JP2000171680A - 測距装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】受光部の設計自由度を得ることにより高い測距
精度を確保し、各構成部材の配置の自由度を確保して小
型化に寄与する測距装置を提供することである。 【解決手段】この測距装置は、反射型投光器４０から測
距用光束が対象物に向けて投射され、該測距用光束によ
る対象物からの反射光がＰＳＤ４４で受光される。そし
て、このＰＳＤ４４からの出力に基いて、当該装置から
対象物までの距離に関する信号がＣＰＵにより演算され
る。上記反射型投光器４０は、ＩＲＥＤ１２と、このＩ
ＲＥＤ１２からの光を集光して一方向に出力する凹型反
射鏡１７とを有して構成されている。また、この凹型反
射鏡１７の裏側には、測距動作に係る回路部品の少なく
とも一部が配置されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は測距装置に関し、
より詳細には、近赤外光を被写体に向けて投光する投光
手段と被写体から反射してきた被写体反射光を受光する
受光手段とを略並列に配設したカメラの測距装置に関す
るものである。

【０００２】

【従来の技術】従来より、投光素子で発する近赤外光等
の光をオートフォーカス（ＡＦ）用投光レンズ等を介し
て被写体に向けて投光し、被写体からの反射光をＡＦ用
受光レンズ、プリズム等を介して受光素子に導くことに
より、被写体までの測距を行う、いわゆるアクティブ方
式のカメラの測距装置については、種々の提案がなさ
れ、また一般的に実用化されている。

【０００３】例えば、特開平４−３０５６０８号公報に
開示されているカメラの測距装置は、アクティブ方式の
測距装置の投受光部を構成する光学系内に、光路軸を投
光部と受光部を結ぶ基線と平行な方向に屈曲させる反射
面を有するミラー、プリズム等の反射手段を設け、これ
により被写体反射光を受光素子に導くように構成してい
る。

【０００４】これによれば、測距装置の基線長は短縮す
ることなく、被写体反射光が、カメラ内の他の部材や機
構等によって干渉されないように測距装置等の部材配置
を簡略にまとめることができるので、カメラ内でのスペ
ースの有効利用ができる。また、基線長の短縮を伴わな
いので、測距装置による測距精度を低下させることもな
い。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記特開平
４−３０５６０８号公報に於ける技術手段では、光路軸
を投光部と受光部を結ぶ基線と平行な方向に屈曲させる
ようにしているので、カメラ内に於いて、受光素子を配
置する自由度がなくなってしまう。したがって、カメラ
内の部材配置に関しては有利なレイアウトではない。

【０００６】つまり、カメラ内への測距装置の部材配置
を効率良く行うことができず、場合によってはカメラ自
体が大型化してしまうということもある。これらを解決
する技術として、本件出願人は、特開平１０−８２９４
８号公報等に提案しているが、投光手段には何ら工夫が
なされていないもので、更に改良する余地があった。

【０００７】この発明の目的は、上記実状に鑑みてなさ
れたものであり、オートフォーカス（ＡＦ）動作を行う
測距装置に於いて、測距用光を投射する投光手段を小型
化して、より細かな設計上の配慮を必要とする受光部の
設計自由度を得ることによって高い測距精度を確保する
と共に、各構成部材の配置の自由度を確保して小型化に
寄与することのできる測距装置を提供することである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】すなわちこの発明は、測
距用光束を対象物に投射する投光手段と、上記測距用光
束による対象物からの反射光を受ける受光手段と、上記
受光手段の出力に基いて、当該装置から対象物までの距
離に関する信号を出力する演算手段とを備えた測距装置
であって、上記投光手段は、発光手段と、この発光手段
からの光を集光して一方向に出力する反射手段とを有
し、測距動作に係る回路部品の少なくとも一部を上記反
射手段の裏側に配置してなることを特徴とする。

【０００９】この発明の測距装置にあっては、近赤外光
を被写体に向けて投光する投光手段と、被写体から反射
してきた被写体反射光を受光する受光手段とが略並列に
配設されている。上記投光手段は、発光素子からの反射
光の略全てを反射する集光投光部を有するパッケージを
有しており、このパッケージにより投射されて、被写体
から反射された光を受光する受光素子とから成ってい
る。上記パッケージの背面には、測距用ＩＣや周辺回路
部品を配置して、装置全体をコンパクトにまとめ、ノイ
ズなどの混入を防止して、高精度化も試みている。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明の
実施の形態を説明する。

