JP2000031111A - ウェットエッチング方法 - Google Patents

ウェットエッチング方法

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JP2000031111A
JP2000031111A JP10197466A JP19746698A JP2000031111A JP 2000031111 A JP2000031111 A JP 2000031111A JP 10197466 A JP10197466 A JP 10197466A JP 19746698 A JP19746698 A JP 19746698A JP 2000031111 A JP2000031111 A JP 2000031111A
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thin film
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aluminum
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Hiroaki Takahashi
宏明 高橋
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Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】低コストで及び高い精度でパターニングするこ
とが可能なウェットエッチング方法を提供すること。 【解決手段】本発明のウェットエッチング方法は、一方
の主面にモリブデン或いはモリブデン合金からなる第1
の薄膜とアルミニウム或いはアルミニウム合金からなる
第2の薄膜とが形成された基板8に、硝酸と燐酸とを含
有する第1のエッチング液を噴霧して前記第1の薄膜の
露出部をエッチングする工程、及び前記第1の薄膜をエ
ッチングする工程の後に、前記基板8に、硝酸と前記第
1のエッチング液よりも高い濃度で燐酸とを含有する第
2のエッチング液を噴霧して前記第2の薄膜の露出部を
エッチングする工程を具備し、前記第1の薄膜の露出部
をエッチングする工程と前記第2の薄膜の露出部をエッ
チングする工程とを連続的に行うことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、エッチング方法に
係り、特に基板上に配線パターン等を形成する際に用い
るウェットエッチング方法に関する。
【0002】
【従来の技術】アルミニウム或いはアルミニウム合金
は、電気抵抗値が低くかつ成膜性に優れていることか
ら、液晶パネルの配線材料として多用されている。この
ような材料を用いた配線の形成は、通常、以下に示す方
法により行われる。
【0003】まず、基板上にアルミニウム或いはアルミ
ニウム合金からなる薄膜を形成する。次に、この薄膜上
に所望の形状のレジストパターンを形成する。さらに、
このレジストパターンをマスクとして用いて、上記薄膜
を硝酸と燐酸とを含有する混酸でエッチングする。これ
により、上記薄膜の露出部は除去され、レジストパター
ンに対応したパターンで配線が形成される。
【0004】なお、上記混酸において、硝酸は上記アル
ミニウム或いはアルミニウム合金からなる薄膜の表面を
酸化するのに使用され、燐酸はこの酸化した表面をエッ
チングするのに使用される。すなわち、上記エッチング
工程においては、硝酸による薄膜表面の酸化と、燐酸に
よる酸化膜の除去とが交互に繰り返され、それにより良
好なエッチング均一性が得られている。
【0005】ところで、液晶パネルの基板において、例
えば、ITOからなる画素電極にアルミニウム或いはア
ルミニウム合金からなる配線を直接接続した場合、画素
電極中に含有される酸素原子は配線中へと拡散する。そ
の結果、画素電極と配線との間の接触抵抗が増大すると
いう問題を生ずる。
【0006】このような問題の発生を防止するために、
通常、液晶パネルにおいては、上記配線と画素電極との
間に、モリブデン或いはモリブデン合金等からなる金属
層を介在させた構造が採用されている。この金属層は、
上記アルミニウム或いはアルミニウム合金からなる薄膜
のエッチングに用いたのと同様の混酸によりエッチング
