JP2000167593A - 超純水製造装置の運転方法及び超純水製造装置 - Google Patents
超純水製造装置の運転方法及び超純水製造装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 より高純度化された超純水水質、即ち、ＴＯ
Ｃ ０.５ppb 以下を満足させる超純水製造装置の運転方
法及び超純水製造装置を提案する。 【解決手段】 脱塩装置とともに、被処理水に水素を供
給して貴金属触媒と接触させて被処理水中の溶存酸素を
除去する触媒充填脱酸素装置と、その下流側に設けられ
たＵＶ酸化装置とを有する超純水製造装置の運転方法に
おいて、ＵＶ酸化装置に流入する被処理水の溶存水素濃
度が １５ppb以下となるように、触媒充填脱酸素装置に
供給する水素量を調節する。
Ｃ ０.５ppb 以下を満足させる超純水製造装置の運転方
法及び超純水製造装置を提案する。 【解決手段】 脱塩装置とともに、被処理水に水素を供
給して貴金属触媒と接触させて被処理水中の溶存酸素を
除去する触媒充填脱酸素装置と、その下流側に設けられ
たＵＶ酸化装置とを有する超純水製造装置の運転方法に
おいて、ＵＶ酸化装置に流入する被処理水の溶存水素濃
度が １５ppb以下となるように、触媒充填脱酸素装置に
供給する水素量を調節する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、より高純度化され
た超純水水質、即ち、ＴＯＣ ０.５ppb 以下を満足させ
る超純水製造装置の運転方法及び超純水製造装置に関す
る。
た超純水水質、即ち、ＴＯＣ ０.５ppb 以下を満足させ
る超純水製造装置の運転方法及び超純水製造装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来の超純水製造装置に要求される水質
として、ＤＯ ５ppb（μｇ／Ｌ）以下（時々 １ppb以
下）、ＴＯＣ ２ppb以下が主体であった。この超純水製
造装置は、前処理装置、一次純水製造装置、サブシステ
ムからなり、その一連の構成単位装置として、水中の塩
類を除去するためのイオン交換樹脂純水装置（ＩＥ）又
は逆浸透膜脱塩装置（ＲＯ）等の脱塩装置、溶存酸素
（ＤＯ）を除去するための真空脱気装置、窒素脱気装
置、膜脱気装置等の脱気装置、触媒充填脱酸素装置等の
脱酸素装置、及びＴＯＣの一部を酸化分解するためのＵ
Ｖ酸化装置などが配置されている。そして、触媒充填脱
酸素装置の入口では、被処理水のＤＯ濃度に応じて（通
常被処理水のＤＯ値の理論当量の １.５倍量程度に相当
する）水素を供給して貴金属触媒と接触させて脱酸素処
理している。その結果、触媒充填脱酸素装置出口のＤＯ
は５ppb 以下（ケースによっては１ppb 以下）に処理で
きるが、過剰の水素が後置システムにリーク（リークし
た溶存水素濃度は２０〜２０００ppb である）し、サブ
システムにほぼそのまま流入していく。サブシステム内
でも安定に運転されていれば、この濃度は大幅に変動す
ることなく維持され、ＵＶ酸化装置入口での濃度も２０
〜２０００ppb のままであるが、最終限外ろ過装置（Ｕ
Ｆ）出口のＴＯＣは ２ppb以下を維持できる。また、待
機（回復工程）後運転切替のあるＩＥ装置やＲＯ装置で
は、イオン交換樹脂及びＲＯが有機材でその全てが構成
されているので、水浸漬状態で待機していると、これら
の有機構成材からＴＯＣが溶出し、装置内に貯め込まれ
た状態になり、そのまま運転（採水工程）に入ったので
は蓄積したＴＯＣが瞬時に下流側へ流入し、超純水のＴ
ＯＣ変化のチャートに一時的なピークを持ち、被処理水
のＴＯＣを０.１ppb程度上昇させていたが、全体のＴＯ
Ｃ ２ppb以下については維持でき、問題を生じなかっ
た。このように従来のＤＯ ５ppb以下、ＴＯＣ ２ppb以
下の水質での超純水製造においてはＵＶ酸化装置入口の
溶存水素濃度に関わらず上述の水質が維持されている。
として、ＤＯ ５ppb（μｇ／Ｌ）以下（時々 １ppb以
下）、ＴＯＣ ２ppb以下が主体であった。この超純水製
造装置は、前処理装置、一次純水製造装置、サブシステ
ムからなり、その一連の構成単位装置として、水中の塩
類を除去するためのイオン交換樹脂純水装置（ＩＥ）又
は逆浸透膜脱塩装置（ＲＯ）等の脱塩装置、溶存酸素
（ＤＯ）を除去するための真空脱気装置、窒素脱気装
置、膜脱気装置等の脱気装置、触媒充填脱酸素装置等の
脱酸素装置、及びＴＯＣの一部を酸化分解するためのＵ
Ｖ酸化装置などが配置されている。そして、触媒充填脱
酸素装置の入口では、被処理水のＤＯ濃度に応じて（通
