JP2000092817A - スナバ装置及び電力変換装置 - Google Patents

スナバ装置及び電力変換装置

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JP2000092817A
JP2000092817A JP10261731A JP26173198A JP2000092817A JP 2000092817 A JP2000092817 A JP 2000092817A JP 10261731 A JP10261731 A JP 10261731A JP 26173198 A JP26173198 A JP 26173198A JP 2000092817 A JP2000092817 A JP 2000092817A
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JP
Japan
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switch
snubber
voltage
snubber device
parallel
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JP10261731A
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English (en)
Inventor
Kimihiro Hoshi
公弘 星
Tsuneo Ogura
常雄 小倉
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】遮断電流が変化してもサージ電圧が一定とな
り、またそのサージ電圧値を選択できるスナバ装置を提
供すること。 【解決手段】スイッチ1のスイッチング時に発生するサ
ージ電圧を抑制するためのスナバ装置において、前記ス
イッチ1に並列に接続され、ゲート制御により非飽和領
域で動作するMOSゲート型半導体スイッチング素子9
を具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電力変換装置等に
おけるスイッチのスイッチング時に発生するサージ電圧
を抑制するためのスナバ装置に関し、特に、半導体デバ
イスを用いたスナバ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】スナバ装置は、電力変換装置に使用され
るスイッチがスイッチング動作する際に発生するサージ
電圧を抑制するために用いられている。かかるスナバ装
置としては、従来からコンデンサを主要な構成要素とす
るものが用いられていた。図15の(a )はクランプス
ナバ装置と称されるものであり、図15の(b)は充放
電スナバ装置と称されるものである。ここで1は電力変
換装置等を構成するスイッチで、例えばIGBTであ
る。2はスナバ用のコンデンサ、3はスナバ用のダイオ
ード、4はスナバ用の抵抗、5はフィルタコンデンサ、
6は配線インダクタンス、7はツェナーダイオードであ
る。
【0003】図15に示されるスナバ装置は、電流遮断
時、配線インダクタンスに貯えられたエネルギーをコン
デンサが吸収してサージ電圧を抑制するが、この動作は
毎スイッチング(電流遮断)毎に発生する。
【0004】かかる図15に示されるスイッチでは、遮
断電流の大きさに応じて発生するサージ電圧の大きさは
変化し、スイッチに設けられるスナバ装置も、その吸収
すべきサージ電圧は変化する。
【0005】一方、図16の(a )に示される直列接続
スナバ装置の場合は、特開平7−264028号公報に
開示されている図16の(b)に示すような保護回路も
存在するが、これらはスイッチ自身が過電圧保護の役割
を担っていたり、また一時的に発生する過電圧を抑制す
るものであって、スイッチのスイッチング毎に動作する
スナバ装置とは異なる。
【0006】図17にサージ電圧等の動作波形を示す。
図17に示すように、遮断電流が通常のi1である場合
は、サージ電圧がv1となり過電圧保護は動作しない。
しかし遮断電流が過電流iocの場合、図15の(a
)、図15の(b)のスナバ装置では、大きなサージ
電圧が発生するので、図17のツェナー電圧(Vzd)
に達して過電圧保護動作する。このように、一時的な過
電圧動作保護動作がなされる。以上のような過電圧保護
