JP2000260851A - 半導体製造装置におけるウェハ支持装置 - Google Patents
半導体製造装置におけるウェハ支持装置Info
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Abstract
いて、ウェハ支持台上にウェハを載置する際のウェハの
位置ずれを防止し、かつウェハ上の膜の膜厚及び抵抗の
分布を良好にする。 【解決手段】 ウェハ支持装置14は、処理チャンバ1
2内に設けられ、ウェハWを支持するサセプタ22を有
し、このサセプタ22には、ウェハWの支持領域を形成
する円形のポケット22aが設けられている。このポケ
ット22aの外側には、ほぼ等間隔で配置された4個の
突起28が形成されている。各突起28は、ポケット2
2aの中心Oに向かって下方に傾斜するテーパ面28a
を有している。ウェハWをポケット22a内に収納し支
持する際、ウェハWがわずかに水平方向にずれてしまっ
ても、ウェハWはそのテーパ面28aに沿って下降し、
確実にポケット22a内に収まるようになる。
Description
長装置等の半導体製造装置に設けられたウェハ支持装置
に係わり、特にウェハをウェハ支持台に載せるのに好適
なウェハ支持装置に関するものである。
装置には、シリコンウェハを1枚ずつ処理する枚葉式と
称されるものがある。このような枚葉式の半導体製造装
置においては、通常、ウェハを1枚だけ水平に支持する
ためのウェハ支持装置が処理チャンバ内に設けられてい
る。
されるウェハ支持台であるサセプタと、ウェハをサセプ
タに対して上下動させてウェハをサセプタ上に載せるリ
フト機構とを備えている。従来のサセプタは、例えば図
5及び図6に示すように、上面部に円形のポケット(凹
部)51を有しており、このポケット51にウェハWを
収納し支持するようになっている。
を貫通して延びる複数本のリフトピンを有しており、こ
れらのリフトピンの上端にウェハを載せ、リフトピンを
上下動させることで、ウェハを昇降させることができる
ようになっている。このようなリフト機構により、搬送
ロボットのブレードに載せて運ばれてきたウェハをサセ
プタ上に移載したり、あるいはその逆に、ウェハをサセ
プタから搬送ロボットに受け渡したりすることが可能と
なる。
プタ上で支持されたウェハを高温に加熱するための多数
のハロゲンランプ(赤外線ランプまたは遠赤外線ラン
プ)が配置されている。
て、ウェハ支持装置によりウェハを支持した後、ハロゲ
ンランプを点灯してウェハを加熱すると共に、処理ガス
を処理チャンバ内に導入すると、所定温度に加熱された
ウェハの表面に沿って処理ガスが層流状態で流れ、ウェ
ハ上に薄膜が形成される。
来技術においては、以下の問題点が存在する。
シャル成長装置では、ウェハの搬送は、全てのハロゲン
ランプを点灯した状態で行うこととしている。この場
合、搬送ロボットによりウェハが処理チャンバ内に搬入
されると、搬入直後はサセプタの上方にウェハが位置す
ることになるため、ウェハの表面(上面)の熱膨張が裏
面の熱膨張よりも大きくなり、その結果ウェハに反りが
生じてしまう。
び図6に示すようなサセプタ50のポケット51内に収
めるためには、ポケット51の深さを深くする必要があ
る。ところで、ウェハがサセプタ上に載置されると、下
方のハロゲンランプの熱がサセプタを介してウェハWの
裏面に伝わるようになるため、ウェハはほぼ元の平坦な
状態となる。このとき、ポケット51が深いと、処理ガ
スの層流状態が維持されなくなり、その結果ウェハ上の
膜の膜厚及び抵抗の分布が悪化する。
抵抗の分布を良好にすることのできる半導体製造装置に
おけるウェハ支持装置を提供することにある。
め、本発明は、半導体製造装置の処理チャンバ内に設置
され、ウェハが支持されるウェハ支持台と、ウェハをウ
ェハ支持台の所定の支持領域に載せるウェハ載置手段
と、ウェハ支持台の支持領域の外側に設けられた複数の
ウェハ位置決め用の突起とを備える構成とする。
ることにより、ウェハの反りに対処するために従来のよ
うにウェハ収納用の凹部を深くする必要がなく、あるい
はこのような凹部は無くてもよい。このため、処理チャ
ンバ内に導入された反応ガスはほぼ層流状態を維持して
ウェハ上面部を流れるようになり、これによりウェハの
