JPH05161253A - 半導体電力変換装置のスナバ回路 - Google Patents

半導体電力変換装置のスナバ回路

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JPH05161253A
JPH05161253A JP3323522A JP32352291A JPH05161253A JP H05161253 A JPH05161253 A JP H05161253A JP 3323522 A JP3323522 A JP 3323522A JP 32352291 A JP32352291 A JP 32352291A JP H05161253 A JPH05161253 A JP H05161253A
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JP
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snubber
discharge
inductance
switching element
current
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JP3323522A
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English (en)
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Masashi Kato
昌史 加藤
Masaru Tsunetane
勝 経種
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Fuji Electric Co Ltd
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Fuji Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】スイッチング素子のタ−ンオン時に発生するス
イッチング損失に及ぼす影響が少ない個別RCD充放電
形スナバ回路を得る。 【構成】半導体電力変換装置のブリッジ構成されてなる
半導体スイッチング素子それぞれに並列接続されたスナ
バダイオ−ドおよびスナバコンデンサの直列ア−ムと、
スナバダイオ−ドに並列接続された放電抵抗ア−ムとか
らなり、半導体スイッチング素子のタ−ンオフ時および
タ−ンオン時に生ずる過渡過電圧を低減するものにおい
て、放電抵抗ア−ムがスナバコンデンサの放電電流の立
ち上がりを抑制する直列インダクタンスを含むものとす
る。また、放電抵抗ア−ムが、直列インダクタンスを有
する巻線形放電抵抗器からなるもの、放電抵抗器と所定
の大きさのインダクタンスを有する接続線との直列体か
らなるもの、放電抵抗器と所定の大きさのインダクタン
スを有するリアクトルとの直列体からなるものとする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、インバ−タ,チョッ
パ−などの半導体電力変換装置において半導体スイッチ
ング素子を過渡過電圧から保護するために設けられるス
ナバ回路に関する。
【0002】
【従来の技術】サイリスタ,トランジスタ等の半導体ス
イッチング素子(以下スイッチング素子ともよぶ)を用
いた半導体電力変換装置では、スイッチング素子が導通
状態から非導通状態に移行する(以下タ−ンオフとよ
ぶ)際、または非導通状態から導通状態に移行する(以
下ターンオンとよぶ)際スイッチング素子に加わる過渡
過電圧を低減し、素子の電圧破壊を防止するために、ス
イッチング素子に並列にスナバ回路が接続される。
【0003】図6は従来のスナバ回路の一例を示す接続
図であり、1はサイリスタ,トランジスタなどのスイッ
チング素子、2はスイッチング素子に逆並列接続された
帰還ダイオ−ドであり、スイッチング素子1にはスナバ
