CN1452160A

CN1452160A - 信息记录再现装置

Info

Publication number: CN1452160A
Application number: CN03122107A
Authority: CN
Inventors: 户田刚; 贺来敏光
Original assignee: Hitachi Ltd; Hitachi LG Data Storage Inc
Current assignee: Hitachi Ltd; Hitachi LG Data Storage Inc
Priority date: 2002-01-17
Filing date: 2003-04-18
Publication date: 2003-10-29
Anticipated expiration: 2023-04-18
Also published as: CN1252690C; JP2003217880A

Abstract

在现有光学信息记录再现装置中，判断仅由再现信号振幅信息的Beta值确定的信息记录质量，在该Beta值不在允许范围内时，向主机输出错误信息。另外，信息的记录质量判断中，由于将记录信息的记录区域分成规定大小的采样区域，在每个采样区域中再现记录在其中的信息，故在记录质量差时，不能立即实施改善该记录质量的处理。为此，通过在记录信息之后再现信息，使用由再现信号的振幅信息得到的信息、和由双值化再现信号后的信号得到的错误信息或性能信息，判断再现信号的质量，通过由前者来变更记录功率条件，由后者来变更记录脉冲宽度条件或再现条件，可满足确保信息可靠性的性能。

Description

信息记录再现装置

技术领域

本发明涉及一种在信息记录媒体上进行记录再现的信息记录再现装置，尤其是涉及一种利用激光进行记录和再现的信息记录再现技术。

背景技术

以前，在可在光盘等光学记录媒体上进行信息记录再现的光学信息记录再现装置中，在数据区记录信息后，再现记录的部分信息，算出该再现信号的Beta值，在该Beta值不在允许范围内的情况下，向主机输出错误信息(例如特开平9-161272号公报(第4-6页、图1))。

但是，在上述现有技术的光学信息记录再现装置中，判断仅由再现信号振幅信息的Beta值确定的信息记录质量，在该Beta值不在允许范围内时，向主机输出错误信息。另外，信息的记录质量判断中，将记录信息的记录区域分割成规定大小的采样区域，在分割的每个采样区域中再现记录在其中的信息，所以在记录质量差的情况下，存在不能立即实施改善该记录质量的处理的问题。另外，更不必谈及改善记录质量的处理。

发明内容

因此，鉴于上述现有技术的问题，本发明的目的在于提供一种信息记录再现装置，通过在对数据区记录信息之后再现信息，使用由再现信号的振幅信息得到的信息、和由双值化再现信号后的信号得到的错误信息或性能信息这两个信息，判断再现信号的质量，通过由前者的信息来变更记录功率条件，由后者的信息来变更记录脉冲宽度条件，可满足确保信息可靠性的记录质量。

根据本发明，为了实现上述目的，在信息记录再现装置的控制器中，具备检测再现信号的振幅信息的装置、和检测由双值化再现信号后的信号得到的错误信息或性能信息的装置，其中，使用由再现信号的振幅信息得到的信息、和由双值化再现信号后的信号得到的错误信息或性能信息这两个信息，判断再现信号的质量，在两个信息为良好状态的情况下，不变更记录条件。另外，通过根据上述两个信息的前者信息来变更记录功率条件，根据后者的信息来变更记录脉冲宽度条件，可确保信息的可靠性。

附图说明

图1是表示本发明的光学信息记录再现装置结构的框图。

图2是表示记录功率变动引起再现信号变化的图。

图3是表示本发明中检测再现信号振幅电平用电路结构的框图。

图4是表示本发明的Beta值与PI错误相对记录功率的关系的图。

图5是就本发明的Beta值与PI错误相对记录功率的关系而言再现性能低下情况的图。

图6是表示本发明的处理流程的框图。

具体实施方式

下面，参照附图来详细说明本发明的实施方式。首先，图1表示构成本发明一实施方式的光学信息记录再现装置的结构，在该图中，1表示半导体激光器，2表示将来自半导体激光器的光变换为平行光的准直透镜，4表示会聚至盘的激光来形成光斑的物镜，3表示棱镜，5表示作为记录媒体的包含DVD盘的光盘，6表示控制形成于上述记录媒体5上的光斑形状和位置的致动器，7、8表示光检测器，9表示前置放大器，10表示再现电路，11表示PLL电路，12表示识别电路，13表示高频叠加电路，14表示激光驱动器，15表示记录脉冲生成电路，16表示频率合成器，17表示功率监视电路，18表示伺服驱动电路，19表示控制器。

如此构成的光学信息记录再现装置基本上由以半导体激光器1为中心的光头和存储信息的记录媒体5、以记录脉冲生成电路15为中心的记录处理系统、和另一方面以将从上述光头得到的再现信号变换为信息的再现电路10为中心的再现处理系统构成。另外，从图中还可知，存储信息的记录媒体5由记录膜和保持记录膜的基板构成。

