JP2000085945A - チップ部品の自動分離供給装置 - Google Patents

チップ部品の自動分離供給装置

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JP2000085945A JP10262596A JP26259698A JP2000085945A JP 2000085945 A JP2000085945 A JP 2000085945A JP 10262596 A JP10262596 A JP 10262596A JP 26259698 A JP26259698 A JP 26259698A JP 2000085945 A JP2000085945 A JP 2000085945A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】供給速度を向上させることができ、チップ部品
に与えるダメージが少なく、装置が簡単で安価なチップ
部品の自動分離供給装置を提供する。 【解決手段】上面にチップ部品Pの2面を支える断面V
字形の整列溝11,16が形成され、チップ部品Pを一
列に整列させて連続的に搬送する整列フィーダ3,15
と、一定方向に回転駆動され、外周面全周にチップ部品
Pの2面を嵌合支持する断面V字形の嵌合溝20が連続
的に形成され、嵌合溝20の底部にチップ部品を吸引保
持するための吸引口21が設けられたロータ5とを備え
る。整列フィーダ15とロータ5との境界部で、整列フ
ィーダ3,15によって搬送されたチップ部品Pがロー
タ5の吸引口21に吸引されて嵌合溝20に乗り移る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はチップ型電子部品の
ような小型のチップ部品をロータに吸着保持して1個ず
つ分離された形態で供給するチップ部品の自動分離供給
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、例えば特開平2−270717号
公報に示されるように、チップ部品をパーツフィーダか
らロータの外周部に設けた凹部に乗り移らせ、チップ部
品を凹部に保持しながら間欠回転させた後、ロータから
キャリヤテープに乗り移らせてテーピングを行なうよう
にした自動分離供給装置が知られている。
【0003】このような供給装置の場合、パーツフィー
ダにより送られてきた先頭のチップ部品がロータの凹部
に入る際、ロータを停止させる必要があり、また2番目
のチップ部品がパーツフィーダから突出しないようにチ
ップ部品を押さえておく必要がある。そして、ロータを
1ピッチ分回転させた後に停止させ、押さえられたチッ
プ部品を解放してロータの凹部へ送り込むという操作を
行なうことになる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来の供
給装置では、ロータの回転が間欠回転となるため、供給
速度を上げられないだけでなく、凹部への移乗ミスや移
乗障害が発生しやすいという欠点がある。また、チップ
部品をパーツフィーダ内で押さえておくため、チップ部
品にダメージを与える恐れがあった。さらに、ロータの
停止位置を高精度に位置決めする必要があるため、装置
が高価となるという欠点があった。
【0005】そこで、本発明の目的は、供給速度を向上
させることができるとともに、チップ部品に与えるダメ
ージが少なく、装置が簡単で安価なチップ部品の自動分
離供給装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的は、請求項1に
記載の発明または請求項3に記載の発明によって達成さ
れる。すなわち、請求項1に記載の発明は、上面にチッ
プ部品を案内する整列溝が形成され、チップ部品を一列
に整列させて連続的に搬送する整列フィーダと、一定方
向に回転駆動され、外周面全周にチップ部品を嵌合支持
する嵌合溝が連続的に形成され、嵌合溝の底部にチップ
部品を吸引保持するための吸引口が設けられたロータと
を備え、上記整列フィーダとロータとの境界部で、整列
フィーダによって搬送されたチップ部品がロータの吸引
口に吸引されて嵌合溝に乗り移るように、整列溝の終端
部と嵌合溝とを近接させたことを特徴とするチップ部品
の自動分離供給装置を提供する。
【0007】この発明では、ロータでのチップ部品の保
持を、従来のような凹部で行なうのではなく、ロータの
外周面に連続的に形成された嵌合溝で行なう。そのた
