JP2000212281A - ポリベンゾオキサゾ―ル前駆体及びポリベンゾオキサゾ―ル樹脂 - Google Patents

ポリベンゾオキサゾ―ル前駆体及びポリベンゾオキサゾ―ル樹脂

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JP2000212281A
JP2000212281A JP1793599A JP1793599A JP2000212281A JP 2000212281 A JP2000212281 A JP 2000212281A JP 1793599 A JP1793599 A JP 1793599A JP 1793599 A JP1793599 A JP 1793599A JP 2000212281 A JP2000212281 A JP 2000212281A
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polybenzoxazole
formula
precursor
resin
acid
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Toshimasa Eguchi
敏正 江口
Mitsumoto Murayama
三素 村山
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体用途に優れた熱特性、電気特性、低吸
水性に優れた耐熱性樹脂を提供する。 【解決手段】 一般式(1)で表される繰り返し単位を
有するポリベンゾオキサゾール前駆体及びこのポリベン
ゾオキサゾール前駆体を脱水閉環した構造を有するポリ
ベンゾオキサゾール樹脂。 【化1】 (式中、nは1〜1000までの整数を示す。R1
2、R3、R4、R5およびR6はFまたはフルオロアル
キル基であり互いに同じであっても異なってもよい。R
7およびR8はHまたは1価の有機基である。iは1〜6
までの整数を示す。Yは2価以上の有機基を表す。)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電気特性、熱特性、
機械特性、物理特性に優れたポリベンゾオキサゾール前
駆体及びポリベンゾオキサゾール樹脂に関するものであ
り、半導体用の層間絶縁膜、保護膜、多層回路の層間絶
縁膜、フレキシブル銅張板のカバーコート、ソルダーレ
ジスト膜、液晶配向膜などとして適用できる。
【0002】
【従来の技術】半導体用絶縁材料に求められている特性
のなかで電気特性、特に誘電率と耐熱性は最も重要な特
性である。この2つの特性を両立させるために耐熱性の
高い有機系の絶縁膜が期待されている。例えば従来から
用いられている二酸化シリコン等の無機の絶縁膜は高耐
熱性を示すが誘電率が高く、前述の特性について両立が
困難になりつつある。ポリイミド樹脂に代表される有機
系の絶縁膜は電気特性、耐熱性に優れ2つの特性の両立
が可能であり、実際にソルダーレジスト、カバーレイ、
液晶配向膜などに用いられている。しかしながら近年の
半導体の高機能化、高性能化にともない、電気特性、耐
熱性について著しい向上が必要とされているため、更に
高性能な樹脂が必要とされるようになっている。特に誘
電率について2.5を下回るような低誘電率材料が期待
されており、ポリイミド樹脂においてもフッ素並びにト
リフルオロメチル基を高分子内に導入することにより電
気特性と耐熱性を両立することが試みられているが、現
時点では必要とされる水準まで達していない。
【0003】ポリイミド樹脂以外の樹脂ではポリベンゾ
オキサゾール樹脂が期待されている。ポリイミド樹脂は
イミド環にカルボキシル基を2個有していることで電気
特性に悪影響を及ぼしている。従って、一般にポリベン
ゾオキサゾール樹脂はポリイミド樹脂よりも電気特性に
優れ、かつ耐熱性も同等であるため、極めて有用な樹脂
である。しかし、要求されている電気特性の水準が非常
に高く、これまでのポリベンゾオキサゾール樹脂では要
求されている水準まで達していない。さらに低吸水性も
重要な特性の一つで、樹脂が吸水すると、電気特性と耐
熱性の片方または両方が悪化するからである。この点に
於いてもポリベンゾオキサゾール樹脂はポリイミド樹脂
よりも一般に低吸水性を示すためより優れた樹脂であ
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は電気特性、耐
熱性及び低吸水性に優れた樹脂を提供する事を目的とす
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、前記従来
の問題点を鑑み、鋭意検討を重ねた結果、一般式(1)
で表される繰り返し単位を有するポリベンゾオキサゾー
ル前駆体、及びこのポリベンゾオキサゾール前駆体を脱
水閉環した構造を有するポリベンゾオキサゾール樹脂を
