ES2685971T3 - Inspección de rayos X usando detectores de centelleo acoplados mediante fibra con desplazamiento de longitud de onda - Google Patents
Inspección de rayos X usando detectores de centelleo acoplados mediante fibra con desplazamiento de longitud de onda Download PDFInfo
- Publication number
- ES2685971T3 ES2685971T3 ES13749372.2T ES13749372T ES2685971T3 ES 2685971 T3 ES2685971 T3 ES 2685971T3 ES 13749372 T ES13749372 T ES 13749372T ES 2685971 T3 ES2685971 T3 ES 2685971T3
- Authority
- ES
- Spain
- Prior art keywords
- detector
- scintillation
- wavelength
- light
- scintillator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000000835 fiber Substances 0.000 title claims description 57
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title description 45
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 43
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 26
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims abstract description 8
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims abstract description 6
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims abstract description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 9
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 9
- 239000004033 plastic Substances 0.000 claims description 9
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 claims description 9
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 7
- ZZUPSSRPSMHYJA-UHFFFAOYSA-N [Ba].ClF Chemical compound [Ba].ClF ZZUPSSRPSMHYJA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 37
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 32
- 239000000463 material Substances 0.000 description 31
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 description 14
- 206010036618 Premenstrual syndrome Diseases 0.000 description 10
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 9
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 9
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 8
- 239000011162 core material Substances 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 7
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 5
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 4
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 4
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 4
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000000333 X-ray scattering Methods 0.000 description 3
- -1 barium halide Chemical class 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 3
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 108010000722 Excitatory Amino Acid Transporter 1 Proteins 0.000 description 2
- 102100031563 Excitatory amino acid transporter 1 Human genes 0.000 description 2
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 2
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 2
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 2
- 229910052747 lanthanoid Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002602 lanthanoids Chemical class 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 2
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 108010078791 Carrier Proteins Proteins 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052693 Europium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009412 basement excavation Methods 0.000 description 1
- JJWKPURADFRFRB-UHFFFAOYSA-N carbonyl sulfide Chemical compound O=C=S JJWKPURADFRFRB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000004512 die casting Methods 0.000 description 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 1
- 150000002118 epoxides Chemical class 0.000 description 1
- OGPBJKLSAFTDLK-UHFFFAOYSA-N europium atom Chemical compound [Eu] OGPBJKLSAFTDLK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 239000002828 fuel tank Substances 0.000 description 1
- UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N gadolinium atom Chemical compound [Gd] UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000004519 grease Substances 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000011068 loading method Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000013081 microcrystal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920005594 polymer fiber Polymers 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2008—Measuring radiation intensity with scintillation detectors using a combination of different types of scintillation detectors, e.g. phoswich
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V5/00—Prospecting or detecting by the use of ionising radiation, e.g. of natural or induced radioactivity
- G01V5/20—Detecting prohibited goods, e.g. weapons, explosives, hazardous substances, contraband or smuggled objects
- G01V5/22—Active interrogation, i.e. by irradiating objects or goods using external radiation sources, e.g. using gamma rays or cosmic rays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2006—Measuring radiation intensity with scintillation detectors using a combination of a scintillator and photodetector which measures the means radiation intensity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/201—Measuring radiation intensity with scintillation detectors using scintillating fibres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20181—Stacked detectors, e.g. for measuring energy and positional information
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20185—Coupling means between the photodiode and the scintillator, e.g. optical couplings using adhesives with wavelength-shifting fibres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T3/00—Measuring neutron radiation
- G01T3/06—Measuring neutron radiation with scintillation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T5/00—Recording of movements or tracks of particles; Processing or analysis of such tracks
- G01T5/08—Scintillation chambers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14601—Structural or functional details thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
- H01L27/14658—X-ray, gamma-ray or corpuscular radiation imagers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T7/00—Details of radiation-measuring instruments
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/146—Imager structures
- H01L27/14643—Photodiode arrays; MOS imagers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Geophysics (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
Detector de radiación de rayos X que tiene un grosor y un área, comprendiendo el detector de rayos X: a. un primer volumen de medio de centelleo (403, 1404) para convertir energía de radiación de rayos X incidente en una primera luz de centelleo; b. una primera pluralidad de guías de ondas ópticas de desplazamiento de longitud de onda (701, 1406), alineadas sustancialmente en paralelo entre sí en una primera región de extracción de luz de centelleo contigua al primer volumen (403, 1404) de medio de centelleo, para guiar luz derivada de, y en una primera longitud de onda más larga que la de, la primera luz de centelleo; c. un segundo volumen de medio de centelleo (403, 1404) para convertir energía de radiación de rayos X incidente que ha atravesado el primer volumen de medio de centelleo (403, 1404) en una segunda luz de centelleo; d. una segunda pluralidad de guías de ondas ópticas de desplazamiento de longitud de onda (702, 1406), alineadas sustancialmente en paralelo entre sí en una segunda región de extracción de luz de centelleo contigua al segundo volumen de medio de centelleo, para guiar luz derivada de, y en una segunda longitud de onda más larga que la de, la segunda luz de centelleo; e. un primer fotodetector (805, 1408) para detectar fotones en la primera longitud de onda guiada por la primera pluralidad de guías de ondas (701, 1406) y para generar una primera señal de detector; y f. un segundo fotodetector (805, 1408) para detectar fotones en la segunda longitud de onda guiada por la segunda pluralidad de guías de ondas (702, 1406) y para generar una segunda señal de detector; en el que los volúmenes primero y segundo (403, 1404) de medio de centelleo están caracterizados por sensibilidades espectrales distintas a la radiación de rayos X incidente.
Description
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
DESCRIPCION
Inspección de rayos X usando detectores de centelleo acoplados mediante fibra con desplazamiento de longitud de onda
La presente solicitud reivindica prioridad a partir de las solicitudes de patente provisionales estadounidenses, con n.os de serie 61/598.521 y 61/598.576, ambas presentadas el 14 de febrero de 2012, y las solicitudes de patente provisionales estadounidenses, con n.° de serie 61/607.066, presentada el 6 de marzo de 2012.
Campo técnico
La presente invención se refiere a un detector de radiación de rayos X.
Técnica anterior
A lo largo de los últimos 30 años, se han empleado detectores de centelleo acoplados mediante fibra de radiación y partículas. En algunos casos, el centelleador está pixelado, consistiendo en elementos de centelleador discretos, y en otros casos, se emplean otras estrategias (tal como fibras de acoplamiento cruzadas ortogonalmente) con el fin de proporcionar resolución espacial. Ejemplos de detectores de centelleo acoplados mediante fibra se proporcionan por las patentes estadounidenses n.os 6.078.052 (de DiFilippo) y 7.326.9933 (de Katagiri et al). Los detectores descritos en ambas por DiFilippo y Katagiri et al. emplean fibras con desplazamiento de longitud de onda (WSF) de manera que puede conducirse luz reemitida por el material de núcleo de la fibra, con baja atenuación, hasta fotodetectores dispuestos en una ubicación conveniente, a menudo distante del propio centelleador. La resolución espacial tiene una importancia particular en aplicaciones tales como generación de imágenes por neutrones. La resolución espacial es también primordial en el Telescopio espacial de gran área de Fermi (anteriormente, GLAST) donde un detector de centelleo segmentado de alta eficiencia emplea lecturas de WSF para la detección de rayos cósmicos de alta energía, tal como se describe en Moiseev, et al., High efficiency plástic scintillator detector with wavelength-shifting fiber readout for the GLAST Large Area Telescope, Nucl. Instr. Met. Phys. Res. A, vol. 583, pp. 372-81 (2007).
Debido a los contextos en los que se han empleado hasta la fecha detectores de centelleador acoplados mediante fibra, todos los detectores de centelleador acoplados mediante fibra conocidos han contado los pulsos producidos por interacciones individuales de partículas (fotones o partículas masivas) con el centelleador, permitiendo de ese modo que se determine la energía depositada por la partícula incidente basándose en el flujo acumulativo de luz reemitida por el centelleador.
Sin embargo, los requisitos de detección de sistemas de inspección por retrodispersión de rayos X son totalmente diferentes de los requisitos abordados por los detectores de centelleo acoplados mediante fibra existentes. Sistemas de inspección de rayos X por retrodispersión se han usado durante más de 25 años para detectar materiales orgánicos ocultos en el interior de equipaje, cargamento de contenedores, en vehículos y en personal. Puesto que materiales orgánicos a granel dispersan preferiblemente rayos X (mediante dispersión Compton) en lugar de absorberlos, estos materiales aparecen como objetos más brillantes en imágenes por retrodispersión. En tanto que los rayos X incidentes se dispersan en todas direcciones, la sensibilidad se antepone notablemente a la resolución espacial como requisito, y en la mayoría de las aplicaciones de dispersión, la resolución espacial de detector no tiene importancia en absoluto, dado que la resolución se rige por el haz incidente en lugar de por detección.
Los requisitos de detección especializada de gran área y alta sensibilidad planteados por los sistemas de dispersión de rayos X son particularmente problemáticos en el caso de detectores de centelleo “convencionales” 100 del tipo mostrado en una sección transversal lateral en la figura 1A y en una sección transversal frontal en la figura 1B. Un ejemplo de un detector de este tipo se describe en la patente estadounidense n.° 5.302.817 (de Yokota), y está incorporado en el presente documento como referencia. Normalmente, una caja estanca a la luz 102 está alineada con pantallas de centelleo 103 en las que la radiación de rayos X incidente 101 se convierte en luz de centelleo, normalmente en las partes de UV, visibles o de longitud de onda más larga, del espectro electromagnético (EM). Se acoplan tubos fotomultiplicadores de gran área fotocatódica (PMT) 105 para recibir luz de centelleo por medio de incisiones 108. Un problema recae en que una fracción de la luz de centelleo que se origina dentro de la pantalla se transmite desde la pantalla al interior del volumen cerrado. La luz de centelleo restante se pierde en el material de pantalla. Las pantallas de centelleo 103 están diseñadas para maximizar la fracción de luz emitida, que es equivalente a garantizar un coeficiente de transmisión T elevado para la interfaz entre la pantalla 103 y el medio (normalmente aire) que llena el volumen de detector. Sin embargo, en un detector de retrodispersión convencional del tipo representado en las figuras 1B y 1B, las pantallas de centelleo 103 deben servir también como buenos reflectores puesto que la luz de centelleo, una vez emitida al interior del volumen de la caja 102, normalmente necesita múltiples reflexiones hasta que alcanza un fotodetector 105. De este modo, el coeficiente de reflexión R de la superficie de pantalla debe ser también elevado, sin embargo, dado que la suma de T y R está limitada a formar una unidad, T y R no pueden maximizarse simultáneamente, y debe alcanzarse un compromiso. Como resultado, la eficiencia de recogida de luz del detector de retrodispersión convencional es inherentemente baja, con sólo un pequeño porcentaje de la luz de centelleo generada recogida en los fotodetectores.
