JP2000123491A - 磁気ディスク装置 - Google Patents
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- G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
- G11B5/58—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head for the purpose of maintaining alignment of the head relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B5/596—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with provision for moving the head for the purpose of maintaining alignment of the head relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following on disks
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- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/12—Formatting, e.g. arrangement of data block or words on the record carriers
- G11B20/1217—Formatting, e.g. arrangement of data block or words on the record carriers on discs
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- G11B27/10—Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Measuring tape travel
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- G11B27/28—Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Measuring tape travel by using information detectable on the record carrier by using information signals recorded by the same method as the main recording
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- G11B20/10—Digital recording or reproducing
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- G11B20/1816—Testing
- G11B2020/1826—Testing wherein a defect list or error map is generated
Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来の磁気ディスク装置では、ディスクの傷
などによりリードゲートの開放のための基準信号の読み
取りが欠落すると、前記リードゲートが開放できず、そ
の後のデータが正常であるにもかかわらず読み取れない
状態となる。 【解決手段】 Ｐ点で基準信号（ＳＴＭ）が読み落とさ
れると、経過時間Ｔｗが計測され、本来のゲート開放時
間Ｔ１から前記時間Ｔｗの差の時間Ｔ２が求められる。
この時間Ｔ２が経過した時点でリードゲートを開放する
ことにより後続するデータを正常に読み取って復調処理
できる。
などによりリードゲートの開放のための基準信号の読み
取りが欠落すると、前記リードゲートが開放できず、そ
の後のデータが正常であるにもかかわらず読み取れない
状態となる。 【解決手段】 Ｐ点で基準信号（ＳＴＭ）が読み落とさ
れると、経過時間Ｔｗが計測され、本来のゲート開放時
間Ｔ１から前記時間Ｔｗの差の時間Ｔ２が求められる。
この時間Ｔ２が経過した時点でリードゲートを開放する
ことにより後続するデータを正常に読み取って復調処理
できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスクの表
面の傷などによる読み取り不良の発生確率を低下させる
ことができ、さらにディスク検査による欠陥セクタの登
録時の欠陥判断の基準を通常の再生時と相違させた磁気
ディスク装置に関する。
面の傷などによる読み取り不良の発生確率を低下させる
ことができ、さらにディスク検査による欠陥セクタの登
録時の欠陥判断の基準を通常の再生時と相違させた磁気
ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】高密度記録に対応するフレキシブルなデ
ィスクでは、記録トラック領域のセクタ内にサーボフィ
ールドが設けられたものがあり、磁気ヘッドを目標トラ
ックにシークさせる際のサーボおよびオントラッキング
時のサーボのために前記サーボフィールド内の信号が使
用される。
ィスクでは、記録トラック領域のセクタ内にサーボフィ
ールドが設けられたものがあり、磁気ヘッドを目標トラ