回路3が並列接続される。スナバ回路3は、個別RCD
充放電形スナバと呼ばれる回路であり、スナバコンデン
サ4およびスナバダイオ−ド5の直列ア−ム6と、スナ
バダイオ−ド5に並列接続された放電抵抗7とで構成さ
れ、スイッチング素子1のタ−ンオフ時には直列ア−ム
に流れる充電電流によりスナバコンデンサが充電される
ことにより過渡過電圧を吸収し、タ−ンオン時には放電
抵抗7およびスイッチング素子1を介してスナバコンデ
ンサ4の充電電荷を完全に放電するよう構成される。こ
のように構成された個別RCD充放電形スナバ3は、ス
イッチング素子1毎に個別に設けられるのでスイッチン
グ素子に近接配置でき、回路のインダクタンスを小さく
できるので、タ−ンオフ時にスイッチング素子に印加さ
れる過渡過電圧の低減性能に優れ、比較的大容量のスイ
ッチング素子や高速スイッチング素子の保護回路として
広く用いられる。
【0004】図7は従来の個別RCD充放電形スナバ回
路を備えた単相の電圧形インバ−タを簡略化して示す接
続図であり、単相ブリッジ接続された4個のスイッチン
グ素子1A,1B,1C,1Dからなる電圧形インバ−
タは、スイッチング素子それぞれに個別RCD充放電形
スナバ3A,3B,3C,3Dが並列接続される。ま
た、図にはスイッチング素子1A,1Dがタ−ンオンし
た時にスイッチング素子1Aに流れる電流(アノ−ド電
流)Id の通流経路を矢印で示してある。VAKをスイッ
チング素子に印加される電圧(A−K間電圧)、Idc
電源からの供給電流、Ic をスナバコンデンサ4の放電
電流とすると、Id =Idc+Ic の関係があり、スイッ
チング素子1Aにはそのタ−ンオン時に、電源からの供
給電流Idcと放電抵抗7でピ−ク値が抑制されるスナバ
コンデンサの放電電流Ic との和に相当する電流Id
流れる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】スイッチング素子に
は、そのタ−ンオフおよびタ−ンオン時にスイッチング
損失といわれる損失が発生することはよく知られてい
る。図8はスイッチング素子のタ−ンオフの動作を示す
タイムチャ−ト、図9はスイッチング素子のタ−ンオン
時の動作を示すタイムチャ−トである。スイッチング素
子のA−K間電圧VAKおよびアノ−ド電流Id は、瞬時
に100%から0へ,また瞬時に0から100%へと変
化できず、有限の時間Δtをかけてタ−ンオフまたはタ
−ンオン動作する。その結果、スイッチング素子にはΔ
t時間中に変化する電圧Vakと電流Id の瞬時値の積を
時間Δt時間について時間積分した値に相当するスイッ
チング損失がスイッチング動作毎に発生する。これらの
スイッチング損失は不可避なものであるが、装置の変換
効率の面から、また損失熱の廃熱処理の面からも最小限
に抑制することが求められている。ところで、従来の個
別RCD充放電形スナバ回路を備えたスイッチング素子
の場合、アノ−ド電流Id は、電源からの供給電流Idc
とスナバコンデンサの放電電流Ic との和となるため、
この放電電流Ic がスイッチング損失に影響する。
【0006】図10は図7に示す電圧形インバ−タにお
けるタ−ンオン動作を示すタイムチャ−トであり、直流
電源10から供給される電流Idcはその立ち上がりが、
電源コンデンサ2からの長い配線のインダクタンスの影
響を受けて鈍化し、さらに必要に応じて設けられるアノ
−ドリアクトルの影響を受けてさらに鈍化するため、I
dcが0から100%に到達するに要する時間が、スイッ
チング素子のA−K間電圧VAKが100%から0に低下
するに要する時間Δtより長くなり、Idcの変化速度d
i/dtが小さくなる。これに対してスナバコンデンサ
4の放電電流I c は、スナバ回路3がスイッチング素子
に近接配置され、その配線のインダクタンスが小さいた
めに電流の立ち上がりが急峻で、その変化速度di/d
tが電流Idcのそれに比べて著しく大きくなる。その結