Para un detector de generación de imágenes, el ruido estadístico de fotón se calcula en cuanto a los fotones
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
absorbidos por el detector y se usa para generar la imagen. Cualquier fotón que pase a través del detector sin ser absorbido, o incluso los que se absorban sin generar información de imagen, se desechan y no contribuyen a reducir el ruido en la imagen. Dado que los fotones no pueden subdividirse, representan el nivel cuántico fundamental de un sistema. Es una práctica común calcular el ruido estadístico en cuanto al número más pequeño de cuantos usados para representar la imagen en cualquier lugar a lo largo de la cadena de generación de imagen. El punto a lo largo de la cadena de generación de imagen en el que se usa el menor número de cuantos para representar la imagen se denomina “sumidero cuántico”. El nivel de ruido en el sumidero cuántico determina el límite de ruido del sistema de generación de imágenes. Sin aumentar el número de portadores de información (es decir, cuantos) en el sumidero cuántico, el límite de ruido de sistema no puede mejorarse. Una recogida de luz pobre puede crear posiblemente un sumidero cuántico secundario, lo que quiere decir que limitará la fracción de rayos X incidentes que da como resultado la corriente de PMT. Además, aumentará el ruido de imagen. Una eficiencia de recogida ligera puede mejorarse aumentando el área sensible de los fotodetectores, sin embargo, esa trayectoria a la eficiencia resulta costosa.
La estructura de pantalla de centelleo empleada normalmente en detectores de centelleo de rayos X de la técnica anterior se describe ahora con referencia a la figura 2. Una capa de centelleador compuesto 202 se intercala entre una lámina de refuerzo 204 para soporte estructural y una película protectora delgada y transparente 206 hecha de poliéster, por ejemplo. El centelleador compuesto consiste normalmente en microcristales inorgánicos en una matriz orgánica o resina. Los cristales son el material de centelleante real. Fluorocloruro de bario (BaFCl o “BFC”) o oxisulfuro de gadolinio (Gd202S, o “Gadox”) dopado con elementos de tierras raras son elecciones comunes para estos. La potencia de detención de la pantalla se determina por el grosor de la capa de centelleador compuesta 202, que se mide normalmente en miligramos de cristal centelleador por área de unidad. Puesto que los centelleadores inorgánicos (tal como BFC o Gadox) sufren de alta autoabsorción, la capa de centelleador compuesta ha de mantenerse bastante fina con el fin de extraer una buena fracción de la luz de centelleo. Esto limita la potencia de detección útil de la pantalla y la hace adecuada sólo para la detección de rayos X con energías de hasta aproximadamente 100 keV.
Por tanto, sería ventajoso tener un detector de centelleo para aplicaciones de detección de dispersión de rayos X que proporcione una extracción, recogida y detección de luz de centelleo más eficientes.
Tal como se comentó brevemente al principio, hace tiempo que se emplean fibras con desplazamiento de longitud de onda (WSF) para la detección de centelleo. Fibras con desplazamiento de longitud de onda consisten en un núcleo con índice de refracción relativamente alto, rodeado por una o más capas de revestimiento de índice de refracción más bajo. El núcleo contiene material desplazamiento de longitud de onda, también denominado tinte. Luz de centelleo que entra en la fibra se absorbe por el tinte que, a su vez, emite luz con una longitud de onda más larga. La luz de longitud de onda más larga se emite de manera isotrópica en la fibra material. La reflexión interna total atrapa una fracción de esa luz y la conduce por distancias largas con una pérdida relativamente baja. Esto es posible, tal como se describe con referencia a la figura 3, puesto que los intervalos de longitud de onda de absorción 304 y emisión 302 del tinte efectivamente no se superponen de manera que la luz con longitud de onda desplazada no se reabsorbe. La fracción capturada se determina por la relación de los índices de refracción en superficies de la fibra. Una ventaja adicional de la WSF es que el desplazamiento de longitud de onda puede llevar la luz de centelleo 306 al intervalo de longitud de onda sensible del fotodetector (PMT, fotomultiplicador de silicio (SiPM), o contador de fotones multipíxel (MPPC), u otro).
Las estructuras de centelleador se han producido usando muchas tecnologías de fabricación, que incluyen, por ejemplo, fundición a presión, moldeado por inyección (tal como se describe por Yoshimura et al., Plástic scintillator produced by the inyection-molding technique, Nucl. Instr. Met. Phys. Res. A, vol. 406, pp. 435-41 (1998), y por extrusión (tal como se describe en la patente estadounidense n.° 7.067.079, de Bross et al). El documento US 2011/0079726 da a conocer la técnica anterior.
Sumario de las realizaciones de la invención
Según diversas realizaciones de la presente invención, se proporciona un detector de radiación de rayos X que aplica detectores de centelleo acoplados mediante fibra a problemas en inspección de rayos X de transmisión y retrodispersión.
Por conveniencia de anotación, un detector de centelleo acoplado mediante fibra con desplazamiento de longitud de onda puede referirse en el presente documento a un detector “Sc-WSF”. Según un aspecto de la invención, se proporciona un detector de radiación de rayos X tal como se establece en la reivindicación 1.
Se proporciona un detector de radiación penetrante que tiene un volumen no pixelado de medio de centelleo para convertir energía de incidente radiación penetrante en luz de centelleo. El detector tiene guías de ondas ópticas múltiples, alineadas sustancialmente en paralelo entre sí en una región de extracción de luz de centelleo que es contigua al volumen no pixelado del medio de centelleo. Las guías de ondas ópticas guían luz derivada desde la luz de centelleo hasta un fotodetector para detectar fotones guiados por las guías de ondas y para generar una señal de detector.
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
En realizaciones de la presente invención, el detector puede tener también un circuito integrador para integrar la señal de detector en una duración de tiempo especificada.
En una realización alternativa de la invención, se proporciona un detector de radiación penetrante que tiene un volumen de medio de centelleo para convertir energía de incidente radiación penetrante en luz de centelleo y una pluralidad de guías de ondas ópticas, alineadas sustancialmente en paralelo entre sí en una región de extracción de luz de centelleo contigua al volumen del medio de centelleo. Las guías de ondas ópticas guían luz derivada desde la luz de centelleo hasta un fotodetector que genera una señal de detector. Finalmente, un circuito integrador para integrar la señal de detector en una duración de tiempo especificada.
Según la invención, las guías de ondas ópticas en los detectores anteriores son fibras con desplazamiento de longitud de onda óptica. El medio de centelleo puede incluir un haluro mixto de bario dopado con lantánido tal como fluorocloruro de bario. El fotodetector puede incluir un fotomultiplicador.
En más realizaciones adicionales de la invención, el cuadrado del grosor de cualquiera de los detectores anteriores, dividido por el área del detector, puede ser menor de 0,001. Al menos una de la pluralidad de guías de ondas pueden carecer de revestimiento y el medio de centelleo puede caracterizarse por un índice de refracción de valor inferior a un índice de refracción que caracteriza la guía de ondas. Las guías de ondas ópticas pueden disponerse en múltiples planos paralelos, conteniendo cada uno de los planos paralelos un subconjunto de la pluralidad de guías de ondas ópticas.
Según la invención, el detector puede tener una pluralidad de capas de medio de centelleador que un haz incidente puede encontrar sucesivamente, y las capas se caracterizan por sensibilidades espectrales distintas al haz incidente. Capas alternas de centelleador pueden incluir Li6F:ZnS(Ag) que se alternan con al menos uno de BaFCl(Eu) acoplado mediante fibra y BaFI(Eu) acoplado mediante fibra. Una primera de la pluralidad de capas de medio de centelleador puede ser un detector de desplazamiento de longitud de onda acoplado mediante fibra preferiblemente sensible a rayos X de baja energía, y una última de la pluralidad de capas de medio de centelleador puede ser un centelleador plástico.
Pueden disponerse segmentos de medio de centelleador en un plano transversal a una dirección de propagación de un haz incidente, y pueden acoplarse perfectamente a fotodetectores por medio de fibras ópticas.
Según un ejemplo no cubierto por la presente invención, un método para fabricar un detector de centelleo, comprendiendo el método extruyendo una cubierta de material centelleante alrededor de una guía de ondas óptica, y, en una realización particular, la guía de ondas óptica es una fibra óptica con desplazamiento de longitud de onda.
En otro ejemplo no cubierto por la invención actual, un método para detectar una radiación de rayos X dispersada tiene las etapas de
a. proporcionar un detector caracterizado por una pluralidad de segmentos leídos individualmente; y
b. sumar una señal de un subconjunto de los segmentos leídos individualmente, en el que el subconjunto se selecciona en base a una señal relativa sobre el ruido.
En otro ejemplo no cubierto por la invención, se proporciona un método para detectar una radiación de rayos X dispersada. El método tiene las etapas de
a. proporcionar un detector caracterizado por una pluralidad de segmentos leídos individualmente; y
b. sumar una señal de un subconjunto de los segmentos leídos individualmente,
en el que el subconjunto se selecciona en base a una posición conocida de un haz iluminador primario.
Se proporciona un sistema de rayos X de inspección móvil pero no está cubierto por la invención actual. El sistema de inspección tiene una fuente de radiación de rayos X dispuesta sobre un transportador que tiene una plataforma y elementos en contacto con el suelo, y un detector de centelleo acoplado mediante fibra desplegado fuera del transportador durante la operación de inspección para detectar rayos X que han interactuado con el objeto inspeccionado.
El sistema de rayos X de inspección móvil puede tener también un detector de tipo toldo de centelleo acoplado mediante fibra desplegado sobre el objeto inspeccionado durante el transcurso de una inspección, y el detector de tipo toldo puede deslizarse hacia fuera desde un tejado del transportador antes de la operación de inspección. También puede ser un detector de tipo faldón desplegado por debajo de la plataforma del transportador, y un detector de tejado para la detección de espacios más altos que el transportador, así como segmentos de detector de centelleador acoplados mediante fibra sustancialmente horizontales y sustancialmente verticales. Los segmentos de detector de centelleador acoplados mediante fibra sustancialmente horizontales y sustancialmente verticales pueden estar formados en una estructura integrada.
5
10
15
20
25
30
35
40
45
Según otro ejemplo no cubierto por la presente invención, se proporciona un aparato para detectar radiación incidente sobre el aparato, comprendiendo el aparato:
a. una pluralidad de hojas de colimación activas sustancialmente paralelas que comprende detectores de centelleo acoplados mediante fibra de longitud de onda desplazada sensible a la radiación para generar al menos una primera señal de detección;
b. una detector de área amplia posterior para detectar la radiación que pasa entre las hojas de colimación activas sustancialmente paralelas de la pluralidad de hojas de colimador activas y generar una segunda señal de detección; y
c. un procesador para recibir y procesar las señales de detección primera y segunda.
Según otro ejemplo no cubierto por la invención, se proporciona un sistema de inspección de generación de imágenes de arriba a abajo para inspeccionar un objeto dispuesto en una superficie subyacente. El sistema de inspección de generación de imágenes de arriba a abajo tiene una fuente de rayos X que apuntan sustancialmente hacia abajo y un grupo de detector lineal dispuesto dentro de un saliente por encima de la superficie subyacente. El grupo de detector lineal puede incluir detectores de centelleo acoplados mediante fibra de longitud de onda desplazada.
