FI121750B - ALD-reaktor - Google Patents
ALD-reaktor Download PDFInfo
- Publication number
- FI121750B FI121750B FI20055612A FI20055612A FI121750B FI 121750 B FI121750 B FI 121750B FI 20055612 A FI20055612 A FI 20055612A FI 20055612 A FI20055612 A FI 20055612A FI 121750 B FI121750 B FI 121750B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- reaction chamber
- outlet
- openings
- chamber according
- inlet
- Prior art date
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45523—Pulsed gas flow or change of composition over time
- C23C16/45525—Atomic layer deposition [ALD]
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45523—Pulsed gas flow or change of composition over time
- C23C16/45525—Atomic layer deposition [ALD]
- C23C16/45544—Atomic layer deposition [ALD] characterized by the apparatus
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B25/00—Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B25/00—Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
- C30B25/02—Epitaxial-layer growth
- C30B25/14—Feed and outlet means for the gases; Modifying the flow of the reactive gases
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Devices And Processes Conducted In The Presence Of Fluids And Solid Particles (AREA)
Claims (16)
1. Reaktionskammare i en ALD-reaktor, som omfattar en botten-vägg, en övre vägg och en eller flera sidoväggar som sträcker sig mellan bot-tenväggen och den övre väggen, vilka väggar definierar reaktionskammarens 5 inre del (28), varvid reaktorn dessutom omfattar en eller flera mataröppningar (30) för inmatning av gas i reaktionskammaren och en eller flera utloppsöpp-ningar (40, 50) för avlägsning av den tili reaktorn inmatade gasen ur reaktionskammaren, kännetecknad avatt mataröppningarna (30) och utlopps-öppningarna (40) är anordnade pa en av sidoväggarna definierad periferi, sä 10 att periferins hela längd är indelad i en inloppsdel och en utloppsdel för inmatning av gas i reaktionskammaren via den av sidoväggarna definierade periferins inloppsdel och för avlägsning via den av sidoväggarna definierade periferins utloppsdel.
2. Reaktionskammare enligt patentkrav 1, kännetecknad av 15 att reaktionskammarens inre del (28) är cylindrisk eller oval till formen, varvid den omfattar en periferisk sidovägg.
3. Reaktionskammare enligt patentkrav 1, kännetecknad av att reaktionskammarens inre del (28) är kubisk tili formen.
4. Reaktionskammare enligt nagot av de föregaende patentkraven, 20 kännetecknad av att reaktionskammarens inre del (28) har formen av ett rektangulärt prisma.
5. Reaktionskammare enligt nägot av de föregaende patentkraven 1-4, kännetecknad av att i reaktionskammaren har ästadkommits ett eller flera inloppsaggregat (14, 12) som star i strömningsförbindelse med ma- 25 taröppningarna (30) och ett eller flera utloppsaggregat (16, 18) som star i o strömningsförbindelse med utloppsöppningarna (40, 50). <M
^ 6. Reaktionskammare enligt patentkrav 5, kännetecknad av ° att utloppsaggregaten (16, 18) och inloppsaggregaten (14, 12) har astadkom- ^ mits i en bottenplatta (4). | 30
7. Reaktionskammare enligt nagot av patentkraven 1-6, känne- cvj tecknad av att reaktionskammaren dessutom omfattar reglerorgan (10, 26) g för regiering av inloppsaggregaten (14, 12) och/eller mataröppningarna (30) o och/eller utloppsaggregaten (16, 18) och/eller utloppsöppningarna (40, 50) för ^ regiering av mängden gas som ska inmatas i reaktionskammarens inre del 35 (28) och/eller avlägsnas därifran.
8. Reaktionskammare enligt patentkrav 7, kännetecknad av att reglerorganen (10, 26) har ästadkommits att reglera mataröppningarnas (30) och/eller utloppsöppningarnas (40, 50) läge och/eller storlek och/eller an-tal.