可能である。したがって、従来、モリブデン或いはモリ
ブデン合金からなる金属層とアルミニウム或いはアルミ
ニウム合金からなる薄膜とのエッチングは、同一の混酸
を用いて行われていた。
【0007】しかしながら、一般に、上記混酸を用いた
モリブデン或いはモリブデン合金からなる金属層の酸化
程度、即ち金属層の表面状態は基板面内で不均一であ
り、上記混酸による金属層のエッチングレートは、その
表面状態に大きく依存する。また、上記混酸を用いて薄
膜と金属層とを同時にエッチングする場合、モリブデン
或いはモリブデン合金からなる金属層は、アルミニウム
或いはアルミニウム合金が露出した近傍では全くエッチ
ングされず、これらが完全に除去された後にエッチング
される。
【0008】したがって、上記薄膜と金属層とを同時に
エッチングする場合、エッチング時間が不十分である
と、モリブデン或いはモリブデン合金のエッチング残り
が発生する。そのため、金属層の下に形成された薄膜に
おいても、アルミニウム或いはアルミニウム合金のエッ
チング残りが生ずることとなる。また、モリブデン或い
はモリブデン合金に対するエッチング時間が十分である
場合には、エッチングの進行が速い部分でアルミニウム
或いはアルミニウム合金のエッチングが過剰に進行す
る。その結果、局所的に配線幅が細り、配線抵抗の増加
や断線等を生ずる。
【0009】このような問題の発生を防止するために、
まず、上記金属層を上記薄膜に対して十分なエッチング
選択比が得られるエッチング条件下でエッチングし、そ
の後、上記薄膜を上記金属層に対して十分なエッチング
選択比が得られる条件下でエッチングすることが考えら
れる。このような方法によると、金属層の表面状態に関
わらず均一にエッチングを行うことが可能である。しか
しながら、この方法によると、上記金属層のエッチング
と上記薄膜のエッチングとを別々のエッチング装置を用
いて行う必要がある。そのため、製造工程が複雑とな
り、かつコストの上昇を招くという問題を生ずる。
【0010】また、同一のエッチング装置を用いて、上
記薄膜と金属層とを十分なエッチング選択比が得られる
条件下で順次エッチングする場合、高い製造効率を得る
ことができず、コストの上昇を生ずるという問題を生ず
る。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題点
に鑑みてなされたものであり、基板上に形成されたモリ
ブデン或いはモリブデン合金からなる薄膜とアルミニウ
ム或いはアルミニウム合金からなる薄膜とを、低コスト
で及び高い精度でパターニングすることが可能なウェッ
トエッチング方法を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、一方の主面にモリブデン或いはモリブデ
ン合金からなる第1の薄膜とアルミニウム或いはアルミ
ニウム合金からなる第2の薄膜とが形成された基板に、
硝酸と燐酸とを含有する第1のエッチング液を噴霧して
前記第1の薄膜の露出部をエッチングする工程、前記第
1の薄膜をエッチングする工程の後に、前記基板に、硝
酸と前記第1のエッチング液よりも高い濃度で燐酸とを
含有する第2のエッチング液を噴霧して前記第2の薄膜
の露出部をエッチングする工程、前記第2の薄膜の露出
部をエッチングする工程の後に、前記基板を洗浄する工
程、及び前記基板を洗浄する工程の後に、前記基板を乾
燥する工程を具備し、前記第1の薄膜の露出部をエッチ
ングする工程と前記第2の薄膜の露出部をエッチングす
る工程とを連続的に行うことを特徴とするウェットエッ
チング方法を提供する。
【0013】上記ウェットエッチング方法において好ま
しい態様を以下に示す。 (1)前記第1の薄膜をエッチングする工程を、前記基
板に前記第1のエッチング液を吐出する第1のノズルを
有する第1のエッチング槽で行い、前記第2の薄膜をエ
ッチングする工程を、前記基板に前記第2のエッチング
液を吐出する第2のノズルを有する第2のエッチング槽
で行うこと。この場合、前記第1のエッチング槽と前記
第2のエッチング槽とは隣接して配置され、前記第1の
薄膜をエッチングする工程と前記第2の薄膜をエッチン
グする工程とを、前記第1及び第2のノズルから前記第
1及び第2のエッチング液をそれぞれ吐出しつつ、前記