Según otro ejemplo no cubierto por la invención, se proporciona un sistema de inspección de rayos X para inspeccionar los bajos de un vehículo. El sistema de inspección de rayos X tiene una fuente de rayos X que apuntan sustancialmente hacia arriba acoplada a un bastidor y un detector de centelleador acoplado mediante fibra con desplazamiento de longitud de onda dispuesto en el bastidor para detectar rayos X dispersados por el vehículo y por objetos ocultos bajo o dentro del vehículo. El bastidor puede estar adaptado para maniobrarse por debajo del vehículo por al menos uno de control manual y a motor.
Breve descripción de las figuras
Las características anteriores de la invención se entenderán de manera más inmediata por referencia a la siguiente descripción detallada, que se hace en referencia a las figuras adjuntas, en las que:
las figuras 1A y 1B muestran vistas en sección transversal frontal y lateral, respectivamente, de una detector de centelleo “de tipo caja” de la técnica anterior.
La figura 2 es una vista esquemática de una pantalla de centelleador de la técnica anterior.
La figura 3 representa relaciones espectrales entre la luz de centelleo y espectro de emisión y absorción mediante fibra con desplazamiento de longitud de onda típico.
La figura 4 es una vista en perspectiva esquemática de un grupo de fibras con desplazamiento de longitud de onda intercaladas entre material de centelleador, según una realización de la presente invención.
La figura 5 es una vista esquemática en sección transversal de un grupo de fibras con desplazamiento de longitud de onda embebido dentro de una matriz de material de centelleador, según una realización de la presente invención.
La figura 6A es una vista en perspectiva de un centelleador cilíndrico extruido alrededor de una WSF.
La figura 6B es una representación esquemática de un sistema para extruir un centelleador cilíndrico alrededor de una WSF.
La figura 6C es una vista en sección transversal de un extrusor para coextruir un centelleador cilíndrico con una WSF.
La figura 7 es una sección transversal esquemática de un detector de centelleo con múltiples filas de WSF.
La figura 8 es una vista desde arriba de un detector de centelleo acoplado mediante fibra con desplazamiento de longitud de onda según una realización de la presente invención.
La figura 9 muestra detectores por retrodispersión de tipo tejado y faldón, almacenados, mientras la figura 10 muestra los mismos detectores desplegados durante el transcurso de operaciones de inspección.
La figura 11 muestra un detector de tipo toldo y un detector de tipo faldón para su uso con un sistema de inspección de retrodispersión.
La figura 12 es una vista esquemática en sección transversal de un apilamiento de capas de centelleador para su uso como detector de transmisión de rayos X de alta energía.
Las figuras 13A y 13B show un detector de transmisión en capas dentro de un badén de control de velocidad de 2 pulgadas de alto, mientras que la figura 13C muestra una sección transversal del conjunto de detector insertado en
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
el armazón de badén de control de velocidad.
La figura 14A muestra una vista en perspectiva de un detector de transmisión de rayos X segmentado para la medición de la distribución de intensidad detectada a través de la anchura de un haz de rayos X, mientras que las figuras 14B y 14C muestran una sección transversal de terminación y un perfil de haz típico del detector de la figura 14A.
La figura 15 es una vista en sección transversal de un detector de centelleo con resolución de múltiples energías.
La figura 16 muestra un detector de centelleo de múltiples capas para la detección tanto de rayos X como de neutrones térmicos.
La figura 17 muestra una vista en perspectiva de un detector con colimadores activos.
Las figuras 18A y 18B muestran vistas en sección transversal y en perspectiva de un detector de WSF usado como un colimador activo y las figuras 18C y 18D muestran una disposición con lecturas independientes separadas por una absorbedor de rayos X estanco a la luz para distinguir la radiación que golpea cada cara.
Las figuras 19A y 19B muestra múltiples detectores que se despliegan en un escáner manual, en estados almacenados y desplegados, respectivamente.
Las figuras 20A y 20B muestran una unidad de retrodispersión que, en virtud de los detectores Sc-WSF, puede deslizarse bajo un vehículo para inspeccionar el chasis por debajo.
Las figuras 21A y 21B representan el uso de una combinación en ángulo recto de detectores basándose en tecnología Sc-WSF junto con un sistema de inspección móvil.
Descripción detallada de las realizaciones de la invención
Según la presente invención, el acoplamiento óptico de material de centelleador a fibras con desplazamiento de longitud de onda, posibilita ventajosamente objetivos que incluyen aquellos que son propios de las demandas de detección de dispersión de rayos X.
Definiciones:
El término “imagen” se referirá a cualquier representación unidimensional o multidimensional, ya sea en forma tangible u otra forma perceptible, o bien, mediante lo cual un valor de alguna característica (tal como intensidad transmitida fraccional a través de una columna de un objeto inspeccionado atravesado por un haz incidente, en el caso de generación de imagen por transmisión de rayos X) está asociado con cada una de una pluralidad de ubicaciones (o, vectores en un espacio Euclídeo, normalmente ^2) correspondiente a coordenadas dimensionales de un objeto en un espacio físico, no necesariamente mapeadas una a una en el mismo. Una imagen puede comprender un grupo de números en una memoria informática o medio holográfico. De manera similar, “generación de imágenes” se refiere a la representación de una característica física determinada en cuanto a una o más imágenes.
Términos de relación espacial, tales como “por encima”, “por debajo”, “superior”, “inferior” y similares, pueden usarse en el presente documento para facilitar la descripción para describir la relación de un elemento con otro tal como se muestra en las figuras. Se entenderá que tales términos de relación espacial pretenden abarcar diferentes orientaciones del aparato en uso o en funcionamiento además de la orientación descrita y/o representada en las figuras.
Cuando un elemento se describe como que está “sobre”, “conectado a” o “acoplado a” otro elemento, puede estar directamente sobre, conectado o acoplado al otro elemento, o, alternativamente, pueden estar presentes uno o más elementos intervinientes, a menos que se especifique lo contrario.
La terminología usada en el presente documento tiene el propósito de describir realizaciones particulares y no pretende ser limitativa. Las formas singulares “un”, “una” y “el/la” pretenden incluir las formas plurales también.
Detectores de WSF
En referencia, primero, a la figura 4, en una realización de la invención, una capa de fibras con desplazamiento de longitud de onda paralelas apenas separadas 400 se intercala entre dos capas 403 de pantalla de centelleo compuesta. El material de centelleador preferido es fluorocloruro de bario dopado con europio (BaFCl:Eu), aunque otros centelleadores, tales como BaFI:Eu, u otros haluros mixtos de bario dopado con lantánido (que incluyen, un modo de ejemplo adicional, BaBri:Eu y BaCsi:Eu), pueden usarse dentro del alcance de la presente invención. Dado que materiales de centelleador empleados para detección de rayos X exhiben normalmente una autoabsorción muy fuerte de fotones de centelleo, realizaciones según la presente invención ventajosamente permiten emplear de manera inusual grandes volúmenes de centelleador 403 al tiempo que se acoplan de manera eficiente señales de centelleo.
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
Una ventaja de usar pantalla de centelleo compuesta en la presente aplicación es que permite para fabricación por extrusión de un detector de centelleo acoplado mediante fibra.
El centelleador compuesto 403 se soporta estructuralmente por capas exteriores 404 de plástico u otro material, que proporcionan soporte mecánico. El contacto óptico entre el revestimiento de fibra 401 y el centelleador compuesto 403 se establece llenando los vacíos con material de índice coincidente 405 de índice de refracción adecuado que es transparente a la luz de centelleo. El índice de refracción del material de llenado se elige para optimizar la recogida de fotones de luz primarios al interior de la WSF y la captura de fotones con longitud de onda desplazada en la fibra. El material de llenado 405 puede ser grasa óptica o epóxido óptico, por ejemplo, aunque cualquier material está dentro del alcance de la presente invención.
Tras la incidencia de fotones de rayos X, la luz de centelleo emitida por el centelleador 403 se acopla por medio del revestimiento 401 al interior del núcleo 407 de las fibras respectivas, con frecuencia reducida (es decir, desplazada al rojo) y propagada a uno o más fotodetectores 805 (mostrados en la figura 8, por ejemplo). La luz de los núcleos de fibra 407 se convierte en una corriente por medio del fotodetector 805, y la corriente se integra durante un intervalo de tiempo, normalmente en el intervalo de 1-12 |is, para obtener la potencia de señal para cada píxel. La integración de la señal de detector puede realizarse por un circuito integrador (no mostrado), tal como un preamplificador de integración, por ejemplo.
En referencia ahora a la figura 5, fibras con desplazamiento de longitud de onda 400 están embebidas en la matriz de la pantalla de centelleo 503. Embeber la WSF en el medio de centelleo crea el mejor contacto óptico.
En todavía otra realización de la invención, descrita ahora con referencia a la figura 6A, el material de centelleador compuesto 603 se aplica como un revestimiento o cubierta alrededor de una WSF 601 con un núcleo 602. Esta aplicación se presta a un proceso de fabricación mediante extrusión y permite hacer el uso más eficaz de material de centelleador 603 costoso. El material de centelleador 603 se sella con una capa protectora 604 que actúa también como un reflector para la luz de centelleo. Dentro del alcance de la presente invención, el revestimiento puede omitirse cuando el centelleador tiene un índice de refracción más bajo que la fibra y la unión de la fibra de centelleador tiene la suavidad y robustez necesarias.
Un fibra óptica de polímero con desplazamiento de longitud de onda puede fabricarse, tal como se describe ahora con referencia al sistema esquemático representado en la figura 6B. Fuentes de polímero fundido de WSF 606, polímero fundido de revestimiento de bajo índice de refracción 608 y polímero fundido transparente ópticamente embebido en fósforo 610, todas bajo presión, se alimentan al interior de un troquel de coextrusión 612 dentro de una zona de extrusión 614, y se coextrusionan. Se pulveriza gas seco 611, tal como nitrógeno o aire seco, por ejemplo, sobre la fibra extruida para enfriar. Se alimenta bajo presión el polímero fundido con un pigmento reflector de la luz (tal como Ti02, por ejemplo) 616 al interior de un troquel de extrusión 618 para obtener una camisa reflectora de luz en la WSF recubierta de centelleador 613. La WSF cargada de centelleador 620 resultante se enrolla para su almacenamiento mediante una devanadora 622. La figura 6C muestra una vista en sección transversal de un sistema de coextrusión, para usar según las realizaciones de la presente invención, para la fabricación de WSF revestida de centelleador. El polímero fundido de WSF 606 se inyecta, junto con el polímero fundido de revestimiento de bajo índice de refracción 608 y el polímero fundido transparente ópticamente embebido en fósforo 610, en troquel de coextrusión 612. Polímero fundido con un pigmento reflector de la luz 616 se alimenta bajo presión al interior del troquel de extrusión 618. La fibra completada tiene un núcleo de WSF 602, un revestimiento de índice bajo 601, un revestimiento cargado de centelleador 603 y un recubrimiento reflector 604.
Para todas las realizaciones de un detector de centelleo según la presente invención, es ventajoso que el grosor del material de centelleador se optimice para la energía de la radiación que va a detectarse. El diseño debe garantizar una recogida de luz suficiente para evitar un sumidero cuántico secundario. En particular, realizaciones de la invención descritas en el presente documento proporcionan detectores extraordinariamente finos con respecto a su área.
