HK1023622A1 - Microscope with adaptive optics system - Google Patents

Microscope with adaptive optics system

Info

Publication number
HK1023622A1
HK1023622A1 HK00100413A HK00100413A HK1023622A1 HK 1023622 A1 HK1023622 A1 HK 1023622A1 HK 00100413 A HK00100413 A HK 00100413A HK 00100413 A HK00100413 A HK 00100413A HK 1023622 A1 HK1023622 A1 HK 1023622A1
Authority
HK
Hong Kong
Prior art keywords
microscope
optics system
adaptive optics
adaptive
optics
Prior art date
Application number
HK00100413A
Other languages
English (en)
Inventor
Ulrich Simon
Martin Gluch
Ralf Wolleschensky
Robert Grub
Andreas Faulstich
Martin Volcker
Original Assignee
Zeiss Carl Jena Gmbh
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=7837611&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=HK1023622(A1) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Zeiss Carl Jena Gmbh filed Critical Zeiss Carl Jena Gmbh
Publication of HK1023622A1 publication Critical patent/HK1023622A1/xx

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002—Scanning microscopes
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/24—Base structure
    • G02B21/241—Devices for focusing
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/06—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the phase of light

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
HK00100413A 1997-08-01 2000-01-21 Microscope with adaptive optics system HK1023622A1 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19733193A DE19733193B4 (de) 1997-08-01 1997-08-01 Mikroskop mit adaptiver Optik
PCT/EP1998/004801 WO1999006856A2 (fr) 1997-08-01 1998-07-31 Microscope a optique adaptative

Publications (1)

Publication Number Publication Date
HK1023622A1 true HK1023622A1 (en) 2000-09-15

Family

ID=7837611

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
HK00100413A HK1023622A1 (en) 1997-08-01 2000-01-21 Microscope with adaptive optics system

Country Status (8)

Country Link
EP (2) EP0929826B1 (fr)
JP (1) JPH11101942A (fr)
KR (1) KR20000068681A (fr)
AU (1) AU9256698A (fr)
CA (1) CA2267431A1 (fr)
DE (3) DE19733193B4 (fr)
HK (1) HK1023622A1 (fr)
WO (1) WO1999006856A2 (fr)

