JP2000094744A - 画像形成装置並びにそのレーザ駆動電流制御方法及び判定方法 - Google Patents
画像形成装置並びにそのレーザ駆動電流制御方法及び判定方法Info
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- JP2000094744A JP2000094744A JP10271582A JP27158298A JP2000094744A JP 2000094744 A JP2000094744 A JP 2000094744A JP 10271582 A JP10271582 A JP 10271582A JP 27158298 A JP27158298 A JP 27158298A JP 2000094744 A JP2000094744 A JP 2000094744A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 レーザの立ち上がり特性による画質劣化を極
力抑え、特にハイライト再現性や細線再現性を悪化させ
ることなく高速の画像形成を実現することを目的とす
る。 【解決手段】 レーザ立ち上がり特性の影響を受けにく
い画像パターンと、レーザ立ち上がり特性の影響を受け
やすい画像パターンを形成し、形成された画像パターン
をそれぞれ測定し、それぞれの測定結果に応じて非レー
ザ発光時に供給される電流を調整する。
力抑え、特にハイライト再現性や細線再現性を悪化させ
ることなく高速の画像形成を実現することを目的とす
る。 【解決手段】 レーザ立ち上がり特性の影響を受けにく
い画像パターンと、レーザ立ち上がり特性の影響を受け
やすい画像パターンを形成し、形成された画像パターン
をそれぞれ測定し、それぞれの測定結果に応じて非レー
ザ発光時に供給される電流を調整する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、帯電潜像を用いる
電子写真方式の画像形成装置に関する。
電子写真方式の画像形成装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】複写機、プリンター等の電子写真技術を
用いデジタル式の画像形成装置では、コロナ放電等を利
用した帯電装置により均一に帯電された感光体表面の感
光層に、原稿に対する光をレーザ等の光源によって照射
することにより静電潜像が形成される。最近では半導体
レーザを光源として用いたものが多い。潜像過程では、
レーザ光はまずレンズによってコリメートされ、コリメ
ートされたレーザ光は回転する多角形のミラー（以下ポ
リゴンミラーと称す）に照射され、ポリゴンミラーの回
転によってレーザ光が感光体表面を感光体軸方向に走査
する。このように形成された静電潜像に現像装置でトナ
ーを付着させることにより、感光体上の潜像が顕像化さ
れ、転写装置によりそのトナー画像がシート材に転写さ
れる。シート材に転写されたトナー画像は定着装置で加
熱・加圧定着される。転写装置を経た感光体は、シート
材に転写されなかったトナーをクリーニング装置にて取
り除いた後、前露光装置にて光を照射することによっ
て、感光体上の静電潜像を除去する。
用いデジタル式の画像形成装置では、コロナ放電等を利
用した帯電装置により均一に帯電された感光体表面の感
光層に、原稿に対する光をレーザ等の光源によって照射
することにより静電潜像が形成される。最近では半導体
レーザを光源として用いたものが多い。潜像過程では、
レーザ光はまずレンズによってコリメートされ、コリメ
ートされたレーザ光は回転する多角形のミラー（以下ポ
リゴンミラーと称す）に照射され、ポリゴンミラーの回
転によってレーザ光が感光体表面を感光体軸方向に走査
する。このように形成された静電潜像に現像装置でトナ
ーを付着させることにより、感光体上の潜像が顕像化さ
れ、転写装置によりそのトナー画像がシート材に転写さ
れる。シート材に転写されたトナー画像は定着装置で加
熱・加圧定着される。転写装置を経た感光体は、シート
材に転写されなかったトナーをクリーニング装置にて取
り除いた後、前露光装置にて光を照射することによっ
て、感光体上の静電潜像を除去する。
【０００３】このようなレーザ光を用いたデジタル式画
像形成装置では、近年のポリゴンミラー回転の高速化や
マルチビームレーザ等の採用によって、装置自体のプロ
セススピードの高速化が図られてきた。このようなプロ
セススピードの高速化は当然レーザの立ち上がり速度
（スイッチング応答速度）の高速化も必要とする。レー
ザの立ち上がり速度が十分でないと、例えば２値プリン
タ装置においてハイライト部にがさつきを生じる、細線
がしっかりと再現されない等の不具合が生じる。このよ
うな不具合を解消するため、レーザにレーザ駆動回路か
ら常にある量の直流電流を印加し、発光時（レーザＯ
Ｎ）の立ち上がりを改善しているものがある。
像形成装置では、近年のポリゴンミラー回転の高速化や
マルチビームレーザ等の採用によって、装置自体のプロ
セススピードの高速化が図られてきた。このようなプロ
セススピードの高速化は当然レーザの立ち上がり速度
（スイッチング応答速度）の高速化も必要とする。レー
ザの立ち上がり速度が十分でないと、例えば２値プリン
タ装置においてハイライト部にがさつきを生じる、細線