Definiciones:
Para propósitos de la presente descripción, y en cualquiera de las reivindicaciones dependientes, el término “grosor”, tal como se aplica a un detector de centelleo, representará la extensión media del detector en una dimensión a lo largo de, o paralela a, un centroide del campo visual del detector. El término área, tal como se aplica a un detector, o, de manera equivalente, el término “área activa” se referirá al tamaño del detector medido en un plano transversal al centroide de todos los vectores de propagación de radiación dentro del campo visual del detector.
Las realizaciones de la presente invención, incluso aquellas con hasta 8 capas de WSF, tienen relaciones del cuadrado de espesor de detector con respecto al área de detector activa que son menores de 0,001. Por ejemplo, un detector de 8 capas con un área de 48” x 12” tiene un grosor no mayor de 0,5”, de manera que la relación del cuadrado del grosor con respecto al área de detector es de 0,0005. Esta relación del cuadrado de grosor con respecto al área es normalmente de un orden de magnitud, o más, más pequeño que la relación comparable para los detectores por retrodispersión en la que se detecta directamente la luz de centelleador mediante un fotodetector.
Según una realización adicional de la invención representada en la figura 7, la potencia de detección útil del detector
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
puede aumentarse combinando múltiples capas 701, 702 de WSF 400 (u otras guías de ondas ópticas que aumentan de ese modo la profundidad de material de centelleador 403 a lo largo de la trayectoria de la radiación incidente.
Una realización de un detector de centelleador de longitud de onda desplazada según la presente invención se muestra en la figura 8. Las fibras con desplazamiento de longitud de onda 801 están embebidas dentro del material de centelleador 803, acoplando luz y reduciendo su frecuencia para la detección mediante tubos fotomultiplicadores 805.
Según diversas de las realizaciones descritas hasta ahora, los extremos de la WSF están reunidos en haces y acoplados ópticamente a al menos un fotodetector. Ejemplos de fotodetectores adecuados incluyen PMT y fotomultiplicadores de silicio (SiPM).
Las ventajas del detector, la invención del cual se describe en el presente documento, incluyen la eficiencia de detección y el bajo perfil geométrico de implementación. Esto permite una mayor libertad en el diseño de un sistema de detección y hace posible aplicaciones con restricciones espaciales totalmente nuevas. La flexibilidad mecánica de la estructura de detector permite dar forma a la superficie de detector para adaptarse a la aplicación, tal como una implementación en la que un objeto del que se genera una imagen está rodeado por el volumen de detector. El perfil bajo también facilita relativamente la orientación y la protección del área de detector para minimizar la detección de radiación dispersada indeseada (diafonía) de un sistema de generación de imágenes por rayos X cercano.
La extracción de luz de centelleo en una región grande de centelleador posibilita detectores con una gran relación de aspecto de anchura con respecto a profundidad. En particular, detectores que delimitan ángulos espaciales de 0,1 sr, o más, se facilitan por realizaciones de la presente invención.
En un sistema de generación de imágenes por retrodispersión de rayos X típico, un haz estrecho de rayos X escanea un objetivo del que se han generado imágenes en un movimiento lineal, al tiempo que detectores de radiación alargados están dispuestos en ambos lados de una abertura de salida de una fuente de rayos X. A medida que se mueve el haz estrecho, el área de detector más cercana al haz recibirá normalmente la señal más fuerte y área de detector más alejada del haz una señal menor. Si el área de detector se segmenta en secciones legibles individualmente la relación de señal con respecto a ruido del sistema de detección puede mejorarse leyendo sólo los segmentos con una buena relación de señal con respecto a ruido y descartando los segmentos que contribuirán de manera predominante con ruido a la señal sumada. La selección de contribución con segmentos de detector puede hacerse basándose en la señal detectada realmente o basándose en la posición conocida del haz estrecho.
Ventajas de la fabricación de centelleadores mediante extrusión
La extrusión, o proceso de “recubrimiento automático”, descrito anteriormente con referencia a las figuras 6A-6C, contrasta notablemente con métodos típicos para depositar material de centelleo policristalino, tal como BaFCl(Eu), sobre una trasera plana. El método de extrusión para fabricar fibras individuales con desplazamiento de longitud de onda recubiertas con un grosor uniforme de centelleador, tal como se enseñó anteriormente, produce fibras que pueden contornearse de manera que las restricciones en la forma de un detector Sc-WSF estén regidas principalmente por el requisito de una captura completa en la fibra mediante reflexión total interna. El concepto de fibras de acoplamiento recubiertas uniformemente proporciona mayor libertad al diseño de detectores de retrodispersión (BX) detectores, especialmente detectores manuales y montados en robots, donde el espacio es escaso.
Detectores desplegables para aumentar la eficacia geométrica de rayos X dispersados
Algunos sistemas de rayos X móviles, tales como aquellos descritos, por ejemplo, en las patentes estadounidenses n°. 5.764.683, de Swift et al. y n.° 7.099.434, Chalmers et al. usan el método of retrodispersión de rayos X (BX) para inspeccionar coches y camiones desde un lado. El primero usa detectores desplegados fuera de un transportador durante el funcionamiento, mientras que el segundo usa un área de detector totalmente contenida dentro de un cerramiento, concretamente la cubierta de un transportador. Ambos usan detectores de zona amplia para maximizar la eficacia de detección de los rayos X dispersados. La cobertura de detector de retrodispersión de zona en el caso de un producto según las enseñanzas de la patente 434 de Chalmers cubre aproximadamente 20 pies cuadrados de la superficie interior de un cerramiento que está enfrentado al objetivo. Esta área de detector cubierta tiene una eficacia geométrica relativamente pobre para recoger la radiación dispersada desde objetivos altos o bajos. El perfil geométrico intrínsecamente profundo de tales detectores, necesario para la captura directa de la luz de centelleo por fotomultiplicadores, es un impedimento para el despliegue fuera del furgón.
Definiciones: tal como se usa en el presente documento, y en cualquier reivindicación adjunta, el término “detector para zonas amplias” se referirá a cualquier detector único, o a cualquier módulo de detector, que subtienda un ángulo de apertura de al menos 30° en cada una de las dos direcciones transversales ortogonales tal como se ven desde un punto en un objeto sometido a inspección, de manera equivalente, caracterizado por un ángulo espacial de al menos n esterorradianes.
Un “transportador” será cualquier dispositivo caracterizado por una plataforma soportada sobre elementos que
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
hacen contacto con el suelo tales como ruedas, raíles, peldaños, patines, etc., usados para transportar equipos desde una ubicación hasta otra.
Un detector de Sc-WSF, según realizaciones de la presente invención, hace práctico el almacenamiento sin obstrucción de detectores para zonas amplias que pueden desplegarse rápidamente fuera del furgón en posiciones que acrecientan sustancialmente la eficacia de detección.
Haciendo ahora referencia a la figura 9, se muestra un detector de Sc-WSF de tipo toldo para zonas amplias 1101 en una posición recogida, almacenada en el techo de un furgón de inspección de retrodispersión 1103, y se muestra un detector delgado de faldón 1105 en una posición recogida por encima de una rueda del furgón de inspección de retrodispersión. En la figura 10, tanto el detector de techo como el de faldón se muestran desplegados para aumentar el ángulo sólido para detectar objetivos más altos y más bajos, respectivamente; el detector de toldo se despliega por encima de un objeto inspeccionado durante el transcurso de la inspección, mientras que el detector de faldón se despliega, al menos en parte, por debajo de la plataforma del transportador. En otra realización de la invención, descrita con referencia a la figura 11, puede desplegarse un detector de toldo 1301 para objetivos bajos cercanos, tales como para la detección de contrabando en el maletero o lado más alejado de un coche 1303. El detector de toldo 1301 puede deslizarse hacia fuera desde un techo del transportador antes de la operación de inspección. La figura 11 muestra también el despliegue of Detectores de faldón Sc-WSF 1105 usados para examinar eficazmente los neumáticos, pasos de rueda, y el interior de vehículos cercanos.
Detectores de energía doble y múltiple para la detección de transmisión de haces estrechos de rayos X de escaneo
Los haces estrechos de escaneo de rayos X no solo revelan objetos interiores analizando la radiación retrodispersada sino que, en algunas aplicaciones, pueden obtener información adicional mediante el análisis simultáneo de radiación de transmisión (TX) y dispersada hacia delante (FX) radiación. No es necesario que los detectores de TX y FX estén segmentados dado que la zona de sección transversal del haz estrecho, junto con el tiempo de integración de la señal define el tamaño de píxel. Además, solamente es necesario que los detectores de TX y FX sean detectores de energía total dado que, en la mayoría de aplicaciones, el flujo de los rayos X de TX o FX es demasiado alto para contar impulsos. Las pantallas de centelleo son los detectores tradicionales para tales aplicaciones de haz de escaneo. Los detectores Sc-WSF extienden sustancialmente el intervalo de aplicaciones de los detectores de centelleo de TX y FX actuales, como dejan claro los siguientes ejemplos.
TX para haces de rayos X de hasta al menos 250 keV
La eficacia de absorción de las pantallas de centelleo tradicionales, fabricadas, por ejemplo, of BaFCl(Eu) o Gadox, baja por debajo de 50% para energías de rayos X por encima de ~80 keV. El punto del 50% para dos capas es de aproximadamente 100 keV. Para hacerlo distinguible, el detector de Sc-WSF puede fabricarse con más de dos capas de centelleadores sin aumentar sustancialmente el perfil del detector. Un detector Sc-WSF económico, con 4 capas, puede usarse para TX con haces de escaneo de rayos X generados por un tubo de rayos X de 140 keV estándar. Un detector de múltiples capas tal como el detector de 9 capas, tal como se muestra en la figura 12, y ahí designado generalmente por el número de referencia 1400, puede ser altamente eficaz para rayos X detectores 1402 emitidos por un tubo de rayos X de 225 keV estándar (no mostrado), tal como el que se usa en la inspección de rayos X de vehículos a través de portales. Se muestran capas 1404 de material de centelleador, y fibras de WSF 1406 acopladas a fotodetectores 1408.
Detector TX transportable para un dispositivo de obtención de imágenes arriba-abajo en inspección de portales de tres lados
El perfil delgado del detector de transmisión (TX) de múltiples capas hace práctico un detector de transmisión (TX) sobre carretera. Las figuras 13A y 13B muestran tal detector en el interior de un badén de control de velocidad 1131 de 2 pulgadas de alto lo suficientemente fuerte como para soportar un remolque de tractor completamente cargado, y que no requiere ninguna excavación del suelo para su despliegue. La fuente 1132 de radiación penetrante emite un haz en abanico 1134 que incide sobre un conjunto de detector lineal 1135 dentro del armazón 1136 del badén de control de velocidad 1131 o un saliente similar por encima de una superficie subyacente. El conjunto de detector 1135 incluye segmentos de material de centelleador 1137 separados por hojas 1138 de número atómico alto. Tal como se describió anteriormente, por ejemplo con referencia a la figura 4, se acopla luz de centelleo a fotodetectores por medio de fibras ópticas con desplazamiento de longitud de onda 1139.
