JP2000046722A - 粒子濃度測定方法および装置並びに粒子計測装置 - Google Patents

粒子濃度測定方法および装置並びに粒子計測装置

Info

Publication number
JP2000046722A
JP2000046722A JP10217920A JP21792098A JP2000046722A JP 2000046722 A JP2000046722 A JP 2000046722A JP 10217920 A JP10217920 A JP 10217920A JP 21792098 A JP21792098 A JP 21792098A JP 2000046722 A JP2000046722 A JP 2000046722A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
suspension
aerosol
concentration
scattered light
measured
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10217920A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3371816B2 (ja
Inventor
Toshibumi Fukui
俊文 福井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP21792098A priority Critical patent/JP3371816B2/ja
Publication of JP2000046722A publication Critical patent/JP2000046722A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3371816B2 publication Critical patent/JP3371816B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 懸濁液もしくはエアロゾル中の粒子濃度を短
時間のうちに再現性よく高精度に測定することのできる
方法および装置、並びに併せて粒度分布を測定できる装
置を提供する。 【解決手段】 懸濁液Sもしくはエアロゾルにレーザ光
を照射して得られる回折・散乱光強度を測定し、その測
定結果と、同じ材質の粒子群を分散質とする複数種の既
知濃度の懸濁液もしくはエアロゾルを測定対象として求
めた回折・散乱光強度−粒子濃度の関係とを用いて、懸
濁液Sもしくはエアロゾル中の粒子濃度を求める。ま
た、回折・散乱光を複数の光センサで測定してその空間
強度分布を測定することにより、懸濁液S中の粒子群P
の粒度分布と、上記空間強度分布を積算することによる
粒子濃度とを併せて同時に求めることを可能とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は懸濁液もしくはエア
ロゾル中の粒子濃度の測定方法および装置と、懸濁液も
しくはエアロゾル中の粒子濃度並びに粒度分布を同時に
測定することのできる粒子計測装置に関する。
【0002】
【従来の技術】液体中に粒子群が分散してなる懸濁液、
および気体中に粒子群が分散してなるエアロゾルは、食
品、医薬品、化学工業、セラミックス等の種々の分野に
おいて取り扱われており、その懸濁液もしくはエアロゾ
ル中の粒子濃度は、粒度分布とともに重要な項目とされ
ている。
【0003】液体もしくは気体中の粒子群の粒度分布の
測定方法ないし装置については種々の方式のものが知ら
れているが、そのうち、レーザ回折・散乱法と称される
方式のものは所要時間が他の方式に比して極端に短くて
よい等の多くの利点を有しており、特にプロセスでのオ
ンライン測定等において多用されている。このレーザ回
折・散乱法に基づく粒度分布測定装置においては、液体
または気体を媒体としてそこに粒子群を分散させた懸濁
液またはエアロゾルの状態でレーザ光を照射することに
よって得られる回折・散乱光の空間強度分布を測定し、
その光強度分布がミーの散乱理論ないしはフラウンホー
ファの回折理論に則ることを利用して、回折・散乱光の
空間強度分布の測定結果から粒子群の粒度分布を算出す
る。
【0004】一方、液体または気体中に存在する粒子の
濃度についても幾つかの測定方法が知られているが、オ
ンライン測定等によって短時間のうちに再現性よく高精