果、Δt時間中に生ずるスイッチング素子1のスイッチ
ング損失Pに占めるスナバコンデンサの放電電流Ic
影響が大きくなるため、個別RCD充放電形スナバ3を
設けることにより、タ−ンオン時のスイッチング損失が
増大するという不都合が発生する。
【0007】この発明の目的は、スイッチング素子のタ
−ンオン時に発生するスイッチング損失に及ぼす影響が
少ない個別RCD充放電形スナバ回路を得ることにあ
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、この発明によれば、半導体電力変換装置のブリッジ
構成されてなる半導体スイッチング素子それぞれに並列
接続されたスナバダイオ−ドおよびスナバコンデンサの
直列ア−ムと、前記スナバダイオ−ドに並列接続された
放電抵抗ア−ムとからなり、前記半導体スイッチング素
子のタ−ンオフ時およびタ−ンオン時に生ずる過渡過電
圧を低減するものにおいて、前記放電抵抗ア−ムが前記
スナバコンデンサの放電電流の立ち上がりを抑制する直
列インダクタンスを含むものとする。
【0009】また、放電抵抗ア−ムが、所定の大きさの
直列インダクタンスを有する巻線形放電抵抗器からなる
もの。または、放電抵抗器と、所定の大きさのインダク
タンスを有する接続線との直列体からなるもの。あるい
は、放電抵抗器と、所定の大きさのインダクタンスを有
するリアクトルとの直列体からなるもののいずれかで構
成されてなるものとする。
【0010】
【作用】この発明の構成において、個別RCD充放電形
スナバの放電抵抗ア−ムが、スナバコンデンサの放電電
流の立ち上がりを抑制する直列インダクタンスを含むよ
う構成したことにより、スイッチング素子のタ−ンオン
時にスナバコンデンサの放電電流の立ち上がり、および
その変化速度di/dtを抑制し、電圧と電流それぞれ
の瞬時値の積の時間積分値で与えられるスイッチング損
失を抑制する機能が得られる。また、付加するインダク
タンスの上限値をタ−ンオンから次のタ−ンオフまでの
最小時間でスナバコンデンサを完全に放電でき、かつ放
電抵抗ア−ムとスナバコンデンサで構成されるLRC放
電回路が振動条件にならないよう回路定数を決めること
により、過渡過電圧の抑制機能に影響を及ぼすことなく
スイッチング損失を低減する機能が得られる。
【0011】また、放電抵抗ア−ムを、所定の大きさの
直列インダクタンスを有する巻線形放電抵抗器で構成す
れば、巻線抵抗器のインダクタンスを利用して部品点数
を増やすことなくスイッチング損失を低減する機能が得
られる。また、放電抵抗ア−ムを例えばソリッド形の放
電抵抗器と所定の大きさのインダクタンスを有する接続
線との直列体で構成すれば、接続線の長さを増し,かつ
これをリング状に形成することにより所望のインダクタ
ンス分を有する放電抵抗ア−ムを得ることができる。さ
らに、放電抵抗ア−ムを、放電抵抗器と所定の大きさの
インダクタンスを有するリアクトルとの直列体で構成す
れば、小型なリアクトルにより安定したインダクタンス
分を有する放電抵抗ア−ムを形成できる。
【0012】
【実施例】以下、この発明を実施例に基づいて説明す
る。図1はこの発明の実施例になる半導体電力変換装置
のスナバ回路を示す接続図であり、以下従来技術と同じ
構成部分には同一参照符号を付すことにより、重複した
説明を省略する。図において、逆並列接続された帰還ダ
イオ−ド2を有するスイッチング素子1には並列に個別
RCD充放電形スナバ回路13が接続される。スナバ回
路13は、スナバコンデンサ4とスナバダイオ−ド5の
直列ア−ムと、スナバダイオ−ド5に並列接続された放
電抵抗ア−ム18とで構成され、放電抵抗ア−ム18に
巻線形放電抵抗器17を用いることにより、その抵抗分
Rとインダクタンス分Lとにより、スイッチング素子の
タ−ンオン時における放電電流Ic の変化速度di/d
tが所望の値に抑制される。
【0013】図2はこの発明の異なる実施例を示す接続
図であり、スナバ回路23の放電抵抗ア−ム28が、例