膜厚及び抵抗の分布が良くなる。なお、反応ガスの層流
状態を確保するには、突起の数をできるだけ少なくする
のが好ましい。また、突起の高さ位置は、反りが生じた
ウェハをウェハ支持台上に載置したときに当該ウェハの
最上部(ウェハ両端部)にほぼ等しいか、それよりもわ
ずかに高くするのが好ましい。
置において、好ましくは、ウェハ位置決め用の突起は、
支持領域の中心に向かって下方に傾斜するテーパ面を有
する。これにより、ウェハ載置手段でウェハ支持台の支
持領域にウェハを載置するときに、ウェハが支持領域に
対してわずかに水平方向にずれてしまっても、ウェハ
は、その外周下縁部の一部分がウェハ位置決め用の突起
のテーパ面に接した状態で当該テーパ面に沿って内側下
方に移動し、確実に支持領域に位置するようになる。
領域を形成する凹部が設けられており、この凹部の外側
に複数のウェハ位置決め用の突起が配置されている。こ
れにより、凹部内にウェハを収納したときにウェハ支持
台の上面とウェハ上面が面一になるように当該凹部の深
さを設定すると、最も理想的な反応ガスの層流状態が得
られる。
成長装置である。
ついて図面を参照して説明する。
置された半導体製造装置としてエピタキシャル成長装置
を概略的に示したものである。同図において、エピタキ
シャル成長装置10は、シリコンウェハ(図1には示さ
ず)を1枚ずつ処理する枚葉式であり、石英ガラスで構
成された処理チャンバ12を備え、この処理チャンバ1
2内にはウェハ支持装置14が配設されている。処理チ
ャンバ12の側部には処理ガスの導入口16が形成さ
れ、これに対向する位置には処理ガスの排気口18が形
成されている。また、処理チャンバ12の上側領域及び
下側領域には、複数本のハロゲンランプ20が放射状に
それぞれ配置されている。
おいて、ウェハ支持装置14によりウェハを支持した
後、ハロゲンランプ20を点灯してウェハを加熱すると
共に、排気口18から排気を行いながらトリクロルシラ
ン(SiHCl3)ガスやジクロルシラン(SiH2C
l2)ガス等を処理ガスとして導入口16から導入する
と、所定温度に加熱されたウェハの表面に沿って処理ガ
スが層流状態で流れ、ウェハ上にシリコンの単結晶がエ
ピタキシャル成長する。
るウェハ支持台であるサセプタ22と、このサセプタ2
2上にウェハを載置するウェハ載置手段であるリフト機
構24とを備えている。
たグラファイト材料から成る円盤状のものであり、処理
チャンバ12の下部に立設された石英ガラス製の支持シ
ャフト26により、裏面側から三点で水平に支持されて
いる。
す。同図において、サセプタ22の上面部には、ウェハ
Wを収納し支持するための支持領域を形成する円形のポ
ケット(凹部)22aを有している。このポケット22
aの底面は、その中心位置Oがサセプタ22の中心に一
致し、またその径RはウェハWの口径にほぼ等しくなっ
ている。また、ポケット22aの側面は、全体にわたっ
てポケット22aの中心Oに向かって下方に傾斜するテ
ーパ面を形成している。なお、ポケット22aの側面は
テーパ面でなくてもよい。
ット22aの底面に平坦な状態のウェハWが載置された
ときにサセプタ22の上面とウェハW上面が面一になる
ように設定されている。これは、導入口16から導入さ
れた処理ガスが層流状態を維持して流れるようにするた
めである。
側には、ほぼ等間隔で配置された複数個(ここでは4
個)の突起28が形成されている。各突起28は、ポケ
ット22aの側面に続いてポケット22aの中心Oに向
かって下方に傾斜するテーパ面28aを有している。こ
こで、突起28の高さ位置は、反りが生じたウェハをポ
ケット22a内に収納した際に当該ウェハの最上部(ウ
ェハ両端部)にほぼ等しいか、それよりもわずかに高く
なるように設定されている。また、突起28の数は、少
なくとも3個あればよい。なお、突起28は、サセプタ
22の上面に接着等により固定される。
フト26の主軸を囲むように配置された上下動可能なリ
フトチューブ30と、このリフトチューブ30を上下動
させる駆動装置32と、リフトチューブ30から放射状
に延びる3本のリフトアーム34と、サセプタ22の底
面から貫通形成された貫通孔36(図4参照)を通りリ
フトアーム34の上端に固定されているリフトピン38