度に測定する方法ないし装置は知られていない。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、液体もしく
は気体中の粒子濃度を短時間のうちに再現性よく高精度
に測定することのできる粒子濃度測定方法と、その方法
を利用した粒子濃度測定装置、および1回の測定のもと
に液体もしくは気体中の粒子濃度とその粒度分布を測定
することのできる粒子計測装置を提供することを、その
課題としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の粒子濃度測定方
法は、懸濁液もしくはエアロゾル中の粒子濃度を測定す
る方法であって、被測定懸濁液もしくはエアロゾルにレ
ーザ光を照射して得られる回折・散乱光強度を測定し、
その測定結果と、被測定懸濁液もしくはエアロゾル中の
粒子と材質の等しい粒子を分散質とする複数種の既知濃
度の懸濁液もしくはエアロゾルを測定対象として得た回
折・散乱光強度測定結果に基づいてあらかじめ求めてお
いた濃度−回折・散乱光強度の関係を用いて、被測定懸
濁液もしくはエアロゾルの濃度を求めることによって特
徴づけられる(請求項1)。
【0007】また、本発明の粒子濃度測定装置は、上記
発明方法を利用した粒子濃度測定装置であって、被測定
懸濁液もしくはエアロゾルにレーザ光を照射する照射光
学系と、そのレーザ光の照射により発生する回折・散乱
光強度を測定する光センサと、その光センサによる光強
度の測定結果と、被測定懸濁液もしくはエアロゾル中の
粒子と同じ材質の粒子を分散質とする懸濁液もしくはエ
アロゾルにおける濃度−回折・散乱光強度情報とを用い
て、被測定懸濁液もしくはエアロゾル中の粒子濃度を算
出する粒子濃度演算手段とを備えていることによって特
徴づけられる(請求項2)。
【0008】更に、本発明の粒子計測装置は、請求項1
に係る発明方法を利用して、懸濁液もしくはエアロゾル
中の粒子濃度と、その粒度分布とを1回の計測のもとに
同時に測定することのできる装置であり、被測定懸濁液
もしくはエアロゾルにレーザ光を照射する照射光学系
と、そのレーザ光の照射により発生する回折・散乱光の
空間強度分布を測定する光センサ群と、その光センサ群
による回折・散乱光の空間強度分布の測定結果から懸濁
液もしくはエアロゾル中の粒子群の粒度分布を算出する
粒度分布演算手段と、上記光センサ群による各角度での
回折・散乱光強度を相互に積算した積算値と被測定懸濁
液もしくはエアロゾル中の粒子と同じ材質の粒子を分散
質とする懸濁液もしくはエアロゾルにおける濃度−回折
・散乱光強度の情報を用いて、被測定懸濁液もしくはエ
アロゾル中の粒子濃度を算出する粒子濃度演算手段を備
えていることによって特徴づけられる(請求項3)。
【0009】ここで、請求項1〜3に係る発明におい
て、回折・散乱光強度または回折・散乱光の空間強度分
布の測定領域は、少なくとも前方所定角度領域を含ませ
ることが望ましい。これは、粒子群からの回折・散乱光
を全方位において測定することが実質的に困難であるこ
とと、粒子群による回折・散乱光の強度は、その前方所
定角度領域への光、つまりレーザ光の照射方向前方への
回折・散乱光が圧倒的に高いこと(図3の実測結果参
照)に基づくものであって、少なくとも前方所定角度領
域への回折・散乱光強度を測定すれば、その光強度から
高い精度のもとに粒子濃度を算出し得ることが確かめら
れている(図5参照)。
【0010】本発明の粒子濃度測定方法および装置は、
分散飛翔状態の粒子群にレーザ光を照射することによっ
て発生する回折・散乱光の総量の強度が、粒子濃度に比
例することを利用している。
【0011】すなわち、分散飛翔状態の粒子群にレーザ
光を照射することによって生じる回折・散乱光の空間強
度分布はその粒子群の粒度分布に依存するが、その回折
・散乱光の各方位への強度の和は、照射レーザ光の強度
が一定であれば、粒子の大きさと個数に比例する。従っ
て、同じ材質の粒子を分散質とする懸濁液もしくはエア
ロゾルであれば、その回折・散乱光強度は粒子濃度に比
例する(図5参照)。そこで、被測定懸濁液もしくはエ
アロゾルと同じ粒子を分散質とする複数種の既知濃度の
懸濁液もしくはエアロゾルについての回折・散乱光強度
を測定して図5のように濃度−回折・散乱光強度の関係
を求めておけば、被測定懸濁液もしくはエアロゾルの回
折・散乱光強度の測定結果から、直ちにその粒子濃度を
求めることができる。
【0012】一方、請求項3に係る発明の粒子計測装置
においては、懸濁液もしくはエアロゾルにレーザ光を照
射することによって得られる回折・散乱光を、複数の光