【００１１】初めに、この発明の測距装置の投光器の基
本的な構成について説明する。

【００１２】図２は、この発明の測距装置の投光器の基
本となる構成を示したもので、図２（ａ）は投光器の側
断面図、図２（ｂ）は該投光器の正面図を示している。

【００１３】発光ダイオード（ＬＥＤ）１はチップで構
成されており、このＬＥＤチップ１から投射される光が
反射されるように、該ＬＥＤ１より所定距離離れた位置
に凹型反射鏡２が配置されている。なすわち、図２に示
されるように、ＬＥＤチップ１の光が凹型反射鏡２で散
光され、平行光として反射されて投射されるようになっ
ている。

【００１４】上記投光器は、ＬＥＤチップ１と凹型反射
鏡２の位置関係を適正に固定するために、半田付け用の
リード部３ａ、３ｂ及びＬＥＤチップ１に電気を通すた
めのワイヤ４と、パッケージ５を有して構成されてい
る。また、図２（ａ）に示されるように、投光器７の前
面には透明カバー６が取付けられている。赤外線を投射
する場合は、カバーは赤外光のみを透過すれば良く、可
視光カットフィルタとして見た目に透明による必要はな
い。

【００１５】図３（ａ）は、凹型反射鏡を有していない
一般的な投光器の構成を示した図である。図３（ａ）に
於いて、パッケージ１０内の基板上に取付けられたＩＲ
ＥＤチップ１２から照射された光束は、透明カバー１３
を介して投光レンズ１４で集光されて図示されない被写
体に投光される。

【００１６】一方、図３（ｂ）に示される凹型反射鏡を
用いた投光器では、パッケージ１５内の基板１６に取付
けられたＩＲＥＤチップ１２からの光束は、凹型反射鏡
１７で反射されて上記被写体に向けて投光されるように
構成されている。すなわち、この反射型の投光器は、反
射によって、光が同じ光路を２回通るので、光路長を長
く確保することができる。したがって、同じ集光効果を
得るのに、図３（ｂ）に示される反射型の投光器は、図
３（ａ）に示される投光器よりも省スペース化、この場
合は５ｍｍの省スペース化が可能である。

【００１７】このように、投光器は、単純な構成で薄型
に設計できるので、カメラに使用する場合、投光手段、
受光手段が配置されて空いたスペースに測距用回路を配
置する等、装置が薄くなったスペースを利用して、様々
な小型化のメリットを得ることができる。

【００１８】次に、この発明の第１の実施の形態とし
て、上述した投光器をカメラの赤外投光式アクティブＡ
Ｆ装置に適用した例について説明する。

【００１９】この第１の実施の形態では、ＬＥＤチップ
には、赤外線を投射するタイプ（赤外線発光ダイオード
（ＩＲＥＤ））を用いて、人の目にまぶしくないように
する。

【００２０】図４は、この発明の第１の実施の形態でカ
メラのＡＦ装置の概略構成を示した図である。

【００２１】図４に於いて、演算制御回路（ＣＰＵ）２
０は、このカメラの各種動作を制御するもので、ワンチ
ップマイクロコンピュータ等から構成される。ＣＰＵ２
０からは、ドライバ２１を介してＩＲＥＤ１２に電流が
供給され、これにより被写体２２に対して測距用光が投
射される。被写体２２により反射された測距用光は、受
光レンズ２３を介して光位置検出素子（ＰＳＤ）２４に
入射される。

【００２２】このＡＦ装置では、投光位置と受光位置に
差異があるため、被写体２２の距離が変化すると、三角
測距の原理に従って、ＰＳＤ２４に入射される測距用光
の位置ｘが変化する。ＰＳＤ２４では、この光の入射位
置ｘに応じて電流信号が出力されるので、これを増幅し
てアナログ演算する機能が必要となる。これが、ＡＦ用
のＩＣ（ＡＦＩＣ）２５である。