常被処理水のＤＯ値の理論当量の １.５倍量程度に相当
する）水素を供給して貴金属触媒と接触させて脱酸素処
理している。その結果、触媒充填脱酸素装置出口のＤＯ
は５ppb 以下（ケースによっては１ppb 以下）に処理で
きるが、過剰の水素が後置システムにリーク（リークし
た溶存水素濃度は２０〜２０００ppb である）し、サブ
システムにほぼそのまま流入していく。サブシステム内
でも安定に運転されていれば、この濃度は大幅に変動す
ることなく維持され、ＵＶ酸化装置入口での濃度も２０
〜２０００ppb のままであるが、最終限外ろ過装置（Ｕ
Ｆ）出口のＴＯＣは ２ppb以下を維持できる。また、待
機（回復工程）後運転切替のあるＩＥ装置やＲＯ装置で
は、イオン交換樹脂及びＲＯが有機材でその全てが構成
されているので、水浸漬状態で待機していると、これら
の有機構成材からＴＯＣが溶出し、装置内に貯め込まれ
た状態になり、そのまま運転（採水工程）に入ったので
は蓄積したＴＯＣが瞬時に下流側へ流入し、超純水のＴ
ＯＣ変化のチャートに一時的なピークを持ち、被処理水
のＴＯＣを０.１ppb程度上昇させていたが、全体のＴＯ
Ｃ ２ppb以下については維持でき、問題を生じなかっ
た。このように従来のＤＯ ５ppb以下、ＴＯＣ ２ppb以
下の水質での超純水製造においてはＵＶ酸化装置入口の
溶存水素濃度に関わらず上述の水質が維持されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、最近の
半導体製造等においては、従来よりさらに高純度化した
超純水が求められており、ＤＯ １ppb以下及びＴＯＣ
０.５ppb 以下の高水質の超純水を安定的に製造できる
超純水製造装置が必要とされている。そして、前記従来
の方法では、ＤＯ １ppb以下は実現できるが、ＴＯＣ
０.５ppb 以下には安定に維持できなかった。また、前
処理の凝集（アルミ系凝集剤添加量増加、ｐＨの最適Ｔ
ＯＣ除去値設定）の適正化、活性炭（ＡＣ）の交換、Ｉ
Ｅ装置の運転時間の短縮等を試みたが、その何れかの実
施或いは全ての実施によっても解決できなかった。さら
に、前述のように従来の水質（ＤＯ ５ppb以下、ＴＯＣ
２ppb以下）では問題とならなかった待機（回復工程）
後運転切替のあるＩＥ装置やＲＯ装置が新しく運転（採
水工程）に入る場合の、一時的にＴＯＣを上昇させる現
象についても、より高純度化したＤＯ １ppb以下及びＴ
ＯＣ ０.５ppb 以下の高水質の超純水製造においては大
きな問題であった。
半導体製造等においては、従来よりさらに高純度化した
超純水が求められており、ＤＯ １ppb以下及びＴＯＣ
０.５ppb 以下の高水質の超純水を安定的に製造できる
超純水製造装置が必要とされている。そして、前記従来
の方法では、ＤＯ １ppb以下は実現できるが、ＴＯＣ
０.５ppb 以下には安定に維持できなかった。また、前
処理の凝集（アルミ系凝集剤添加量増加、ｐＨの最適Ｔ
ＯＣ除去値設定）の適正化、活性炭（ＡＣ）の交換、Ｉ
Ｅ装置の運転時間の短縮等を試みたが、その何れかの実
施或いは全ての実施によっても解決できなかった。さら
に、前述のように従来の水質（ＤＯ ５ppb以下、ＴＯＣ
２ppb以下）では問題とならなかった待機（回復工程）
後運転切替のあるＩＥ装置やＲＯ装置が新しく運転（採
水工程）に入る場合の、一時的にＴＯＣを上昇させる現
象についても、より高純度化したＤＯ １ppb以下及びＴ
ＯＣ ０.５ppb 以下の高水質の超純水製造においては大
きな問題であった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、触媒充填
脱酸素装置による溶存酸素（ＤＯ）の除去を行う場合の
水素の供給量に着目し、ＤＯ １ppb以下及びＴＯＣ ０.
５ppb 以下の高水質の超純水製造においては、余剰の水
素が後段のＵＶ酸化装置におけるＴＯＣ除去に多大な影
響を及ぼすことを見出してなされたものである。ＵＶ酸
化装置では、H2OにＵＶがあたり、・OHラジカルが生成
し、この ・OHラジカルがＴＯＣ分解する。ＵＶ酸化装置
の入口における溶存水素濃度が高いと、これが有機物分
解する前に ・OHラジカルを消費してＴＯＣ分解に寄与し
なくなる。そのためＴＯＣ分解量が減り、目的のＴＯＣ
０.５ppb を維持できなくなる。そこで、余剰水素濃度
を所定値(１５ppb）以下に抑制することにより、ＵＶ酸
化装置によるＴＯＣ除去効果を十分に発揮できるように
した。
脱酸素装置による溶存酸素（ＤＯ）の除去を行う場合の
水素の供給量に着目し、ＤＯ １ppb以下及びＴＯＣ ０.