Detector TX segmentado para determinar el perfil de intensidad de haz de escaneo
Haciendo ahora referencia a las figuras 14A y 14B, un detector de transmisión detectado, designado generalmente por el número de referencia 1141, se muestra para medir un perfil de intensidad de haz de escaneo de rayos X incidentes 1143. La alineación del detector de Sc-WSF 1141 (usado en la transmisión) con el plano de un haz estrecho de escaneo presenta un obstáculo significativo cuando el detector TX se despliega para un sistema de seguridad móvil. La figura 14B muestra a sección transversal de un detector de Sc-WSF vertical 1141 (denominado por otra parte en el presente documento, cuando sea apropiado, “detector de transmisión” o “detector TX”) con lectura independiente de las fibras 1145 de los WSF, proporciona los medios para medir simultáneamente tanto la intensidad transmitida de cada píxel y la distribución lineal a través de la anchura de haz para determinar su posición
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
centroide. Se encaminan fibras 1145 en manojos 1147 a fotodetectores 1149 individuales tales como PMT. Puede extenderse la distribución de la intensidad para obtener la intensidad de dispersión hacia delante, que contiene información útil acerca del material de dispersión, y proporciona una medida de la radiación dispersada hacia dentro que se cuenta como intensidad de transmisión.
La posición relativa del plano de detector y el plano de rayos X de escaneo puede controlarse automáticamente. El detector para este concepto se muestra esquemáticamente en la figura 14A. Puede proporcionarse una superficie reflectante 1148 en un extremo del detector 1141 distal con respecto a los fotodetectores 1149.
Con un único canal de datos para una señal de transmisión, la resolución espacial a lo largo de la dirección de tráfico (transversal con respecto a un haz de rayos X iluminador con forma de abanico) se determina por la más pequeña de las siguientes dos dimensiones: la anchura de la área de detector sensible o el tamaño de haz a lo largo del detector TX (con fines heurísticos, no se consideran casos de submuestreo en esta descripción). Puede mejorarse la resolución espacial, sin embargo, estrechando la área de detector sensible, tal como se describe ahora con referencia a la figura 14C. Según realizaciones de la presente invención, la resolución espacial a lo largo de la dirección del tráfico (a lo largo de la línea de detector) se acrecienta empleando múltiples detectores de un grupo de detectores 1450 asociados con una pluralidad de canales (A, B, C, en la figura 14C) y entrelazando sus zonas sensibles. El espaciado del patrón de entrelazado depende de la anchura de haz a lo largo del detector. Idealmente el espaciado (es decir, la distancia entre dos detectores 1451 y 1454 asociados con un único canal “A”) tiene que ser lo suficientemente amplio de manera que dos segmentos de detector del mismo canal de detección no reciben radiación directa procedente del haz al mismo tiempo. El perfil de intensidad de haz se representa por el número de referencia 1456. Por motivos prácticos el requisito no es tan estricto, dado que es aceptable alguna cantidad de diafonía entre píxeles. Es necesario entrelazar las imágenes múltiples resultantes, empleando cualquier método, incluyendo métodos bien conocidos en la técnica, para crear una imagen de mayor resolución. Obsérvese que la mejora de la resolución espacial en el detector se produce a costa del flujo y está, por tanto, limitada por consideraciones de señal-ruido.
Otra configuración incluye una combinación del detector vertical 1141 mostrado en la figura 14A con el detector de carretera horizontal 1135 de la figura 13B para formar un detector en forma de L que, ventajosamente, se configura y alinea fácilmente.
En aún otro ejemplo no cubierto por la invención, se segmenta un grupo de detectores de transmisión 1450 (independientemente de la orientación geométrica, ya sea vertical, horizontal, en forma de L, etc.) en una pluralidad de unidades; tales como B, C y A de la figura 14C. Tal como se muestra, el perfil de haz 1456 es simétrico con respecto a la banda A de manera que la razón de las intensidades medidas es una unidad. Si, por cualquier motivo, la alineación cambia, esa razón cambia drásticamente. Si la alineación se desvía cuando un haz estrecho de rayos X de iluminación escanea hacia arriba y hacia abajo, el cambio en la razón de A/B mide tanto el desfase como el desplazamiento lateral. Los datos recogidos pueden corregirse entonces para tal desplazamiento línea por línea.
Detectores TX de energía doble y energía múltiple para identificación de materiales
Separar las señales de capas frontales y traseras de centelleadores permite que la capa frontal proporcione una medida del componente de baja energía de cada píxel mientras que la capa trasera proporciona una medida of los componentes de alta energía. Poner una capa de material absorbente entre los centelleadores frontales y traseros es una forma habitual para acrecentar la diferencia entre componentes de alta y baja energía, y eso se realiza fácilmente con un detector Sc-WSF.
El detector Sc-WSF hace práctico un detector de energía doble que consiste en una capa de Sc-WSF, tal como BaFCl-WSF, encima de un detector de centelleador plástico; el BaFCl es sensible a los rayos X de baja energía y no a los rayos X de alta energía, mientras que el detector plástico es sensible a los rayos X de alta energía y muy poco sensible a rayos X de baja energía.
Puede fabricarse un discriminador de material alternativo y potencialmente más efectivo usando más de dos capas independientes de Sc-WSF, con lecturas independientes para cada capa. Un absorbedor pasivo, tal como un grosor apropiado de cobre, puede insertarse después del Sc-WSF superior para acrecentar la aplicación de energía doble, tal como se practica con detectores segmentados. Alternativamente, el centelleador central puede usarse como capa absorbente activa. La medición de tres parámetros independientes permite obtener una medida tanto del número atómico promedio de los materiales atravesados así como del grado de endurecimiento del haz. El Sc-WSF puede extenderse adicionalmente para obtener más de tres valores de energía para cada píxel, siendo el límite las incertidumbres estadísticas, que aumentan con el número de componentes. El detector 1400 mostrado en la figura 12 es un ejemplo extremo de tal detector.
Una aplicación importante del TX de energía doble es para escáneres de personal de rayos X en terminales de aeropuerto. Proporcionar imágenes de TX simultáneamente con BX ha demostrado ser útil para la inspección. Añadir energía doble a las imágenes de TX ha sido impráctico hasta la fecha principalmente debido a las limitaciones de tamaño impuestas por los detectores convencionales. Sc-WSF elimina esas limitaciones y promete mejorar significativamente el rendimiento, dado que pueden apilarse múltiples detectores, con sensibilidades de
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
energía distintas, tal como se muestra en la figura 15, en la que un detector de energía doble (o múltiple) 1500 incluye un detector Sc-WSF 1508, sensible a un componente de rayos X incidentes 1501 de energía más baja, situado en frente de una plancha de centelleador plástico 1502, que es sensible a los rayos X de energía más alta. El detector de Sc-WSF 1508 contiene una lectura de centelleador 1504 mediante dos capas de fibras WS 1506.
Detector de radiación compacto de radiación gamma y de neutrones
El método Sc-WSF hace práctico un monitor de rayos gamma y de neutrones 1601 pequeño, ligero, económico. BaFCl(Eu)-WSF es bastante sensible a la radiación gamma mientras que es insensible a los neutrones, mientras que Li6F:ZnS(Ag)-WSF es insensible a rayos gamma y bastante sensible a la detección de neutrones térmicos. La figura 16 muestra una intercalación “Dagwood” de múltiples capas que consiste en una o más capas 1602 de BaFCl(Eu), leídas por un único fotodetector (no mostrado) por medio de fibras ópticas 1604, y una o más capas 1606 de Li6F:ZnS(Ag)-WSF, leídas por un segundo fotodetector independiente (no mostrado), ocupando los elementos activos un grosor de no más de uno o dos centímetros. Puede colocarse una capa apropiada de moderador de neutrones 1612, tal como polietileno, en ambos lados del Li6F:ZnS(Ag)-WSF para acrecentar la eficacia para detectar neutrones. Una lámina ópticamente reflectora 1608, tal como lámina de aluminio, limita el centelleo a regiones de detector respectivas.
La solicitud de patente estadounidense con número de serie 13/163,854 (de Rothschild), titulada “Detector with Active Colimadores,” describe un módulo de detector de retrodispersión 30 que aumenta la profundidad de inspección distinguiendo la dispersión de los campos cercano y lejano objetos inspeccionados, tal como se representa en la figura 17. El ángulo de un conjunto de hojas de colimación activas 31 puede ajustarse o bien una vez en la fábrica, o puede unirse a cualquier clase de dispositivo electromecánico proporcionado para ajustarlos dinámicamente, dependiendo del tipo y/o distancia del objeto que se escanea. La luz de centelleo procedente de las hojas de colimación se detecta por uno o más fotodetectores (por ejemplo, por PMTm 32 ubicados en la parte superior e inferior del compartimento frontal del detector). Un compartimento posterior 36 del detector está aislado ópticamente un compartimento frontal 35 por un deflector de luz 34, y la luz de centelleo procedente de los rayos X detectados en el compartimento posterior 36 se recogen por un segundo conjunto de uno o más fotodetectores (por ejemplo, PMT 37 montados en la cara posterior del detector. El compartimento posterior puede forrarse con pantalla de fósforo de centelleo, por ejemplo, o, en otras realizaciones de la invención, puede contener plástico o líquido centelleador.
Una adición útil a una unidad de retrodispersión estándar sería un colimador de “persiana veneciana” fabricado de centellador. Las lamas interceptan la radiación que no entra directamente a través de los huecos entre las lamas de manera que los detectores de caja detectan preferiblemente objetos interiores más profundos. Los colimadores activos registran la radiación rechazada. La luz procedente de los colimadores activos se detecta por PMT, cuya eficacia de recogida disminuye rápidamente a medida que disminuye el hueco entre colimadores. Reemplazar los PMT y hojas de centelleador con hojas que consisten en detectores de Sc-WSF resuelve carencias importantes y hace prácticos los colimadores de persiana veneciana. En primer lugar, la recogida de luz es independiente de la anchura del hueco entre hojas. En segundo lugar, la zona activa de los PMT o fotomultiplicadores de silicio usados para recoger la luz procedente de los colimadores activos es generalmente mucho menor que la zona activa de los PMT necesarios, de manera que el coste de los fotodetectores es menor. En tercer lugar, la colocación del fotodetector en el extremo de los manojos de WSF no es esencial para la eficacia de la recogida de luz. En cuarto lugar, las señales procedentes de los WSF desde cada lama pueden procesarse independientemente, proporcionando un alcance considerable para maximizar la información acerca del interior del objeto inspeccionado. En quinto lugar, la luz de las pantallas de centelleador delgadas en la parte frontal y trasera de cada hoja puede recogerse mediante WSF independientes, lo que puede mejorar significativamente la discriminación de profundidad.