【００２３】このＡＦＩＣ２５は、上述したようにＰＳ
Ｄ２４の出力を増幅して演算し、その出力をＣＰＵ２０
に入力する。そして、ＣＰＵ２０では、ピント合せレン
ズの繰り出し制御量が演算されて、その結果に基いてピ
ント合わせ部２６を制御するようになっている。

【００２４】図５（ａ）は、ＡＦ回路の電気系を、より
具体的に示した構成図である。同図に於いて、ＡＦＩＣ
２５には、上述したＣＰＵ２０、ＰＳＤ２４の他に、ド
ライバ用のトランジスタ２９及び抵抗３０と、フィルタ
用コンデンサ３１、３２と、積分用コンデンサ３３が接
続されている。

【００２５】これらの細かい部品も、実際には、図５
（ｂ）に示される回路基板の実装図にあるように、多く
のスペースを占有してしまう。したがって、これらの部
品も、この発明による空いたスペースに配置すればよ
い。

【００２６】尚、図５（ｂ）に於いて、３５は硬質基板
であり、３７はＩＲＥＤ１２を収容するパッケージであ
る。

【００２７】図６は、第１の実施の形態による硬質基板
の取付け状態を示した構造図である。

【００２８】図６に於いて、ＣＰＵ２０は硬質基板３５
ａ上に実装されている。そして、この硬質基板３５ａ
は、ねじ等のコネクト部３８によって、図示の如く形成
されてＰＳＤ２４等の電子部品が実装された硬質基板３
５ｂが接続される。すなわち、硬質基板３５ａと、電子
部品が実装された部分の硬質基板３５ｂとは、交差する
方向に配置される。

【００２９】図１は、この発明の第１の実施の形態に於
ける測距装置の実際の構造を示した図である。

【００３０】図１（ａ）に於いて、反射型投光器４０の
後方と、受光レンズ４２、ミラー４３、光位置検出素子
（ＰＳＤ）４４等から成る受光部の隙間のスペースに、
上記投光器のＩＲＥＤチップ１２に電流を供給するトラ
ンジスタ４５が配置されている。また、フレキシブル基
板４１ａは、上記反射型投光器４０とトランジスタ４５
が実装されて両者を接続している。更に、フレキシブル
基板４１ｂは、上記トランジスタ４５を制御するため
の、カメラ制御用のマイクロコンピュータ（図示せず）
からの信号をトランジスタ４５に導く働きを有してい
る。

【００３１】図１（ｂ）は、図１（ａ）に示されるフレ
キシブル基板をより解りやすく示した図である。

【００３２】図１（ｂ）に於いて、反射型投光器４０の
電極４８、４９と、トランジスタ４５の間は、フレキシ
ブル基板４１ｂによって接続されている。上記反射型投
光器４０は、反射面を有する透明パッケージの中に埋込
まれた電極４８にＩＲＥＤチップ１２が実装されてお
り、もう一方の電極４９からはワイヤ５０によって上記
ＩＲＥＤチップ１２に電流が供給されるようになってい
る。この駆動電流によって発光の強さが決るため、一般
のカメラでは１００ｍＡから１Ａオーダの電流が使用さ
れる。

【００３３】一方、ＰＳＤ４４の出力電流はｎＡからμ
Ａオーダであり、これらの微弱電流ラインに、上述した
ＩＲＥＤドライブのような大きな電流ラインが重なった
り、接触したりすると、ノイズが重畳されやすくなり、
正確な測距ができなくなる。

【００３４】また、大電流ラインが長すぎると、ノイズ
源となる他、配線インピーダンスによって電流が流れに
くくなって信号光量が減少し、精度劣化となる。

【００３５】そこで、本実施の形態では、フレキシブル
基板４１ｂによって、ドライバ（トランジスタ４５）と
投光器４０の間をなるべく近接させ、ノイズが発生され
たり、インピーダンスが増加したりするのを防ぎ、精度
の向上を図っている。

【００３６】以上説明したように、第１の実施の形態で
は、反射型投光器を採用しての投光部の小型化によって
得られたスペースを有効利用して装置を小型化すると共
に、ノイズやインピーダンスの増加を防ぎ、同時に精度
の向上を図ることができる。

