FR2628263A1 - Procede d'encapsulation d'un circuit electronique par une resine - Google Patents

Procede d'encapsulation d'un circuit electronique par une resine Download PDF

Info

Publication number
FR2628263A1
FR2628263A1 FR8901746A FR8901746A FR2628263A1 FR 2628263 A1 FR2628263 A1 FR 2628263A1 FR 8901746 A FR8901746 A FR 8901746A FR 8901746 A FR8901746 A FR 8901746A FR 2628263 A1 FR2628263 A1 FR 2628263A1
Authority
FR
France
Prior art keywords
resin
encapsulation
substrate
plate
mold
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
FR8901746A
Other languages
English (en)
Other versions
FR2628263B1 (fr
Inventor
Isao Yabe
Katsuji Komatsu
Hiroyuki Kaneko
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Citizen Watch Co Ltd
Original Assignee
Citizen Watch Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP5940988A external-priority patent/JPH01234217A/ja
Application filed by Citizen Watch Co Ltd filed Critical Citizen Watch Co Ltd
Publication of FR2628263A1 publication Critical patent/FR2628263A1/fr
Application granted granted Critical
Publication of FR2628263B1 publication Critical patent/FR2628263B1/fr
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
    • G06K19/077Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier
    • G06K19/0772Physical layout of the record carrier
    • G06K19/07724Physical layout of the record carrier the record carrier being at least partially made by a molding process
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/14Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor incorporating preformed parts or layers, e.g. injection moulding around inserts or for coating articles
    • B29C45/14639Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor incorporating preformed parts or layers, e.g. injection moulding around inserts or for coating articles for obtaining an insulating effect, e.g. for electrical components
    • B29C45/14647Making flat card-like articles with an incorporated IC or chip module, e.g. IC or chip cards
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/17Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
    • B29C45/26Moulds
    • B29C45/27Sprue channels ; Runner channels or runner nozzles
    • B29C45/2701Details not specific to hot or cold runner channels
    • B29C45/2708Gates
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
    • G06K19/077Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier
    • G06K19/07745Mounting details of integrated circuit chips
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • H01L21/565Moulds
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C43/00Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor
    • B29C43/32Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
    • B29C43/58Measuring, controlling or regulating
    • B29C2043/5825Measuring, controlling or regulating dimensions or shape, e.g. size, thickness
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01014Silicon [Si]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01019Potassium [K]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/0102Calcium [Ca]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01039Yttrium [Y]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01057Lanthanum [La]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01077Iridium [Ir]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)

Abstract

Le procédé d'encapsulation à la résine de l'invention consiste à monter une plaque 3 comportant une gorge d'entrée 3a sur un substrat 4 d'un élément électronique 10 qui est mis en sandwich entre deux demi-moules supérieur et inférieur 1, 2, pour former ainsi une entrée latérale 3c reliée à la surface latérale d'une cavité 1a remplie d'une résine 11 entre les demi-moules, entre la plaque et un des demi-moules. Application à la fabrication des cartes de circuits intégrés CI.