基板を前記第1及び第2のエッチング槽へと順次搬送す
ることにより行うことが好ましい。
【0014】(2)前記第2の薄膜は、前記基板と前記
第1の薄膜との間に形成されたこと。 (3)前記第1のエッチング液は、前記第2の薄膜を実
質的にエッチングすることなく、前記第1の薄膜の露出
部を選択的にエッチングすること。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明について図面を参照
しながらより詳細に説明する。図1に、本発明の実施形
態に係るウェットエッチング方法において使用されるウ
ェットエッチング装置を概略的に示す。図1に示すウェ
ットエッチング装置1は、ローダ部2、第1のエッチン
グ槽3、第2のエッチング槽4、リンス部5、乾燥部
6、及びアンローダ部7がインラインに配置された構造
を有している。なお、ローダ部2内には、液晶表示素子
に用いられるガラス基板等のような基板8を多段的に収
容するカセット9が配置されている。また、カセット9
内に収容された基板8の上面には、アルミニウム或いは
アルミニウム合金からなる薄膜(図示せず)と、モリブ
デン或いはモリブデン合金からなる薄膜(図示せず)
と、レジストパターンのようなエッチングマスク(図示
せず)とが順次形成されている。
【0016】以下に、上記ウェットエッチング装置1を
用いたウェットエッチング方法について説明する。ま
ず、カセット9内に収容された基板8を、カセット9を
上下に移動するエレベータ機構(図示せず)とロボット
機構(図示せず)に設けられた搬入用ピンセット(図示
せず)とを用いることにより取り出し、第1のエッチン
グ槽3内の搬送用ローラ(搬送手段)10上に載置す
る。搬送用ローラ10は、第1及び第2のエッチング槽
3,4、リンス部5、及び乾燥部6のそれぞれに設けら
れており、基板8をローダ2からアンローダ7へ向けて
一定の速度で搬送する。
【0017】第1のエッチング槽3内には、基板8の上
面に第1のエッチング液を噴霧するノズル11と、第1
のエッチング液を収容する容器12と、容器12からノ
ズル11へと第1のエッチング液を供給する配管13と
が配置されている。
【0018】第1のエッチング液は、モリブデン或いは
モリブデン合金を酸化させかつ溶出させる効果を有する
硝酸を高濃度で含有し、燐酸を低濃度で含有している。
アルミニウム或いはアルミニウム合金からなる薄膜のエ
ッチングには、燐酸をより高濃度で含有する混酸、すな
わち、第2のエッチング液が必要である。したがって、
ノズル11から基板8上に第1のエッチング液を噴霧す
ることにより、アルミニウム或いはアルミニウム合金か
らなる薄膜を殆どエッチングすることなく、モリブデン
或いはモリブデン合金からなる薄膜を選択的にエッチン
グすることが可能である。なお、モリブデン或いはモリ
ブデン合金からなる薄膜の露出部は、基板8が第2のエ
ッチング槽4に到達する前に完全にエッチングする。
【0019】第2のエッチング槽4内には、基板8の上
面に第2のエッチング液を噴霧するノズル14と、第2
のエッチング液を収容する容器15と、容器15からノ
ズル14へと第2のエッチング液を供給する配管16と
が配置されている。
【0020】第2のエッチング液は、燐酸の濃度がより
高いこと以外は第1のエッチング液とほぼ同じ組成を有
している。そのため、基板8の表面に第1のエッチング
液が残留した状態で第2のエッチング液を噴霧したとし
ても、これらエッチング液の混和により不所望な反応を
生ずることはない。したがって、第1のエッチング槽3
におけるエッチングを終了した後、基板8の洗浄等を行
うことなく第2のエッチング槽4でのエッチングを行う
ことができる。
【0021】また、第2のエッチング液は、第1のエッ
チング液に比べてより高い濃度で、言い換えると、アル
ミニウム或いはアルミニウム合金からなる薄膜をエッチ
ングするのに十分な濃度で燐酸を含有している。モリブ
デン或いはモリブデン合金からなる薄膜の露出部は第1
のエッチング槽3におけるエッチングにより除去されて
いるので、第2のエッチング液を用いてエッチングを行
うことにより、アルミニウム或いはアルミニウム合金か
らなる薄膜の露出部を選択的に除去することが可能とな