另外，来自上位主机的命令或信息数据在控制器19中进行命令的解码或记录数据的调制，变换为对应于采用的调制方式的代码串。另外，频率合成器16是产生装置整体的基准时钟的振荡器，在采用对每个区改变基准时钟并设内外周的记录密度大致一定的称为ZCAV(Zoned Constant Angular Velocity)的记录方法作为大容量化方案的情况下，频率合成器16的振荡频率也可对应于区来变化。另外，在采用使记录媒体5旋转的主轴电机(未图示)的转数变化、并设内外周的线速度大致一定的称为ZCLV(Zoned Constant Liner Velocity)的记录方法的情况下，固定频率合成器16的振荡频率。

另外，控制实现信息记录/再现用光斑的形状及位置的伺服机构(聚焦伺服和跟踪伺服)由于例如通过配置在光检测器7前的圆柱透镜(未图示)和光检测器(4分割)7得到聚焦误差信号和跟踪误差信号，所以将该误差信号输入控制器19(未图示)，并且，通过从控制器19向伺服驱动电路18输出伺服信号，向致动器6提供驱动电流，移动物镜4，从而控制光斑的形状及位置。

另外，在记录信息的情况下，将对应于来自控制器19的标准信息数据的调制代码串和来自频率合成器16的基准时钟输入记录脉冲生成电路15，变换为控制记录标记长度或宽度用的记录脉冲列。

接着，将上述记录脉冲生成电路15中变换的这些记录脉冲列首先输入激光驱动器14，由激光驱动器14提供的记录电流来使半导体激光器1高输出振荡。从半导体激光器1发出的光首先由准直透镜2变为平行光后，通过棱镜3，并且由物镜4收敛于记录媒体5上，从而，记录对应于上述记录脉冲列的代码串的记录标记。

另外，为了降低半导体激光器1引起的激光器噪声，设置高频叠加电路13，该高频叠加电路13在信息记录/删除时或改写时，从激光器寿命的观点来看，可停止高频叠加。

另一方面，在本发明的光学信息记录装置中，在再现上述记录的信息时，使上述半导体激光器1低输出振荡，使该振荡光入射到记录媒体5。来自记录媒体5的反射光通过准直透镜3分离光路，入射到光检测器7中。在由光检测器7光电变换入射的光后，由前置放大器9进行放大，并输入再现电路10。再现电路10由例如波形均衡电路、自动增益控制电路、双值化电路等构成，由此，将输入的再现信号变为双值化信号。另外，再现电路10如图3所示，还包含检测再现信号的振幅电平用的波峰、中心及波谷检测电路等。

因此，从上述再现电路10输出的双值化信号随后为了自同步而输入PLL(锁相环：Phase Locked Loop)电路11。为了识别数据，将由该PLL电路得到的与双值化信号同步的再现时钟和上述双值化信号输入识别电路12，将作为识别结果的数据识别信号输入控制器19，由此来解调数据。

下面，用图2来说明记录功率变动引起的再现信号变化。图2(A)表示低功率记录时得到的再现信号，图2(B)表示适当功率记录时得到的再现信号，图2(C)表示高功率记录时得到的再现信号。再现信号的振幅变化是容易判断、由长标志与短标志的组合得到的再现信号的一例。标志部分在附图上图示成下侧，间隙部分图示为上侧。长间隙部分为再现信号的波峰电平，长标志部分为再现信号的波谷电平，再现信号的标志与间隙的平均电平为中心电平。该中心电平为短标志与间隙振幅电平的基本中心位置。可由上述3个电平如下求出Beta值。

Beta＝(A1+A2)/(A1-A2) 式(1)

A1＝波峰电平-中心电平

A2＝波谷电平-中心电平

从而，由波峰电平、中心电平、波谷电平3个电平来算出Beta值，可知根据Beta值对记录功率的关系可控制记录功率。

下面，用图3来说明再现电路10中包含的检测再现信号振幅电平用的电路结构。在再现电路10的内部，从前置放大器9输出的再现信号与数据识别不同地分支，输入包络线检波电路20，由波峰检波电路21、波谷检波电路22及中心检波电路24来检测再现信号的波峰电平、波谷电平和中心电平。波峰检波电路21检测图2所示长间隙部分(附图上侧)的振幅电平，波谷检波电路22检测图2所示长标志部分(附图下侧)的振幅电平，中心检波电路24检测图2所示短标志与间隙振幅电平的基本中心位置电平。

