JP3817926B2 - チップ部品の自動分離供給装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はチップ型電子部品のような小型のチップ部品をロータに吸着保持して１個ずつ分離された形態で供給するチップ部品の自動分離供給装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、例えば特開平２−２７０７１７号公報に示されるように、チップ部品をパーツフィーダからロータの外周部に設けた凹部に乗り移らせ、チップ部品を凹部に保持しながら間欠回転させた後、ロータからキャリヤテープに乗り移らせてテーピングを行なうようにした自動分離供給装置が知られている。
【０００３】
このような供給装置の場合、パーツフィーダにより送られてきた先頭のチップ部品がロータの凹部に入る際、ロータを停止させる必要があり、また２番目のチップ部品がパーツフィーダから突出しないようにチップ部品を押さえておく必要がある。そして、ロータを１ピッチ分回転させた後に停止させ、押さえられたチップ部品を解放してロータの凹部へ送り込むという操作を行なうことになる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
このように、従来の供給装置では、ロータの回転が間欠回転となるため、供給速度を上げられないだけでなく、凹部への移乗ミスや移乗障害が発生しやすいという欠点がある。また、チップ部品をパーツフィーダ内で押さえておくため、チップ部品にダメージを与える恐れがあった。さらに、ロータの停止位置を高精度に位置決めする必要があるため、装置が高価となるという欠点があった。
【０００５】
そこで、本発明の目的は、供給速度を向上させることができるとともに、チップ部品に与えるダメージが少なく、装置が簡単で安価なチップ部品の自動分離供給装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記目的は、請求項１に記載の発明によって達成される。
すなわち、請求項１に記載の発明は、上面に直方体形状のチップ部品の２側面を支えながら案内する断面Ｖ字形の整列溝が形成され、上記チップ部品を一列に整列させて連続的に搬送する整列フィーダと、水平軸を中心として一定方向に連続的に回転駆動され、外周面全周に上記チップ部品の２側面を嵌合支持する断面Ｖ字形の嵌合溝が連続的に形成され、上記嵌合溝の底部にチップ部品を吸引保持するための吸引口が設けられた第１ロータと、上記整列フィーダと第１ロータとの間に設けられ、上記チップ部品の２側面を支えながら第１ロータの接線方向にガイドする断面Ｖ字形のガイド溝が第１ローラの嵌合溝と対向して形成され、第１ローラの吸引口に吸引されてチップ部品をガイド溝から第１ロータの嵌合溝へ乗り移らせる中継ガイド手段と、水平軸を中心として上記第１ロータと逆方向に連続的に回転駆動され、外周面全周に上記チップ部品の２側面を嵌合支持する断面Ｖ字形の嵌合溝が連続的に形成され、上記嵌合溝の底部にチップ部品を吸引保持するための吸引口が設けられ、第１ロータの嵌合溝によって搬送されたチップ部品が吸引口に吸引されて嵌合溝に乗り移るように、第１ロータと嵌合溝同士が近接して対向配置された第２ロータと、を備えたことを特徴とするチップ部品の自動分離供給装置を提供する。
【０００７】
この発明では、ロータでのチップ部品の保持を、従来のような凹部で行なうのではなく、ロータの外周面に連続的に形成された嵌合溝で行なう。そのため、ロータを連続回転させることができ、高速運転が可能となるとともに、装置を簡素化できる。また、整列フィーダでチップ部品を押さえておく必要がなく、連続的に投入すればよいので、チップ部品へのダメージを少なくできる。
【０００８】
整列フィーダと第１ロータとの間には、チップ部品の２側面を支えながら第１ロータの接線方向にガイドする断面Ｖ字形のガイド溝が第１ローラの嵌合溝と対向して形成され、第１ローラの吸引口に吸引されてチップ部品をガイド溝から第１ロータの嵌合溝へ乗り移らせる中継ガイド手段が設けられている。そのため、整列フィーダで搬送されたチップ部品の搬送方向を中継ガイド手段によってロータの接線方向に変換した上で、ロータの嵌合溝へチップ部品を乗り移らせるので、乗り移りがスムーズに行なえ、移乗ミスや移乗障害が発生しにくい。
【０００９】