Description

La présente invention concerne un procédé d'en-
capsulation d'une partie électronique telle qu'un cir-
cuit intégré CI formé sur un substrat avec une résine.
thermodurcissable. Récemment, on a rapidement développé.une carte de
CI comportant une puce de CI telle que d'uoe unité cen-
trale de traitement CPU ou une puce de mémoire. Puisque cette carte de CI a une plus grande capacité de mémoire que celle d'une carte magnétique classique, on a proposé
d'utiliser la carte de CI à la place d'un carnet de ban-
que ou d'une carte de crédit.
On va décrire ci-dessous une carte de CI classique et un module de CI logé dans celle-ci en se référant aux
Figures 1 à 7 des dessins annexés.
Comme le montre la Figure 1, un ensemble de bornes d'entrée/sortie de données 33a sont formées à la surface d'une carte de CI 30. La forme d'ensemble de la carte de
CI 30 est définie par une base de carte en matière plas-
tique 31 représentée sur la Figure 3.
Comme le montre la Figure 2, une partie creuse 31a est formée dans la base de carte 31. Un module.-de CI 32, dans lequel est soudée une puce de CI 33b telle qu'une
puce de CPU ou de mémoire sur un substrat 33 et une par-
tie d'encapsulation en résine 34 est forméepourrecouvrir la puce de CI 33b,est logé et fixé dans la.partie creuse 31a. Apres que le module de CI 32 ait été logé et fixé dans la partie creuse 3Xa de la base de carte 31, des
feuilles de recouvrement 35 sont posées sur les deux sur-
faces de la base de carte 31, en constituant ainsi la
carte de CI 30.
Sur la Figure 2, la surface supérieure de la par-
tie d'encapsulation 34 est appliquée contre la surface
inférieure de la partie creuse 31a pour définir l'épais-
seur du module de CI 32, et la circonférence extérieure
du substrat 33 est en contact avec la circonférence in-
térieure de la partie creuse 31a pour définir sa posi-
tion horizontale.
La carte de CI 30 a généralement une épaisseur d'environ 0,8 mm et exige une souplesse pour une certai- ne étendue de flexion de manière à ce qu'elle ne se casse pas sous l'action d'une force extérieure appliquée
quand elle est transportée ou utilisée. Pour cette rai-
son, la base de carte 31 doit être souple, et le module de CI 32 doit être encapsulé avec une résine ayant une rigidité élevée et une résistance à l'humidité, de sorte que la puce de CI 33b ne soit pas cassée ou qu'un fil de
soudure ne soit pas déconnecté par flexion.
De plus, puisque la surface supérieure de la par-
tie d'encapsulation 34 est appliquée contre la surface inférieure de la partie creuse 31a de la base mince de carte 31 pour définir l'épaisseur, on doit contrôler les dimensions de la partie d'encapsulation 34 pour empêcher des variations d'épaisseur. Cependant, dans un procédé d'encapsulation classique qui a été largement mis en oeuvre et dans lequel on fait tomber goutte-à-goutte une résine fondue sur la puce de CI, l'épaisseur de laparti'e d'encapsulation 34 a tendance à varier. Par conséquent,
un procédé de moulage sous pression mettant en oeuvre une.
résine thermodurcissable ayant une précision de dimen-' sions et une rigidité élevées est plus approprié pour la
formation de la partie d'encapsulation 34 du module de CI.
On va décrire ci-dessous un procédé d'encapsula-
tion à.la résine d'une puce de CI selon un procédé de moulage sous pression classique en se référant à la
Figure 4.
Sur la Figure 4, la référence numérique 36 indique un demi-moule inférieur. Le substrat 33 sur lequel est
soudée la puce de CI 33b est placé sur la surface supé-
rieure du demi-moule inférieur 36. La référence numéri-
que 37 indique un demi-moule supérieur dans lequel est formée une cavité 37a. Le demi-moule supérieur 37 est fixé sur le demi-moule inférieur 36 de telle sorte que la cavité 37a recouvre la surface supérieure de la puce
de CI 33b.
Une gorge d'entrée 39a et une gorge de coulée 40a sont formées dans le demi-moule supérieur 37. Un élément de coulée 40 et un élément d'entrée 39 servant à guider une résine 38 jusqu'à la cavité 37a sont formés entre les faces des demi-moules supérieur et inférieur 37 et 36 et entre les faces du demi-moule supérieur 37 et du substrat 33, respectivement. Cet agencement correspond à un procédé de moulage sous pression du type dit à
entrée latérale.
Afin de former la partie d'encapsulation 34, on injecte la résine chauffée et fondue 38 dans le trou de coulée ou canal d'injection 40 au moyen d'un piston
41 et on remplit la cavité 37a par l'entrée 39.
Quand la résine 38 est prise, on retire le demi-moule supérieur 37 pour extraire le module de CI 32
dans lequel est formée la partie d'encapsulation 34. Ce-
pendant, dans ce cas, l'entrée 39 est formée entre les faces du demimoule supérieur 37 et du substrat 33 comme on l'a décrit plus haut. Par conséquent, comme le montre la Figure 5, une partie restante d'entrée 34a reliée à la partie d'encapsulation 34 est formée sur le substrat
33 du module de CI 32.
La partie restante d'entrée 34a a une force d'adhé-
rence élevée par rapport à une surface 33c du substrat 33.
Par conséquent, quand une partie restante d'entrée 34a' indiquée par une ligne en traits interrompus et points alternés doit être incurvée et retirée, une force de flexion agit sur la partie restante d'entrée 34a pour retirer la surface 33c du substrat 33. Dans le pire des
cas, même un dessin de circuit est déconnecté.
Afin de ne pas retirer la partie restante d'en-
trée 34a', on doit former en plus une gorge 31b pour recevoir la partie restante d'entrée 34a dans la partie
creuse 31a de la base de carte 31.
Puisque la base de carte 31 est constituée d'une matière plastique comme on l'a décrit plus haut, la partie creuse 31a et la gorge 31b sont moulées en même temps que la base de carte 31 est formée par moulage-à injection. Quand la partie creuse 31a et la gorge 31b doivent être formées simultanément dans la base de carte
31 par moulage à injection, la matière plastique se -
trouvant dans un moule à injection ne passe pas dans la
gorge 31b mais dans les parties indiquées par les flè-
ches B et C telles que représentées sur la Figure 3. Il
en résulte que les courants de,matière plastique respec-
tifs sont incomplètement soudés entre eux à une position indiquée par une ligne en traits interrompus D. Comme on l'a décrit plus haut, la carte de CI 30 doit avoir une souplesse à la flexion. Si la partie en matière plastique incomplètement soudée D ci-dessus est formée dans la base de carte 31, une craquelure est néanmoins produite dans la partie incomplètement soudée D, même par une légère flexion, et casse la base de
carte 31.
Afin de ne pas former la gorge 31b dans la base de carte 31, une demande est donc apparue d'un procédé moulage sous pression qui permet d'encapsuler la puce de CI 32 sans former la partie restante d'entrée 34a sur le
substrat 33 du module de CI 32.
La publication de brevet Japanese Examined Patent
Publication (Kokoku) NO 61-46049 révèle un procédé d'en-
capsulation à la résine qui peut éliminer l'inconvenient
du procédé d'encapsulation à la résine classique ci-
dessus. Ce procédé d'encapsulation à la résine met en oeuvre une plaque de cavité telle que représentée sur la Figure 6. En plus du positionnement des trous-pilotes 42a, une cavité 42b servant à définir les dimensions
d'une partie d'encapsulation est découpée dans une pla-
que de cavité 42. Dans ce procédé d'encapsulation à la résine, tel que représenté sur la Figure 7, le substrat
33 sur lequel une partie électronique doit être encapsu-
lée avec une résine est mis en place et la plaque de cavité 42 dans laquelle se trouve la cavité 42b servant à définir la position et les dimensions d'une partie d'encapsulation à la résine sont interposés entre le
demi-moule supérieur 37 et le demi-moule inférieur 36.
io On remplit la cavité d'une résine d'encapsulation 43 par le canal d'injection 40 et l'entrée 39 formés dans la surface supérieure du demimoule inférieur 36 à mettre en contact avec la plaque de cavité 42. C'està-dire que ce procédé est un procédé de moulage sous pression
du type dit à entrée latérale.
On notera que l'entrée 39 est localisée à l'ex-
trémité d'ouverture supérieure de la cavité 42b.
Selon le procédé d'encapsulation à la résine ci-
dessus, l'entrée 39 servant à guider la résine d'encap-
sulation est formée non sur le substrat 33 mais sur la partie d'encapsulation 34. Par conséquent, puisque la partie restante d'entrée 34a n'est pas formée sur le substrat 33 comme on l'a indiqué par la ligne en traits
interrompus et points alternés sur la Figure 8, le pro-
blème classique indiqué sur la Figure 5 peut être résolu.
Cependant, dans le procédé d'encapsulation à la résine ci-dessus, la gorge d'entrée est positionnée dans
la partie d'ouverture supérieure de la cavité, c'est-à-
dire, la face d'extrémité supérieure de la-partie d'en-
capsulation 34 quand la résine d'encapsulation remplit la cavité. Par conséquent, comme l'indique la Figure 8,
la partie restante d'entrée 34b dépasse de la face d'ex-
trémité supérieure de la partie d'encapsulation 34.
Comme le montre la Figure 9, si le module de CI 32 comportant la partie restante d'entrée 34b est logé dans une partie creuse 43a d'une base de carte 43, la partie restante d'entrée 34b est appliquée contre la surface irférieure de la partie creuse 43a pour former un espace G entre la surface supérieure de la partie d'encapsulation 34 et la surface inférieure de la partie creuse 43a. I1 en résulte que l'épaisseur de la carte
est augmentée indésirablement plus qu'une épaisseur pré-
déterminée dans une partie du module de CI 32.
Pour cette raison, la partie restante d'entrée 34b doit être retirée avec une lime après formation de la partie d'encapsulation 34. Cette opération gênante
pose un problème de fiabilité.
Le procédé d'encapsulation à la résine ci-dessus
pose également un problème ce conservationd'unmoule. C'est-
à-dire que, pour améliorer la rigidité de la partie d'en-
capsulation 34, on mélange souvent des fibres de verre
dans la résine d'encapsulation.
Dans ce cas, puisqu'une gorge d'entrée mince est
fortement usée par les fibres de verre, il faut rempla-
cer périodiquement un élément comportant la gorge d'en-
trée. Cependant, selon le procédé d'encapsulation à la résine ci-dessus, puisque la gorge d'entrée est formée
dans le demi-moule inférieur, il faut remplacer entière-
ment le demi-moule inférieur qui est coOteux quand la gorge d'entrée est usée, et il en résulte un coot de
moule élevé.
Comme contre-mesures contre l'usure de la gorge d'entrée, on a proposé une variété de procédés de moulage à la résine dans lesquels une seule partie d'un moule comportant une gorge d'entrée qui est fortement usée peut être remplacée, comme il est révélé dans la publication de brevet Japanese lUnexamined Patent Publication (Kokai)
NO 62-13312.
Dans ce procédé d'encapsulation à la résine, un trou de coulée comportant un trou pour l'injection d'une résine est constitué par une bague remplaçable, et cette bague de trou de coulée est placée dans une matrice d'insertion fixe. Quand une cavité formée entre les faces de matrices d'insertion fixe et mobile communique avec le trou de la bague de trou de coulée, une résine fondue est injectée à partir d'un cylindre d'injection dans le trou de la bague de trou de coulée, ce qui per- met de remplir la cavité de résine. C'est-à-dire que ce procédé est un procédé de moulage à la résine du type
dit à entrée d'épingle.
Après que la résine ait été introduite et prise dans la cavité, on retire un produit moulé et la résine prise dans la bague de trou de coulée, et le moulage à
la résine est à nouveau exécuté.
Dans ce procédé de moulage à la résine, puisque le trou de coulée tel qu'un trou d'injection de résine qui est usé plus fortement est constitué par la bague remplaçable, on peut facilement remplacer uniquement la bague de trou de coulée quand le trou de coulée est
fortement usé.
Cependant, dans ce procédé de moulage à la résine,
la différence suivante se produit entre un moulage met-
tant en oeuvre une résine thermoplastique et celui met-
tant en oeuvre une résine thermodurcissable.
C'est-à-dire que, puisque la résine thermoplasti-
que a un taux élevé de réduction thermique de volume, elle peut être facilement retirée d'un moule.De plus, la résine thermoplastique peut garder sa dureté,même quand elle est prise. Par conséquent, même une résine prise
dans le trou de la bague de trou de coulée peut être fa-
cilement extraite et retirée de celui-ci.
Par contre, puisque la résine thermodurcissable a un taux faible de réduction thermique de volume, elle adhère à la surface d'un moule et n'est pas facilement
retirée de celui-ci quand elle est prise.De plus,la rési-
ne thermodurcissable perd presque sa dureté après être
prise.Par conséquent,quand une résine prise doit être ex-
traite du trou delabague de trou de coulée,la résine prise est cassée dans le trou de la bague de trou de coulée
et la résine reste dedans.
Pour cette raison, puisqu'il est difficile d'uti-
liser la résine thermodurcissable dans ce procédé de moulage à la résine du type à entrée d'épingle, on met