Families Citing this family (55)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19930532C2 (de) * 1999-06-30 2002-03-28 Zeiss Carl Jena Gmbh Anordnung zur Optimierung der Pulsform in einem Laser-Scanning-Mikroskop
DE19942998B4 (de) * 1999-09-09 2012-02-09 Carl Zeiss Jena Gmbh Mikroskop zur Auf- und Durchlichtmikroskopie
DE19958436B4 (de) 1999-12-03 2014-07-17 Carl Zeiss Meditec Ag Vorrichtung und Verfahren zur aktiven, physiologisch bewerteten, umfassenden Korrektur der Aberrationen des menschlichen Auges
JP4531895B2 (ja) 1999-12-06 2010-08-25 オリンパス株式会社 レーザ集光光学系及びそれを用いたレーザ走査型顕微鏡
DE10012462B4 (de) * 2000-03-15 2004-07-08 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Beleuchtungsvorrichtung für die konfokale Fluoreszenz-Rastermikroskopie
DE10038622A1 (de) * 2000-08-03 2002-02-21 Leica Microsystems Scan-Mikroskop,optische Anordnung und Verfahren zur Bildaufnahme in der Scan-Mikroskopie
DE10049296B4 (de) * 2000-08-03 2013-06-20 Leica Microsystems Cms Gmbh Optische Anordnung und Verfahren zur Ablenkung eines Lichtstrahls
DE10063276C2 (de) 2000-12-19 2002-11-07 Leica Microsystems Scanmikroskop
JP3797874B2 (ja) 2000-12-26 2006-07-19 オリンパス株式会社 走査型光学顕微鏡
US6549323B1 (en) * 2001-10-01 2003-04-15 The Boeing Company Active optical system for phase-shifting desired portions of an incoming optical wavefront
DE10150424B4 (de) * 2001-10-11 2004-07-29 Siemens Ag Reflexionssystem und Verwendung des Reflexionssystems
DE10227120A1 (de) * 2002-06-15 2004-03-04 Carl Zeiss Jena Gmbh Mikroskop, insbesondere Laserscanningmikroskop mit adaptiver optischer Einrichtung
ITTO20020602A1 (it) * 2002-07-10 2004-01-12 Infm Istituto Naz Per La Fisi Microscopio ottico atto ad operare una modulazione tridimensionale rapida della posizione del punto di osservazione
WO2004065897A2 (fr) * 2003-01-20 2004-08-05 Robert Bosch Gmbh Dispositif de mesure interferometrique
DE10304724A1 (de) * 2003-02-06 2004-08-26 Landesstiftung Baden-Württemberg gGmbH Vorrichtung zur Erhöhung der Schärfentiefe eines optischen Systems
US7057806B2 (en) 2003-05-09 2006-06-06 3M Innovative Properties Company Scanning laser microscope with wavefront sensor
DE102004009848A1 (de) 2004-02-28 2005-09-15 Carl Zeiss Jena Gmbh Tubuslinseneinheit mit chromatisch kompensierender Wirkung
JP4576137B2 (ja) * 2004-03-19 2010-11-04 オリンパス株式会社 顕微鏡
JP4615886B2 (ja) * 2004-04-01 2011-01-19 オリンパス株式会社 走査型光学顕微鏡
JP2005345761A (ja) * 2004-06-03 2005-12-15 Olympus Corp 走査型光学顕微鏡装置及び走査型光学顕微鏡像から物体像の復元法
DE102004034956A1 (de) 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren zur Erfassung mindestens eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung
DE102004034979A1 (de) 2004-07-16 2006-02-16 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren zur Erfassung mindestens eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung
DE102004034954A1 (de) 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren zur Erfassung mindestens eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop
US7345816B2 (en) 2005-01-11 2008-03-18 Olympus Corporation Optical microscope
US7326899B2 (en) 2005-07-11 2008-02-05 Olympus Corporation Laser scanning microscope and image acquiring method of laser scanning microscope
DE102005047884A1 (de) * 2005-10-06 2007-04-26 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskop und Scanverfahren mit einem Scanmikroskop
FR2902202B1 (fr) * 2006-06-08 2008-09-26 Centre Nat Rech Scient Microscope confocal interferometrique
WO2008012706A2 (fr) * 2006-07-20 2008-01-31 Koninklijke Philips Electronics N.V. Biocapteur multicolore
DE102007005823A1 (de) 2007-01-31 2008-08-07 Seereal Technologies S.A. Optische Wellenfrontkorrektur für ein holographisches Projektionssystem
DE102007051521A1 (de) 2007-10-19 2009-04-23 Seereal Technologies S.A. Dynamische Wellenformereinheit
DE102008022724B4 (de) 2008-05-06 2010-02-11 Freie Universität Berlin Pulsshaper und Infrarotlaser mit Pulsshaper
FR2933209B1 (fr) 2008-06-27 2010-07-30 Ecole Polytech Procede et systeme de microscopie non-lineaire coherente a modulation de volume focal pour sonder la nanostructuration de materiaux organises
JP2010026165A (ja) * 2008-07-17 2010-02-04 Olympus Corp レーザー走査型顕微鏡
FR2941787B1 (fr) * 2009-02-04 2011-04-15 Ecole Polytech Procede et dispositif d'acquisition de signaux en microscopie laser a balayage.
EP2452221B1 (fr) * 2009-07-09 2020-01-01 Howard Hughes Medical Institute Microscope a optique adaptative
CN101806957B (zh) * 2010-03-10 2012-07-11 中国科学院光电技术研究所 自适应光学系统中波前传感器与校正器对准装置
JP5733670B2 (ja) * 2010-04-05 2015-06-10 国立大学法人大阪大学 観察装置及び観察方法
DE102010055882A1 (de) 2010-12-22 2012-06-28 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Pinhole für ein konfokales Laser-Scanning Mikroskop
JP5616824B2 (ja) 2011-03-10 2014-10-29 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
EP2732326B1 (fr) * 2011-07-14 2020-11-18 Howard Hughes Medical Institute Microscopie avec optique adaptative
WO2013130077A1 (fr) * 2012-02-29 2013-09-06 Agilent Technologies, Inc. Microscope défini par logiciel
DE102012101778A1 (de) 2012-03-02 2013-09-05 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskopisches Verfahren und Scanmikroskop
CA2887052C (fr) * 2012-10-12 2020-07-07 Thorlabs, Inc. Systeme de balayage optique adaptatif de faible aberration, faible dispersion et compact
JP6196825B2 (ja) 2013-07-09 2017-09-13 オリンパス株式会社 顕微鏡システム、及び、試料の屈折率測定方法
JP6127818B2 (ja) * 2013-08-02 2017-05-17 株式会社ニコン 補償光学素子の設定方法及び顕微鏡
DE102013218795A1 (de) 2013-09-19 2015-03-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laserscanningmikroskop und Verfahren zur Korrektur von Abbildungsfehlern insbesondere in der hochauflösenden Scanning-Mikroskopie
CN106716220B (zh) * 2014-09-25 2019-03-29 西铁城时计株式会社 相位调制设备及激光显微镜
JP6772442B2 (ja) * 2015-09-14 2020-10-21 株式会社ニコン 顕微鏡装置および観察方法
DE102016214695B3 (de) * 2016-08-08 2017-10-19 Carl Zeiss Smt Gmbh Optisches System und Verfahren zur Korrektur von Maskenfehlern mit diesem System
DE102017100904B4 (de) 2017-01-18 2023-01-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Bildwandlungsmodul für ein Mikroskop und Mikroskop
DE102017101188B4 (de) 2017-01-23 2021-09-30 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zum Mikroskopieren einer Probe
EP3486706B1 (fr) 2017-11-16 2024-05-08 SD Optics, Inc. Module fonctionnel et microscope en étant équipé
EP3816692A1 (fr) 2019-10-30 2021-05-05 Carl Zeiss Microscopy GmbH Module de conversion d'images doté d'un système optique microélectromécanique et son procédé d'application
CN111077078A (zh) * 2020-01-02 2020-04-28 哈工大机器人(中山)无人装备与人工智能研究院 一种结合自适应再扫描技术的双光子显微成像系统
EP4060394A1 (fr) 2021-03-17 2022-09-21 Carl Zeiss Microscopy GmbH Microscope et procédé de formation d'image microscopique avec une profondeur de champ étendue

