JP2000133841A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2000133841A5 JP2000133841A5 JP1999301368A JP30136899A JP2000133841A5 JP 2000133841 A5 JP2000133841 A5 JP 2000133841A5 JP 1999301368 A JP1999301368 A JP 1999301368A JP 30136899 A JP30136899 A JP 30136899A JP 2000133841 A5 JP2000133841 A5 JP 2000133841A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- group iii
- iii nitride
- layer
- light emitting
- manufacturing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- TWXTWZIUMCFMSG-UHFFFAOYSA-N nitride(3-) Chemical compound [N-3] TWXTWZIUMCFMSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 12
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 229910002704 AlGaN Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910017083 AlN Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 2
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000005712 crystallization Effects 0.000 description 1
- 239000007790 solid phase Substances 0.000 description 1
Description
【特許請求の範囲】
【請求項1】 多結晶又はアモルファスである基板と、
前記基板上に形成された少なくとも一層の多結晶III族窒化物層と、
を有することを特徴とする半導体装置。
【請求項2】 請求項1に記載の半導体装置であって、
前記基板と前記少なくとも一層の多結晶III族窒化物層との間に形成されたIII族窒化物湿層をさらに有することを特徴とする半導体装置。
【請求項3】 請求項2に記載の半導体装置であって、
前記III族窒化物湿層と前記少なくとも一層の多結晶III族窒化物層との間にGaN,AlN,InGaN,AlGaNの少なくとも1つからなるバッファ層をさらに有することを特徴とする半導体装置。
【請求項4】 多結晶又はアモルファスである基板上に、少なくとも一層の多結晶III族窒化物層を形成するステップを有することを特徴とする半導体発光デバイスの製造方法。
【請求項5】 請求項4に記載の半導体発光デバイスの製造方法であって、
前記少なくとも一層の多結晶III族窒化物層を形成するステップの前に、前記基板上にIII族窒化物湿層を形成するステップをさらに有することを徴とする半導体発光デバイスの製造方法。
【請求項6】 請求項5に記載の半導体発光デバイスの製造方法であって、
前記III族窒化物湿層を形成するステップの後に、前記III族窒化物湿層上にGaN,AlN,InGaN,AlGaNの少なくとも1つからなるバッファ層を形成するステップをさらに有することを特徴とする半導体発光デバイスの製造方法。
【請求項7】 請求項5又は6に記載の半導体発光デバイスの製造方法であって、
前記III族窒化物湿層を形成するステップは、非晶質III族窒化物層を固相結晶化することを特徴とする半導体発光デバイスの製造方法。
【請求項1】 多結晶又はアモルファスである基板と、
前記基板上に形成された少なくとも一層の多結晶III族窒化物層と、
を有することを特徴とする半導体装置。
【請求項2】 請求項1に記載の半導体装置であって、
前記基板と前記少なくとも一層の多結晶III族窒化物層との間に形成されたIII族窒化物湿層をさらに有することを特徴とする半導体装置。
【請求項3】 請求項2に記載の半導体装置であって、
前記III族窒化物湿層と前記少なくとも一層の多結晶III族窒化物層との間にGaN,AlN,InGaN,AlGaNの少なくとも1つからなるバッファ層をさらに有することを特徴とする半導体装置。
【請求項4】 多結晶又はアモルファスである基板上に、少なくとも一層の多結晶III族窒化物層を形成するステップを有することを特徴とする半導体発光デバイスの製造方法。
【請求項5】 請求項4に記載の半導体発光デバイスの製造方法であって、
前記少なくとも一層の多結晶III族窒化物層を形成するステップの前に、前記基板上にIII族窒化物湿層を形成するステップをさらに有することを徴とする半導体発光デバイスの製造方法。
【請求項6】 請求項5に記載の半導体発光デバイスの製造方法であって、
前記III族窒化物湿層を形成するステップの後に、前記III族窒化物湿層上にGaN,AlN,InGaN,AlGaNの少なくとも1つからなるバッファ層を形成するステップをさらに有することを特徴とする半導体発光デバイスの製造方法。
【請求項7】 請求項5又は6に記載の半導体発光デバイスの製造方法であって、
前記III族窒化物湿層を形成するステップは、非晶質III族窒化物層を固相結晶化することを特徴とする半導体発光デバイスの製造方法。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10541398P | 1998-10-23 | 1998-10-23 | |
US09/226114 | 1999-01-07 | ||
US60/105413 | 1999-01-07 | ||
US09/226,114 US6288417B1 (en) | 1999-01-07 | 1999-01-07 | Light-emitting devices including polycrystalline gan layers and method of forming devices |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000133841A JP2000133841A (ja) | 2000-05-12 |
