CN1123884C - 磁盘表面划痕所致读取错误发生概率低的磁盘设备 - Google Patents

磁盘表面划痕所致读取错误发生概率低的磁盘设备 Download PDF

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Abstract

一种磁盘设备，包括：一个磁头，一个把磁头读出的信号提供给信号处理单元的门，和一控制所述门的控制单元，该磁盘设备能在产生由于磁盘表面划痕等所导致的参考信号读取错误之后读取正常数据。在该磁盘设备中，若不能在点P读出参考信号(STM)，则计量经过的时间(Tw)，并确定表示应该打开读出门的时间T1与时间Tw之间差值的时间T2。在时间T2经过后，该读出门被打开，因此可正确地读出数据、并用该读出数据进行解码处理。

Description

磁盘表面划痕所致读取错误 发生概率低的磁盘设备
技术领域
本发明涉及一种可减小磁盘表面划痕等所引起的读取错误的发生概率的磁盘设备，该磁盘设备在根据常规再现所用标准检查磁盘的过程中，在登记缺陷扇区时使用不同的标准确定缺陷。
背景技术
在一些适于高密度记录的软磁盘中，其记录磁道区中的扇区设有伺服字段。当使磁头寻找目标磁道时以及在跟踪期间，伺服字段中的信号用于伺服控制。
另外，在一个扇区中的伺服字段后面提供数据字段。SYNC、伺服地址标记(SAM)和伺服信息、即A字符组和B字符组记录在伺服字段中。用SYNC进行同步，利用SAM读取有关扇区的位置信息，并利用A字符组和B字符组进行磁头的位置修正。
数据字段还具有SYNC区和数据区(“数据”)。在SYNC完成同步之后，数据体从该数据区中读出。在这种情况下，进行设置以便根据SAM开始时或在SAM中对参考信号(STM)的检测、在预定时间打开读取电路的读出门。当磁头位于数据字段的SYNC区中时，读出门打开。结果，随着读出门的打开，数据体的信号在SYNC之后从数据区中读出。
这种用于高密度记录的磁盘在制作过程之后的质量检验中要进行检验所需的写数据和读数据。在质量检验中，不能正常读出数据的扇区被确定为缺陷扇区，该扇区号作为缺陷扇区号登记在磁盘维护区中。当磁盘装入通常的磁盘设备时，维护区首先被读取，缺陷扇区号被识别，并且进行控制以使缺陷扇区不被用于记录。
但是，当用于高密度记录的软磁头装入磁盘设备以进行记录和再现时，在质量检验时未被确定为有缺陷的扇区中也会产生记录错误或再现错误。导致这些错误的原因包括：将磁盘反复装入磁盘设备而重复使用磁盘时在磁盘表面产生的划痕，记录或再现设备的质量变动，或磁盘操作环境的可变因素、例如温度和湿度。
因此，有时会出现这种情况、即在质量检验时扇区中未出现ECC错误，该扇区被判定为无缺陷；而在实际再现时，没有被登记为缺陷扇区的区域中的上述划痕会导致读取错误。例如，如果伺服字段中的标准信号(STM)因划痕等缺陷而不能读取，则读出门就不能基于该参考信号在预定时间打开。这将使ECC错误发生概率低的正常数据不能被读出。
发明内容
因此，提出本发明是为了解决上述的问题，本发明的目的是要提供一种磁盘设备，该磁盘设备在例如伺服字段中因磁盘表面划痕等缺陷导致产生参考信号的读取错误后仍能读出正常数据。
本发明的另一个目的是提供一个磁盘设备，该磁盘设备设置了磁盘在装运之前的质量检验中关于STM读取错误的严格标准，因此它可以将产生读取错误的扇区识别为缺陷扇区。
为了实现这些目的，根据本发明的一个方面，提供了一种磁盘设备，包括：一个磁头，用于从磁盘中读取所记录的信息，该磁盘设有伺服字段、和位于所述伺服字段之后的SYNC区和数据区；一个门，用于把所述磁头读出的信号提供给信号处理单元；和一个控制单元，用于控制所述门；其中，所述控制单元这样地进行控制：从所述磁头读取的信号中检测出所述伺服字段中的参考信号(STM2)的时刻开始测量，在一设定的期间(T1)经过之后，打开所述门；并且其中，如果在继检测到前一个参考信号(STM1)后经过预定期间(T)之后、所述参考信号(STM2)未能被检测到，则从所述前一个参考信号(STM1)被检测到的时刻起测量、在与所述预定期间(T)和所述设定的期间(T1)相对应的期间经过之后，所述门被打开，所述预定期间(T)对应于参考信号(STM2)应该被检测到的期间。
例如，控制单元确定从预定期间(T)进一步通过的期间(Tw)与设定的期间(T1)之间的差值(T1-Tw＝T2)，并在确定的T2中控制打开该门。
本发明可用于这样的情况，即当用正常的磁盘设备进行数据读出时，由于磁盘表面的划痕等缺陷在伺服字段中产生STM读出错误，该数据来自在磁盘质量检验期间未产生ECC错误、并表现出低的ECC错误率的区域，因此该区域没有被登记为磁盘维护区中的缺陷扇区。
如果产生参考信号的读出错误，则控制单元确定在自前一个参考信号起的预定期间(T)经过之后还要经过多少时间(Tw)。而后，控制单元从设定的期间(T1)减去经过的时间(Tw)、即(T1-Tw)＝T2计算得到的期间。如果产生参考信号读出错误，则控制单元进行处理以便在期间(T2)经过之后打开读出门。这样可使该数据区的数据体被读出。
另一方面，如果自前一参考信号起的预定期间(T)经过之后产生STM读出错误，则控制单元可在预定期间(T)经过之后继续计量时间，在预定期间(T)经过之后增加设定的期间(T1)，并在由(T+T1)得到的时间经过后打开该门。
在本发明的优选实例中，磁盘设有维护区，在该维护区中登记了磁盘检验时的缺陷扇区，如果在磁盘检验时在预定期间(T)内STM没有被检测到，则STM未被检测到的扇区登记为维护区中的缺陷扇区。
在另外的优选实施例中，通过设定时间差(T1-Tw＝T2)所进行的打开读出门的处理、只在装运后安装有磁盘的正常磁盘设备中执行，在磁盘装运之前的质量检验中不设置该时间差。在装运之前的质量检验中，发生参考信号读出错误的扇区被记录为维护区中的缺陷扇区。
