JP2000046901A - Ｉｃ試験装置の管理装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＩＣ試験装置や制御装置を接続せずにアプリ
ケーションプログラムを利用でき、開発やデバッグが容
易なＩＣ試験装置の管理装置を提供する。 【解決手段】 制御用レジスタ３１は本来ＩＣ試験装置
に内蔵され、制御プログラム６４がＩＣ試験装置の動作
を模倣して得た制御結果が格納される。制御プログラム
６４は、制御装置に内蔵の制御プログラムと同機能を持
つほか、制御要求Ｃ１に従い、ＩＣ試験装置及び制御装
置が接続されているのと同じ制御結果を得るように模倣
する機能を有し、この制御結果を制御結果通知Ｃ２とし
て出力する。アプリケーションプログラム６１は入力装
置１０から制御命令を含むデータＤ１を受信して制御要
求Ｐ１を生成するほか、制御結果通知Ｐ２からデータＤ
３を出力装置２０に送って制御結果を表示させる。管理
プログラム６３は制御要求Ｃ１，Ｐ１の間および制御結
果通知Ｃ２，Ｐ２の間のデータ形式を変換する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＩＣ（集積回路）
等の被測定デバイスの試験を行うＩＣ試験装置を管理す
るためのＩＣ試験装置の管理装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】ＩＣ試験装置では、従来より当該ＩＣ試
験装置の動作を制御するためにアプリケーションプログ
ラムが用いられている。図２は、アプリケーションプロ
グラムを実行することによってＩＣ試験装置の動作を制
御するようにしたＩＣ試験システムの構成を示したブロ
ック図である。

【０００３】同図において、入力装置１０はアプリケー
ションプログラムのユーザが制御命令を入力するなどし
てＩＣ試験装置に対する各種の操作を行うための入力機
器であって、キーボード，マウス等で実現される。な
お、ユーザが入力装置１０から入力する制御命令には、
テストの開始指示であるテストスタート命令，テストの
中止指示であるテストリセット命令のほか、テストに必
要となる各種設定値の設定命令及び変更命令などがあ
る。出力装置２０はＣＲＴ（陰極線管）やプリンタなど
の出力機器であって、制御結果を例えばＣＲＴ画面上に
表示させる。この制御結果は、入力装置１０から入力さ
れた制御命令に対する応答として得られるものであっ
て、テスト実施によって得られるテスト結果，制御の成
功又は失敗の通知などがある。

【０００４】ＩＣ試験装置３０はＩＣなどの被測定デバ
イス４０に対してＤＣ（直流）特性試験，ＡＣ（交流）
特性試験，機能試験等の各種試験を行う装置であって、
内部に制御用レジスタ３１を備えている。なお、実際に
は制御用レジスタ３１は多数設けられているが、図２で
は説明の都合から制御用レジスタ３１を一つだけ示して
ある。これら制御用レジスタ３１はＩＣ試験装置３０内
部の各種動作を制御するためのものであって、後述する
制御装置５０から設定され或いは参照される。ここで、
最近のＩＣ試験システムではシステム全体の負荷を軽減
して効率的な試験を実施するという目的の下に、ＩＣ試
験装置の動作を制御するために制御装置（図中の制御装
置５０）および管理装置（図中の管理装置６０）と呼ば
れる２種類の装置を設置したシステム形態を採用するこ
とがある。こうした形態によれば、ＩＣ試験装置３０の
ユーザは、管理装置上で動作するアプリケーションプロ
グラムを使用しながら制御装置を介してＩＣ試験装置３
０を操作してゆく。