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5395052A (en) * 1977-01-31 1978-08-19 Ricoh Co Ltd Astigmatism correction of in-mirror type lens
US4408874A (en) * 1981-05-07 1983-10-11 Computervision Corporation Projection aligner with specific means for bending mirror
FR2528585B1 (fr) * 1982-06-11 1986-03-21 Gleizes Raymond Procede de fabrication de miroir cylindrique, miroir cylindrique et appareil d'irradiation par un faisceau laser
DE3245939C2 (de) * 1982-12-11 1985-12-19 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Vorrichtung zur Erzeugung eines Bildes des Augenhintergrundes
JPS59144127A (ja) * 1983-02-07 1984-08-18 Canon Inc 像調整された光学装置
DE3422144A1 (de) * 1984-06-14 1985-12-19 Josef Prof. Dr. 6900 Heidelberg Bille Geraet zur darstellung flaechenhafter bereiche des menschlichen auges
JPS61156215A (ja) * 1984-12-28 1986-07-15 Olympus Optical Co Ltd 液晶使用の顕微鏡用照明装置
JPH0648648B2 (ja) * 1986-07-31 1994-06-22 松下電器産業株式会社 電磁アクチエ−タ
JPS63153512A (ja) * 1986-08-26 1988-06-25 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 結像光学装置
US5051571A (en) * 1986-12-02 1991-09-24 Hughes Aircraft Company Cascaded adaptive optics system
NL8700612A (nl) * 1987-03-13 1988-10-03 Tno Confocale laserscanning microscoop.
FR2619932B1 (fr) * 1987-08-25 1991-08-30 Suisse Electronique Microtech Dispositif de reglage fin d'une unite par rapport a un systeme de reference et utilisation de ce dispositif
JP2664187B2 (ja) * 1988-03-14 1997-10-15 日本電信電話株式会社 光パレス圧縮装置
JP2581767B2 (ja) * 1988-07-07 1997-02-12 オリンパス光学工業株式会社 可変焦点レンズ系
US5034613A (en) * 1989-11-14 1991-07-23 Cornell Research Foundation, Inc. Two-photon laser microscopy
JP2895150B2 (ja) * 1990-03-16 1999-05-24 シチズン時計株式会社 光学装置
JPH03294815A (ja) * 1990-04-13 1991-12-26 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 極短光パルス供給装置
JPH0416408U (fr) * 1990-05-29 1992-02-10
US5142132A (en) * 1990-11-05 1992-08-25 Litel Instruments Adaptive optic wafer stepper illumination system
US5229889A (en) * 1991-12-10 1993-07-20 Hughes Aircraft Company Simple adaptive optical system
CA2084923A1 (fr) * 1991-12-20 1993-06-21 Ronald E. Stafford Spectrometre a modulateur de lumiere spatial
JP3315165B2 (ja) * 1992-06-02 2002-08-19 オリンパス光学工業株式会社 走査型顕微鏡
JPH0815156A (ja) * 1993-06-03 1996-01-19 Hamamatsu Photonics Kk レーザスキャン光学系及びレーザスキャン光学装置
DE4331570C2 (de) * 1993-08-17 1996-10-24 Hell Stefan Verfahren zum optischen Anregen einer Probe
JPH07261089A (ja) * 1994-03-24 1995-10-13 Olympus Optical Co Ltd 位相差顕微鏡
FI96452C (fi) * 1994-01-26 1996-06-25 Pekka Haenninen Menetelmä väriaineiden virittämiseksi
DE4414940C2 (de) * 1994-04-28 1998-07-02 Pekka Haenninen Lumineszenz-Rastermikroskop mit zwei Photonen Anregung
JP3443226B2 (ja) * 1995-08-31 2003-09-02 パイオニア株式会社 光ピックアップ
DE29609850U1 (de) * 1996-06-04 1996-08-29 Zeiss Carl Jena Gmbh Vorrichtung zur Einkopplung der Strahlung von Kurzpulslasern in einem mikroskopischen Strahlengang