于是，通过给装运前质量检验中的参考信号读出错误提供比常规磁盘设备中的控制处理更严格的处理，能使常规磁盘设备内所装磁盘的读出错误的发生概率变得较低。
附图说明
图1是表示磁盘设备电路结构概况的框图。
图2是表示常规再现处理的示意图。
图3是表示再现期间校正读出门时刻的处理的示意图。
图4是表示用于打开门的处理控制的流程图。
具体实施方式
下面结合附图1-4说明本发明的磁盘设备。图1是表示磁盘设备电路结构概况的框图：图2是表示装运之后，用于从磁盘进行再现的常规再现处理的示意图；图3是表示装运之后，从磁盘再现时如果产生读取错误，校正读出门时刻的处理的示意图；图4是表示利用磁盘设备的控制单元进行控制的流程图。
图1所示的磁盘设备主要包括：控制单元10，信号处理单元11，读出门12，伺服信号处理单元13，放大器14，VCM15，和再现磁盘D中记录信息的磁头16。VCM表示音圈电机，它是用于沿磁盘D的径向驱动磁头16的线性电机驱动单元。
图2表示设置在磁盘D每个扇区的伺服字段和数据字段。
磁盘D的数据扇区具有格式化的伺服字段SF和格式化的数据字段DF。SYNC1，伺服地址标记(SAM)2，和A字符组3a和B字符组3b作为伺服信息记录在伺服字段SF中。数据字段DF具有格式化SYNC区4和格式化SYNC区4之后的格式化数据区5，“数据”被记录在数据区5中。
为了再现磁盘D上记录的信息，利用磁头16读取磁盘D上所记录的信号，并用放大器14放大该信号。伺服字段SF中的SYNC1、SAM2、以及A字符组3a和B字符组3b的读取输出施加到伺服信号处理单元13。伺服信号处理单元13根据SYNC1的输出设定读出时刻，读取SAM2以识别地址，检测A字符组3a和B字符组3b的输出强度电平、并将它们提供给控制单元10。控制单元10计算A字符组3a的输出强度电平与B字符组3b的输出强度电平之间的差值。根据计算结果，伺服驱动VCM15进行跟踪校正，以使磁头16跟踪磁盘D的磁道中心。
另外，控制单元10执行用于在预定时刻打开读出门12的处理。当读出门12打开时，记录在SYNC区4和数据字段DF的“数据”区5中的信号提供给信号处理单元11、以便进行“数据”的解码处理。
现在参阅图4的流程图，说明用于打开读出门12的控制操作。在图4中，利用控制单元10进行控制操作的每个步骤表示为ST。
在装运前的质量检验期间，对装在磁盘设备中的磁盘D已进行了检验信号的记录和再现。根据再现输出进行了数据检查，并把具有高ECC错误率的扇区作为缺陷扇区记录在磁盘的维护区中。
当装运之后、磁盘被装入用户使用的常规磁盘设备中时，维护区被图1所示的磁头16读取，记录在维护区中的缺陷扇区被识别，缺陷扇区的号被储存在控制单元10的RAM中。
在图4的ST1中，确定磁盘D上被读取的扇区是否是储存在RAM中的缺陷扇区。如果确定该扇区是缺陷扇区，则处理程序到达ST2，在ST2中读出门12不对该扇区打开，因此，数据字段DF不被读取。
在ST1中，如果发现所读取的扇区没有被识别为缺陷扇区，则从伺服信号处理单元13提供到控制单元10的伺服字段SF的再现信号中检测参考信号(STM)。STM是一个伺服地址标记(SAM)的上升信号或类似信号。如图2所示，当磁头16连续地从旋转的磁盘读取时，根据预定期间(T)、间隔地检测STM。
在图4的ST3中，当从前一个STM起已经过预定期间(T)时，监视STM是否被检测到。
在检测到STM时，在一设定期间(T1)内，如图2所示从该检测开始进行计数。根据基于伺服字段SF的SYNC1的再现信号的时钟进行该计数。在ST4中，当计数结果表明在STM检测到后经过了设定的期间(T1)时，在ST5中，读出门12被控制单元10打开预定的时间。
于是，来自放大器14的输出施加到信号处理单元11。在该设定的期间(T1)之后，用于打开读出门12的时间被设定，以便在从数据字段DF的SYNC区4再现期间或之前立即打开读出门12。于是，首先将SYNC区4的输出提供给信号处理单元11，而后信号处理单元11根据由SYNC输出所设定的时刻读取后续的“数据”区5的“数据”体并进行解码处理。
如果在上述ST3中，在预定期间(T)内STM未被检测到，即如果STM在图3的时间P不能被检测到，则从时间P到时间Q中磁头移动所经过的时间Tw被计算，并在ST7中进行T1-Tw＝T2的计算。当在ST8中确定时间T2已经过时，在ST9中打开读出门12，从数据字段DF读取的输出提供给信号处理单元11。
另一方面，可预先固定时间Tw，如果STM不能被读取，则在时间Tw经过之后、可计量时间T2，并可打开读出门12。又一方面，如果STM不能被读取，在设定的期间(T)经过之后可继续进行时间计量，并在经过预定时间(T+T1)后可打开读出门12。
因此，即使在经过预定期间(T)后产生STM读取错误，读出门12也能正确地打开、以便读取记录在SYNC区4和数据字段DF的“数据”区5中的正常数据。
另外，在这种磁盘D装运之前的质量检验中，用于检验的数据被记录和再现，并且具有高的读取数据错误率的扇区记录在磁盘的维护区中。在质量检验中，如果在图2和3所示的预定期间(T)经过之后、参考信号(STM)未被检测到，则不进行图4所示的校正处理、而将该扇区作为缺陷扇区登记在维护区中。因此，当装运后该磁盘被装入用户的磁盘设备时，通过从维护区读出信号在图4的ST1中识别登记为缺陷扇区的扇区，以使读出门12在ST2中不对该扇区打开。
换言之，图3和4所示的校正处理只在装运之后因盘上划痕等缺陷导致参考信号不能读出时才能进行。磁盘在装运之前所进行的质量检验不包括图4中的处理，它执行较严格的标准以便发现缺陷扇区。
如上所述，本发明即使在为打开读出门提供参考的信号因磁盘上的划痕等缺陷而产生读取错误时，也能正确地打开读出门。
在装运之前的磁盘检验中，如果参考信号的读取错误在一个扇区发生，则该扇区登记为该磁盘的缺陷扇区。因此，当该磁盘装入用户的磁盘设备时，该扇区被作为缺陷扇区处理，于是可以降低读取错误的发生概率。