がしっかりと再現されない等の不具合が生じる。このよ
うな不具合を解消するため、レーザにレーザ駆動回路か
ら常にある量の直流電流を印加し、発光時（レーザＯ
Ｎ）の立ち上がりを改善しているものがある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来例では、以下のような欠点があった。
ような従来例では、以下のような欠点があった。
【０００５】一般に、感光体表面の電位は、反転現像系
において「べた白部」に相当する部分と「べた黒部」に
相当する部分での電位の違いすなわち暗電位と明電位の
差を、現像性を高めるためできる限り大きく取るのが普
通である。そのため、特に帯電能の比較的低いアモルフ
ァスシリコンを主材とした感光体を用いた装置などでは
べた白部に相当する部分はできる限り露光せず、すなわ
ちレーザ発光量をできるだけ押さえるためレーザ共振発
光を始める閾値を下回る電流値に抑えることが望まし
い。しかしレーザ特性やレーザへ供給する電流を制御す
るレーザ駆動回路にばらつきがあり、レーザ電流値をひ
とつの値に決定してしまうと、ある装置ではべた白部に
おいてもレーザ発光してしまい、ある装置ではレーザの
立ち上がり速度が遅くなってしまう。これらはひいては
プリンタ特性のばらつきを招く。かといってレーザ一つ
一つの特性およびレーザ駆動回路のばらつきを全て測定
して電流値を調整することは、コストアップ及び製造時
間の増大につながる。
において「べた白部」に相当する部分と「べた黒部」に
相当する部分での電位の違いすなわち暗電位と明電位の
差を、現像性を高めるためできる限り大きく取るのが普
通である。そのため、特に帯電能の比較的低いアモルフ
ァスシリコンを主材とした感光体を用いた装置などでは
べた白部に相当する部分はできる限り露光せず、すなわ
ちレーザ発光量をできるだけ押さえるためレーザ共振発
光を始める閾値を下回る電流値に抑えることが望まし
い。しかしレーザ特性やレーザへ供給する電流を制御す
るレーザ駆動回路にばらつきがあり、レーザ電流値をひ
とつの値に決定してしまうと、ある装置ではべた白部に
おいてもレーザ発光してしまい、ある装置ではレーザの
立ち上がり速度が遅くなってしまう。これらはひいては
プリンタ特性のばらつきを招く。かといってレーザ一つ
一つの特性およびレーザ駆動回路のばらつきを全て測定
して電流値を調整することは、コストアップ及び製造時
間の増大につながる。
【０００６】本発明は上記のような課題を解決するため
になされたものであり、レーザの立ち上がり特性による
画質劣化を極力抑え、特にハイライト再現性や細線再現
性を悪化させることなく高速の画像形成を実現すること
を目的とする。
になされたものであり、レーザの立ち上がり特性による
画質劣化を極力抑え、特にハイライト再現性や細線再現
性を悪化させることなく高速の画像形成を実現すること
を目的とする。
【０００７】また、非レーザ発光時に供給される駆動電
流が、レーザの立ち上がり特性に起因した画質劣化を招
く程度のものであるか否かを判定することを目的とす
る。
流が、レーザの立ち上がり特性に起因した画質劣化を招
く程度のものであるか否かを判定することを目的とす
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明のレーザ駆動電流
制御方法は、画像情報に応じてレーザを変調することに
より感光体上に静電潜像を形成するレーザ変調手段と、
レーザ発光時及び非レーザ発光時の各々に対応する電流
を前記レーザに供給する供給手段を有する画像形成装置
のレーザ駆動電流制御方法であって、前記レーザを用い
て、レーザ立ち上がり特性の影響を受けにくい画像パタ
ーンを形成する第１形成ステップと、前記レーザを用い
て、レーザ立ち上がり特性の影響を受けやすい画像パタ
ーンを形成する第２形成ステップと、前記第１形成ステ
ップ及び前記第２形成ステップにより形成された画像パ
ターンをそれぞれ測定する測定ステップと、前記測定ス
テップにおいて測定されたそれぞれの測定結果に応じ
て、非レーザ発光時に供給される電流を調整する調整ス
テップを有することを特徴とする。
制御方法は、画像情報に応じてレーザを変調することに
より感光体上に静電潜像を形成するレーザ変調手段と、
レーザ発光時及び非レーザ発光時の各々に対応する電流
を前記レーザに供給する供給手段を有する画像形成装置
のレーザ駆動電流制御方法であって、前記レーザを用い
て、レーザ立ち上がり特性の影響を受けにくい画像パタ
ーンを形成する第１形成ステップと、前記レーザを用い
て、レーザ立ち上がり特性の影響を受けやすい画像パタ
ーンを形成する第２形成ステップと、前記第１形成ステ
ップ及び前記第２形成ステップにより形成された画像パ
ターンをそれぞれ測定する測定ステップと、前記測定ス
テップにおいて測定されたそれぞれの測定結果に応じ
て、非レーザ発光時に供給される電流を調整する調整ス
テップを有することを特徴とする。
【０００９】また、本発明のレーザ駆動電流判定方法
は、画像情報に応じてレーザを変調することにより感光
体上に静電潜像を形成するレーザ変調手段と、レーザ発
光時及び非レーザ発光時の各々に対応する電流を前記レ
ーザに供給する供給手段を有する画像形成装置のレーザ
駆動電流判定方法であって、前記レーザを用いて、レー
ザ立ち上がり特性の影響を受けにくい画像パターンを形