本発明の自動分離供給装置は、一定方向に回転駆動され、外周面全周にチップ部品を嵌合支持する嵌合溝が連続的に形成され、嵌合溝の底部にチップ部品を吸引保持するための吸引口が設けられた第１のロータと、第１のロータと逆方向に回転駆動され、外周面全周にチップ部品を嵌合支持する嵌合溝が連続的に形成され、嵌合溝の底部にチップ部品を吸引保持するための吸引口が設けられた第２のロータとを備え、第１のロータによって搬送されたチップ部品が第２のロータの吸引口に吸引されて嵌合溝に乗り移るように、第１ロータと第２ロータとをその嵌合溝が近接して対向するように配置してある。
【００１０】
そのため、第１のロータによって搬送しながらチップ部品の第１面と第２面とを検査し、第２のロータに乗り移らせることでチップ部品を反転させ、第２のロータによって搬送しながらチップ部品の第３面と第４面とを検査することができる。この場合、第１のロータと第２のロータとを共に連続回転させながらチップ部品を乗り移らせることができるので、高速の反転乗り移りが可能である。しかも、第１のロータから第２のロータへ直接乗り移らせることができるので、作業工程が簡素化され、効率のよい検査を実施できる。さらに、チップ部品の反転のためにチップ部品をロータから取り出したり、強制的に反転させる必要もなく、チップ部品に与えるダメージが非常に少ない。
【００１１】
本発明では、整列溝および嵌合溝をチップ部品の２面を保持するようにＶ字溝に形成してある。嵌合溝の底部に吸引口が設けられているので、チップ部品に多少の寸法のバラツキがあっても、バラツキを吸収し、安定して吸着できる。また、チップ部品をロータに吸着しながら搬送し、外観検査などを行なう場合、嵌合溝をＶ字溝とすれば、チップ部品の２面を同時に検査できるので、検査作業が効率化される。
【００１２】
【発明の実施の形態】
図１は本発明にかかる自動分離供給装置の全体構成を示す。
この実施例では、チップ部品として、図２に示すように直方体形状のチップ状電子部品Ｐを用いた。チップ部品Ｐの長さ方向の両端には電極Ｐ１，Ｐ２が形成されている。
【００１３】
自動分離供給装置の一端側には、パーツフィーダ１が設けられ、このパーツフィーダ１は、ボールフィーダ２とリニアフィーダ（整列フィーダ）３とで構成されている。ボールフィーダ２にランダムな状態で投入されたチップ部品Ｐは、リニアフィーダ３によって矢印方向へ搬送される。
【００１４】
リニアフィーダ３の終端部には第１分離部４が設けられ、この分離部４で、チップ部品Ｐは水平軸を中心として連続回転する第１ロータ５へ１個ずつ分離されて乗り移る。そして、第１ロータ５によって搬送されながら、第１検査ステージ６を通過することでチップ部品Ｐの第１面と第２面とが検査される。さらに、第２分離部７で第１ロータ５から同じく水平軸を中心として連続回転する第２ロータ８へ乗り移り、第２検査ステージ９でチップ部品Ｐの第３面と第４面とが検査される。その後、取出ステージ１０でチップ部品Ｐは良品と不良品とが分別されて取り出される。
【００１５】
図３〜図６は第１分離部４の詳細を示す。
リニアフィーダ３には図示しない加振装置によって図４の矢印Ａ方向に微振動が加えられており、チップ部品Ｐを一列に整列させて矢印Ｂ方向に連続的に搬送する。リニアフィーダ３の上面には、チップ部品Ｐの２面（第１面と第２面）を支える断面Ｖ字形の整列溝１１が形成されている。図５に示すように、整列溝１１の開口角度は９０°に設定されている。リニアフィーダ３の上面には上面カバー１２が装着され、上面カバー１２の下面には、上記整列溝１１に対応する断面Ｖ字形のガイド溝１３が形成されている。そのため、チップ部品Ｐは整列溝１１とガイド溝１３の間を一定の姿勢を保持しながら搬送される。なお、リニアフィーダ３のチップ部品供給速度は、後述するロータ５，８のチップ部品搬送速度以下に設定されている。すなわち、リニアフィーダ３の供給速度が大き過ぎると、行き場を失ったチップ部品Ｐが発生し、後述するロータ５，８の１個の吸引口に複数のチップ部品Ｐが吸着されたりして分離効率が低下するからである。なお、上面カバー１２は整列溝１１からのチップ部品Ｐの飛び出しを防止するものであるが、必要に応じて設けられる。
【００１６】
リニアフィーダ３の終端部には、非振動部である中継ガイド手段１５が設けられている。この中継ガイド手段１５の上面には、断面Ｖ字形の整列溝１６が形成され、中継ガイド手段１５の上面には上面カバー１７が装着されている。整列溝１６は、リニアフィーダ３の整列溝１１と同一直線上に連続する水平溝１６ａと、斜め下方へ傾斜した傾斜溝１６ｂと、直下方へ延びる垂直溝１６ｃとで構成されている。リニアフィーダ３によって矢印Ｂ方向に押されたチップ部品Ｐは、その押し力により水平溝１６ａから傾斜溝１６ｂへと搬送される。そして、チップ部品Ｐが水平溝１６ａから傾斜溝１６ｂへ移動する時、その角度変化によりチップ部品Ｐは分離され、傾斜溝１６ｂから垂直溝１６ｃへと滑落する。
