JP2000228083A - データ出力バッファ - Google Patents

データ出力バッファ

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JP2000228083A
JP2000228083A JP11028230A JP2823099A JP2000228083A JP 2000228083 A JP2000228083 A JP 2000228083A JP 11028230 A JP11028230 A JP 11028230A JP 2823099 A JP2823099 A JP 2823099A JP 2000228083 A JP2000228083 A JP 2000228083A
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data
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flop
flip
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JP11028230A
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Masayasu Iguchi
雅保 井口
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 データ出力バッファにおいて、高速に変化す
るデータ出力制御信号によって、正確にデータを出力す
ることを可能とする。 【解決手段】 第1のセット付きフリップフロップ11
7により出力制御信号S106がLになった時点で非同
期にHを出力し、Hならば内部クロック信号S110に
同期してデータ入力端子Dの値であるLを出力する信号
S117を生成する。第2のセット付きフリップフロッ
プ118により、S106がLになった時点で非同期に
Hを出力し、Hならば内部クロック信号S110に同期
してデータ入力端子Dの値であるS117の値を出力す
る信号S118を生成する。論理積ゲート119によ
り、S118とS106のイネーブル信号S119を生
成する。S119は、ラッチ回路105の制御端子Eに
入力され、Hの時にデータのラッチを行ない、Lの時に
データのホールドを行なう制御をする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、高速に変化するデ
ータ出力制御信号によって、正確に出力データを確定す
ることを可能とするデータ出力バッファに関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】図3に従来の半導体装置のブロック図を
示す。図3において、100は半導体装置の全体であ
る。半導体装置100に対して、入力する信号は、その
半導体装置に対してデータの書き込み読み出しを行なう
時にLとなるチップセレクト信号S111、データを読
み出すときにLとなるリードイネーブル信号S112、
読み出すデータのアドレスを与える外部アドレス信号S
103である。また、出力する信号は、半導体装置読み
出し外部データ信号S109である。106はチップセ
レクト信号S111とリードイネーブル信号S112と
を入力し、出力制御信号S106を生成する論理ゲート
であり、チップセレクト信号S111及びリードイネー
ブル信号S112の双方がLの時にのみH、それ以外は
Lを出力する。出力制御信号S106は、Hの時に外部
にデータを出力し、Lの時に外部にデータを出力しない
制御を行なう。S110は内部クロック信号である。3
07は、第1のフリップフロップである。S307は第
1のフリップフロップ307の出力信号であり、内部ク
ロック信号S110に同期してデータ入力端子Dの値、
すなわち出力制御信号S106を出力する。308は、
第2のフリップフロップである。S308は第2のフリ
ップフロップ118の反転出力であり、内部クロック信
号S110に同期してデータ入力端子Dの値、すなわち
制御信号S307の論理反転した値を出力とするイネー
ブル信号である。また、イネーブル信号S308はHの
時にデータのラッチを行ない、Lの時にデータのホール
ドを行なう制御をする。109は外部データ信号S10
9を出力するバッファ回路である。S109はバッファ
回路109の出力データ信号であり、出力制御信号S1
06がHの時バッファ回路109の入力信号であるS1
05の値を出力し、Lの時ハイインピーダンスの値を出
力する。105は制御端子Eの値、すなわちイネーブル
信号S308がHの時は入力信号S104をラッチし、
Lの時はそれまでの入力信号の値をホールドするラッチ
回路である。101はレジスタアレイである。104は
レジスタアレイ101の読み出しデータを外部アドレス
信号S103に従って選択するためのセレクタである。
S104はセレクタ104の出力信号であり、ラッチ回
路105への入力信号となっている。102はレジスタ
アレイ101に対してLSI内部から入出力を行なうた
めの内部データバスである。103はレジスタアレイ1
01を選択し、内部データバス102のデータをレジス
タアレイ101に入力するタイミングを生成するまたは
内部データバス302に出力するレジスタを選択するア
ドレスデコーダである。S101はアドレスデコーダ1
03に接続する内部アドレス信号である。S102はア