動作は、スイッチ毎に発生する現象である。
【0007】次にスイッチ単体ではなく、スイッチを並
列に接続した場合の過電圧保護動作を説明する。すなわ
ち、この場合は、各スイッチの特性が等しくないことが
あるので、各素子間で電流のアンバランスが発生する。
【0008】スイッチの中でも大きな電流を遮断する素
子のなかには、従来のスナバ装置を用いたのでは、大き
なサージ電圧が発生してしまう問題がある。またスイッ
チを直列に接続した場合は、電流遮断時に各スイッチに
発生するサージ電圧がアンバランスになり、一部のスイ
ッチに過大なサージ電圧が印加される問題がある。
【0009】さらにスイッチの直列接続回路にあって、
ターンオフ時のdv/dt耐量が大きいスイッチ、例え
ばIGBT、IEGT、ハードドライブGTOを用いた
場合は、クランプスナバ装置を単独では用いることがで
きるものの、直列接続構成のクランプスナバ装置がまだ
出現しないので、損失の大きい充放電スナバ装置を用い
ている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】従来のスナバ装置で
は、遮断電流の大きさによって発生するサージ電圧が変
化する。また、スナバ装置のコンデンサ、抵抗は、外形
が大きく、特に高圧になると、コンデンサは、外形は非
常に大きなものになり、また抵抗の冷却が難しくなる問
題がある。さらに、直列接続した場合、低損失スナバ装
置(すなわち直列接続用クランプスナバ装置)が存在し
ない。
【0011】また直列接続したスイッチの電流を遮断し
た時に発生するサージ電圧が、個々のスイッチに均一に
発生せず、一部のスイッチに過電圧が印加されて、該素
子を破壊する問題がある。
【0012】さらに、スイッチを直列や並列に接続する
場合、スイッチの特性によって、スイッチング時の電圧
バランスや電流バランスがアンバランスになる。よって
スイッチの直列接続や並列接続では、スイッチの特性を
揃える必要があり、スイッチの分留まりが悪くなり、価
格が高くなるなどの問題があった。
【0013】またスイッチのスイッチング時に、電圧の
アンバランスが発生すると、スイッチやスイッチおよび
周辺回路の付属した回路を標準化することが困難にな
り、電力変換装置を制作する毎にスイッチやスナバ装置
などを選別することになり価格が高いものになる。
【0014】本発明の一の目的は、遮断電流が変化して
もサージ電圧が一定となり、またそのサージ電圧値を選
択できるスナバ装置を提供することにある。本発明の他
の目的は、コンパクトなあるいは容量の大きい電力変換
装置を提供することにある。
【0015】本発明の他の目的は、低損失のスナバ装置
を提供することにある。本発明の他の目的は、スイッチ
を並列接続した場合または直列接続した場合、スイッチ
の特性に関係なく、電流を遮断した時に各スイッチに均
一にサージ電圧が印加されるスナバ装置を提供すること
にある。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明は、スイッチのス
イッチング時に発生するサージ電圧を抑制するためのス
ナバ装置において、前記スイッチに並列に接続され、ゲ
ート制御により非飽和領域で動作するMOSゲート型半
導体スイッチング素子を具備することを特徴とする。
【0017】また、前記MOSゲート型半導体スイッチ
ング素子は、コレクタとゲートとの間又はコレクタとエ
ミッタとの間に接続された電圧判定回路を具備すること
を特徴とする。
【0018】さらに、前記電圧判定回路の判定電圧値
は、前記スイッチの耐圧以下であることを特徴とする。
また、前記スイッチに並列に接続されたコンデンサを更
に具備する。
【0019】さらに前記スイッチと共に前記MOSゲー
ト型半導体スイッチング素子を、同一の冷却装置に取り
付けたことを特徴とする。また、前記スイッチ及び前記
MOSゲート型半導体スイッチング素子を、分離したパ
ッケージそれぞれに収納したことを特徴とする。
【0020】さらにスイッチに並列に接続され、ゲート
制御により非飽和領域で動作するMOSゲート型半導体
スイッチング素子を具備するスナバ装置を複数有し、該
複数のスナバ装置を前記スイッチに並列接続したことを
特徴とする。
【0021】また、スイッチに並列に接続され、ゲート
制御により非飽和領域で動作するMOSゲート型半導体
スイッチング素子を具備するスナバ装置を複数有し、該
複数のスナバ装置を前記スイッチに直列接続したことを