【００１７】
上記のような非振動部よりなる中継ガイド手段１５は、チップ部品Ｐの搬送方向を第１ロータ５の接線方向に方向変換させる機能の他に、リニアフィーダ３の整列溝１１を飛び跳ねながら搬送されるチップ部品Ｐの位置を安定させ、ロータ５に安定した姿勢で吸着させる機能を有する。また、リニアフィーダ３上を搬送されるチップ部品Ｐは、その滑り性のバラツキにより、ロータ５への供給間隔にバラツキが発生しやすいが、上記のような中継ガイド手段１５を設けることで供給間隔を安定化させ、分離効率を高めることができる。
【００１８】
第１ロータ５は円板状部材で構成され、モータなどの駆動装置（図示せず）により矢印Ｃ方向に回転駆動される。回転方式は連続回転でも間欠回転でもよいが、この実施例では連続回転される。ロータ５の外周面全周には、チップ部品Ｐの２面（第３面，第４面）を嵌合支持する断面Ｖ字形の嵌合溝２０が連続的に形成されている。この嵌合溝２０も、整列溝１１と同様に開口角度が９０°に設定されている。嵌合溝２０の底部には、一定ピッチ間隔で吸引口２１が設けられ、これら吸引口２１は図示しない真空吸引手段と接続されている。上記整列溝１６の垂直溝１６ｃは第１ロータ５の嵌合溝２０と対面し、第１ロータ５の接線方向に延びている。そのため、ロータ５が矢印Ｃ方向に回転すると、傾斜溝１６ｂを滑ったチップ部品Ｐは垂直溝１６ｃと第１ロータ５の嵌合溝２０との間に入り、嵌合溝２０の吸引口２１に吸着される。
【００１９】
図７はチップ部品Ｐがリニアフィーダ３から中継ガイド手段１５を介して第１ロータ５へ乗り移る動作を示す。
図７の1)はリニアフィーダ３から押されたチップ部品Ｐが中継ガイド手段１５の水平溝１６ａを移動している状態を示す。
図７の2)は先頭のチップ部品Ｐが水平溝１６ａから傾斜溝１６ｂへ移動し、後続のチップ部品Ｐから分離された状態を示す。
図７の3)は先頭のチップ部品Ｐが傾斜溝１６ｂから垂直溝１６ｃへ滑落し、ここで第１ロータ５の吸引口２１に吸着された状態を示す。チップ部品Ｐが垂直溝１６ｃを滑落する間に何れかの吸引口２１に吸着されるようにするため、垂直溝１６ｃの長さを吸引口２１のピッチ間隔とほぼ等しいか、それより長くするのが望ましい。
【００２０】
第１ロータ５に吸着されてチップ部品Ｐは搬送され、検査ステージ６を通過することにより、外部へ露出したチップ部品Ｐの第１面と第２面が検査される。なお、検査に代えて電気的特性などを測定してもよい。
【００２１】
検査ステージ６を通過した後、第１ロータ５に吸着されたチップ部品Ｐは、第２分離部７で第１ロータ５から第２ロータ８へ乗り移る。図８，図９は第２分離部７の詳細を示す。
第２ロータ８も第１ロータ５と同様な構造を有しており、第１ロータ５と逆方向（Ｄ方向）に連続回転される。すなわち、第２ロータ８の外周面全周には、チップ部品Ｐの２面（第１面，第２面）を嵌合支持する断面Ｖ字形の嵌合溝３０が連続的に形成され、嵌合溝３０の底部には、第１ロータ５の吸引口２１と同一ピッチ間隔で吸引口３１が設けられている。第１ロータ５と第２ロータ８とは、互いの吸引口２１，３１が対向するように、同期駆動されている。
【００２２】
第２分離部７に到達した第１ロータ５の吸引口２１は、エアー吸引から圧空噴射に切り替えられ、チップ部品Ｐは第１ロータ５の嵌合溝２０から半径方向に押し出される。一方、第２ロータ８の吸引口３１はエアー吸引されているので、第１ロータ５から押し出されたチップ部品Ｐを嵌合溝３０へ吸着する。これによって、チップ部品Ｐはそれまで外部へ露出していた第１面と第２面とが嵌合溝３０に吸着され、第３面と第４面とが外部へ露出することになる。つまり、チップ部品Ｐは１８０°反転されたことになる。
なお、図８，図９では説明を容易にするために、ロータ５，８間の距離Ｘを広目に記載したが、実際にはチップ部品Ｐを押しつぶす恐れがない程度に狭く設定されている。
【００２３】
第２ロータ８に吸着されたチップ部品Ｐは、第２検査ステージ９を通過することにより、外部へ露出したチップ部品Ｐの第３面と第４面が検査される。なお、検査に代えて電気的特性などを測定してもよい。そして、取出ステージ１０で第２ロータ８の吸引口３１は圧空噴射に切り替えられ、チップ部品Ｐは良品と不良品とが分別されて取り出される。
【００２４】
図１０は第１分離部４の第２実施例を示す。