ドレスデコーダ103にデータの入出力タイミングを伝
えるデータストローブ信号である。
【0003】次に、図3に示す半導体装置についてその
動作を説明する。前記レジスタアレイ101へのアクセ
スはLSI内部からの入出力とLSI外部からの入出力
の2つの経路があるが、ここではLSI内部からのレジ
スタアレイへのデータロード及びそのデータのLSI外
部への出力についてのみ説明する。
【0004】通常、LSI内部からのデータのロードは
次の手順で行なう。内部アドレス信号S101とストロ
ーブ信号S102は、例えばLSIに内蔵されているC
PUなどによって生成されたる。それらの信号をアドレ
スデコーダ103によって、レジスタアレイの中の1組
のレジスタに対して書き込み用のクロックを生成し、選
択されたレジスタに対して内部データバス102に乗っ
ているデータの書き込みを行なう。
【0005】また、LSI外部へのデータ出力は次の手
順で行なう。図4は、図3に示す半導体装置の動作を示
すタイミング図である。図4において、図4(a)は内
部クロック信号S110、図4(b)は外部アドレス信
号S103、図4(c)はチップセレクト信号S11
1、図4(d)はリードイネーブル信号S112、図4
(e)は出力制御信号S106、図4(f)はフリップ
フロップの出力信号S307、図4(h)はイネーブル
信号S308、図4(i)は選択データ信号S104、
図4(j)はラッチデータ信号S105、図4(k)は
外部データ信号S109である。
【0006】まず、時刻T0で、イネーブル信号S30
8はH、チップセレクト信号S111はH、リードイネ
ーブル信号S112はHであるので、出力制御信号S1
06はH、第1のフリップフロップ307、第2のフリ
ップフロップ308は共に値がLにセットされ、第1フ
リップフロップの出力信号S307はL、第2のフリッ
プフロップの反転出力信号であるイネーブル信号S30
8はHとなる。イネーブル信号S308がHであるの
で、ラッチ回路105はラッチ可能状態になっている。
【0007】時刻T1で、チップセレクト信号S111
はLになり、半導体装置100からデータの書き込み読
み出しが行われる状態になる。
【0008】時刻T2で、リードイネーブル信号S11
2がLになる。出力制御信号S106はHになることに
より、データ読みだし状態となる。この時外部アドレス
の値が一意に確定する。
【0009】時刻T3で、第1のフリップフロップ30
7は、内部クロック信号S110と同期してデータ端子
Dへの入力信号すなわち出力制御信号S106を取り込
んで出力し、第1のフリップフロップの信号S307は
Hとなる。その他の信号は変化しない。
【0010】時刻T4で、第2のフリップフロップ30
8は、内部クロック信号S110と同期してデータ端子
Dへの入力信号すなわちS307を取り込んで出力し、
第2のフリップフロップの反転出力信号S308はLと
なる。T2からT4の区間、すなわちイネーブル信号S
308がHとなっている時に、選択データ信号S104
にレジスタの値が出力され、選択データ信号S104の
値がラッチ回路105にラッチされ、ラッチデータ信号
S105に出力され、バッファ回路109を通して外部
データ信号S109が出力される。また、T4からイネ
ーブル信号S119がLの期間はデータがラッチ回路1
05の出力値は変化しないので、例えLSI内部からの
レジスタアクセスにより、レジスタアレイ101の値が
書き換えられ、選択データ信号の値が変化するようなこ
とがあっても、時刻T4以降の出力状態の時には時刻T
4までに確定した値が外部データ信号に出力される。
【0011】時刻T5で、リードイネーブル信号S11
2がHになることにより、出力制御信号S106がLに
なるため、読み出し状態は一時終了する。この時外部ア
ドレス信号S103がリードイネーブル信号S112よ
りも早く変化するような事があってもラッチ回路105
により一意に確定した外部データ信号S109を得るこ
とが出来る。
【0012】時刻T6で、第1のフリップフロップ30
7は、内部クロック信号S110と同期してデータ端子
Dへの入力信号すなわち出力制御信号S106を取り込
んで出力し、第1のフリップフロップの信号S307は
Lとなる。その他の信号は変化しない。
【0013】時刻T7で、第2のフリップフロップ30
8は、内部クロック信号S110と同期してデータ端子
Dへの入力信号すなわちS307を取り込んで出力し、
第2のフリップフロップの反転出力信号、すなわちイネ
ーブル信号S308はHとなり、ラッチ回路105は再
びラッチ状態となる。
【0014】時刻T8、で再びリードイネーブル信号S
112がLになり、出力制御信号S106がHになるこ
とにより、データ読みだし状態になる。この時、外部ア
ドレス信号S103の値が次のアドレスに確定する。
【0015】時刻T9から時刻T13では時刻T2から
時刻T7と同様に内部状態が変化し、次のアドレスが読
み出される。また、時刻T12ではチップセレクト信号
S111がHになり、LSIに対するアクセスが終了し
ている。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の構成では、外部に接続されるシステムのコントローラ
の動作速度を早めた時、またはチップセレクト信号S3
11とリードイネーブル信号S312の入力信号のタイ
