JP2000213909A - 投影測定装置 - Google Patents
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Abstract
場合にマイラスクリーンの交換作業を必要としない投影
測定装置を提供する。 【解決手段】 被測定物55を載置するテーブル56
と、スクリーン1およびこのスクリーン1上に被測定物
55を投影する投影レンズ53を有する観察光学系と、
テーブル56と観察光学系とを相対移動させる相対移動
手段57と、この相対移動手段57による相対移動変位
量を検出する変位検出手段とを備え、このうち、スクリ
ーン1を液晶表示板にするとともに、この液晶表示板に
被測定物55の形状を測定するための線画像を所定の倍
率で表示させる表示制御手段を備える。
Description
り、特に、微細な被測定物をスクリーンに拡大投影し、
見本形状との比較測定などを行う投影測定装置に関す
る。
51の照射方向には、コンデンサレンズ52、投影レン
ズ53、スクリーン54がそれぞれ所定間隔を隔てて、
この順に配設されている。これらは観察光学系を構成す
る。このうち、コンデンサレンズ52と投影レンズ53
との間には、被測定物55を載置するテーブル56と、
このテーブル56を移動可能に支持する相対移動手段5
7とがそれぞれ設けられている。
方向(Z方向)およびこれに直交する2方向(XY方
向)に移動可能に支持するとともに、Z方向と平行な軸
を中心に旋回可能に支持している。ここで、その旋回角
度をθとする。光源51から射出された光は、コンデン
サレンズ52を介して被測定物55を照らす。被測定物
55の影は、投影レンズ53によって拡大され、スクリ
ーン54に被測定物の像58が照らし出される。スクリ
ーン54は、透明ガラスに、拡散処理されたマイラスク
リーンを着脱可能に取り付けたもので、マイラスクリー
ンの表面には被測定物55の見本形状(レチクル)が記
されている。
すように、被測定物55の像58と、その被測定物55
の見本形状59とが一緒に表示される。観察者は、スク
リーン54の表示を確認しながら、テーブル56を移動
し、被測定物55の像58と見本形状59とを重ねる等
して形状測定を行うことができる。
に、変位検出手段61によって検出されたのち、外部表
示器62に表示される。変位検出手段61は、前記テー
ブル56のXYZ方向への変位量を検出する直線変位検
出器(例えば、光学式リニアエンコーダ)と、テーブル
56の旋回角度θを検出する角度検出器(例えば、ロー
タリエンコーダ)とを備える。各エンコーダで検出され
た変位量、つまり、テーブル56のXYZ方向各々の変
位量はXYZカウンタ61aで、テーブル56の旋回角
度θはθカウンタ61bでそれぞれ計数されたのち、外
部表示器62に表示される。
リーンを十字線レチクル63に取り替え、被測定物55
の像58に対し、その一方の端部から他方の端部まで十
字線を相対移動させるようにテーブル56を動かしてや
ると、その際の変位量XYZθが外部表示器62に表示
されるから、外部表示器62に表示されたたXYZθの
値から被測定物55の寸法を計測することもできる。
来例にあっては、被測定物55の像58と見本形状59
との対比観察を行う場合には、被測定物55の種類また
は投影レンズの倍率に応じてマイラスクリーンを交換す
る必要があるため、交換作業が煩わしかった。また、寸
法測定ではスクリーン54を見ながらテーブル56を最
適位置に操作する必要があるので、その間は外部表示器
52に表示される測定値を確認しずらく、不便であっ
た。
都合を改善し、特に、被測定物の像と見本形状との対比
観察を行う場合にマイラスクリーンの交換作業を必要と
しない投影測定装置を提供することにある。また、本発
明の他の目的は、被測定物の像とテーブルの変位量など
のパラメータとを同時に視認することができる投影測定
装置を提供することにある。
は、上記目的を達成するため、次の構成を採用する。請
求項1に記載の発明は、被測定物を載置するテーブル
と、スクリーンおよびこのスクリーン上に前記被測定物
を投影する投影レンズを有する観察光学系と、前記テー
ブルと観察光学系とを相対移動させる相対移動手段と、
この相対移動手段による相対移動変位量を検出する変位
検出手段とを備えた投影測定装置において、前記スクリ
ーンを液晶表示板にするとともに、この液晶表示板に前