ックにシークさせる際のサーボおよびオントラッキング
時のサーボのために前記サーボフィールド内の信号が使
用される。
【０００３】また、１セクタ内に前記サーボフィールド
に続いてデータフィールドが設けられている。前記サー
ボフィールドにはＳＹＮＣ、サーボアドレスマーク（Ｓ
ＡＭ）およびサーボ情報（Ａバースト、Ｂバースト）が
記録されて、前記ＳＹＮＣにより同期をかけられ、前記
ＳＡＭによりセクタの位置情報が読み取られ、前記Ａバ
ーストとＢバーストにより磁気ヘッドの位置補正が行わ
れる。
に続いてデータフィールドが設けられている。前記サー
ボフィールドにはＳＹＮＣ、サーボアドレスマーク（Ｓ
ＡＭ）およびサーボ情報（Ａバースト、Ｂバースト）が
記録されて、前記ＳＹＮＣにより同期をかけられ、前記
ＳＡＭによりセクタの位置情報が読み取られ、前記Ａバ
ーストとＢバーストにより磁気ヘッドの位置補正が行わ
れる。
【０００４】また前記データフィールドには、ＳＹＮＣ
領域およびデータ領域（ＤＡＴＡ）が設けられ、前記Ｓ
ＹＮＣにより同期をかけられ、データ領域からデータ本
体が読み出される。この場合、前記ＳＡＭの先頭または
ＳＡＭ内の基準信号（ＳＴＭ）の検出を基準とした一定
時間後に読み出し用の回路のリードゲートが開くように
設定される。このリードゲートはヘッドがデータフィー
ルドのＳＹＮＣ領域に位置するときに開かれ、その結果
リードゲートが開いているときに、ＳＹＮＣに続いてデ
ータ領域からデータ本体の信号が読み込まれる。
領域およびデータ領域（ＤＡＴＡ）が設けられ、前記Ｓ
ＹＮＣにより同期をかけられ、データ領域からデータ本
体が読み出される。この場合、前記ＳＡＭの先頭または
ＳＡＭ内の基準信号（ＳＴＭ）の検出を基準とした一定
時間後に読み出し用の回路のリードゲートが開くように
設定される。このリードゲートはヘッドがデータフィー
ルドのＳＹＮＣ領域に位置するときに開かれ、その結果
リードゲートが開いているときに、ＳＹＮＣに続いてデ
ータ領域からデータ本体の信号が読み込まれる。
【０００５】またこの種の高密度記録用の磁気ディスク
は、製造後の品質検査において検査用のデータの書き込
みと読み取りが行われる。この際、データを正常に読み
取ることができなかったセクタが欠陥セクタと判断さ
れ、そのセクタ番号が磁気ディスクのメンテナンス領域
に欠陥セクタとして登録される。通常のディスク装置に
この磁気ディスクが装填されると、最初に前記メンテナ
ンス領域が読み出され、欠陥セクタ番号が認識され、記
録時に前記欠陥セクタを使用しない制御が行われる。
は、製造後の品質検査において検査用のデータの書き込
みと読み取りが行われる。この際、データを正常に読み
取ることができなかったセクタが欠陥セクタと判断さ
れ、そのセクタ番号が磁気ディスクのメンテナンス領域
に欠陥セクタとして登録される。通常のディスク装置に
この磁気ディスクが装填されると、最初に前記メンテナ
ンス領域が読み出され、欠陥セクタ番号が認識され、記
録時に前記欠陥セクタを使用しない制御が行われる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかし前記高密度記録
用のフレキシブルな磁気ヘッドをディスク装置に装填し
て記録・再生を行う際に、前記品質検査において欠陥セ
クタと判断されなかったセクタに記録エラーや再生エラ
ーが生じることがある。これは、磁気ディスクはディス
ク装置に何度も繰り返して装填されるものであるため、
繰り返して使用している間にディスク表面が傷つけられ
ること、または記録・再生に使用する装置の品質にばら
つきがあること、さらには温度・湿度などの磁気ディス
クの使用環境の変動要因があることなどが原因である。
用のフレキシブルな磁気ヘッドをディスク装置に装填し
て記録・再生を行う際に、前記品質検査において欠陥セ
クタと判断されなかったセクタに記録エラーや再生エラ
ーが生じることがある。これは、磁気ディスクはディス
ク装置に何度も繰り返して装填されるものであるため、
繰り返して使用している間にディスク表面が傷つけられ
ること、または記録・再生に使用する装置の品質にばら
つきがあること、さらには温度・湿度などの磁気ディス
クの使用環境の変動要因があることなどが原因である。
【０００７】その結果、前記品質検査でＥＣＣエラーが
発生せず、正常なセクタと判断されて前記欠陥セクタと
して登録されていないフィールドにおいても、前記傷な
どにより実際の再生時に読み取りエラーを発生すること
がある。その一例として、サーボフィールド内の前記基
準信号（ＳＴＭ）が傷などにより読み落とされると、こ
の基準信号（ＳＴＭ）を基準とした一定時間後にリード
ゲートが開かなくなり、本来はＥＣＣエラーの発生の確
率の低い正常なデータであっても読み取りができないと
いう現象が生じる。
発生せず、正常なセクタと判断されて前記欠陥セクタと
して登録されていないフィールドにおいても、前記傷な
どにより実際の再生時に読み取りエラーを発生すること
がある。その一例として、サーボフィールド内の前記基
準信号（ＳＴＭ）が傷などにより読み落とされると、こ
の基準信号（ＳＴＭ）を基準とした一定時間後にリード
ゲートが開かなくなり、本来はＥＣＣエラーの発生の確
率の低い正常なデータであっても読み取りができないと
いう現象が生じる。
【０００８】本発明は上記従来の課題を解決するもので
あり、ディスク表面の傷つきなどにより、例えばサーボ
フィールドの前記基準信号（ＳＴＭ）の読み落しが発生
しても、その後の正常なデータを読み取ることができる
ようにした磁気ディスク装置を提供することを目的とし
ている。
あり、ディスク表面の傷つきなどにより、例えばサーボ