这里，选通信号发生电路23接受来自控制器19的指令，在记录之后的再现动作时，为了检测再现信号的波峰电平、中心电平、波谷电平，控制波峰检波电路21、波谷检波电路22、中心检波电路24和AD变换器25。AD变换提供给AD变换器25的波峰电平、中心电平、波谷电平的同时，将变换后的振幅数据存储在控制器19中。控制器19使用上述存储数据，进行式(1)的运算，可算出Beta值。

接着，用图4来说明Beta值和PI(Parity of Inner-code)错误对记录功率的关系。PI是用于DVD-ROM/RAM/R/RW等中的一个错误信息。横轴表示记录功率，纵轴表示Beta值和PI错误数。记录功率100％是事先最佳化的记录功率。另外，就记录功率100％而言，记录脉冲宽度也最佳化。在该状态下，作为再现信号振幅信息的Beta值的实测值约为7％，由双值化再现信号的信号得到的错误信息(PI错误数)为零。该PI错误数变大，则信息的可靠下降。实际上，可通过错误订正等处理来确保信息的可靠性，直到一定程度的PI错误数。PI错误数最大为208，必需至少100以下左右的性能。但是，若考虑由其它信息记录再现装置再现记录信息的余量(考虑互换性的确保)，则必需尽可能提高记录质量。对于最佳化的记录功率100％，若降低记录功率，则Beta值下降，同时，PI错误数从记录功率80％附近开始急剧增加。另外，若记录功率变大，则Beta值增加，同时，PI错误数从记录功率120％附近开始也增加。因此，在Beta值约为7％附近，得到最佳记录功率，同时，PI错误数基本为零，可确保信息的可靠性。另外，如图所示，相对记录功率的Beta值可直线近似。

接着，用图5来说明再现性能下降时Beta值与PI错误的关系。图5是对图4的值(最佳化AF偏移值)施加约0.56微米的作为再现性能之一的AF偏移后再现图4得到的记录标记的结果。纵轴和横轴与图4一样。对作为最佳记录功率的100％而言，虽然PI错误数超过60，但Beta值约为7％附近。就记录功率小于80％而言，PI错误数急剧增加(100以上)，不能确保信息的可靠性。另外，就记录功率大于110％而言，PI错误数也急剧增加(100以上)，不能确保信息的可靠性。由图5来说明再现性能下降的情况，但对于再现性能没问题的状态、例如图4的再现状态，在未修正记录脉冲宽度的情况下，得到图5说明的同样特性。若最佳化记录功率，则可得到再现信号的振幅没问题的性能。但是，因为未修正记录脉冲宽度，所以记录标记长度或间隙长度偏离规定长度大，所以PI错误数即使在最佳记录功率下也变大。并且，若记录功率偏离最佳记录功率，则PI错误数也急剧增加(100以上)，不能确保信息的可靠性。

如上所述，在图5中，说明了再现性能下降的情况和未修正记录脉冲宽度的情况下同样的Beta值和PI错误的关系。因此，在修正记录脉冲宽度的情况下，必需改善再现性能。另外，在未修正记录脉冲宽度的情况下，必需修正记录脉冲宽度。

下面，用图6来说明本发明的处理流程。首先，说明未实施作为记录条件的记录功率和记录脉冲宽度学习的情况。若在101中插入盘，是设定作为初始设定102的旋转控制、AF偏移、TR偏移及初始记录条件，开始动作。所谓初始的记录条件，是读取事先记录在记录媒体中的信息(控制器数据等)，由控制器19对激光驱动器14、记录脉冲生成电路15及频率合成器16设定记录条件，作为初始条件。在103中，移动到目标轨道，实施数据记录104。在再现记录后的数据情况下，实施105的数据再现。接着，在106中检测Beta值和PI错误数。在Beta值和PI错误数超过规定值的情况下，在107中实施记录条件或再现条件的变更。这里，对应于Beta值和PI错误数来执行以下处理。

不进行记录条件学习的情况下，

(1)在Beta值为规定值、PI错误数超过规定值的情况下，执行记录脉冲宽度的学习。

(2)在PI错误数为规定值、Beta值超过规定值的情况下，执行记录功率的学习。

(3)在Beta值和PI错误数都超过规定值的情况下，执行记录功率和脉冲宽度的学习。

在进行记录条件学习的情况下，

(4)在Beta值为规定值、PI错误数超过规定值的情况下，执行再现条件的学习。

(5)在PI错误数为规定值、Beta值超过规定值的情况下，执行记录功率的学习。

(6)在Beta值和PI错误数都超过规定值的情况下，执行记录功率和再现条件的学习。

如上所述，重复处理，使Beta值和PI错误数变为规定范围。这里，记录功率的学习在于求出记录功率与Beta值的关系。通过求出图4所示记录功率与Beta值的直线近似，可根据控制数据得到设为目标的Beta值，所以可根据直线近似来求出成为目标Beta值的记录功率。通过在记录媒体的盘区等中实施1次该动作，之后，使用求出的直线近似，由控制器19根据检测到的Beta值算出最佳记录功率，可求出最佳记录功率。

