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Die
vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zur Untersuchung
optischer Oberflächeneigenschaften.
Die Vorrichtung wird nachfolgend unter Bezug auf die Untersuchung
von Karosserien von Kraftfahrzeugen beschrieben. Es wird jedoch
darauf hingewiesen, dass auch andere Oberflächen mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung
untersucht werden können.
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Derartige
Vorrichtungen zur Untersuchung optischer Oberflächeneigenschaften sind aus
dem Stand der Technik bekannt. Diese verwenden im Prinzip eine Lichtquelle,
welche Licht auf die zu untersuchende Oberfläche richtet sowie einen Detektor, der
das von der Oberfläche
reflektierte bzw. gestreute Licht detektiert und auswertet. Durch
diese Auswertung können
optische Eigenschaften der Oberfläche, wie beispielsweise Farbe
oder Glanz, bestimmt werden. Eine derartige Bestimmung bzw. Charakterisierung
ist nötig,
da Kfz-Karosserien
bzw. deren Lackierungen je nach dem auf sie einfallenden Licht für das menschliche
Auge einen unterschiedlichen Eindruck erwecken und daher eine objektive
Charakterisierung nötig
ist.
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In
jüngerer
Zeit erfreuen sich vor allem auch solche Lackierungen größerer Beliebtheit,
welche Pigmente oder sogenannte Flakes aufweisen. Bei diesen Pigmenten
bzw. Flakes kann es sich um Metallteilchen handeln, welche statistisch
in der Lackschicht bzw. deren Oberfläche verteilt sind. Genauer gesagt,
bestehen beispielsweise metallische Pigmente aus sehr dünnen metallischen
Flakes, die wie Miniaturspiegel wirken. Die Standardisierung derartiger
Lacke bzw. die Messung ihrer Oberflächeneigenschaften bereitet
Probleme, da diese Pigmente je nach Einfallsrichtung des Lichts
unterschiedliche Charakteristika aufweisen und beispielsweise bereits bei
geringfügig
unterschiedlichen Betrachtungswinkeln andere Farben oder andere
Helligkeiten aufweisen können.
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Zum
Einsatz kommen weiterhin unter anderem Lacke mit Interferenzpigmenten,
die insbesondere beim Betrachten größerer Oberflächenbereiche Farbverläufe mit
mehr oder weniger genau spezifizierten Farbumschlagswinkeln (Flop)
hervorrufen, wobei mitunter stark unterschiedliche Farbeindrücke erzielt
werden können,
wodurch dann auch die lackierten Flächen insgesamt unterschiedlich
hell bzw. unterschiedlich farbig erscheinen.
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Diese
Effekte und unterschiedliche Wahrnehmungen von Oberflächen, die
z. B. aus verschiedener Dichte, Verteilung und Zusammensetzungen von
Lackzusätzen,
wie Flakes oder Effektpigmenten herrühren, können mit Vorrichtungen nach
dem Stand der Technik nicht detektiert werden, da die entsprechenden
Detektoren jeweils nur Informationen über die Summenintensität des von
verschiedenen Orten der Messfläche
auf sie einfallenden Lichtes geben, d. h. eine Intensitäts-Integration ohne
Ortsauflösung
vornehmen.
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Der
vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einerseits solche
Veränderungen
auflösen zu
können,
welche durch eine unterschiedliche Betrachtung der Lackierung unter
beispielsweise leicht unterschiedlichen Raumwinkeln entstehen, dabei
jedoch andererseits auch eine Beobachtung unter Winkeln, die erheblich
voneinander abweichen, durchführen
zu können.
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Dies
wird erfindungsgemäß durch
eine Vorrichtung nach Anspruch 1 erreicht. Vorteilhafte Weiterbildungen
und Ausführungsformen
sind Gegenstand der Unteransprüche.
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Die
erfindungsgemäße Vorrichtung
zur Untersuchung optischer Oberflächeneigenschaften weist wenigstens
eine erste Strahlungseinrichtung auf, welche unter wenigstens einem
ersten vorgegebenen Raumwinkel Strahlung auf die zu untersuchende
Oberfläche
aussendet. Daneben ist wenigstens eine erste Detektionseinrichtung
zur Aufnahme der auf die Oberfläche
ausgesandten und von dieser zurückgestrahlten
Strahlung vorgesehen, wobei die Detektionseinrichtung eine ortsaufgelöste Detektion der
Strahlung erlaubt und unter wenigstens einem zweiten vorgegebenen
Raumwinkel gegenüber
der zu untersuchenden Oberfläche
angeordnet ist.
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Dabei
ist wenigstens ein Raumwinkel, unter dem die Strahlungseinrichtung
und/oder die Detektionseinrichtung angeordnet sind, veränderbar.
Erfindungsgemäß sind die
Strahlungseinrichung und die Detektionseinrichtung in einem Raum
angeordnet, der wenigstens teilweise licht- bzw. strahlungsreflektierende
Eigenschaften aufweist.
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Unter
einem Raum wird ein im wesentlichen abgeschlossenes Volumenelement
verstanden. Bevorzugt handelt es sich um den im wesentlichen über der
zu untersuchenden Oberfläche
angeordneten Raum.
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Unter
einem Raum mit lichtreflektierenden Eigenschaften wird verstanden,
dass der Raum in wenigstens einem Abschnitt, bevorzugt einem Abschnitt
an seiner Innenoberfläche
lichtreflektierende Eigenschaften aufweist.
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Bevorzugt
weist der Raum im wesentlichen auf seiner ganzen Innenoberfläche, dh.
der Oberfläche,
welche der zu untersuchenden Oberfläche zugewandt ist, lichtreflektierende
Eigenschaften auf. Bei dem Raum handelt es sich bevorzugt um eine
integrierende Kugel oder ein integrierendes Kugelsegment, welches
auch als Ulbricht'sche
Kugel bezeichnet wird. Bevorzugt weist auch der Abschnitt des Raumes,
der im wesentlichen parallel zu der zu untersuchenden Oberfläche angeordnet
ist, licht- bzw. strahlungsreflektierende Eigenschaften auf.
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Unter
einer Anordnung der Strahlungs- bzw. Detektionseinrichtung im Raum
wird verstanden, dass die jeweiligen Einrichtungen selbst zwar nicht notwendigerweise
in dem Raum angeordnet sein müssen,
aber jedenfalls die Strahlungseinrichtung Strahlung in den Raum
richtet und die Detektionseinrichtung aus dem Raum stammende Strahlung
detektiert. So könnten
beispielsweise die Einrichtungen oberhalb des Raumes angeordnet
sein, und im Raum Öffnungen
angeordnet sein, durch welche hindurch die Strahlung von der Strahlungseinrichtung
in den Raum bzw. aus dem Raum heraus auf die Detektionseinrichtung
gelangt.
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Auf
diese Weise wird erreicht, dass unter vorgegebenen Bedingungen nicht
kollimiertes, bzw. ungerichtetes Licht erzeugt wird, um die Eigenschaften
der Oberfläche
auch unter Bestrahlung mit im wesentlichen diffusen Licht charakterisieren
zu können. Dabei
konnte in aufwendigen Untersuchungen gezeigt werden, dass auch diese
Erzeugung von ungerichtetem Licht diejenigen Messergebnisse, welche bei
der Messung mit gerichteter Strahlung erreicht werden, nicht wesentlich
verfälscht,
dass also eine Kombination verschiedener Messverfahren möglich ist.
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Unter
einer Strahlungseinrichtung wird eine Strahlungs- bzw. Lichtquelle
verstanden, insbesondere, aber nicht ausschließlich, in Form von Leuchtdioden
und/oder Laserdioden, Glühlampen,
Halogenlampen und dergleichen. Auch eine Anordnung mehrerer Lichtquellen,
beispielsweise mehrerer Leuchtdioden mit unterschiedlichen Emissionsspektren,
wird als Strahlungseinrichtung aufgefasst.
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Unter
einem Raumwinkel wird in Abgrenzung zum mathematischen Raumwinkelbegriff
im Rahmen dieser Erfindung ein Tupel aus Teilraumwinkeln verstanden.
Dabei bezeichnet die erste Komponente des Raumwinkels, d. h., der
erste Teilraumwinkel α,
den Winkel der Projektion einer durch eine im Ursprung eines kartesischen
Koordinatensystems beginnenden Halbgeraden definierten Raumrichtung auf
die x-/z-Ebene gegenüber
der positiven z-Achse.