５ppb 以下の高水質の超純水製造においては、余剰の水
素が後段のＵＶ酸化装置におけるＴＯＣ除去に多大な影
響を及ぼすことを見出してなされたものである。ＵＶ酸
化装置では、H2OにＵＶがあたり、・OHラジカルが生成
し、この ・OHラジカルがＴＯＣ分解する。ＵＶ酸化装置
の入口における溶存水素濃度が高いと、これが有機物分
解する前に ・OHラジカルを消費してＴＯＣ分解に寄与し
なくなる。そのためＴＯＣ分解量が減り、目的のＴＯＣ
０.５ppb を維持できなくなる。そこで、余剰水素濃度
を所定値(１５ppb）以下に抑制することにより、ＵＶ酸
化装置によるＴＯＣ除去効果を十分に発揮できるように
した。
【０００５】即ち、本発明は、脱塩装置とともに、被処
理水に水素を供給して貴金属触媒と接触させて被処理水
中の溶存酸素を除去する触媒充填脱酸素装置と、その下
流側に設けられたＵＶ酸化装置とを有する超純水製造装
置の運転方法において、ＵＶ酸化装置に流入する被処理
水の溶存水素濃度が １５ppb以下となるように、触媒充
填脱酸素装置に供給する水素量を調節することを特徴と
する超純水製造装置の運転方法を提案するものである。
さらに、好ましい態様は、脱塩装置に由来するＴＯＣを
極力抑制し、上記ＴＯＣ除去効果と併せ得られる超純水
のＴＯＣを０.５ppb以下にする。また、前記脱塩装置は
イオン交換樹脂純水装置又は逆浸透膜装置であり、超純
水製造装置を運転して超純水を得る採水工程と、脱塩装
置の性能が劣化したときに脱塩装置を再生或いは洗浄す
る回復工程とを有し、回復工程から採水工程に復帰した
際、採水工程初期の脱塩水を系外に排出することが望ま
しい。
理水に水素を供給して貴金属触媒と接触させて被処理水
中の溶存酸素を除去する触媒充填脱酸素装置と、その下
流側に設けられたＵＶ酸化装置とを有する超純水製造装
置の運転方法において、ＵＶ酸化装置に流入する被処理
水の溶存水素濃度が １５ppb以下となるように、触媒充
填脱酸素装置に供給する水素量を調節することを特徴と
する超純水製造装置の運転方法を提案するものである。
さらに、好ましい態様は、脱塩装置に由来するＴＯＣを
極力抑制し、上記ＴＯＣ除去効果と併せ得られる超純水
のＴＯＣを０.５ppb以下にする。また、前記脱塩装置は
イオン交換樹脂純水装置又は逆浸透膜装置であり、超純
水製造装置を運転して超純水を得る採水工程と、脱塩装
置の性能が劣化したときに脱塩装置を再生或いは洗浄す
る回復工程とを有し、回復工程から採水工程に復帰した
際、採水工程初期の脱塩水を系外に排出することが望ま
しい。
【０００６】また、本発明は、前記運転方法を実施する
超純水製造装置をも提案するものであり、脱塩装置とと
もに、被処理水に水素を供給して貴金属触媒と接触させ
て被処理水中の溶存酸素を除去する触媒充填脱酸素装置
と、その下流側に設けられたＵＶ酸化装置とを有する超
純水製造装置において、触媒充填脱酸素装置からの流出
水の溶存水素濃度を測定する溶存水素計と、該溶存水素
計による溶存水素の測定値が １５ppb以下となるように
触媒充填脱酸素装置に供給する水素量を調節する水素供
給量調節機構と、を設けたことを特徴とする。
超純水製造装置をも提案するものであり、脱塩装置とと
もに、被処理水に水素を供給して貴金属触媒と接触させ
て被処理水中の溶存酸素を除去する触媒充填脱酸素装置
と、その下流側に設けられたＵＶ酸化装置とを有する超
純水製造装置において、触媒充填脱酸素装置からの流出
水の溶存水素濃度を測定する溶存水素計と、該溶存水素
計による溶存水素の測定値が １５ppb以下となるように
触媒充填脱酸素装置に供給する水素量を調節する水素供
給量調節機構と、を設けたことを特徴とする。
【０００７】
【発明の実施の形態】本発明の超純水製造装置は、従来
の装置と同様に前処理装置、一次純水製造装置、サブシ
ステムから構成される。そして、その一連の構成単位装
置として、水中の塩類を除去するための２床３塔式純水
装置、４床５塔式純水装置、混床式純水装置等のイオン
交換樹脂純水装置（ＩＥ）又は逆浸透膜脱塩装置（Ｒ
Ｏ）等の脱塩装置、ＴＯＣの一部を酸化分解するために
ＵＶ酸化装置、ＤＯ（溶存酸素）を除去するための真空
脱気装置、窒素脱気装置、膜脱気装置等の脱気装置、及
び触媒充填脱酸素装置等の脱酸素装置などが配置され
る。このうち触媒充填脱酸素装置は通常、一次純水装置
の中に設置されることが多い。また、ＵＶ酸化装置はサ
ブシステム（二次純水製造装置）に配置されることが多
いが、一次純水装置の中に設けられるようにしても良
い。そして、これら構成単位装置の配列（フロー）につ