特徴とする。
【0022】さらにスイッチに並列に接続され、ゲート
制御により非飽和領域で動作するMOSゲート型半導体
スイッチング素子を具備するスナバ装置とコンデンサと
を含む回路を複数有し且つ該複数の回路を並列に接続
し、該並列接続した回路を複数有し且つ該複数の回路を
直列に接続したことを特徴とする。
【0023】また、前記スナバ装置に、複数のスイッチ
を直列に接続した回路を一括して接続したことを特徴と
する。さらに電力変換装置は、前記スナバ装置と、前記
スイッチを含む電力変換部とを具備する。
【0024】本発明では、スイッチに、MOSゲート型
半導体スイッチング素子から成るスナバ装置を並列に接
続することにより、スイッチで電流を遮断したときに発
生するサージ電圧をMOSゲート型半導体スイッチング
素子によりクランプすることができる。
【0025】
【発明の実施の形態】本発明に係るスナバ装置の一実施
形態を図面を参照して説明する。図1において、1はス
イッチの一例として電力スイッチ素子であり、例えばI
GBTである。9はMOSゲートスイッチであり、例え
ばIGBTであり、これがスナバ装置を構成する。
【0026】10は電圧判定回路である。図2において
電圧判定回路10の一例としてツェナーダイオード11
であり、電圧はツェナー電圧によって判定される。ここ
でツェナー電圧はスイッチ1の耐圧の70%程度に設定
しておき、回路電圧すなわちフィルタコンデンサ5の電
圧はIGBT1の約60%程度で使用する。
【0027】本実施形態の作用は、IGBT1がターン
オフすると、配線インダクタンス6によりサージ電圧が
発生するが、図3に示すようにサージ電圧がツェナー電
圧(Vz)に達すると、IGBT9のゲートに電圧が印
加されて、IGBT9は非飽和動作領域に移行する。こ
の結果、IGBT9は図3に示すように、ツェナー電圧
によって規定される電圧に維持しながら電流を流す。
【0028】この結果、IGBT1が発生するサージ電
圧は、ツェナー電圧によって一定電圧に維持される。こ
の電圧は、IGBT1の遮断電流の大きさに関わらず一
定である。この動作はたまに発生する一時的過電圧に対
する動作ではなく、従来のスナバ装置の動作であり、毎
スイッチング毎に発生する。
【0029】本実施形態によれば、IGBT1電流遮断
時のサージ電圧が遮断電流の大きさにかかわらず一定に
保たれる。従来のスナバ装置では、遮断電流の大きさに
よってサージ電圧が変化していたので、最大遮断電流を
遮断した時に発生するサージ電圧が、スイッチ1、即
ち、ここではIGBT1の耐圧に達しないように回路電
圧、即ち、フィルタコンデンサ5の電圧を設定した。
【0030】よって、IGBT1の耐圧に比べ、回路電
圧は低い値、例えば50%程度に選定する必要があり、
スイッチ1の電圧の利用率が悪かったが、本実施形態の
スナバ装置を使用すれば、遮断電流の大きさに関係なく
サージ電圧を一定に維持できる。
【0031】従って、回路電圧をスイッチ1の耐圧の6
0%程度に設定し、ツェナー電圧をスイッチ1の耐圧の
70%程度に設定すれば、サージ電圧による過電圧破壊
を心配することなく従来の50%から60%の高電圧で
スイッチ1を使用することができる効果がある。
【0032】次に、図4を参照して本発明の他の実施形
態のスナバ装置を説明する。図4に示すように、コンデ
ンサ2、ダイオード3、抵抗4が、スイッチ1(ここで
はGTO)に設けられている。スイッチ1は、過電圧破
壊だけでなくターンオフ時のdv/dt破壊もあり得る
ので、dv/dt抑制のためのコンデンサ2を併用すれ
ば、過電圧破壊とdv/dt破壊の両方の破壊からスイ
ッチ1を保護できる。なお図4のようなダイオード3、
抵抗4が無く、コンデンサが2だけがスイッチ1に直接
並列接続されていても良い。
【0033】次に、図5及び図6を参照して本発明の他
の実施形態のスナバ装置を説明する。図5及び図6に示
すように、スイッチ1と、MOSゲート型半導体スイッ
チング素子9及びツェナーダイオード11とを同一の冷
却装置12の上に設置してあり、ここでは冷却装置12
は冷却フィンを例とする。
【0034】この作用は、スイッチ1にはターンオン、
ターンオフおよび通電時に損失が発生して熱を持つので
冷却する必要がある。またスナバ装置すなわちIGBT
は非飽和領域で使用するもので電圧が印加されながら電
流を流すので損失が発生するのでこれも冷却する必要が
ある。