め、ロータを連続回転させることができ、高速運転が可
能となるとともに、装置を簡素化できる。また、整列フ
ィーダでチップ部品を押さえておく必要がなく、連続的
に投入すればよいので、チップ部品へのダメージを少な
くできる。
【0008】請求項2のように、整列フィーダの終端部
には、整列溝にそって搬送されたチップ部品の搬送方向
をロータの接線方向に変換する中継ガイド手段を設ける
のが望ましい。この場合には、整列フィーダで搬送され
たチップ部品の搬送方向を中継ガイド手段によってロー
タの接線方向に変換した上で、ロータの嵌合溝へチップ
部品を乗り移らせるので、乗り移りがスムーズに行な
え、移乗ミスや移乗障害が発生しにくい。
【0009】また、請求項3に記載の発明は、一定方向
に回転駆動され、外周面全周にチップ部品を嵌合支持す
る嵌合溝が連続的に形成され、嵌合溝の底部にチップ部
品を吸引保持するための吸引口が設けられた第1のロー
タと、第1のロータと逆方向に回転駆動され、外周面全
周にチップ部品を嵌合支持する嵌合溝が連続的に形成さ
れ、嵌合溝の底部にチップ部品を吸引保持するための吸
引口が設けられた第2のロータとを備え、第1のロータ
によって搬送されたチップ部品が第2のロータの吸引口
に吸引されて嵌合溝に乗り移るように、第1ロータと第
2ロータとをその嵌合溝が近接して対向するように配置
したことを特徴とするチップ部品の自動分離供給装置を
提供する。
【0010】この発明では、第1のロータによって搬送
しながらチップ部品の第1面と第2面とを検査し、第2
のロータに乗り移らせることでチップ部品を反転させ、
第2のロータによって搬送しながらチップ部品の第3面
と第4面とを検査することができる。この場合、第1の
ロータと第2のロータとを共に連続回転させながらチッ
プ部品を乗り移らせることができるので、高速の反転乗
り移りが可能である。しかも、第1のロータから第2の
ロータへ直接乗り移らせることができるので、作業工程
が簡素化され、効率のよい検査を実施できる。さらに、
チップ部品の反転のためにチップ部品をロータから取り
出したり、強制的に反転させる必要もなく、チップ部品
に与えるダメージが非常に少ない。
【0011】なお、請求項4のように整列溝および嵌合
溝をチップ部品の2面を保持するようにV字溝に形成す
れば、嵌合溝の底部に吸引口が設けられているので、チ
ップ部品に多少の寸法のバラツキがあっても、バラツキ
を吸収し、安定して吸着できる。また、チップ部品をロ
ータに吸着しながら搬送し、外観検査などを行なう場
合、嵌合溝をV字溝とすれば、チップ部品の2面を同時
に検査できるので、検査作業が効率化される。
【0012】
【発明の実施の形態】図1は本発明にかかる自動分離供
給装置の全体構成を示す。この実施例では、チップ部品
として、図2に示すように直方体形状のチップ状電子部
品Pを用いた。チップ部品Pの長さ方向の両端には電極
P1,P2が形成されている。
【0013】自動分離供給装置の一端側には、パーツフ
ィーダ1が設けられ、このパーツフィーダ1は、ボール
フィーダ2とリニアフィーダ(整列フィーダ)3とで構
成されている。ボールフィーダ2にランダムな状態で投
入されたチップ部品Pは、リニアフィーダ3によって矢
印方向へ搬送される。
【0014】リニアフィーダ3の終端部には第1分離部
4が設けられ、この分離部4で、チップ部品Pは水平軸
を中心として連続回転する第1ロータ5へ1個ずつ分離
されて乗り移る。そして、第1ロータ5によって搬送さ
れながら、第1検査ステージ6を通過することでチップ
部品Pの第1面と第2面とが検査される。さらに、第2
分離部7で第1ロータ5から同じく水平軸を中心として
連続回転する第2ロータ8へ乗り移り、第2検査ステー
ジ9でチップ部品Pの第3面と第4面とが検査される。
その後、取出ステージ10でチップ部品Pは良品と不良
品とが分別されて取り出される。
【0015】図3〜図6は第1分離部4の詳細を示す。
リニアフィーダ3には図示しない加振装置によって図4
の矢印A方向に微振動が加えられており、チップ部品P
を一列に整列させて矢印B方向に連続的に搬送する。リ
ニアフィーダ3の上面には、チップ部品Pの2面(第1
面と第2面)を支える断面V字形の整列溝11が形成さ
れている。図5に示すように、整列溝11の開口角度は
90°に設定されている。リニアフィーダ3の上面には
上面カバー12が装着され、上面カバー12の下面に
は、上記整列溝11に対応する断面V字形のガイド溝1
