JP2000150592A - マウント検査部における照明装置 - Google Patents
マウント検査部における照明装置Info
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- JP2000150592A JP2000150592A JP10336527A JP33652798A JP2000150592A JP 2000150592 A JP2000150592 A JP 2000150592A JP 10336527 A JP10336527 A JP 10336527A JP 33652798 A JP33652798 A JP 33652798A JP 2000150592 A JP2000150592 A JP 2000150592A
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- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/75—Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
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- Wire Bonding (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
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- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
査照明と、アライメントマーク検査照明を取り付けるこ
とにより、照明光源の取り付けスペースの縮小を図るこ
とを目的とすると共に、1つの照明装置で両方の検査を
行なう場合に必要としていた光学系の微調整を必要とせ
ず、全体の検査時間の短縮を図ることである。 【解決手段】解決手段として、連続光でワークに対して
略垂直方向から照射する第1照明とストロボ光でワーク
に対してやや角度をつけて照射する第2照明とを同一照
明装置内に配置したことを特徴とするボールマウント装
置のマウント検査部における照明装置を提供する。
Description
置において、ワークにボールが正確にマウントされたか
どうかを検査する検査部の照明装置に関するもので、主
として、BGA(ボールグリッドアレー)基板へ搭載さ
れた半田ボールの画像処理検査を行う時に使用するボー
ル検査照明及び基板検査照明に関する照明装置を主眼に
開発されたものである。
は、半田ボールの検査とBGA基板の検査が必要とな
る。BGA基板の検査は、BGA基板の傾きを判断し、
該傾きを補正して半田ボールの位置ズレを検出するため
に行われるもので、具体的には、BGA基板に付された
ランドマークやアライメントマークを認識することによ
り行われる。
ールと基板とでは見え方が異なるため、BGA基板1個
毎に照明を異ならせて2つの画像を取り込んでいた。そ
の際、特開平8−153997号公開特許公報に示され
るように2種類の照明装置を使用するものや、又は特公
平2−16012号特許公報に示されるように1つの照
明装置の条件を検査部位に合わせて可変させるものが存
在した。
検査に2つの照明装置を利用するのでは、照明光源のた
めの広い取り付けスペースが必要となり、他方、照明の
条件を検査部位に合わせて1つの照明装置を可変させる
ものでは画像取り込みまでに時間がかかり、且つ、安定
性に欠けるという問題があった。
置内に、ボール検査照明と、アライメントマーク検査照
明を取り付けることにより、照明光源の取り付けスペー
スの縮小を図ることを目的とすると共に、1つの照明装
置で両方の検査を行なう場合に必要としていた光学系の
微調整を必要とせず、全体の検査時間の短縮を図ること
を目的とするものである。
決するため、連続光でワークに対して略垂直方向から照
射する第1照明とストロボ光でワークに対してやや角度
をつけて照射する第2照明とを同一照明装置内に配置し
たことを特徴とするボールマウント装置のマウント検査
部における照明装置を提供するものである。
実施の形態につき説明する。図1は、ボールマウント装
置の全体を示す概要図である。図1に示させるボールマ
ウント装置は、BGA半田ボールマウント装置である。
Aフレーム8のBGA基板9にフラックスを転写するた
めのフラックス供給部1と、BGAフレーム8のBGA
基板9に半田ボール12をマウントするボールマウント
部2と、ボールマウントが正しく行われたかをCCDカ
メラ5にて検査するマウント検査部3と、BGAフレー
ム8をフラックス供給部1からボールマウント部2、マ
ウント検査部3へと搬送する搬送部4とによりなる。
対象となるBGA基板9(ワーク)を複数具備するBG
Aフレーム8は、図2に示すように、内部に6個のBG
A基板9が形成されたもので、図中11がBGA基板9
に付されたアライメントマーク11であり、図中12が
BGA基板9にマウントされた半田ボール12である。
入装置により搬送部4のコンベヤ(図示されていない)
上に供給される。コンベヤはBGAフレーム8をフラッ
クス供給部1へと搬送する。フラックスを転写後、BG
Aフレーム8をボールマウント部2へと搬送する。ボー
ルマウント部2では、半田ボール12を各BGA基板9
にマウントする。半田ボール12のマウントを終了後、
BGAフレーム8をマウント検査部3へと搬送する。
マウントがBGA基板9の所定の位置に正しく行われた
か否かを検査する。マウント検査部3は、CCDカメラ
5と照明装置16が一体となったものであり、搬送部4
上方の走行フレーム13に、水平横方向移動可能に配備
されている。その移動範囲は、BGAフレーム8内のB
GA基板9を全て検出可能な範囲である。
いう2つの照明が設けられている。第1照明は、照明装
置16内の傾斜面上部に設けられた連続光照明6であ
り、BGA基板9のアライメントマーク11の検査用の
照明である。アライメントマーク11は、略垂直方向か
らの照射で認識がし易いため、第1照明である連続光照
明6はアライメントマーク11に対して略垂直方向より
照射している。図3において、照明装置16内の傾斜面
上部で、BGA基板9のアライメントマーク11の略垂
直方向上部に2段設けられているのが連続光照明6であ
る。
に設けられたストロボ光照明7であり、ボール検査用の
照明である。半田ボール12は、斜めからの照射で認識
がし易いため、第2照明であるストロボ光照明7は、半
田ボール12に対してやや角度をつけて照射する。図3
において、照明装置16内の傾斜面下部で、BGA基板
9にマウントされた半田ボール12の斜め上方に2段設
けられているのがストロボ光照明7である。
7の数や段数を必要に応じて変化させることが可能であ
る。又、拡散板を取り付けることや照明の角度をそれぞ
れ変化させることも考えられる。
源としては、何れも白色LEDを用いる。照明光源に白