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Ferner
bezeichnet die zweite Komponente des Raumwinkels, d. h., der zweite
Teilraumwinkel β den
Winkel der Projektion der genannten Halbgeraden auf die y-/z-Ebene
gegenüber
der positiven z-Achse. Das Koordinatensystem ist dabei so orientiert,
dass die Messfläche
bzw. zumindest Teile der Messfläche
in der x-/y-Ebene liegen.
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Der
Raumwinkel ist damit geeignet, die Ausrichtung der Strahlungs- bzw.
Detektionseinrichtung gegenüber
der zu untersuchenden Oberfläche
eindeutig zu charakterisieren. Die geometrische Orientierung der
Raumwinkel wird nochmals im Rahmen der Figurenbeschreibung dargestellt.
Unter einem Raumwinkel von (0°,
0°) wird
ein Raumwinkel verstanden, bei welchem sich die Strahlungs- oder
Detektionseinrichtung derart über
der zu untersuchenden Oberfläche
befindet, dass die von der beispielsweise Strahlungseinrichtung
ausgesandte Strahlung im Wesentlichen senkrecht auf die zu untersuchende Oberfläche trifft.
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Unter
einer Detektionseinrichtung wird jede Einrichtung verstanden, welche
in der Lage ist, wenigstens einen Parameter des auf sie eintreffenden Lichtes
zu detektieren und ein diesem Parameter entsprechendes Signal auszugeben.
Dabei fallen unter den Begriff Detektionseinrichtung sowohl Fotosensoren,
Fotozellen und Fotodetektoren als auch beispielsweise Kameras, CCD-Chips
und dergleichen.
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Unter
einem veränderbaren
Winkel einer Einrichtung wird verstanden, dass die Einrichtung nicht
beispielsweise mechanisch fest angeordnet ist, sondern durch äußere Maßnahmen,
wie beispielsweise durch den Einsatz von Motoren in gebogenen Schienen,
verschiebbare oder drehbare Lagerung und dergleichen, geändert werden
kann.
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Auch
ist es möglich,
dass nur ein Teilraumwinkel entweder der Strahlungseinrichtung oder
der Detektionseinrichtung geändert
wird, und der jeweils andere Teilraumwinkel unverändert bleibt.
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Bevorzugt
weist die erste Detektionseinrichtung ein bevorzugt flächiges Bildaufnahmeelement auf,
welches die ortsaufgelöste
Detektion der Strahlung erlaubt. Dieses flächige Element kann beispielsweise
ein CCD-Chip sein, der die auf ihn auftreffende Strahlung ortsaufgelöst untersuchen
kann. Durch diese ortsaufgelöste
Untersuchung ist es möglich, die
Effekte – insbesondere
spektrale Effekte – zu
untersuchen, welche durch die einzelnen Pigmente bzw. Flakes erzeugt
werden.
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Im
Gegensatz hierzu würde
ein flächiger
Detektor ohne Ortsauflösung
lediglich durch Integration der Intensität der Strahlung, welche auf
jeden einzelnen Punkt der Detektorfläche auf die Fläche auftrifft, die
Summenintensität
der auf ihn auftreffenden Strahlung ermitteln, und daher keine Information über ihren
jeweiligen Ursprung liefern.
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Um
zu erreichen, dass auch solche Effekte berücksichtigt werden, welche durch
unterschiedliche Lichteinstrahlung bzw. Lichteinstrahlung der unterschiedlichen
Raumwinkel hervorgerufen werden, ist es denkbar, mehrere Lichtquellen
vorzusehen, welche unter unterschiedlichen Raumwinkeln auf die Oberfläche einstrahlen.
Es ist jedoch auch möglich, eine
Strahlungseinrichtung zunächst
unter einem ersten vorgegebenen Raumwinkel anzuordnen, dann eine
Messung durch Einstrahlung des Lichts auf die Oberfläche durchzuführen, um
dann diesen Raumwinkel zu ändern
und erneut eine Messung durchzuführen.
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Ferner
ist es auch möglich,
die Effekte dadurch zu charakterisieren, dass anstelle mehrerer Strahlungseinrichtungen
mehrere Detektionseinrichtungen vorgesehen werden, welche eine Detektion unter
unterschiedlichen Raumwinkeln erlauben. Auch hier ist es alternativ
möglich
und wird erfindungsgemäß vorgeschlagen,
die Detektionseinrichtung zunächst
unter einem ersten vorgegebenen Raumwinkel anzuordnen, eine Messung
durchzuführen
und in weiteren Schritten den Raumwinkel zu verändern, um eine oder mehrere
weitere Messungen durchzuführen.
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Ferner
ist es auch möglich,
eine Kombination vorzusehen, das heißt, mehrere Strahlungseinrichtungen
und mehrere Detektionseinrichtungen. Daneben ist es auch denkbar,
im Rahmen einer Messung sowohl den Raumwinkel, unter welchem die
Strahlungseinrichtung angeordnet ist, als auch den Raumwinkel, unter
welchem die Detektionseinrichtung angeordnet ist, zu verändern.
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Ferner
können
auch mehrere Strahlungs- und Detektionseinrichtungen vorgesehen
sein, deren jeweilige Raumwinkel wenigstens teilweise veränderbar
sind.
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Bevorzugt
ist der erste Teilraumwinkel, unter dem die erste Strahlungseinrichtung
gegenüber
der zu untersuchenden Oberfläche
angeordnet ist, veränderbar.
In einer weiteren bevorzugten Ausführungsform ist der erste Teilraumwinkel
der ersten Detektionseinrichtung, die gegenüber der zu untersuchenden Oberfläche angeordnet
ist, veränderbar.
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Dabei
sind bevorzugt die erste und die zweite Detektionseinrichtung unter
im Wesentlichen dem gleichen zweiten Teilraumwinkel angeordnet.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform
können
die erste Strahlungseinrichtung und/oder die erste Detektionseinrichtung
im Wesentlichen entlang eines Halbkreises über der zu untersuchenden Oberfläche bewegt
werden.
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Bei
einer weiteren bevorzugten Ausführungsform
ist der erste Teilraumwinkel in einem Bereich von bis 0° bis 360°, bevorzugt
von 0° bis
180°, veränderbar.
Die Veränderung
im Bereich von 0° bis 360° erlaubt
es, die jeweilige Strahlungs- und/oder Detektionseinrichtung im
Wesentlichen vollständig um
die zu untersuchende Oberfläche
herumzuführen und
auf diese Weise auch im Durchlichtverfahren messen zu können.
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In
einer weiteren Ausführungsform
ist eine Steuerungseinrichtung vorgesehen, um wenigstens einen Raumwinkel
für eine
Strahlungs- und/oder Detektionseinrichtung in einem vorgegebenen
Bereich anzusteuern.
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Dabei
ist es beispielsweise möglich,
den ersten Teilraumwinkel der ersten Strahlungseinrichtung in vorgegebenen
Intervallen zu ändern,
beispielsweise in Ein-Grad-Schritten. Auf diese Weise ist eine kontinuierliche
Messung, beispielsweise in einem vorgegebenen Intervall von 0° bis 180°, möglich.
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Auf
die gleiche Weise kann auch der entsprechende erste Teilraumwinkel
der ersten Detektionseinrichtung geändert werden. Ferner ist es
auch möglich,
sowohl die entsprechenden Raumwinkel für die Strahlungseinrichtung
als auch für
die Detektionseinrichtung in vorgegebenen Intervallen zu ändern. Dabei
kann beispielsweise ein optisches Abtasten in der Weise durchgeführt werden,
dass die Strahlungseinrichtung oder die Detektionseinrichtung kontinuierlich
in einem vorgegebenen Winkelbereich, beispielsweise von 0° bis 180°, aber auch
von 0° bis 360°, geändert werden.
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Ferner
kann die Steuerungseinrichtung so ausgeführt sein, dass vorgegebene
Raumwinkel durch den Benutzer eingestellt werden und diese dann
angefahren werden können.
So kann beispielsweise durch den Benutzer ein vorgegebenes Raumwinkelpaar
(α1; β1) und (α2; β2) eingegeben werden und auf diese Weise
bewirkt werden, dass die erste Strahlungseinrichtung und die erste
Detektionseinrichtung genau definierte Positionen gegenüber der zu
untersuchenden Oberfläche
einnehmen.