成する第１形成ステップと、前記レーザを用いて、レー
ザ立ち上がり特性の影響を受けやすい画像パターンを形
成する第２形成ステップと、前記第１形成ステップ及び
前記第２形成ステップにより形成された画像パターンを
それぞれ測定する測定ステップと、前記測定ステップに
おいて測定されたそれぞれの測定結果に応じて、非レー
ザ発光時に供給される電流が適当であるか否かを判断す
る判断ステップを有することを特徴とする。
は、画像情報に応じてレーザを変調することにより感光
体上に静電潜像を形成するレーザ変調手段と、レーザ発
光時及び非レーザ発光時の各々に対応する電流を前記レ
ーザに供給する供給手段を有する画像形成装置のレーザ
駆動電流判定方法であって、前記レーザを用いて、レー
ザ立ち上がり特性の影響を受けにくい画像パターンを形
成する第１形成ステップと、前記レーザを用いて、レー
ザ立ち上がり特性の影響を受けやすい画像パターンを形
成する第２形成ステップと、前記第１形成ステップ及び
前記第２形成ステップにより形成された画像パターンを
それぞれ測定する測定ステップと、前記測定ステップに
おいて測定されたそれぞれの測定結果に応じて、非レー
ザ発光時に供給される電流が適当であるか否かを判断す
る判断ステップを有することを特徴とする。
【００１０】本発明の画像形成装置は、感光体と、画像
情報に応じてレーザを変調することにより前記感光体上
に静電潜像を形成するレーザ変調手段と、レーザ発光時
及び非レーザ発光時の各々に対応する電流を前記レーザ
に供給する供給手段を有する画像形成装置であって、前
記レーザによりレーザ立ち上がり特性の影響を受けにく
い画像パターンを形成する第１形成手段と、前記レーザ
によりレーザ立ち上がり特性の影響を受けやすい画像パ
ターンを形成する第２形成手段と、前記第１形成手段及
び前記第２形成手段により形成された画像パターンをそ
れぞれ測定する測定手段と、前記測定手段により測定さ
れたそれぞれの測定結果に応じて、非レーザ発光時に供
給される電流を調整する調整手段を有することを特徴と
する。
情報に応じてレーザを変調することにより前記感光体上
に静電潜像を形成するレーザ変調手段と、レーザ発光時
及び非レーザ発光時の各々に対応する電流を前記レーザ
に供給する供給手段を有する画像形成装置であって、前
記レーザによりレーザ立ち上がり特性の影響を受けにく
い画像パターンを形成する第１形成手段と、前記レーザ
によりレーザ立ち上がり特性の影響を受けやすい画像パ
ターンを形成する第２形成手段と、前記第１形成手段及
び前記第２形成手段により形成された画像パターンをそ
れぞれ測定する測定手段と、前記測定手段により測定さ
れたそれぞれの測定結果に応じて、非レーザ発光時に供
給される電流を調整する調整手段を有することを特徴と
する。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施例を詳細に説明する。
施例を詳細に説明する。
【００１２】図１は本発明の実施例の画像形成装置の要
部の構成を示す。図１において、１は図面上時計回りに
１秒間３００ｍｍの周速で回転駆動するドラム上のアモ
ルファスシリコンを主材とした感光体であり、２は感光
体表面を帯電する一次帯電装置である。３は不図示の画
像処理装置にて誤差拡散処理によって解像度６００ＤＰ
Ｉで二値化された画像情報に応じて変調されるレーザ光
を、半導体レーザ３１より照射するための電流を供給し
て制御するレーザ駆動回路である。半導体レーザ３１か
ら発された光は不図示のポリゴンミラーによって感光体
表面を感光体軸方向に走査する。半導体レーザ３１によ
り露光された部分に現像装置４でトナーを付着させるこ
とにより潜像が顕像化され、転写・分離装置５によりそ
のトナー画像がシート材に転写される。シート材に転写
されたトナー画像は定着装置８で加熱・加圧定着され
る。６は感光体上の未転写トナーを回収するクリーニン
グ装置であり、残った感光体上の静電潜像は、前露光装
置７にて光を照射することによって除去される。９は現
像装置位置近傍での感光体表面電位を検知する表面電位
センサーである。以下に述べる表面電位の数値は、全て
この表面電位センサー９が検知する値とする。また、半
導体レーザ３１によってまったく露光されないときの現
像装置位置近傍での感光体表面電位をＶｄ、べた黒部
（画像域）に相当する感光体表面電位すなわち半導体レ
ーザ３１を完全に発光させたときの電位をＶｌ、べた白
部（非画像域）に相当する感光体表面電位すなわち半導
体レーザ３１にべた黒部露光よりも低い電流が供給され
たときの電位をＶｗとする。この時の電流値をＩｄと以
下称す。なお本実施例の画像形成装置では、Ｖｗの目標
値を４００Ｖとし、Ｖｌの目標値を５０Ｖとした。
部の構成を示す。図１において、１は図面上時計回りに
１秒間３００ｍｍの周速で回転駆動するドラム上のアモ
ルファスシリコンを主材とした感光体であり、２は感光
体表面を帯電する一次帯電装置である。３は不図示の画
像処理装置にて誤差拡散処理によって解像度６００ＤＰ
Ｉで二値化された画像情報に応じて変調されるレーザ光
を、半導体レーザ３１より照射するための電流を供給し
て制御するレーザ駆動回路である。半導体レーザ３１か
ら発された光は不図示のポリゴンミラーによって感光体
表面を感光体軸方向に走査する。半導体レーザ３１によ
り露光された部分に現像装置４でトナーを付着させるこ