フィールドの前記基準信号（ＳＴＭ）の読み落しが発生
しても、その後の正常なデータを読み取ることができる
ようにした磁気ディスク装置を提供することを目的とし
ている。
【０００９】またディスク出荷前の品質検査では、前記
基準信号（ＳＴＭ）の読み落しに対して厳しい基準を設
定して、この読み落としを発生するセクタを欠陥セクタ
と認識できるようにした磁気ディスク装置を提供するこ
とを目的としている。
基準信号（ＳＴＭ）の読み落しに対して厳しい基準を設
定して、この読み落としを発生するセクタを欠陥セクタ
と認識できるようにした磁気ディスク装置を提供するこ
とを目的としている。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明の磁気ディスク装
置は、サーボフィールドならびにこれに続くＳＹＮＣ領
域及びデータ領域が設けられたディスクの記録情報を読
み取るヘッドと、前記ヘッドで読み取られた信号を信号
処理部に与えるゲートと、前記ゲートを制御する制御部
とを有し、前記制御部では、前記ヘッドで読み取られた
信号から前記サーボフィールド内の基準信号（ＳＴＭ）
が検出された時を基準として一定時間（Ｔ１）後に前記
ゲートを開放する制御が行われ、ただしその前の基準信
号（ＳＴＭ）の検出から所定時間（Ｔ）経過後に前記基
準信号（ＳＴＭ）を検出できなかったときには、前記基
準信号（ＳＴＭ）を検出する予定であった時から前記一
定時間（Ｔ１）に相当する時間が経過した時点で前記ゲ
ートを開く制御が行われることを特徴とするものであ
る。
置は、サーボフィールドならびにこれに続くＳＹＮＣ領
域及びデータ領域が設けられたディスクの記録情報を読
み取るヘッドと、前記ヘッドで読み取られた信号を信号
処理部に与えるゲートと、前記ゲートを制御する制御部
とを有し、前記制御部では、前記ヘッドで読み取られた
信号から前記サーボフィールド内の基準信号（ＳＴＭ）
が検出された時を基準として一定時間（Ｔ１）後に前記
ゲートを開放する制御が行われ、ただしその前の基準信
号（ＳＴＭ）の検出から所定時間（Ｔ）経過後に前記基
準信号（ＳＴＭ）を検出できなかったときには、前記基
準信号（ＳＴＭ）を検出する予定であった時から前記一
定時間（Ｔ１）に相当する時間が経過した時点で前記ゲ
ートを開く制御が行われることを特徴とするものであ
る。
【００１１】例えば、前記制御部では、前記所定時間
（Ｔ）後にさらに経過した時間（Ｔｗ）と前記一定時間
（Ｔ１）との差（Ｔ１−Ｔｗ＝Ｔ２）が求められ、この
Ｔ２時間後に前記ゲートを開く制御が行われる。
（Ｔ）後にさらに経過した時間（Ｔｗ）と前記一定時間
（Ｔ１）との差（Ｔ１−Ｔｗ＝Ｔ２）が求められ、この
Ｔ２時間後に前記ゲートを開く制御が行われる。
【００１２】本発明では、ディスクの品質検査の際にＥ
ＣＣエラーがなく、またはＥＣＣエラーレートが低く、
その結果ディスクのメンテナンスエリアに欠陥セクタと
して登録されていない領域のデータを、通常のディスク
装置で読もうとしたときに、ディスク表面の傷つきなど
によりサーボフィールド内の基準信号（ＳＴＭ）の読み
落としが発生した場合に対応できるものである。
ＣＣエラーがなく、またはＥＣＣエラーレートが低く、
その結果ディスクのメンテナンスエリアに欠陥セクタと
して登録されていない領域のデータを、通常のディスク
装置で読もうとしたときに、ディスク表面の傷つきなど
によりサーボフィールド内の基準信号（ＳＴＭ）の読み
落としが発生した場合に対応できるものである。
【００１３】前記基準信号を読み落としたときに、その
前の基準信号から所定時間（Ｔ）を経た後にさらにどの
くらいの時間（Ｔｗ）が経過したかが判断される。そし
て、前記一定時間（Ｔ１）から前記経過時間（Ｔｗ）を
減算した時間（Ｔ１−Ｔｗ＝Ｔ２）を算出する。そして
前記基準信号を読み落とした場合に、前記時間（Ｔ２）
経過後にリードゲートを開く処理を行う。その結果、デ
ータ領域のデータ本体を読み取ることができる。
前の基準信号から所定時間（Ｔ）を経た後にさらにどの
くらいの時間（Ｔｗ）が経過したかが判断される。そし
て、前記一定時間（Ｔ１）から前記経過時間（Ｔｗ）を
減算した時間（Ｔ１−Ｔｗ＝Ｔ２）を算出する。そして
前記基準信号を読み落とした場合に、前記時間（Ｔ２）
経過後にリードゲートを開く処理を行う。その結果、デ
ータ領域のデータ本体を読み取ることができる。
【００１４】または、その前の基準信号から所定時間
（Ｔ）を経過した後に基準信号（ＳＴＭ）を読み落とし
た場合に、前記所定時間（Ｔ）の経過後に時間計測を継
続し、前記所定時間（Ｔ）経過後に一定時間（Ｔ１）を
加算して（Ｔ＋Ｔ１）時間経過した時点でゲートを開放
してもよい。
（Ｔ）を経過した後に基準信号（ＳＴＭ）を読み落とし
た場合に、前記所定時間（Ｔ）の経過後に時間計測を継
続し、前記所定時間（Ｔ）経過後に一定時間（Ｔ１）を
加算して（Ｔ＋Ｔ１）時間経過した時点でゲートを開放
してもよい。
【００１５】また、磁気ディスクには、ディスク検査時
に欠陥セクタを登録するメンテナンスエリアが設けら
れ、このメンテナンスエリアには、前記ディスク検査時
に、前記所定時間（Ｔ）内に前記基準信号（ＳＴＭ）が
検出されなかったときに、前記基準信号（ＳＴＭ）を検
出できなかったセクタが欠陥セクタとして登録されてい
ることが好ましい。
に欠陥セクタを登録するメンテナンスエリアが設けら
れ、このメンテナンスエリアには、前記ディスク検査時
に、前記所定時間（Ｔ）内に前記基準信号（ＳＴＭ）が
検出されなかったときに、前記基準信号（ＳＴＭ）を検
出できなかったセクタが欠陥セクタとして登録されてい