【０００５】制御装置５０は管理装置６０から送られる
制御命令に従ってＩＣ試験装置３０の詳細動作に関わる
制御を行うものであって、制御装置５０の動作を司る制
御プログラム５１を備えている。この制御プログラム５
１は後述する管理プログラム６３から送られる制御要求
Ｃ１に従って、制御用レジスタ３１からの読み込みまた
は制御用レジスタ３１に対する書き込みを行い、その制
御結果を制御結果通知Ｃ２として管理プログラム６３に
送出する。なお、制御結果通知Ｃ２に含まれる制御結果
は、制御プログラム５１自身が生成する場合のほか、Ｉ
Ｃ試験装置３０が制御結果を生成して制御用レジスタ３
１に書き込み、制御プログラム５１が制御用レジスタ３
１から制御結果Ｒ１を取得して管理プログラム６３に伝
達する場合もある。

【０００６】一方、管理装置６０は入力装置１０，出力
装置２０及び制御装置５０との間で授受するデータの加
工，表示，格納等の処理を行って、ＩＣ試験装置３０の
操作といったシステム全体にわたる処理を受け持ってお
り、かかる処理を実現するためにアプリケーションプロ
グラム６１，６２及び管理プログラム６３を備えてい
る。なお、実際には管理装置６０は多数のアプリケーシ
ョンプログラムを記憶しているが、説明の都合上、同図
では２本のアプリケーションプログラムのみを示してあ
る。

【０００７】アプリケーションプログラム６１，６２
は、入力装置１０から入力される制御命令等のデータＤ
１，Ｄ２をそれぞれ解析して制御要求Ｐ１，Ｐ３を生成
し、これら制御要求をそれぞれ管理プログラム６３へ送
出する。このほかにアプリケーションプログラム６１，
６２は、管理プログラム６３からそれぞれ制御結果通知
Ｐ２，Ｐ４を受け取ってその内容を解析して制御結果を
生成し、得られた制御結果をそれぞれデータＤ３，Ｄ４
として出力装置２０へ送出する。

【０００８】管理プログラム６３は上述したシステム全
体にわたる処理を司るプログラムである。管理プログラ
ム６３はかかる処理に加えて、アプリケーションプログ
ラム６１，６２から受信した制御要求Ｐ１，Ｐ３を制御
プログラム５１に対する制御要求Ｃ１へ変換して制御装
置５０に送出するほか、制御プログラム５１から送られ
る制御結果通知Ｃ２を制御結果通知Ｐ２，Ｐ４へ変換し
てアプリケーションプログラム６１，６２へ送出する。
こうした変換動作が必要となる理由は、制御要求Ｐ１，
Ｐ３及び制御結果通知Ｐ２，Ｐ４は何れもアプリケーシ
ョンプログラム６１，６２が処理可能なデータ形式であ
るのに対し、制御要求Ｃ１及び制御結果通知Ｃ２は制御
プログラム５１がＩＣ試験装置３０に対する制御を行う
のに適したデータ形式になっているためである。

【０００９】次に、図３及び図４に示すフローチャート
を参照しつつ、上記構成を用いてＩＣ試験装置を制御し
てゆく際の手順について説明することとする。これらフ
ローチャートのうち、図３はアプリケーションプログラ
ム６１，６２で実行される処理手順を示したものであ
り、図４は管理プログラム６３で実行される処理手順を
示したものである。また、アプリケーションプログラム
６１，６２の処理手順は全く同じであるため、以下の説
明ではこれらアプリケーションプログラムのうち、アプ
リケーションプログラム６１を例に挙げて説明する。

【００１０】ＩＣ試験装置の制御が開始されると、まず
アプリケーションプログラム６１は入力装置１０からデ
ータＤ１が送られたかどうかを定期的に調べ、データＤ
１が送られている場合にはその内容を解析して、入力装
置１０から制御命令が与えられるまで待ち合わせる（ス
テップＳ１）。その後、入力装置１０から制御命令が入
力される（ステップＳ１の判断結果が“ＹＥＳ”）と、
アプリケーションプログラム６１は与えられた制御命令
を解析（ステップＳ２）してＩＣ試験装置３０に対する
制御要求Ｐ１を管理プログラム６３へ送出する（ステッ
プＳ３）。その後、アプリケーションプログラム６１は
管理プログラム６３から制御結果通知Ｐ２を受信（ステ
ップＳ４の判断結果が“ＹＥＳ”）するまで待機する。

