JPH07268655A - 導電性酸化金属膜のエッチング方法 - Google Patents

導電性酸化金属膜のエッチング方法

Info

Publication number
JPH07268655A
JPH07268655A JP5720294A JP5720294A JPH07268655A JP H07268655 A JPH07268655 A JP H07268655A JP 5720294 A JP5720294 A JP 5720294A JP 5720294 A JP5720294 A JP 5720294A JP H07268655 A JPH07268655 A JP H07268655A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
etching
substrate
tank
metallic film
electric conductive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5720294A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuo Koshizuka
靖雄 腰塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Casio Computer Co Ltd
Original Assignee
Casio Computer Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Casio Computer Co Ltd filed Critical Casio Computer Co Ltd
Priority to JP5720294A priority Critical patent/JPH07268655A/ja
Publication of JPH07268655A publication Critical patent/JPH07268655A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • ing And Chemical Polishing (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 エッチング装置にダメージを与えることなく
エッチングレートを高めることができ、かつそのエッチ
ングレートの変動を抑えて容易な管理でエッチング処理
を行なうことができる導電性酸化金属膜のエッチング方
法を提供する。 【構成】 基板aに形成された導電性酸化金属膜をエッ
チング槽12内で塩素系のエッチング液を用いてエッチ
ングする方法であって、そのエッチング時にエッチング
槽12内に噴射ノズル18から酸素ガスを供給し、この
酸素ガスに基づいてエッチング時の酸化反応を促進させ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は基板の上に成膜した導電
性酸化金属膜をエッチングする方法に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶表示素子を製造する工程中には、基
板の上に導電性酸化金属膜としてのITO(酸化インジ
ュウム・錫)の薄膜を形成し、このITO膜をエッチン
グして所定形状の透明電極にパターン化する工程があ
る。
【0003】図2にはITO膜をエッチングするエッチ
ング装置の構成を概略的に示してあり、このエッチング
装置はローダー1、エッチング槽2、水洗槽3、乾燥ユ
ニット4およびアンローダー5を一連に配置してなる。
そして前記ローダー1、エッチング槽2、水洗槽3、乾
燥ユニット4およびアンローダー5の内部の中段部分に
それぞれ基板搬送用のローラ6が設けられている。
【0004】エッチング槽12の内部には、ローラ6の
上方に位置して複数のシャワーノズル7が設けられ、こ
のエッチング槽2内にエッチング液が収容されている。
また、水洗槽3の内部には、ローラ6の上方に位置して
複数のシャワーノズル9が設けられ、この水洗槽3内に
洗浄水が収容されている。
【0005】さらに、乾燥ユニット4の内部には、ロー
ラ6の上方および下方に位置してエアナイフ10が設け
られている。図に示すaは基板であり、この基板aの表
面に導電性酸化金属膜としてのITO膜が形成されお
り、このITO膜をエッチングする工程について述べる
と、次の通りである。
【0006】まず、基板aをローダー1に搬入し、この
ローダー1から基板aをエッチング槽2内に搬送し、こ
の基板aをエッチング槽2内のエッチング液中の上層部
分に配置させる。そしてこの基板aの表面に向けてシャ
ワーノズル7からエッチング液を噴射する。この処理に
より、基板aの表面のITO膜がエッチングされる。
【0007】エッチングの完了後には、基板aを水洗槽
3内に搬送し、この基板aにシャワーノズル9から洗浄
水を噴射して基板aに付着しているエッチング液を洗い
流す。そしてこの洗浄後に、基板aを乾燥ユニット4内
に搬送し、この基板aにエアナイフ10から乾燥用のエ
アを噴射して水切りを行ない、基板aを乾燥させ、この
乾燥後に基板aをアンローダー5を通してエッチング装
置から搬出する。
【0008】ITO膜のエッチング液としては、HCl
(塩酸)+HNO3 (硝酸)+H2O(水)の混合液等
の塩酸系エッチング液が用いられ、このエッチング液に
よる酸化反応でITO膜がエッチングされ、ITO膜に
対するエッチングレートはそのエッチング液のH+ の濃
度により決まる。
【0009】そこで、ITO膜のエッチング時間を短く
してエッチング処理工程のスループットを向上させるた
めにエッチング液中のHCl濃度を高める方法が採られ
ることがある。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、エッチ