en oeuvre généralement le procédé de moulage sous pres-
sion du type à entrée latérale mentionné plus haut.
Le procédé d'encapsulation à la résine révélé dans la publication de brevet Japanese Examined Patent
Publication (Kokoku) NO 61-46049 pose en outre le pro-
blème suivant.
C'est-à-dire que, comme on l'a décrit plus haut,
la résine thermodurcissable a un faible taux de réduc-
tion thermique de volume et elle n'est donc pas facile-
ment retirée d'un moule. Par conséquent, quand on rem-
plit de résine d'encapsulation la cavité de la plaque de cavité pour définir la forme de la partie d'encapsulation pour encapsuler la partie électronique sur le substrat, on fait en sorte que la partie d'encapsulation et la plaque de cavité soient maintenues adhérentes l'une par rapport à l'autre après que la résine d'encapsulation soit prise. Par conséquent, afin de retirer le substrat sur lequel se trouve la partie d'encapsulation, on retire d'un moule le substrat auquel adhère la plaque de cavité, on sépare manuellement le substrat et la plaque de cavité
l'un de l'autre, et on installe ensuite la plaque de ca-
vité dans le moule. Cette série d'opérations doit être
exécutée manuellement car il est difficile de les exécu-
ter automatiquement, et il en résulte un rendement de fa-
brication très médiocre.
Un premier but de la présente invention est de
fournir un procédé d'encapsulation à la résine dans le-
quel une partie restante d'entrée ne dépasse pas de la
surface supérieure d'une partie d'encapsulation.
Un deuxième but de la présente invention est de fournir un procédé d'encapsulation à la résine dans lequel on puisse facilement remplacer une gorge d'entrée
qui est fortement usée.
Un troisième but de la présente invention est de
fournir un procédé d'encapsulation. à la résine dans le-
quel on puisse exécuter automatiquement une série d'opé- rations d'encapsulation à la résine pour améliorer le
rendement de fabrication.
Les premier et deuxième buts ci-dessus de la pré-
sente invention peuvent être atteints par un procédé
d'encapsulation à la résine dans lequel on met en sand-
wich un substrat à soumettre à une encapsulation à la résine entre des demi-moules supérieur et inférieur, et
on remplit de résine une cavité définie entre les demi-
moules supérieur et inférieur par l'intermédiaire d'une
entrée, consistant à mettre en place une plaque compor-
tant une gorge d'entrée sur le substrat pour former une entrée latérale, reliée à la surface latérale de la cavité, entre la plaque et un des demimoules supérieur
et inférieur, et à remplir la cavité de résine.
Le troisième but ci-dessus de la présente inven-
tion peut être atteint en mettant en place la plaque à
fasse pivoter sur un des demi-moules supérieur et infé-
rieur de telle sorte qu'on fait pivoter la plaque et
on la sépare d'un substrat quand les demi-moules supé-
rieur et inférieur sont séparés entre eux.
D'autres caractéristiques et avantages de la
présente invention seront mis en évidence dans la des-
cription suivante, donnée à titre d'exemple non limi-
tatif, en référence aux dessins annexés dans lesquels:
la Figure 1 est une vue en perspective représen- -
tant un aspect extérieur d'une carte de CI classique; la Figure 2 est une vue en coupe prise le long de la ligne A-A sur la Figure 1;
la Figure 3 est une vue en perspective repré-
sentant un aspect extérieur d'une base de carte de la carte de CI classique;
la Figure 4 est une vue en coupe servant à ex-
pliquer des étapes d'encapsulation dans un procédé d'en-
capsulation à la résine de-puce de CI classique;
la Figure 5 est une vue en perspe:tive représen-
tant un aspect extérieur d'un module de CI classique;
la Figure 6 est une vue-en perspective représén-
tant une plaque de cavité utilisée dans un procédé d'en-
capsulation à la résine classique;
la Figure 7 est une vue en coupe servant à expli-
quer les étapes d'encapsulation dans le procédé d'encap-
sulation à la résine classique;
la Figure 8 est une vue en perspective représen-
tant un module de CI encapsulé à la résine par le procé-
dé représenté sur la Figure 7; la Figure 9 est une vue en coupe dans laquelle le module de CI représenté sur la Figure 8 est logé dans une carte de CI;
les Figures 10A à O10E sont des vues en coupe re-
présentant une partie principale servant à expliquer les étapes d'encapsulation.d'un procédé d'encapsulation à la résine selon un exemple de réalisation de la présente invention;
la Figure ll est une vue en perspective dans la-
quelle une plaque est mise en place sur un substrat en-
capsulé par les étapes représentées sur les Figures lOA à lOE;
la Figure 12 est une vue en perspective représen-
tant un état dans lequel une plaque est mise en place
sur un substrat sur lequel est formée une partie d'en-
capsulation circulaire;
la Figure 13 est une vue en perspective représen-
tant un aspect extérieur d'un module de CI encapsulé à
la résine par le mode de réalisation de la présente in-
vention; la Figure 14 est une vue en coupe représentant une partie principale d'une carte de CI logeant le module de CI encapsulé à la résine au moyen de la présente invention; la Figure 15 est une vue en coupe représentant une partie principale servant à expliquer les étapes d'encapsulation pour mettre en oeuvreleprocédé d'encap-
sulation à la résine selon la présente invention en uti-
lisant un moule modifié;
les Figures 16A à 16D sont des vues en coupe re-
présentant une partie principale servant à expliquer les étapes d'encapsulation duprocédé d'encapsulation à la
résine selon un autre exemple de réalisation de la pré-
sente invention;
la Figure 17 est une vue en perspective dans la-
quelle une plaque est mise en place sur un substrat;
les Figures 18A à 18C sont des vues en coupe re-
présentant une partie principale servant à expliquer les
étapes d'encapsulation du procédé d'encapsulation à la.
résine selon encore un autre exemple de réalisation de la présente invention; et
la Figure 19 est une vue en perspective dans la-
quelle une plaque est mise en place sur un substrat.
On va décrire ci-dessous un procédé d'encapsula-
tion à la résine selon la présente invention en se réfé-
rant aux dessins annexés.
Les Figures lOA à 10E sont des vues en coupe re-
présentant les étapes d'encapsulation d'un procédé d'en-
capsulation à la résine selon la présente invention.
On va d'abord décrire ci-dessous les parties à uti-
liser dans le procédé d'encapsulation à la résine de la
présente invention en se référant à la Figure lOA.
Sur la Figure lOA, la référence numérique 1 indi-
que un demi-moule supérieur. Le demi-moule supérieur 1'
comprend une cavité supérieure la pour définir les dimen-
sions et la position d'une partie d'encapsulation, des
trous de guidage'lb et lc, un pot supérieur ld dans le-
quel est reçue une résine d'encapsulation, et une partie de plaque le dans laquelle est disposée une plaque 3 comme on l'a indiqué par une ligne en traits interrompus
et points alternés.
La référence numérique 2 indique un demi-moule inférieur. Le demi-moule inférieur 2 comprend un pot inférieur 2a, une gorge de coulée 2b, et une partie de fixation de substrat 2c pour supporter un substrat 4
sur lequel se trouve une partie électronique 10.
Le demi-moule inférieur 2 comprend également des broches de guidage 5 et 6 pour positionner le substrat 4
et la plaque 3, et des broches d4élimination ou repous-
soirs 7, 8 et 9, situées sous les surfaces intérieu-
res du pot inférieur 2a et de la partie de fixation de substrat 2c, pour extraire le substrat 4 conjointement
avec une résine d'encapsulation prise du demi-moule in-
* férieur 2 après qu'une partie d'encapsulation ait été
formée sur le substrat 4.
La référence numérique 3 indique une plaque ser-
vant à guider une résine d'encapsulation jusqu'à la ca-
vité supérieure la. Comme le montre la vue en perspec-
tive de la Figure 11, des gorges d'entrée 3a inclinées vers la cavité supérieure la (parties d'encapsulation
13 sur la Figure 11) sont formées dans la surface supé-
rieure de la plaque 3.
Des trous de guidage 3b, 4a et 4b sont formés dans la plaque et le substrat 4, respectivement, de sorte que
les broches de guidage 5 et 6 sont insérées dans ceux-ci.
On va décrire ci-dessous les étapes d'encapsula-
tion à la résine de cet exemple de réalisation en se ré-
férant aux Figures lOA à lOE.
La Figure lOA représente une disposition verticale des parties respectives. Le substrat 4 est placé sur la partie de fixation de substrat 2c, les broches de guidage et 6 du demi-moule inférieur 2 étant respectivement insérées dans les trous de guidage 4a et 4c, de sorte
que la partie électronique fait face vers le haut.
La plaque 3 est placée sur la surface supérieure du substrat 4, la broche de guidage 5 étant insérée dans
le trou de guidage 3b de telle sorte que la gorge d'en-
trée 3a fait face vers le haut.
Le demi-moule supérieur 1 recouvre la surface supérieure du demi-moule inférieur 2, de sorte que les trous de guidage lb et la correspondent aux broches de guidage 5 et 6 insérées dans La plaque 3 et le substrat 4. De cette manière, comme le montre la Figure lOB, la
plaque 3 est fixée dans la partie de plaque le du demi-
moule supérieur 1, et le substrat 4 est fixé dans la
partie de fixation de substrat 2c du demi-moule infé-
rieur 2. Au même moment, une entrée latérale 3c est
définie entre la gorge d'entrée 3a et le demi-moule su-
périeur l,et un troud'injection ou de coulée 2 est
défini entre la gorge de coulée 2b du demi-moule infé-
rieur 2 et le demi-moule supérieur 1.
L'entrée latérale 3c est reliée à la surface laté-
rale de la cavité supérieure la.
Comme le montre la Figure lOB., le pot supérieur ld fournit une résine d'encapsulation 11 qui est une résine thermodurcissable mélangée avec des fibres de verre, et
cette résine est chauffée et fondue dans le pot infé-
rieur' 2a.
Quand un piston 12 servant à injecter la résine
d'encapsulation 11 est déplacé vers le bas du pot supé-
rieur ld au pot inférieur 2a, la cavité supérieure la est remplie de la résine d'encapsulation 11 par le trou de coulée 2d et l'entrée latérale 3c, ce qui permet de
n'encapsuler que la partie électronique 10.
Comme le montre la Figure 11, bien que la gorge
d'entrée 3a de la plaque 3 ait tendance à s'user à par-
tir de sa partie d'extrémité distale inclinée, on peut ne remplacer que la plaque 3 quand la gorge d'entrée 3a
est usée.
Quand la résine d'encapsulation 11 qui remplit la cavité supérieure la est prise et quand est formée
la partie d'encapsulation 13 du substrat 4, le demi-
moule supérieur 1 est retiré vers le haut.
Comme le montre la Figure lOC, en faisant dépas-
ser vers le haut les broches- repoussoirs 7, 8 et 9, le
substrat 4 sur lequel est formée la partie d'encapsula-
tion 13 est retiré conjpintement avec la résine d'encap-
sulation ll se trouvantidans l'entrée 3c, le trou de
coulée 2d et le pot inférieur 2a, qui est prise en con-
tinu avec la partie d'encapsulation 13, des broches de
guidage 5 et 6 du demi-moule inférieur 2.
Comme le montre la Figure 10D, en incurvant l'en-
trée latérale 3c vers le haut ou vers la droite ou la
gauche, on peut facilement retirer la résine d'encapsu-
lation 11 inutile de la partie d'encapsulation 13. Le
substrat 4 est ensuite découpé selon une forme prédéter-
minée pour terminer un module de CI individuel 17 comme
l'indique la Figure 13.
De plus, puisque l'entrée latérale 3c décrite plus haut est reliée à la surface latérale de la partie d'encapsulation 13, la partie restante d'entrée 13a
dépasse de la surface latérale de la partie d'encapsula-
tion 13.
Sur la Figure 11, la plaque 3 est mise en place
sur le substrat 4 sur lequel est formée la partie d'en-
capsulation 13 de la manière décrite plus haut.
Comme le montre la Figure 14, avec ce module de CI 17, la partie d'encapsulation 13 peut être logée dans la partie creuse 42a de la base de carte 42. Enfin, les deux surfaces de la base de carte 42 sont recouvertes de feuilles de couverture 35 pour compléter la carte de CI
44. Dans ce cas, comme on l'a décrit plus haut en réfé-
rence à la technique classique, la position horizontale
du module de CI 17 est définie car la surface circon-
férentielle du substrat 4 est en contact avec la
surface intérieure d'une partie creuse de substrat 420a.
Par conséquent, la partie restante d'entrée 13a dépas-
sant de la surface latérale de la partie d'encapsulation
13 peut être facilement logée en réglant le diamètre in- térieur d'une partie creuse d'encapsulation 420b servant à loger la partie
d'encapsulation 13 pour qu'il soit
supérieur au diamètre extérieur de la partie d'encapsu-
lation 13.
Comme le montre la Figure 10E, on peut réutiliser la plaque 3 car la résine d'encapsulation prise 11 est
facilement retirée de la gorge d'entrée 3a.
Afin de retirer facilement la résine d'encapsula-
tion 11 de la gorge d'entrée 3a, on préfère parfaire la surface de la gorge d'entrée 3a pour qu'elle soit aussi fine que possible. De plus, on peut auparavant recouvrir
la gorge d'entrée 3a d'un agent d'élimination de moule.
Dans l'exemple de réalisation ci-dessus, la forme de la partie d'encapsulation 13 est carrée. Cependant,