3が形成されている。そのため、チップ部品Pは整列溝
11とガイド溝13の間を一定の姿勢を保持しながら搬
送される。なお、リニアフィーダ3のチップ部品供給速
度は、後述するロータ5,8のチップ部品搬送速度以下
に設定されている。すなわち、リニアフィーダ3の供給
速度が大き過ぎると、行き場を失ったチップ部品Pが発
生し、後述するロータ5,8の1個の吸引口に複数のチ
ップ部品Pが吸着されたりして分離効率が低下するから
である。なお、上面カバー12は整列溝11からのチッ
プ部品Pの飛び出しを防止するものであるが、必要に応
じて設けられる。
【0016】リニアフィーダ3の終端部には、非振動部
である中継ガイド手段15が設けられている。この中継
ガイド手段15の上面には、断面V字形の整列溝16が
形成され、中継ガイド手段15の上面には上面カバー1
7が装着されている。整列溝16は、リニアフィーダ3
の整列溝11と同一直線上に連続する水平溝16aと、
斜め下方へ傾斜した傾斜溝16bと、直下方へ延びる垂
直溝16cとで構成されている。リニアフィーダ3によ
って矢印B方向に押されたチップ部品Pは、その押し力
により水平溝16aから傾斜溝16bへと搬送される。
そして、チップ部品Pが水平溝16aから傾斜溝16b
へ移動する時、その角度変化によりチップ部品Pは分離
され、傾斜溝16bから垂直溝16cへと滑落する。
【0017】上記のような非振動部よりなる中継ガイド
手段15は、チップ部品Pの搬送方向を第1ロータ5の
接線方向に方向変換させる機能の他に、リニアフィーダ
3の整列溝11を飛び跳ねながら搬送されるチップ部品
Pの位置を安定させ、ロータ5に安定した姿勢で吸着さ
せる機能を有する。また、リニアフィーダ3上を搬送さ
れるチップ部品Pは、その滑り性のバラツキにより、ロ
ータ5への供給間隔にバラツキが発生しやすいが、上記
のような中継ガイド手段15を設けることで供給間隔を
安定化させ、分離効率を高めることができる。
【0018】第1ロータ5は円板状部材で構成され、モ
ータなどの駆動装置(図示せず)により矢印C方向に回
転駆動される。回転方式は連続回転でも間欠回転でもよ
いが、この実施例では連続回転される。ロータ5の外周
面全周には、チップ部品Pの2面(第3面,第4面)を
嵌合支持する断面V字形の嵌合溝20が連続的に形成さ
れている。この嵌合溝20も、整列溝11と同様に開口
角度が90°に設定されている。嵌合溝20の底部に
は、一定ピッチ間隔で吸引口21が設けられ、これら吸
引口21は図示しない真空吸引手段と接続されている。
上記整列溝16の垂直溝16cは第1ロータ5の嵌合溝
20と対面し、第1ロータ5の接線方向に延びている。
そのため、ロータ5が矢印C方向に回転すると、傾斜溝
16bを滑ったチップ部品Pは垂直溝16cと第1ロー
タ5の嵌合溝20との間に入り、嵌合溝20の吸引口2
1に吸着される。
【0019】図7はチップ部品Pがリニアフィーダ3か
ら中継ガイド手段15を介して第1ロータ5へ乗り移る
動作を示す。図7の1)はリニアフィーダ3から押された
チップ部品Pが中継ガイド手段15の水平溝16aを移
動している状態を示す。図7の2)は先頭のチップ部品P
が水平溝16aから傾斜溝16bへ移動し、後続のチッ
プ部品Pから分離された状態を示す。図7の3)は先頭の
チップ部品Pが傾斜溝16bから垂直溝16cへ滑落
し、ここで第1ロータ5の吸引口21に吸着された状態
を示す。チップ部品Pが垂直溝16cを滑落する間に何
れかの吸引口21に吸着されるようにするため、垂直溝
16cの長さを吸引口21のピッチ間隔とほぼ等しい
か、それより長くするのが望ましい。
【0020】第1ロータ5に吸着されてチップ部品Pは
搬送され、検査ステージ6を通過することにより、外部
へ露出したチップ部品Pの第1面と第2面が検査され
る。なお、検査に代えて電気的特性などを測定してもよ
い。
【0021】検査ステージ6を通過した後、第1ロータ
5に吸着されたチップ部品Pは、第2分離部7で第1ロ
ータ5から第2ロータ8へ乗り移る。図8,図9は第2
分離部7の詳細を示す。第2ロータ8も第1ロータ5と
同様な構造を有しており、第1ロータ5と逆方向(D方
向)に連続回転される。すなわち、第2ロータ8の外周
面全周には、チップ部品Pの2面(第1面,第2面)を
嵌合支持する断面V字形の嵌合溝30が連続的に形成さ
れ、嵌合溝30の底部には、第1ロータ5の吸引口21
と同一ピッチ間隔で吸引口31が設けられている。第1