ング液中のHCl濃度を高め過ぎると、その濃度の高い
HClによりエッチング装置とくにエッチング槽がダメ
ージを受けて耐久性が低下し、また時間の経過と共にH
Cl成分の蒸発によりその濃度が変化し、この結果、I
TO膜に対するエッチングレートが時間の経過に伴い変
動してしまい、エッチング処理の管理が面倒となる。
【0011】本発明はこのような点に着目してなされた
もので、その目的とするところは、エッチング装置にダ
メージを与えることなくエッチングレートを高めること
ができ、かつそのエッチングレートの変動を抑えて容易
な管理でエッチング処理を行なうことができる導電性酸
化金属膜のエッチング方法を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明はこのような目的
を達成するために、基板に形成された導電性酸化金属膜
をエッチング槽内で塩素系のエッチング液を用いてエッ
チングする方法であって、そのエッチング時にエッチン
グ槽内に酸素ガスを供給し、この酸素ガスに基づいてエ
ッチング時の酸化反応を促進させるようにしたものであ
る。
【0013】
【作用】エッチング槽内に酸素ガスを導入すると、エッ
チング槽内におけるエッチング液の液面と接する気相雰
囲気中の酸素分圧が上昇し、この酸素分圧の上昇により
基板の上の導電性酸化金属膜の酸化反応が促進され、こ
の導電性酸化金属膜に対するエッチングレートが高ま
り、導電性酸化金属膜の所定領域が短時間でエッチング
される。
【0014】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図1を参照
して説明する。図1には、本発明を実施するためのエッ
チング装置の構成を概略的に示してある。このエッチン
グ装置はローダー11、エッチング槽12、水洗槽1
3、乾燥ユニット14およびアンローダー15を一連に
配置してなる。そして前記ローダー11、エッチング槽
12、水洗槽13、乾燥ユニット14およびアンローダ
ー15の内部の中段部分にそれぞれ基板搬送用のローラ
16が設けられている。
【0015】エッチング槽12の内部には、ローラ16
の上方に位置してエッチング液を噴射する複数のシャワ
ーノズル17が設けられているとともに、さらにローラ
16の上方および下方に位置してそれぞれ複数の噴射ノ
ズル18が設けられている。そしてこのエッチング槽1
2内にHCl(塩酸)+HNO3 (硝酸)+H2
(水)の混合液等の塩酸系エッチング液が収容されてい
る。
【0016】また、水洗槽13の内部には、ローラ16
の上方に位置して酸素ガスを噴射する複数のシャワーノ
ズル19が設けられ、この水洗槽13内に洗浄水が収容
されている。
【0017】さらに、乾燥ユニット14の内部には、ロ
ーラ16の上方および下方に位置してエアナイフ20が
設けられている。図に示すaは基板であり、この基板a
の表面に導電性酸化金属膜としてのITO膜が形成され
ている。
【0018】次にこの基板aの表面に形成されたITO
膜をエッチングする工程について説明する。まず、基板
aをローダー11に搬入し、このローダー11から基板
aをエッチング槽12内に搬送し、この基板aをエッチ
ング槽12内のエッチング液中の上層部分に配置させ
る。そしてこの基板aの表面に向けてシャワーノズル1
7からエッチング液を噴射する。さらにこれに合せて噴
射ノズル18から酸素ガス(O2 )を噴射してエッチン
グ槽12内に導入する。
【0019】この酸素ガスの導入により、エッチング槽
12内におけるエッチング液の液面と接する気相雰囲気
中の酸素分圧が上昇する。基板aの表面のITO膜はエ
ッチング液に基づく酸化反応によりエッチングされる
が、ここで、エッチング槽12内の酸素分圧が上昇して
いることにより、その酸化反応が促進され、ITO膜に
対するエッチングレートが高まり、ITO膜の所定領域
が短時間でエッチングされる。
【0020】エッチングの完了後には、基板aを水洗槽
13内に搬送し、この基板aにシャワーノズル19から
洗浄水を噴射して基板aに付着しているエッチング液を
洗い流す。
【0021】基板aの洗浄後には、基板aを乾燥ユニッ
ト14内に搬送し、この基板aにエアナイフ20から乾
燥用のエアを噴射して水切りを行ない、基板aを乾燥さ
せる。そしてこの乾燥後に基板aをアンローダー15を
通してエッチング装置から搬出する。
【0022】このように、基板aのITO膜をエッチン
グ槽12内でエッチングする際にそのエッチング槽12
内に酸素ガスを導入することにより、ITO膜の酸化反
応を促進させてエッチングレートを高めることができ、
したがってエッチング液のHCl濃度を高めることなく
エッチング時間を短縮させてエッチング処理工程のスル
ートップを向上させることができる。
【0023】そしてエッチング液のHCl濃度を高める
必要がないから、エッチング装置とくにエッチング槽に
ダメージを与えるようなことがなく、またHCl成分の
蒸発に伴うエッチングレートの変動を小さく抑えること
ができ、エッチング処理の管理が容易となる。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、エ
ッチング液中のHCl濃度を高めることなく、導電性酸
化金属膜の酸化反応を促進してエッチングレートを高め
ることができ、したがってエッチング装置とくにエッチ
ング槽にダメージを与えることがなく、またそのエッチ
ングレートが変動せずに安定するから、エッチング処理
の管理が容易となる利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施に用いるエッチング装置の一例を
示す構成図。
【図2】従来のエッチング装置の構成図。
【符号の説明】
a…基板 12…エッチング槽 18…酸素ガス噴射用の噴射ノズル