【００１１】一方、管理プログラム６３はアプリケーシ
ョンプログラム６１又は６２から制御要求Ｐ１又はＰ３
が送られたかどうかを監視（図４のステップＳ１１）し
ている。前述したステップＳ３の処理によって、アプリ
ケーションプログラム６１から制御要求Ｐ１を受信（ス
テップＳ１１の判断結果が“ＹＥＳ”）すると、管理プ
ログラム６３はこの制御要求Ｐ１を解析（ステップＳ１
２）して制御要求Ｃ１に変換したのち、この制御要求Ｃ
１を制御プログラム５１に送信する（ステップＳ１
３）。制御プログラム５１は制御要求Ｃ１に応じて制御
用レジスタ３１に書き込みを行ってＩＣ試験装置３０を
制御する。この制御によって、制御プログラム５１は自
身で制御結果を生成するか、あるいは、ＩＣ試験装置３
０が制御結果を生成する場合には制御用レジスタ３１を
参照して制御結果を取得して、制御結果通知Ｃ２を管理
プログラム６３へ送出する。

【００１２】こうして、制御プログラム５１から制御結
果通知Ｃ２を受信（ステップＳ１４の判断結果が“ＹＥ
Ｓ”）すると、管理プログラム６３は制御結果通知Ｃ２
の内容を解析（ステップＳ１５）して制御結果通知Ｐ２
に変換してアプリケーションプログラム６１へ送信する
（ステップＳ１６）。アプリケーションプログラムは、
管理プログラム６３から制御結果通知Ｐ２を受信（ステ
ップＳ４の判断結果が“ＹＥＳ”）すると、この制御結
果通知Ｐ２の内容を解析（ステップＳ５）し、得られた
制御結果をデータＤ３として出力装置２０に送出する。
これによって、制御結果が出力装置２０上に表示される
（ステップＳ６）。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】以上のように、図２に
示した従来のシステム構成では、アプリケーションプロ
グラム６１，６２の持つ機能を利用するためには、管理
装置６０に対して必ずＩＣ試験装置３０及び制御装置５
０を接続しておく必要がある。つまり、アプリケーショ
ンプログラムを利用するためには高価なＩＣ試験装置３
０及び制御装置５０の準備が必要となるという問題があ
る。しかも、実際にテストを実施する場合だけでなく、
アプリケーションプログラムの開発やデバッグを行う際
にも、ＩＣ試験装置３０及び制御装置５０が常に必要と
なるため、アプリケーション開発に関わる作業の効率低
下を招いている。

【００１４】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、その目的は、ＩＣ試験装置や制御装置を接続する
ことなくアプリケーションプログラムの機能を利用する
ことができ、アプリケーションプログラムの開発やデバ
ッグを容易にするＩＣ試験装置の管理装置を提供するこ
とにある。

【００１５】

【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに、請求項１記載の発明は、アプリケーションプログ
ラムがＩＣ試験装置を制御するための制御命令に基づい
て制御要求を生成し、管理手段が前記制御要求に従って
前記ＩＣ試験装置の操作に関わる制御を行うＩＣ試験装
置の管理装置において、前記管理手段から送られる前記
制御要求に従って、前記ＩＣ試験装置の詳細動作を制御
する制御装置の動作と前記ＩＣ試験装置の動作とを模倣
する模倣手段を具備することを特徴としている。また、
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において、
前記模倣手段は、前記ＩＣ試験装置の動作を制御するた
めの制御用レジスタを有し、前記制御用レジスタを操作
することによって前記ＩＣ試験装置の動作を模倣するこ
とを特徴としている。また、請求項３記載の発明は、請
求項２記載の発明において、前記模倣手段は、前記ＩＣ
試験装置が作成すべき制御結果を生成して前記制御用レ
ジスタに格納しておき、該制御結果を前記アプリケーシ
ョンプログラムへ通知する時点で、前記制御用レジスタ
から該制御結果を取り出して前記管理手段を介して前記
アプリケーションプログラムに送出することを特徴とし
ている。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施形態について説明する。図１は、本実施形態による
ＩＣ試験システムの構成を示すブロック図である。同図
において、図２に示したのと同じ構成要素については同
一の符号を付してあり、ここではその説明を省略する。
同図に示したように、本実施形態では図２に示したＩＣ
試験装置３０，被測定デバイス４０，制御装置５０を必
要としないことが特徴である。