いては特に限定するものではなくどのようにしてもよ
い。
の装置と同様に前処理装置、一次純水製造装置、サブシ
ステムから構成される。そして、その一連の構成単位装
置として、水中の塩類を除去するための２床３塔式純水
装置、４床５塔式純水装置、混床式純水装置等のイオン
交換樹脂純水装置（ＩＥ）又は逆浸透膜脱塩装置（Ｒ
Ｏ）等の脱塩装置、ＴＯＣの一部を酸化分解するために
ＵＶ酸化装置、ＤＯ（溶存酸素）を除去するための真空
脱気装置、窒素脱気装置、膜脱気装置等の脱気装置、及
び触媒充填脱酸素装置等の脱酸素装置などが配置され
る。このうち触媒充填脱酸素装置は通常、一次純水装置
の中に設置されることが多い。また、ＵＶ酸化装置はサ
ブシステム（二次純水製造装置）に配置されることが多
いが、一次純水装置の中に設けられるようにしても良
い。そして、これら構成単位装置の配列（フロー）につ
いては特に限定するものではなくどのようにしてもよ
い。
【０００８】前記触媒充填脱酸素装置としては、貴金属
触媒をそのままで、又は担体に担持させて充填した層を
保持できる塔などを使用することができる。上記貴金属
触媒としては、金属パラジウム、酸化パラジウム、水酸
化パラジウム等のパラジウム（Ｐｄ）化合物又は白金
（Ｐｔ）を、アルミナ、活性炭、ゼオライト、イオン交
換樹脂等の担体に担持させたものを使用することができ
る。この場合、担持量は外割で通常０．１〜１０重量％
程度である。担体としては特にアルミナ、活性炭を用い
ることにより、少ないパラジウム又は白金の担持量で優
れた効果を発揮させることができ極めて好適である。な
お、アニオン交換樹脂にパラジウムを担持させるにはア
ニオン交換樹脂をカラムに充填し、次いで塩化パラジウ
ムの酸性溶液を通水すればよい。もし金属パラジウムと
して担持させるのであれば、さらにホルマリンなどを加
えて還元すればよい。貴金属触媒の形状は、粉末状、粒
状、ペレット状など何れの形状でも利用できる。粉末状
のものを使用する場合には、反応槽を設けてこの反応槽
に適当量添加する。粒状又はペレット状のものはカラム
等に充填し、ＤＯを含んだ被処理水を連続的に処理する
のに有利である。粉末状のものでも、流動床によって使
用することができる。
触媒をそのままで、又は担体に担持させて充填した層を
保持できる塔などを使用することができる。上記貴金属
触媒としては、金属パラジウム、酸化パラジウム、水酸
化パラジウム等のパラジウム（Ｐｄ）化合物又は白金
（Ｐｔ）を、アルミナ、活性炭、ゼオライト、イオン交
換樹脂等の担体に担持させたものを使用することができ
る。この場合、担持量は外割で通常０．１〜１０重量％
程度である。担体としては特にアルミナ、活性炭を用い
ることにより、少ないパラジウム又は白金の担持量で優
れた効果を発揮させることができ極めて好適である。な
お、アニオン交換樹脂にパラジウムを担持させるにはア
ニオン交換樹脂をカラムに充填し、次いで塩化パラジウ
ムの酸性溶液を通水すればよい。もし金属パラジウムと
して担持させるのであれば、さらにホルマリンなどを加
えて還元すればよい。貴金属触媒の形状は、粉末状、粒
状、ペレット状など何れの形状でも利用できる。粉末状
のものを使用する場合には、反応槽を設けてこの反応槽
に適当量添加する。粒状又はペレット状のものはカラム
等に充填し、ＤＯを含んだ被処理水を連続的に処理する
のに有利である。粉末状のものでも、流動床によって使
用することができる。
【０００９】このような構成を有する触媒充填脱酸素装
置においては、貴金属触媒により、被処理水中のＤＯ
が、加えられた水素と反応して水を生成し、除去され
る。水素源としては水素ガスでもよいし、他の水素を発
生する物質（例えばヒドラジン）でもよく、この触媒充
填脱酸素装置の入口では、被処理水のＤＯ濃度に応じて
通常被処理水のＤＯ値の理論当量の １.５倍量程度に相
当する水素を供給して貴金属触媒と接触させて脱酸素処
理している。
置においては、貴金属触媒により、被処理水中のＤＯ
が、加えられた水素と反応して水を生成し、除去され
る。水素源としては水素ガスでもよいし、他の水素を発
生する物質（例えばヒドラジン）でもよく、この触媒充
填脱酸素装置の入口では、被処理水のＤＯ濃度に応じて
通常被処理水のＤＯ値の理論当量の １.５倍量程度に相
当する水素を供給して貴金属触媒と接触させて脱酸素処
理している。
【００１０】しかし、本発明者は、前記のように超純水
製造装置の中で最終のＴＯＣ除去機能要素であるＵＶ酸
化装置における余剰水素（溶存水素濃度）がそのＴＯＣ
分解性能に影響していることを見出した。ＵＶ酸化装置
入口における溶存水素濃度と端末の限外ろ過装置（Ｕ