Las figuras 18C y 18D ilustran (en perspectiva y en sección transversal, respectivamente) un colimador de WSF activo 181 sensible al impacto de rayos X desde ambos lados del centelleador. La luz de centelleo desde ambas regiones de centelleador 182 se acopla a fotodetectores por medio de fibras ópticas de desplazamiento de longitud de onda 183. Las figuras 18A y 18B muestran (en perspectiva y en sección transversal, respectivamente) un colimador de WSF activo 185 con lecturas independientes 187 separadas por un absorbedor de rayos X hermético a la luz 189 para distinguir la radiación que incide en cada cara. Por ejemplo, cada colimador 185 puede consistir, en una realización, en dos capas de detectores de Sc-WSF 182, conteniendo cada uno una densidad de zona de 60mg BaFCl:Eu por cm2. El absorbedor de rayos X hermético a la luz 189 puede consistir en una capa delgada de estaño, que también proporciona soporte estructural.
Detectores para minisistemas de inspección de retrodispersión
La delgadez de los detectores de Sc-WSF proporciona un potencial único para aplicaciones en las que bajo peso y potencia sean esenciales. Haciendo referencia a las figuras 19A y 19B, un sistema de obtención de imágenes manual 193 es un ejemplo de tal aplicación. Los requisitos de potencia, tiempo de inspección y calidad de la imagen, se ven todas afectadas por el ángulo sólido de detección. Un detector tradicional con, por ejemplo, una sección transversal de 10 cm x 10 cm (100 cm2) pesa aproximadamente medio kilogramo. Un cubo de 10 cm de Sc-WSF, que pese no más del doble, puede fabricarse de detectores de Sc-WSF de 10 cm x 10 cm individuales, cada uno de ellos con menos de 5mm de grosor, que puede desdoblarse para presentar una zona de detección de
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
retrodispersión de al menos 2.000 cm2, un aumento de veinte veces en este ejemplo. La cobertura de detección adicional puede realizar una mejora de orden de magnitud en el rendimiento del sistema manual.
El perfil delgado de los detectores de Sc-WSF descritos en el presente documento hace posible encajar detectores contorneados en espacios estrechos. Por ejemplo, pueden adaptarse detectores para escáneres de personal limitados a encajar en espacios de inspección de aeropuerto angostos.
La figura 19 muestra un ejemplo en el que cuatro detectores 191 se pliegan o se deslizan fuera del escáner manual 193 para aumentar sustancialmente la eficacia de detección, especialmente para objetos ocultados más profundamente en el objeto que se inspecciona. Los detectores de retrodispersión 195 se extiende sobre ambos lados del haz irradiador 197.
Inspección de retrodispersión del lado inferior de vehículos detenidos
La inspección del lado inferior de vehículos por un sistema de retrodispersión de rayos X portátil presenta problemas especiales. El espacio con respecto a la carretera de los coches no es de más de 8” y puede ser tan pequeña como 6”. Sistemas de inspección fijos, tales como portales, pueden colocar un detector en el suelo, o, tal como se describió anteriormente, pueden colocarse en el suelo usando Sc-WSF. No se han desarrollado nunca sistemas de inspección bajo vehículos móviles, sin embargo, que son necesarios para la seguridad en muchas áreas. Los inspectores dependen de herramientas de inspección pasivas tales como espejos y cámaras, que pueden pasar por alto contrabando en el depósito de combustible o que está camuflado para parecer inocuo.
Los detectores Sc-WSF hacen práctico un sistema de retrodispersión de rayos X que no es de más de 6” de alto. Se describe ahora un boceto de un sistema práctico con referencia a las figuras 20A y 20B. La fuente de rayos X consiste en un escáner electromagnético 221 de un haz de electrodo a través de un ánodo. El escáner electromagnético 221 está impulsado por un módulo de electrónica 223.Los rayos X se someten a colimación por un grupo de aberturas lineales 225 que abarcan, por ejemplo, 30” del lado inferior en una pasada. Los detectores de Sc-WSF 227 se montan en cada lado del tubo de rayos X para detectar rayos X 236 retrodispersados desde el vehículo 229. Pueden montarse apropiadamente suministros de alimentación, procesadores de impulso e imagen. El bastidor 234 de la unidad de inspección 230 sobre ruedas 232 puede adaptarse para maniobrarse bajo el vehículo 229 mediante control a motor o manual.
Inspección de transmisión móvil con segmentos de grupo de detectores en forma de L
Según otro ejemplo no cubierto por la presente invención, se describe ahora un sistema de inspección móvil, designado generalmente por el número de referencia 240, con referencia a las figuras 21A y 21B. Se transmite una fuente de radiación penetrante (no mostrada, y descrita, en el presente documento, sin limitación, en términos de rayos X) dentro de una unidad de inspección móvil 241, que, normalmente, puede moverse por sus propios medios, aunque también puede remolcarse o transportarse de otra manera, dentro del alcance de la presente invención. Se emite un haz 242 de radiación penetrante desde la unidad de inspección móvil 241, o bien como un haz estrecho barrido o bien como un haz en abanico, emitido en cualquiera de los dos casos en el plano designado como que representa al haz 242 en la figura 21A. El objeto inspeccionado 244, que puede ser un vehículo tal como se muestra, o de otro modo (tal como mercancía transportada), atraviesa el haz 242 durante el transcurso de la inspección, y, a medida que atraviesa, pasa por una unidad de detector en forma de L solidaria 245, como se describe ahora adicionalmente. La unidad de detector 245 tiene un segmento horizontal 246 y un segmento vertical 247, tal como se indica en la figura 21B.
Cada de uno de los segmentos horizontal y vertical 246 y 247 de la unidad de detector en forma de L 245 puede componerse por múltiples capas paralelas 249, que proporcionan resolución de energía doble, o más generalmente, múltiple, de rayos X detectados, para proporcionar identificación de materiales, tal como se describió anteriormente con referencia a la figura 12. Adicionalmente, el segmento de grupo de detectores vertical 247 puede tener múltiples segmentos de detector 248 en una dirección transversal a la dirección del haz 242 y sustancialmente a lo largo de la dirección del movimiento relativo entre el objeto inspeccionado 244 y el haz 242 para proporcionar una indicación de desviación o desplazamiento lateral de los detectores con respecto al haz, tal como se describió anteriormente con referencia a las figuras 14A- 14C. La unidad de detector en forma de L solidaria 245 puede transportarse a un sitio de inspección incorporado en la unidad de inspección móvil 241 o en un remolque 250 remolcado o que lo acompañe de otro modo, y puede ensamblarse, en parte, tras el despliegue en el sitio de inspección. Pueden emplearse elementos de ayuda para la alineación, tales como un láser de alineación 251, para establecer una posición y orientación apropiadas de la unidad de detector 245 en relación con la unidad de inspección móvil 241 y el haz 242.
Cuando los ejemplos presentados en el presente documento implican combinaciones específicas de actos de método o elementos de sistema, debe entenderse que esos actos y esos elementos pueden combinarse de otras maneras para lograr los mismos objetivos de detección de rayos X. Se pretende que las realizaciones de la invención descritas en el presente documento sean meramente a modo de ejemplo; para los expertos en la técnica serán evidentes variaciones y modificaciones.
Claims (6)
- 1.101520
- 2.
- 3. 25
- 4.
- 5.30 6.35 7.
- 8.40 9.REIVINDICACIONESDetector de radiación de rayos X que tiene un grosor y un área, comprendiendo el detector de rayos X:a. un primer volumen de medio de centelleo (403, 1404) para convertir energía de radiación de rayos X incidente en una primera luz de centelleo;b. una primera pluralidad de guías de ondas ópticas de desplazamiento de longitud de onda (701, 1406), alineadas sustancialmente en paralelo entre sí en una primera región de extracción de luz de centelleo contigua al primer volumen (403, 1404) de medio de centelleo, para guiar luz derivada de, y en una primera longitud de onda más larga que la de, la primera luz de centelleo;c. un segundo volumen de medio de centelleo (403, 1404) para convertir energía de radiación de rayos X incidente que ha atravesado el primer volumen de medio de centelleo (403, 1404) en una segunda luz de centelleo;d. una segunda pluralidad de guías de ondas ópticas de desplazamiento de longitud de onda (702, 1406), alineadas sustancialmente en paralelo entre sí en una segunda región de extracción de luz de centelleo contigua al segundo volumen de medio de centelleo, para guiar luz derivada de, y en una segunda longitud de onda más larga que la de, la segunda luz de centelleo;e. un primer fotodetector (805, 1408) para detectar fotones en la primera longitud de onda guiada por la primera pluralidad de guías de ondas (701, 1406) y para generar una primera señal de detector; yf. un segundo fotodetector (805, 1408) para detectar fotones en la segunda longitud de onda guiada por la segunda pluralidad de guías de ondas (702, 1406) y para generar una segunda señal de detector;en el que los volúmenes primero y segundo (403, 1404) de medio de centelleo están caracterizados por sensibilidades espectrales distintas a la radiación de rayos X incidente.Detector según la reivindicación 1, que comprende además un circuito integrador para integrar la señal de detector a lo largo de un periodo de tiempo especificado.Detector según la reivindicación 1, en el que al menos uno del primer medio de centelleo y el segundo medio de centelleo incluye fluorocloruro de bario.Detector según la reivindicación 1, en el que al menos uno de los fotodetectores primero y segundo (805, 1408) incluye un fotomultiplicador.Detector según la reivindicación 1, en el que el cuadrado del grosor del detector dividido por el área del detector es menor de 0,001.Detector según la reivindicación 1, en el que al menos una de las guías de ondas ópticas de desplazamiento de longitud de onda (1406) carece de revestimiento y el medio de centelleo desde el cual se deriva la luz guiada por la al menos una guía de ondas ópticas de desplazamiento de longitud de onda está caracterizado por un índice de refracción de valor inferior a un índice de refracción que caracteriza la al menos una guía de ondas óptica de desplazamiento de longitud de onda (1406).Detector según la reivindicación 1, en el que las pluralidades de guías de ondas ópticas (701, 702, 1406) están dispuestas en múltiples planos paralelos, conteniendo cada uno de los planos paralelos un subconjunto de las pluralidades de guías de ondas ópticas.Detector según la reivindicación 1, en el que volúmenes alternos de centelleador incluyen Li6F:ZnS(Ag) que se alterna con al menos uno de BaFCI(Eu) acoplado mediante fibra y BaFI(Eu) acoplado mediante fibra.Detector según la reivindicación 1, en el que el primer volumen de medio de centelleador (403, 1404) es preferiblemente sensible a rayos X de baja energía, y el segundo volumen de medio de centelleador (403, 1404) que es el último volumen es un centelleador plástico.