JP2000133841A5 true JP2000133841A5 (ja) | 2006-11-30 |
JP4865118B2 JP4865118B2 (ja) | 2012-02-01 |
Family
ID=26802553
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30136899A Expired - Fee Related JP4865118B2 (ja) | 1998-10-23 | 1999-10-22 | 半導体装置および半導体発光デバイスの製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0996173B1 (ja) |
JP (1) | JP4865118B2 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001033643A1 (en) * | 1999-10-29 | 2001-05-10 | Ohio University | BAND GAP ENGINEERING OF AMORPHOUS Al-Ga-N ALLOYS |
GB2362263A (en) * | 2000-05-12 | 2001-11-14 | Juses Chao | Amorphous and polycrystalline growth of gallium nitride-based semiconductors |
US6689630B2 (en) | 2000-05-23 | 2004-02-10 | Ohio University | Method of forming an amorphous aluminum nitride emitter including a rare earth or transition metal element |
US6410940B1 (en) * | 2000-06-15 | 2002-06-25 | Kansas State University Research Foundation | Micro-size LED and detector arrays for minidisplay, hyper-bright light emitting diodes, lighting, and UV detector and imaging sensor applications |
GB2378039B (en) * | 2001-07-27 | 2003-09-17 | Juses Chao | AlInGaN LED Device |
KR100576857B1 (ko) | 2003-12-24 | 2006-05-10 | 삼성전기주식회사 | GaN 반도체 발광소자 및 그 제조방법 |
FR2875333B1 (fr) * | 2004-09-16 | 2006-12-15 | Centre Nat Rech Scient Cnrse | Realisation d'une couche de nitrure d'indium |
JP5115925B2 (ja) * | 2007-10-26 | 2013-01-09 | 国立大学法人 千葉大学 | 結晶軸配向性とファセット(結晶面)を制御した微結晶構造窒化物半導体光・電子素子 |
JP5240881B2 (ja) * | 2012-07-06 | 2013-07-17 | 国立大学法人 千葉大学 | 結晶軸配向性とファセット(結晶面)を制御した微結晶構造窒化物半導体光・電子素子 |
EP3998370A1 (en) * | 2015-03-30 | 2022-05-18 | Tosoh Corporation | Gallium nitride-based film and method for manufacturing same |
JP2023513570A (ja) | 2020-02-11 | 2023-03-31 | エスエルティー テクノロジーズ インコーポレイテッド | 改善されたiii族窒化物基板、その製造方法、並びにその使用方法 |
US11721549B2 (en) | 2020-02-11 | 2023-08-08 | Slt Technologies, Inc. | Large area group III nitride crystals and substrates, methods of making, and methods of use |
US20210246571A1 (en) * | 2020-02-11 | 2021-08-12 | SLT Technologies, Inc | Large area group iii nitride crystals and substrates, methods of making, and methods of use |
CN115050864B (zh) * | 2022-08-16 | 2022-11-25 | 北京大学 | 一种基于非单晶衬底的单晶氮化物Micro-LED阵列的制备方法 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0484922B1 (en) * | 1990-11-07 | 1997-10-15 | Canon Kabushiki Kaisha | III-V compound semiconductor device, printer and display device utilizing the same, and method for producing said semiconductor device |
US5633192A (en) * | 1991-03-18 | 1997-05-27 | Boston University | Method for epitaxially growing gallium nitride layers |
JP3325380B2 (ja) * | 1994-03-09 | 2002-09-17 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子およびその製造方法 |
KR100268567B1 (ko) * | 1994-10-11 | 2000-10-16 | 포만 제프리 엘 | 다중 파장으로 광을 발생시키기 위한 발광 다이오드의 모놀리식 어레이 및 이를 사용한 멀티 컬러 디스플레이 |