【００１７】図１に示した管理装置１６０は、図２に示
した管理装置６０に対して、制御用レジスタ３１と、図
２に示した制御プログラム５１に相当する制御プログラ
ム６４を内蔵させている。この制御プログラム６４は、
ＩＣ試験装置を実際に制御するのではなく、ＩＣ試験装
置に対する制御が行われたのと全く同様の動作を模倣す
るものであるが、これ以外の点については制御プログラ
ム５１と同じ機能を具備している。したがって、本来で
あればＩＣ試験装置が制御結果を生成する場合、制御プ
ログラム６４はＩＣ試験装置が生成するであろう制御結
果を擬似的に生成するようにしている。こうした構成と
することで、アプリケーションプログラム６１，６２及
び管理プログラム６３からは、あたかもＩＣ試験装置３
０及び制御装置５０が接続されているかのように見える
ことになる。

【００１８】次に、図３及び図４に示したフローチャー
トに沿って、上記構成を用いてＩＣ試験装置を制御して
ゆく際の手順について説明することとする。なお、従来
の技術で説明したのと同じく、以下の説明ではアプリケ
ーション６１，６２のうち、アプリケーションプログラ
ム６１における処理を例に挙げて説明する。まず、ＩＣ
試験装置の制御が開始されると、アプリケーションプロ
グラム６１は従来と同様にステップＳ１〜Ｓ４の処理を
実行する。すなわちアプリケーションプログラム６１
は、入力装置１０からの制御命令を待ち合わせて（ステ
ップＳ１）、制御命令が入力されたならば（同ステップ
の判断結果が“ＹＥＳ”）、入力された制御命令を解析
（ステップＳ２）して制御要求Ｐ１を管理プログラム６
３へ送出（ステップＳ３）して、管理プログラム６３か
ら制御結果通知Ｐ２を受信（ステップＳ４の判断結果が
“ＹＥＳ”）するまで待機する。

【００１９】一方、管理プログラム６３は従来と同様に
アプリケーションプログラム６１又は６２から制御要求
Ｐ１又はＰ３が送られたかどうかを監視（図４のステッ
プＳ１１）している。そして、アプリケーションプログ
ラム６１から制御要求Ｐ１を受信（同ステップの判断結
果が“ＹＥＳ”）すると、管理プログラム６３は制御要
求Ｐ１を解析（ステップＳ１２）して制御要求Ｃ１に変
換したのち、この制御要求Ｃ１を同じ管理装置１６０内
で動作する制御プログラム６４に送信する（ステップＳ
１３）。

【００２０】これにより、制御プログラム６４は管理プ
ログラム６３から送られた制御要求Ｃ１に従って、制御
用レジスタ３１へ書き込みを行うとともに、ＩＣ試験装
置が接続されている場合と全く同様の制御を模倣して、
当該制御によって得られるはずの制御結果を制御結果通
知Ｃ２として管理プログラム６３へ送出する。ここで、
制御結果を生成するにあたり、制御プログラム６４が自
ら制御結果を生成する場合には、図２に示した制御プロ
グラム５１が従来行っていたのと全く同様にして制御プ
ログラム６４が制御結果を生成する。これに対して、制
御結果がＩＣ試験装置側で作成されるものである場合、
制御プログラム６４はＩＣ試験装置の動作を模倣したと
きに生成される制御結果を制御用レジスタ３１に格納す
るようにしておき、管理プログラム６３へ制御結果通知
Ｃ２を送出する時点で、制御用レジスタ３１から制御結
果を取り出して制御結果通知Ｃ２を生成する。