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板に形成された導電性酸化金属膜をエッ
    チング槽内で塩素系のエッチング液を用いてエッチング
    する方法であって、そのエッチング時にエッチング槽内
    に酸素ガスを供給し、この酸素ガスに基づいてエッチン
    グ時の酸化反応を促進させることを特徴とする導電性酸
    化金属膜のエッチング方法。
JP5720294A 1994-03-28 1994-03-28 導電性酸化金属膜のエッチング方法 Pending JPH07268655A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5720294A JPH07268655A (ja) 1994-03-28 1994-03-28 導電性酸化金属膜のエッチング方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5720294A JPH07268655A (ja) 1994-03-28 1994-03-28 導電性酸化金属膜のエッチング方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07268655A true JPH07268655A (ja) 1995-10-17

Family

ID=13048920

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5720294A Pending JPH07268655A (ja) 1994-03-28 1994-03-28 導電性酸化金属膜のエッチング方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07268655A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6006763A (en) Surface treatment method
US20040103914A1 (en) Method for cleaning a plasma chamber
KR20120041810A (ko) 반도체 기판 표면의 화학적 처리 방법 및 이를 위한 장치
CN205264681U (zh) 基板处理装置
WO2011101936A1 (ja) エッチング方法及びエッチング装置
JP2001044166A (ja) 導電膜パターンの形成方法
KR20040054460A (ko) 반도체 기판 세정 방법 및 장치
JPH07268655A (ja) 導電性酸化金属膜のエッチング方法
CN101303530B (zh) 狭缝式涂布机用预备排出装置
KR20080051551A (ko) 습식식각장치
JP2001077098A (ja) エッチング液、及びこれを用いる薄膜パターンの製造方法
US6792957B2 (en) Wet etching apparatus and method
JP2003093982A (ja) 液体処理方法、液体処理装置、及び、フラットパネル表示装置の製造方法
JP2978806B2 (ja) 基板の処理方法
KR20020063201A (ko) 전자장치의 제조방법
KR20030083129A (ko) 플라즈마를 이용한 tft-lcd 세정방법 및 이를이용한 tft-lcd제조장비
JP2000357797A (ja) 薄膜トランジスタの製造方法
JP2006245446A (ja) レジスト剥離除去装置
JP2000031111A (ja) ウェットエッチング方法
JP2005051099A (ja) 基板の洗浄方法
JP2005051101A (ja) 基板の洗浄方法
JP2001284310A (ja) 基板の処理装置及び処理方法
JP2010258125A (ja) 基板処理装置
KR100218724B1 (ko) 티에프티 엘씨디용 글라스의 자동 에칭장치 및 에칭방법
KR100442452B1 (ko) 습식식각 공정장비