第１実施例では、チップ部品Ｐを中継ガイド手段１５の垂直溝１６ｃから第１ロータ５の嵌合溝２０へ吸着させて乗り移らせたが、第２実施例では、中継ガイド手段１５の垂直溝１６ｃを省略し、傾斜溝１６ｂから第１ロータ５の嵌合溝２０へ直接吸着させたものである。この場合、傾斜溝１６ｂの下端でチップ部品Ｐが第１ロータ５に吸着されるように、傾斜溝１６ｂの上面を覆う上面カバー１７を設けるのが望ましい。
【００２５】
図１１は第１分離部４の第３実施例を示す。
この実施例では、中継ガイド手段１５に水平溝１６ａのみを形成し、水平溝１６ａを第１ロータ５の下端部に近接させたものである。この場合には、水平溝１６ａを搬送されたチップ部品Ｐは上面カバー１７の終端を通過した時点で第１ロータ５の嵌合溝２０に吸着されるように、上面カバー１７を第１ロータ５の直下点近傍まで延設するのが望ましい。
【００２８】
また、上記実施例ではロータ５，８の吸引口２１，３１として、嵌合溝２０，３０の底部に等ピッチ間隔で複数個設けたが、嵌合溝２０，３０の底部に連続した１個の吸引口を設けてもよい。この場合には、吸着されるチップ部品Ｐの位置は一定しないが、ロータ５，８の全周の如何なる部位でも吸着できるので、移乗ミスの発生を抑制できる効果がある。
【００３１】
【発明の効果】
以上の説明で明らかなように、請求項１に記載の発明によれば、ロータの外周面に個別の凹部を形成するのではなく、連続した嵌合溝を設け、嵌合溝の底部に吸引口を設けたので、整列フィーダからロータへの乗り移りに際し、ロータを停止させる必要がなく、ロータを高速回転させたまま円滑に乗り移らせることができる。そのため、分離効率を高めることができる。また、乗り移りの際にチップ部品にダメージを与えることがないので、チップ部品の不良率を低減できる。
【００３２】
さらに、本発明によれば、第１ロータから第２ロータへの乗り移りを、両ロータを高速回転させながら円滑に行なうことができ、搬送効率を高めることができる。また、乗り移りによってチップ部品が自動反転されるので、反転のための工程が不要となり、構造が簡素化されるとともに、チップ部品に与えるダメージも少ない。
本発明では、整列溝および嵌合溝をチップ部品の２面を保持するＶ字溝で構成したので、チップ部品に多少の寸法のバラツキがあっても、バラツキを吸収し、安定して吸着できる。また、チップ部品をロータに吸着しながら搬送し、外観検査などを行なう場合、嵌合溝をＶ字溝とすることで、チップ部品の２面を同時に検査できるので、検査作業が効率化される。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明にかかる自動分離供給装置の全体構成を示す概略側面図である。
【図２】チップ部品の一例の斜視図である。
【図３】第１分離部の平面図である。
【図４】第１分離部の断面図である。
【図５】図４のＶ−Ｖ線断面図である。
【図６】図４のVI−VI矢視図である。
【図７】第１分離部の動作を示す断面図である。
【図８】第２分離部の断面図である。
【図９】第２分離部の平面図である。
【図１０】第１分離部の第２実施例の断面図である。
【図１１】第１分離部の第３実施例の断面図である。
【符号の説明】
Ｐ チップ部品
３ リニアフィーダ（整列フィーダ）
４ 第１分離部
５ 第１ロータ
６ 第１検査ステージ
７ 第２分離部
８ 第２ロータ
９ 第２検査ステージ
１１，１６ 整列溝
１５ 中継ガイド手段
２０，３０ 嵌合溝
２１，３１ 吸引口
【発明の属する技術分野】
本発明はチップ型電子部品のような小型のチップ部品をロータに吸着保持して１個ずつ分離された形態で供給するチップ部品の自動分離供給装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、例えば特開平２−２７０７１７号公報に示されるように、チップ部品をパーツフィーダからロータの外周部に設けた凹部に乗り移らせ、チップ部品を凹部に保持しながら間欠回転させた後、ロータからキャリヤテープに乗り移らせてテーピングを行なうようにした自動分離供給装置が知られている。
【０００３】
このような供給装置の場合、パーツフィーダにより送られてきた先頭のチップ部品がロータの凹部に入る際、ロータを停止させる必要があり、また２番目のチップ部品がパーツフィーダから突出しないようにチップ部品を押さえておく必要がある。そして、ロータを１ピッチ分回転させた後に停止させ、押さえられたチップ部品を解放してロータの凹部へ送り込むという操作を行なうことになる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