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Auch
eine Ansteuerung der entsprechenden zweiten Teilraumwinkel β1 und β2 ist
in einer weiteren Ausführungsform
vorgesehen. In einer weiteren Ausführungsform ist die Steuerungseinrichtung
so ausgelegt, dass die erste Steuerungseinrichtung sowie die erste
Detektionseinrichtung fest vorprogrammierte Winkel nacheinander
anfahren, um einen kompletten Messzyklus durchzuführen. So
kann beispielsweise die erste Strahlungseinrichtung nacheinander auf die
Winkel α1 = 30°,
60°, 90°, 120°, 150° und 170° eingestellt
werden. Selbstverständlich
können
auch beliebige andere Winkel vorprogrammiert werden. Auch die Detektionseinrichtung
kann in ähnlicher Weise
programmiert werden.
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Bevorzugt
ist es auch möglich,
einen oder beide Teilraumwinkel in kleinen, beispielsweise 1°-Schritten,
zu ändern.
Auf diese Weise kann die Plastizität der Effektpigmente durch
Kleinwinkeländerung
untersucht werden.
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In
einem anderen Ausführungsbeispiel
sind mehrere Strahlungseinrichtungen und/oder mehrere Detektionseinrichtungen
vorgesehen. Wie unten erläutert
wird, ist es bei einigen Messvarianten hilfreich, die Oberfläche durch
zwei oder mehr Strahlungseinrichtungen gleichzeitig beleuchten zu
lassen. Auch in diesem Fall ist es möglich, mehrere Strahlungseinrichtungen
und/oder mehrere Detektionseinrichtungen durch die Steuerungseinrichtung
anzusteuern und für
jede einzelne jede beliebige Winkelposition zu ermöglichen.
Auf diese Weise können
spezielle Beleuchtungen realisiert werden und/oder die Messung schneller
durchgeführt
werden.
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In
einer weiteren Ausführungsform
ist wenigstens eine Strahlungseinrichtung und/oder wenigstens eine
Detektionseinrichtung auf wenigstens einer Führungseinrichtung angeordnet,
welche eine Veränderung
der Lage der Strahlungseinrichtung und/oder der Detektionseinrichtung
entlang einem vorgegebenen Pfad erlaubt. Bei dieser Führungseinrichtung
kann es sich beispielsweise um eine im Wesentlichen kreisförmige Schiene
handeln, entlang derer die jeweilige Strahlungseinrichtung oder
Detektionseinrichtung im Wesentlichen halbkreisartig um die zu untersuchende
Oberfläche
geführt
wird.
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Daneben
kann es sich bei der Führungseinrichtung
um einen Arm handeln, an dessen Ende die Strahlungs- oder Detektionseinrichtung
angeordnet ist, und der auf diese weise ein Führen dieser Detektionseinrichtung
auf einem vorgegebenen Pfad erlaubt. Auch andere als im Wesentlichen
kreisförmige Ausgestaltungen
der Führungseinrichtungen
sind denkbar.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausführungsform
ist die wenigstens eine Führungseinrichtung
so gestaltet, dass die Raumwinkel, unter denen die Strahlungseinrichtungen
angeordnet sind, und die Raumwinkel, unter denen die Detektionseinrichtungen
angeordnet sind, im Wesentlichen voneinander unabhängig verändert werden
können.
Dies bedeutet, dass die Führungseinrichtung
so gestaltet ist, dass die Strahlungseinrichtung und die Detektionseinrichtung
auch aneinander vorbeigeführt
werden können,
so beispielsweise, wenn. die Strahlungseinrichtung im Winkel α1 =
30° in einen
Winkel von α1 = 120° übergeht,
während
die Detektionseinrichtung von einem Raumwinkel α2 =
120° in
einen Raumwinkel α2 = 30° übergeht.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausführungsform
ist wenigstens eine weitere Strahlungseinrichtung oder wenigstens
eine weitere Detektionseinrichtung vorgesehen, welche unter wenigstens
einem dritten vorgegebenen Raumwinkel Strahlung auf die zu untersuchende
Oberfläche
aussendet oder die auf die Oberfläche ausgesandte und von dieser
zurückgestrahlte
Strahlung detektiert. Wie bereits oben ausgeführt, ist es für manche
Messvarianten bedeutsam, gleichzeitig unter mehreren Raumwinkeln
Strahlung auf die zu untersuchende Oberfläche auszusenden. Der dritte
Raumwinkel ist bei einer bevorzugten Ausführungsform veränderbar.
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Eine
weitere erfindungsgemäße Vorrichtung zur
Untersuchung optischer Oberflächeneigenschaften
weist wenigstens eine erste Strahlungseinrichtung auf, welche unter
wenigstens einem ersten vorgegebenen Raumwinkel Strahlung auf eine
zu untersuchende Oberfläche
aussendet. Daneben ist wenigstens eine erste Detektionseinrichtung
zur Aufnahme der wenigstens auf einen Teil der Oberfläche ausgesandten
und von dieser zurückgestrahlten Strahlung
vorgesehen, wobei die Detektionseinrichtung eine ortsaufgelöste Detektion
der Strahlung erlaubt und unter wenigstens einem zweiten vorgegebenen
Raumwinkel gegenüber
der Oberfläche
angeordnet ist. Danach ist wenigstens eine weitere Strahlungseinrichtung
vorgesehen.
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Die
Strahlungseinrichtungen und die Detektionseinrichtung sind dabei
in einem Raum angeordnet, der wenigstens teilweise lichtreflektierende
Eigenschaften aufweist.
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Bevorzugt
sendet die weitere Strahlungseinrichtung gerichtete Strahlung aus.
In einer weiteren bevorzugten Ausführungsform sendet die weitere Strahlungseinrichtung
diffuse Strahlung aus.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausführungsform
sind die Strahlungseinrichtungen sowie die Detektionseinrichtungen
in einem gemeinsamen, im Wesentlichen strahlungsundurchlässigen Gehäuse untergebracht,
welches eine Öffnung
aufweist, durch welche die Strahlung auf die zu untersuchende Oberfläche geleitet
wird. Auf diese Weise kann sichergestellt werden, dass auf die einzelnen
Detektionseinrichtungen im Wesentlichen nur dasjenige Licht gelangt,
welches von der zu untersuchenden Oberfläche zurückgeworfen wird.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausführungsform
wird die Oberfläche
wenigstens zeitweise gleichzeitig von wenigstens zwei Strahlungseinrichtungen
bestrahlt. Bevorzugt ist es daher möglich, die Oberfläche nur
durch die erste oder nur durch die zweite oder durch beide Strahlungseinrichtungen gleichzeitig
zu bestrahlen. Falls in einer weiteren Ausführungsform mehr als zwei Strahlungseinrichtungen
vorgesehen sind, ist es möglich,
nur einzelne oder beliebige Kombinationen dieser mehreren Strahlungseinrichtungen – oder auch
alle – zu
aktivieren.
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Auf
diese Weise können
für die
zu untersuchende Oberfläche
unterschiedliche Ergebnisse gewonnen werden, beispielsweise für Informationen über das
Verhalten der Oberfläche,
falls nur unter einem vorgegebenen Winkel eingestrahlt wird, sowie weitere
Informationen, falls unter mehreren Winkeln gleichzeitig eingestrahlt
wird. Dadurch ist beispielsweise eine Annäherung an diffuses Tageslicht
oder eine Charakterisierung von Glanzeffekten möglich.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausführungsform
ist die zweite Detektionseinrichtung aus einer Gruppe von Detektionseinrichtungen
ausgewählt, welche
Fotozellen, Fotoelemente, Fotodioden und dergleichen enthält. Diese
Elemente erlauben, wie oben dargestellt, keine ortsaufgelöste Untersuchung der
Strahlung, sondern lediglich eine Untersuchung der Strahlungsintensität und der
spektralen Charakteristitik.
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Zur
Auflösung
der spektralen Charakteristik wird als Strahlungseinrichtung bevorzugt
eine Vielzahl von LCDs verwendet, die im wesentlichen das gesamte
Spektrum des sichtbaren Lichts abdecken. Auf diese Weise wird eine
spektrale Auflösung
der Empfangseinrichtung bzw. Detektionseinrichtung erreicht. Umgekehrt
ist es auch möglich,
im Strahlengang nach der zu untersuchenden Oberfläche frequenzselektive
Elemente, wie beispielsweise optische Gitter, einzusetzen.