とにより潜像が顕像化され、転写・分離装置５によりそ
のトナー画像がシート材に転写される。シート材に転写
されたトナー画像は定着装置８で加熱・加圧定着され
る。６は感光体上の未転写トナーを回収するクリーニン
グ装置であり、残った感光体上の静電潜像は、前露光装
置７にて光を照射することによって除去される。９は現
像装置位置近傍での感光体表面電位を検知する表面電位
センサーである。以下に述べる表面電位の数値は、全て
この表面電位センサー９が検知する値とする。また、半
導体レーザ３１によってまったく露光されないときの現
像装置位置近傍での感光体表面電位をＶｄ、べた黒部
（画像域）に相当する感光体表面電位すなわち半導体レ
ーザ３１を完全に発光させたときの電位をＶｌ、べた白
部（非画像域）に相当する感光体表面電位すなわち半導
体レーザ３１にべた黒部露光よりも低い電流が供給され
たときの電位をＶｗとする。この時の電流値をＩｄと以
下称す。なお本実施例の画像形成装置では、Ｖｗの目標
値を４００Ｖとし、Ｖｌの目標値を５０Ｖとした。
【００１３】一般に、半導体レーザの電流−光強度特性
は図２に示すように、ある閾値Ｉｔｈから急激に変化す
る。すなわちＩｔｈ以上で電流値の増加に対しレーザ共
振し、レーザ光が発されるが、Ｉｔｈに満たない電流量
ではレーザ共振せず、発光しても励起された電子の結合
による発光のみである。図３はレーザを一画素分約１５
ｎｓだけ電流を流したとき、すなわちｔ０からｔ１まで
図２のＩｃだけ電流を流したときの光強度の立ち上がり
特性を模式的に示す。実線で示したものはＩｄを図２の
Ｉｂとしたときの、破線で示したものはＩｄ＝０からの
立ち上がり特性であり、ＩｄをＩｔｈに近いＩｂにして
おけばレーザ発光の立ち上がり応答が良くなることを示
している。図４は上記双方の場合のプリンタ特性を示し
たものであり、実線は図２のＩｄ＝Ｉｂだけ電流を流し
たときの電位をＶｗ＝４００Ｖとした場合、破線で示し
たものは電流値０の電位（すなわちＩｄ＝０）をＶｗ＝
４００Ｖ（＝Ｖｄ）とした場合である。なお、画像露光
は誤差拡散方式にて二値化されたパターン画像に対応す
る光を露光した。図４に示すように、レーザ立ち上がり
応答が悪いとき、プリンタ特性はプリントすべきドット
の再現性が悪くなるためハイライトの再現性が悪くな
り、また転写されたシート材上の実画像のハーフトーン
領域も比較的がさついて見えてしまう。また、Ｉｄが図
２のＩａ程度、すなわちＩｔｈよりはるかに低い電流値
であると、Ｉｄ＝０のときとほとんど変わらないという
結果を得た。すなわちあらかじめ非画像域にもＩｔｈに
極めて近い電流をＩｄとしておいた方がよい。しかしな
がら、レーザ特性やレーザへ供給する電流を制御するレ
ーザ駆動回路にはばらつきがあるためレーザ電流値をひ
とつの値に決定してしまうと、ある装置ではべた白部に
おいてレーザ発光してしまい、ある装置ではレーザの立
ち上がり速度が遅くなってしまう。これらは結局プリン
タ特性のばらつきを招く。かといってレーザ一つ一つの
立ち上がり特性を全てオシロスコープなどで波形を観察
しながら測定して電流値を調整することは、コストアッ
プ及び製造時間の増大につながる。
は図２に示すように、ある閾値Ｉｔｈから急激に変化す
る。すなわちＩｔｈ以上で電流値の増加に対しレーザ共
振し、レーザ光が発されるが、Ｉｔｈに満たない電流量
ではレーザ共振せず、発光しても励起された電子の結合
による発光のみである。図３はレーザを一画素分約１５
ｎｓだけ電流を流したとき、すなわちｔ０からｔ１まで
図２のＩｃだけ電流を流したときの光強度の立ち上がり
特性を模式的に示す。実線で示したものはＩｄを図２の
Ｉｂとしたときの、破線で示したものはＩｄ＝０からの
立ち上がり特性であり、ＩｄをＩｔｈに近いＩｂにして
おけばレーザ発光の立ち上がり応答が良くなることを示
している。図４は上記双方の場合のプリンタ特性を示し
たものであり、実線は図２のＩｄ＝Ｉｂだけ電流を流し
たときの電位をＶｗ＝４００Ｖとした場合、破線で示し
たものは電流値０の電位（すなわちＩｄ＝０）をＶｗ＝
４００Ｖ（＝Ｖｄ）とした場合である。なお、画像露光
は誤差拡散方式にて二値化されたパターン画像に対応す
る光を露光した。図４に示すように、レーザ立ち上がり
応答が悪いとき、プリンタ特性はプリントすべきドット
の再現性が悪くなるためハイライトの再現性が悪くな
り、また転写されたシート材上の実画像のハーフトーン
領域も比較的がさついて見えてしまう。また、Ｉｄが図
２のＩａ程度、すなわちＩｔｈよりはるかに低い電流値
であると、Ｉｄ＝０のときとほとんど変わらないという
結果を得た。すなわちあらかじめ非画像域にもＩｔｈに
極めて近い電流をＩｄとしておいた方がよい。しかしな
がら、レーザ特性やレーザへ供給する電流を制御するレ
ーザ駆動回路にはばらつきがあるためレーザ電流値をひ
とつの値に決定してしまうと、ある装置ではべた白部に
おいてレーザ発光してしまい、ある装置ではレーザの立
ち上がり速度が遅くなってしまう。これらは結局プリン
タ特性のばらつきを招く。かといってレーザ一つ一つの
立ち上がり特性を全てオシロスコープなどで波形を観察
しながら測定して電流値を調整することは、コストアッ
プ及び製造時間の増大につながる。
【００１４】以下に実施例のレーザ立ち上がり速度調整
方法を説明する。図５に露光量と露光後の感光体表面電