記被測定物の形状を測定するための線画像を所定の倍率
で表示させる表示制御手段を備えたことを特徴とする。
この発明によれば、表示制御手段が、液晶表示板に表示
する線画像を選択することが可能になるので、従来のよ
うに被測定物の種類や投影レンズの倍率に応じてマイラ
スクリーンを交換するという不便を解消できる。
するテーブルと、スクリーンおよびこのスクリーン上に
前記被測定物を投影する投影レンズを有する観察光学系
と、前記テーブルと観察光学系とを相対移動させる相対
移動手段と、この相対移動手段による相対移動量を検出
する変位検出手段とを備えた投影測定装置において、前
記観察光学系の光路中に挿入された液晶表示板と、前記
液晶表示板に被測定物の形状を測定するための線画像を
所定の倍率で表示させる表示制御手段とを備えたことを
特徴とする。この発明によれば、液晶表示板に表示され
た線画像が被測定物の像とともにスクリーンに投影され
る。このため、表示制御手段が、液晶表示板に表示する
線画像を選択することにより、従来のように被測定物の
種類や投影レンズの倍率に応じてマイラスクリーンを交
換するという不便を解消できる。
請求項2に記載の投影測定装置において、前記表示制御
手段は、前記変位検出手段によって検出された相対移動
変位量を前記液晶表示板に表示させることを特徴とす
る。この発明によれば、スクリーンには、被測定物の像
とともにテーブルの変位量が表示される。このため、ス
クリーンで被測定物の位置を確認しながらテーブルを操
作している最中でも、テーブルの変位量を同時に確認す
ることができる。
および図2に基づいて説明する。なお、これらの説明に
あたって、従来例と同一の構成部分については、同一符
号を付して重複説明を省略する。本実施形態に係る投影
測定装置では、図1に示すように、従来のスクリーン5
4に代えて、液晶表示板のスクリーン1が用いられてい
る。この液晶表示板のスクリーン1は、液晶表示板の表
面に無地の拡散スクリーンを施したものである。液晶表
示板を成す各部は、非表示状態において透明であり、表
示状態になると不透明になる特性を有している。
て、図2に示すように、表示制御手段2に接続されてい
る。表示制御手段2には、従来と同一の変位検出手段6
1と、レチクルのCADデータを記憶した記憶手段3と
が接続されている。CADデータには、レチクル十字線
のデータと、被測定物55の見本となる形状データが含
まれている。
ログラム(データ表示機能)を実行するコンピュータを
含んでいる。データ表示プログラムは、変位検出手段6
1からXYZカウンタ61aおよびθカウンタ61bの
出力値を読み込み、液晶表示板(スクリーン)1内のパ
ラメータ表示領域4に表示する。また、データ表示プロ
グラムは、外部の選択入力(図示略)に応じて記憶手段
3から所定のCADデータを選択し、液晶表示板(スク
リーン)1にレチクル十字線5と、所定倍率に編集した
被測定物の見本形状6,7とを表示する。
58と一緒にテーブル56の変位量のパラメータXYZ
θも映り、スクリーン1を覗きながらテーブル56を操
作していても、スクリーン1から一々目を離さずに同時
にテーブル56の変位量も確認することができる。ま
た、液晶表示板(スクリーン)1への表示データを変化
させることにより、従来のようなマイラスクリーンの交
換作業を伴わずに、被測定物の最適な見本形状を表示す
ることができる。
5を載置するテーブル56と、スクリーン1およびこの
スクリーン1上に被測定物55を投影する投影レンズ5
3を有する観察光学系と、テーブル56と観察光学系と
を相対移動させる相対移動手段57と、この相対移動手
段57による相対移動変位量を検出する変位検出手段6
1とを備え、このうち、スクリーン1を液晶表示板にす
るとともに、この液晶表示板に被測定物55の形状を測
定するための線画像5,6,7を所定の倍率で表示させ
る表示制御手段2を備えたので、表示制御手段2が、液
晶表示板に表示する線画像を選択することが可能とな
り、従来のように被測定物55の種類や投影レンズ53
の倍率に応じてマイラスクリーンを交換するという作業
上の不便を解消できる。
いて説明する。同図の説明にあたって、従来例および先
の実施形態と同一の構成部分については、同一符号を付
して重複説明を省略する。図3に示す投影測定装置で
は、先の実施形態の構成に加え、コンデンサレンズ52