la forme de la partie d'encapsulation 13 peut être chan-
gée arbitrairement pour qu'elle soit, par exemple, un
cercle comme l'indique la Figure 12.
La Figure 15 représente une modification du moule utilisé dans le procédé d'encapsulation à la résine selon la présente invention. Sur la Figure 15, les mêmes références numériques que sur les Figures 10A et 10B
indiquent les mêmes parties.
Dans ce moule, une entrée latérale 3c constituée par une plaque 3 est reliée à une partie centrale de surface latérale d'une cavité supérieure la formée dans un demi-moule supérieur 1 et elle peut donc être retirée
à une position séparée plus éloignée de l'extrémité supé-
rieure d'une partie d'encapsulation 31.
On va décrire ci-dessous un deuxième exemple de réalisation de la présente invention en se référant aux
Figures 16A à 16D et 17.
On va d'abord décrire ci-dessous les parties utilisées dans un procédé d'encapsulation à la résine selon le deuxième exemple de réalisation en se référant à la Figure 16A. La plupart des parties sont identiques à celles représentées sur les Figures lOA à 10D et sont donc représentées par les mêmes références numériques.
Sur la Figure 16A, la référence numérique 1 indi-
que un demi-moule supérieur. Le demi-moule supérieur 1 comprend une partie creuse de moitié supérieure la dans laquelle est placée une plaque 103, un trou de guidage lb, et un pot supérieur ld dans lequel est fourni une résine d'encapsulation. La référence numérique 2 indique
un demi-moule inférieur. Le demi-moule inférieur 2 com-
prend un pot inférieur 2a, une gorge de coulée 2b,et une partie de fixation de substrat 2c sur laquelle est placé
un substrat 4 auquel est soudée une partie électronique.
Le demi-moule inférieur 2 comprend en outre une broche
de guidage 5 servant à positionner le demi-moule supé-
rieur 1, la plaque 103 et le substrat 4, et des broches-
repoussoirs 7, 8 et 9,placées sous les surfaces infé-
rieures du pot inférieur 2a et de la partie de fixation de substrat 2c, pour retirer le substrat 4 conjointement
avec une résine d'encapsulation prise du demi-moule infé-
rieur 2 après qu'une partie d'encapsulation ait été for-
mée dans le substrat 4. La référence numérique 103 indi-
que une plaque dans laquelle est formée une cavité 103a servant à définir la position et la forme de la partie d'encapsulation. Comme le montre la Figure 17, une gorge d'entrée 103b inclinée vers la cavité 103a est formée dans la surface supérieure de la plaque 103. Des trous de guidage 103c et 4a dans lesquels est insérée la broche
de guidage 5 sont formés dans la plaque 103 et le sub-
strat 4.
On va décrire ci-dessous les étapes d'encapsula-
tion du procédé d'encapsulation à la résine selon le deuxième exemple de réalisation en se référant aux
Figures 16A à 17.
Une disposition verticale des parties respectives utilisées dans le procédé d'encapsulation à la résine selon le deuxième exemple de réalisation est telle que
représentée sur la Figure 16A. C'est-à-dire que le sub-
strat 4 est placé sur la partie de fixation de substrat 2c, la broche de guidage 5 du demi-moule inférieur 2 étant insérée dans le trou de guidage 4a, de sorte que la partie électronique 10 fait face vers le haut. La
plaque 103 est placée sur la surface supérieure du sub-
strat 4, la broche de guidage 5 étant insérée dans le trou de guidage 103c, de sorte que la gorge d'entrée 103b fait face vers le haut. Le demimoule supérieur 1 recouvre le demi-moule inférieur 2, la plaque 103 et le substrat 4 étant mis en sandwich entre ceux-ci, de sorte que la broche de guidage 5 insérée dans le substrat
4 et la plaque 103 est insérée dans le trou de guidagelb.
De cette manière, comme le montre la Figure 16B, la pla-
que 103 est fixée dans la partie de fixation de substrat 2c. En même temps, une entrée latérale 103d reliée à la surface latérale de la cavité 103a est définie entre la gorge d'entrée 103b de la plaque 103 et le demimoule supérieur 1, et un trou de coulée 2d est défini entre la gorge de coulée 2b du demi-moule inférieur 2 et le
demi-moule supérieur 1.
Comme le montre la Figure 16B, une résine d'encap-
sulation 11 qui est une résine thermodurcissable mélangée avec des fibres de verre est ensuite fournie par le pot supérieur ld, et chauffée et fondue dans le pot inférieur
2a. Un piston 12 servant à injecter la résine d'encapsu-
lation 11 est déplacé vers le bas du pot supérieur ld au pot inférieur 2a, et la cavité 103a est remplie de la résine d'encapsulation ll par le trou de coulée 2d et l'entrée latérale 103d, ce qui permet de n'encapsuler
que la partie électronique 10.
Comme on l'a décrit plus haut, la gorge d'entrée 103b est facilement usée quand la résine d'encapsulation
11 passe dans celle-ci. Cependant, quand la gorge d'en-
trée 103b est usée, on peut ne remplacer que la plaque 103. Après que la cavité 103a ait été remplie de la résine d'encapsulation ll et cette dernière prise et que la partie d'encapsulation 13 ait été formée sur le substrat 4, le demi-moule supérieur 1 est retiré vers le haut. Comme le montre la Figure 16C, en sortant les
broches- repoussoirs 7, 8 et 9 vers le haut, le sub-
strat 4 conjointement avec la résine d'encapsulation 11, se trouvant dans l'entrée latérale 103d, le trou de coulée 2d et le pot inférieur 2a, prise en continu avec la partie d'encapsulation 13, est retiré de la partie de
fixation de substrat 2c.
Comme le montre la Figure 16D, en incurvant l'en-
trée latérale 103d vers le haut ou vers la droite ou la gauche, la résine d'encapsulation ll inutile peut être facilement retirée de la partie d'encapsulation 13. En
même temps, on peut retirer le substrat 4 sur lequel.
sont formées la plaque 103 et la partie d'encapsulation 13. Le substrat 4 est ensuite découpé selon une forme prédéterminée pour terminer un module de CI 17 comme l'indique la Figure 13. Comme on l'a décrit plus haut, l'entrée latérale 103d est reliée à la surface latérale de la cavité 103a. Par conséquent, une partie restante d'entrée 13a dépasse de la surface latérale de la partie d'encapsulation 13 comme l'indiquent les Figures 16D et 13. Comme le montre la Figure 14, le module de CI 17
terminé est logé de telle sorte que la partie d'encapsu-
lation 13 fait face à la surface inférieure de la partie
creuse 42a de la base de carte 42. Enfin, les deus sur-
faces de la base de carte 42 sont recouvertes de feuilles de couverture 35 pour terminer une carte de CI 44. Comme on l'a décrit en référence à la technique classique, la position horizontale du module de CI 17 est définie car la surface circonférentielle du substrat 4 esten contact
avec la surface intérieure d'une partie creuse de sub-
strat 420a. Par conséquent, la partie restante d'entrée
13a dépassant de la surface latérale de la partie d'en-
capsulation 13 peut être logée en réglant le diamètre intérieur d'une partie creuse d'encapsulation 420b ser- vant à loger la partie d'encapsulation 13 pour qu'il soit plus grand que le diamètre extérieur de la partie
d'encapsulation 13.
On va décrire ci-dessous un troisième exemple de réalisation de la présente invention en se référant aux
Figures 18A à 18C et 19.
On va d'abord décrire ci-dessous les parties uti-
lisées dans le troisième exemple de réalisation en se référant aux Figures 18A et 19. On notera que les mêmes références numériques que dans le premier exemple de
réalisation indiquent des parties ayant les mêmes fonc-
tions, et on omettra leur description détaillée.
Une caractéristique importante de cet exemple de
réalisation est qu'une plaque 50 est montée de façon pi-
votante sur un demi-moule inférieur 2. C'est-à-dire qu'un arbre de rotation 51 est inclus dans la plaque 50 et supporté pour pouvoir tourner par une partie porteuse 2e formée dans le demi-moule inférieur 2. Le demimoule
inférieur 2 comprend une broche de poussée 52 qui se dé-
place verticalement comme un moyen d'entraInement pour faire pivoter la plaque 50. L'extrémité distale de la broche de poussée 52 est inclinée. Quand la broche de poussée 52 se déplace vers le haut, la surface inclinée
vient en contact avec une partie extrême 50b de la pla-
que 50 pour faire pivoter la plaque vers le haut. Quand
la broche de poussée 52 se déplace vers le bas, la sur-
face inclinée fait pivoter la plaque 50 vers le bas.
On va décrire ci-dessous les étapes d'encapsula-
tion à la résine du troisième exemple de réalisation en
se référant aux Figures 18A à 18C.
Tandis que la broche de poussée 52 fait pivoter vers le haut la plaque 50, le substrat 4 est placé sur une partie de fixation de substrat 2c du demi-moule
inférieur 2. La broche de poussée 52 est ensuite dépla-
cée vers le bas comme l'indique la Figure 18A, de sorte que la plaque 50 est placée sur la surface supérieure du substrat 4 et bloquée du dessus par le demi-moule supérieur 1. De cette manière, une partie électronique est entourée par une cavité supérieure la. En même
temps, une entrée latérale 3c est définie entre le demi-
moule supérieur 1 et la plaque 50, et un trou de coulée
2d est défini entre les demi-moules supérieur et infé-
rieur 1 et 2.
On remplit la cavité supérieure la de la résine
d'encapsulation ll injectée par un piston (non représen-
té) par le trou de coulée 2d et l'entrée latérale 3c, ce
qui permet de n'encapsuler que la partie électronique 10.
Après que la résine d'encapsulation ll remplissant la cavité supérieure la soit prise et qu'une partie d'encapsulation 13 ait été formée dans le substrat 4, le demi-moule supérieur 1 est retiré vers le haut. Comme le montre la Figure 18B, une broche- repoussoir 7 est
d'abord sortie vers le haut pour retirer la résine d'en-
capsulation 11 inutile prise dans le trou de coulée 3d et l'entrée latérale 3c. A ce moment-là, puisqu'une
gorge d'entrée 50a est inclinée vers la partie d'encap-
sulation 13 comme l'indique la Figure 19, il n'y a qu'une très petite partie restante d'entrée 13a qui est formée
sur la surface latérale de la partie d'encapsulation 13.
La broche de poussée 52 est ensuite entraînée vers le haut pour faire pivoter la plaque 50 vers le haut, de sorte que la plaque 50 est retirée de la surface supérieure du substrat 4. Les broches -repoussoirs 8 et 9 sont ensuite sorties vers le haut pour retirer un module de CI terminé de la partie
de fixation de substrat 2c.
Enfin, les broches -repoussoirs 7, 8 et 9 sont déplacées vers le bas pour placer le nouveau substrat 4 sur lequel il n'y a pas la partie d'encapsulation 13 sur la partie de fixation de substrat 2c. Par conséquent, dans cet exemple de réalisation,
il n'est pas nécessaire de retirer la plaque 50 du demi-
moule inférieur chaque fois que l'opération d'encapsula-
tion est exécutée. De plus, on peut retirer doucement
la plaque 50 du substrat 4 sur lequel est formée la par-
tie d'encapsulation 13, et on peut retirer doucement la résine d'encapsulation 11 inutile de la plaque d'entrée
50. Par conséquent, ce procédé d'encapsulation à la ré-
sine peut être exécuté automatiquement.
Dans les exemples de réalisation ci-dessus, la
cavité est formée dans le demi-moule supérieur. Cepen-
dant, la cavité peut être formée dans le demi-moule infé-
rieur pour obtenir les mêmes effets.
Comme on l'a décrit plus haut, selon la présente invention, la plaque dans laquelle est formée la gorge d'entrée est interposée entre le demi- moule supérieur et le demi-moule inférieur pour former l'entrée latérale à une position séparée de la surface du substrat, et la
résine d'encapsulation constituée par une résine thermo-
durcissable est injectée dans la cavité par l'entrée latérale. Par conséquent, dans le module terminé, on
peut former la partie restante d'entrée non sur le sub-
strat ni sur la surface supérieure de la partie d'encap-
sulation mais sur la surface latérale de la partie d'en-
capsulation.Il en résulte que le module peut être mis en
place de façon appropriée dans une carte de CI ou l'équi-
valent nécessitant une encapsulation mince.
De plus, puisqu'on adopte une structure à entrée latérale dans la présente invention, la partie d'entrée n'est pas garnie de résine. De plus, quand la gorge d'entrée est usée, il suffit de remplacer la plaque qui peut être fabriquée facilement à faible coût au lieu d'un moule coûteux, et il en résulte une conservation
avantageuse du moule.
En outre, dans la présente invention, la plaque
est montée de façon pivotante sur le demi-moule supé-
rieur ou le demi-moule inférieur, et le moyen d'entrai-
nement est agencé pour retirer la plaque du substrat alors que les demimoules supérieur et inférieur sont séparés l'un de l'autre. Par conséquent, il n'est pas nécessaire de retirer la plaque du moule chaque fois
que l'opération d'encapsulation est exécutée, et l'en-
lèvement de la résine d'encapsulation inutile et la
manipulation du module de CI terminé peuvent être exécu-
tés facilement. Il en résulte qu'on a fourni un procédé
d'encapsulation à la résine plus approprié pour une opé-
ration automatique. C'est-à-dire que la présente inven-
tion a un effet important dans un procédé d'encapsula-
tion de module mettant en oeuvre une résine thermodur-
cissable.