Ｆ）出口におけるＴＯＣ濃度の関係を図１に示す。図１
より明らかなように、超純水のＴＯＣを０.５ppb以下に
するためには、ＵＶ酸化装置入口の溶存水素濃度が１５
ppb 以下になるように調節しなければならないことがわ
かった。このためには触媒充填脱酸素装置からの流出水
の溶存水素濃度を１５ppb 以下に調節する必要がある。
製造装置の中で最終のＴＯＣ除去機能要素であるＵＶ酸
化装置における余剰水素（溶存水素濃度）がそのＴＯＣ
分解性能に影響していることを見出した。ＵＶ酸化装置
入口における溶存水素濃度と端末の限外ろ過装置（Ｕ
Ｆ）出口におけるＴＯＣ濃度の関係を図１に示す。図１
より明らかなように、超純水のＴＯＣを０.５ppb以下に
するためには、ＵＶ酸化装置入口の溶存水素濃度が１５
ppb 以下になるように調節しなければならないことがわ
かった。このためには触媒充填脱酸素装置からの流出水
の溶存水素濃度を１５ppb 以下に調節する必要がある。
【００１１】触媒充填脱酸素装置からの流出水の溶存水
素濃度を１５ppb 以下に調節する方法としては、触媒充
填脱酸素装置出口に溶存水素計を設置し、ここの信号と
触媒充填脱酸素装置入口の水素注入ラインのマスフロー
コントローラとを連動させて水素注入量を調節する（水
素供給量調節機構を用いる）方法と、触媒充填脱酸素装
置出口に溶存水素計のみ設置し、この値とＵＦ出口のＤ
Ｏ値とＴＯＣ値をモニターさせておき、手動で触媒充填
脱酸素装置入口の水素注入量をコントロールする方法が
ある。
素濃度を１５ppb 以下に調節する方法としては、触媒充
填脱酸素装置出口に溶存水素計を設置し、ここの信号と
触媒充填脱酸素装置入口の水素注入ラインのマスフロー
コントローラとを連動させて水素注入量を調節する（水
素供給量調節機構を用いる）方法と、触媒充填脱酸素装
置出口に溶存水素計のみ設置し、この値とＵＦ出口のＤ
Ｏ値とＴＯＣ値をモニターさせておき、手動で触媒充填
脱酸素装置入口の水素注入量をコントロールする方法が
ある。
【００１２】このように触媒充填脱酸素装置からの流出
水の溶存水素濃度を１５ppb 以下に制御するために、触
媒充填脱酸素装置に供給する水素量を適宜に調節する
が、最適コンロトールは２〜１２ppb が望ましい。この
ほうがＤＯ値の点では安全サイドとなる。
水の溶存水素濃度を１５ppb 以下に制御するために、触
媒充填脱酸素装置に供給する水素量を適宜に調節する
が、最適コンロトールは２〜１２ppb が望ましい。この
ほうがＤＯ値の点では安全サイドとなる。
【００１３】なお、前述のように触媒充填脱酸素装置に
おける水素注入量は、そもそも被処理水のＤＯ濃度に応
じて設定されるものであるから、その前段に他の脱気装
置などを設置してＤＯを低下させておくことが好まし
い。このことにより、前記触媒充填脱酸素装置に供給す
る水素量の調整して流出水の溶存水素濃度を１５ppb
（望ましくは２〜１２ppb ）に制御し易くなる。
おける水素注入量は、そもそも被処理水のＤＯ濃度に応
じて設定されるものであるから、その前段に他の脱気装
置などを設置してＤＯを低下させておくことが好まし
い。このことにより、前記触媒充填脱酸素装置に供給す
る水素量の調整して流出水の溶存水素濃度を１５ppb
（望ましくは２〜１２ppb ）に制御し易くなる。
【００１４】また、前記のように超純水製造装置の構成
要素であるＩＥ装置やＲＯ装置などの系列切替のある装
置については、脱塩装置の性能が劣化したときに脱塩装
置を再生或いは洗浄する回復工程の後、待機時間を経る
ことなく、或いは待機時間を経て、採水工程に復帰した
際、採水工程初期の脱塩水を系外に排出することが望ま
しい。
要素であるＩＥ装置やＲＯ装置などの系列切替のある装
置については、脱塩装置の性能が劣化したときに脱塩装
置を再生或いは洗浄する回復工程の後、待機時間を経る
ことなく、或いは待機時間を経て、採水工程に復帰した
際、採水工程初期の脱塩水を系外に排出することが望ま
しい。
【００１５】即ち、ＩＥ装置及びＲＯ装置は常に予備系
列を持ち、再生や汚染した場合の化学洗浄に備えて長期
間のノンストップ運転に対応できるようになっている。
ＩＥ装置の場合、再生から次の採水に入るまで１日〜６
日待機しているのが普通である。一方、ＲＯ装置の場
合、化学洗浄等は３ヶ月〜１年に１回が普通であり、こ
の間はバクテリアの増殖に対応するため、１週間〜１０
日に一度系列切替運転するのが常である。これらを構成
するイオン交換樹脂やＲＯ膜等は有機材であるため、水
浸漬状態で待機しているとこれらの有機材からＴＯＣが
溶出し、装置内に蓄積した状態になる。そして、そのま