9. Reaktionskammare enligt patentkrav 8, kännetecknad av att reglerorganen (10, 26) har astadkommits att reglera inloppsaggregatens (14, 12) och/eller utloppsaggregatens (16, 18) antal och/eller läge.
10. Reaktionskammare enligt nägot av de föregäende patentkraven 7-9, kännetecknad av att reglerorganen (10, 26) omfattar en i inlopps- 10 aggregatet (14) astadkommen halplatta (10), via vars hal (12) gas leds in i ma-taröppningarna (30), och vars längd och/eller antal hal (12) kan regleras.
11. Reaktionskammare enligt nägot av de föregäende patentkraven 1-10, kännetecknad av att säväl i bottenplatan (4) som i täckpläten (2) har ästadkommits hällare (22, 20) för ett substrat, varvid tvä substrat kan pro- 15 cesseras i reaktionskammaren samtidigt.
12. Reaktionskammare enligt patentkrav 11, kännetecknad av att den i täckpläten (2) ästadkomna hällaren (20) är anordnad sä att det däri placerade substratet bildar ätminstone en del av reaktionskammarens övre vägg, och den i bottenplattan (4) ästadkomna hällaren (22) är anordnad sä att 20 det däri placerade substratet bildar ätminstone en del av reaktionskammarens bottenvägg.
13. Reaktionskammare enligt nägot av de föregäende patentkraven 1-10, kännetecknad av att matar- och/eller utloppsöppningen (30, 40) omfattar häl (12), via vilka gas kan mätäs tili reaktionskammarens inre del (28).
14. Reaktionskammare enligt nägot av de föregäende patentkraven ^ 1-10, kännetecknad av att matar- och/eller utloppsöppningen (30, 40) o har ästadkommits som en spalt.
15. Reaktionskammare enligt patentkrav 14, kännetecknad o ^ av att spalten sträcker sig över hela reaktionskammarens sidoväggars dimen- 30 sion. X
£ 16. Reaktionskammare enligt nägot av de föregäende patentkraven w 1-15, kännetecknat av att mataröppningarna och utloppsöppningarna ίο bildar reaktionskammarens sidoväggar. LO o o cv
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI20055612A FI121750B (sv) | 2005-11-17 | 2005-11-17 | ALD-reaktor |
US12/085,027 US20090255470A1 (en) | 2005-11-17 | 2006-11-16 | Ald reactor |
PCT/FI2006/050500 WO2007057519A1 (en) | 2005-11-17 | 2006-11-16 | Ald reactor |
EP06808041A EP1948843A4 (en) | 2005-11-17 | 2006-11-16 | REACTOR ALD |
EA200801014A EA012961B1 (ru) | 2005-11-17 | 2006-11-16 | Реактор для послойного атомного осаждения |
JP2008540643A JP2009516077A (ja) | 2005-11-17 | 2006-11-16 | Ald反応容器 |
CN2006800429237A CN101310043B (zh) | 2005-11-17 | 2006-11-16 | 原子层沉积反应器 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI20055612 | 2005-11-17 | ||
FI20055612A FI121750B (sv) | 2005-11-17 | 2005-11-17 | ALD-reaktor |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FI20055612A0 FI20055612A0 (sv) | 2005-11-17 |
FI20055612A FI20055612A (sv) | 2007-05-18 |
FI121750B true FI121750B (sv) | 2011-03-31 |
Family
ID=35458852
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FI20055612A FI121750B (sv) | 2005-11-17 | 2005-11-17 | ALD-reaktor |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20090255470A1 (sv) |