位の関係を示す。図中実線はＩｄ＝Ｉｂとしたときの電
位をＶｗ＝４００Ｖとした場合、破線で示したものはＩ
ｄ＝０の電位をＶｗ＝４００Ｖ（＝Ｖｄ）とした場合で
ある（ＶＬは共に５０Ｖ）。なお、画像露光は誤差拡散
方式にて二値化されたパターン画像に対応する光を露光
した。ここで、図中の黒点は、レーザ走査方向に１Ｌｉ
ｎｅ分露光、１Ｌｉｎｅ分非露光を繰り返したときの電
位を示す。１Ｌｉｎｅ分露光、１Ｌｉｎｅ分非露光は画
像比率で５０％であり、かつ露光時は１走査分連続して
露光するため、レーザの立ち上がりの影響はない。破線
の方はレーザ立ち上がりが遅いため、表面電位の低下量
も画像比率５０％前後の中間調領域で実線より少ない。
画像比率５０％のところで見ると、破線の示す電位は黒
点の示す電位より約５０Ｖ高いが、実線の示す電位は黒
点のそれより約１５Ｖ程度しか差がない。実験の結果、
本実施例の系ではこの黒点と画像比率５０％のときの電
位の差が約２５Ｖ以下ならば、プリンタ特性もハイライ
ト部で安定し、実画像上問題ないと判断された。本発明
ではこれをパラメータとし、図６に示したステップのよ
うにレーザに流す電流値Ｉｄの調整を行う。
方法を説明する。図５に露光量と露光後の感光体表面電
位の関係を示す。図中実線はＩｄ＝Ｉｂとしたときの電
位をＶｗ＝４００Ｖとした場合、破線で示したものはＩ
ｄ＝０の電位をＶｗ＝４００Ｖ（＝Ｖｄ）とした場合で
ある（ＶＬは共に５０Ｖ）。なお、画像露光は誤差拡散
方式にて二値化されたパターン画像に対応する光を露光
した。ここで、図中の黒点は、レーザ走査方向に１Ｌｉ
ｎｅ分露光、１Ｌｉｎｅ分非露光を繰り返したときの電
位を示す。１Ｌｉｎｅ分露光、１Ｌｉｎｅ分非露光は画
像比率で５０％であり、かつ露光時は１走査分連続して
露光するため、レーザの立ち上がりの影響はない。破線
の方はレーザ立ち上がりが遅いため、表面電位の低下量
も画像比率５０％前後の中間調領域で実線より少ない。
画像比率５０％のところで見ると、破線の示す電位は黒
点の示す電位より約５０Ｖ高いが、実線の示す電位は黒
点のそれより約１５Ｖ程度しか差がない。実験の結果、
本実施例の系ではこの黒点と画像比率５０％のときの電
位の差が約２５Ｖ以下ならば、プリンタ特性もハイライ
ト部で安定し、実画像上問題ないと判断された。本発明
ではこれをパラメータとし、図６に示したステップのよ
うにレーザに流す電流値Ｉｄの調整を行う。
【００１５】まず、ステップＳ１０１においてレーザの
典型的なＩｔｈの値より低めの値を、あらかじめ決めら
れた電流値Ｉｄｏとする。次にステップＳ１０２におい
てＩｄ＝ＩｄｏとしてＶｗとＶＬの電位制御を行う。本
実施例での実験では、Ｉｔｈの平均値が３５ｍＡ程度だ
ったので、Ｉｄｏを２５ｍＡとしたが、これは使用する
レーザタイプに応じて決定すればよい。一般にＶｗの制
御には一次帯電器２に流す電流やグリッドに印加する電
圧などを制御し、ＶＬの制御にはレーザ発光時のレーザ
供給電流量を制御したりするが、ここでは詳細な省く。
電位制御が終了したら、ステップＳ１０３においてレー
ザ走査方向に１Ｌｉｎｅ分露光、１Ｌｉｎｅ分非露光を
繰り返すことにより、図７に示すようにレーザ立ち上が
り特性の影響を受けないパターンの静電潜像を形成す
る。なお、図には説明のため黒ドットと白ドットで示し
たが、静電潜像は、実際目に見えないものであることは
言う迄もない。そしてこの静電潜像の電位Ｖ１ｌ１ｓを
測定する。次にステップＳ１０４において、画像比率５
０％となるような誤差拡散方式にて二値化されたパター
ンのようにレーザ立ち上がり特性の影響を受けやすい画
像パターンを潜像形成し、電位Ｖ５０を測定する。そし
てステップＳ１０５において（Ｖ５０−Ｖ１ｌ１ｓ）の
値が適当であるか、すなわち２５Ｖ以下であるかを判断
し、２５Ｖ以下であればステップＳ１０７でそのＩｄに
決定、そうでなければステップＳ１０６においてＩｄに
２．５ｍＡ加えてステップＳ１０２の電位制御からやり
直し、（Ｖ５０−Ｖ１ｌ１ｓ）の値が２５Ｖ以下になる
までこれを繰り返す。
典型的なＩｔｈの値より低めの値を、あらかじめ決めら
れた電流値Ｉｄｏとする。次にステップＳ１０２におい
てＩｄ＝ＩｄｏとしてＶｗとＶＬの電位制御を行う。本
実施例での実験では、Ｉｔｈの平均値が３５ｍＡ程度だ
ったので、Ｉｄｏを２５ｍＡとしたが、これは使用する
レーザタイプに応じて決定すればよい。一般にＶｗの制
御には一次帯電器２に流す電流やグリッドに印加する電
圧などを制御し、ＶＬの制御にはレーザ発光時のレーザ
供給電流量を制御したりするが、ここでは詳細な省く。
電位制御が終了したら、ステップＳ１０３においてレー
ザ走査方向に１Ｌｉｎｅ分露光、１Ｌｉｎｅ分非露光を
繰り返すことにより、図７に示すようにレーザ立ち上が
り特性の影響を受けないパターンの静電潜像を形成す
る。なお、図には説明のため黒ドットと白ドットで示し
たが、静電潜像は、実際目に見えないものであることは
言う迄もない。そしてこの静電潜像の電位Ｖ１ｌ１ｓを
測定する。次にステップＳ１０４において、画像比率５
０％となるような誤差拡散方式にて二値化されたパター
ンのようにレーザ立ち上がり特性の影響を受けやすい画
像パターンを潜像形成し、電位Ｖ５０を測定する。そし
てステップＳ１０５において（Ｖ５０−Ｖ１ｌ１ｓ）の
値が適当であるか、すなわち２５Ｖ以下であるかを判断