えばソリッド形の放電抵抗器27Rと、インダクタンス
分Lを有する接続線27Lとの直列回路で構成された点
が前述の実施例と異なっており、接続線の長さの決め方
により、スイッチング素子のタ−ンオン時における放電
電流Ic の変化速度di/dtが所望の値に抑制され
る。
【0014】図3はこの発明の他の実施例を示す接続図
であり、スナバ回路33の放電抵抗ア−ム38が、例え
ばソリッド形の放電抵抗器37Rと、直列リアクトル,
可飽和リアクトル等のリアクトル37Lとの直列体とし
て構成された点が前述の各実施例と異なっており、リア
クトルが持つ安定したリアクタンス分により、スイッチ
ング素子のタ−ンオン時における放電電流Ic の変化速
度di/dtが所望の値に抑制される。
【0015】図4はこの発明のスナバ回路を備えた単相
インバ−タを示す接続図、図5は図4に示すインバ−タ
のタ−ンオン動作を示すタイムチャ−トである。図にお
いて、直流電源10および電源コンデンサ9を直流入力
側として単相ブリッジ接続されたスイッチング素子1
A,1B,1C,1Dには、それぞれ並列接続されたス
ナバ回路13(またはスナバ回路23,33であってよ
い)が並列接続される。
【0016】上述のように構成された単相インバ−タに
おいて、例えばスイッチング素子1Aおよび1Dがタ−
ンオンする場合、スイッチング素子のA−K間電圧が1
00%から0に低下する過程で、スイッチング素子1A
には図中矢印で示す方向に電源からの供給電流Idcおよ
びスナバコンデンサの放電電流Ic の和に相当するアノ
−ド電流Id が流れる。この時、直流電源から供給され
る電流Idcはその立ち上がりが、電源コンデンサ2から
の長い配線のインダクタンスの影響やアノ−ドリアクト
ルの影響を受けて鈍化するため、Idcが0から100%
に到達するに要する時間が、スイッチング素子のA−K
間電圧VAKが100%から0に低下するに要する時間Δ
tより長くなり、Idcの変化速度di/dtが小さくな
る。また、スナバコンデンサ4の放電電流Ic は、スナ
バ回路13の放電抵抗ア−ム18が巻線形放電抵抗17
で構成されてインダクタンス分Lが付加されることによ
り、その立ち上がりが抑制され、放電電流Ic の変化速
度di/dtも供給電流I dcにおけると同様に小さくな
る。したがって、両電流の和からなるアノ−ド電流Id
もその変化速度di/dtが抑制され、電圧VAKおよび
電流Id それぞれの瞬時値の積を時間Δtについて時間
積分して得られるスイッチング損失Pが大幅に抑制され
る。その結果、個別RCD充放電形スナバ3を設けるこ
とにより、タ−ンオン時のスイッチング損失が増大する
という不都合が排除され、変換効率が高く,廃熱処理が
容易な半導体電力変換装置を得ることができる。
【0017】なお、放電抵抗ア−ムに付加するインダク
タンスの上限値は、スイッチング素子のタ−ンオンから
次のタ−ンオフまでの最小時間でスナバコンデンサを完
全に放電でき、かつ放電抵抗ア−ムとスナバコンデンサ
で構成されるLRC放電回路が振動条件にならないよう
その値が決められることにより、過渡過電圧の抑制機能
に影響を及ぼすことなくスイッチング損失を低減するこ
とができる。
【0018】
【発明の効果】この発明は前述のように、個別RCD充
放電形のスナバ回路の放電抵抗ア−ムが、スナバコンデ
ンサの放電電流の立ち上がりを抑制する直列インダクタ
ンスを含むよう構成した。その結果、スイッチング素子
のタ−ンオン時にスナバコンデンサの放電電流の立ち上
がり、およびその変化速度di/dtを抑制し、電圧と
電流それぞれの瞬時値の積の時間積分値で与えられるス
イッチング素子のスイッチング損失を抑制できるので、
放電電流の抑制手段を持たない従来の個別RCD充放電
形スナバで問題になった、個別RCD充放電形スナバを
設けることによりタ−ンオン時のスイッチング損失が増
大するという不都合が排除され、したがって、装置の変
換効率が高く、かつ熱処理の容易化により冷却装置が小