【００３７】次に、この発明の第２の実施の形態を説明
する。

【００３８】図７は、この発明の第２の実施の形態によ
る測距装置の構造を示した図である。

【００３９】図７（ａ）に示されるように、反射型投光
器４０の後方に、フレキシブル基板５５に実装されたＡ
Ｆ用ＩＣ５７が配置されている。これは、ＰＳＤ４４か
ら出力された信号を増幅演算する集積回路であり、上述
したように微小電流を扱う回路である。この集積回路
は、極めて小さな電流が入力されるので、ＰＳＤ４４と
ＡＦＩＣ５７の間はなるべく近い方がよく、長い配線で
あると、すぐにノイズが重畳されて精度劣化となるが、
このように近接配置されていれば問題はない。

【００４０】図７（ｂ）は、同図（ａ）に示されるＰＳ
Ｄ４４とＡＦＩＣ５７が実装されるフレキシブル基板５
５の構造例を判りやすく示した図である。

【００４１】図７（ｂ）に示されるように、ＩＲＥＤを
収容する反射型投光器４０の方からノイズが混入される
のを防ぐために、フレキシブル基板５５には延長部５６
が設けられており、この延長部５６がシールドパターン
として対策されている。このＡＦＩＣ５７が実装されて
いるスペースには、ＩＣの他、ＩＣの出力を積分するコ
ンデンサやＩＣのサンプルホールド動作用のコンデンサ
を一緒に実装してもよい。

【００４２】以上説明したように、第２の実施の形態に
よれば、反射型投光器４０の採用による投光部の小型化
によって得られたスペースを有効利用して装置を小型化
すると共に、ノイズの混入を防止して精度の向上を図る
ことができる。

【００４３】次に、この発明の第３の実施の形態を説明
する。

【００４４】この第３の実施の形態では、投光部の小型
化によって得られたスペースに加え、受光側もプリズム
を用いて、更なる単純化、小型化を図ろうとするもので
ある。そして、上述した投光用トランジスタや、ＡＦＩ
Ｃに加えて、電源安定化用のコンデンサまでを収納し
て、更に装置の小型化を図ろうとするものである。ま
た、ここでは、カメラのファインダの配置まで、より詳
しく説明して、この発明の全体像を伝えるようにしてい
る。

【００４５】以下、図８乃至図１０を参照して、この発
明の第３の実施の形態について説明する。

【００４６】図８は、この発明の第３の実施の形態の測
距装置が適用されたカメラの正面図であり、図９は図８
に於けるＡ−Ａ線に沿った拡大横断面図であり、図１０
は、この第３の実施の形態のカメラの測距装置の所要部
材のみを取り出して示す分解斜視図である。

【００４７】図８に於いて、この第３の実施の形態の測
距装置が適用されるカメラ６０の全面側には、その左半
部に図示Ｘ１、Ｘ２方向に摺動自在に配設されたスライ
ドバリア６１と、このスライドバリア６１が開状態とさ
れた場合（図８に示された状態）に外部に露出される各
部材、すなわち、撮影レンズ及びレンズ鏡筒等によって
構成される撮影光学系６２と、閃光発光装置（以下、ス
トロボと記す）の前面に設けられるストロボ光照射窓６
３と、近赤外光を被写体に向けて投射する投光手段の一
部を構成するＡＦ用投光窓６５と、図示されない被写体
から反射してきた反射光（以下、被写体反射光と記す）
を受光する受光手段の一部を構成するＡＦ用受光窓６４
と、被写体像を正立正像で観察するためのファインダ光
学系の一部を構成するファインダ窓６６と、リモコン手
段等（図示せず）からの信号光を受光するリモコン用受
光部６７と、セルフタイマ使用時等に点滅等を行って、
その旨の信号を発生させるセルフタイマシグナルＬＥＤ
（発光ダイオード）６８等が配設されている。

【００４８】尚、上記スライドバリア６１は、上述した
ように、カメラ６０の前面側に於いて摺動自在に配設さ
れており、このカメラ６０による写真撮影等が行われな
い場合、つまりカメラの携帯時や保管時等には、図示矢
印Ｘ１方向に摺動させれ撮影光学系６２、ＡＦ用投受光
窓６４、６５等の前面側が覆われることにより、これら
の各部材が保護されるようになっている。