ま立ち上げたのでは蓄積したＴＯＣが瞬時に下流側へ流
入し、図２に示すように超純水のＴＯＣ濃度が一時的に
高くなる。即ち、ＴＯＣ変化のチャートに一時的なピー
クを持つ。その結果、端末のＵＦ出口におけるＴＯＣが
０.１ppb程度上昇してしまい、結果的にＴＯＣ ０.５pp
b を維持できなくなる。
列を持ち、再生や汚染した場合の化学洗浄に備えて長期
間のノンストップ運転に対応できるようになっている。
ＩＥ装置の場合、再生から次の採水に入るまで１日〜６
日待機しているのが普通である。一方、ＲＯ装置の場
合、化学洗浄等は３ヶ月〜１年に１回が普通であり、こ
の間はバクテリアの増殖に対応するため、１週間〜１０
日に一度系列切替運転するのが常である。これらを構成
するイオン交換樹脂やＲＯ膜等は有機材であるため、水
浸漬状態で待機しているとこれらの有機材からＴＯＣが
溶出し、装置内に蓄積した状態になる。そして、そのま
ま立ち上げたのでは蓄積したＴＯＣが瞬時に下流側へ流
入し、図２に示すように超純水のＴＯＣ濃度が一時的に
高くなる。即ち、ＴＯＣ変化のチャートに一時的なピー
クを持つ。その結果、端末のＵＦ出口におけるＴＯＣが
０.１ppb程度上昇してしまい、結果的にＴＯＣ ０.５pp
b を維持できなくなる。
【００１６】その対策として、ＩＥ装置の場合は待機後
の立ち上げの循環工程で系列の保有水の２〜３倍を系外
に排出することにより、そのＴＯＣの一時的ピーク分を
無くすことができる。多床塔式構成のＩＥ装置の場合、
各塔毎に系外に排出すればよい。尚、時間を限定するも
のではないが、概略的な目安として２０〜３０分系外に
排出する。また、ＲＯ装置の場合は切替時に数秒ダンプ
されるがこれでは不十分であり、脱塩水を上記ＩＥ装置
と同様に２０〜３０分系外に排出する。系外に排出した
脱塩水は、冷却塔その他に利用することができる。この
ことにより、超純水のＴＯＣピークカットができ、ＴＯ
Ｃ ０.５ppb 以下を維持することができる。
の立ち上げの循環工程で系列の保有水の２〜３倍を系外
に排出することにより、そのＴＯＣの一時的ピーク分を
無くすことができる。多床塔式構成のＩＥ装置の場合、
各塔毎に系外に排出すればよい。尚、時間を限定するも
のではないが、概略的な目安として２０〜３０分系外に
排出する。また、ＲＯ装置の場合は切替時に数秒ダンプ
されるがこれでは不十分であり、脱塩水を上記ＩＥ装置
と同様に２０〜３０分系外に排出する。系外に排出した
脱塩水は、冷却塔その他に利用することができる。この
ことにより、超純水のＴＯＣピークカットができ、ＴＯ
Ｃ ０.５ppb 以下を維持することができる。
【００１７】
【実施例】〔実施例１〕図３（ａ）に示すシステム構成
を有する超純水製造装置を構築し、市水を被処理水とす
る超純水製造を行った。また、ＩＥ及びＲＯの切替に際
してはそれぞれ約３０分系外排出した後、切替を行っ
た。そして、ＵＦ出口におけるＴＯＣ濃度の変化を測定
し、その結果を図４に示した。ＩＥの切替は黒矢印に
て、ＲＯの切替は白矢印にて示した。なお、ＵＶ酸化装
置入口における水素濃度の変化も図４に併記した。
を有する超純水製造装置を構築し、市水を被処理水とす
る超純水製造を行った。また、ＩＥ及びＲＯの切替に際
してはそれぞれ約３０分系外排出した後、切替を行っ
た。そして、ＵＦ出口におけるＴＯＣ濃度の変化を測定
し、その結果を図４に示した。ＩＥの切替は黒矢印に
て、ＲＯの切替は白矢印にて示した。なお、ＵＶ酸化装
置入口における水素濃度の変化も図４に併記した。
【００１８】〔比較例１〕図３（ｂ）に示すように、前
記実施例１の超純水製造装置〔図３（ａ）〕における溶
存水素計及び水素供給量調節機構を設けない以外は全く
同様に超純水製造装置を構築し、市水を被処理水とする
超純水製造を行った。また、ＩＥ及びＲＯの切替に際し
ては系外排出を行わなかった。そして、ＵＦ出口におけ
るＴＯＣ濃度の変化を測定し、その結果を図５に示し
た。ＩＥの切替は黒矢印にて、ＲＯの切替は白矢印にて
示した。
記実施例１の超純水製造装置〔図３（ａ）〕における溶
存水素計及び水素供給量調節機構を設けない以外は全く
同様に超純水製造装置を構築し、市水を被処理水とする
超純水製造を行った。また、ＩＥ及びＲＯの切替に際し
ては系外排出を行わなかった。そして、ＵＦ出口におけ
るＴＯＣ濃度の変化を測定し、その結果を図５に示し
た。ＩＥの切替は黒矢印にて、ＲＯの切替は白矢印にて
示した。
【００１９】〔考察〕本発明の実施例１では、図４に示
すようにＵＶ酸化装置入口の水素濃度が３〜８ppb にな
るように調整した。そして、ＵＦ出口ではＴＯＣが０.