型化された半導体電力変換装置を経済的にも有利に提供
することができる。
【0019】一方、放電抵抗ア−ムを所定の大きさの直
列インダクタンスを有する巻線形放電抵抗器で構成すれ
ば、巻線抵抗器のインダクタンスを利用して部品点数を
増やすことなくスイッチング損失を低減する機能が得ら
れ、また放電抵抗ア−ムを例えばソリッド形の放電抵抗
器と所定の大きさのインダクタンスを有する接続線との
直列体で構成すれば、接続線の長さを増し,かつこれを
リング状に形成することにより所望のインダクタンス分
を有する放電抵抗ア−ムを得ることができ、さらに放電
抵抗ア−ムを放電抵抗器と所定の大きさのインダクタン
スを有するリアクトルとの直列体で構成すれば、小型な
リアクトルにより安定したインダクタンス分を有する放
電抵抗ア−ムを形成できるので、構成が簡素でスイッチ
ング損失の低減効果が高い個別RCD充放電形スナバ回
路を備えた半導体電力変換装置を経済的に有利に提供で
きる利点が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例になる半導体電力変換装置の
スナバ回路を示す接続図
【図2】この発明の異なる実施例を示す接続図
【図3】この発明の他の実施例を示す接続図
【図4】この発明のスナバ回路を備えた単相インバ−タ
を示す接続図
【図5】図4に示すインバ−タのタ−ンオン動作を示す
タイムチャ−ト
【図6】従来のスナバ回路の一例を示す接続図
【図7】従来の個別RCD充放電形スナバ回路を備えた
単相の電圧形インバ−タを簡略化して示す接続図
【図8】スイッチング素子のタ−ンオフ動作を示すタイ
ムチャ−ト
【図9】スイッチング素子のタ−ンオン動作を示すタイ
ムチャ−ト
【図10】図7に示す電圧形インバ−タにおけるタ−ン
オン動作を示すタイムチャ−ト
【符号の説明】
1 半導体スイッチング素子 2 帰還ダイオ−ド 3 スナバ回路 4 スナバコンデンサ 5 スナバダイオ−ド 6 直列ア−ム 7 放電抵抗 9 電源コンデンサ 10 直流電源 13 スナバ回路 17 巻線形放電抵抗器 18 放電抵抗ア−ム 23 スナバ回路 27R 放電抵抗器 27L 接続線(インダクタンスL) 28 放電抵抗ア−ム 33 スナバ回路 37R 放電抵抗器 37L リアクトル 38 放電抵抗ア−ム VAK A−K間電圧 Idc 電源からの供給電流 Id アノ−ド電流 Ic スナバコンデンサの放電電流 P スイッチング損失

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体電力変換装置のブリッジ構成されて
    なる半導体スイッチング素子それぞれに並列接続された
    スナバダイオ−ドおよびスナバコンデンサの直列ア−ム
    と、前記スナバダイオ−ドに並列接続された放電抵抗ア
    −ムとからなり、前記半導体スイッチング素子のタ−ン
    オフ時およびタ−ンオン時に生ずる過渡過電圧を低減す
    るものにおいて、前記放電抵抗ア−ムが前記スナバコン
    デンサの放電電流の立ち上がりを抑制する直列インダク
    タンスを含むことを特徴とする半導体電力変換装置のス
    ナバ回路。
  2. 【請求項2】放電抵抗ア−ムが、所定の大きさの直列イ
    ンダクタンスを有する巻線形放電抵抗器からなることを
    特徴とする請求項1記載の半導体電力変換装置のスナバ
    回路。
  3. 【請求項3】放電抵抗ア−ムが、放電抵抗器と、所定の
    大きさのインダクタンスを有する接続線との直列体から
    なることを特徴とする請求項1記載の半導体電力変換装
    置のスナバ回路。
  4. 【請求項4】放電抵抗ア−ムが、放電抵抗器と、所定の
    大きさのインダクタンスを有するリアクトルとの直列体
    からなることを特徴とする半導体電力変換装置のスナバ
    回路。
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