し、２５Ｖ以下であればステップＳ１０７でそのＩｄに
決定、そうでなければステップＳ１０６においてＩｄに
２．５ｍＡ加えてステップＳ１０２の電位制御からやり
直し、（Ｖ５０−Ｖ１ｌ１ｓ）の値が２５Ｖ以下になる
までこれを繰り返す。
【００１６】なお本実施例ではこの値を２５Ｖとした
が、これはプリンタ特性などから装置固有の値を設定す
ればよい。なお、上述の両画像パターンの発生、両電位
の測定結果の判断、及び調整の制御等は不図示の制御部
により実行される。また、本実施例では以上の工程を全
てマニュアル式に行ったが、Ｉｄの調整をプロセッサな
どで行えるようにして、自動化できればなおよい。
が、これはプリンタ特性などから装置固有の値を設定す
ればよい。なお、上述の両画像パターンの発生、両電位
の測定結果の判断、及び調整の制御等は不図示の制御部
により実行される。また、本実施例では以上の工程を全
てマニュアル式に行ったが、Ｉｄの調整をプロセッサな
どで行えるようにして、自動化できればなおよい。
【００１７】以上説明したように、レーザ立ち上がり特
性の影響を受けにくい画像パターンと、受けやすい画像
パターンをそれぞれ形成し、それぞれの表面電位を測定
し、Ｉｄを電位測定結果から調節することによってレー
ザの立ち上がり速度をばらつきなく調節することがで
き、ハイライト再現性の悪化や細線再現性の悪化等レー
ザ立ちあがり速度の低下に起因するプリンタ特性の劣化
を抑えることができた。
性の影響を受けにくい画像パターンと、受けやすい画像
パターンをそれぞれ形成し、それぞれの表面電位を測定
し、Ｉｄを電位測定結果から調節することによってレー
ザの立ち上がり速度をばらつきなく調節することがで
き、ハイライト再現性の悪化や細線再現性の悪化等レー
ザ立ちあがり速度の低下に起因するプリンタ特性の劣化
を抑えることができた。
【００１８】なお、本例ではレーザ走査方向に１Ｌｉｎ
ｅ分露光、１Ｌｉｎｅ分非露光を繰り返したときの電位
と画像比率５０％の誤差拡散パターンの電位を比較した
が、前者は例えば図９に示すようにレーザ走査方向に２
Ｌｉｎｅ分露光、２Ｌｉｎｅ分非露光を繰り返したもの
でも電位にレーザの立ち上がりの影響を受けにくいもの
なら良く、また後者も画像比率が５０％相当ならば、例
えば図１０に示すようにドットを市松模様状に配置した
ものでも、副走査方向の１Ｌｉｎｅ分露光、１Ｌｉｎｅ
分非露光の繰り返しでも、レーザの立ち上がりの影響を
受けやすい画像パターンならばよい。
ｅ分露光、１Ｌｉｎｅ分非露光を繰り返したときの電位
と画像比率５０％の誤差拡散パターンの電位を比較した
が、前者は例えば図９に示すようにレーザ走査方向に２
Ｌｉｎｅ分露光、２Ｌｉｎｅ分非露光を繰り返したもの
でも電位にレーザの立ち上がりの影響を受けにくいもの
なら良く、また後者も画像比率が５０％相当ならば、例
えば図１０に示すようにドットを市松模様状に配置した
ものでも、副走査方向の１Ｌｉｎｅ分露光、１Ｌｉｎｅ
分非露光の繰り返しでも、レーザの立ち上がりの影響を
受けやすい画像パターンならばよい。
【００１９】また、上述の２つの画像パターンはそれぞ
れ必ずしも画像比率５０％のものにする必要はなく、両
方の画像比率が等しければ、他の数値を用いてもよい。
例えば、有機感光体など露光量と感光体表面電位の関係
が本実施例と異なる場合は、レーザ走査方向１Ｌｉｎｅ
分露光、３Ｌｉｎｅ分非露光の繰り返しの電位と、副走
査方向の１Ｌｉｎｅ分露光、３Ｌｉｎｅ分非露光の繰り
返しの電位の差分などからＩｄを決定してもよい。
れ必ずしも画像比率５０％のものにする必要はなく、両
方の画像比率が等しければ、他の数値を用いてもよい。
例えば、有機感光体など露光量と感光体表面電位の関係
が本実施例と異なる場合は、レーザ走査方向１Ｌｉｎｅ
分露光、３Ｌｉｎｅ分非露光の繰り返しの電位と、副走
査方向の１Ｌｉｎｅ分露光、３Ｌｉｎｅ分非露光の繰り
返しの電位の差分などからＩｄを決定してもよい。
【００２０】また、静電潜像の形成結果の測定にあたっ
ては、現像前の感光体上の表面電位を測定する例につい
て説明したが、現像後の可視像の濃度を測定するもので
もよい。
ては、現像前の感光体上の表面電位を測定する例につい
て説明したが、現像後の可視像の濃度を測定するもので
もよい。
【００２１】また、以上の実施例においては、上述の２
つの画像パターンの測定結果に応じて非レーザ発光時の
駆動電流を調整する例について説明したが、これら測定
結果に応じて、非レーザ発光時に供給される電流が適当
であるか否かの判断し、この判断結果を、工場での品質
検査過程等における調整要否の判断や出荷是非の判断の
材料として用いてもよい。
つの画像パターンの測定結果に応じて非レーザ発光時の
駆動電流を調整する例について説明したが、これら測定
結果に応じて、非レーザ発光時に供給される電流が適当
であるか否かの判断し、この判断結果を、工場での品質
検査過程等における調整要否の判断や出荷是非の判断の
材料として用いてもよい。
【００２２】
【発明の効果】本発明によれば、画像情報に応じてレー
ザを変調することにより感光体上に静電潜像を形成する
レーザ変調手段と、レーザ発光時及び非レーザ発光時の
各々に対応する電流を前記レーザに供給する供給手段を
有する画像形成装置のレーザ駆動電流制御方法におい
て、前記レーザを用いて、レーザ立ち上がり特性の影響
を受けにくい画像パターンを形成する第１形成ステップ