と投影レンズ53との間に一対のリレーレンズ11が挿
入され、更に、このリレーレンズ11と投影レンズ53
との間に液晶表示板12が挿入されている。光路上にリ
レーレンズ11を挿入することにより、テーブル56の
載置面からレンズまでの作動距離Lを比較的長く確保す
ることができ、テーブル56のZ方向への可動範囲を広
く確保することができる。
像を1:1にリレーするものである。また、液晶表示板
12を成す各部は、非表示状態において透明であり、表
示状態になると不透明になる特性を有している。この液
晶表示板は、LCDパネル等であって、図2に示すよう
に、表示制御手段2に接続されている点は、先の実施形
態と同一である。一方、スクリーン54は、先の実施形
態と異なりスリガラスまたは透明ガラスに無地の拡散ス
クリーンを施したものである。
5の像がリレーレンズ11を透過し液晶表示板12に至
る。液晶表示板12には、表示制御手段2により、レチ
クル十字線、被測定物の見本形状レチクル、テーブル5
6の変位量XYZθが所定の外部入力に応じて選択的に
表示される。そして、この液晶表示板12の表示内容と
被測定物55の像とが一緒に投影レンズ53に入射し、
スクリーン54上に拡大投影される。
する見本形状レチクルを選択することにより、スクリー
ン54に表示される見本形状レチクルが変化するので、
従来例のようにマイラスクリーンを交換する手間が省け
る。また、表示制御手段2が、液晶表示板12にレチク
ル十字線とテーブル56の変位量XYZθを表示するこ
とにより、それらと被測定物55の像58とがスクリー
ン54に一緒に表示されるので、観察者は、スクリーン
54を見てテーブル56を動かしながら、同じスクリー
ン上でテーブル56の変位量XYZθを確認することが
できる。このため、操作性を向上することができる。ま
た、角度θを求めるために、テーブル56ではなく、ス
クリーン54をデジタル回転スクリーン(スクリーン5
4の回転角度がデジタル表示されるスクリーン)に置き
換えて測定することもできる。
物55を載置するテーブル56と、スクリーン54およ
びこのスクリーン54上に被測定物55を投影する投影
レンズ53を有する観察光学系と、テーブル56と観察
光学系とを相対移動させる相対移動手段57と、この相
対移動手段57による相対移動量を検出する変位検出手
段61とを備え、更に、観察光学系の光路中に挿入され
た液晶表示板12と、この液晶表示板12に被測定物5
5の形状を測定するための線画像5,6,7を所定の倍
率で表示させる表示制御手段2とを備えたので、液晶表
示板12に表示された線画像が被測定物55の像ととも
にスクリーン54に投影されることとなり、よって、表
示制御手段2が、液晶表示板12に表示する線画像を選
択することにより、従来のように被測定物55の種類や
投影レンズ53の倍率に応じてマイラスクリーンを交換
するという作業上の不都合を解消できる。
手段2は、変位検出手段61によって検出された相対移
動変位量XYZθを液晶表示板1,12に表示させるの
で、スクリーン1,54には、被測定物55の像ととも
にテーブル56の変位量XYZθを表示することがで
き、このため、スクリーン1,54で被測定物55の位
置を確認しながらテーブル56を操作している最中で
も、テーブル56の変位量XYZθを同時に確認するこ
とができる。
れば、表示制御手段が、液晶表示板に表示する線画像を
選択することが可能となり、従来のように被測定物の種
類や投影レンズの倍率に応じてマイラスクリーンを交換
するという作業上の不便を解消できる。
系の構成を示すブロック図である。
ある。
ロック図である。
る。
Claims (3)
- 【請求項1】 被測定物を載置するテーブルと、スクリ
ーンおよびこのスクリーン上に前記被測定物を投影する
投影レンズを有する観察光学系と、前記テーブルと観察
光学系とを相対移動させる相対移動手段と、この相対移
動手段による相対移動変位量を検出する変位検出手段と
を備えた投影測定装置において、 前記スクリーンを液晶表示板にするとともに、この液晶
表示板に前記被測定物の形状を測定するための線画像を
所定の倍率で表示させる表示制御手段を備えたことを特
徴とする投影測定装置。 - 【請求項2】 被測定物を載置するテーブルと、スクリ
ーンおよびこのスクリーン上に前記被測定物を投影する
投影レンズを有する観察光学系と、前記テーブルと観察