見いだし、本発明を完成するに至った。
【0006】
【化1】 (式中、nは1〜1000までの整数を示す。R1
2、R3、R4、R5およびR6はFまたはフルオロアル
キル基であり互いに同じであっても異なってもよい。R
7およびR8はHまたは1価の有機基である。iは1〜6
までの整数を示す。Yは2価以上の有機基を表す。)
【0007】
【発明の実施の形態】本発明のポリベンゾオキサゾール
前駆体の製造方法は、一般式(2)で表されるビスアミ
ノフェノール化合物またはそのエステル化物もしくはエ
ーテル化物などの誘導体と一般式(3)で表されるジカ
ルボン酸とを酸クロリド法またはポリリン酸もしくはジ
シクロヘキシルジカルボジイミド等の脱水縮合剤の存在
下での縮合反応等の方法により得ることができる。
【0008】
【化2】 (式中、nは1〜1000までの整数を示す。R1
2、R3、R4、R5およびR6はFまたはフルオロアル
キル基であり互いに同じであっても異なってもよい。R
7およびR8はHまたは1価の有機基である。iは1〜6
までの整数を示す。Yは2価以上の有機基を表す。)
【0009】
【化3】 (式中、Yは2価以上の有機基を表す。)
【0010】本発明に用いる前記一般式(2)で表され
るビスアミノフェノール化合物の例としては、化学式
(4)〜(14)の化合物を挙げることができるが、こ
れらに限定されるものではない。これらのビスアミノフ
ェノール化合物は単独、または組み合わせて使用するこ
とができる。また、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジ
ヒドロキシビフェニル、2,2’-ビス(3-アミノ-4-
ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,
2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシ−5−トリフ
ルオロフェニル)ヘキサフルオロプロパン等の前記一般
式(2)で表されるビスアミノフェノール化合物以外の
ビスアミノフェノール化合物を併用することも性能を損
なわない範囲で可能である。
【0011】
【化4】
【0012】
【化5】
【0013】
【化6】
【0014】本発明に用いる一般式(3)で表されるジ
カルボン酸の例を挙げるとイソフタル酸、テレフタル
酸、3−フルオロイソフタル酸、2−フルオロイソフタ
ル酸、3−フルオロフタル酸、2−フルオロフタル酸、
2−フルオロテレフタル酸、2,4,5,6−テトラフ
ルオロイソフタル酸、3,4,5,6−テトラフルオロ
フタル酸、4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリデン
ジフェニル−1,1’ジカルボン酸、パーフルオロスベ
リン酸、2,2’−ビス(トリフルオロメチル)−4,
4’−ビフェニレンジカルボン酸、4,4’−オキシビ
ス安息香酸等であるが、必ずしもこれらに限られるもの
ではない。また2種類以上のカルボン酸を組み合わせて
使用することも可能である。
【0015】酸クロリド法によるポリベンゾオキサゾー
ル前駆体の合成の例を挙げると、まず前記ジカルボン酸
を、N,N−ジメチルホルムアミド等の極性溶媒に溶解
し、過剰の塩化チオニル存在下で室温から75℃で反応
させ、過剰の塩化チオニルを加熱及び減圧により留去す
る。その後析出物をヘキサン等の溶媒で再結晶すること
により、酸クロリドであるジカルボン酸クロリドを得
る。次いで前記ビスアミノフェノール化合物を、通常N
−メチル−2−ピロリドン、ジメチルアセトアミド等の
極性溶媒に溶解し、ピリジン等の酸受容剤存在下で、ジ
カルボン酸クロリドと−30℃から室温で反応すること
によりポリベンゾオキサゾール前駆体を得ることができ
る。
【0016】本発明のポリベンゾオキサゾール樹脂は、
このようにして得られたポリベンゾオキサゾール前駆体
を従来法の通り、加熱または脱水剤で処理することによ
り脱水・閉環反応し、得ることができる。これに、必要
により各種添加剤として、界面活性剤やカップリング剤
等を添加し、半導体用層間絶縁膜、保護膜、多層回路の
層間絶縁膜、フレキシブル銅張板のカバーコート、ソル
ダーレジスト膜、液晶配向膜等として用いることができ
る。
【0017】また、本発明におけるポリベンゾオキサゾ
ール樹脂は、該前駆体の前記一般式(1)に示されるR
7およびR8の少なくとも一方がHである場合は感光剤と
してナフトキノンジアジド化合物を用いることでポジ型
の感光性樹脂組成物として、該前駆体の前記一般式
(1)に示されるR7およびR8の少なくとも一方がメタ
クリロイル基のような光架橋性基を有する基である場合
は光開始剤を用いることでネガ型感光性樹脂組成物とし
て用いることが可能である。
【0018】本発明のポリベンゾオキサゾール前駆体
は、通常、これを溶剤に溶解し、ワニス状にして使用す