ロータ5と第2ロータ8とは、互いの吸引口21,31
が対向するように、同期駆動されている。
【0022】第2分離部7に到達した第1ロータ5の吸
引口21は、エアー吸引から圧空噴射に切り替えられ、
チップ部品Pは第1ロータ5の嵌合溝20から半径方向
に押し出される。一方、第2ロータ8の吸引口31はエ
アー吸引されているので、第1ロータ5から押し出され
たチップ部品Pを嵌合溝30へ吸着する。これによっ
て、チップ部品Pはそれまで外部へ露出していた第1面
と第2面とが嵌合溝30に吸着され、第3面と第4面と
が外部へ露出することになる。つまり、チップ部品Pは
180°反転されたことになる。なお、図8,図9では
説明を容易にするために、ロータ5,8間の距離Xを広
目に記載したが、実際にはチップ部品Pを押しつぶす恐
れがない程度に狭く設定されている。
【0023】第2ロータ8に吸着されたチップ部品P
は、第2検査ステージ9を通過することにより、外部へ
露出したチップ部品Pの第3面と第4面が検査される。
なお、検査に代えて電気的特性などを測定してもよい。
そして、取出ステージ10で第2ロータ8の吸引口31
は圧空噴射に切り替えられ、チップ部品Pは良品と不良
品とが分別されて取り出される。
【0024】図10は第1分離部4の第2実施例を示
す。第1実施例では、チップ部品Pを中継ガイド手段1
5の垂直溝16cから第1ロータ5の嵌合溝20へ吸着
させて乗り移らせたが、第2実施例では、中継ガイド手
段15の垂直溝16cを省略し、傾斜溝16bから第1
ロータ5の嵌合溝20へ直接吸着させたものである。こ
の場合、傾斜溝16bの下端でチップ部品Pが第1ロー
タ5に吸着されるように、傾斜溝16bの上面を覆う上
面カバー17を設けるのが望ましい。
【0025】図11は第1分離部4の第3実施例を示
す。この実施例では、中継ガイド手段15に水平溝16
aのみを形成し、水平溝16aを第1ロータ5の下端部
に近接させたものである。この場合には、水平溝16a
を搬送されたチップ部品Pは上面カバー17の終端を通
過した時点で第1ロータ5の嵌合溝20に吸着されるよ
うに、上面カバー17を第1ロータ5の直下点近傍まで
延設するのが望ましい。
【0026】本発明は上記実施例の構造に限定されるも
のではないことは勿論である。上記実施例では、整列溝
11,16および嵌合溝20,30をV字溝としたが、
これに限るものではなく、図12に示すような角溝であ
ってもよい。図12はロータ40の嵌合溝41を示した
ものであり、嵌合溝41の底部には吸引口42が設けら
れている。この場合、嵌合溝41の深さをチップ部品P
の厚みより浅くしておけば、チップ部品Pの側面を露出
させることができ、検査(外観検査および特性検査を含
む)が容易になるとともに、ロータからロータへの乗り
移りも容易になる。
【0027】第1ロータ5および第2ロータ8は、水平
軸を中心として回転するものに限らず、垂直軸を中心と
して回転するもの、あるいは傾斜軸を中心として回転す
るものでもよい。例えば垂直軸を中心として水平回転す
るロータを用いた場合も、整列フィーダの終端部がロー
タの外周面とほぼ接線方向となるように搬送方向を設定
するのが望ましい。
【0028】また、上記実施例ではロータ5,8の吸引
口21,31として、嵌合溝20,30の底部に等ピッ
チ間隔で複数個設けたが、嵌合溝20,30の底部に連
続した1個の吸引口を設けてもよい。この場合には、吸
着されるチップ部品Pの位置は一定しないが、ロータ
5,8の全周の如何なる部位でも吸着できるので、移乗
ミスの発生を抑制できる効果がある。
【0029】上記実施例では、整列フィーダとして振動
によってチップ部品Pを搬送するリニアフィーダ3を用
いたが、これに限るものではない。例えば、傾斜したシ
ュート溝を設け、このシュート溝に沿ってチップ部品P
を滑落させることで、一列に整列させて搬送するもので
もよい。この場合には、整列フィーダとロータとの境界
部に設けられる中継ガイド手段を省略し、整列フィーダ
からロータへチップ部品を直接乗り移らせることもでき
る。
【0030】上記実施例では、直方体形状のチップ部品
について説明したが、立方体形状、円柱形状、円板形状
など他の形状のチップ部品を用いてもよい。また、本発
明のロータは必ずしも連続回転である必要はなく、間欠
回転であってもよい。ただ、高度な位置決め精度が必要
でないので、装置を安価に構成できる。
【0031】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、請求項1