光学系とを相対移動させる相対移動手段と、この相対移
動手段による相対移動量を検出する変位検出手段とを備
えた投影測定装置において、 前記観察光学系の光路中に挿入された液晶表示板と、前
記液晶表示板に被測定物の形状を測定するための線画像
を所定の倍率で表示させる表示制御手段とを備えたこと
を特徴とする投影測定装置。 - 【請求項3】 請求項1または請求項2に記載の投影測
定装置において、 前記表示制御手段は、前記変位検出手段によって検出さ
れた相対移動変位量を前記液晶表示板に表示させること
を特徴とする投影測定装置。
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002268145A (ja) * | 2001-03-13 | 2002-09-18 | Nikon Corp | チャート投影機能を持つ投影機 |
| JP2012179688A (ja) * | 2011-03-02 | 2012-09-20 | Kawakami Sangyo Co Ltd | 指標表示装置、裁断処理システム及び指標表示プログラム |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001289614A (ja) * | 2000-01-31 | 2001-10-19 | Omron Corp | 変位センサ |
| US7216045B2 (en) * | 2002-06-03 | 2007-05-08 | Timbre Technologies, Inc. | Selection of wavelengths for integrated circuit optical metrology |
| CN101308016B (zh) * | 2008-07-03 | 2010-04-21 | 株洲南车时代电气股份有限公司 | 一种电气产品面板透光检测方法 |
| CN101907442B (zh) * | 2009-06-08 | 2013-07-31 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 投影式量测装置 |
| US8269970B2 (en) | 2009-07-02 | 2012-09-18 | Quality Vision International, Inc. | Optical comparator with digital gage |
| TWI426227B (zh) | 2010-12-30 | 2014-02-11 | 財團法人工業技術研究院 | 移動樣品之形貌的量測方法及其裝置 |
| CN102759329A (zh) * | 2012-07-18 | 2012-10-31 | 广元博锐精工科技有限公司 | 检测微小复杂零部件精确度的装置及方法 |
| CN110480510B (zh) * | 2019-07-25 | 2025-01-03 | 广州市宇欣光电子技术研究所有限公司 | 一种用于磨削加工的光学测量系统及应用方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4567478A (en) * | 1982-03-12 | 1986-01-28 | Carl-Zeiss-Stiftung, Heidenheim/Brenz | Liquid-crystal display for microscopes |
| US5886788A (en) * | 1996-02-09 | 1999-03-23 | Sony Corporation | Apparatus and method for detecting a posture |
-
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002268145A (ja) * | 2001-03-13 | 2002-09-18 | Nikon Corp | チャート投影機能を持つ投影機 |
| JP2012179688A (ja) * | 2011-03-02 | 2012-09-20 | Kawakami Sangyo Co Ltd | 指標表示装置、裁断処理システム及び指標表示プログラム |
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