と、前記レーザを用いて、レーザ立ち上がり特性の影響
を受けやすい画像パターンを形成する第２形成ステップ
と、前記第１形成ステップ及び前記第２形成ステップに
より形成された画像パターンをそれぞれ測定する測定ス
テップと、前記測定ステップにおいて測定されたそれぞ
れの測定結果に応じて、非レーザ発光時に供給される電
流を調整する調整ステップを備えることにより、レーザ
の立ち上がり特性による画質劣化を極力抑えることがで
き、特にハイライト再現性や細線再現性を悪化させるこ
となく高速の画像形成を実現するためのレーザ駆動電流
調整が可能となる。
ザを変調することにより感光体上に静電潜像を形成する
レーザ変調手段と、レーザ発光時及び非レーザ発光時の
各々に対応する電流を前記レーザに供給する供給手段を
有する画像形成装置のレーザ駆動電流制御方法におい
て、前記レーザを用いて、レーザ立ち上がり特性の影響
を受けにくい画像パターンを形成する第１形成ステップ
と、前記レーザを用いて、レーザ立ち上がり特性の影響
を受けやすい画像パターンを形成する第２形成ステップ
と、前記第１形成ステップ及び前記第２形成ステップに
より形成された画像パターンをそれぞれ測定する測定ス
テップと、前記測定ステップにおいて測定されたそれぞ
れの測定結果に応じて、非レーザ発光時に供給される電
流を調整する調整ステップを備えることにより、レーザ
の立ち上がり特性による画質劣化を極力抑えることがで
き、特にハイライト再現性や細線再現性を悪化させるこ
となく高速の画像形成を実現するためのレーザ駆動電流
調整が可能となる。
【００２３】また、画像情報に応じてレーザを変調する
ことにより感光体上に静電潜像を形成するレーザ変調手
段と、レーザ発光時及び非レーザ発光時の各々に対応す
る電流を前記レーザに供給する供給手段を有する画像形
成装置のレーザ駆動電流判定方法において、前記レーザ
を用いて、レーザ立ち上がり特性の影響を受けにくい画
像パターンを形成する第１形成ステップと、前記レーザ
を用いて、レーザ立ち上がり特性の影響を受けやすい画
像パターンを形成する第２形成ステップと、前記第１形
成ステップ及び前記第２形成ステップにより形成された
画像パターンをそれぞれ測定する測定ステップと、前記
測定ステップにおいて測定されたそれぞれの測定結果に
応じて、非レーザ発光時に供給される電流が適当である
か否かを判断する判断ステップを備えることにより、非
レーザ発光時に供給される駆動電流が、レーザの立ち上
がり特性に起因した画質劣化を招く程度のものであるか
否かを判定することが可能となる。
ことにより感光体上に静電潜像を形成するレーザ変調手
段と、レーザ発光時及び非レーザ発光時の各々に対応す
る電流を前記レーザに供給する供給手段を有する画像形
成装置のレーザ駆動電流判定方法において、前記レーザ
を用いて、レーザ立ち上がり特性の影響を受けにくい画
像パターンを形成する第１形成ステップと、前記レーザ
を用いて、レーザ立ち上がり特性の影響を受けやすい画
像パターンを形成する第２形成ステップと、前記第１形
成ステップ及び前記第２形成ステップにより形成された
画像パターンをそれぞれ測定する測定ステップと、前記
測定ステップにおいて測定されたそれぞれの測定結果に
応じて、非レーザ発光時に供給される電流が適当である
か否かを判断する判断ステップを備えることにより、非
レーザ発光時に供給される駆動電流が、レーザの立ち上
がり特性に起因した画質劣化を招く程度のものであるか
否かを判定することが可能となる。
【図１】本発明の第一の実施例の画像形成装置の要部の
構成を示す図である。
構成を示す図である。
【図２】半導体レーザにおける電流と光強度の典型的特
性を示す図である。
性を示す図である。
【図３】半導体レーザを１画素分発光させたときの時間
応答特性を示す図である。
応答特性を示す図である。
【図４】画像比率と濃度の特性（プリンタ特性）を示す
図である。
図である。
【図５】画像比率と感光体表面電位の関係を示す図であ
る。
る。
【図６】Ｉｄ調整方法を示す図である。
【図７】レーザの立ち上がり特性の影響を受けにくい画
像パターンの例を示す図である。
像パターンの例を示す図である。
【図８】レーザの立ち上がり特性の影響を受けやすい画
像パターンの例を示す図である。
像パターンの例を示す図である。
【図９】レーザの立ち上がり特性の影響を受けにくい画
像パターンの例を示す図である。
像パターンの例を示す図である。
【図１０】レーザの立ち上がり特性の影響を受けやすい
画像パターンの例を示す図である。
画像パターンの例を示す図である。
１ 感光体 ２ 一次帯電装置 ３ レーザ駆動回路 ４ 現像装置 ５ 転写・分離装置 ６ クリーニング装置 ７ 前露光装置 ８ 定着装置 ９ 表面電位センサー ３１ 半導体レーザ
Claims (6)
- 【請求項１】 画像情報に応じてレーザを変調すること
により感光体上に静電潜像を形成するレーザ変調手段
と、レーザ発光時及び非レーザ発光時の各々に対応する
電流を前記レーザに供給する供給手段を有する画像形成
装置のレーザ駆動電流制御方法であって、 前記レーザを用いて、レーザ立ち上がり特性の影響を受
けにくい画像パターンを形成する第１形成ステップと、 前記レーザを用いて、レーザ立ち上がり特性の影響を受
けやすい画像パターンを形成する第２形成ステップと、 前記第１形成ステップ及び前記第２形成ステップにより