Claims (3)

1.一种磁盘设备，包括：
一个磁头，用于从磁盘中读取所记录的信息，该磁盘设有伺服字段、和位于所述伺服字段之后的SYNC区和数据区；
一个门，用于把所述磁头读出的信号提供给信号处理单元；和
一个控制单元，用于控制所述门；
其中，所述控制单元这样地进行控制：
从所述磁头读取的信号中检测出所述伺服字段中的参考信号(STM2)的时刻开始测量，在一设定的期间(T1)经过之后，打开所述门；并且
其中，如果在继检测到前一个参考信号(STM1)后经过预定期间(T)之后、所述参考信号(STM2)未能被检测到，则从所述前一个参考信号(STM1)被检测到的时刻起测量、在与所述预定期间(T)和所述设定的期间(T1)相对应的期间经过之后，所述门被打开，所述预定期间(T)对应于参考信号(STM2)应该被检测到的期间。
2.一种如权利要求1所述的磁盘设备，其中，所述控制单元确定在所述预定期间(T)经过之后所经过的时间(Tw)与所述设定的期间(T1)之间的差值(T2)，用公式T1-Tw＝T2计算，并进行控制使得从所述经过的时间(Tw)开始测量在所述时间T2后打开所述门。
3.一种如权利要求1所述的磁盘设备，其中，磁盘设有维护区，在磁盘检验期间、缺陷扇区登记在所述维护区中；如果所述参考信号(STM2)在所述预定期间(T)内未被检测到，则在所述磁盘检验期间、未检测到所述参考信号(STM2)的扇区作为缺陷扇区被登记在所述维护区中；以及如果通过读取所述维护区识别出所述缺陷扇区，则不打开所述门。
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