ることが好ましい。
【００１６】すなわち、前記の時間差（Ｔ１−Ｔｗ＝Ｔ
２）を設定してリードゲートを開く処理は、出荷後のデ
ィスクが装填される通常のディスク装置においてのみ行
い、磁気ディスク出荷前の品質検査では、前記時間差の
設定は行わないことが好ましい。出荷時の品質検査で
は、前記基準信号（ＳＴＭ）の読み落としが発生したセ
クタは、欠陥セクタとしてディスクのメンテナンスフィ
ールドに記録しておく。
２）を設定してリードゲートを開く処理は、出荷後のデ
ィスクが装填される通常のディスク装置においてのみ行
い、磁気ディスク出荷前の品質検査では、前記時間差の
設定は行わないことが好ましい。出荷時の品質検査で
は、前記基準信号（ＳＴＭ）の読み落としが発生したセ
クタは、欠陥セクタとしてディスクのメンテナンスフィ
ールドに記録しておく。
【００１７】このように出荷前の品質検査での前記基準
信号（ＳＴＭ）の読み落としに対する処理を、前記の通
常のディスク装置での制御よりも厳しくしておくことに
より、前記通常のディスク装置に装填されたディスクに
読み取りエラーが発生する確率を低くできる。
信号（ＳＴＭ）の読み落としに対する処理を、前記の通
常のディスク装置での制御よりも厳しくしておくことに
より、前記通常のディスク装置に装填されたディスクに
読み取りエラーが発生する確率を低くできる。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の磁気ディスク装置
を図１ないし図４を参照して説明する。図１は磁気ディ
スク装置の回路構成の概略を示すブロック図、図２は出
荷後のディスクの再生を行うときの正常時の再生処理を
説明する説明図、図３は同じく出荷後のディスクの再生
を行うときで且つ読み取りエラーがあったときのリード
ゲートタイミングの補正処理を説明する説明図、図４は
前記磁気ディスク装置の制御部で実行する制御のフロー
チャートである。
を図１ないし図４を参照して説明する。図１は磁気ディ
スク装置の回路構成の概略を示すブロック図、図２は出
荷後のディスクの再生を行うときの正常時の再生処理を
説明する説明図、図３は同じく出荷後のディスクの再生
を行うときで且つ読み取りエラーがあったときのリード
ゲートタイミングの補正処理を説明する説明図、図４は
前記磁気ディスク装置の制御部で実行する制御のフロー
チャートである。
【００１９】図１に示す本発明の磁気ディスク装置は、
制御部１０、信号処理部１１、リードゲート１２、サー
ボ信号処理部１３、アンプ１４、ＶＣＭ１５および磁気
ヘッド１６などから構成され、ディスクＤに記録された
情報が再生される。前記ＶＣＭは磁気ヘッド１６をディ
スクＤの半径方向へ駆動するリニアモータ駆動部（ボイ
スコイルモータ）を意味する。
制御部１０、信号処理部１１、リードゲート１２、サー
ボ信号処理部１３、アンプ１４、ＶＣＭ１５および磁気
ヘッド１６などから構成され、ディスクＤに記録された
情報が再生される。前記ＶＣＭは磁気ヘッド１６をディ
スクＤの半径方向へ駆動するリニアモータ駆動部（ボイ
スコイルモータ）を意味する。
【００２０】図２は前記ディスクＤにセクタ毎に設けら
れているサーボフィールドおよびデータフィールドを示
している。前記ディスクＤのデータセクタには、サーボ
フィールドＳＦとデータフィールドＤＦとがフォーマッ
トされている。サーボフィールドＳＦにはＳＹＮＣ１、
サーボアドレスマーク（ＳＡＭ）２、およびサーボ情報
としてのＡバースト３ａ、Ｂバースト３ｂが記録されて
いる。データフィールドＤＦはＳＹＮＣ領域４およびこ
れに続くデータ領域５がフォーマットされ、データ領域
５にＤＡＴＡが記録されている。
れているサーボフィールドおよびデータフィールドを示
している。前記ディスクＤのデータセクタには、サーボ
フィールドＳＦとデータフィールドＤＦとがフォーマッ
トされている。サーボフィールドＳＦにはＳＹＮＣ１、
サーボアドレスマーク（ＳＡＭ）２、およびサーボ情報
としてのＡバースト３ａ、Ｂバースト３ｂが記録されて
いる。データフィールドＤＦはＳＹＮＣ領域４およびこ
れに続くデータ領域５がフォーマットされ、データ領域
５にＤＡＴＡが記録されている。
【００２１】ディスクＤに記録されている情報の再生を
行なう場合は、磁気ヘッド１６によりディスクＤ上に記
録された信号が読み取られ、前記信号がアンプ１４によ
り増幅される。サーボフィールドＳＦのＳＹＮＣ１、Ｓ
ＡＭ２およびＡバースト３ａおよびＢバースト３ｂの読
み取り出力はサーボ信号処理部１３に与えられる。サー
ボ信号処理部１３ではＳＹＮＣ１の出力により読み取り
タイミングが設定され、ＳＡＭ２が読み取られてアドレ
スが認識されると共に、前記Ａバースト信号３ａとＢバ
ースト信号３ｂの出力強度が検出されて、これが制御部
１０に与えられる。制御部１０では、前記Ａバースト信
号３ａの出力強度とＢバースト信号３ｂの出力強度の差
が演算されて、この演算に基づいてＶＣＭ１５がサーボ
駆動され、ヘッド１６がディスクＤのトラックセンター
に追従するようにトラッキング補正される。
行なう場合は、磁気ヘッド１６によりディスクＤ上に記
録された信号が読み取られ、前記信号がアンプ１４によ
り増幅される。サーボフィールドＳＦのＳＹＮＣ１、Ｓ
ＡＭ２およびＡバースト３ａおよびＢバースト３ｂの読
み取り出力はサーボ信号処理部１３に与えられる。サー
ボ信号処理部１３ではＳＹＮＣ１の出力により読み取り
タイミングが設定され、ＳＡＭ２が読み取られてアドレ
スが認識されると共に、前記Ａバースト信号３ａとＢバ
ースト信号３ｂの出力強度が検出されて、これが制御部
１０に与えられる。制御部１０では、前記Ａバースト信