このように、従来の供給装置では、ロータの回転が間欠回転となるため、供給速度を上げられないだけでなく、凹部への移乗ミスや移乗障害が発生しやすいという欠点がある。また、チップ部品をパーツフィーダ内で押さえておくため、チップ部品にダメージを与える恐れがあった。さらに、ロータの停止位置を高精度に位置決めする必要があるため、装置が高価となるという欠点があった。
【０００５】
そこで、本発明の目的は、供給速度を向上させることができるとともに、チップ部品に与えるダメージが少なく、装置が簡単で安価なチップ部品の自動分離供給装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記目的は、請求項１に記載の発明によって達成される。
すなわち、請求項１に記載の発明は、上面に直方体形状のチップ部品の２側面を支えながら案内する断面Ｖ字形の整列溝が形成され、上記チップ部品を一列に整列させて連続的に搬送する整列フィーダと、水平軸を中心として一定方向に連続的に回転駆動され、外周面全周に上記チップ部品の２側面を嵌合支持する断面Ｖ字形の嵌合溝が連続的に形成され、上記嵌合溝の底部にチップ部品を吸引保持するための吸引口が設けられた第１ロータと、上記整列フィーダと第１ロータとの間に設けられ、上記チップ部品の２側面を支えながら第１ロータの接線方向にガイドする断面Ｖ字形のガイド溝が第１ローラの嵌合溝と対向して形成され、第１ローラの吸引口に吸引されてチップ部品をガイド溝から第１ロータの嵌合溝へ乗り移らせる中継ガイド手段と、水平軸を中心として上記第１ロータと逆方向に連続的に回転駆動され、外周面全周に上記チップ部品の２側面を嵌合支持する断面Ｖ字形の嵌合溝が連続的に形成され、上記嵌合溝の底部にチップ部品を吸引保持するための吸引口が設けられ、第１ロータの嵌合溝によって搬送されたチップ部品が吸引口に吸引されて嵌合溝に乗り移るように、第１ロータと嵌合溝同士が近接して対向配置された第２ロータと、を備えたことを特徴とするチップ部品の自動分離供給装置を提供する。
【０００７】
この発明では、ロータでのチップ部品の保持を、従来のような凹部で行なうのではなく、ロータの外周面に連続的に形成された嵌合溝で行なう。そのため、ロータを連続回転させることができ、高速運転が可能となるとともに、装置を簡素化できる。また、整列フィーダでチップ部品を押さえておく必要がなく、連続的に投入すればよいので、チップ部品へのダメージを少なくできる。
【０００８】
整列フィーダと第１ロータとの間には、チップ部品の２側面を支えながら第１ロータの接線方向にガイドする断面Ｖ字形のガイド溝が第１ローラの嵌合溝と対向して形成され、第１ローラの吸引口に吸引されてチップ部品をガイド溝から第１ロータの嵌合溝へ乗り移らせる中継ガイド手段が設けられている。そのため、整列フィーダで搬送されたチップ部品の搬送方向を中継ガイド手段によってロータの接線方向に変換した上で、ロータの嵌合溝へチップ部品を乗り移らせるので、乗り移りがスムーズに行なえ、移乗ミスや移乗障害が発生しにくい。
【０００９】
本発明の自動分離供給装置は、一定方向に回転駆動され、外周面全周にチップ部品を嵌合支持する嵌合溝が連続的に形成され、嵌合溝の底部にチップ部品を吸引保持するための吸引口が設けられた第１のロータと、第１のロータと逆方向に回転駆動され、外周面全周にチップ部品を嵌合支持する嵌合溝が連続的に形成され、嵌合溝の底部にチップ部品を吸引保持するための吸引口が設けられた第２のロータとを備え、第１のロータによって搬送されたチップ部品が第２のロータの吸引口に吸引されて嵌合溝に乗り移るように、第１ロータと第２ロータとをその嵌合溝が近接して対向するように配置してある。
【００１０】
そのため、第１のロータによって搬送しながらチップ部品の第１面と第２面とを検査し、第２のロータに乗り移らせることでチップ部品を反転させ、第２のロータによって搬送しながらチップ部品の第３面と第４面とを検査することができる。この場合、第１のロータと第２のロータとを共に連続回転させながらチップ部品を乗り移らせることができるので、高速の反転乗り移りが可能である。しかも、第１のロータから第２のロータへ直接乗り移らせることができるので、作業工程が簡素化され、効率のよい検査を実施できる。さらに、チップ部品の反転のためにチップ部品をロータから取り出したり、強制的に反転させる必要もなく、チップ部品に与えるダメージが非常に少ない。
【００１１】