センサで測定することによってその空間強度分布を測定
することにより、レーザ回折・散乱法に基づいて粒度分
布を算出する一方、各センサによる強度の積算値が、上
述の回折・散乱光強度と等しくなることを利用してその
粒子濃度を求める。つまり、この請求項3に係る発明で
は、懸濁液もしくはエアロゾルに対してレーザ光を照射
して得られる回折・散乱光を、複数のセンサ群で受光し
てその空間強度分布を1回実測することにより、懸濁液
もしくはエアロゾル中の粒子群の粒度分布と粒子濃度と
を実質的に同時に求めることができる。
【0013】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施の形態の構成
を示すブロック図で、請求項3に係る発明についての実
施の形態を表している。レーザ光源1からの出力光はコ
リメータレンズ2によって平行光束に成形された後、フ
ローセル3に照射される。フローセル3には、液体中に
粒子群Pが分散してなる懸濁液Sが流されており、レー
ザ光は粒子群Pによって回折または散乱される。
【0014】粒子群Pによる回折・散乱光は、前方所定
角度領域へのものについては集光レンズ4を介してリン
グディテクタ5により検出され、また、それよりも散乱
角度の大きなものは側方散乱光センサ6および後方散乱
光センサ7によって検出される。リングディテクタ5
は、図2にその正面図を例示するように、互いに異なる
半径のリング状または半リング状もしくは1/4リング
状の受光面を持つ光センサ素子Lを同心状に配置した構
成を持ち、集光レンズ4によって集光された前方所定角
度領域の回折・散乱光の強度を、空間的に連続した複数
の微小角度ごとに測定することができる。
【0015】以上の各光センサ群からの出力はA−D変
換器8によってデジタル化された後、演算装置9のメモ
リ91内に格納される。演算装置9には、レーザ回折・
散乱法に基づく公知の算法によってメモリ91内に記憶
されている回折・散乱光強度分布データを粒子群Pの粒
度分布に換算する粒度分布演算部92と、同じくメモリ
91内に記憶されている回折・散乱光強度分布データを
相互に積算して、その積算値を懸濁液中の粒子濃度に換
算する粒子濃度演算部93を備えている。これらの各演
算部による演算結果は、CRT10に表示されるととも
にプリンタ11に記憶されるように構成されている。
【0016】なお、演算装置9は、実際には上記の各演
算機能を実行するプログラムがインストールされたコン
ピュータによって構成されるが、図1では説明の簡略化
のために機能ごとのブロック図で示している。
【0017】演算装置9内の各演算部のうち、粒度分布
演算部91における演算については、レーザ回折・散乱
法に基づく粒度分布測定装置における演算と全く同等で
あるためにその詳細は省略するが、要は粒子群Pによる
回折・散乱光の空間強度分布の測定結果(ベクトル)
を、ミーの散乱理論またはフラウンホーファの回折理論
に基づいて求められる変換係数行列を用いて、粒子群P
の粒度分布(ベクトル)に変換する。
【0018】一方、粒子濃度演算部92においては、リ
ングディテクタ5内の各光センサ素子L・・・・L、側方散
乱光センサ6および後方散乱光センサ7からの各光強度
検出出力を相互に加算して積算値を求め、その積算値
と、被測定懸濁液S内の粒子群Pと同じ材質の粒子群を
分散質とする複数種の既知濃度の懸濁液の回折・散乱光
強度を実測してあらかじめ求めた関係式とを用いて、懸
濁液Sの粒子濃度を算出する。この粒子濃度の測定の実
例を、以下、実験例を参照しつつ説明する。
【0019】密度4.0g/mmのアルミナをサンプル
粒子群とし、媒液として蒸留水(和光純薬社製)で希釈
することにより、100ppm、80ppm、60pp
m、40ppm、および20ppmの粒子濃度(重量濃
度)に希釈し、超音波分散させたうえで参照懸濁液とし
て測定に供した。
【0020】以上のように調整した各参照懸濁液を図1
の装置(実際にはレーザ照射光学系と回折・散乱光の測
光光学系並びに粒度分布演算部92は島津製作所製のS
ALD2000Jを使用)により回折・散乱光の空間強
度分布を測定した。その結果を図3に示す。この図3の
グラフにおいて、横軸は光センサ素子の番号で、小さい
番号のセンサ素子ほど回折・散乱角度の小さい位置に置
かれていることを表している。また、図中Rで示す範囲
が、リングディテクタ5内の光センサ素子L・・・・Lを示
している。この図3のグラフから、粒子群Pによる回折
・散乱光はリングディテクタ5が置かれている領域、つ
まり前方所定角度領域のものが圧倒的に高い強度である
