JP2010066273A - 表面特性測定方法および装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、表面特性測定方法に関し、当該方法では、被検査表面(5)の第1の領域に放射線を放射し、次に、第1の領域へ放射が行われ第1の領域により反射された少なくともいくらかの放射線を検出し、この反射した放射線に固有の測定値が出力される。さらに別の方法ステップでは、表面(5)の第2の領域に放射線を放射し、再度、第2の領域へ放射が行われ第2の領域により反射された放射線の少なくともいくらかの放射線を検出し、この放射線に固有の第2の測定値が出力される。最後に、第1の測定値と第2の測定値との間の関係に固有の結果値が、出力される。
【選択図】図1
Description
2: 放射線源
3: 枠
4: 車輪
5: 表面
6: 経路長測定装置
8: ゴムコーティング
10: 装置
12: 車輪
14: レンズ
15: レンズ
17: スクリーン
18: スクリーン
19: フィルタ素子
20: 放射線検出装置
21: 処理装置
22: 記憶装置
24: 層厚測定装置
26: 放射装置
27: 検出装置
32、33: むらのある塗装領域
34、35: むらのない塗装領域
Claims (23)
- 表面特性を測定する方法であって、
−被検査表面(5)の第1の領域に放射線を放射するステップと、
−前記第1の領域へ放射され当該第1の領域により反射した放射線の少なくともいくらかを検出し、この反射した放射線の第1の特性値を出力するステップと、
−前記表面(5)の第2の領域に放射線を放射するステップと、
−前記第2の領域へ放射され当該第2の領域により反射した放射線の少なくともいくらかを検出し、この反射した放射線の第2の特性値を出力するステップと、
−前記第1の特性値と第2の特性値との関係に固有の結果値を出力するステップと、
を含む方法。 - 前記第1の領域と第2の領域との間の距離を測定する請求項1に記載の方法。
- 前記表面の多数の異なる領域に連続して放射線を放射する請求項1に記載の方法。
- 本質的に、実質的にまっすぐな線に沿って、少なくとも断続的に前記装置を前記表面に対して移動させる請求項1に記載の方法。
- 相加平均値、幾何平均値、散乱、分散、差分、微分係数、最大、最小またはそれらの組み合わせ、あるいは同様のものを含む群から、結果値が選択される請求項1に記載の方法。
- 放射線の固有特性は、強度、波長、偏光、またはそれらの組み合わせ、あるいは同様のものを含む特性の群から選択される請求項1に記載の方法。
- 全ての特性値が、記憶装置(22)内に格納され、好ましくは測定された領域に割り当てられる請求項1に記載の方法。
- 被検査表面の層厚を測定する請求項1に記載の方法。
- 被検査表面に放射線を放射する少なくとも1つの放射線源を有する少なくとも1つの放射装置と、
前記少なくとも1つの放射装置により放射され次に測定表面により反射された放射線の少なくともいくらかを検出して、反射および/または散乱した放射線であるという特性を示す少なくとも1つの測定信号を出力する少なくとも1つの放射線検出装置と、
前記測定装置により出力されて前記表面上の異なる場所に対応する少なくとも2つの測定信号を比較し、この比較特性値を出力する処理装置と、
を有する表面特性測定装置。 - 所定の、好ましくは本質的に直線の移動方向に沿って前記表面特性測定装置を前記表面に対して移動させるために、移動装置を有する請求項9に記載の表面特性測定装置。
- 前記移動装置は、前記表面特性測定装置に配置された少なくとも1つの車輪を有する請求項9に記載の表面特性測定装置。
- 多数の測定信号および/またはこれらの測定信号から導き出される値を格納するために、記憶装置が設けられる請求項9に記載の表面特性測定装置。
- 前記放射装置は、被検査表面に対して所定の角度で配置され、この角度は、特に好ましくは35°である請求項9に記載の表面特性測定装置。
- 前記表面に対して異なる角度で配置される複数の放射線検出装置が、設けられる請求項9に記載の表面特性測定装置。
- 少なくとも1つの放射線検出装置が、前記表面に対して本質的に35°の角度で配置される請求項9に記載の表面特性測定装置。
- 複数の放射装置が、前記表面特性測定装置の移動方向に本質的に垂直に配置される請求項9に記載の表面特性測定装置。
- 複数の放射線検出装置が、前記表面特性測定装置の移動方向に本質的に垂直に配置される請求項9に記載の表面特性測定装置。
- 前記表面に対して移動する経路長を測定するために経路長測定装置を有する請求項9に記載の表面特性測定方法。
- 少なくとも1つの放射装置が、少なくとも1つの放射線源を有し、当該放射線源は、限定はしないが、特に、白熱灯、ハロゲンランプ、コヒーレントおよび非コヒーレント半導体放射線源、ガス放電放射線源、レーザー、およびそれらの組み合わせ、ならびに同様のものなどの熱放射線源を含む放射線源の群から選択される請求項9に記載の表面特性測定装置。
- 層厚測定装置が、設けられる請求項9に記載の表面特性測定装置。
- 所定の放射線成分を選択するために少なくとも1つのフィルタ素子を有する請求項9に記載の表面特性測定装置。
- 測定表面に対する所定の位置に配置される複数の第1の放射装置が、設けられる請求項9に記載の表面特性測定装置。
- 前記表面に対して前記表面特性測定装置を方向づけ得る較正装置が、設けられる請求項9に記載の表面特性測定装置。
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