本発明では、整列溝および嵌合溝をチップ部品の２面を保持するようにＶ字溝に形成してある。嵌合溝の底部に吸引口が設けられているので、チップ部品に多少の寸法のバラツキがあっても、バラツキを吸収し、安定して吸着できる。また、チップ部品をロータに吸着しながら搬送し、外観検査などを行なう場合、嵌合溝をＶ字溝とすれば、チップ部品の２面を同時に検査できるので、検査作業が効率化される。
【００１２】
【発明の実施の形態】
図１は本発明にかかる自動分離供給装置の全体構成を示す。
この実施例では、チップ部品として、図２に示すように直方体形状のチップ状電子部品Ｐを用いた。チップ部品Ｐの長さ方向の両端には電極Ｐ１，Ｐ２が形成されている。
【００１３】
自動分離供給装置の一端側には、パーツフィーダ１が設けられ、このパーツフィーダ１は、ボールフィーダ２とリニアフィーダ（整列フィーダ）３とで構成されている。ボールフィーダ２にランダムな状態で投入されたチップ部品Ｐは、リニアフィーダ３によって矢印方向へ搬送される。
【００１４】
リニアフィーダ３の終端部には第１分離部４が設けられ、この分離部４で、チップ部品Ｐは水平軸を中心として連続回転する第１ロータ５へ１個ずつ分離されて乗り移る。そして、第１ロータ５によって搬送されながら、第１検査ステージ６を通過することでチップ部品Ｐの第１面と第２面とが検査される。さらに、第２分離部７で第１ロータ５から同じく水平軸を中心として連続回転する第２ロータ８へ乗り移り、第２検査ステージ９でチップ部品Ｐの第３面と第４面とが検査される。その後、取出ステージ１０でチップ部品Ｐは良品と不良品とが分別されて取り出される。
【００１５】
図３〜図６は第１分離部４の詳細を示す。
リニアフィーダ３には図示しない加振装置によって図４の矢印Ａ方向に微振動が加えられており、チップ部品Ｐを一列に整列させて矢印Ｂ方向に連続的に搬送する。リニアフィーダ３の上面には、チップ部品Ｐの２面（第１面と第２面）を支える断面Ｖ字形の整列溝１１が形成されている。図５に示すように、整列溝１１の開口角度は９０°に設定されている。リニアフィーダ３の上面には上面カバー１２が装着され、上面カバー１２の下面には、上記整列溝１１に対応する断面Ｖ字形のガイド溝１３が形成されている。そのため、チップ部品Ｐは整列溝１１とガイド溝１３の間を一定の姿勢を保持しながら搬送される。なお、リニアフィーダ３のチップ部品供給速度は、後述するロータ５，８のチップ部品搬送速度以下に設定されている。すなわち、リニアフィーダ３の供給速度が大き過ぎると、行き場を失ったチップ部品Ｐが発生し、後述するロータ５，８の１個の吸引口に複数のチップ部品Ｐが吸着されたりして分離効率が低下するからである。なお、上面カバー１２は整列溝１１からのチップ部品Ｐの飛び出しを防止するものであるが、必要に応じて設けられる。
【００１６】
リニアフィーダ３の終端部には、非振動部である中継ガイド手段１５が設けられている。この中継ガイド手段１５の上面には、断面Ｖ字形の整列溝１６が形成され、中継ガイド手段１５の上面には上面カバー１７が装着されている。整列溝１６は、リニアフィーダ３の整列溝１１と同一直線上に連続する水平溝１６ａと、斜め下方へ傾斜した傾斜溝１６ｂと、直下方へ延びる垂直溝１６ｃとで構成されている。リニアフィーダ３によって矢印Ｂ方向に押されたチップ部品Ｐは、その押し力により水平溝１６ａから傾斜溝１６ｂへと搬送される。そして、チップ部品Ｐが水平溝１６ａから傾斜溝１６ｂへ移動する時、その角度変化によりチップ部品Ｐは分離され、傾斜溝１６ｂから垂直溝１６ｃへと滑落する。
【００１７】
上記のような非振動部よりなる中継ガイド手段１５は、チップ部品Ｐの搬送方向を第１ロータ５の接線方向に方向変換させる機能の他に、リニアフィーダ３の整列溝１１を飛び跳ねながら搬送されるチップ部品Ｐの位置を安定させ、ロータ５に安定した姿勢で吸着させる機能を有する。また、リニアフィーダ３上を搬送されるチップ部品Ｐは、その滑り性のバラツキにより、ロータ５への供給間隔にバラツキが発生しやすいが、上記のような中継ガイド手段１５を設けることで供給間隔を安定化させ、分離効率を高めることができる。
【００１８】
第１ロータ５は円板状部材で構成され、モータなどの駆動装置（図示せず）により矢印Ｃ方向に回転駆動される。回転方式は連続回転でも間欠回転でもよいが、この実施例では連続回転される。ロータ５の外周面全周には、チップ部品Ｐの２面（第３面，第４面）を嵌合支持する断面Ｖ字形の嵌合溝２０が連続的に形成されている。この嵌合溝２０も、整列溝１１と同様に開口角度が９０°に設定されている。嵌合溝２０の底部には、一定ピッチ間隔で吸引口２１が設けられ、これら吸引口２１は図示しない真空吸引手段と接続されている。上記整列溝１６の垂直溝１６ｃは第１ロータ５の嵌合溝２０と対面し、第１ロータ５の接線方向に延びている。そのため、ロータ５が矢印Ｃ方向に回転すると、傾斜溝１６ｂを滑ったチップ部品Ｐは垂直溝１６ｃと第１ロータ５の嵌合溝２０との間に入り、嵌合溝２０の吸引口２１に吸着される。