ことが判る。
【0021】また、この回折・散乱光の空間強度分布の
測定結果を用いて、各参照懸濁液中の粒子群の粒度分布
を算出した結果を図4に示す。この図4からは、粒子濃
度によらず再現性のよい粒度分布の測定を行えているこ
とが確かめられる。
【0022】さて、図3の各参照懸濁液の回折・散乱光
の空間強度分布を、各参照懸濁液ごとに積算して、その
各積算値と粒子濃度との関係をプロットしたグラフを図
5に示す。この図5から明らかなように、懸濁液にレー
ザ光を照射して得られる回折・散乱光の空間強度分布の
積算値、つまり、少なくとも前方所定角度領域で測定し
た回折・散乱光強度は、その懸濁液の粒子濃度と厳密な
比例関係が成り立つことが判る。従って、この図5に示
した回折・散乱光強度分布の積算値と粒子濃度との関係
をあらかじめ測定しておき、演算装置9に関係式等の形
で設定しておけば、以後、同じ材質の粒子群を分散質と
する懸濁液の回折・散乱光の空間強度分布を測定してそ
れを積算することにより、その被測定懸濁液の粒子濃度
を直ちに算出することができる。
【0023】従って、以上の本発明の実施の形態によれ
ば、懸濁液Sにレーザ光を照射して得られる回折・散乱
光の空間強度分布を1回測定することにより、その懸濁
液S中の粒子群Pの粒度分布と粒子濃度とを求めること
ができる。
【0024】次に、請求項1または2に係る発明の実施
の形態である粒子濃度測定装置について述べる。図6は
その構成を示すブロック図である。この例においては、
レーザ光源1、コリメータレンズ2とからなる照射光学
系、および懸濁液Sを流すためのフローセル3、更には
集光レンズ4については先の実施の形態と同等であり、
回折・散乱光を測定する測光光学系並びに演算装置が先
の例と相違している。すなわち、先の例におけるリング
ディテクタ5の配設位置に、その各センサ素子L・・・・L
の総面積と同等の面積の1つの受光面を有する光センサ
50を設けて、前方所定角度領域の回折・散乱光強度を
直接的に測定し得るようになっている。また、先の例に
おける側方散乱光センサ6および後方散乱光センサ7は
省略している。
【0025】また、演算装置90は、先の例におけるメ
モリ91と粒子濃度演算部93に相当する機能のみを有
しており、粒度分布演算部92に相当する機能は有して
おらず、従ってこの実施の形態では、懸濁液Sの粒子濃
度のみを測定する機能を有している。
【0026】懸濁液Sにレーザ光を照射することによっ
て発生する回折・散乱光は、光センサ50によって圧倒
的に高強度の前方所定角度領域での光強度が測定され
る。この光強度測定結果は、図3にRで示した領域にお
ける光強度分布の各積算値に相当し、従って、その光セ
ンサ50の出力を用いて、前記図5に示したものと同等
の回折・散乱光強度−粒子濃度の関係をあらかじめ求め
ておけば、被測定懸濁液Sの回折・散乱光強度の測定結
果から直ちにその粒子濃度を算出することができる。
【0027】なお、図1の実施の形態における側方散乱
光センサ6および後方散乱光センサ7の出力は、粒度分
布の計測に際しては特に微粒子域の測定に重要な役割を
果たすのであるが、粒子濃度の計測に際しては回折・散
乱光の総量の強度が意味を持ち、また、その回折・散乱
光は前方所定領域へのものが圧倒的に高強度であること
から、図6の実施の形態のように粒子濃度のみを計測す
る場合には側方散乱光センサおよび後方散乱光センサは
特に必要としない。
【0028】ここで、以上の各実施の形態では、粒子群
Pが液体中に分散した懸濁液の粒子濃度またはそれに加
えて粒度分布を測定したが、本発明は、粒子群Pが気体
中に分散したエアロゾルの粒子濃度ないしは粒度分布に
ついても、全く同様に測定し得ることは勿論である。
【0029】
【発明の効果】以上のように、請求項1または2に係る
発明によれば、懸濁液もしくはエアロゾルに対してレー
ザ光を照射することによって生じる回折・散乱光強度を
測定するだけで、その懸濁液もしくはエアロゾル中の粒
子濃度を求めることができ、各種懸濁液またはエアロゾ
ルを取り扱う分野において、例えばオンライン測定等に
よって極めて短時間のうちに高精度の粒子濃度の測定が
可能となる。
【0030】また、請求項3に係る発明によれば、懸濁
液もしくはエアロゾルに対してレーザ光を照射すること
によって生じる回折・散乱光の空間強度分布を1回測定
することにより、その懸濁液またはエアロゾル中の粒子
群の粒度分布と粒子濃度を実質的に同時に測定すること
ができ、各種懸濁液もしくはエアロゾルを取り扱うプロ
セス等における効率化や品質管理等に有用な情報の提供