号３ａの出力強度とＢバースト信号３ｂの出力強度の差
が演算されて、この演算に基づいてＶＣＭ１５がサーボ
駆動され、ヘッド１６がディスクＤのトラックセンター
に追従するようにトラッキング補正される。
【００２２】一方、制御部１０では所定のタイミングで
リードゲート１２を開放する処理が行われ、リードゲー
ト１２が開放されているときにデータフィールドＤＦの
ＳＹＮＣ領域４とＤＡＴＡ領域５に記録されていた信号
が信号処理部１１に与えられ、ＤＡＴＡの復調処理が行
われる。前記リードゲート１２の開放制御動作を図４の
フローチャートを参照して説明する。図４では制御部１
０で実行される制御動作のステップをＳＴで示してい
る。
リードゲート１２を開放する処理が行われ、リードゲー
ト１２が開放されているときにデータフィールドＤＦの
ＳＹＮＣ領域４とＤＡＴＡ領域５に記録されていた信号
が信号処理部１１に与えられ、ＤＡＴＡの復調処理が行
われる。前記リードゲート１２の開放制御動作を図４の
フローチャートを参照して説明する。図４では制御部１
０で実行される制御動作のステップをＳＴで示してい
る。
【００２３】このディスク装置に装填されるディスクＤ
は、出荷前の品質検査により検査用の信号の記録と再生
が行われ、この再生出力からデータチェックが行われ、
ＥＣＣエラーレートの高いセクタが、欠陥セクタとして
ディスクのメンテナンスエリアに記録されている。
は、出荷前の品質検査により検査用の信号の記録と再生
が行われ、この再生出力からデータチェックが行われ、
ＥＣＣエラーレートの高いセクタが、欠陥セクタとして
ディスクのメンテナンスエリアに記録されている。
【００２４】出荷後のディスクがユーザが使用する通常
のディスク装置に装填されると、図１に示すヘッド１６
により前記メンテナンスエリアが読み取られ、メンテナ
ンスエリアに記録されている欠陥セクタを認識し、欠陥
のあるセクタの番号が制御部１０内のＲＡＭに記憶され
る。
のディスク装置に装填されると、図１に示すヘッド１６
により前記メンテナンスエリアが読み取られ、メンテナ
ンスエリアに記録されている欠陥セクタを認識し、欠陥
のあるセクタの番号が制御部１０内のＲＡＭに記憶され
る。
【００２５】図４のＳＴ１において、これから読み取ろ
うとするディスクＤ上のセクタが前記ＲＡＭに記憶され
た欠陥セクタであるか否かの判断がなされ、欠陥セクタ
であると判断されると、ＳＴ２に移行して、そのセクタ
に関してリードゲート１２を開放せず、データフィール
ドＤＦの読み込みが行われない。
うとするディスクＤ上のセクタが前記ＲＡＭに記憶され
た欠陥セクタであるか否かの判断がなされ、欠陥セクタ
であると判断されると、ＳＴ２に移行して、そのセクタ
に関してリードゲート１２を開放せず、データフィール
ドＤＦの読み込みが行われない。
【００２６】ＳＴ１において、これから読もうとするセ
クタが欠陥セクタとして登録されていないときには、サ
ーボ信号処理部１３から制御部１０に与えられるサーボ
フィールドＳＦの再生信号から基準信号（ＳＴＭ）を検
出する。前記基準信号（ＳＴＭ）はサーボアドレスマー
ク（ＳＡＭ）の立ち上がり信号などである。図２に示す
ように、ディスクＤが回転しヘッド１６による読み取り
が継続していると、所定時間（Ｔ）ごとに前記基準信号
（ＳＴＭ）が検出される。
クタが欠陥セクタとして登録されていないときには、サ
ーボ信号処理部１３から制御部１０に与えられるサーボ
フィールドＳＦの再生信号から基準信号（ＳＴＭ）を検
出する。前記基準信号（ＳＴＭ）はサーボアドレスマー
ク（ＳＡＭ）の立ち上がり信号などである。図２に示す
ように、ディスクＤが回転しヘッド１６による読み取り
が継続していると、所定時間（Ｔ）ごとに前記基準信号
（ＳＴＭ）が検出される。
【００２７】図４のＳＴ３では、その前の基準信号（Ｓ
ＴＭ）から所定時間（Ｔ）を経過した時点で基準信号
（ＳＴＭ）が検出されるか否か監視される。基準信号
（ＳＴＭ）が検出されると、図２に示すように、この検
出から一定時間（Ｔ１）がカウントされる。このカウン
トはサーボフィールドＳＦのＳＹＮＣ１の再生信号を基
準としたクロックに基づいて行われる。ＳＴ４におい
て、前記基準信号（ＳＴＭ）を検出した後の一定時間
（Ｔ１）が経過したことがカウントされると、制御部１
０によりリードゲート１２が所定の時間だけ開放される
（ＳＴ５）。
ＴＭ）から所定時間（Ｔ）を経過した時点で基準信号
（ＳＴＭ）が検出されるか否か監視される。基準信号
（ＳＴＭ）が検出されると、図２に示すように、この検
出から一定時間（Ｔ１）がカウントされる。このカウン
トはサーボフィールドＳＦのＳＹＮＣ１の再生信号を基
準としたクロックに基づいて行われる。ＳＴ４におい
て、前記基準信号（ＳＴＭ）を検出した後の一定時間
（Ｔ１）が経過したことがカウントされると、制御部１
０によりリードゲート１２が所定の時間だけ開放される
（ＳＴ５）。
【００２８】その結果、アンプ１４からの出力が信号処
理部１１に与えられる。前記一定時間（Ｔ１）後のリー
ドゲート１２の開放はデータフィールドＤＦのＳＹＮＣ
領域４の再生中またはその直前となるように設定され
る。よって信号処理部１１には最初にＳＹＮＣ領域４の
出力が与えられ、このＳＹＮＣ出力により設定されたタ
イミングを基準として後続するＤＡＴＡ領域５のＤＡＴ
Ａ本体が信号処理部１１で読み取られて復調処理され
る。
理部１１に与えられる。前記一定時間（Ｔ１）後のリー
ドゲート１２の開放はデータフィールドＤＦのＳＹＮＣ
領域４の再生中またはその直前となるように設定され
る。よって信号処理部１１には最初にＳＹＮＣ領域４の