EP (1) | EP1948843A4 (sv) |
JP (1) | JP2009516077A (sv) |
CN (1) | CN101310043B (sv) |
EA (1) | EA012961B1 (sv) |
FI (1) | FI121750B (sv) |
WO (1) | WO2007057519A1 (sv) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FI123322B (sv) * | 2007-12-17 | 2013-02-28 | Beneq Oy | Förfarande och anordning för att generera plasma |
FI122941B (sv) * | 2008-06-12 | 2012-09-14 | Beneq Oy | Anordning i en ALD-reaktor |
FI122940B (sv) * | 2009-02-09 | 2012-09-14 | Beneq Oy | Reaktionskammare |
FR2989691B1 (fr) * | 2012-04-24 | 2014-05-23 | Commissariat Energie Atomique | Reacteur pour le depot de couche atomique (ald), application a l'encapsulage d'un dispositif oled par depot de couche transparente en al2o3. |
EP3014533A4 (en) | 2013-06-27 | 2016-11-09 | Picosun Oy | ANTI-COUNTERFEITING SIGNATURE |
EP2937890B1 (en) | 2014-04-22 | 2020-06-03 | Europlasma nv | Plasma coating apparatus with a plasma diffuser and method preventing discolouration of a substrate |
CN111517928A (zh) * | 2020-04-30 | 2020-08-11 | 武汉有机实业有限公司 | 二苄醚氧化工艺 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4389973A (en) * | 1980-03-18 | 1983-06-28 | Oy Lohja Ab | Apparatus for performing growth of compound thin films |
JP3024449B2 (ja) * | 1993-07-24 | 2000-03-21 | ヤマハ株式会社 | 縦型熱処理炉及び熱処理方法 |
FI100409B (sv) * | 1994-11-28 | 1997-11-28 | Asm Int | Förfarande och anläggning för framställning av tunnfilmer |
US6030902A (en) * | 1996-02-16 | 2000-02-29 | Micron Technology Inc | Apparatus and method for improving uniformity in batch processing of semiconductor wafers |
JP3231996B2 (ja) * | 1996-04-26 | 2001-11-26 | シャープ株式会社 | 気相成長装置 |
KR100252049B1 (ko) * | 1997-11-18 | 2000-04-15 | 윤종용 | 원자층 증착법에 의한 알루미늄층의 제조방법 |
KR100347379B1 (ko) * | 1999-05-01 | 2002-08-07 | 주식회사 피케이엘 | 복수매 기판의 박막 증착 공정이 가능한 원자층 증착장치 |
FI118342B (sv) * | 1999-05-10 | 2007-10-15 | Asm Int | Anordning för framställning av tunnfilmer |
KR100360401B1 (ko) * | 2000-03-17 | 2002-11-13 | 삼성전자 주식회사 | 슬릿형 공정가스 인입부와 다공구조의 폐가스 배출부를포함하는 공정튜브 및 반도체 소자 제조장치 |
US6800173B2 (en) * | 2000-12-15 | 2004-10-05 | Novellus Systems, Inc. | Variable gas conductance control for a process chamber |
WO2003038145A2 (en) * | 2001-10-29 | 2003-05-08 | Genus, Inc. | Chemical vapor deposition system |
KR100453014B1 (ko) * | 2001-12-26 | 2004-10-14 | 주성엔지니어링(주) | Cvd 장치 |
KR20030081144A (ko) * | 2002-04-11 | 2003-10-17 | 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 | 종형 반도체 제조 장치 |
JP2004014953A (ja) * | 2002-06-10 | 2004-01-15 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置および処理方法 |
WO2003104524A1 (ja) * | 2002-06-10 | 2003-12-18 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置及び処理方法 |
KR20040007963A (ko) * | 2002-07-15 | 2004-01-28 | 삼성전자주식회사 | 단원자층 증착 반응장치 |
JP2004091850A (ja) * | 2002-08-30 | 2004-03-25 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置及び処理方法 |
JP2004095770A (ja) * | 2002-08-30 | 2004-03-25 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