を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】請求項3に係る発明の実施の形態の構成を示す
ブロック図である。
【図2】図1におけるリングディテクタ5の正面図であ
る。
【図3】図1の実施の形態を用いて実験例で採用した複
数の懸濁液のそれぞれによる回折・散乱光の空間強度分
布の測定結果を示すグラフである。
【図4】図3の測定結果に基づいて算出した各懸濁液中
の粒子群の粒度分布を示すグラフである。
【図5】図3のグラフにおける各懸濁液に関しての回折
・散乱光強度分布の積算値と懸濁液濃度との関係を示す
グラフである。
【図6】請求項1または2に係る発明の実施の形態の構
成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 レーザ光源 2 コリメータレンズ 3 フローセル 4 集光レンズ 5 リングディテクタ 6 側方散乱光センサ 7 後方散乱光センサ 8 A−D変換器 9,90 演算装置 91 メモリ 92 粒度分布演算部 93 粒子濃度演算部 50 光センサ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 懸濁液もしくはエアロゾル中の粒子濃度
    を測定する方法であって、被測定懸濁液もしくはエアロ
    ゾルにレーザ光を照射して得られる回折・散乱光強度を
    測定し、その測定結果と、被測定懸濁液もしくはエアロ
    ゾル中の粒子と材質の等しい粒子を分散質とする複数種
    の既知濃度の懸濁液もしくはエアロゾルを測定対象とし
    て得た回折・散乱光強度測定結果に基づいてあらかじめ
    求めておいた濃度−回折・散乱光強度の関係を用いて、
    被測定懸濁液もしくはエアロゾルの濃度を求めることを
    特徴とする粒子濃度測定方法。
  2. 【請求項2】 懸濁液もしくはエアロゾル中の粒子濃度
    を測定する装置であって、 被測定懸濁液もしくはエアロゾルにレーザ光を照射する
    照射光学系と、 そのレーザ光の照射により発生する回折・散乱光強度を
    測定する光センサと、 その光センサによる光強度の測定結果と、被測定懸濁液
    もしくはエアロゾル中の粒子と同じ材質の粒子を分散質
    とする懸濁液もしくはエアロゾルにおける濃度−回折・
    散乱光強度情報とを用いて、被測定懸濁液もしくはエア
    ロゾル中の粒子濃度を算出する粒子濃度演算手段と、 を備えていることを特徴とする粒子濃度測定装置。
  3. 【請求項3】 懸濁液もしくはエアロゾル中の粒子濃度
    および粒度分布を同時に測定する装置であって、 被測定懸濁液もしくはエアロゾルにレーザ光を照射する
    照射光学系と、 そのレーザ光の照射により発生する回折・散乱光の空間
    強度分布を測定する光センサ群と、 その光センサ群による回折・散乱光の空間強度分布の測
    定結果から懸濁液もしくはエアロゾル中の粒子群の粒度
    分布を算出する粒度分布演算手段と、 上記光センサ群による各角度での回折・散乱光強度を相
    互に積算した積算値と、被測定懸濁液もしくはエアロゾ
    ル中の粒子と同じ材質の粒子を分散質とする懸濁液もし
    くはエアロゾルにおける濃度−回折・散乱光強度の情報
    を用いて、被測定懸濁液もしくはエアロゾル中の粒子濃
    度を算出する粒子濃度演算手段と、を備えていることを
    特徴とする粒子計測装置。
JP21792098A 1998-07-31 1998-07-31 粒子濃度測定方法および装置並びに粒子計測装置 Expired - Fee Related JP3371816B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21792098A JP3371816B2 (ja) 1998-07-31 1998-07-31 粒子濃度測定方法および装置並びに粒子計測装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21792098A JP3371816B2 (ja) 1998-07-31 1998-07-31 粒子濃度測定方法および装置並びに粒子計測装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000046722A true JP2000046722A (ja) 2000-02-18
JP3371816B2 JP3371816B2 (ja) 2003-01-27