【００４９】一方、写真撮影等が行われる場合には、ス
ライドバリア６１が、図８に於いて矢印Ｘ２方向に摺動
されて、撮影光学系６２、投受光窓６４、６５等が露出
されるようになっている。

【００５０】また、上記スライドバリア６１の摺動動作
に、例えば図示されない電源スイッチ等が連動されるこ
とによって、カメラ６０の主電源のオン／オフ操作が行
われるようにすることができる。すなわち、スライドバ
リア６１の開方向（図８に於いてＸ２方向）への摺動に
よって、主電源がオン状態とされる。一方、スライドバ
リア６１の閉方向（図８に於いてＸ１方向）への摺動に
よって、主電源がオフ状態とすることができる。

【００５１】尚、図８に示される状態は、スライドバリ
ア６１の開状態、すなわちカメラ使用時の状態を示すも
のである。

【００５２】次に、この第３の実施の形態のカメラの測
距装置の詳細な構成について、図９及び図１０を参照し
て、以下に説明する。

【００５３】図９は、この第３の実施の形態のカメラの
測距装置の近傍部を詳細に示した図であって、上述した
ように、図８に於けるＡ−Ａ線に沿った拡大横断面図で
ある。

【００５４】尚、この図９に於いては、図面の煩雑化を
避けるため、この発明に関する部材、すなわち測距装置
の近傍の主要部材のみを示し、カメラ内に配設される他
の構成部材については省略している。

【００５５】この第３の実施の形態によるカメラの測距
装置は、カメラ６０内に於いてその一端部に配設される
フィルムスプール室７１と、カメラ６０の他端部に配設
されるフィルムパトローネ室７２に挟まれて配設されて
いるカメラ本体ユニット７４の上面部に配設されてい
る。

【００５６】カメラ本体ユニット７４の上面部には、フ
ィルムスプール室７１寄りの位置にファインダ光学系
が、また、パトローネ室７２寄りの位置に投光手段及び
受光手段によって構成される測距装置が、それぞれ配設
されている。

【００５７】上記測距装置は、反射型投光器４０と、Ａ
Ｆ用受光プリズム６４ａ、受光素子６４ｄ及びＡＦ用受
光窓６４等によって形成される受光部とによって構成さ
れている。

【００５８】上記反射型投光器４０は、例えば近赤外光
を発する赤外発光ダイオード（ＩＲＥＤ）チップ１２
と、このＩＲＥＤチップ１２から発生される近赤外光が
集光されて被写体に向けて投射する反射面である凹型反
射鏡１７とから成っている。

【００５９】また、上記ＡＦ用投光窓６５は、上記反射
型投光器４０の全面側を保護するためのものである。

【００６０】更に、上記ＡＦ用受光プリズム６４ａは、
上記反射型投光器４０から投射され、図示されない被写
体により反射された被写体反射光が入射されるものであ
る。

【００６１】上記受光部は、該ＡＦ用受光プリズム６４
ａと、このＡＦ用受光プリズム６４ａに入射された被写
体反射光を受光する受光素子６４ｄと、ＡＦ用受光プリ
ズム６４ａの前面側を保護するＡＦ用受光窓６４等によ
って構成されている。

【００６２】この発明の特徴は、一般に、図３（ａ）に
示されるように透明カバー１３の中に収められたＩＲＥ
Ｄチップ１２の光を投光レンズ１４によって、投射して
いた投光器を、図３（ｂ）に示されるような集光効果の
ある凹型反射鏡入りのＩＲＥＤに置換えて省スペースを
図った所にある。

【００６３】一方、上記ＡＦ用受光プリズム６４ａは、
その前面側に受光レンズ部６４ｅが形成されている。そ
して、この受光レンズ部６４ｅに入射される被写体反射
光の略全てが受光素子６４ｄに向けて反射する全反射面
６４ｂが、その一側面に形成されている。

【００６４】そして、上記反射型投光器４０の前面部と
上記ＡＦ用受光プリズム６４ａの受光レンズ部６４ｅの
前面部とは、それぞれカメラの正面（被写体側）に向け
て略並列となるように配設されている。