出力が与えられ、このＳＹＮＣ出力により設定されたタ
イミングを基準として後続するＤＡＴＡ領域５のＤＡＴ
Ａ本体が信号処理部１１で読み取られて復調処理され
る。
【００２９】前記ＳＴ３において、前記所定時間（Ｔ）
内に基準信号（ＳＴＭ）が検出されなかったとき、すな
わち図３のＰの時刻に基準信号（ＳＴＭ）を検出できな
かったときには、ＳＴ６において、前記時刻Ｐからその
後にヘッドが移動した時刻Ｑまでの経過時間Ｔｗが算出
され、ＳＴ７においてＴ１−Ｔｗ＝Ｔ２が算出される。
そしてＳＴ８で前記時間Ｔ２が経過したと判断されたと
きに、ＳＴ９においてリードゲート１２が開放されて、
データフィールドＤＦの読み取り出力が信号処理部１１
に与えられる。
内に基準信号（ＳＴＭ）が検出されなかったとき、すな
わち図３のＰの時刻に基準信号（ＳＴＭ）を検出できな
かったときには、ＳＴ６において、前記時刻Ｐからその
後にヘッドが移動した時刻Ｑまでの経過時間Ｔｗが算出
され、ＳＴ７においてＴ１−Ｔｗ＝Ｔ２が算出される。
そしてＳＴ８で前記時間Ｔ２が経過したと判断されたと
きに、ＳＴ９においてリードゲート１２が開放されて、
データフィールドＤＦの読み取り出力が信号処理部１１
に与えられる。
【００３０】または、前記時間Ｔｗを予め固定してお
き、基準信号（ＳＴＭ）を読み取ることができなかった
ときには、前記Ｔｗの経過を待って、その後にＴ２を計
測してリードゲート１２を開放してもよい。あるいは、
基準信号（ＳＴＭ）を読み取ることができなかったとき
に、前記所定時間（Ｔ）の経過後に時間計測を継続し、
所定時間（Ｔ＋Ｔ１）経過後にリードゲート１２を開放
してもよい。
き、基準信号（ＳＴＭ）を読み取ることができなかった
ときには、前記Ｔｗの経過を待って、その後にＴ２を計
測してリードゲート１２を開放してもよい。あるいは、
基準信号（ＳＴＭ）を読み取ることができなかったとき
に、前記所定時間（Ｔ）の経過後に時間計測を継続し、
所定時間（Ｔ＋Ｔ１）経過後にリードゲート１２を開放
してもよい。
【００３１】以上のように、前記所定時間（Ｔ）経過後
に基準信号（ＳＴＭ）の読み落としがあったとしても、
リードゲート１２を正常な状態で開放することができ、
データフィールドＤＦのＳＹＮＣ領域４とＤＡＴＡ領域
５に記録されている正常なデータを読み取ることができ
る。
に基準信号（ＳＴＭ）の読み落としがあったとしても、
リードゲート１２を正常な状態で開放することができ、
データフィールドＤＦのＳＹＮＣ領域４とＤＡＴＡ領域
５に記録されている正常なデータを読み取ることができ
る。
【００３２】また、この種のディスクＤが出荷される前
の品質検査では、検査用のデータの記録と再生が行わ
れ、読み取りデータのエラーレートの高いセクタがディ
スクのメンテナンスエリアに記録される。この品質検査
において、図２および図３に示す所定時間（Ｔ）経過後
に基準信号（ＳＴＭ）が検出されなかったときには、図
４に示す補正処理を行わず、そのセクタを欠陥セクタと
して前記メンテナンスエリアに記録しておく。したがっ
て、そのディスクが出荷後にユーザのディスク装置に装
填されると、メンテナンスエリアの読み出し信号により
図４のＳＴ１において欠陥登録セクタが認識され、ＳＴ
２において、そのセクタではリードゲートが開放されな
い。
の品質検査では、検査用のデータの記録と再生が行わ
れ、読み取りデータのエラーレートの高いセクタがディ
スクのメンテナンスエリアに記録される。この品質検査
において、図２および図３に示す所定時間（Ｔ）経過後
に基準信号（ＳＴＭ）が検出されなかったときには、図
４に示す補正処理を行わず、そのセクタを欠陥セクタと
して前記メンテナンスエリアに記録しておく。したがっ
て、そのディスクが出荷後にユーザのディスク装置に装
填されると、メンテナンスエリアの読み出し信号により
図４のＳＴ１において欠陥登録セクタが認識され、ＳＴ
２において、そのセクタではリードゲートが開放されな
い。
【００３３】すなわち図３と図４に示した補正処理は、
出荷後のディスクの傷などにより基準信号を読み取れな
かったときにのみ行われ、出荷前の品質検査でのチェッ
クでは、図４の処理を伴なわない厳しい基準で欠陥セク
タの認識が行われる。
出荷後のディスクの傷などにより基準信号を読み取れな
かったときにのみ行われ、出荷前の品質検査でのチェッ
クでは、図４の処理を伴なわない厳しい基準で欠陥セク
タの認識が行われる。
【００３４】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、ディスク
の傷などにより、ゲートを開放する基準となる信号の読
み落としがあったとしても、ゲートを正常に開放してデ
ータの読み取り処理を行うことができる。
の傷などにより、ゲートを開放する基準となる信号の読
み落としがあったとしても、ゲートを正常に開放してデ
ータの読み取り処理を行うことができる。
【００３５】また出荷前のディスクの検査では、前記基
準信号の読み落としがあったときに欠陥セクタとしてデ
ィスクに登録されることになるため、ユーザのディスク
装置に装填したときには、欠陥セクタとして処理され、
読み取りミスを発生させる確率を低くできる。
準信号の読み落としがあったときに欠陥セクタとしてデ
ィスクに登録されることになるため、ユーザのディスク
装置に装填したときには、欠陥セクタとして処理され、
読み取りミスを発生させる確率を低くできる。
【図１】磁気ディスク装置の回路構成の概略を示すブロ
ック図、
ック図、
【図２】正常な再生の処理を説明する説明図、
【図３】再生時のリードゲートタイミングの補正処理を
説明する説明図、
