乾膜厚み1.5μm(液膜厚みで6.5 μm)になるように塗布した。 塗布液 磁性粉分散液(表1に示す)
【0047】
【表1】
【0048】上述の形成装置及び成膜条件を用いて、実
施例1〜4に示す塗布ヘッドを用意し、それぞれ比較例
1〜4と比較した結果を以下に示す。
【0049】[実施例1]WC−Co(タングステンカ
ーバイドとコバルトとの結合合金)、平均粒径6ミクロ
ンの超硬素材により製作された塗布ヘッドの先端部(フ
ロントエッジ面11とドクターエッジ面12のことをい
う。以下同じ。)にDLC膜を形成したものを用いて塗
布をおこない、総計200000メートルの塗布を実施
した後に前記塗布ヘッドの先端部の観察を行ったとこ
ろ、大きな変化は認められなかった。 [比較例1]WC−Co、平均粒径6ミクロンの超硬素
材により製作された塗布ヘッドを用いて塗布をおこな
い、総計200000メートルの塗布を実施した後に前
記塗布ヘッドの先端部の観察を行ったところ、先端部に
おいて直径約20μmの欠けが散発していることが確認
された。また、塗布面には無数の塗布スジが発生するよ
うになっていた。
【0050】[実施例2]WC−Co、平均粒径3ミク
ロンの超硬素材により製作された塗布ヘッドの先端部に
DLC膜を形成したものを用いて、出口のラップ角度を
−5°として塗布をおこない、総計200000メート
ルの塗布を実施した後に前記塗布ヘッドの先端部の観察
を行ったところ、大きな変化は認められなかった。 [比較例2]WC−Co、平均粒径3ミクロンの超硬素
材により製作された塗布ヘッドを用いて、出口のラップ
角度を−5°として塗布をおこない、総計200000
メートルの塗布を実施した後に前記塗布ヘッドの先端部
の観察を行ったところ、先端部の下流側端部に腐食・摩
耗が観察された。
【0051】[実施例3]WC−Co、平均粒径3ミク
ロンの超硬素材により製作された塗布ヘッドの先端部に
スパッタカーボン膜を形成したものを用いて塗布をおこ
ない、塗布の停止・再開を5回繰り返したが、いずれの
再開時においても良好な面性が得られた。 [比較例3]WC−Co、平均粒径3ミクロンの超硬素
材により製作された塗布ヘッドを用いて塗布をおこな
い、塗布の停止・再開を5回繰り返したが、再開を繰り
返すにつれて前記塗布ヘッドの先端部に固着した乾燥ブ
ツに起因すると見られるスジが多発した。
【0052】[実施例4]WC−Co、平均粒径3ミク
ロンの超硬素材により製作された塗布ヘッドのスリット
内面(図1において、符号13,14で示す。以下同
じ。)にスパッタカーボン膜を形成したものを用いて塗
布をおこない、塗布の停止・再開を5回繰り返した(塗
布再開時には塗布ヘッドの先端部を、溶剤で湿らせたワ
イピングクロスで汚れを拭き取った)が、いずれの再開
時においても良好な面性が得られた。 [比較例4]WC−Co、平均粒径3ミクロンの超硬素
材により製作された塗布ヘッドを用いて塗布をおこな
い、塗布の停止・再開を5回繰り返した(塗布再開時に
は先端部を、溶剤で湿らせたワイピングクロスで汚れを
拭き取った)が、再開を繰り返すにつれてスリット内面
にトラップした凝集ブツに起因すると見られるスジが多
発した。
【0053】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、塗布ヘ
ッドの先端部又は前記スリットの内面の少なくとも一方
が硬質カーボン膜によって覆われているので、塗布ヘッ
ドの欠け・腐食・摩耗を防止できるとともに異物の付着
を抑制できる。したがって、良好な単層、重層塗布を安
定的に継続して行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】単層塗布用のエクストルージョン型の塗布装置
10の概略図である。
【図2】スパッタカーボン膜形成装置の概略図である。
【図3】DLC膜形成装置である。
【符号の説明】
10 塗布装置 20 可撓性支持体 100 スパッタカーボン膜形成装置 101 真空チャンバー 102 ガス導入手段 103 スパッタリング手段 109 塗布ヘッド支持手段 200 DLC膜形成装置 201 真空チャンバー 202 ガス導入手段 203 プラズマ発生手段 209 塗布ヘッド支持手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4D075 AC02 AC09 CA48 DA04 DC27 EA05 4F041 AA12 AB01 BA17 CA02 CA12 CA25 4K030 AA09 AA16 BA27 BA28 CA03 DA04 FA02 HA04 KA20 LA23

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 連続的に走行する可撓性支持体に、WC
    −Co、平均粒径3〜6ミクロンの超硬素材により製作
    された塗布ヘッドを押し付けて、当該塗布ヘッドのスリ
    ットから押出される塗布液を少なくとも一層塗布するよ
    うに構成されたエクストルージョン型の塗布装置におい
    て、 前記塗布ヘッドの先端部又は前記スリットの内面の少な
    くとも一方が、硬質カーボン膜によって覆われたことを
    特徴とする塗布装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012239975A (ja) * 2011-05-19 2012-12-10 Konica Minolta Holdings Inc 積層体の製造方法
JP2013043166A (ja) * 2011-08-26 2013-03-04 Fujifilm Corp 塗布装置及び塗布方法
CN110831705A (zh) * 2017-08-30 2020-02-21 东丽株式会社 高分子膜形成装置、高分子膜形成方法及隔膜的制造方法

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012239975A (ja) * 2011-05-19 2012-12-10 Konica Minolta Holdings Inc 積層体の製造方法
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