【００１９】
図７はチップ部品Ｐがリニアフィーダ３から中継ガイド手段１５を介して第１ロータ５へ乗り移る動作を示す。
図７の1)はリニアフィーダ３から押されたチップ部品Ｐが中継ガイド手段１５の水平溝１６ａを移動している状態を示す。
図７の2)は先頭のチップ部品Ｐが水平溝１６ａから傾斜溝１６ｂへ移動し、後続のチップ部品Ｐから分離された状態を示す。
図７の3)は先頭のチップ部品Ｐが傾斜溝１６ｂから垂直溝１６ｃへ滑落し、ここで第１ロータ５の吸引口２１に吸着された状態を示す。チップ部品Ｐが垂直溝１６ｃを滑落する間に何れかの吸引口２１に吸着されるようにするため、垂直溝１６ｃの長さを吸引口２１のピッチ間隔とほぼ等しいか、それより長くするのが望ましい。
【００２０】
第１ロータ５に吸着されてチップ部品Ｐは搬送され、検査ステージ６を通過することにより、外部へ露出したチップ部品Ｐの第１面と第２面が検査される。なお、検査に代えて電気的特性などを測定してもよい。
【００２１】
検査ステージ６を通過した後、第１ロータ５に吸着されたチップ部品Ｐは、第２分離部７で第１ロータ５から第２ロータ８へ乗り移る。図８，図９は第２分離部７の詳細を示す。
第２ロータ８も第１ロータ５と同様な構造を有しており、第１ロータ５と逆方向（Ｄ方向）に連続回転される。すなわち、第２ロータ８の外周面全周には、チップ部品Ｐの２面（第１面，第２面）を嵌合支持する断面Ｖ字形の嵌合溝３０が連続的に形成され、嵌合溝３０の底部には、第１ロータ５の吸引口２１と同一ピッチ間隔で吸引口３１が設けられている。第１ロータ５と第２ロータ８とは、互いの吸引口２１，３１が対向するように、同期駆動されている。
【００２２】
第２分離部７に到達した第１ロータ５の吸引口２１は、エアー吸引から圧空噴射に切り替えられ、チップ部品Ｐは第１ロータ５の嵌合溝２０から半径方向に押し出される。一方、第２ロータ８の吸引口３１はエアー吸引されているので、第１ロータ５から押し出されたチップ部品Ｐを嵌合溝３０へ吸着する。これによって、チップ部品Ｐはそれまで外部へ露出していた第１面と第２面とが嵌合溝３０に吸着され、第３面と第４面とが外部へ露出することになる。つまり、チップ部品Ｐは１８０°反転されたことになる。
なお、図８，図９では説明を容易にするために、ロータ５，８間の距離Ｘを広目に記載したが、実際にはチップ部品Ｐを押しつぶす恐れがない程度に狭く設定されている。
【００２３】
第２ロータ８に吸着されたチップ部品Ｐは、第２検査ステージ９を通過することにより、外部へ露出したチップ部品Ｐの第３面と第４面が検査される。なお、検査に代えて電気的特性などを測定してもよい。そして、取出ステージ１０で第２ロータ８の吸引口３１は圧空噴射に切り替えられ、チップ部品Ｐは良品と不良品とが分別されて取り出される。
【００２４】
図１０は第１分離部４の第２実施例を示す。
第１実施例では、チップ部品Ｐを中継ガイド手段１５の垂直溝１６ｃから第１ロータ５の嵌合溝２０へ吸着させて乗り移らせたが、第２実施例では、中継ガイド手段１５の垂直溝１６ｃを省略し、傾斜溝１６ｂから第１ロータ５の嵌合溝２０へ直接吸着させたものである。この場合、傾斜溝１６ｂの下端でチップ部品Ｐが第１ロータ５に吸着されるように、傾斜溝１６ｂの上面を覆う上面カバー１７を設けるのが望ましい。
【００２５】
図１１は第１分離部４の第３実施例を示す。
この実施例では、中継ガイド手段１５に水平溝１６ａのみを形成し、水平溝１６ａを第１ロータ５の下端部に近接させたものである。この場合には、水平溝１６ａを搬送されたチップ部品Ｐは上面カバー１７の終端を通過した時点で第１ロータ５の嵌合溝２０に吸着されるように、上面カバー１７を第１ロータ５の直下点近傍まで延設するのが望ましい。
【００２８】
また、上記実施例ではロータ５，８の吸引口２１，３１として、嵌合溝２０，３０の底部に等ピッチ間隔で複数個設けたが、嵌合溝２０，３０の底部に連続した１個の吸引口を設けてもよい。この場合には、吸着されるチップ部品Ｐの位置は一定しないが、ロータ５，８の全周の如何なる部位でも吸着できるので、移乗ミスの発生を抑制できる効果がある。
【００３１】
【発明の効果】