【００６５】また、上記ＡＦ用受光プリズム６４ａの全
反射面６４ｂは、上記受光レンズ部６４ｅの後方に、上
記反射型投光器４０の後方に向けて傾斜する反射面で形
成されているもので、上記フィルムパトローネ室７２の
外壁近傍に配設されている。この全反射面６４ｂに対向
する面は、その入射側の大半がプリズム光軸に平行する
面に形成されるが、上記ＩＲＥＤ１２の近辺から投光器
４０側に傾斜する傾斜面となっている。そして、この全
反射面６４ｂへの被写体反射光の入射角と反射角の和
は、９０度よりも大きな角度となるように、カメラ６０
の前後方向に対して傾けて配置されている。

【００６６】更に、ＡＦ用受光プリズム６４ａには、全
反射面６４ｂと対向する面の一部、すなわち、プリズム
光軸に平行する面からＩＲＥＤ１２側に傾斜する位置
に、断面がＶ字形状から成るＶ字状溝部６４ｃが形成さ
れている。このＶ字状溝部６４ｃは、受光素子６４ｄに
直接入射されてしまう被写体反射光（図９に於いて矢印
Ｒ１によって示される光路）を防止するために設けられ
ているものである。

【００６７】尚、ＡＦ用受光プリズム６４ａは、カメラ
本体ユニット７４の上面部に、接着剤によって固着され
て配置される。この場合、ＡＦ用受光プリズム６４ａ内
に於ける内面反射を防止するために、このＡＦ用受光プ
リズム６４ａの下面側とカメラ本体ユニット７４側のプ
リズム接着面７４ａとを接着するための接着剤として、
黒色等の無反射性のものが使用されている。

【００６８】そして、このように配設された上記ＡＦ用
受光プリズム６４ａの出射端面は、ＩＲＥＤ１２の後方
に向けて反射光が出射されるように集光レンズ面に形成
されており、この出射端面に対向して受光素子６４ｄが
傾斜して配設されている。すなわち、受光素子６４ｄ
は、図９に示されるように、反射型投光器４０の斜め後
方に傾斜して配設されている。

【００６９】尚、図９に示される矢印Ｔは、ＩＲＥＤ１
２から発生される近赤外光の投光路を、また矢印Ｒ、Ｒ
１は図示されない被写体からの反射光路を、それぞれ概
念的に示しているものである。

【００７０】一方、図９、図１０に示されるように、こ
のカメラ６０のファインダ光学系は、反射型投光器４０
を挟んでＡＦ用受光プリズム６４ａの反対側の、上記撮
影光学系６２（図８参照）の上方に配設されている。

【００７１】上記ファインダ光学系は、対物レンズ６６
ａと、ファインダ光路を側方に折り曲げる直角プリズム
から成る第１プリズム６６ｂと、この第１プリズム６６
ｂの出射面に対向して配設されて、ファインダ光路を上
方に折り曲げ、更に側方に折り曲げる三角プリズムから
成るプリズム部６６ｃと、ファインダ光路を後方に向け
て折り曲げる三角プリズムから成るプリズム部６６ｄと
が一体成形されて成る第２プリズムと、この第２のプリ
ズムのプリズム部６６ｄの出射面に対向して配設された
接眼レンズ６６ｅと、上記対物レンズ６６ａを保護する
ファインダ窓６６及びファインダマスク７７によって構
成されている。

【００７２】このように、第１プリズム６６ｂと、プリ
ズム部６６ｃ及び６６ｄから成る第２プリズムは、上記
ファインダ窓６６を介して対物レンズ６６ａに入射され
る被写体像を形成するファインダ光路を屈曲させて、接
眼レンズ７ｅへと導くように構成されている。これによ
り、接眼レンズ６６ｅに於いて被写体像を縮小し正立正
像によって観察することができるようになっている。

【００７３】また、上記ファインダマスク７７は、図
９、図１０に示されるように、第１プリズム６６ｂと第
２プリズムのプリズム部６６ｃとの間に配置されてい
る。このファインダマスク７７は、撮影光学系６２によ
る撮影範囲と略同等の範囲の被写体像を観察することが
できるように、その画面枠が設定されている。