Claims (7)

REVENDICATIONS
1. Procédé d'encapsulation à la résine dans lequel un substrat (4) à soumettre à une encapsulation à la résine est mis en sandwich entre des demi-moules supérieur et inférieur (1,2), et une cavité (la;103a) définie entre les demi-moules supérieur et inférieur est remplie d'une résine (11) par une entrée, comprenant les étapes consistant à: monter une plaque (3; 103;50) comportant une gorge d'entrée (3a;103b) sur le substrat pour former une entrée latérale (3c; 103d) reliée à la surface latérale de la cavité, entre la plaque et un des demi-moules supérieur et inférieur; et à
remplir la cavité de résine.
2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel la cavité est polygonate, et la plaque forme au moins un
côté de la cavité.
3. Procédé selon la revendication 1, dans lequel la plaque forme toute la surface circonférentielle de la cavité.
4. Procédé selon la revendication 1, dans lequel
la gorge d'entrée est inclinée.
5. Procédé selon la revendication 1, dans lequel
l'entrée latérale (103d) est reliée à une surface laté-
rale de la cavité (103d) à une position à l'écart d'un
des demi-moules supérieur et inférieur (1,2).
6. Procédé selon la revendication 1, dans lequel la plaque (103) est montée de façon pivotante sur un (2) des demi-moules supérieur et inférieur (1,2) et retirée
de façon pivotante du substrat (4) par un moyen d'entrai-
nement (52) alors que les demi-moules supérieur et infé-
rieur sont séparés l'un de l'autre.
7. Carte de circuit.intégré CI obtenue en logeant un substrat (4) avec une puce de CI (10) encapsulée à la résine par un procédé selon la revendication 1 dans une
partie creuse (42a) d'une plaquette de carte (42).
FR8901746A 1988-03-04 1989-02-10 Procede d'encapsulation d'un circuit electronique par une resine Expired - Lifetime FR2628263B1 (fr)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5073888 1988-03-04
JP5940988A JPH01234217A (ja) 1988-03-15 1988-03-15 樹脂封止方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FR2628263A1 true FR2628263A1 (fr) 1989-09-08
FR2628263B1 FR2628263B1 (fr) 1994-01-14