【0035】本実施形態では、スイッチ1(IGBT)
と、スナバ装置(IGBT9)であるIGBTの発生す
る損失を、同一の冷却装置12で冷却する。ここでIG
BT1とIGBT9とはそれぞれ半導体チップでも良い
し、パッケージ13に収納されたIGBT素子であって
も良い。
【0036】本実施形態の効果としては、スイッチ1と
スナバ装置とを同一の冷却装置12に設けているので、
同一のパッケージ13に収納することができ、コンパク
ト収納できる効果がある。
【0037】図6は、図5の変形例であり、マルチチッ
プのIGBTチップ(IGBT1及びIGBT9)を、
一つの冷却装置12、一つのパッケージ内に収納した例
について示したものである。
【0038】次に、本発明の他の実施形態を図7を参照
して説明する。図7では、スイッチ1の冷却とスナバ装
置であるMOSゲート型半導体スイッチング素子9の冷
却を別々にする。図7で12−1と12−2は別々の冷
却フィンである。別々冷却フィンなので冷却能力が大き
くなり、スイッチ1に流せるあるいは遮断できる電流が
大きくなり、その結果スイッチ1は大電流を流せる効果
がある。またIGBT1とIGBT9は役割が違うので
発熱量も異なるのでそれぞれの発熱量に応じた冷却器を
用意でき効率的な冷却が可能となる。またさらに冷却能
力が向上するので高周波スイッチングが可能になる効果
がある。
【0039】次に、本発明の他の実施形態を図8を参照
して説明する。従来のスナバ装置では前述したように遮
断電流によってサージ電圧が異なり、大きい電流を遮断
すると大きなサージ電圧が発生する。しかしスイッチの
並列接続では電流がアンバランスになるので一部のスイ
ッチに電流が集中して大きな電流を遮断することにな
り、その結果大きなサージ電圧が発生して過電圧破壊を
引き起こしている。
【0040】これに対し、本発明のスナバ装置を用いれ
ば、遮断電流の大きさに関係なくサージ電圧は一定にな
るので並列接続による電流のアンバランスが発生しても
サージ過電圧による破壊の心配がない。
【0041】よって、図8に示すように、前述の実施形
態のスイッチ装置A―1、A―2、A―3を並列接続す
ることにより、並列接続によって大電流を通電可能なス
イッチ装置Bを提供できる。なお、各スイッチ装置A―
1、A―2、A―3は、図2に示すスナバ装置とスイッ
チ1とからなる。
【0042】次に、本発明の他の実施形態を図9を参照
して説明する。従来、スイッチ1を直列に接続して電流
を遮断した場合、スイッチ1の特性は異なるので一部の
スイッチ1が他のスイッチ1に比べ早く遮断が開始さ
れ、回路電圧がそのスイッチ1に全部印加され過電圧破
壊を起こす問題がある。
【0043】これに対し、図9に示すように、前述の実
施形態のスイッチ装置A―1、A―2を直列接続するこ
とにより、一部のスイッチ1が早く遮断を開始してもス
ナバ装置によって、そのスイッチ1に印加される電圧が
一定に押さえられるので、過電圧破壊が発生しない効果
がある。よって従来はスイッチ1の特性を合わせて、遮
断するタイミングをあわせて一部のスイッチ1にだけ電
圧が印加されないようにしていたのでスイッチ1の歩留
まりが悪くコストが高く付く結果になっていたが、本実
施形態を用いれば、スイッチ1の特性に関係なく直列接
続したスイッチ1に印加される電圧を均一に保つことが
できスイッチ1の歩留まりを高くとれコストを低くで
き、安価な高電圧スイッチ装置Cを提供できる。
【0044】また本発明のスナバ装置は、従来の充放電
スナバ装置と異なり、サージ電圧抑制だけで、dv/d
t抑制のためコンデンサはないので、コンデンサによる
損失の増大はなく直列接続用の低損失のスナバ装置が実
現できる。
【0045】次に、本発明の他の実施形態を図10を参
照して説明する。スイッチ1を直列に接続すると上述し
たように電流遮断時にスイッチ1の特性の違いにより一
部のスイッチ1が早く遮断を開始して回路電圧の印加を
多く負担することになる。
【0046】確かに、上述したように本発明のスナバ装
置を用いれば電流遮断時に発生する過電圧を一定に保つ
ことができるが、一部のスナバ装置の負担が大きくな
り、損失の発生が大きく、一部のスナバ装置の冷却負担
が大きくなる。
【0047】そのスナバ装置の負担のアンバランスを解
消するために、図10の(a )に示すように、スイッチ
1に並列に、コンデンサ利用スナバ2を併用する。つま
り電流遮断時のスイッチのターンオフdv/dtが抑制