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Bei
einer weiteren bevorzugten Ausführungsform
weist auch die erste Detektionseinrichtung, welche eine ortsaufgelöste Untersuchung
der Strahlung erlaubt, Mittel auf, um die Gesamtintensität der auf
sie auftreffenden Strahlung zu ermitteln. Dies kann insbesondere,
aber nicht ausschließlich, über eine
Integration der auf die einzelnen Fotozellen eines CCD-Chips auftreffenden
Intensitäten
erfolgen.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausführungsform
ist die erste Detektionseinrichtung unter einem ersten Teilraumwinkel
von im Wesentlichen 0° über der
Oberfläche
angeordnet. Bevorzugt ist die erste Detektionseinrichtung auch unter
einem zweiten Teilraumwinkel von 0° über der Oberfläche angeordnet, was – wie oben
ausgeführt – bedeutet,
dass sie bevorzugt diejenige Strahlung detektiert, welche von der
zu untersuchenden Oberfläche
in im Wesentlichen senkrechter Richtung ausgestrahlt wird.
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Bei
einer weiteren bevorzugten Ausführungsform
ist wenigstens eine Strahlungseinrichtung unter einem ersten Teilraumwinkel
gegenüber
der Oberfläche
angeordnet, welcher aus einer Gruppe von Winkeln ausgewählt ist,
welche – 45°, – 15° und + 75° enthält. Bevorzugt
beträgt
dabei der zweite Teilraumwinkel 0°.
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Die
jeweiligen Winkelangaben verstehen sich insofern als ungefähre Angaben,
als beispielsweise unter einem Winkel von 45° auch solche Winkel verstanden
werden, welche innerhalb einer Toleranz von +/– 5° liegen, d. h. Winkel zwischen
40° und 50°.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausführungsform
ist eine Vielzahl von Strahlungseinrichtungen unter vorgegebenen
Raumwinkeln angeordnet. Dabei werden bevorzugt erste Teilraumwinkel
von – 15°, – 45° sowie +
45° und
+ 75° verwendet.
Umgekehrt ist es auch möglich,
eine Strahlungsquelle zu verwenden und die jeweiligen Detektionseinrichtungen unter
vorgegebenen ersten Teilraumwinkeln einzusetzen, wie insbesondere,
aber nicht ausschließlich, – 75°, – 65°, – 45°, – 15° oder 20°. Selbstverständlich können auch
andere Detektions- bzw. Einstrahlwinkel gewählt werden. Die angegebenen
Größen richten
sich jedoch nach teilweise vorgegebenen Normen. Dabei wurden jedoch
bislang im Stand der Technik keine großen ersten Teilraumwinkel,
d. h. Raumwinkel, welche vergleichsweise nahe bei (α = – 90°) oder (α = + 90°) liegen,
verwendet. Die Verwendung derartiger Teilraumwinkel erlaubt eine
günstigere
Charakterisierung von Pigmenten bzw. deren Verteilung auf der Oberfläche. Bevorzugt
wird wenigstens eine Detektionseinrichtung unter einem derartigen
ersten Teilraumwinkel, der dem Betrage nach größer als (70°, β2) und
bevorzugt größer als
(75°, β2) ist,
angeordnet.
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Bevorzugt
werden der erste und der zweite Raumwinkel so gewählt, dass
sich eine hohe Differenz bezüglich
des ersten Teilraumwinkels ergibt, bevorzugt sich eine Differenz
von mehr als 100° ergibt.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausführungsform
wird auch wenigstens eine Detektionseinrichtung unter einem dem
Betrag nach kleinen ersten Teilraumwinkel angeordnet, bevorzugt
einem Winkel, der dem Betrag nach kleiner als (30°, β) und, besonders
bevorzugt, kleiner oder gleich (60°, β) ist. Die Verwendung derartiger
kleiner Teilraumwinkel erlaubt eine günstige Charakterisierung von
Pigmenten, welche eine hohe Farbverschiebung aufweisen.
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Bei
einer weiteren bevorzugten Ausführungsform
sendet wenigstens eine Strahlungseinrichtung ungerichtete bzw. diffuse
Strahlung aus.
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Bevorzugt
werden der erste und der zweite Raumwinkel so gewählt, dass
sich eine niedrige Differenz bezüglich
des ersten Teilraumwinkels ergibt, bevorzugt sich eine Differenz
von weniger als 50° ergibt.
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Unter
gerichteter Strahlung wird solche Strahlung verstanden, bei welcher
das Licht unter einer im Wesentlichen vorgegebenen Richtung bzw.
einem vorgegebenen Raumwinkel auf die zu untersuchende Oberfläche trifft.
In einer weiteren bevorzugten Ausführungsform sendet wenigstens
eine Strahlungseinrichtung gerichtete Strahlung aus (d. h. Strahlungsbündel, die
eine definierte, z.T. genormte Apertur aufweisen).
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Unter
nicht gerichteter Strahlung wird Strahlung verstanden, welche unter
unterschiedlichen Raumwinkeln, beispielweise nach Mehrfachreflektion an
der inneren Gehäuseoberfläche, auf
die zu untersuchende Oberfläche
trifft. Dies kann insbesondere, aber nicht ausschließlich, durch
die Verwendung von Streu- und Mattscheiben erreicht werden.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausführungsform
sind mehrere Strahlungseinrichtungen im Wesentlichen entlang eines Kreisbogens
angeordnet. In einer weiteren bevorzugten Ausführungsform ist es auch möglich, mehrere
Detektionseinrichtungen im Wesentlichen entlang eines Kreisbogens
anzuordnen bzw. mehrere Strahlungs- und Detektionseinrichtungen
im Wesentlichen entlang eines Kreisbogens anzuordnen. Auf diese
Weise wird erreicht, dass die betreffenden Strahlungs- und/oder
Detektionseinrichtungen im Wesentlichen unter dem gleichen zweiten
Teilraumwinkel, bzw. in einer Ebene angeordnet sind.
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In
einer bevorzugten Ausführungsform
beträgt
dieser zweite Teilraumwinkel, unter welchem die betreffenden Strahlungs-
und Detektionseinrichtungen angeordnet sind, im Wesentlichen 0°.
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Bei
einer weiteren bevorzugten Ausführungsform
sind Mittel vorgesehen, die erlauben, dass sowohl eine erste Detektionseinrichtung
als auch eine zweite Detektionseinrichtung Strahlung unter dem gleichen
vorgegebenen Raumwinkel detektieren können. Bei diesen Mitteln kann
es sich beispielsweise um Strahlteiler handeln, welche bewirken, dass
ein bestimmter Anteil der Strahlung auf die erste Detektionseinrichtung
gelangt und ein weiterer Anteil auf die zweite Detektionseinrichtung.
Dabei erlaubt bevorzugt die erste Detektionseinrichtung eine ortsdifferenzierende
Analyse der Strahlung und die zweite Detektionseinrichtung eine
ortsintegrale Intensitätsuntersuchung.
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Es
sind jedoch auch weitere Mittel möglich, wie beispielweise teildurchlässige Spiegel,
Polarisatoren und dergleichen.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausführungsform
ist eine Vielzahl von Strahlungseinrichtungen vorgesehen, welche
untereinander einen vorgegebenen im Wesentlichen konstanten Winkelabstand
aufweisen. Dabei ist diese Vielzahl bevorzugt unter einem gleichen
zweiten Teilraumwinkel, jedoch unterschiedlichen ersten Teilraumwinkel,
angeordnet. Der Winkelabstand ergibt sich in diesem Fall aus der
Differenz des ersten Teilraumwinkels einer Strahlungseinrichtung
mit demjenigen einer benachbarten Strahlungseinrichtung.
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In
einer weiteren Ausführungsform
ist eine Vielzahl von Strahlungseinrichtungen unter sowohl unterschiedlichen
ersten Teilraumwinkeln als auch unterschiedlichen zweiten Teilraumwinkeln
angeordnet. Desgleichen kann auch eine Vielzahl von Detektionseinrichtungen
unter unterschiedlichen ersten und/oder zweiten Teilraumwinkeln
angeordnet sein, sowie sowohl eine Vielzahl von Strahlungseinrichtungen
als auch eine Vielzahl von Detektionseinrichtungen, welche sich
jeweils hinsichtlich ihrer ersten und/oder zweiten Teilraumwinkel
unterscheiden.
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Die
vorliegende Erfindung ist ferner auf ein Verfahren zur Untersuchung
optischer Eigenschaften von Oberflächen gerichtet. Dabei wird
in einem ersten Verfahrensschritt eine erste Strahlung unter wenigstens
einem ersten vorgegebenen Raumwinkel (α1; β1)
auf eine zu untersuchende Oberfläche
ausgesandt.