Family

ID=26391193

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR8901746A Expired - Lifetime FR2628263B1 (fr) 1988-03-04 1989-02-10 Procede d'encapsulation d'un circuit electronique par une resine

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4954308A (fr)
FR (1) FR2628263B1 (fr)
GB (1) GB2217646B (fr)
HK (1) HK27993A (fr)
SG (1) SG893G (fr)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0401586A2 (fr) * 1989-06-07 1990-12-12 Motorola, Inc. Méthode de fabrication d'un dispositif à semi-conducteur comprenant un boîtier
FR2657726A1 (fr) * 1990-02-01 1991-08-02 Mitsubishi Electric Corp Dispositif de moulage pour encapsuler un element semiconducteur et procede de positionnement d'un cadre de montage sur un moule.
DE4401588A1 (de) * 1994-01-20 1995-07-27 Ods Gmbh & Co Kg Verfahren zum Verkappen eines Chipkartenmoduls, Chipkartenmodul, und Vorrichtung zum Verkappen
WO1995023057A1 (fr) * 1994-02-28 1995-08-31 Gennum Corporation Procede et appareil permettant de mouler des pieces electriques ou autres sur une bande
EP0688650A1 (fr) * 1994-01-13 1995-12-27 Citizen Watch Co. Ltd. Procede de soudage par resine de dispositifs semi-conducteurs
DE4427309A1 (de) * 1994-08-02 1996-02-15 Ibm Herstellung eines Trägerelementmoduls zum Einbau in Chipkarten oder andere Datenträgerkarten
NL9401682A (nl) * 1994-10-12 1996-05-01 Fico Bv Werkwijze voor het omhullen van een chip en scheidingsstrip en matrijshelft te gebruiken met deze werkwijze.
EP0728567A1 (fr) * 1995-02-22 1996-08-28 Apic Yamada Corporation Procédé et machine de moulage de résine
FR2734947A1 (fr) * 1995-05-31 1996-12-06 Sgs Thomson Microelectronics Boitier d'encapsulation a reseau de boules de soudure et procede d'encapsulation.
FR2734948A1 (fr) * 1995-05-31 1996-12-06 Sgs Thomson Microelectronics Boitier d'encapsulation a reseau de boules de soudure et procede d'encapsulation.
US6130383A (en) * 1995-05-31 2000-10-10 Sgs-Thomson Microelectronics, S.A. Solder ball array package and a method of encapsulation