る。なお、アルミニウム或いはアルミニウム合金からな
る薄膜のエッチングは、基板8がリンス部5へ到達する
前に完全に終了する。
【0022】第1及び第2のエッチング槽3,4でのエ
ッチングを終えた後、基板8はリンス部5へと搬送され
る。リンス部5内には、基板8の両面に純水を噴霧する
リンス用ノズル17が搬送手段10の上下にそれぞれ設
けられており、基板8の表面に残留した第2のエッチン
グ液はリンス用ノズル17から噴霧される純水により洗
い流される。
【0023】リンス部5での洗浄を終えた後、基板8は
乾燥部6へと搬送される。乾燥部8内には、ガスノズル
19が搬送手段10の上下に設けられており、ガスノズ
ル19から基板8へ向けて高圧ガスが噴出することによ
り基板8の乾燥が行われる。なお、基板8の乾燥は、基
板8を高速回転することにより行ってもよい。
【0024】上記乾燥工程を終えた後、基板8をアンロ
ーダ部7内に配置されたカセット20内に収容する。基
板8のカセット20内への収容は、カセット9からの基
板8の搬出と同様に、カセット20を上下に移動するエ
レベータ機構(図示せず)とロボット機構(図示せず)
に設けられた搬入用ピンセット(図示せず)とを用いて
行う。以上のようにして、アルミニウム或いはアルミニ
ウム合金からなる薄膜とモリブデン或いはモリブデン合
金からなる薄膜とをパターニングし、配線を形成する。
【0025】上述した方法で用いたウェットエッチング
装置1においては、第1のエッチング槽3と第3のエッ
チング槽4とはそれぞれ1つづつ設けられているが、こ
れらエッチング槽3,4をそれぞれ複数配列してもよ
い。エッチング槽3,4をそれぞれ複数配列することに
より、例えば、エッチングにより除去されるべき薄膜の
膜厚が厚い場合や基板8の搬送速度が速い場合において
も、エッチング残りを防止することができる。
【0026】また、上記ウェットエッチング装置1にお
いて、エッチング槽3,4、リンス部5、乾燥部6等は
直列に配列されているが、各処理槽間での基板8の受渡
しが可能であれば他の配列をとってもよい。
【0027】さらに、上記ウェットエッチング装置1に
おいて、エッチングはスプレー式により行われるが、デ
ィップ式を用いることもできる。以上説明したように、
上記ウェットエッチング方法によると、モリブデン或い
はモリブデン合金からなる薄膜とアルミニウム或いはア
ルミニウム合金からなる薄膜とは、それぞれ十分なエッ
チング選択比が得られる条件下で、すなわち互いに異な
るエッチング液を用いて別々にエッチングされる。その
ため、モリブデン或いはモリブデン合金からなる薄膜の
エッチングレートが基板面内で不均一であったとして
も、エッチング残り、配線抵抗の増加及び断線等を生ず
ることなく配線を形成することができる。即ち、高い精
度でエッチングを行うことが可能となる。
【0028】また、上記方法によると、第1のエッチン
グ液と第2のエッチング液とは、燐酸濃度が異なること
以外はほぼ同じ組成を有している。したがって、上記ウ
ェットエッチング方法によると、第1のエッチング液を
用いたエッチング工程と第2のエッチング液を用いたエ
ッチング工程とを洗浄工程等を介することなく連続的に
行ったとしても、これらエッチング液の混和により不所
望な反応が生ずることはない。したがって、上記方法に
よると、基板上に形成されたモリブデン或いはモリブデ
ン合金からなる薄膜とアルミニウム或いはアルミニウム
合金からなる薄膜とを、低コストで及び高い精度でエッ
チングすることが可能となる。
【0029】さらに、上述した方法によると、モリブデ
ン或いはモリブデン合金からなる薄膜のエッチング工程
と、アルミニウム或いはアルミニウム合金からなる薄膜
のエッチング工程とは、洗浄工程等を介することなく連
続的に行われるため、より少ない工程数でこれら薄膜を
エッチングすることができる。すなわち、上記方法によ
ると、製造コストをより低減することが可能となる。
【0030】
【発明の効果】上述したように、本発明のウェットエッ
チング方法によると、基板上に形成されたモリブデン或
いはモリブデン合金からなる第1の薄膜は、硝酸と燐酸
とを含有する第1のエッチング液を用いてエッチングさ
れ、基板上に形成されたアルミニウム或いはアルミニウ
ム合金からなる第2の薄膜は、硝酸と第1のエッチング