【００７４】尚、図１０に示される矢印Ｆは、ファイン
ダ光学系を透過するファインダ光路を概念的に示してい
るものである。

【００７５】次に、このように構成された本実施の形態
のカメラの測距装置の動作について、説明する。

【００７６】スライドバリア６１が図８に示されるよう
な開状態とされて、且つカメラ６０の主電源がオン状態
にある場合に、カメラ６０の図示されないシャッタレリ
ーズ釦等の操作釦が操作されることにより、測距動作が
開始される。

【００７７】この測距動作は、先ず、反射型投光器４０
より近赤外光が発せられることにより開始される。この
近赤外光は、凹型反射鏡１７により集光され、ＡＦ用投
光窓６５を介して図示されない被写体に向けて投光され
る。

【００７８】そして、上記反射型投光器４０より投射さ
れた近赤外光が上記被写体により反射された後、被写体
反射光としてＡＦ用受光窓６４を介してＡＦ用受光プリ
ズム６４ａに入射される。このＡＦ用受光プリズム６４
ａに入射された略全ての被写体反射光は、ＡＦ用受光プ
リズム６４ａの全反射面６４ｂにより受光素子６４ｄに
向けて反射され、この受光素子６４ｄにより受光され
る。

【００７９】尚、このとき、ＡＦ用受光プリズム６４ａ
に入射する被写体反射光及びその他の外光のうちの一部
は、受光素子６４ｄに向けて直接入射しようとする（図
９に示される矢印Ｒ１等）が、このような一部の被写体
反射光については、Ｖ字状溝部６４ｃによって遮光され
て、受光素子６４ｄには直接入射しないこととなる。

【００８０】以上述べたように、この第３の実施の形態
によれば、ＡＦ用受光プリズム６４ａに入射する被写体
反射光の略全てを効率良く受光素子６４ｄに導くことが
できると共に、Ｖ字状溝部６４ｃを設けることによって
受光素子６４ｄに直接入射する被写体反射光を防止して
いるので、測距誤差を低減し、測距精度の向上に寄与す
ることができる。したがって、測距精度を低下させるこ
となく基線長を短縮することができ、カメラの横幅を締
めるのに非常に有利である。

【００８１】また、ＡＦ用受光プリズム６４ａの全反射
面６４ｂに入射する被写体反射光の入射角と反射角の和
を角度９０度よりも大きくなるように設定しているの
で、受光素子６４ｄの配置の自由度を確保することがで
きる。よって、カメラ内に於いて測距装置を構成する各
部材を効率良く配置することができ、カメラの小型化に
寄与することができる。

【００８２】そして、受光手段として、受光レンズ（６
４ｅ）と反射面（６４ｂ）とを一体的に形成したプリズ
ム（６４ａ）を使用したことにより、受光手段の構成を
受光レンズと反射面とを別体とした場合に生じる組立時
の取付誤差の発生を無くすことができる。したがって、
組立て時の公差が積算されることがなく、組立精度の向
上に寄与することができると共に、組立て工程の簡略化
に寄与し、更に製造コストの低減化を図ることができ
る。

【００８３】尚、この発明の上記実施の形態によれば、
以下の如き構成を得ることができる。

【００８４】（１） 発光素子と、この発光素子からの
光を集光する反射面とを有し、反射面により反射された
光を測距用光として被写体方向に投射する投光手段と、
上記測距用光による上記被写体からの反射信号光を受光
する受光手段と、を備え、上記投光手段の反射面の裏面
側に、上記投光手段を駆動する第１手段若しくは上記受
光手段の出力信号を処理する第２手段の少なくとも何れ
か一方を配置したことを特徴とする測距装置。

【００８５】（２） 上記第１手段は、上記発光素子に
駆動電流を供給する駆動手段であることを特徴とする上
記（１）に記載の測距装置。

【００８６】（３） 上記第２手段は、上記受光手段の
出力信号に基いて、当該装置から上記被写体までの距離
に関する情報を出力する演算手段であることを特徴とす
る上記（１）に記載の測距装置。

【００８７】（４） 被写体に向けて測距用光を投射す
るための第１光学系と、撮影光軸に平行な方向の光路長
が上記第１光学系よりも長く、投射された測距用光によ
る上記被写体からの反射信号光を受光するための第２光
学系とを備え、上記第１光学系と上記第２光学系との光
路長の差に相当する領域に、測距用回路部品を配置した
ことを特徴とする測距装置。