とを備えており、駆動装置32を制御してリフトチュー
ブ30及びリフトアーム34を上昇させると、リフトピ
ン38が押し上げられるようになっている。
にウェハWを支持させる場合、まず、搬送ロボットを操
作し、搬送ロボットのブレード40(図2参照)に載置
されたウェハWをサセプタ22における各突起28の内
側であるポケット22aの直上位置に配置する。次い
で、リフト機構24の駆動装置32を制御してリフトピ
ン38を上昇させる。なお、図示はしないが搬送ロボッ
トのブレード40はリフトピン38とは重ならないよう
に構成されており、これによりリフトリング32の上昇
を妨げることはない。リフトピン38がブレード40よ
りも高い位置まで上昇すると、ウェハWはブレード40
からリフトピン38の上端に載り移り、ウェハWは3点
で支持されるようになる(図4(a)参照)。
セプタ22の上方から処理チャンバ12の外部に移動さ
せる。そして、ウェハWを支持したリフトピン38を下
降させ、ポケット22a内に降ろす。このとき、ウェハ
Wがわずかに水平方向にずれ、ウェハWの外周下縁部の
一部分が突起28のテーパ面28aに接触しても、ウェ
ハWはそのテーパ面28aに沿って下降するので、ウェ
ハWは傾くことなくポケット22a内に収まるようにな
る(図4(b)参照)。この後、上述したエピタキシャ
ル成長プロセスが実行されることになる。
げ、搬送ロボットのブレード40に移載させる場合は、
上記とは逆の手順でリフト機構24及び搬送ロボットを
操作すればよい。
は、サセプタ22のポケット22aの外側に複数の突起
28を設けたので、ウェハWの搬入時に生じる反りに対
処すべくポケット22aを深くする必要がなく、これに
より導入口16から導入された処理ガスはほぼ層流状態
を維持して流れるようになる。したがって、ウェハWの
膜厚及び抵抗の分布が良くなる。
2aの中心Oに向かって下方に傾斜するテーパ面28a
を形成したので、ウェハWがわずかに水平方向にずれて
も、ウェハWは、その外周下縁部の一部分がテーパ面2
8aに接触した状態でそのテーパ面28aに沿って下降
し、ポケット22a内に収まる。したがって、ウェハW
の位置ずれに対処すべく、ポケット22aの径をウェハ
Wの口径に対して大きくする必要も無く、これによりウ
ェハWの外周部がポケット側面に接触することが原因で
発生するパーティクルは無くなる。なお、上述したよう
にウェハWをポケット22a内に収める際にウェハWが
位置ずれを起こすと、ウェハWがテーパ面28aに接す
るが、この接触部分はウェハWの外周下縁部だけなの
で、この時ウェハWの外周部が接触することで発生する
パーティクルは極めて少ない。
決め用の突起28に、ポケット22aの中心Oに向かっ
て下方に傾斜するテーパ面28aを設けたが、このよう
なテーパ面28aは必ずしも設けなくてもよい。
のウェハWが載置されたときにサセプタ22の上面とウ
ェハW上面が面一になるようにしたが、ポケット22a
の深さはこれに限られず、ポケットの底面にウェハWが
載置されたときにサセプタ22の上面よりもウェハW上
面が高くなるようにしてもよく、あるいはポケット22
は設けなくても良い。要は、ウェハW上を流れる処理ガ
スがある程度層流状態を維持できればよい。この場合、
ポケットの深さにある程度の自由度をもたせることがで
きるので、サセプタの製造が容易に行える。
べたが、本発明は上記実施形態に限定されないことは言
うまでもない。例えば、上記実施形態の半導体製造装置
はエピタキシャル成長装置であるが、本発明は、他の処
理を行うもの、例えばCVD装置等にも適用可能であ
る。
域の外側に複数のウェハ位置決め用の突起を設けたの
で、ウェハ収納用の凹部の深さを浅くするか、場合によ
ってはこのような凹部を無くすことができる。このた
め、処理チャンバ内に導入された処理ガスはある程度層
流状態を保って流れるようになり、これによりウェハの
膜厚及び抵抗の分布が良好になる。
域の中心に向かって下方に傾斜するテーパ面を形成した
場合には、ウェハ支持台上にウェハを載置する際に、ウ
ェハの外周面がウェハ支持台に接することによって生じ
るパーティクルを低減することができる。
シャル成長装置を概略的に示す説明図である。
する様子を示す図である。
を示す上面図である。