されるので、早く遮断が始まったスイッチ1が急激に回
路電圧を印加されないようになるので電圧アンバランス
の期間がすこし短くなり、スナバ装置によってスイッチ
1の電圧を一定にする期間も短くなり、スナバ装置の発
生損失の不均等すなわち冷却の不均一も緩和される。
【0048】なお、本実施形態のコンデンサ2はもdv
/dt破壊を防止するコンデンサとは役割が異なる。よ
ってコンデンサ容量は図15に示す従来のスナバのコン
デンサ容量は少なくし、コンデンサ損失は少なくする。
また図10の(b)に変形例として示すように、コンデ
ンサ2は一括で接続しても良い。
【0049】次に、本発明の他の実施形態を図11を参
照して説明する。図11に示すように、直列接続したス
イッチ1に個々にスナバ装置を設置するのではなく、直
列接続した複数のスイッチ1を一つの大きなスイッチと
みなし、それに二つのツェナーダイオード11及びMO
Sゲート型半導体スイッチング素子9からなるスナバ装
置16を代表して設置する。
【0050】本実施形態は、電流遮断時に、図15の配
線インダクタンス6のもつエネルギーを、代表の一括ス
ナバ装置16が吸収してサージ電圧を一定に押さえる。
このようにすればスナバ装置の数が少なくできコンパク
トな高電圧スイッチが得られ、さらにはコンパクトな高
電圧の電力変換装置が得られる。
【0051】次に、本発明の他の実施形態を図12を参
照して説明する。図11に示す一括スナバ装置16によ
って回路の配線インダクタンス6によるサージ電圧の大
部分を処理しても、なお各スイッチ付近の配線インダク
タンスによるサージ電圧が無視できない程度に発生する
ならば、図12に示すように個々のスイッチ1の近くに
簡単な小さい容量の従来のスナバ装置あるいは本発明の
スナバ装置16を追加設置してもよい。
【0052】次に、本発明の他の実施形態を図13及び
図14を参照して説明する。図13や図14に示すよう
に、前述した並列接続スイッチすなわち大電流スイッチ
(B)や直列接続スイッチすなわち高圧スイッチ(C)
を用いてサージ電圧の心配の無い高圧、大電流変換器を
提供できる。
【0053】
【発明の効果】本発明を用いると次のような効果が得ら
れる。先ず、断電流の大きさに関係なく、サージ電圧を
一定にすることでき、さらにそのサージ電圧の値を選択
できる。よって、スイッチを使用する電力変換装置で
は、スイッチの電圧利用率が向上する。また当然のこと
ながら、頻繁に発生するサージ電圧を一定にできる効果
は、スイッチに限定するものではなく、例えば機械スイ
ッチや真空管スイッチ、ガス入りスイッチなどにも適用
でき、パルスパワー分野などにも効果が期待できる。
【0054】本発明のスナバ装置は、従来のコンデンサ
と抵抗から構成されるスナバ装置を一体化して、冷却も
容易で、外形も小さくコンパクトになる。よってそれら
を適用した電力変換装置などの装置も小型化できる。逆
にスイッチとスナバ装置を別々の冷却装置にて冷却すれ
ば、大電流を流せるスイッチを構成できるので大容量の
電力変換装置なども実現できる。
【0055】本発明によれば、直列接続回路のための低
損失スナバ装置が得られる。本発明によれば、スイッチ
の特性にばらつきが存在しても、直列接続した個々のス
イッチに印加されるサージ電圧は均等になる。よって直
列接続回路の実現が容易になり、高電圧のスイッチが得
られ、高電圧の電力変換装置などが容易に実現可能にな
る。
【0056】本発明によれば、スイッチの特性にばらつ
きが存在して、並列接続した個々のスイッチの遮断電流
に不均等があっても、サージ電圧は均一になる。よって
大電流のスイッチが得られ、大電流の電力変換装置など
が容易に実現可能になる。
【0057】本発明によれば、スイッチの特性にばらつ
きが存在しても、直列接続した時や、並列接続した時の
サージ電圧が均一になるので、直列接続回路や並列接続
回路に使用するスイッチの歩留まりが高くなり、価格が
安くなる。
【0058】本発明によれば、スイッチとスナバ装置を
組みあわせた単一スイッチ回路やそれらを直並列接続し
たスイッチ回路の標準化が可能になり、標準ユニットに
よって構成されるインバータなどの電力変換装置の価格
が安くなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るスナバ装置の一実施形態を示す
図。
【図2】本発明に係るスナバ装置の他の実施形態を示す
図。