JPH08222812A (ja) * | 1995-02-17 | 1996-08-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 窒化ガリウム系化合物半導体の結晶成長方法 |
US5986285A (en) * | 1996-11-07 | 1999-11-16 | Fuji Xerox, Co., Ltd. | Group III-V amorphous and microcrystalline optical semiconductor including hydrogen, and method of forming thereof |
JP3695049B2 (ja) * | 1997-03-06 | 2005-09-14 | 富士ゼロックス株式会社 | 微結晶化合物光半導体の製造方法 |
SG63757A1 (en) * | 1997-03-12 | 1999-03-30 | Hewlett Packard Co | Adding impurities to improve the efficiency of allngan quantum well led's |
JPH10321956A (ja) * | 1997-05-15 | 1998-12-04 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
EP0975027A2 (en) * | 1998-07-23 | 2000-01-26 | Sony Corporation | Light emitting device and process for producing the same |
-
1999
- 1999-10-14 EP EP99308117.3A patent/EP0996173B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-10-22 JP JP30136899A patent/JP4865118B2/ja not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2000133841A5 (ja) | ||
GB2374459B (en) | GaN based group III-V nitride semiconductor light-emitting diode and method for fabricating the same | |
EP1065705A3 (en) | Group III nitride compound semiconductor device and producing method therefore | |
EP1288346A3 (en) | Method of manufacturing compound single crystal | |
JP2004193617A5 (ja) | ||
EP1032099A3 (en) | Semiconductor device and method of fabricating the same | |
EP1265272A4 (en) | SEMICONDUCTOR BASED ON A GROUP III NITRIDE COMPOUND AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME | |
EP1111663A3 (en) | GaN-based compound semiconductor device and method of producing the same | |
JP2006286954A5 (ja) | ||
CA2392041A1 (en) | Pendeoepitaxial growth of gallium nitride layers on sapphire substrates | |
EP1184913A4 (en) | NITRIDE SEMICONDUCTOR AND METHOD OF MANUFACTURE | |
EP1479795A4 (en) | METHOD FOR PRODUCING A GROUP III NITRIDE COMPOUND SEMICONDUCTOR | |
JP2000357820A5 (ja) | ||
EP1367150A4 (en) | PROCESS FOR PRODUCING SEMICONDUCTOR CRYSTAL AND SEMICONDUCTOR LUMINOUS ELEMENT | |
EP1403910A3 (en) | Semiconductor device having a nitride-based hetero-structure and method of manufacturing the same | |
TW201009896A (en) | Method of forming a circuit structure | |
SG93850A1 (en) | Growth method of a nitride iii-v compound semiconductor, manufacturing method of a semiconductor device, and semiconductor device | |
CA2412419A1 (en) | Improved buffer for growth of gan on sapphire | |
AU2001224025A1 (en) | Group iii nitride compound semiconductor light-emitting device and method for producing the same | |
TW200509422A (en) | Light-emitting device and manufacturing method thereof | |
JP2000195798A5 (ja) | ||
JP2007305909A (ja) | 窒化ガリウム系化合物半導体の製造方法及び発光素子の製造方法 | |
DE60043854D1 (de) | Einstufige pendeo- oder laterale epitaxie von gruppe iii-nitridschichten | |
WO2008081717A1 (ja) | Iii族窒化物半導体層の製造方法、及びiii族窒化物半導体発光素子、並びにランプ | |
JP2000091703A5 (ja) |