ェハ支持装置、22…サセプタ(ウェハ支持台)、22
a…ポケット(凹部)24…リフト機構(ウェハ載置手
段)、28…突起(ウェハ位置決め用の突起)、28a
…テーパ面、W…ウェハ。
4)
め、本発明は、処理チャンバと、この処理チャンバの外
方に配置された、ウェハを加熱するための加熱手段とを
備えた半導体製造装置におけるウェハ支持装置であっ
て、処理チャンバ内に設置され、ウェハが支持される凹
部を有するウェハ支持台と、ウェハを凹部に載せるウェ
ハ載置手段と、ウェハ支持台における凹部の外側に設け
られた複数のウェハ位置決め用の突起とを備え、ウェハ
位置決め用の突起の凹部底面からの高さは、加熱手段か
らの熱により反りが生じたウェハを凹部に対して位置決
めすることができる高さである構成とする。
後、加熱ランプからの熱により表面および裏面の熱膨張
の差が原因となって、ウェハ中央側に対してウェハエッ
ジ側が上方に曲がった反りが生ずることが分かっている
が、本発明に従ってウェハ位置決め用の突起を設けるこ
とにより、ウェハの反りに対処すべく従来のように凹部
を深くする必要がなくなる。このため、反りが生じたウ
ェハが凹部に載置された状態で、処理チャンバ内に反応
ガスを導入したときには、反応ガスはほぼ層流状態を維
持してウェハ上面部を流れるようになり、これによりウ
ェハの膜厚及び抵抗の分布が良くなる。反応ガスの層流
状態を確保するには、ウェハ位置決め用の突起の高さ位
置が、反りが生じたウェハを凹部に載せたときの当該ウ
ェハ最上部の高さ位置と同等以上であることが好まし
い。
Claims (4)
- 【請求項1】 半導体製造装置の処理チャンバ内に設置
され、ウェハが支持されるウェハ支持台と、 前記ウェハを前記ウェハ支持台の所定の支持領域に載せ
るウェハ載置手段と、 前記ウェハ支持台の前記支持領域の外側に設けられた複
数のウェハ位置決め用の突起とを備える半導体製造装置
におけるウェハ支持装置。 - 【請求項2】 前記ウェハ位置決め用の突起は、前記支
持領域の中心に向かって下方に傾斜するテーパ面を有す
る請求項1記載の半導体製造装置におけるウェハ支持装
置。 - 【請求項3】 前記ウェハ支持台には前記支持領域を形
成する凹部が設けられており、この凹部の外側に前記複
数のウェハ位置決め用の突起が配置されている請求項1
または2記載の半導体製造装置におけるウェハ支持装
置。 - 【請求項4】 前記半導体製造装置はエピタキシャル成
長装置である請求項1〜3のいずれか一項記載の半導体
製造装置におけるウェハ支持装置。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP3442099A JP3357311B2 (ja) | 1999-02-12 | 1999-02-12 | 半導体製造装置におけるウェハ支持装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP3442099A JP3357311B2 (ja) | 1999-02-12 | 1999-02-12 | 半導体製造装置におけるウェハ支持装置 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2000260851A true JP2000260851A (ja) | 2000-09-22 |
JP3357311B2 JP3357311B2 (ja) | 2002-12-16 |
Family
ID=12413723
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3442099A Expired - Lifetime JP3357311B2 (ja) | 1999-02-12 | 1999-02-12 | 半導体製造装置におけるウェハ支持装置 |
Country Status (1)
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- 1999-02-12 JP JP3442099A patent/JP3357311B2/ja not_active Expired - Lifetime
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