Applications Claiming Priority (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201261598576P | 2012-02-14 | 2012-02-14 | |
US201261598521P | 2012-02-14 | 2012-02-14 | |
US201261598576P | 2012-02-14 | ||
US201261598521P | 2012-02-14 | ||
US201261607066P | 2012-03-06 | 2012-03-06 | |
US201261607066P | 2012-03-06 | ||
PCT/US2013/024585 WO2013122763A1 (en) | 2012-02-14 | 2013-02-04 | X-ray inspection using wavelength-shifting fiber-coupled scintillation detectors |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
ES2685971T3 true ES2685971T3 (es) | 2018-10-15 |
Family
ID=48945537
Family Applications (4)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
ES13749372.2T Active ES2685971T3 (es) | 2012-02-14 | 2013-02-04 | Inspección de rayos X usando detectores de centelleo acoplados mediante fibra con desplazamiento de longitud de onda |
ES201600177U Expired - Fee Related ES1153640Y (es) | 2012-02-14 | 2013-02-04 | Aparato para detectar rayos X incidentes en el aparato |
ES201500706U Expired - Fee Related ES1154460Y (es) | 2012-02-14 | 2013-02-04 | Dispositivo de portal de inspección por rayos X |
ES201600176U Expired - Fee Related ES1153636Y (es) | 2012-02-14 | 2013-02-04 | Dispositivo de inspección por Rayos X para inspeccionar los bajos de un vehículo |
Family Applications After (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
ES201600177U Expired - Fee Related ES1153640Y (es) | 2012-02-14 | 2013-02-04 | Aparato para detectar rayos X incidentes en el aparato |
ES201500706U Expired - Fee Related ES1154460Y (es) | 2012-02-14 | 2013-02-04 | Dispositivo de portal de inspección por rayos X |
ES201600176U Expired - Fee Related ES1153636Y (es) | 2012-02-14 | 2013-02-04 | Dispositivo de inspección por Rayos X para inspeccionar los bajos de un vehículo |
Country Status (18)
Country | Link |
---|---|
US (4) | US9285488B2 (es) |
EP (1) | EP2825904B1 (es) |
JP (6) | JP2015513075A (es) |
KR (4) | KR102105727B1 (es) |
CN (4) | CN104204854B (es) |
BR (1) | BR112014019517B1 (es) |
CA (2) | CA2864354C (es) |
CL (1) | CL2014002144U1 (es) |
DE (2) | DE202013012100U1 (es) |
ES (4) | ES2685971T3 (es) |
GT (1) | GT201400009U (es) |
HK (3) | HK1202633A1 (es) |
IL (3) | IL234076B (es) |
MX (1) | MX337476B (es) |
PE (1) | PE20150237Z (es) |
PL (2) | PL125062U1 (es) |
RU (1) | RU2606698C2 (es) |
WO (1) | WO2013122763A1 (es) |
Families Citing this family (67)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9958569B2 (en) | 2002-07-23 | 2018-05-01 | Rapiscan Systems, Inc. | Mobile imaging system and method for detection of contraband |
US10898732B2 (en) * | 2010-04-16 | 2021-01-26 | Maureen Petterson | Multi-color charged particle detector apparatus and method of use thereof |
US10532228B2 (en) * | 2010-04-16 | 2020-01-14 | Maureen Petterson | Multi-color charged particle detector apparatus and method of use thereof |
WO2011163108A2 (en) * | 2010-06-21 | 2011-12-29 | American Science And Engineering, Inc. | Detector with active collimators |
PL3252506T3 (pl) | 2011-02-08 | 2021-05-31 | Rapiscan Systems, Inc. | Tajny nadzór przy użyciu wykrywania multimodalnego |
CA2864354C (en) * | 2012-02-14 | 2023-02-28 | American Science And Engineering, Inc. | X-ray inspection using wavelength-shifting fiber-coupled scintillation detectors |
US10670740B2 (en) | 2012-02-14 | 2020-06-02 | American Science And Engineering, Inc. | Spectral discrimination using wavelength-shifting fiber-coupled scintillation detectors |
US9182361B2 (en) | 2013-05-28 | 2015-11-10 | Ann Arbor Digital Devices Inc. | Digital X-ray imaging system with still and video capture modes |
RO130582B1 (ro) * | 2014-01-23 | 2021-12-30 | Mb Telecom Ltd. S.R.L. | Sistem şi metodă pentru inspecţia completă şi neintruzivă a aeronavelor |
WO2015131105A1 (en) * | 2014-02-27 | 2015-09-03 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Scintillator stack, device including the scintillator stack, and method for making the scintillator stack |
WO2015131124A1 (en) * | 2014-02-27 | 2015-09-03 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Scintillator stack, device including the scintillator stack, and method for making the scintillator stack |
US9867271B2 (en) | 2014-05-16 | 2018-01-09 | American Science And Engineering, Inc. | Source for intra-pulse multi-energy X-ray cargo inspection |
US11266006B2 (en) | 2014-05-16 | 2022-03-01 | American Science And Engineering, Inc. | Method and system for timing the injections of electron beams in a multi-energy x-ray cargo inspection system |
US10459111B2 (en) * | 2014-05-23 | 2019-10-29 | Radiabeam Technologies, Llc | System and method for adaptive X-ray cargo inspection |
CN104035123B (zh) * | 2014-06-27 | 2017-02-15 | 中国电子科技集团公司第八研究所 | 一种基于闪烁体与光纤耦合的β表面污染探测装置及方法 |
US10228487B2 (en) | 2014-06-30 | 2019-03-12 | American Science And Engineering, Inc. | Rapidly relocatable modular cargo container scanner |
CN105425273A (zh) * | 2014-09-17 | 2016-03-23 | 中国科学技术大学 | 一种用于测量高通量x射线能谱的吸收体阵列的装置及方法 |
US10762998B2 (en) * | 2014-11-20 | 2020-09-01 | Viken Detection Corporation | X-ray scanning system |
MX2017009342A (es) * | 2015-01-20 | 2017-11-17 | American Science & Eng Inc | Punto focal dinamicamente ajustable. |
DE102015101764A1 (de) * | 2015-02-06 | 2016-08-11 | Thermo Fisher Scientific Messtechnik Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Detektion von radioaktiver Strahlung |
PL3265851T3 (pl) | 2015-03-04 | 2021-05-31 | Rapiscan Systems, Inc. | Detektor wieloenergetyczny |
PL3271709T3 (pl) | 2015-03-20 | 2023-02-20 | Rapiscan Systems, Inc. | Ręczny przenośny system kontroli rozpraszania wstecznego |
US9753151B2 (en) | 2015-07-31 | 2017-09-05 | General Electric Company | Light guide array for pet detector fabrication methods and apparatus |
US10656304B2 (en) | 2015-09-10 | 2020-05-19 | American Science And Engineering, Inc. | Backscatter characterization using interlinearly adaptive electromagnetic X-ray scanning |
GB2557067B (en) | 2015-09-15 | 2021-08-18 | Halliburton Energy Services Inc | Downhole photon radiation detection using scintillating fibers |
WO2017083073A1 (en) * | 2015-11-09 | 2017-05-18 | American Science And Engineering, Inc. | Mobile x-ray scan speed control |
WO2017219225A1 (en) * | 2016-06-21 | 2017-12-28 | Shenzhen Genorivision Technology Co. Ltd. | Biosensor |
GB2552537B (en) * | 2016-07-28 | 2020-05-27 | Smiths Heimann Sas | Inspection system with source of radiation and method |
EP3505919B1 (en) * | 2016-08-25 | 2024-07-17 | Beijing Hualixing Technology Development Co., Ltd. | Imaging device for use in vehicle security check and method therefor |
CN106290427A (zh) * | 2016-10-17 | 2017-01-04 | 北京君和信达科技有限公司 | 背散射成像方法及系统 |
CN106483153A (zh) * | 2016-12-23 | 2017-03-08 | 同方威视技术股份有限公司 | 双能探测器及辐射检查系统 |
CN106526688A (zh) * | 2016-12-28 | 2017-03-22 | 同方威视技术股份有限公司 | 背散射检查车 |
US10393680B2 (en) * | 2017-01-18 | 2019-08-27 | The Boeing Company | X-ray sidescatter inspection of laminates |
CN110199373B (zh) | 2017-01-31 | 2021-09-28 | 拉皮斯坎系统股份有限公司 | 大功率x射线源与操作方法 |
WO2018156718A1 (en) * | 2017-02-25 | 2018-08-30 | Anatoly Glass, LLC. | Converter plate for producing polychromatic light |
US10770195B2 (en) | 2017-04-05 | 2020-09-08 | Viken Detection Corporation | X-ray chopper wheel assembly |
DE102017108535A1 (de) * | 2017-04-21 | 2018-10-25 | Grünbeck Wasseraufbereitung GmbH | Membranmodul sowie Vorrichtung und Verfahren zur Detektion von Ablagerungen in einem Membranmodul |
WO2018208559A1 (en) * | 2017-05-08 | 2018-11-15 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Article including a body including a fluorescent material and a wavelength shifting fiber, a radiation detector including the article, and a method of using the same |
JP2018141767A (ja) * | 2017-07-13 | 2018-09-13 | 三菱電機プラントエンジニアリング株式会社 | タイヤハウス汚染検査装置およびタイヤハウス汚染自動検査方法 |
CN108008458B (zh) * | 2017-12-29 | 2020-09-08 | 同方威视技术股份有限公司 | 车载背散射检查系统 |
CN108227027B (zh) * | 2017-12-29 | 2020-12-01 | 同方威视技术股份有限公司 | 车载背散射检查系统 |
US10114131B1 (en) | 2018-01-05 | 2018-10-30 | Consolidated Nuclear Security, LLC | Scintillator based fiber optic plate for neutron imaging applications and the like |
US10794843B2 (en) * | 2018-02-02 | 2020-10-06 | Viken Detection Corporation | System and kit for x-ray backscatter imaging with removable detector |
GB2590561B (en) * | 2018-06-20 | 2021-12-08 | American Science & Eng Inc | Wavelength-shifting sheet-coupled scintillation detectors |
IL260956B (en) * | 2018-08-02 | 2022-01-01 | Applied Materials Israel Ltd | Electron detection sensor |
DE102018220135A1 (de) * | 2018-11-23 | 2020-05-28 | Siemens Healthcare Gmbh | Röntgendetektor, Bildgebungsvorrichtung und Verfahren zum Betrieb eines Röntgendetektors |
CN109444182B (zh) * | 2018-12-22 | 2024-07-23 | 苏州瑞派宁科技有限公司 | 一种闪烁晶体测试装置 |
US11112370B2 (en) * | 2019-01-04 | 2021-09-07 | The Boeing Company | Reconfigurable backscatter detector |
EP3908670A4 (en) * | 2019-01-08 | 2023-04-05 | American Science & Engineering, Inc. | SPECTRAL DISCRIMINATION USING FIBER COUPLED SCINTILLATION DETECTORS WITH WAVELENGTH SHIFTING |
CN109828300B (zh) * | 2019-01-31 | 2023-05-05 | 兰州空间技术物理研究所 | 一种小型化全向空间粒子探测器 |
CN109655874B (zh) * | 2019-02-25 | 2020-04-10 | 衡阳师范学院 | 闪烁室测氡装置和方法 |