液よりも高い濃度で燐酸とを含有する第2のエッチング
液を用いてエッチングされる。また、本発明のウェット
エッチング方法によると、第1の薄膜のエッチングと第
2の薄膜のエッチングとは連続的に行われる。
【0031】したがって、本発明のエッチング方法を用
いることにより、より少ない工程数で、エッチング残
り、配線抵抗の増加及び断線等を生ずることなく配線を
形成することができる。
【0032】すなわち、本発明によると、基板上に形成
されたモリブデン或いはモリブデン合金からなる金属薄
膜とアルミニウム或いはアルミニウム合金からなる薄膜
とを、低コストで及び高い精度でパターニングすること
が可能なウェットエッチング方法が提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係るウェットエッチング方
法に用いられるウェットエッチング装置を概略的に示す
図。
【符号の説明】 1…ウェットエッチング装置 2…ローダ部 3,4…エッチング槽 5…リンス部 6…乾燥部 7…アンローダ部 8…基板 9,20…カセット 10…搬送用ローラ 11,14,17,19…ノズル 12,15…容器 13,16,18…配管

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一方の主面にモリブデン或いはモリブデ
    ン合金からなる第1の薄膜とアルミニウム或いはアルミ
    ニウム合金からなる第2の薄膜とが形成された基板に、
    硝酸と燐酸とを含有する第1のエッチング液を噴霧して
    前記第1の薄膜の露出部をエッチングする工程、 前記第1の薄膜をエッチングする工程の後に、前記基板
    に、硝酸と前記第1のエッチング液よりも高い濃度で燐
    酸とを含有する第2のエッチング液を噴霧して前記第2
    の薄膜の露出部をエッチングする工程、 前記第2の薄膜の露出部をエッチングする工程の後に、
    前記基板を洗浄する工程、及び前記基板を洗浄する工程
    の後に、前記基板を乾燥する工程を具備し、 前記第1の薄膜の露出部をエッチングする工程と前記第
    2の薄膜の露出部をエッチングする工程とを連続的に行
    うことを特徴とするウェットエッチング方法。
  2. 【請求項2】 前記第1の薄膜をエッチングする工程
    を、前記基板に前記第1のエッチング液を吐出する第1
    のノズルを有する第1のエッチング槽で行い、 前記第2の薄膜をエッチングする工程を、前記基板に前
    記第2のエッチング液を吐出する第2のノズルを有する
    第2のエッチング槽で行うことを特徴とする請求項1に
    記載のウェットエッチング方法。
  3. 【請求項3】 前記第1のエッチング槽と前記第2のエ
    ッチング槽とは隣接して配置され、前記第1の薄膜をエ
    ッチングする工程と前記第2の薄膜をエッチングする工
    程とを、前記第1及び第2のノズルから前記第1及び第
    2のエッチング液をそれぞれ吐出しつつ、前記基板を前
    記第1及び第2のエッチング槽へと順次搬送することに
    より行うことを特徴とする請求項2に記載の方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002049096A1 (fr) * 2000-12-11 2002-06-20 Sumitomo Precision Products Co., Ltd Dispositif inclinable de répulsion de fluide
JP7345401B2 (ja) 2020-01-21 2023-09-15 東京エレクトロン株式会社 基板処理方法および基板処理装置

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WO2002049096A1 (fr) * 2000-12-11 2002-06-20 Sumitomo Precision Products Co., Ltd Dispositif inclinable de répulsion de fluide
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