形成された画像パターンをそれぞれ測定する測定ステッ
プと、 前記測定ステップにおいて測定されたそれぞれの測定結
果に応じて、非レーザ発光時に供給される電流を調整す
る調整ステップを有することを特徴とするレーザ駆動電
流制御方法。 - 【請求項２】 前記測定ステップは、感光体上の潜像の
電位を測定するものであることを特徴とする請求項１記
載のレーザ駆動電流制御方法。 - 【請求項３】 前記第２形成ステップにおいて形成され
る画像パターンは、レーザ走査方向に連続した線の繰り
返しであることを特徴とする請求項１記載のレーザ駆動
電流制御方法。 - 【請求項４】 画像情報に応じてレーザを変調すること
により感光体上に静電潜像を形成するレーザ変調手段
と、レーザ発光時及び非レーザ発光時の各々に対応する
電流を前記レーザに供給する供給手段を有する画像形成
装置のレーザ駆動電流判定方法であって、 前記レーザを用いて、レーザ立ち上がり特性の影響を受
けにくい画像パターンを形成する第１形成ステップと、 前記レーザを用いて、レーザ立ち上がり特性の影響を受
けやすい画像パターンを形成する第２形成ステップと、 前記第１形成ステップ及び前記第２形成ステップにより
形成された画像パターンをそれぞれ測定する測定ステッ
プと、 前記測定ステップにおいて測定されたそれぞれの測定結
果に応じて、非レーザ発光時に供給される電流が適当で
あるか否かを判断する判断ステップを有することを特徴
とするレーザ駆動電流判定方法。 - 【請求項５】 感光体と、 画像情報に応じてレーザを変調することにより前記感光
体上に静電潜像を形成するレーザ変調手段と、 レーザ発光時及び非レーザ発光時の各々に対応する電流
を前記レーザに供給する供給手段を有する画像形成装置
であって、 前記レーザによりレーザ立ち上がり特性の影響を受けに
くい画像パターンを形成する第１形成手段と、 前記レーザによりレーザ立ち上がり特性の影響を受けや
すい画像パターンを形成する第２形成手段と、 前記第１形成手段及び前記第２形成手段により形成され
た画像パターンをそれぞれ測定する測定手段と、 前記測定手段により測定されたそれぞれの測定結果に応
じて、非レーザ発光時に供給される電流を調整する調整
手段を有することを特徴とする画像形成装置。 - 【請求項６】 前記感光体はアモルファスシリコンを主
材とすることを特徴とする請求項５記載の画像形成装
置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10271582A JP2000094744A (ja) | 1998-09-25 | 1998-09-25 | 画像形成装置並びにそのレーザ駆動電流制御方法及び判定方法 |
| US09/391,517 US6204870B1 (en) | 1998-09-08 | 1999-09-08 | Image formation apparatus control by measurement of image patterns having different emission rising characteristics |
| US09/764,051 US6384856B2 (en) | 1998-09-08 | 2001-01-19 | Image formation apparatus correction system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10271582A JP2000094744A (ja) | 1998-09-25 | 1998-09-25 | 画像形成装置並びにそのレーザ駆動電流制御方法及び判定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000094744A true JP2000094744A (ja) | 2000-04-04 |
Family
ID=17502097
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10271582A Withdrawn JP2000094744A (ja) | 1998-09-08 | 1998-09-25 | 画像形成装置並びにそのレーザ駆動電流制御方法及び判定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000094744A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009229763A (ja) * | 2008-03-21 | 2009-10-08 | Noritsu Koki Co Ltd | 光量補正方法および画像形成装置 |
-
1998
- 1998-09-25 JP JP10271582A patent/JP2000094744A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009229763A (ja) * | 2008-03-21 | 2009-10-08 | Noritsu Koki Co Ltd | 光量補正方法および画像形成装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20060110 |