Family

ID=16711814

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21792098A Expired - Fee Related JP3371816B2 (ja) 1998-07-31 1998-07-31 粒子濃度測定方法および装置並びに粒子計測装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3371816B2 (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002031594A (ja) * 2000-05-12 2002-01-31 Rion Co Ltd 光散乱式粒子検出器
JP2007010407A (ja) * 2005-06-29 2007-01-18 Shikoku Electric Power Co Inc 連続式鉄分析方法および装置
JP2008513756A (ja) * 2004-09-14 2008-05-01 ヴァイサラ オーワイジェー ガス含有量測定装置及び方法
JP2009216575A (ja) * 2008-03-11 2009-09-24 Shimadzu Corp 粒度分布測定装置及びそれを用いた体積濃度算出方法
CN103454203A (zh) * 2013-09-09 2013-12-18 中国科学院合肥物质科学研究院 一种大气颗粒物粒径和化学成分的实时在线测量系统及测量方法
JP2014202667A (ja) * 2013-04-08 2014-10-27 株式会社島津製作所 抗体医薬用粒子径分布測定装置及び抗体医薬の粒子径分布測定方法
JP2015227823A (ja) * 2014-06-02 2015-12-17 株式会社島津製作所 粒度分布測定方法、並びに、粒度分布測定装置及びその制御プログラム
WO2018070411A1 (ja) * 2016-10-14 2018-04-19 株式会社堀場製作所 粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定装置用プログラム
WO2019064559A1 (ja) * 2017-09-29 2019-04-04 パイオニア株式会社 計測装置、計測方法、コンピュータプログラム及び記憶媒体
JP2020176841A (ja) * 2019-04-15 2020-10-29 三菱重工業株式会社 粒子径取得装置、粒子径取得システム、及び粒子径取得方法