説明する説明図、
【図４】ゲート開放処理制御のフローチャート、
Ｄ ディスク ＳＦ サーボフィールド ＤＦ データフィールド ＳＴＭ 基準信号 ２ サーボアドレスマーク（ＳＡＭ） ３ａ Ａバースト ３ｂ Ｂバースト ４ ＳＹＮＣ領域 ５ ＤＡＴＡ領域 １０ 制御部 １１ 信号処理部 １２ リードゲート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 河内 隆宏 東京都大田区雪谷大塚町１番７号 アルプ ス電気株式会社内 (72)発明者 天白 昌宏 東京都品川区北品川６丁目７番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 久保田 芳恭 東京都品川区北品川６丁目７番35号 ソニ ー株式会社内 Ｆターム(参考） 5D044 BC01 CC04 DE32 DE34 DE46 DE64 FG09 FG18 GK18
Claims (3)
- 【請求項１】 サーボフィールドならびにこれに続くＳ
ＹＮＣ領域及びデータ領域が設けられたディスクの記録
情報を読み取るヘッドと、前記ヘッドで読み取られた信
号を信号処理部に与えるゲートと、前記ゲートを制御す
る制御部とを有し、前記制御部では、前記ヘッドで読み
取られた信号から前記サーボフィールド内の基準信号
（ＳＴＭ）が検出された時を基準として一定時間（Ｔ
１）後に前記ゲートを開放する制御が行われ、ただしそ
の前の基準信号（ＳＴＭ）の検出から所定時間（Ｔ）経
過後に前記基準信号（ＳＴＭ）を検出できなかったとき
には、前記基準信号（ＳＴＭ）を検出する予定であった
時から前記一定時間（Ｔ１）に相当する時間が経過した
時点で前記ゲートを開く制御が行われることを特徴とす
る磁気ディスク装置。 - 【請求項２】 前記制御部では、前記所定時間（Ｔ）後
にさらに経過した時間（Ｔｗ）と前記一定時間（Ｔ１）
との差（Ｔ１−Ｔｗ＝Ｔ２）が求められ、このＴ２時間
後に前記ゲートを開く制御が行われる請求項１記載の磁
気ディスク装置。 - 【請求項３】 磁気ディスクには、ディスク検査時に欠
陥セクタを登録するメンテナンスエリアが設けられ、こ
のメンテナンスエリアには、前記ディスク検査時に、前
記所定時間（Ｔ）内に前記基準信号（ＳＴＭ）が検出さ
れなかったときに、前記基準信号（ＳＴＭ）を検出でき
なかったセクタが欠陥セクタとして登録されている請求
項１記載の磁気ディスク装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10291846A JP2000123491A (ja) | 1998-10-14 | 1998-10-14 | 磁気ディスク装置 |
| US09/416,654 US6724552B1 (en) | 1998-10-14 | 1999-10-12 | Magnetic disk apparatus with lower probability of occurrence of read errors due to scratch or the like on magnetic disk surface |
| EP99308104A EP0994476A1 (en) | 1998-10-14 | 1999-10-14 | Magnetic disk apparatus with lower probability of occurrence of read errors due to scratch or the like on magnetic disk surface |
| KR1019990044589A KR20000029084A (ko) | 1998-10-14 | 1999-10-14 | 자기 디스크 표면위의 스크래치등에 기인한 판독 에러의발생 확률을 낮추기 위한 자기 디스크 장치 |
| CN99125011A CN1123884C (zh) | 1998-10-14 | 1999-10-14 | 磁盘表面划痕所致读取错误发生概率低的磁盘设备 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10291846A JP2000123491A (ja) | 1998-10-14 | 1998-10-14 | 磁気ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000123491A true JP2000123491A (ja) | 2000-04-28 |
Family
ID=17774182
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10291846A Pending JP2000123491A (ja) | 1998-10-14 | 1998-10-14 | 磁気ディスク装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6724552B1 (ja) |
| EP (1) | EP0994476A1 (ja) |
| JP (1) | JP2000123491A (ja) |
| KR (1) | KR20000029084A (ja) |
| CN (1) | CN1123884C (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10222828B4 (de) * | 2002-05-21 | 2008-05-15 | 3M Espe Ag | Bestrahlungsgerät |