Families Citing this family (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5067008A (en) * 1989-08-11 1991-11-19 Hitachi Maxell, Ltd. Ic package and ic card incorporating the same thereinto
US5061114A (en) * 1990-02-05 1991-10-29 Pac-Tec, Inc. Reflective pavement marker and method of apparatus for making same
DE59205116D1 (de) * 1991-05-10 1996-02-29 Gao Ges Automation Org Verfahren und vorrichtung zum herstellen von kunststoff-formstücken mit bereichsweise reduzierter wandstärke
US5275546A (en) * 1991-12-30 1994-01-04 Fierkens Richard H J Plastic encapsulation apparatus for an integrated circuit lead frame and method therefor
US5254501A (en) * 1992-09-11 1993-10-19 Cypress Semiconductor Corporation Same-side gated process for encapsulating semiconductor devices
JP3627222B2 (ja) * 1992-09-30 2005-03-09 日本ゼオン株式会社 電子部品封止体製造用型枠、およびそれを用いた電子部品封止体の製造方法
JPH06302633A (ja) * 1993-04-13 1994-10-28 Fujitsu Ltd 半導体装置の製造方法
US5670429A (en) * 1993-06-30 1997-09-23 Rohm Co. Ltd. Process of conveying an encapsulated electronic component by engaging an integral resin projection
JPH07183317A (ja) * 1993-12-22 1995-07-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品の製造装置及び製造方法
US5635671A (en) * 1994-03-16 1997-06-03 Amkor Electronics, Inc. Mold runner removal from a substrate-based packaged electronic device
US5519201A (en) * 1994-04-29 1996-05-21 Us3, Inc. Electrical interconnection for structure including electronic and/or electromagnetic devices
JPH0885285A (ja) 1994-07-21 1996-04-02 Hitachi Maxell Ltd セキュリティカード用基板の製造方法、およびセキュリティカード用基板
KR0151828B1 (ko) * 1995-07-25 1998-12-01 김광호 패키지 성형장치
US5796589A (en) * 1995-12-20 1998-08-18 Intel Corporation Ball grid array integrated circuit package that has vias located within the solder pads of a package
US5656549A (en) * 1996-08-19 1997-08-12 Motorola, Inc. Method of packaging a semiconductor device
US5833903A (en) * 1996-12-10 1998-11-10 Great American Gumball Corporation Injection molding encapsulation for an electronic device directly onto a substrate
US6001672A (en) * 1997-02-25 1999-12-14 Micron Technology, Inc. Method for transfer molding encapsulation of a semiconductor die with attached heat sink
US6015280A (en) * 1997-04-28 2000-01-18 Advanced Micro Devices Apparatus for reducing warping of plastic packages
US5766535A (en) * 1997-06-04 1998-06-16 Integrated Packaging Assembly Corporation Pressure-plate-operative system for one-side injection molding of substrate-mounted integrated circuits
US5986209A (en) * 1997-07-09 1999-11-16 Micron Technology, Inc. Package stack via bottom leaded plastic (BLP) packaging
TW381329B (en) * 1998-04-03 2000-02-01 Silicom Ware Prec Ind Co Ltd Packaging method for chips
US6372553B1 (en) 1998-05-18 2002-04-16 St Assembly Test Services, Pte Ltd Disposable mold runner gate for substrate based electronic packages
US6306331B1 (en) 1999-03-24 2001-10-23 International Business Machines Corporation Ultra mold for encapsulating very thin packages
JP3578262B2 (ja) * 1999-04-06 2004-10-20 日東電工株式会社 半導体チップの樹脂封止方法及びその方法に使用する離型フィルム
NL1012488C2 (nl) 1999-07-01 2001-01-03 Fico Bv Inrichting en werkwijze voor het omhullen van op een drager bevestigde elektronische componenten.
US6365434B1 (en) 2000-06-28 2002-04-02 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for reduced flash encapsulation of microelectronic devices
EP1174822A1 (fr) * 2000-07-21 2002-01-23 Sempac SA Méthode de fabrication d'un objet en matière plastique
US20020043389A1 (en) * 2000-09-29 2002-04-18 Selvarajan Murugan Virtual gate design for thin packages
US7220615B2 (en) * 2001-06-11 2007-05-22 Micron Technology, Inc. Alternative method used to package multimedia card by transfer molding
JP4614584B2 (ja) * 2001-06-28 2011-01-19 三洋電機株式会社 混成集積回路装置およびその製造方法
US7114939B2 (en) * 2002-04-11 2006-10-03 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Encapsulating brittle substrates using transfer molding
KR100563584B1 (ko) * 2002-07-29 2006-03-22 야마하 가부시키가이샤 자기 센서의 제조 방법과 그 리드 프레임, 자기 센서, 및센서 장치
JP4508839B2 (ja) * 2004-11-12 2010-07-21 パナソニック株式会社 樹脂封止金型および樹脂封止装置
JP5166870B2 (ja) * 2005-05-30 2013-03-21 スパンション エルエルシー 半導体装置の製造装置及び半導体装置の製造方法
JP2007046925A (ja) * 2005-08-08 2007-02-22 Seiko Instruments Inc 時計輪列支持板の成形方法、時計輪列支持板成形用金型構造体、これにより成形される時計輪列支持板、該支持板を備えた時計
WO2008024761A2 (fr) * 2006-08-21 2008-02-28 Innotec Corporation Dispositif électrique comportant un système de montage de composants électriques sans carte
US7712933B2 (en) 2007-03-19 2010-05-11 Interlum, Llc Light for vehicles
US8408773B2 (en) 2007-03-19 2013-04-02 Innotec Corporation Light for vehicles
US8230575B2 (en) * 2007-12-12 2012-07-31 Innotec Corporation Overmolded circuit board and method
US7815339B2 (en) * 2008-01-09 2010-10-19 Innotec Corporation Light module
TW201219186A (en) * 2010-11-05 2012-05-16 Quanta Comp Inc Coupling element, injection molding object implanted with the coupling element, and injection mold for manufacturing the injection molding object
WO2013188678A1 (fr) 2012-06-13 2013-12-19 Innotec, Corp. Conducteur de lumière flexible
JP6321482B2 (ja) * 2013-09-26 2018-05-09 エイブリック株式会社 半導体製造装置
JP2015108573A (ja) * 2013-12-05 2015-06-11 中西金属工業株式会社 リング形状インサート成形品
EP3197248B1 (fr) * 2014-08-05 2020-07-15 Koto Engraving Co. Ltd. Moule pour fabriquer un composant de circuit de câblage
NL2013978B1 (en) * 2014-12-15 2016-10-11 Besi Netherlands Bv Device and method for controlled moulding and degating of a carrier with electronic components and moulded product.
CN108698289A (zh) * 2015-10-14 2018-10-23 第资本服务有限责任公司 交易卡结构中的模制的袋形区

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1934394A1 (de) * 1969-07-07 1971-01-14 Guardin Electric Mfg Co Form zur Halterung mehrerer Elemente
DE2432009A1 (de) * 1973-07-07 1975-01-23 Piastowskie Zaklady Przemyslu Spritzgussform zum vulkanisieren von gummiformpresstuecken
JPS57128930A (en) * 1981-02-04 1982-08-10 Yamagata Nippon Denki Kk Resin sealing
JPS59124734A (ja) * 1983-01-04 1984-07-18 Nec Kyushu Ltd ゲ−トインサ−ト式封入金型
EP0244322A1 (fr) * 1986-04-30 1987-11-04 Sgs-Thomson Microelectronics S.A. Procédé d'encapsulation de circuits intégrés