US20040069227A1 (en) * | 2002-10-09 | 2004-04-15 | Applied Materials, Inc. | Processing chamber configured for uniform gas flow |
US6818249B2 (en) * | 2003-03-03 | 2004-11-16 | Micron Technology, Inc. | Reactors, systems with reaction chambers, and methods for depositing materials onto micro-device workpieces |
KR100973666B1 (ko) * | 2003-06-17 | 2010-08-03 | 주성엔지니어링(주) | 원자층증착장치의 가스밸브 어셈블리 |
WO2005042160A2 (en) * | 2003-10-29 | 2005-05-12 | Asm America, Inc. | Reaction system for growing a thin film |
JP2005243964A (ja) * | 2004-02-26 | 2005-09-08 | Furukawa Co Ltd | 化学気相成長装置および化学気相成長方法 |
FI119478B (sv) * | 2005-04-22 | 2008-11-28 | Beneq Oy | Reaktor |
-
2005
- 2005-11-17 FI FI20055612A patent/FI121750B/sv active IP Right Grant
-
2006
- 2006-11-16 EA EA200801014A patent/EA012961B1/ru not_active IP Right Cessation
- 2006-11-16 US US12/085,027 patent/US20090255470A1/en not_active Abandoned
- 2006-11-16 EP EP06808041A patent/EP1948843A4/en not_active Withdrawn
- 2006-11-16 WO PCT/FI2006/050500 patent/WO2007057519A1/en active Application Filing
- 2006-11-16 JP JP2008540643A patent/JP2009516077A/ja active Pending
- 2006-11-16 CN CN2006800429237A patent/CN101310043B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1948843A1 (en) | 2008-07-30 |
FI20055612A0 (sv) | 2005-11-17 |
FI20055612A (sv) | 2007-05-18 |
CN101310043A (zh) | 2008-11-19 |
WO2007057519A1 (en) | 2007-05-24 |
JP2009516077A (ja) | 2009-04-16 |
EP1948843A4 (en) | 2010-04-14 |
EA200801014A1 (ru) | 2008-12-30 |
CN101310043B (zh) | 2010-12-22 |
EA012961B1 (ru) | 2010-02-26 |
US20090255470A1 (en) | 2009-10-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
FI121750B (sv) | ALD-reaktor | |
TWI685913B (zh) | 半導體反應室之噴淋頭 | |
TWI612174B (zh) | 化學氣相沉積設備、設備、以及化學氣相沉積之方法 | |
CN110904437B (zh) | 薄膜制备设备及其反应腔室 | |
US11274368B2 (en) | Apparatus for selective gas injection and extraction | |
WO2019124099A1 (ja) | 成膜装置 | |
WO2010020195A1 (zh) | 等离子体处理设备、气体分配装置以及气体输送方法 | |
TW202230830A (zh) | 用於半導體製造前驅物的安瓿 | |
JP2007158358A (ja) | 基板処理装置 | |
CN114171365A (zh) | 匀流装置、工艺腔室及半导体工艺设备 | |
CN115050623A (zh) | 一种等离子体处理装置 | |
CN112687596A (zh) | 晶舟、工艺腔室及半导体工艺设备 | |
KR102210390B1 (ko) | 유동가능한 cvd를 위한 이중 원격 플라즈마 소스들의 통합 | |
US20180258531A1 (en) | Diffuser design for flowable cvd | |
TW202403086A (zh) | 用於前驅物遏制的改進的噴頭泵送幾何形狀 | |
JPH0487323A (ja) | Cvd装置 | |
CN115852343A (zh) | 一种进气分配机构及具有其的cvd反应设备 | |
JPH01228123A (ja) | 半導体装置用処理装置 | |
JP4677413B2 (ja) | 好ましくないガス混合無しで、高温用加工体を通る二種のガス送出用のシステム、方法及び装置 | |
JP2024007511A (ja) | クロスフローを有する複数の基板を処理するための半導体処理装置 | |
JP2024057592A (ja) | 基材処理装置内のガスの混合を改善するためのガス導入管アセンブリ | |
JP2004241412A (ja) | 気相成長装置 | |
KR20170040815A (ko) | 균일한 반응가스 플로우를 형성하는 원자층 박막 증착장치 | |
TW202113967A (zh) | 半導體製程裝置及用於蝕刻基材的方法 | |
JP2005088000A (ja) | 汚染物質用廃棄装置の吸気口 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FG | Patent granted |
Ref document number: 121750 Country of ref document: FI |