に記載の発明によれば、ロータの外周面に個別の凹部を
形成するのではなく、連続した嵌合溝を設け、嵌合溝の
底部に吸引口を設けたので、整列フィーダからロータへ
の乗り移りに際し、ロータを停止させる必要がなく、ロ
ータを高速回転させたまま円滑に乗り移らせることがで
きる。そのため、分離効率を高めることができる。ま
た、乗り移りの際にチップ部品にダメージを与えること
がないので、チップ部品の不良率を低減できる。
【0032】請求項3に記載の発明によれば、第1ロー
タから第2ロータへの乗り移りを、両ロータを高速回転
させながら円滑に行なうことができ、搬送効率を高める
ことができる。また、乗り移りによってチップ部品が自
動反転されるので、反転のための工程が不要となり、構
造が簡素化されるとともに、チップ部品に与えるダメー
ジも少ない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる自動分離供給装置の全体構成を
示す概略側面図である。
【図2】チップ部品の一例の斜視図である。
【図3】第1分離部の平面図である。
【図4】第1分離部の断面図である。
【図5】図4のV−V線断面図である。
【図6】図4のVI−VI矢視図である。
【図7】第1分離部の動作を示す断面図である。
【図8】第2分離部の断面図である。
【図9】第2分離部の平面図である。
【図10】第1分離部の第2実施例の断面図である。
【図11】第1分離部の第3実施例の断面図である。
【図12】ロータの第2実施例の平面図である。
【符号の説明】
P チップ部品 3 リニアフィーダ(整列フィーダ) 4 第1分離部 5 第1ロータ 6 第1検査ステージ 7 第2分離部 8 第2ロータ 9 第2検査ステージ 11,16 整列溝 15 中継ガイド手段 20,30 嵌合溝 21,31 吸引口
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 樋口 普一 京都府長岡京市天神2丁目26番10号 株式 会社村田製作所内 Fターム(参考) 3F080 AA13 BA02 CB03 CB07 CC03 CC14 CF05 CF22 DA02 DA07 DA10 DA15 DA17

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】上面にチップ部品を案内する整列溝が形成
    され、チップ部品を一列に整列させて連続的に搬送する
    整列フィーダと、一定方向に回転駆動され、外周面全周
    にチップ部品を嵌合支持する嵌合溝が連続的に形成さ
    れ、嵌合溝の底部にチップ部品を吸引保持するための吸
    引口が設けられたロータとを備え、上記整列フィーダと
    ロータとの境界部で、整列フィーダによって搬送された
    チップ部品がロータの吸引口に吸引されて嵌合溝に乗り
    移るように、整列溝の終端部と嵌合溝とを近接させたこ
    とを特徴とするチップ部品の自動分離供給装置。
  2. 【請求項2】上記整列フィーダの終端部には、整列溝に
    そって搬送されたチップ部品の搬送方向をロータの接線
    方向に変換する中継ガイド手段が設けられていることを
    特徴とする請求項1に記載のチップ部品の自動分離供給
    装置。
  3. 【請求項3】一定方向に回転駆動され、外周面全周にチ
    ップ部品を嵌合支持する嵌合溝が連続的に形成され、嵌
    合溝の底部にチップ部品を吸引保持するための吸引口が
    設けられた第1のロータと、第1のロータと逆方向に回
    転駆動され、外周面全周にチップ部品を嵌合支持する嵌
    合溝が連続的に形成され、嵌合溝の底部にチップ部品を
    吸引保持するための吸引口が設けられた第2のロータと
    を備え、第1のロータによって搬送されたチップ部品が
    第2のロータの吸引口に吸引されて嵌合溝に乗り移るよ
    うに、第1ロータと第2ロータとをその嵌合溝が近接し
    て対向するように配置したことを特徴とするチップ部品
    の自動分離供給装置。
  4. 【請求項4】上記整列溝および嵌合溝は、チップ部品の
    2面を支える断面V字形の溝であることを特徴とする請
    求項1ないし3のいずれかに記載のチップ部品の自動分
    離供給装置。
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