ミングが変わった時に誤動作が生じることがある。すな
わち、レジスタの連続読み出しの区切りの時間である、
リードイネーブル信号S112のH区間である時刻T5
から時刻T8の間が最低内部クロック信号S110の1
サイクル分なければ、誤動作してしまうのである。
【0017】時刻T5から時刻T8が内部クロック信号
S110の1サイクル分なければ、内部クロック信号信
号S110の立ち上がりエッジがその区間内に入らない
可能性がある。つまりその時、第1のフリップフロップ
307に出力制御信号S106のL状態を取り込むこと
が出来なくなり、その結果第2のフリップフロップ30
8の状態も変化することがなくイネーブル信号がL状態
のまま時刻T13に至ってしまい、ラッチ回路105で
ラッチしているデータが次のアドレスの値に切り替わら
ないのである。
【0018】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の請求項1記載の半導体装置は、第1のレベ
ルを有する第1の信号と、クロックと、データをラッチ
する時に前記第1のレベルと反対のレベルである第2の
レベルから前記第1のレベルとなる制御信号とを入力し
て、前記制御信号が前記第1のレベルならば前記第2の
レベルと同じレベルの信号を、また、前記第2のレベル
ならば前記クロックと同期して第1の信号を第1の出力
信号として出力する第1の素子と、前記第1の出力信号
と、前記クロックと、前記制御信号とを入力し、前記制
御信号が前記第1のレベルならば前記第2のレベルと同
じレベルの信号を、また、前記第2のレベルならば前記
クロックと同期して前記第1の出力信号を第2の出力信
号として出力する第2の素子と、前記制御信号と前記第
2の出力信号との論理積を行い第3の出力信号を生成す
る第3の素子と、前記第3の出力信号とラッチされる被
ラッチデータとを入力し前記被ラッチデータをラッチす
るラッチ手段とを備えることを特徴とするものである。
【0019】上記構成により、リードイネーブル信号が
Lとなる期間が短くてもデータをラッチすることができ
る。
【0020】
【発明の実施の形態】(実施の形態1)図1に本発明の
実施の形態1に係わる半導体装置のブロック図を示す。
図1において、100〜106、109は従来技術にお
いて図3に示した同符号のものと対応する。117は、
第1のセット付きフリップフロップである。S117は
第1のセット付きフリップフロップ117の出力信号で
あり、出力制御信号S106がLになった時点で非同期
にHを出力し、Hならば内部クロック信号S110に同
期してデータ入力端子Dの値、すなわちLを出力する。
118は、第2のセット付きフリップフロップである。
S118は第2のセット付きフリップフロップ118の
出力信号であり、出力制御信号S106がLになった時
点で非同期にHを出力し、Hならば内部クロック信号S
110に同期してデータ入力端子Dの値、すなわち第1
のセット付きフリップフロップ117の出力信号S11
7の値を出力する。119は出力信号S118と出力制
御信号S106とを入力し、イネーブル信号S119を
生成する論理積ゲートである。イネーブル信号S119
は、ラッチ回路105の制御端子Eに入力され、Hの時
にデータのラッチを行ない、Lの時にデータのホールド
を行なう制御をする。
【0021】次に、図1に示す半導体装置についてその
動作を説明する。内部データバス102からの書き込み
手順は従来例と同じである。
【0022】図2は、図1に示す半導体装置の外部から
の読みだし動作を示すタイミング図である。図2におい
て、図2(a)は内部クロック信号S110、図2
(b)は外部アドレス信号S103、図2(c)はチッ
プセレクト信号、図2(d)はリードイネーブル信号、
図2(e)は出力制御信号S106、図2(f)は第1
のフリップフロップの出力信号S117、図2(g)は
第2のフリップフロップの出力信号S118、図2
(h)はイネーブル信号S119、図2(i)は選択デ
ータ信号S104、図2(j)はラッチデータ信号S1
05、図2(k)は外部データ信号S109である。
【0023】まず、時刻T0で、チップセレクト信号S
111はH、リードイネーブル信号S112はHである
ので、出力制御信号S106はL、第1のセット付きフ
リップフロップ117、第2のセット付きフリップフロ
ップ118は共に値がHにセットされ、第1の出力信号
S117、第2の出力信号S118はHとなる。また、
論理ゲート119の出力S119はLとなる。
【0024】時刻T1で、チップセレクト信号S111
はLになり、半導体装置100からデータの書き込み読
み出しが行われる状態になる。
【0025】時刻T2で、リードイネーブル信号S11
2がLになり、イネーブル信号S119はHになる。出
力制御信号S106はHになることにより、データ読み
だし状態となる。この時外部アドレスの値が一意に確定
する。
【0026】時刻T3で、第1のセット付きフリップフ
ロップ117は、内部クロック信号S110と同期して
データ端子Dへのグランド入力を取り込んで出力し、第
1の信号S117はLとなる。その他の信号は変化しな
い。
【0027】時刻T4で、第2のセット付きフリップフ
ロップ118は、内部クロック信号S110と同期して
データ端子Dへの入力信号S117を取り込んで出力
し、第2の信号S118はLとなる。それに伴い、イネ
ーブル信号S119はLになる。T2からT4の間のイ