以上の説明で明らかなように、請求項１に記載の発明によれば、ロータの外周面に個別の凹部を形成するのではなく、連続した嵌合溝を設け、嵌合溝の底部に吸引口を設けたので、整列フィーダからロータへの乗り移りに際し、ロータを停止させる必要がなく、ロータを高速回転させたまま円滑に乗り移らせることができる。そのため、分離効率を高めることができる。また、乗り移りの際にチップ部品にダメージを与えることがないので、チップ部品の不良率を低減できる。
【００３２】
さらに、本発明によれば、第１ロータから第２ロータへの乗り移りを、両ロータを高速回転させながら円滑に行なうことができ、搬送効率を高めることができる。また、乗り移りによってチップ部品が自動反転されるので、反転のための工程が不要となり、構造が簡素化されるとともに、チップ部品に与えるダメージも少ない。
本発明では、整列溝および嵌合溝をチップ部品の２面を保持するＶ字溝で構成したので、チップ部品に多少の寸法のバラツキがあっても、バラツキを吸収し、安定して吸着できる。また、チップ部品をロータに吸着しながら搬送し、外観検査などを行なう場合、嵌合溝をＶ字溝とすることで、チップ部品の２面を同時に検査できるので、検査作業が効率化される。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明にかかる自動分離供給装置の全体構成を示す概略側面図である。
【図２】チップ部品の一例の斜視図である。
【図３】第１分離部の平面図である。
【図４】第１分離部の断面図である。
【図５】図４のＶ−Ｖ線断面図である。
【図６】図４のVI−VI矢視図である。
【図７】第１分離部の動作を示す断面図である。
【図８】第２分離部の断面図である。
【図９】第２分離部の平面図である。
【図１０】第１分離部の第２実施例の断面図である。
【図１１】第１分離部の第３実施例の断面図である。
【符号の説明】
Ｐ チップ部品
３ リニアフィーダ（整列フィーダ）
４ 第１分離部
５ 第１ロータ
６ 第１検査ステージ
７ 第２分離部
８ 第２ロータ
９ 第２検査ステージ
１１，１６ 整列溝
１５ 中継ガイド手段
２０，３０ 嵌合溝
２１，３１ 吸引口
Claims (4)
- 上面に直方体形状のチップ部品の２側面を支えながら案内する断面Ｖ字形の整列溝が形成され、上記チップ部品を一列に整列させて連続的に搬送する整列フィーダと、
水平軸を中心として一定方向に連続的に回転駆動され、外周面全周に上記チップ部品の２側面を嵌合支持する断面Ｖ字形の嵌合溝が連続的に形成され、上記嵌合溝の底部にチップ部品を吸引保持するための吸引口が設けられた第１ロータと、
上記整列フィーダと第１ロータとの間に設けられ、上記チップ部品の２側面を支えながら第１ロータの接線方向にガイドする断面Ｖ字形のガイド溝が第１ローラの嵌合溝と対向して形成され、第１ローラの吸引口に吸引されてチップ部品をガイド溝から第１ロータの嵌合溝へ乗り移らせる中継ガイド手段と、
水平軸を中心として上記第１ロータと逆方向に連続的に回転駆動され、外周面全周に上記チップ部品の２側面を嵌合支持する断面Ｖ字形の嵌合溝が連続的に形成され、上記嵌合溝の底部にチップ部品を吸引保持するための吸引口が設けられ、第１ロータの嵌合溝によって搬送されたチップ部品が吸引口に吸引されて嵌合溝に乗り移るように、第１ロータと嵌合溝同士が近接して対向配置された第２ロータと、を備えたことを特徴とするチップ部品の自動分離供給装置。 - 上記第１ローラの外周面に対向して配置され、上記第１ローラの嵌合溝に保持されたチップ部品の外部に露出した２側面を検査する第１検査手段と、上記第２ローラの外周面に対向して配置され、上記第２ローラの嵌合溝に保持されたチップ部品の外部に露出した他の２側面を検査する第２検査手段とを備えたことを特徴とする請求項１に記載のチップ部品の自動分離供給装置。
- 上記整列フィーダは上記チップ部品に微振動を与えて搬送するものであり、上記中継ガイド手段は非振動部で構成されていることを特徴とする請求項１または２に記載のチップ部品の自動分離供給装置。
- 上記中継ガイド手段のガイド溝は、上記整列フィーダの整列溝と同一直線上に連続する水平溝と、水平溝の終端に接続され、斜め下方に傾斜した傾斜溝と、傾斜溝の終端に接続され、第１ローラの嵌合溝と対向するように直下方向に伸びる垂直溝とで構成されていることを特徴とする請求項１ないし３のいずれかに記載のチップ部品の自動分離供給装置。
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