色LEDを使用することにより、光量のアップを図るも
のである。通常利用される赤色LEDでは光量が不足気
味であり、結果として多数の照明光源を必要とし、取り
付けのための広いスペースを要することとなるのを防止
するためである。尚、連続光とストロボ光は、電気回路
の違いにより区別される。
明図であり、上部水平位置に左右に並べて設けられてい
るのが連続光照明6であり、傾斜面下部に2段、設けら
れているのがストロボ光照明7である。連続光照明6
が、BGA基板9に付されたアライメントマーク11の
垂直方向上部に確実に位置するよう構成されたものであ
る。
いて説明する。図2に示される複数のBGA基板9が内
部に形成されたBGAフレーム8は、先ずマウント検査
部3で、先頭のBGA基板9がCCDカメラ5の画像取
り込み範囲10で停止する。ここで連続光照明6により
アライメントマーク11の画像を取り込む。引き続きス
トロボ光照明7で半田ボール12の画像を取り込むと同
時にBGAフレーム8とCCDカメラ5の相対移動が開
始する。具体的には、CCDカメラ5が移動する。
画像取り込み範囲10に達すると、ストロボ光照明7を
ONにして、2個目のBGA基板9の半田ボール12の
画像を取り込む。CCDカメラ5を動かしながらの画像
を取り込むタイミング、即ち、ストロボ光照明7のON
のタイミングは、予めBGA基板9のピッチを入力して
おき、CCDカメラ5の動きをエンコーダで観察し、エ
ンコーダの発するパルス数で管理するものである。
識を行う時点で相対移動は停止する。停止後、連続光照
明6によりアライメントマーク11の画像を取り込む。
尚、マウント検査部3では、画像取り込み後、先頭と最
後のBGA基板9のアライメントマーク11によりBG
Aフレーム8全体の傾きを演算し、傾きを考慮に入れて
BGA基板9上の半田ボール12の位置を算出して、半
田ボール12のマウント位置の良否を判断している。
GA基板9の傾きのバラツキは無いとの前提で検査をお
こなっているが、個々のBGA基板9の傾き差が無視で
きないくらい大きい場合には、BGAフレーム8の全B
GA基板9のアライメントマーク11を取り込み、個々
の傾きを考慮することもできる。
以下のような効果を発揮する。第1に、本発明は、連続
光でワークに対して略垂直方向から照射する第1照明と
ストロボ光でワークに対してやや角度をつけて照射する
第2照明とを有するため、第1照明によりBGA基板の
アライメントマークの認識を適正に行うことができ、第
2照明により半田ボールの認識を適正に行うことができ
る照明装置であると同時に、2種類の照明を同一照明装
置内に設けたため、取り付けスペースの縮小を図ること
ができた。
ライメントマークの認識に適した第1照明と半田ボール
の検査に適した第2照明を使い分けることにより、従来
1つの照明装置で両方の検査を行った場合に必要として
いた光学系の微調整を必要とせず、調整が容易で確実な
検査が行えることとなった。更に、光学系の微調整を必
要としないため、全体の検査時間の短縮が図られること
となった。
Claims (1)
- 【請求項1】連続光でワークに対して略垂直方向から照
射する第1照明とストロボ光でワークに対してやや角度
をつけて照射する第2照明とを同一照明装置内に配置し
たことを特徴とするボールマウント装置のマウント検査
部における照明装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33652798A JP4019293B2 (ja) | 1998-11-11 | 1998-11-11 | マウント検査部における照明装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33652798A JP4019293B2 (ja) | 1998-11-11 | 1998-11-11 | マウント検査部における照明装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000150592A true JP2000150592A (ja) | 2000-05-30 |
JP4019293B2 JP4019293B2 (ja) | 2007-12-12 |
Family
ID=18300062
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33652798A Expired - Fee Related JP4019293B2 (ja) | 1998-11-11 | 1998-11-11 | マウント検査部における照明装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4019293B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003028805A (ja) * | 2001-07-12 | 2003-01-29 | Kurabo Ind Ltd | 表面性状評価装置 |
JP2010066273A (ja) * | 2005-06-02 | 2010-03-25 | Byk-Gardner Gmbh | 表面特性測定方法および装置 |
JP2013545972A (ja) * | 2010-10-14 | 2013-12-26 | コー・ヤング・テクノロジー・インコーポレーテッド | 基板検査方法 |
JP2015111631A (ja) * | 2013-12-06 | 2015-06-18 | 三星電子株式会社Samsung Electronics Co.,Ltd. | 認識装置、認識方法、実装装置及び実装方法 |
-
1998
- 1998-11-11 JP JP33652798A patent/JP4019293B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003028805A (ja) * | 2001-07-12 | 2003-01-29 | Kurabo Ind Ltd | 表面性状評価装置 |
JP2010066273A (ja) * | 2005-06-02 | 2010-03-25 | Byk-Gardner Gmbh | 表面特性測定方法および装置 |
JP2013545972A (ja) * | 2010-10-14 | 2013-12-26 | コー・ヤング・テクノロジー・インコーポレーテッド | 基板検査方法 |
JP2015111631A (ja) * | 2013-12-06 | 2015-06-18 | 三星電子株式会社Samsung Electronics Co.,Ltd. | 認識装置、認識方法、実装装置及び実装方法 |
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JP4019293B2 (ja) | 2007-12-12 |
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