る。溶剤としては、N−メチル−2−ピロリドン、γ−
ブチロラクトン、N,N−ジメチルアセトアミド、ジメ
チルスルホキシド、ジエチレングリコールジメチルエー
テル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチ
レングリコールジブチルエーテル、プロピレングリコー
ルモノメチレエーテル、ジプロピレングリコールモノメ
チレエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテ
ルアセテート、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸ブチル、
メチル−1,3−ブチレングリコールアセテート、1,
3−ブチレングリコール−3−モノメチルエーテル、ピ
ルビン酸メチル、ピルビン酸エチル、メチル−3−メト
キシプロピオネート等を1種、または2種以上混合して
用いることが出来る。
【0019】本発明のポリベンゾオキサゾール前駆体の
使用方法は、まず該前駆体を上記溶剤に溶解し、適当な
支持体、例えばガラス、金属、シリコーンウエハーやセ
ラミック基盤等に塗布する。塗布方法は、スピンナーを
用いた回転塗布、スプレーコーターを用いた噴霧塗布、
浸漬、印刷、ロールコーティング等が選ばれる。このよ
うにして、塗膜を形成した後、加熱処理をして、ポリベ
ンゾオキサゾール樹脂に変換し用いることが好ましい。
また、ジカルボン酸成分を選択することにより溶剤に可
溶なポリベンゾオキサゾール樹脂として用いることもで
きる。
【0020】
【実施例】以下に実施例により本発明を具体的に説明す
るが、実施例の内容になんら限定されるものではない。
【0021】酸クロリドの合成例 (合成例1)4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリデ
ンジフェニル−1,1’ジカルボン酸25g、塩化チオ
ニル45ml及び乾燥ジメチルホルムアミド(以下DM
Fと略す)0.5mlを反応容器に入れ、60℃で2時
間反応させた。反応終了後、過剰の塩化チオニルを加熱
及び減圧により留去した。析出物をヘキサンを用いて再
結晶を行い、4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリデ
ンジフェニル−1,1’ジカルボン酸クロリドを得た。
【0022】(合成例2)1,2,3,5−テトラフル
オロ−4,6−ジシアノベンゼン50gを65%硫酸水
250gに加えた。加熱して溶解させたあと還流条件下
3時間加熱した。析出した結晶を吸引濾過し、集めた結
晶を濃塩酸で洗浄後風乾した。このようにしてテトラフ
ルオロイソフタル酸を得た。テトラフルオロイソフタル
酸15gを塩化チオニル45ml及び乾燥DMF0.5
mlを反応容器に入れ、60℃で2時間反応させた。反
応終了後、過剰の塩化チオニルを加熱及び減圧により留
去した。残査について減圧蒸留を行い、テトラフルオロ
イソフタル酸クロリドを得た。
【0023】ポリベンゾオキサゾール前駆体及びポリベ
ンゾオキサゾール樹脂の実施例
【0024】(実施例1)攪拌装置、窒素導入管、滴下
漏斗を付けたセパラブルフラスコ中、前記化学式(6)
で表されるビスアミノフェノール化合物9.57g
(0.02mol)を乾燥したジメチルアセトアミド1
00gに溶解し、ピリジン3.96g(0.05mo
l)を添加後、乾燥窒素導入下、−15℃でジメチルア
セトアミド50gに合成例1で得た4,4’−ヘキサフ
ルオロイソプロピリデンジフェニル−1,1’ジカルボ
ン酸クロリド8.46g(0.02mol)を溶解した
ものを30分掛けて滴下した。滴下終了後、室温まで戻
し、室温で5時間攪拌した。その後、反応液を蒸留水1
000mlに滴下し、沈殿物を集め、乾燥することによ
りポリベンゾオキサゾール前駆体を得た。
【0025】このポリベンゾオキサゾール前駆体をN−
メチル−2−ピロリドンに溶解し、ワニスを得た。この
ワニスをガラス板上にギャップ300μmのドクターナ
イフを用いて塗布した。その後、オーブン中で70℃1
時間乾燥し、はく離して膜厚20μmのポリベンゾオキ
サゾール前駆体フィルムを得た。そのフィルムを金枠で
固定し、150℃/30分、250℃/30分、350
℃/30分の順で窒素雰囲気下で加熱し、ポリベンゾオ
キサゾール樹脂を得た。この試験フィルムを用いて、各
種特性を評価し、その結果を表1にまとめた。
【0026】(実施例2)実施例1で用いた前記化学式
(6)で表されるビスアミノフェノール化合物9.57
g(0.02mol)の代わりに前記化学式(9)で表
されるビスアミノフェノール化合物9.57g(0.0
2mol)を、実施例1で用いた4,4’−ヘキサフル
オロイソプロピリデンジフェニル−1,1’ジカルボン
酸クロリド8.46g(0.02mol)の代わりに合
成例2で得たテトラフルオロイソフタル酸クロリド5.