接着，若Beta值和PI错误数变为规定范围，则移动到108的数据再现流程，但若不进行数据再现，则变为处理结束111。在进行数据再现的情况下，在108中再现数据，若正常读取再现数据，则原样变为处理结束111。而在未正常读取的情况下，如110所示，在检查Beta值和PI错误数的同时，变更再现条件，再次进行再现动作。这里，所谓再现条件的变更，说明设定图5所示AF偏移异常值的情况，但不仅AF偏移，例如即使变更波形均衡条件也无妨。另外，在图6中，说明在插入盘时不实施记录学习的情况，但在插入盘时实施记录学习的情况下，也可实施上述④-⑥的动作。尤其是，若从插入盘开始实施1次记录脉冲宽度的学习，则之后不必实施。另外，在再次插入盘的情况或记录再现装置的性能变化的情况下，为了确保信息的可靠性，最好再次实施记录脉冲宽度的学习。

如上所述，在检测Beta值和PI错误数，并使用两个判断指标来变更记录条件或再现条件的情况下，期望对每个记录数据的最小单位执行，但即使在环境温度(内置于控制器19中的温度传感器或未图示的温度传感器)变化大的情况下，或根据来自不断监视记录功率的功率监视电路17的信息，检测Beta值和PI错误数，设定最佳记录条件或再现条件，也可确保信息的可靠性。

根据本发明，使用模拟信息(再现信号振幅等)和数字信息(PI错误等)两个信息，判断记录信息的可靠性，通过组合上述两个信息来变更记录条件或再现条件，可满足确保信息可靠性的性能。

Claims

1、一种信息记录再现装置，通过向信息记录媒体照射振荡激光，在该信息记录媒体上的数据区中形成物理上与未记录信息部分不同的记录区域，从而可在所述信息记录媒体上进行信息的记录、再现或删除，其特征在于：

具备检测再现信号的振幅信息的装置、和检测由双值化再现信号后的信号得到的错误信息或性能信息的装置，

使用根据再现信号的振幅信息得到的信息、和由双值化再现信号后的信号得到的错误信息或性能信息这两个信息，判断再现信号的质量，变更记录条件或再现条件。

2、根据权利要求1所述的信息记录再现装置，其特征在于：

对记录条件变更而言，根据由再现信号的振幅信息得到的信息来变更记录功率，根据由双值化再现信号后的信号得到的错误信息或性能信息来变更记录脉冲宽度。

3、根据权利要求1所述的信息记录再现装置，其特征在于：

对再现条件变更而言，在由再现信号的振幅信息得到的信息变为规定值的情况下，根据由双值化再现信号后的信号得到的错误信息或性能信息来变更再现条件。

4、根据权利要求3所述的信息记录再现装置，其特征在于：

所述再现条件是AF偏移或波形均衡条件。

5、一种信息记录再现装置，通过向信息记录媒体照射振荡激光，在该信息记录媒体上的记录区中形成物理上与未记录信息部分不同的记录区域，从而可在所述信息记录媒体上进行信息的记录、再现或删除，其特征在于：

具备检测再现信号的振幅信息的装置、和检测由双值化再现信号的信号得到的错误信息或性能信息的装置，

使用根据再现信号的振幅信息得到的信息、和根据双值化再现信号后的信号得到的错误信息或性能信息这两个信息，判断再现信号的质量，变更记录条件，在记录正式信息之前，检测再现信号对记录功率的振幅变化信息，在记录再现正式信息时，在根据双值化再现信号后的信号得到的错误信息或性能信息良好状态下，检测再现信号的振幅信息，根据再现信号对所述记录功率的振幅变化信息，算出最佳记录功率后进行记录。

6、一种信息记录再现装置，通过向信息记录媒体照射振荡激光，在该信息记录媒体上的记录区中形成物理上与未记录信息部分不同的记录区域，从而可在所述信息记录媒体上进行信息的记录、再现或删除，其特征在于：

具备检测再现信号的振幅信息的装置、检测由双值化再现信号的信号得到的错误信息或性能信息的装置、和检测激光输出的装置，

使用由再现信号的振幅信息得到的信息、和由双值化再现信号后的信号得到的错误信息或性能信息这两个信息，判断再现信号的质量，变更记录条件，在记录正式信息之前，检测再现信号对记录功率的振幅变化信息，在记录再现正式信息时，在由双值化再现信号后的信号得到的错误信息或性能信息良好状态下，根据由检测激光输出的检测部得到的信息，变更记录功率，在变更所述记录功率之前，检测再现信号的振幅信息，根据再现信号对所述记录功率的振幅变化信息，算出最佳记录功率后进行记录。