【００８８】（５） 上記測距用回路部品は、測距用光
を発生する投光手段の駆動回路、若しくは上記受光した
反射信号光に基いて所定の信号処理を行う処理回路の少
なくとも何れか一方であることを特徴とする上記（４）
に記載の測距装置。

【００８９】

【発明の効果】以上述べたようにこの発明によれば、省
スペースの図れる反射型投光器を投光手段に用いて、空
いたスペースにノイズが重畳されやすい回路部品をコン
パクトに配置して高い測距精度を確保すると共に、各構
成部材の配置の自由度を確保して、小型化に寄与するこ
とのできる測距装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の第１の実施の形態に於ける測距装置
の実際の構造を示した図である。

【図２】この発明の測距装置の投光器の基本となる構成
を示したもので、（ａ）は投光器の側断面図、（ｂ）は
該投光器の正面図である。

【図３】（ａ）は、凹型反射鏡を有していない一般的な
投光器の構成を示した図、（ｂ）は凹型反射鏡が用いら
れた投光器の構成を示した図である。

【図４】この発明の第１の実施の形態でカメラのＡＦ装
置の概略構成を示した図である。

【図５】（ａ）はＡＦ回路の電気系をより具体的に示し
た構成図、（ｂ）は同図（ａ）に示される回路基板の実
装図である。

【図６】第１の実施の形態による硬質基板の取付け状態
を示した構造図である。

【図７】この発明の第２の実施の形態による測距装置の
構造を示した図である。

【図８】この発明の第３の実施の形態の測距装置が適用
されたカメラの正面図である。

【図９】図８に於けるＡ−Ａ線に沿った拡大横断面図で
ある。

【図１０】この発明の第３の実施の形態のカメラの測距
装置の所要部材のみを取り出して示す分解斜視図であ
る。

【符号の説明】

１ 発光ダイオード（ＬＥＤチップ）、 ２、１７ 凹型反射鏡、 ３ａ、３ｂ リード部、 ４、５０ ワイヤ、 ５、１０、１５ パッケージ、 ６、１３ 透明カバー、 ７ 投光器、 １２ ＩＲＥＤチップ（ＩＲＥＤ）、 １４ 投光レンズ、 １６ 基板、 ２０ 演算制御回路（ＣＰＵ）、 ２１ ドライバ、 ２２ 被写体、 ２３ 受光レンズ、 ２４、４４ 光位置検出素子（ＰＳＤ）、 ２５ ＡＦ用ＩＣ（ＡＦＩＣ）、 ２６ ピント合わせ部、 ３５、３５ａ、３５ｂ 硬質基板、 ４０ 反射型投光器、 ４１ａ、４１ｂ フレキシブル基板、 ４２ 受光レンズ、 ４３ ミラー、 ４５ トランジスタ、 ４８、４９ 電極。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2F112 AA06 BA07 BA10 CA02 DA26 DA28 DA32 DA40 FA03 FA33 2H011 AA01 BA14 BB01 BB02 2H018 AA02 BE01 2H051 BB20 BB24 CA04 CA06 CA09 CA10 CA12 CB11 CB14 CB23 CB25 CB27

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 測距用光束を対象物に投射する投光手段
   と、 上記測距用光束による対象物からの反射光を受ける受光
   手段と、 上記受光手段の出力に基いて、当該装置から対象物まで
   の距離に関する信号を出力する演算手段とを備えた測距
   装置であって、 上記投光手段は、発光手段と、この発光手段からの光を
   集光して一方向に出力する反射手段とを有し、測距動作
   に係る回路部品の少なくとも一部を上記反射手段の裏側
   に配置してなることを特徴とする測距装置。
2. 【請求項２】 上記投光手段と上記受光手段とを１つの
   光学モジュールに収納したことを特徴とする請求項１に
   記載の測距装置。
3. 【請求項３】 上記受光手段の光路中に平面反射部材を
   配置し、受光手段の光路を投光手段方向に偏向したこと
   を特徴とする請求項１若しくは２の何れかに記載の測距
   装置。