42g(0.02mol)を用いた以外は実施例1と同
様にしてポリベンゾオキサゾール樹脂を作製し、評価を
行った。
【0027】(実施例3)実施例1で用いた前記化学式
(6)で表されるビスアミノフェノール化合物9.57
g(0.02mol)の代わりに前記化学式(10)で
表されるビスアミノフェノール誘導体10.09g
(0.02mol)を用いた以外は実施例1と同様にし
てポリベンゾオキサゾール樹脂を作製し、評価を行っ
た。
【0028】(実施例4)実施例1で用いた前記化学式
(6)で表されるビスアミノフェノール化合物9.57
g(0.02mol)の代わりに前記化学式(8)で表
されるビスアミノフェノール化合物8.67g(0.0
15mol)と2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒド
ロキシ−5−トリフルオロフェニル)ヘキサフルオロプ
ロパン2.51g(0.005mol)を用いた以外は
実施例1と同様にしてポリベンゾオキサゾール樹脂を作
製し、評価を行った。
【0029】(比較例1)実施例1で用いた前記化学式
(6)で表されるビスアミノフェノール化合物9.57
g(0.02mol)の代わりに3,3’−アミノ−
4,4’−ヒドロキシビフェニル4.32g(0.02
mol)を用いた以外は実施例1と同様にしてポリベン
ゾオキサゾール樹脂を作製し、評価を行った。
【0030】(比較例2)攪拌装置、窒素導入管、原料
投入口を備えたセパラブルフラスコ中、2,2−ビス
[4,4’−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロ
パン10.36g(0.02mol)を乾燥したN−メ
チル−2−ピロリドン150gに溶解する。乾燥窒素
下、10℃に溶液を冷却してピロメリット酸二無水物
4.36gを投入した。投入から5時間後に室温まで戻
し、室温で2時間攪拌し、ポリイミド前駆体溶液を得
た。このポリイミド前駆体を孔径0.2μmのテフロン
フィルターで濾過しワニスを得た。このワニスをガラス
板上にギャップ300μmのドクターナイフを用いて塗
布した。その後、オーブン中で70℃1時間乾燥し、は
く離して膜厚20μmのポリイミド前駆体フィルムを得
た。そのフィルムを金枠で固定し、150℃/30分、
250℃/30分、350℃/30分の順で窒素雰囲気
下で加熱し、ポリイミド樹脂を得た。このポリイミド樹
脂について、実施例1と同様に評価を行った。
【0031】実施例と比較例での評価結果を表1に示
す。
【表1】
【0032】表1の結果から、実施例1〜4の本発明の
ポリベンゾオキサゾール前駆体を用いて作製したポリベ
ンゾオキサゾール樹脂はいずれも誘電率が低く2.3〜
2.4であり、さらに耐熱性が高く、吸水率が低いとい
う良好な特性を示した。
【0033】比較例1では、ポリベンゾオキサゾール樹
脂ではあるもののポリベンゾオキサゾール前駆体におい
て本発明の一般式(1)で表される繰り返し単位を有し
ていないので、実施例1〜4に比べて誘電率が高く、
2.5を下回る値は得られなかった。
【0034】比較例2ではポリイミド前駆体を用いて作
製したポリイミド樹脂を用いたために、誘電率と吸水率
が実施例1〜4に比べて高い値しか得られなかった。
【0035】
【発明の効果】本発明のポリベンゾオキサゾール前駆体
及びポリベンゾオキサゾール樹脂は、電気特性、耐熱性
及び物理特性に優れたものである。従って、これらの特
性が要求される様々な分野、例えば半導体用の層間絶縁
膜、保護膜、多層回路の層間絶縁膜、フレキシブル銅張
板のカバーコート、ソルダーレジスト膜、液晶配向膜な
どとして有用な高分子材料である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 3/46 H05K 3/46 T Fターム(参考) 2H090 HA08 HB13X HB13Y HB17X HB17Y HC05 HD01 HD15 4J043 PA02 PC146 PC156 QA08 RA05 ZA31 ZA41 ZB11 ZB47 5E314 AA27 AA31 AA36 CC02 CC03 CC04 CC06 DD06 FF02 FF03 FF04 GG03 GG08 5E346 CC08 CC46 CC52 DD03 HH01 HH18 5G305 AA07 AA11 AB01 AB24 AB26 BA09 CA20 CA38 CA55 CA60

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一般式(1)で表される繰り返し単位を
    有するポリベンゾオキサゾール前駆体。 【化1】 (式中、nは1〜1000までの整数を示す。R1
    2、R3、R4、R5およびR6はFまたはフルオロアル
    キル基であり互いに同じであっても異なってもよい。R
    7およびR8はHまたは1価の有機基である。iは1〜6
    までの整数を示す。Yは2価以上の有機基を表す。)
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のポリベンゾオキサゾー
    ル前駆体を閉環した構造を有するポリベンゾオキサゾー
    ル樹脂。
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