Also Published As

Publication number Publication date
KR20000068681A (ko) 2000-11-25
EP1253457B1 (fr) 2006-03-15
CA2267431A1 (fr) 1999-02-01
EP0929826A2 (fr) 1999-07-21
EP1253457A1 (fr) 2002-10-30
WO1999006856A3 (fr) 1999-04-08
AU9256698A (en) 1999-02-22
DE59813436D1 (de) 2006-05-11
EP0929826B1 (fr) 2003-01-02
DE19733193B4 (de) 2005-09-08
DE59806811D1 (de) 2003-02-06
DE19733193A1 (de) 1999-02-04
JPH11101942A (ja) 1999-04-13
WO1999006856A2 (fr) 1999-02-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
HK1023622A1 (en) Microscope with adaptive optics system
IL111229A0 (en) An autofocusing microscope
EP0779530A4 (fr) Module optique adaptatif
GB9809738D0 (en) Optical systems
GB2314214B (en) Optical backplane
EP0662625A3 (fr) Microscope.
GB9721991D0 (en) Optical systems
IL126771A0 (en) Improved optical systems
GB9711363D0 (en) Optical system
AU3153897A (en) Microscope system
GB2345538B (en) Optical tracker
GB9423933D0 (en) Optical systems
GB9726968D0 (en) Optical system
GB9809736D0 (en) Objective lens system
GB2340623B (en) Endocsopic optical systems
GB2339619B (en) Optical systems
GB2323234B (en) Near-field optical microscope
GB9702125D0 (en) Optical component assemblies
AU2002302119A1 (en) Microscope with adaptive optics system
CA84377S (en) Microscope case
GB2311382B (en) Optical system
TW395505U (en) Microscope
GB9715117D0 (en) Lenses
IL120726A0 (en) Autofocus system
GB9702124D0 (en) Optical component assemblies

Legal Events

Date Code Title Description
PF Patent in force
PC Patent ceased (i.e. patent has lapsed due to the failure to pay the renewal fee)

Effective date: 20060731