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002031594A (ja) * 2000-05-12 2002-01-31 Rion Co Ltd 光散乱式粒子検出器
JP2008513756A (ja) * 2004-09-14 2008-05-01 ヴァイサラ オーワイジェー ガス含有量測定装置及び方法
JP4807803B2 (ja) * 2004-09-14 2011-11-02 シック マイアク ゲーエムベーハー ガス含有量測定装置及び方法
JP2007010407A (ja) * 2005-06-29 2007-01-18 Shikoku Electric Power Co Inc 連続式鉄分析方法および装置
JP2009216575A (ja) * 2008-03-11 2009-09-24 Shimadzu Corp 粒度分布測定装置及びそれを用いた体積濃度算出方法
JP2014202667A (ja) * 2013-04-08 2014-10-27 株式会社島津製作所 抗体医薬用粒子径分布測定装置及び抗体医薬の粒子径分布測定方法
CN103454203A (zh) * 2013-09-09 2013-12-18 中国科学院合肥物质科学研究院 一种大气颗粒物粒径和化学成分的实时在线测量系统及测量方法
JP2015227823A (ja) * 2014-06-02 2015-12-17 株式会社島津製作所 粒度分布測定方法、並びに、粒度分布測定装置及びその制御プログラム
WO2018070411A1 (ja) * 2016-10-14 2018-04-19 株式会社堀場製作所 粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定装置用プログラム
JPWO2018070411A1 (ja) * 2016-10-14 2019-07-25 株式会社堀場製作所 粒子径分布測定装置及び粒子径分布測定装置用プログラム
GB2573655A (en) * 2016-10-14 2019-11-13 Horiba Ltd Particle diameter distribution measurement device and program for particle diameter distribution measurement device
US11169068B2 (en) 2016-10-14 2021-11-09 Horiba, Ltd. Particle size distribution measurement device and program for a particle size distribution measurement device
WO2019064559A1 (ja) * 2017-09-29 2019-04-04 パイオニア株式会社 計測装置、計測方法、コンピュータプログラム及び記憶媒体
JPWO2019064559A1 (ja) * 2017-09-29 2020-10-15 パイオニア株式会社 計測装置、計測方法、コンピュータプログラム及び記憶媒体
US11209359B2 (en) 2017-09-29 2021-12-28 Pioneer Corporation Apparatus and method for measuring fluid information from light scattering
JP2020176841A (ja) * 2019-04-15 2020-10-29 三菱重工業株式会社 粒子径取得装置、粒子径取得システム、及び粒子径取得方法
JP7265401B2 (ja) 2019-04-15 2023-04-26 三菱重工業株式会社 粒子径取得装置、粒子径取得システム、及び粒子径取得方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3371816B2 (ja) 2003-01-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8675195B2 (en) Device for determining particle sizes
JP4173552B2 (ja) 個々の赤血球の形状を決定する装置及び方法
US6469786B2 (en) Particle size analyzer based on the laser diffraction method
US6639672B2 (en) Method and apparatus for rapid particle identification utilizing scattered light histograms
JP4915369B2 (ja) 粒度分布測定装置及びそれを用いた体積濃度算出方法
JP2000046722A (ja) 粒子濃度測定方法および装置並びに粒子計測装置
US6104491A (en) System for determining small particle size distribution in high particle concentrations
JP3266107B2 (ja) 粒子個数計測方法および粒子計測装置
JP2910596B2 (ja) 粒度分布測定装置
JP2827901B2 (ja) 粒度分布測定方法
JPH0816646B2 (ja) 粒度分布測定装置
Schwarz et al. Investigations on the capability of the statistical extinction method for the determination of mean particle sizes in concentrated particle systems
JP3633169B2 (ja) 回折/散乱光の光強度分布データの比較方法、および粒度分布測定装置
US6104490A (en) Multiple pathlength sensor for determining small particle size distribution in high particle concentrations
JP3267245B2 (ja) 粒度分布・濁度同時測定方法および装置
JP3531557B2 (ja) レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置
JP2000002644A (ja) レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置
Wertheimer et al. Light scattering instrumentation for particulate measurements in processes
JP3633168B2 (ja) 粒度分布データの比較方法、および粒度分布測定装置
EP3392644A1 (en) Particle characterization apparatus and method
JP3552389B2 (ja) 浮遊粉塵測定装置
JPS59173733A (ja) 分別装置用粒子計数装置
US20230236107A1 (en) Enhanced dual-pass and multi-pass particle detection
JP2001133385A (ja) レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置
JPH0731111B2 (ja) 粒子屈折率測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071122

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081122

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091122

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091122

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101122

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111122

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121122

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121122

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131122

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees