FR2719684A1 - Procédé et circuit pour détecter des structures d'image en formes de lignes liées topologiquement entre elles. - Google Patents
Procédé et circuit pour détecter des structures d'image en formes de lignes liées topologiquement entre elles. Download PDFInfo
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4415798A DE4415798C1 (de) | 1994-05-05 | 1994-05-05 | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Auflösung von Äquivalenzen zeilenförmig erfaßter topologisch zusammenhängender Bildstrukturen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FR2719684A1 true FR2719684A1 (fr) | 1995-11-10 |
Family
ID=6517321
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FR9500034A Pending FR2719684A1 (fr) | 1994-05-05 | 1995-01-04 | Procédé et circuit pour détecter des structures d'image en formes de lignes liées topologiquement entre elles. |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2903043B2 (it) |
KR (1) | KR100187884B1 (it) |
DE (1) | DE4415798C1 (it) |
FR (1) | FR2719684A1 (it) |
IT (1) | IT1279096B1 (it) |
TW (1) | TW263607B (it) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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1994
- 1994-05-05 DE DE4415798A patent/DE4415798C1/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-12-07 TW TW083111386A patent/TW263607B/zh active
-
1995
- 1995-01-04 FR FR9500034A patent/FR2719684A1/fr active Pending
- 1995-01-09 IT IT95TO000007A patent/IT1279096B1/it active IP Right Grant
- 1995-01-31 JP JP7014711A patent/JP2903043B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1995-04-18 KR KR1019950009049A patent/KR100187884B1/ko not_active IP Right Cessation
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ITTO950007A0 (it) | 1995-01-09 |
TW263607B (it) | 1995-11-21 |
IT1279096B1 (it) | 1997-12-04 |
JP2903043B2 (ja) | 1999-06-07 |
KR100187884B1 (ko) | 1999-06-01 |
JPH0830791A (ja) | 1996-02-02 |
KR950033943A (ko) | 1995-12-26 |
ITTO950007A1 (it) | 1996-07-09 |
DE4415798C1 (de) | 1995-08-03 |
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