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In
einem weiteren Verfahrensschritt wird die von der zu untersuchenden
Oberfläche
zurückgeworfene
Strahlung mit wenigstens einer ersten Detektionseinrichtung unter
wenigstens einem zweiten vorgegebenen Raumwinkel (α2; β2)
detektiert, wobei die Detektionseinrichtung eine ortsaufgelöste Detektion der
Strahlung erlaubt.
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In
einem weiteren Verfahrensschritt wird wenigstens der Raumwinkel
(α2; β2), in welchem die wenigstens eine Detektionseinrichtung
angeordnet ist, in den Raumwinkel (α2' ; β2') geändert.
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In
einem weiteren Verfahrensschritt wird die von der zu untersuchenden
Oberfläche
zurückgeworfene
Strahlung der ersten Detektionseinrichtung unter dem zweiten geänderten
Raumwinkel (α2' ; β2') detektiert.
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Bevorzugt
ist es möglich,
während
eines Messzyklus mehrere Änderungen
des Raumwinkels und mehrere daran anschließende Detektionen der zu untersuchenden
Strahlung vorzunehmen. Dabei kann bevorzugt diese Änderung
auch in vorgegebenen Schritten – beispielsweise
in Ein-Grad-Schritten oder dergleichen – erfolgen.
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Ferner
ist es auch möglich,
die Messung nicht abgestuft in Ein-Grad-Schritten durchzuführen, sondern
kontinuierlich, das heißt,
indem ein vorgegebener Winkelbereich, beispielsweise 20° > α2 > 50° abgetastet wird und das jeweilige
zurückgeworfene Licht
kontinuierlich detektiert wird. Auf diese Weise kann eine kontinuierliche
Charakteristik der Oberfläche
aufgenommen werden.
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Bei
einem weiteren erfindungsgemäßen Verfahren
wird in einem Verfahrensschritt die erste Strahlung unter wenigstens
einem ersten vorgegebenen Raumwinkel (α1; β1)
auf eine zu untersuchende Oberfläche
gerichtet.
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In
einem weiteren Verfahrensschritt wird die von der zu untersuchenden
Oberfläche
zurückgeworfene
Strahlung mit wenigstens einer ersten Detektionseinrichtung unter
wenigstens einem zweiten vorgegebenen Raumwinkel (α2; β2)
detektiert, wobei die Detektionseinrichtung eine ortsaufgelöste Detektion der
Strahlung erlaubt.
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In
einem weiteren Verfahrensschritt wird der Raumwinkel (α1; β1)
der wenigstens einen Strahlungseinrichtung in einen Raumwinkel (α1'; β1') geändert. In
einem weiteren Verfahrensschritt wird die erste Strahlung unter
dem geänderten
Raumwinkel (α1'; β1') auf die zu untersuchende
Oberfläche
gerichtet.
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In
einem weiteren Verfahrensschritt wird die von der zu untersuchenden
Oberfläche
zurückgeworfene
Strahlung mit der ersten Detektionseinrichtung unter den zweiten
vorgegebenen Raumwinkel (α2; β2) detektiert.
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Bevorzugt
wird auch bei diesem Verfahren der jeweilige erste Teilraumwinkel α1 bzw. α2 häufiger geändert und
im Anschluss an die Änderung
die jeweilige Strahlung detektiert. Bevorzugt ist es auch möglich, die
obengenannten Verfahren zu kombinieren, das heißt, sowohl den Raumwinkel,
unter welchem die Strahlungseinrichtung gegenüber der Oberfläche angeordnet
ist, als auch den Raumwinkel, unter welchem die Detektionseinrichtung
gegenüber
der Oberfläche
angeordnet ist, kontinuierlich oder schrittweise zu ändern.
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Durch
diese Änderungen
ist es möglich,
jeden beliebigen Winkelabstand sowie im Wesentlichen unter allen
möglichen
Einfalls- und Ausfallswinkeln zu detektieren.
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Bei
einem weiteren erfindungsgemäßen Verfahren
wird in einem ersten Verfahrensschritt eine erste Strahlung unter
einem ersten vorgegebenen Teilraumwinkel auf eine zu untersuchende
Oberfläche
gerichtet. In einem weiteren Verfahrensschritt wird eine zweite
Strahlung unter einem dritten vorgegebenen Raumwinkel auf die zu
untersuchende Oberfläche
gerichtet und in einem weiteren Verfahrensschritt die von der zu
untersuchenden Oberfläche
zurückgeworfene
Strahlung mit einer ersten Detektionseinrichtung unter einem zweiten
vorgegebenen Raumwinkel detektiert, wobei die Detektionseinrichtung
eine ortsaufgelöste
Detektion der Strahlung erlaubt.
-
Bevorzugt
erfolgt die Bestrahlung mit der ersten Strahlung und zweiten Strahlung
wenigstens zeitweise gleichzeitig.
-
Dabei
wird in einem Verfahrensschritt eine erste Strahlung unter einem
ersten vorgegebenen Teilraumwinkel auf eine zu untersuchende Oberfläche ausgesandt.
In einem weiteren Verfahrensschritt wird die von der zu untersuchenden
Oberfläche
zurückgeworfene
Strahlung mit einer ersten Detektionseinrichtung unter einem zweiten
vorgegebenen Raumwinkel detektiert, wobei die Detektionseinrichtung
eine ortsaufgelöste
Detektion der Strahlung erlaubt.
-
In
einem weiteren Verfahrensschritt wird die von der zu untersuchenden
Oberfläche
zurückgeworfene
Strahlung mit einer zweiten Detektionseinrichtung unter einem dritten
vorgegebenen Raumwinkel detektiert.
-
Bei
einem weiteren erfindungsgemäßen Verfahren
wird in einem ersten Verfahrensschritt eine erste Strahlung unter
einem ersten vorgegebenen Teilraumwinkel auf eine zu untersuchende
Oberfläche
gerichtet. In einem weiteren Verfahrensschritt wird eine zweite
Strahlung unter einem dritten vorgegebenen Raumwinkel auf die zu
untersuchende Oberfläche
gerichtet und in einem weiteren Verfahrensschritt die von der zu
untersuchenden Oberfläche
zurückgeworfene
Strahlung mit einer ersten Detektionseinrichtung unter einem zweiten
vorgegebenen Raumwinkel detektiert, wobei die Detektionseinrichtung
eine ortsaufgelöste
Detektion der Strahlung erlaubt.
-
Unter
einer Änderung
eines ersten vorgegebenen Raumwinkels wird verstanden, dass wenigstens
der erste oder der zweite Teilraumwinkel geändert wird. Es ist daher auch
möglich,
den ersten Teilraumwinkel unter Beibehaltung des zweiten Teilraumwinkels
zu ändern
bzw. nur den zweiten Teilraumwinkel unter Beibehaltung des ersten
Teilraumwinkels zu ändern.
Ferner ist es auch möglich,
beide Teilraumwinkel zu ändern.
-
Bevorzugt
sind bei den erfindungsgemäßen Verfahren
die Strahlungseinrichung und die Detektionseinrichtung in einem
Raum angeordnet, der wenigstens teilweise lichtreflektierende Eigenschaften aufweist.
-
Weitere
Vorteile und Ausführungsformen
ergeben sich aus den beigefügten
Zeichnungen.
-
Darin
zeigen:
-
1 eine
schematische Darstellung der erfindungsgemäßen Vorrichtung;
-
2 eine
schematische Darstellung der erfindungsgemäßen Vorrichtung in einer weiteren
Ausführungsform;
-
3 eine
schematische Darstellung der erfindungsgemäßen Vorrichtung in einer weiteren
Ausführungsform;
-
4 eine
erfindungsgemäße Vorrichtung zur
Untersuchung von Oberflächen;
-
5 die
erfindungsgemäße Vorrichtung aus 4 unter
Hinzuziehung einer weiteren Meßmethode;
-
6 eine
Detailansicht aus 4;
-
7 eine
Schnittansicht der Vorrichtung aus 4;
-
8a eine
Darstellung eines durch die Vorrichtung aus 4 gewonnenen
Messergebnisses;
-
8b eine
weitere Darstellung eines durch die Vorrichtung aus 4 gewonnenen
Messergebnisses; und
-
8c eine
Darstellung eines durch die Vorrichtung aus 4 gewonnenen
Messergebnisses.
-
1 zeigt
eine schematische Darstellung der erfindungsgemäßen Vorrichtung 1.