【図3】本発明の作用を説明する特性図。
【図4】本発明に係るスナバ装置の他の実施形態を示す
図。
【図5】本発明に係るスナバ装置の他の実施形態を示す
斜視図。
【図6】本発明に係るスナバ装置の他の実施形態を示す
図。
【図7】本発明に係るスナバ装置の他の実施形態を示す
図。
【図8】本発明に係るスナバ装置の他の実施形態を示す
図。
【図9】本発明に係るスナバ装置の他の実施形態を示す
図。
【図10】本発明に係るスナバ装置の他の実施形態を示
す図。
【図11】本発明に係るスナバ装置の他の実施形態を示
す図。
【図12】本発明に係るスナバ装置の他の実施形態を示
す図。
【図13】本発明に係るスナバ装置の他の実施形態を示
す図。
【図14】本発明に係るスナバ装置の他の実施形態を示
す図。
【図15】本発明に係るスナバ装置の他の実施形態を示
す図。
【図16】本発明に係るスナバ装置の他の実施形態を示
す図。
【図17】従来の問題点を説明する特性図。
【符号の説明】
1…スイッチ 2…コンデンサ 4…抵抗 9…MOSゲート型半導体スイッチング素子 12…冷却装置 13…パッケージ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5H007 CA01 DC05 FA01 FA16 FA20 HA03 HA05 5H730 AA20 DD03 DD12 DD13 DD16 DD41 XX04 XX12 XX26 XX32 XX41 5H740 BA11 BB01 BB02 BB05 BB06 MM02 MM03 PP02 PP06

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】スイッチのスイッチング時に発生するサー
    ジ電圧を抑制するためのスナバ装置において、前記スイ
    ッチに並列に接続され、ゲート制御により非飽和領域で
    動作するMOSゲート型半導体スイッチング素子を具備
    することを特徴とするスナバ装置。
  2. 【請求項2】前記MOSゲート型半導体スイッチング素
    子は、コレクタとゲートとの間又はコレクタとエミッタ
    との間に接続された電圧判定回路を具備することを特徴
    とする請求項1記載のスナバ装置。
  3. 【請求項3】前記電圧判定回路の判定電圧値は、前記ス
    イッチの耐圧以下であることを特徴とする請求項2記載
    のスナバ装置。
  4. 【請求項4】前記スイッチに並列に接続されたコンデン
    サを更に具備する請求項1記載のスナバ装置。
  5. 【請求項5】前記スイッチと共に前記MOSゲート型半
    導体スイッチング素子を、同一の冷却装置に取り付けた
    ことを特徴とする請求項1記載のスナバ装置。
  6. 【請求項6】前記スイッチ及び前記MOSゲート型半導
    体スイッチング素子を、分離したパッケージそれぞれに
    収納したことを特徴とする請求項1記載のスナバ装置。
  7. 【請求項7】スイッチに並列に接続され、ゲート制御に
    より非飽和領域で動作するMOSゲート型半導体スイッ
    チング素子を具備するスナバ装置を複数有し、該複数の
    スナバ装置を前記スイッチに並列接続したことを特徴と
    するスナバ装置。
  8. 【請求項8】スイッチに並列に接続され、ゲート制御に
    より非飽和領域で動作するMOSゲート型半導体スイッ
    チング素子を具備するスナバ装置を複数有し、該複数の
    スナバ装置を前記スイッチに直列接続したことを特徴と
    するスナバ装置。
  9. 【請求項9】スイッチに並列に接続され、ゲート制御に
    より非飽和領域で動作するMOSゲート型半導体スイッ
    チング素子を具備するスナバ装置とコンデンサとを含む
    回路を複数有し且つ該複数の回路を並列に接続し、該並
    列接続した回路を複数有し且つ該複数の回路を直列に接
    続したことを特徴とするスナバ装置。
  10. 【請求項10】前記スナバ装置に、複数のスイッチを直
    列に接続した回路を一括して接続したことを特徴とする
    請求項1記載のスナバ装置。
  11. 【請求項11】請求項7又は請求項8のスナバ装置と、
    前記スイッチを含む電力変換部とを具備することを特徴
    とする電力変換装置。
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