５ppb以上であったものを０.５ppb以下（０.３１〜０.
４５ppb）に安定維持できた。また、比較例１（図５）
ではＩＥ及びＲＯの切替に際してＴＯＣ変化のチャート
に一時的なピークが確認されたが、本発明の実施例１で
はそのようなピークは殆ど解消できていた。
すようにＵＶ酸化装置入口の水素濃度が３〜８ppb にな
るように調整した。そして、ＵＦ出口ではＴＯＣが０.
５ppb以上であったものを０.５ppb以下（０.３１〜０.
４５ppb）に安定維持できた。また、比較例１（図５）
ではＩＥ及びＲＯの切替に際してＴＯＣ変化のチャート
に一時的なピークが確認されたが、本発明の実施例１で
はそのようなピークは殆ど解消できていた。
【００２０】
【発明の効果】以上詳述した通り、本発明の超純水製造
装置の運転方法によれば、ＵＶ酸化装置に流入する被処
理水の溶存水素濃度をモニターし、適宜手法によりその
溶存水素濃度が１５ppb となるように触媒脱酸素装置に
供給する水素量を調節すればよいものであって、ＤＯ
１ppb以下及びＴＯＣ ０.５ppb 以下の高水質の超純水
を安定的に製造できるものである。また、本発明の超純
水製造装置は、従来の装置をそのまま利用することがで
きるものであって、所定位置に溶存水素計と水素供給量
調節機構とを設置すれば良く、極めて実用的価値が高い
ものである。
装置の運転方法によれば、ＵＶ酸化装置に流入する被処
理水の溶存水素濃度をモニターし、適宜手法によりその
溶存水素濃度が１５ppb となるように触媒脱酸素装置に
供給する水素量を調節すればよいものであって、ＤＯ
１ppb以下及びＴＯＣ ０.５ppb 以下の高水質の超純水
を安定的に製造できるものである。また、本発明の超純
水製造装置は、従来の装置をそのまま利用することがで
きるものであって、所定位置に溶存水素計と水素供給量
調節機構とを設置すれば良く、極めて実用的価値が高い
ものである。
【図１】ＵＶ酸化装置入口における溶存水素が端末ＵＦ
出口におけるＴＯＣに与える影響を示すグラフである。
出口におけるＴＯＣに与える影響を示すグラフである。
【図２】ＲＯ装置待機後起動時のＴＯＣ挙動を示すグラ
フである。
フである。
【図３】（ａ）本発明の超純水製造装置の一例（実施例
１）を示すフロー（流れ系統図）、（ｂ）従来の超純水
製造装置の一例（比較例１）を示すフロー（流れ系統
図）である。
１）を示すフロー（流れ系統図）、（ｂ）従来の超純水
製造装置の一例（比較例１）を示すフロー（流れ系統
図）である。
【図４】実施例１のＵＦ出口におけるＴＯＣ濃度の変化
を示すグラフである。
を示すグラフである。
【図５】比較例１のＵＦ出口におけるＴＯＣ濃度の変化
を示すグラフである。
を示すグラフである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｃ０２Ｆ 9/00 ５０４ Ｃ０２Ｆ 9/00 ５０４Ｄ 1/32 1/32 1/44 1/44 Ｊ Ｆターム(参考） 4D006 GA03 GA06 KA02 KA03 KA52 KA55 KA57 KA64 KA71 KB04 KB11 KB12 KB13 KB17 KB30 KC02 KC16 KD19 KD30 KE11Q KE12P KE13P KE24Q KE28Q PA01 PB06 PB62 PB70 PC02 4D037 AA03 AB01 AB11 BA18 BB01 BB02 CA01 CA02 CA03 CA08 CA09 CA15
Claims (3)
- 【請求項１】 脱塩装置とともに、被処理水に水素を供
給して貴金属触媒と接触させて被処理水中の溶存酸素を
除去する触媒充填脱酸素装置と、その下流側に設けられ
たＵＶ酸化装置とを有する超純水製造装置の運転方法に
おいて、 ＵＶ酸化装置に流入する被処理水の溶存水素濃度が １
５ppb以下となるように、触媒充填脱酸素装置に供給す
る水素量を調節することを特徴とする超純水製造装置の
運転方法。 - 【請求項２】 脱塩装置はイオン交換樹脂純水装置又は
逆浸透膜装置であり、超純水製造装置を運転して超純水
を得る採水工程と、脱塩装置の性能が劣化したときに脱
塩装置を再生或いは洗浄する回復工程とを有し、回復工
程から採水工程に復帰した際、採水工程初期の脱塩水を
系外に排出することを特徴とする請求項１に記載の超純
水製造装置の運転方法。 - 【請求項３】 脱塩装置とともに、被処理水に水素を供
給して貴金属触媒と接触させて被処理水中の溶存酸素を
除去する触媒充填脱酸素装置と、その下流側に設けられ
たＵＶ酸化装置とを有する超純水製造装置において、 触媒充填脱酸素装置からの流出水の溶存水素濃度を測定
する溶存水素計と、該溶存水素計による溶存水素の測定
値が １５ppb以下となるように触媒充填脱酸素装置に供
給する水素量を調節する水素供給量調節機構と、を設け
たことを特徴とする超純水製造装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34405598A JP3551048B2 (ja) | 1998-12-03 | 1998-12-03 | 超純水製造装置の運転方法及び超純水製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34405598A JP3551048B2 (ja) | 1998-12-03 | 1998-12-03 | 超純水製造装置の運転方法及び超純水製造装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000167593A true JP2000167593A (ja) | 2000-06-20 |