ネーブル信号S119がHとなっている時に、選択デー
タ信号S104にレジスタの値が出力され、選択データ
信号S104の値がラッチ回路105にラッチされ、ラ
ッチデータ信号S105に出力され、バッファ回路10
9を通して外部データ信号S109出力される。また、
T4からイネーブル信号S119がLの期間はデータが
ラッチされないので、例えLSI内部からのレジスタア
クセスにより、レジスタアレイ101の値が書き換えら
れ、選択データ信号の値が変化するようなことがあって
も、時刻Tまでに確定した値が外部データ信号に出力さ
れる。
【0028】時刻T5で、リードイネーブル信号S11
2がHになることにより、出力制御信号S106がLと
なり、第1のセット付きフリップフロップと第2のセッ
ト付きフリップフロップは非同期に出力がH状態、つま
り第1のフリップフロップの出力信号S117、第2の
フリップフロップの出力信号S118が共に非同期にH
になる。また、出力制御信号S106がLとなることに
より読み出し状態は一時終了する。この時外部アドレス
信号S103がリードイネーブル信号S112よりも早
く変化するような事があってもラッチ回路105により
一意に確定した外部データ信号S109を得ることが出
来る。
【0029】時刻T6、で再びリードイネーブル信号S
112がLになり、イネーブル信号S119はHにな
る。この時外部アドレスの値が次のアドレスに確定す
る。
【0030】時刻T6から時刻T9では時刻T2から時
刻T5と同様に内部状態が変化し、次のアドレスのデー
タが読み出される。
【0031】最後に時刻T10でチップセレクト信号S
111がHになり、LSIに対するアクセスが終了す
る。
【0032】このように、ラッチ回路105へのラッチ
開始は、時刻T6で示されるように、内部クロック信号
S110に依らず制御されているので、例え、時刻T5
から時刻T6の期間が短く、この期間に内部クロック信
号S110の立ち上がりエッジが存在しなくても、2つ
のレジスタの値を正確に出力することが可能となってい
る。
【0033】なお、この構成によると外部からのリード
の要求がない時、すなわちチップセレクト信号S111
がL且つリードイネーブル信号S112がLとなってい
ない時にはラッチ回路105のイネーブル信号S119
がLとなっているので、リード要求がある時以外はデー
タをラッチ回路105にラッチすることがないので、無
効な値をラッチする無駄な動作を抑制することができ、
消費電力を削減することもできる。
【0034】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、例え高速
に連続レジスタリードを実行したとしてもラッチ回路の
イネーブル信号を適切に変化させることが可能となり、
正確にレジスタ値の連続読み出しを実行することが可能
となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態1によるデータ出力バッファ
回路図
【図2】本発明の実施形態1のタイミングチャート
【図3】従来構成のデータ出力バッファ回路図
【図4】従来構成のタイミングチャート
【符号の説明】
101 レジスタアレイ 102 内部データバス 103 アドレスデコーダ 104 セレクタ 105 ラッチ回路 106 論理ゲート 109 スイッチ付きバッファ 117 第1のセット付きフリップフロップ 118 第2のセット付きフリップフロップ 119 論理ゲート

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1のレベルを有する第1の信号と、ク
    ロックと、データをラッチする時に前記第1のレベルと
    反対のレベルである第2のレベルから前記第1のレベル
    となる制御信号とを入力して、前記制御信号が前記第1
    のレベルならば前記第2のレベルと同じレベルの信号
    を、また、前記第2のレベルならば前記クロックと同期
    して第1の信号を第1の出力信号として出力する第1の
    素子と、前記第1の出力信号と、前記クロックと、前記
    制御信号とを入力し、前記制御信号が前記第1のレベル
    ならば前記第2のレベルと同じレベルの信号を、また、
    前記第2のレベルならば前記クロックと同期して前記第
    1の出力信号を第2の出力信号として出力する第2の素
    子と、前記制御信号と前記第2の出力信号との論理積を
    行い第3の出力信号を生成する第3の素子と、前記第3
    の出力信号とラッチされる被ラッチデータとを入力し前
    記被ラッチデータをラッチするラッチ手段とを備えるこ
    とを特徴とする半導体装置。
JP11028230A 1999-02-05 1999-02-05 データ出力バッファ Pending JP2000228083A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100631778B1 (ko) 2004-12-09 2006-10-11 후지쯔 가부시끼가이샤 데이터 버퍼 회로, 인터페이스 회로 및 그 제어 방법

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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