【００２１】その後、制御プログラム６４から制御結果
通知Ｃ２を受信（ステップＳ１４の判断結果が“ＹＥ
Ｓ”）すると、管理プログラム６３は従来と同様に制御
結果通知Ｃ２を解析（ステップＳ１５）して制御結果通
知Ｐ２に変換してアプリケーションプログラム６１へ送
出する（ステップＳ１６）。一方、アプリケーションプ
ログラム６１は、制御結果通知Ｐ２を受信（ステップＳ
４の判断結果が“ＹＥＳ”）すると、従来と同様にして
その内容を解析（ステップＳ５）して制御結果をデータ
Ｄ３として出力装置２０に対して出力して制御結果を表
示させる（ステップＳ６）。

【００２２】なお、上述した説明では、制御結果がＩＣ
試験装置側で生成される場合に、制御結果をすべて制御
用レジスタ３１に格納することを想定していたが、実際
には制御用レジスタ３１に加えてディスクファイル等に
制御結果を格納しておき、制御プログラム６４がディス
クファイル等を参照して制御結果を得るようにしても良
い。

【００２３】

【発明の効果】以上説明したように、本発明では、ＩＣ
試験装置を制御するための制御命令に基づいてアプリケ
ーションプログラムが制御要求を生成して、この制御要
求を管理手段から模倣手段に送り、模倣手段が送られた
制御要求に従って制御装置の動作とＩＣ試験装置の動作
を模倣している。これにより、アプリケーションプログ
ラム及び管理手段からはあたかも制御装置とＩＣ試験装
置が存在するように見えるため、制御装置およびＩＣ試
験装置を管理装置に接続することなくアプリケーション
プログラムを利用することができ、アプリケーションプ
ログラムの開発やデバッグの際の作業効率を向上させる
ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の一実施形態によるＩＣ試験システム
の構成を示すブロック図である。

【図２】 従来の技術によるＩＣ試験システムの構成を
示すブロック図である。

【図３】 アプリケーションプログラムで実行される処
理の手順を示したフローチャートである。

【図４】 管理プログラムで実行される処理の手順を示
したフローチャートである。

【符号の説明】

１０…入力装置、２０…出力装置、３０…ＩＣ試験装
置、３１…制御用レジスタ、４０…被測定デバイス、５
０…制御装置、５１…制御プログラム、６１，６２…ア
プリケーションプログラム、６３…管理プログラム、６
４…制御プログラム、１６０…管理装置、Ｃ１，Ｐ１，
Ｐ３…制御要求、Ｃ２，Ｐ２，Ｐ４…制御結果通知、Ｄ
１〜Ｄ４…データ

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 アプリケーションプログラムがＩＣ試験
   装置を制御するための制御命令に基づいて制御要求を生
   成し、管理手段が前記制御要求に従って前記ＩＣ試験装
   置の操作に関わる制御を行うＩＣ試験装置の管理装置に
   おいて、 前記管理手段から送られる前記制御要求に従って、前記
   ＩＣ試験装置の詳細動作を制御する制御装置の動作と前
   記ＩＣ試験装置の動作とを模倣する模倣手段を具備する
   ことを特徴とするＩＣ試験装置の管理装置。
2. 【請求項２】 前記模倣手段は、前記ＩＣ試験装置の動
   作を制御するための制御用レジスタを有し、前記制御用
   レジスタを操作することによって前記ＩＣ試験装置の動
   作を模倣することを特徴とする請求項１記載のＩＣ試験
   装置の管理装置。
3. 【請求項３】 前記模倣手段は、前記ＩＣ試験装置が作
   成すべき制御結果を生成して前記制御用レジスタに格納
   しておき、該制御結果を前記アプリケーションプログラ
   ムへ通知する時点で、前記制御用レジスタから該制御結
   果を取り出して前記管理手段を介して前記アプリケーシ
   ョンプログラムに送出することを特徴とする請求項２記
   載のＩＣ試験装置の管理装置。