Diese weist eine Strahlungseinrichtung 15 auf, die unter
einem vorgegebenen Raumwinkel gegenüber der zu untersuchenden Oberfläche 3 angeordnet
ist. Des Weiteren ist eine Detektionseinrichtung 7 vorgesehen,
die ebenfalls in einem vorgegebenen Raumwinkel gegenüber der
zu untersuchenden Oberfläche 3 angeordnet
ist. Der Pfeil P1 deutet das auf die Oberfläche 3 gerichtete Licht
an, und der Pfeil P4 das von dieser Oberfläche 3 zurückgeworfene
und damit von der Detektionseinrichtung 7 detektierte Licht.
-
Die
Strahlungseinrichtung 15 ist unter einem vorgegebenen ersten
Teilraumwinkel α1 angeordnet. Die Detektionseinrichtung 7 ist
in der gezeigten Darstellung unter einem Teilraumwinkel α2 =
0° angeordnet.
Die jeweiligen Teilraumwinkel β1 und β2 der Strahlungseinrichtung 15 bzw.
der Detektionseinrichtung 7 sind bei dem hier gezeigten
Ausführungsbeispiel
ebenfalls 0°.
Hiervon abweichende Winkel würden
eine Drehung um die Achse x bedeuten, das heißt eine Drehung aus der Blattebene
heraus.
-
Der
Winkel α1 ist, wie oben ausgeführt, einstellbar. Zu diesem
Zweck bewegt sich die Strahlungseinrichtung 15 entlang
einer in dieser Ausführungsform
im Wesentlichen halbkreisförmig
ausgebildeten Führungseinrichtung 51 mittels
einer Verschiebeeinrichtung 56. Damit kann die Strahlungseinrichtung 15 sämtliche
Winkel von (– 90°; 0°) bis (+
90°; 0°) gegenüber der
zu untersuchenden Oberfläche 3 einnehmen.
-
Auch
die Detektionseinrichtung 7 wird entlang einer hier im
Wesentlichen kreisförmigen
Führungseinrichtung 52 mittels
einer Verschiebeeinrichtung 57 geführt. Dabei kann sich auch die
Detektionseinrichtung 7 in Winkelbereichen von (– 90°; 0°) bis (+
90°; 0°) gegenüber der
zu untersuchenden Oberfläche 3 bewegen.
-
Bevorzugt
ist es auch möglich,
den jeweiligen Teilraumwinkel β zu ändern. Auf
diese Weise könnte
sowohl die Strahlungs- und die Detektionseinrichtung unter demselben
Winkel α (jedoch
unterschiedlichem Winkel β)
angeordnet werden.
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Durch
die Anordnungen der Führungseinrichtung 51, 52 ist
es auch möglich,
dass sich die Strahlungseinrichtung 15 und die Detektionseinrichtung 7 aneinander
vorbeibewegen, dass also sowohl die Strahlungseinrichtung 15 einen
kleineren ersten Teilraumwinkel einnehmen kann als die Detektionseinrichtung 7, wie
auch umgekehrt die Detektionseinrichtung 7 einen kleineren
ersten Teilraumwinkel einnehmen kann als die Strahlungseinrichtung 15.
Zur Durchführung
einer Messung kann beispielsweise die Strahlungseinrichtung 15 zuerst
an der in 1 gezeigten Position angeordnet
werden, dann kann bei dieser Position eine Messung durchgeführt werden.
In einem weiteren Schritt kann die Detektionseinrichtung 7 an
die durch den gestrichelten Umriss gezeigte zweite Position bewegt
werden und entlang des Pfeils P2 erneut auf die Oberfläche 3 eingestrahlt
werden, um eine weitere Messung durchzuführen.
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In 2 ist
eine weitere Ausführungsform der
vorliegenden Erfindung schematisch dargestellt. Im Gegensatz zu
der in 1 gezeigten Ausführungsform ist hier eine weitere
Detektionseinrichtung 13 sowie eine weitere Strahlungseinrichtung 19 vorgesehen.
Auch diese Strahlungs- und Detektionseinrichtungen sind hinsichtlich
ihres Raumwinkels gegenüber
der zu untersuchenden Oberfläche 3 veränderbar,
weshalb zumindest bei dieser Ausführungsform die Führungseinrichtungen 51, 52 im
Wesentlichen kreisförmig
um die zu untersuchende Oberfläche
angeordnet sind, das heißt,
die einzelnen Strahlungs- 15, 19 und Detektionseinrichtungen 7, 13 können im
Wesentlichen um einen Winkel von insgesamt 360° um die zu untersuchende Oberfläche 3 gedreht werden.
Auf diese Weise werden, wenn die Strahlungseinrichtungen 15, 19 unterhalb
der zu untersuchenden Oberfläche 7 angeordnet
sind, Messungen im Durchlichtverfahren möglich.
-
Anstelle
der hier gezeigten Führungseinrichtungen 51, 52 ist
es auch möglich,
einzelne oder mehrere Strahlungs- oder Detektionseinrichtungen auf
beweglichen Armen vorzusehen, die auf diese Weise eine Einstellung
der jeweiligen Einstrahl- und Detektionswinkel erlauben. Auch ist
es für
die Strahlungseinrichtung 15, 19 denkbar, diese
in anderen Positionen – insbesondere
im Inneren der Führungseinrichtungen 51, 52 – vorzusehen,
wie durch das Bezugszeichen 61 dargestellt. In diesem Falle
können
an der Innenoberfläche
eines beispielsweise halbkugelförmigen
Gehäuses
Spiegel 62 angebracht werden, welche die Strahlung entsprechend
auf die zu untersuchende Oberfläche 3 richten.
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Genauer
gesagt, kann eine Vielzahl von Spiegeln 62, 62a etc.
unter vorgegebenen Winkeln angeordnet sein und die Strahlungseinrichtung 61 kann
in diesem Fall drehbar gelagert sein.
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Das
Bezugszeichen 63 bezieht sich auf eine Detektionseinrichtung,
welche keine Ortsauflösung erlaubt,
wie insbesondere, aber nicht ausschließlich, einen Sensor.
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In 3 ist
eine weitere Ausführungsform der
erfindungsgemäßen Vorrichtung
dargestellt. Bei dieser Ausführungsform
ist lediglich die Detektionseinrichtung 7 drehbeweglich
angeordnet. Anstelle einer Strahlungseinrichtung ist hier eine Vielzahl
von Strahlungseinrichtungen 54a, 54b vorgesehen,
die bevorzugt gleichmäßig über die
Innenoberfläche
des Gehäuses
angeordnet sind. Dabei kann es sich bei diesen Strahlungseinrichtungen 54a, 54b etc.
um einzelne Lichtleiter bzw. einzelne kleine LED-Module handeln.
-
Bevorzugt
sind die einzelnen LED-Module 54a, 54b etc. getrennt
zu- und abschaltbar, da mittels einer Steuerungseinrichtung jeweils
bevorzugt einzelne Lichtwellen zu- oder abgeschaltet werden. Bevorzugt
kommen bei dieser Ausführungsform
Glasfasern zum Einsatz.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausführungsform
ist es auch möglich,
die Detektionseinrichtung 7 als flächiges Element bevorzugt entlang
der im Wesentlichen kompletten Führungseinrichtung 51, 52 anzuordnen.
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Neben
den in 3 gezeigten Lichtquellen 54a, 54b etc.
kann noch eine weitere Strahlungsquelle vorgesehen sein, welche
diffuses Licht aussendet. Zu diesem Zweck können z. B. Mattglasscheiben, Streuscheiben
oder ähnliches
verwendet werden.
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4 zeigt
eine erfindungsgemäße Vorrichtung
zur Untersuchung optischer Oberflächen 3. Dabei sind
in den 4 und 5 Führungseinrichtungen nicht dargestellt.
In einer Ausführungsform
der Erfindung werden alle Strahlungs- und Detektionseinrichtungen
ortsfest angeordnet, das heißt
auf die Veränderbarkeit
der Raumwinkel verzichtet. Diese Vorrichtung weist ein Gehäuse 21 auf,
welches im Inneren einen Hohlraum 12 aufweist.