| JP3551048B2 JP3551048B2 (ja) | 2004-08-04 |
Family
ID=18366314
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34405598A Expired - Fee Related JP3551048B2 (ja) | 1998-12-03 | 1998-12-03 | 超純水製造装置の運転方法及び超純水製造装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3551048B2 (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007125519A (ja) * | 2005-11-07 | 2007-05-24 | Kurita Water Ind Ltd | 超純水製造方法および装置 |
| JP2014140826A (ja) * | 2013-01-25 | 2014-08-07 | Nomura Micro Sci Co Ltd | 超純水製造方法 |
| JP2019107631A (ja) * | 2017-12-20 | 2019-07-04 | 栗田工業株式会社 | 紫外線酸化処理方法 |
| WO2019181254A1 (ja) * | 2018-03-23 | 2019-09-26 | 栗田工業株式会社 | 純水製造装置 |
| WO2019181251A1 (ja) * | 2018-03-23 | 2019-09-26 | 栗田工業株式会社 | 純水製造装置 |
| WO2019181253A1 (ja) * | 2018-03-23 | 2019-09-26 | 栗田工業株式会社 | 純水製造装置 |
| WO2019181252A1 (ja) * | 2018-03-23 | 2019-09-26 | 栗田工業株式会社 | 水処理装置 |
| WO2023176147A1 (ja) * | 2022-03-14 | 2023-09-21 | オルガノ株式会社 | 水処理装置及び水処理方法 |
-
1998
- 1998-12-03 JP JP34405598A patent/JP3551048B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007125519A (ja) * | 2005-11-07 | 2007-05-24 | Kurita Water Ind Ltd | 超純水製造方法および装置 |
| JP4635827B2 (ja) * | 2005-11-07 | 2011-02-23 | 栗田工業株式会社 | 超純水製造方法および装置 |
| JP2014140826A (ja) * | 2013-01-25 | 2014-08-07 | Nomura Micro Sci Co Ltd | 超純水製造方法 |
| JP2019107631A (ja) * | 2017-12-20 | 2019-07-04 | 栗田工業株式会社 | 紫外線酸化処理方法 |
| WO2019181254A1 (ja) * | 2018-03-23 | 2019-09-26 | 栗田工業株式会社 | 純水製造装置 |
| WO2019181251A1 (ja) * | 2018-03-23 | 2019-09-26 | 栗田工業株式会社 | 純水製造装置 |
| WO2019181253A1 (ja) * | 2018-03-23 | 2019-09-26 | 栗田工業株式会社 | 純水製造装置 |
| WO2019181252A1 (ja) * | 2018-03-23 | 2019-09-26 | 栗田工業株式会社 | 水処理装置 |
| JP2019166472A (ja) * | 2018-03-23 | 2019-10-03 | 栗田工業株式会社 | 純水製造装置 |
| JP2019166471A (ja) * | 2018-03-23 | 2019-10-03 | 栗田工業株式会社 | 水処理装置 |
| JP2019166473A (ja) * | 2018-03-23 | 2019-10-03 | 栗田工業株式会社 | 純水製造装置 |
| JP2019166470A (ja) * | 2018-03-23 | 2019-10-03 | 栗田工業株式会社 | 純水製造装置 |
| WO2023176147A1 (ja) * | 2022-03-14 | 2023-09-21 | オルガノ株式会社 | 水処理装置及び水処理方法 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3551048B2 (ja) | 2004-08-04 |
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