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL300353A (fr) * 1962-11-13
US4332537A (en) * 1978-07-17 1982-06-01 Dusan Slepcevic Encapsulation mold with removable cavity plates
US4368168A (en) * 1978-07-17 1983-01-11 Dusan Slepcevic Method for encapsulating electrical components
US4442056A (en) * 1980-12-06 1984-04-10 Dusan Slepcevic Encapsulation mold with gate plate and method of using same
US4480975A (en) * 1981-07-01 1984-11-06 Kras Corporation Apparatus for encapsulating electronic components
JPS5932139A (ja) * 1982-08-18 1984-02-21 Toshiba Corp 半導体樹脂封止用金型
DE3248385A1 (de) * 1982-12-28 1984-06-28 GAO Gesellschaft für Automation und Organisation mbH, 8000 München Ausweiskarte mit integriertem schaltkreis
JPS614234A (ja) * 1984-06-19 1986-01-10 Michio Osada 半導体素子の樹脂モ−ルド成形方法及び半導体リ−ドフレ−ム
JPS6146049A (ja) * 1984-08-10 1986-03-06 Hitachi Ltd 半導体装置
JPS61144033A (ja) * 1984-12-18 1986-07-01 Toshiba Corp 半導体装置の樹脂封止成形方法
JPS6213312A (ja) * 1985-07-12 1987-01-22 Toyota Motor Corp 射出成形金型
US4741507A (en) * 1986-06-02 1988-05-03 Motorola Inc. Self-cleaning mold

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1934394A1 (de) * 1969-07-07 1971-01-14 Guardin Electric Mfg Co Form zur Halterung mehrerer Elemente
DE2432009A1 (de) * 1973-07-07 1975-01-23 Piastowskie Zaklady Przemyslu Spritzgussform zum vulkanisieren von gummiformpresstuecken
JPS57128930A (en) * 1981-02-04 1982-08-10 Yamagata Nippon Denki Kk Resin sealing
JPS59124734A (ja) * 1983-01-04 1984-07-18 Nec Kyushu Ltd ゲ−トインサ−ト式封入金型
EP0244322A1 (fr) * 1986-04-30 1987-11-04 Sgs-Thomson Microelectronics S.A. Procédé d'encapsulation de circuits intégrés

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 6, no. 226 (E-141)(1104) 11 novembre 1982, & JP-A-57 128930 (YAMAGATA NIPPON DENKI) 10 août 1982, *
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 8, no. 247 (E-278)(1684) 13 novembre 1984, & JP-A-59 124734 (KIYUUSHIYUU NIPPON DENKI) 18 juillet 1984, *

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0401586A3 (fr) * 1989-06-07 1991-07-10 Motorola, Inc. Méthode de fabrication d'un dispositif à semi-conducteur comprenant un boítier
EP0401586A2 (fr) * 1989-06-07 1990-12-12 Motorola, Inc. Méthode de fabrication d'un dispositif à semi-conducteur comprenant un boîtier
FR2657726A1 (fr) * 1990-02-01 1991-08-02 Mitsubishi Electric Corp Dispositif de moulage pour encapsuler un element semiconducteur et procede de positionnement d'un cadre de montage sur un moule.
DE4102934A1 (de) * 1990-02-01 1991-08-08 Mitsubishi Electric Corp Giessvorrichtung zum eingiessen von halbleiterelementen in harz und verfahren zum aufsetzen von leiterrahmen auf eine giessform
US5288698A (en) * 1990-02-01 1994-02-22 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method of positioning lead frame on molding die to seal semiconductor element with resin
EP0688650A4 (fr) * 1994-01-13 1997-06-11 Citizen Watch Co Ltd Procede de soudage par resine de dispositifs semi-conducteurs
EP0688650A1 (fr) * 1994-01-13 1995-12-27 Citizen Watch Co. Ltd. Procede de soudage par resine de dispositifs semi-conducteurs
DE4401588A1 (de) * 1994-01-20 1995-07-27 Ods Gmbh & Co Kg Verfahren zum Verkappen eines Chipkartenmoduls, Chipkartenmodul, und Vorrichtung zum Verkappen
DE4401588C2 (de) * 1994-01-20 2003-02-20 Gemplus Gmbh Verfahren zum Verkappen eines Chipkarten-Moduls und Chipkarten-Modul
WO1995023057A1 (fr) * 1994-02-28 1995-08-31 Gennum Corporation Procede et appareil permettant de mouler des pieces electriques ou autres sur une bande
DE4427309A1 (de) * 1994-08-02 1996-02-15 Ibm Herstellung eines Trägerelementmoduls zum Einbau in Chipkarten oder andere Datenträgerkarten
DE4427309C2 (de) * 1994-08-02 1999-12-02 Ibm Herstellung eines Trägerelementmoduls zum Einbau in Chipkarten oder andere Datenträgerkarten
NL9401682A (nl) * 1994-10-12 1996-05-01 Fico Bv Werkwijze voor het omhullen van een chip en scheidingsstrip en matrijshelft te gebruiken met deze werkwijze.
EP0728567A1 (fr) * 1995-02-22 1996-08-28 Apic Yamada Corporation Procédé et machine de moulage de résine
FR2734947A1 (fr) * 1995-05-31 1996-12-06 Sgs Thomson Microelectronics Boitier d'encapsulation a reseau de boules de soudure et procede d'encapsulation.
FR2734948A1 (fr) * 1995-05-31 1996-12-06 Sgs Thomson Microelectronics Boitier d'encapsulation a reseau de boules de soudure et procede d'encapsulation.
US6130383A (en) * 1995-05-31 2000-10-10 Sgs-Thomson Microelectronics, S.A. Solder ball array package and a method of encapsulation

Also Published As

Publication number Publication date
US4954308A (en) 1990-09-04
GB8830385D0 (en) 1989-03-01
GB2217646A (en) 1989-11-01
HK27993A (en) 1993-04-02
SG893G (en) 1993-03-12
GB2217646B (en) 1992-01-08
FR2628263B1 (fr) 1994-01-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FR2628263A1 (fr) Procede d'encapsulation d'un circuit electronique par une resine
EP0399868B2 (fr) Procédé de fabrication d'une carte à puce
EP0366545B1 (fr) Procédé pour le formage d'une lentille ophtalmique à partir d'un palet en matière synthétique
EP0244322B1 (fr) Procédé d'encapsulation de circuits intégrés
FR2529507A1 (fr) Procede de fabrication d'un article en forme par injection-moulage et article obtenu
BE1019099A3 (fr) Machine de fabrication de brosses.
EP0917687B1 (fr) Perfectionnement a un procede de realisation de cartes a memoire
FR2900861A1 (fr) Procede de fabrication d'un produit moule en resine utilisant un moule mobile et un moule fixe
FR2584015A1 (fr) Procede et dispositif pour former des elements de surface, en particulier pour fabriquer un paraboloide d'antenne
EP1780662A1 (fr) Module renforcé pour carte à puce et procédé de fabrication dudit module
EP0917686B1 (fr) Procede de realisation de cartes a memoire
EP0782501B1 (fr) Procede de fabrication d'un panneau de matiere revetu d'une zone d'aspect notamment textile
FR2748414A1 (fr) Procede d'habillage d'une piece thermoplastique injectee par une feuille decoupee au cours du procede, moule pour la mise en oeuvre du procede et piece obtenue
EP1500414B1 (fr) Procédé de marquage d'un engin de glisse ou de roulage à structure stratifiée et engin de sport adapté au procédé de marquage
WO2005042225A2 (fr) Procede et dispositif de fabrication d'une lentille a teinte degradee
EP0928675B1 (fr) Joueur de jeu de table du type baby-foot, jeu de table comprenant un tel joueur, procédé et installation de moulage d'un tel joueur
JP2005111507A (ja) 多数個取り射出成形金型
JPH09174612A (ja) Icカード用基材の射出成形方法及びその金型
FR2515095A1 (fr) Procede de reproduction de formes et de finis par enroulement de filaments impregnes de matiere plastique dans un moule comportant une feuille de demoulage formee sous vide
FR2563766A1 (fr) Dispositif pour le rechauffement d'articles en matiere thermoplastique au cours des phases intermediaires dans le processus comportant des injections multiples
EP1259981A1 (fr) Dispositif et procede d'encapsulation de composants electroniques montes sur un support
FR3051139A1 (fr) Procede de fabrication d'une piece composite a partir d'un materiau ligneux et d'un materiau thermoplastique
FR2644044A1 (fr) Chausson interne de chaussure de sport et procede de fabrication d'un tel chausson
WO2017081414A1 (fr) Procédé de fabrication d'un article en verre creux
FR2794569A1 (fr) Procede de fabrication d'un substrat

Legal Events

Date Code Title Description
CD Change of name or company name