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Der
Hohlraum ist hier halbkreisförmig
bzw. in dreidimensionaler Betrachtung als Halbkugel bzw. Halbkugelsegment
ausgebildet. Es ist jedoch auch möglich, für diesen Hohlraum andere Strukturen
vorzusehen. Die Innenoberfläche 71 des
Hohlraums weist wenigstens abschnittsweise strahlungs- bzw. lichtreflektierende
Eigenschaften auf. Bevorzugt weist, wie oben dargestellt, die gesamte
Innenoberfläche
strahlungs- bzw. lichtreflektierende Eigenschaften auf. Daneben
weist bevorzugt auch die Grundfläche 72 strahlungs-
bzw. lichtreflektierende Eigenschaften auf.
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Das
Gehäuse
weist an seiner Unterseite eine Öffnung 8 auf,
unter welcher die zu untersuchende Oberfläche 3 angeordnet ist.
Das Bezugszeichen 15 bezieht sich auf eine erste Strahlungseinrichtung
und das Bezugszeichen 19 auf eine zweite Strahlungseinrichtung.
Diese Strahlungseinrichtungen 15, 19 strahlen
unter einem vorgegebenen Raumwinkel Licht auf die zu untersuchende
Oberfläche 3.
Dabei handelt es sich bevorzugt um gerichtete Strahlung.
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Die
ersten Teilraumwinkel, unter denen die Strahlungseinrichtungen 15 und 19 angeordnet
sind, betragen α = –15° bzw. α = + 75°. Dabei wird
unter einem Teilraumwinkel α =
0° derjenige
Winkel verstanden, unter welchem das Licht von der zu untersuchenden
Oberfläche 3 aus
senkrecht nach oben in 4 verläuft.
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In
diesem Falle liegt der Winkel β,
der eine Verkippung der Anordnung um die Achse x herum bezeichnet,
ebenfalls bei 0°.
Bei der in 4 gezeigten Ausführungsform
sind sämtliche Strahlrichtungen in
einer durch die X-Rohre verlaufenden Lotebene auf der Oberfläche 3 angeordnet,
d. h. für
sämtliche Strahlrichtungen
beträgt
der Winkel β =
0°. Das
Bezugszeichen 7 bezieht sich auf eine Kamera und das Bezugszeichen 4 auf
einen Photosensor. Beide sind unter einem Winkel α = β = 0° angeordnet,
d. h. sie detektieren das Licht, das von der zu untersuchenden Oberfläche senkrecht
nach oben gestrahlt wird. Die Anordnung von Kamera und Detektor
stellt sicher, dass beide Messeinrichtungen das gleiche Licht detektieren
bzw. charakterisieren.
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Es
ist jedoch auch möglich,
anstelle der beiden Strahlungseinrichtungen 15 und 19 nur
eine Strahlungseinrichtung vorzusehen, wobei auch deren jeweiliger
Raumwinkel frei gewählt
werden könnte.
Auch können
die Kamera 7 und der Photosensor 4 unter von (0°; 0°) abweichenden
Raumwinkeln ggf. auch unter unterschiedlichen Winkeln angeordnet sein.
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Die
Bezugszeichen 13, 14, 16, 17 und 18 bezeichnen
weitere Photodetektoren. Diese Photodetektoren sind bei dem hier
vorgegebenen Ausführungsbeispiel
unter den Teilraumwinkeln α = – 60° (Photodetektor 14), α = – 30° (Photodetektor 18), α = 20° (Photodetektor 17), α = 30° (Photodetektor 16) und α = 60° (Photodetektor 13)
angeordnet. In der Öffnung 20 kann
ein weiterer Photodetektor oder auch eine weitere Strahlungseinrichtung
vorgesehen werden.
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Alternativ
ist es auch möglich,
anstelle der Detektoren weitere Strahlungseinrichtungen vorzusehen
oder gleichzeitig mit den Detektoren an der gleichen oder benachbarten
Stellen Strahlungseinrichtungen vorzusehen. Dies kann beispielsweise
mit Hilfe von Strahlungsteilern bewerkstelligt werden, wobei beispielsweise
dichroitische Spiegel und dergleichen Anwendung finden können.
-
So
kann beispielsweise eine kombinierte Strahlungs- und Detektionseinrichtung
so ausgestaltet sein, dass ein bezüglich einer geometrischen Verbindungslinie
zwischen Strahlungseinrichtung und dem Auftreffpunkt der Strahlung
auf der Oberfläche unter
45° angeordneter
dichroitischer Spiegel die Einstrahlung des von einer Strahlungseinrichtung ausgesandten
Lichtes erlaubt, während
er für
die Rückstrahlung
von Licht, welches von der zu untersuchenden Oberfläche zurückgestrahlt
wird, im Wesentlichen lichtdurchlässig ist und dieses im Wesentlichen
zu einer Detektionseinrichtung passieren lässt.
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Die
Bezugszeichen 11 beziehen sich auf eine Justageeinrichtung,
mit der bevorzugt die Lage der Vorrichtung zum Untersuchen von Oberflächen gegenüber der
zu untersuchenden Oberfläche
eingestellt werden kann. In dem Gehäuseabschnitt 22 können beispielsweise
Anzeigen für
den Benutzer, die Steuerungseinrichtung für die einzelnen Detektions- und
Strahlungseinrichtungen, Steuerungseinrichtungen, Motoren und dergleichen
untergebracht sein.
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Unter
Bezugnahme auf 5 wird das Messverfahren mit
der erfindungsgemäßen Vorrichtung
beschrieben. Dabei zeigen die Pfeile P1 und P2 das von den Strahlungsquellen 15 und 19 auf
die Oberfläche 3 gestrahlte
Licht an. Dieses wird entlang des Pfeils P4 (gepunktet dargestellt)
in Richtung der Kamera 7 gestrahlt. Die Kameraanordnung 7 weist ein
in 7 dargestelltes System zur Strahlteilung auf.
Mit diesem Strahlteiler wird bewirkt, dass der entlang des Pfeils
P4 verlaufende Strahl, der sich zusammensetzt aus einer Komponente,
welche ursprünglich
von der Strahlungseinrichtung 6 entlang des Pfeils P3 ausgestrahlt
wurde und den oben genannten, von der Strahlungseinrichtung 15 und 19 stammenden
Strahlen aufgeteilt wird.
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Da
die Kamera eine ortsaufgelöste
Darstellung des Bildes erlaubt, kann auf diese Weise ein ortsaufgelöstes Bild
der zu untersuchenden Oberfläche
angezeigt werden. Auf diese Weise können die einzelnen Pigmente
bzw. Flakes sichtbar gemacht werden.
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Anstelle
des hier verwendeten Systems, welches sowohl eine Kamera 7 als
auch einen Photodetektor 4 aufweist, ist es auch möglich, die
Messung nur mit einer Kamera aufzunehmen und die integrale Intensität, insbesondere,
aber nicht ausschließlich, rechnergestützt aus
dem auf die Kamera auftreffenden Bild zu ermitteln.
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Auf
diese Weise ist es möglich,
die genaue Oberflächenstruktur,
d. h. die genaue geometrische Lage der Pigmente, auf bzw. in den
jeweiligen Lackschichten zu überprüfen und
damit die Effekte bewerten zu können,
die sich unter anderem aus der Dichte, Verteilung und Art der verwendeten
Effektpigmente ergeben.
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Das
von der Strahlungseinrichtung 6 ausgestrahlte Licht wird
ebenfalls auf die Oberfläche 3 geworfen
und von dort unter unterschiedlichen Raumwinkeln aufgenommen. Wie
oben erwähnt
wird der unter (0°;
0°) zurückgeworfene
Strahl von der Detektionseinrichtung 4 aufgenommen. Ferner
ist bei dem hier gezeigten Ausführungsbeispiel
die Aufnahme unter den weiteren oben genannten Raumwinkeln mit den
Detektionseinrichtungen 13, 14, 16, 17 und 18 möglich.
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Wie
eingangs erwähnt,
weisen die zu untersuchenden Werkstoffe, beispielsweise die Lacke,
unterschiedliche optische Eigenschaften in Abhängigkeit davon auf, aus welcher
Richtung sie beleuchtet werden. Daher werden die einzelnen Detektoren 13 bis 18 auch
unterschiedliche spektrale Ergebnisse liefern, da sie die unterschiedlichen
Blickrichtungen, beispielsweise eines Beobachters, simulieren.
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In
einer weiteren Ausführungsform
ist es auch möglich,
eine Vielzahl von unter unterschiedlichen Raumwinkeln angeordneten
Strahlungseinrichtungen zu verwenden, welche ebenfalls mit einem beispielsweise
fest angeordneten Detektor unterschiedliche Betrachtungswinkel simulieren.