| US20060018123A1 (en) * | 2004-07-02 | 2006-01-26 | Rose Eric P | Curing light having a reflector |
| JP2007141305A (ja) * | 2005-11-16 | 2007-06-07 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv | 磁気ディスク装置 |
| JP2009009648A (ja) * | 2007-06-28 | 2009-01-15 | Fujitsu Ltd | 記憶装置及びその制御装置、ヘッド振動測定方法 |
| US20090208894A1 (en) * | 2008-02-18 | 2009-08-20 | Discus Dental, Llc | Curing Light |
| CN102352235A (zh) * | 2011-08-03 | 2012-02-15 | 西安长庆化工集团有限公司 | 一种交联酸压裂液及其制备方法 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0760574B2 (ja) * | 1984-03-26 | 1995-06-28 | 株式会社日立製作所 | 光デイスク装置のセクタ開始信号発生回路 |
| US4746998A (en) | 1985-11-20 | 1988-05-24 | Seagate Technology, Inc. | Method for mapping around defective sectors in a disc drive |
| JPH06150556A (ja) | 1992-11-04 | 1994-05-31 | Yamaha Corp | ディジタル信号再生装置 |
| US5666238A (en) | 1993-12-28 | 1997-09-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Data sector control apparatus and method for disk storage system |
| KR970010638B1 (ko) * | 1994-05-11 | 1997-06-28 | 삼성전자 주식회사 | 서보 어드레스 마크 검출 보상 회로 |
| JPH0831102A (ja) | 1994-07-15 | 1996-02-02 | Toshiba Corp | データ記録再生装置及び同装置に適用されるサーボセクタパルス生成方法 |
| JPH0973743A (ja) | 1995-09-07 | 1997-03-18 | Toshiba Corp | 磁気記録装置 |
| US5726818A (en) | 1995-12-05 | 1998-03-10 | Cirrus Logic, Inc. | Magnetic disk sampled amplitude read channel employing interpolated timing recovery for synchronous detection of embedded servo data |
| KR100194023B1 (ko) * | 1996-04-30 | 1999-06-15 | 윤종용 | 서보 어드레스 마크 검출 미싱으로 인한 서보패턴 오버라이트 방지회로 |
| US6034831A (en) * | 1997-05-09 | 2000-03-07 | International Business Machines Corporation | Dynamic reverse reassign apparatus and method for a data recording disk drive |
-
1998
- 1998-10-14 JP JP10291846A patent/JP2000123491A/ja active Pending
-
1999
- 1999-10-12 US US09/416,654 patent/US6724552B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1999-10-14 EP EP99308104A patent/EP0994476A1/en not_active Withdrawn
- 1999-10-14 KR KR1019990044589A patent/KR20000029084A/ko not_active Application Discontinuation
- 1999-10-14 CN CN99125011A patent/CN1123884C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN1254920A (zh) | 2000-05-31 |
| CN1123884C (zh) | 2003-10-08 |
| KR20000029084A (ko) | 2000-05-25 |
| EP0994476A1 (en) | 2000-04-19 |
| US6724552B1 (en) | 2004-04-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060214 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060221 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060620 |