Die Strahlungseinrichtung 19 ist, wie oben erwähnt, unter einem
ersten Teilraumwinkel von – 75° angeordnet, d.
h., das aus dieser Strahlungseinrichtung ausgesandte Licht fällt unter
einem relativ steilen Winkel auf die zu untersuchende Oberfläche 3.
Die Anordnung dieser Strahlungsrichtung 19 dient in erster
Linie dazu, auch gekrümmte,
insbesondere konkave, Flächen
untersuchen zu können.
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Diese
Anwendung eignet sich, um Pigmente mit gegenüber der Umgebung hoher Strahlungsintensität zu erkennen,
wie in 5b gezeigt.
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Wie
oben erwähnt
ist es möglich,
die einzelnen Strahlungseinrichtungen unabhängig voneinander zu betreiben.
Das heißt,
es ist möglich,
die Oberfläche
nur durch eine der beiden Strahlungseinrichtungen 15 oder 19 zu
bestrahlen oder auch durch beide gleichzeitig. Auch können beide
Varianten kombiniert werden, um einen kompletten Messzyklus durchzuführen.
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Zur
Untersuchung des Glanzes wird bei dieser Ausführungsform die Oberfläche gleichzeitig
mit den Strahlungseinrichtungen 15 und 19 bestrahlt
und durch die Kamera 7 das Bild aufgenommen.
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Zur
Untersuchung der Körnigkeit
wird bei der hier gezeigten Ausführungsform
unter – 15°, d. h. durch
die Strahlungseinrichtung 15, bestrahlt und unter 0°, wie gezeigt,
detektiert.
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Neben
den hier gezeigten Strahlungseinrichtungen ist es auch noch möglich, eine
weitere Strahlungsquelle zu verwenden, welche ungerichtete Strahlung
aussendet. Auf diese Weise kann beispielsweise die Beleuchtung der
Oberfläche 3 bei
bewölktem
Himmel simuliert werden. Wie oben ausgeführt, kann die ungerichtete
Stellung, insbesondere, aber nicht ausschließlich, durch Streuscheiben
oder durch einzelne räumlich
verteilte Strahlungsquellen erzeugt werden.
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Ferner
ist es auch möglich,
gerichtete und nicht gerichtete Strahlung gemeinsam einzusetzen, beispielsweise
hintereinander oder auch im Wesentlichen gleichzeitig.
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6 zeigt
eine Detailansicht der Strahlungseinrichtung 19. Diese
weist eine Hochleistungs-LED 41 auf, die in einem Gehäuse 43 untergebracht
ist. Ferner ist eine Blende 46 vorgesehen sowie eine Linse 44,
um kollimiertes Licht auf die Oberfläche zu richten. Neben einer
Leuchtdiode können auch
mehrere Leuchtdioden mit unterschiedlichem Emissionsspektrum, insbesondere
im sichtbaren Bereich, vorgesehen sein. Auch können die einzelnen Strahlungseinrichtungen
jeweils Leuchtdioden mit unterschiedlichem Emissionsspektrum aufweisen. Ferner
können
auch Strahlungseinrichtungen vorgesehen sein, die im Wesentlichen
weißes
Licht oder weißem
Licht angenähertes
Licht aussenden.
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7 zeigt
eine Seitenquerschnittsansicht der erfindungsgemäßen Vorrichtung aus 4.
Dabei sind hier, wie oben bereits angesprochen, sämtliche
Strahlungseinrichtungen und Detektionseinrichtungen unter einem
Teilraumwinkel β =
0° angeordnet.
Die gestrichelte Linie zeigt den Teilraumwinkel ß an, unter welchem die Vorrichtung
unter 45° angeordnet
sein würde.
In einer bevorzugten Ausführungsform
ist es möglich,
die Vorrichtung um den Punkt P, der auf der in 4 gezeigten
Achse x liegt, zu kippen. Auf diese Weise ist es möglich, Licht
im Wesentlichen unter jedem beliebigen Teilraumwinkel β einzustrahlen
bzw. zu detektieren.
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Wie
bereits erwähnt,
weist die erfindungsgemäße Vorrichtung
ein Strahlteilsystem 2 auf, um das in 5 entlang
der Pfeile P1 und P3 auf die Oberfläche geworfene und entlang des
Pfeils P4 zurückgeworfene
Licht auf die Kamera zu lenken. Dieses wird durch einen Strahlteiler 31 um
im Wesentlichen 90° umgelenkt
und durch einen Filter sowie eine Linse auf die Kamera 7 bzw.
die lichtempfindliche Oberfläche
geleitet. Ein weiterer (nicht gezeigter) Anteil des Lichts wird
zur Detektionseinrichtung 4 weitergeleitet.
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In
einer bevorzugten Ausführungsform
ist es möglich,
die Lage der Kamera 7 bzw. der lichtempfindlichen Oberfläche gegenüber dem
Strahl S zu verschieben, und zwar bevorzugt in Richtung Z sowie X,
welche vertikal in der Blattebene bzw. senkrecht auf der Blattebene
verläuft.
Ferner ist es möglich,
an der Unterseite des Gehäuses 39 (nicht
gezeigte) Justageeinrichtungen vorzusehen, um die Vorrichtung genau,
beispielsweise senkrecht, gegenüber
der zu untersuchenden Oberfläche
auszurichten.
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Die 8a, 8b und 8c zeigen
Beispiele der mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung erfassbaren
Oberflächeneffekte.
In 8a ist eine Farbverschiebung dargestellt, die
sich durch eine Krümmung
der Oberfläche
ergibt. Diese Farbverschiebung kann beispielsweise mittels einer
Farbbildkamera untersucht werden. Im einzelnen kann untersucht werden,
welche Änderungen
des Einstrahl- bzw. Detektionswinkels welche Farb- bzw. Helligkeitsänderungen
hervorrufen. In weiteren Ausführungsformen
ist es jedoch auch möglich,
anstelle einer Schwarz-Weiß-Kamera
eine Farbkamera einzusetzen, welche zusätzliche Information über die Farbe
der einzelnen Pigmente liefert. Die Verwendung einer Schwarz-Weiß-Kamera
sowie einer Vielzahl von Strahlungsquellen mit unterschiedlichen Emissionsspektren
liefert ebenfalls Informationen über
die Farbe der Pigmente.
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Ebenso
ist ersichtlich, dass in dieser Aufnahmestellung Hell-Dunkel-Unterschiede
aufgenommen werden können,
welche sich aus unterschiedlichen Betrachtungswinkeln ergeben. Während im
linken oberen Bereich das Bild etwas dunkler erscheint, ist es im
unteren rechten Bereich heller. Das Bild 8d zeigt keine durch die
Kamera aufgenommene Aufnahme der Oberfläche, sondern eine schematische Verdeutlichung
des in 8a dargestellten Helligkeitsverlaufs.
Je nach Betrachtungswinkel können die
einzelnen Pigmente in stark unterschiedlicher Weise reflektieren
und auf diese Weise die hier gezeigten Hell-Dunkel-Übergänge bewirken.
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8b zeigt
eine Kameramessaufnahme der Oberfläche, wobei durch einen entsprechenden Raumwinkel,
z.B. (75°, β der Bestrahlungseinrichtung
einzelne Pigmente bzw. Flakes besonders stark reflektieren. Durch
diese Aufnahmen kann die Verteilung der einzelnen Pigmente bzw.
auch deren Größe und Reflektionsvermögen untersucht
werden. Bevorzugt wird zu der Erzeugung der in 5b dargestellten
Messaufnahme ein dem Betrag nach großer Einstrahl- bzw. erster
Teilraumwinkel α verwendet.
Da die Kamera unter 0° detektiert,
gelangen die weitaus größten Anteile
des von der Oberfläche
reflektierten Lichts nicht in die Kamera, so dass auf diese Weise die
Wirkung der Flakes mit nur sehr geringer Hintergrundstrahlung gemessen
werden kann. Das in 5b dargestellte
Bild zeigt einzelne Pigmente.
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In 8c ist
eine Struktur der zu untersuchenden Oberfläche dargestellt. Auf diese
Weise lässt
sich die Granularität
der Oberfläche
ermitteln, wobei hier die Bestrahlung durch diffuses Licht oder mittels
geeigneter Einstrahlwinkel erfolgt.
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Ferner
ist es möglich,
das in 8c gezeigte Bild durch Variation
der Auflösung
der Kamera zu erreichen. In einer anderen Ausführungsform können jedoch
auch digitale Filter zu diesem Zweck eingesetzt werden.