US10830714B1 (en) * | 2019-07-26 | 2020-11-10 | The Boeing Company | Portable X-ray backscattering system |
JP2022542383A (ja) | 2019-07-29 | 2022-10-03 | サン-ゴバン セラミックス アンド プラスティクス,インコーポレイティド | プラスチック波長シフトファイバおよびその作製方法 |
EP4053856A4 (en) * | 2019-10-31 | 2023-11-29 | Kuraray Co., Ltd. | PLASTIC SCINTILLATION FIBER AND PROCESS FOR PRODUCTION THEREOF |
CN110988964B (zh) * | 2019-12-09 | 2022-11-22 | 上海大学 | 复合型光纤辐射探测器 |
RU2730392C1 (ru) * | 2020-01-14 | 2020-08-21 | Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом") | Сцинтилляционный детектор нейтронов |
US11193898B1 (en) | 2020-06-01 | 2021-12-07 | American Science And Engineering, Inc. | Systems and methods for controlling image contrast in an X-ray system |
WO2021247615A1 (en) | 2020-06-02 | 2021-12-09 | Viken Detection Corporation | X-ray imaging apparatus and method |
US11175245B1 (en) | 2020-06-15 | 2021-11-16 | American Science And Engineering, Inc. | Scatter X-ray imaging with adaptive scanning beam intensity |
EP3933881A1 (en) | 2020-06-30 | 2022-01-05 | VEC Imaging GmbH & Co. KG | X-ray source with multiple grids |
WO2022059298A1 (ja) * | 2020-09-16 | 2022-03-24 | 株式会社クラレ | プラスチックシンチレーションファイバ及びその製造方法 |
JPWO2022079957A1 (es) * | 2020-10-15 | 2022-04-21 | ||
US11340361B1 (en) | 2020-11-23 | 2022-05-24 | American Science And Engineering, Inc. | Wireless transmission detector panel for an X-ray scanner |
EP4086668A3 (en) * | 2021-05-05 | 2023-02-15 | Varex Imaging Corporation | Backscatter imaging system |
EP4105691A1 (en) | 2021-06-16 | 2022-12-21 | Soletanche Freyssinet | Gamma and neutron radiation detector |
US12019035B2 (en) | 2021-07-16 | 2024-06-25 | Rapiscan Holdings, Inc. | Material detection in x-ray security screening |
CN114180291B (zh) * | 2021-11-10 | 2022-08-05 | 深圳市日联科技有限公司 | 叠片电池视觉纠偏装置及纠偏方法 |
Family Cites Families (152)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4045672A (en) | 1975-09-11 | 1977-08-30 | Nihon Denshi Kabushiki Kaisha | Apparatus for tomography comprising a pin hole for forming a microbeam of x-rays |
US4242583A (en) | 1978-04-26 | 1980-12-30 | American Science And Engineering, Inc. | X-ray imaging variable resolution |
US4259582A (en) * | 1979-11-02 | 1981-03-31 | Albert Richard D | Plural image signal system for scanning x-ray apparatus |
JPS60159675A (ja) * | 1984-01-31 | 1985-08-21 | Shimadzu Corp | 放射線検出器 |
US4788436A (en) | 1986-12-24 | 1988-11-29 | Walter Koechner | Radiation sensitive optical fiber and detector |
DE3841136A1 (de) * | 1988-12-07 | 1990-06-13 | Hoechst Ag | Strahlungsdetektor |
US5281820A (en) * | 1988-07-12 | 1994-01-25 | Hoechst Aktiengesellschaft | Radiation detector |
JPH03257391A (ja) * | 1990-03-08 | 1991-11-15 | Mitsubishi Atom Power Ind Inc | X線照射分布計測装置 |
US5784507A (en) * | 1991-04-05 | 1998-07-21 | Holm-Kennedy; James W. | Integrated optical wavelength discrimination devices and methods for fabricating same |
DE69205652T2 (de) | 1991-06-21 | 1996-05-23 | Toshiba Kawasaki Kk | Röntgendetektor und Untersuchungssystem. |
JPH0627249A (ja) * | 1992-07-13 | 1994-02-04 | Toshiba Corp | 放射線検査装置 |
US5420959A (en) | 1992-12-17 | 1995-05-30 | Nanoptics Incorporated | High efficiency, high resolution, real-time radiographic imaging system |
JP3496958B2 (ja) * | 1993-09-01 | 2004-02-16 | 富士写真フイルム株式会社 | 放射線検出器、画像読出処理条件決定方法および照射野認識方法 |
JPH07211877A (ja) * | 1994-01-21 | 1995-08-11 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線像検出器及び放射線像検出装置 |
FR2716012B1 (fr) * | 1994-02-09 | 1996-04-12 | Corning Inc | Procédé et dispositif d'assemblage d'extrémités de fibres optiques disposées en nappe. |
US5600144A (en) | 1994-05-10 | 1997-02-04 | Trustees Of Boston University | Three dimensional imaging detector employing wavelength-shifting optical fibers |
FR2725722B1 (fr) * | 1994-10-14 | 1997-01-03 | Atochem Elf Sa | Copolymere fluore a tenue thermique amelioree, son procede de preparation et son utilisation comme revetement protecteur de substrats |
CN1161103A (zh) * | 1995-06-27 | 1997-10-01 | 菲利浦电子有限公司 | X射线检测器 |
GB2303938A (en) * | 1995-07-31 | 1997-03-05 | Stc Submarine Systems Ltd | Optical fibre cable having kingwire bearing extruded thermoplastic elastomer layers |
US5764683B1 (en) * | 1996-02-12 | 2000-11-21 | American Science & Eng Inc | Mobile x-ray inspection system for large objects |
JP3813656B2 (ja) * | 1996-03-07 | 2006-08-23 | 株式会社東芝 | 光ファイバ型大面積放射線モニタ |
DE19610538A1 (de) * | 1996-03-18 | 1997-09-25 | Deutsches Krebsforsch | Strahlungsermittlungsvorrichtung |
JPH10232284A (ja) * | 1997-02-19 | 1998-09-02 | Toshiba Corp | 波長シフト型放射線センサおよび放射線検出装置 |
JPH10288671A (ja) * | 1997-04-15 | 1998-10-27 | Toshiba Corp | 位置検出型放射線検出装置 |
US6078052A (en) | 1997-08-29 | 2000-06-20 | Picker International, Inc. | Scintillation detector with wavelength-shifting optical fibers |
WO1999013323A2 (en) | 1997-09-09 | 1999-03-18 | American Science And Engineering, Inc. | A tomographic inspection system |
US5968425A (en) | 1997-10-28 | 1999-10-19 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Methods for the continuous production of plastic scintillator materials |
US6151381A (en) | 1998-01-28 | 2000-11-21 | American Science And Engineering, Inc. | Gated transmission and scatter detection for x-ray imaging |
JPH11271453A (ja) * | 1998-03-25 | 1999-10-08 | Toshiba Corp | 放射線弁別測定方法および放射線弁別測定装置 |
JP2923500B1 (ja) * | 1998-06-04 | 1999-07-26 | 株式会社東芝 | 放射線検出器および放射線計測システム、並びに放射線計測プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
US6621888B2 (en) | 1998-06-18 | 2003-09-16 | American Science And Engineering, Inc. | X-ray inspection by coherent-scattering from variably disposed scatterers identified as suspect objects |
US6442233B1 (en) | 1998-06-18 | 2002-08-27 | American Science And Engineering, Inc. | Coherent x-ray scatter inspection system with sidescatter and energy-resolved detection |
EP1113291A4 (en) * | 1998-07-15 | 2002-03-06 | Keiichi Kuroda | RADIATION IMAGING DEVICE |
DE69924001T2 (de) | 1998-11-30 | 2006-02-09 | American Science & Engineering, Inc., Billerica | Röntgenstrahluntersuchungssystem mit kegel- und bleistiftstrahlen aus einer gemeinsamen quelle |
US6453007B2 (en) | 1998-11-30 | 2002-09-17 | American Science And Engineering, Inc. | X-ray inspection using co-planar pencil and fan beams |
US6320933B1 (en) | 1998-11-30 | 2001-11-20 | American Science And Engineering, Inc. | Multiple scatter system for threat identification |
US6421420B1 (en) | 1998-12-01 | 2002-07-16 | American Science & Engineering, Inc. | Method and apparatus for generating sequential beams of penetrating radiation |
US6249567B1 (en) * | 1998-12-01 | 2001-06-19 | American Science & Engineering, Inc. | X-ray back scatter imaging system for undercarriage inspection |
EP1147406A1 (en) | 1998-12-22 | 2001-10-24 | American Science & Engineering, Inc. | Unilateral hand-held x-ray inspection apparatus |
US6459764B1 (en) * | 1999-01-27 | 2002-10-01 | American Science And Engineering, Inc. | Drive-through vehicle inspection system |
JP2000235078A (ja) * | 1999-02-15 | 2000-08-29 | Toshiba Corp | 放射線検出用構造体と、それを用いた放射線検出器および放射線検査装置 |
JP2000304865A (ja) * | 1999-04-23 | 2000-11-02 | Hitachi Ltd | 光伝送式放射線計測装置及びその計測システム |
US6391434B1 (en) * | 1999-05-06 | 2002-05-21 | General Electric Company | Composite scintillator material and method of manufacture |
JP4313895B2 (ja) * | 1999-06-04 | 2009-08-12 | 株式会社東芝 | 放射線検出装置 |
JP2001013254A (ja) * | 1999-06-29 | 2001-01-19 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 平板状中性子線検出器及びこれを用いた中性子源計測装置 |
JP2001013250A (ja) * | 1999-06-30 | 2001-01-19 | Toshiba Corp | 汚染検査装置 |
US6546072B1 (en) | 1999-07-30 | 2003-04-08 | American Science And Engineering, Inc. | Transmission enhanced scatter imaging |
US7010094B2 (en) * | 2000-02-10 | 2006-03-07 | American Science And Engineering, Inc. | X-ray inspection using spatially and spectrally tailored beams |
US6459761B1 (en) | 2000-02-10 | 2002-10-01 | American Science And Engineering, Inc. | Spectrally shaped x-ray inspection system |
JP4351780B2 (ja) * | 2000-02-15 | 2009-10-28 | 株式会社東芝 | 放射線検出装置 |
US6671451B1 (en) | 2000-03-10 | 2003-12-30 | Wired Japan Co., Ltd. | Optical fiber, optical fiber cable, and radiation detecting system using such |
US8325871B2 (en) | 2000-03-28 | 2012-12-04 | American Science And Engineering, Inc. | Radiation threat detection |
US6576907B1 (en) * | 2000-06-01 | 2003-06-10 | Elgems Ltd. | High count rate gamma camera system |
JP2002071816A (ja) | 2000-08-29 | 2002-03-12 | Japan Atom Energy Res Inst | 2次元放射線および中性子イメージ検出器 |
US6907281B2 (en) * | 2000-09-07 | 2005-06-14 | Ge Medical Systems | Fast mapping of volumetric density data onto a two-dimensional screen |
JP4552020B2 (ja) * | 2001-01-29 | 2010-09-29 | 独立行政法人 日本原子力研究開発機構 | 放射線および中性子イメージ検出器 |
EP1428048A2 (en) | 2001-05-03 | 2004-06-16 | American Science & Engineering, Inc. | Nautical x-ray inspection system |
JP4203710B2 (ja) * | 2001-12-28 | 2009-01-07 | 株式会社日立メディコ | X線画像処理装置 |
US6542580B1 (en) * | 2002-01-15 | 2003-04-01 | Rapiscan Security Products (Usa), Inc. | Relocatable X-ray imaging system and method for inspecting vehicles and containers |
US7122804B2 (en) * | 2002-02-15 | 2006-10-17 | Varian Medical Systems Technologies, Inc. | X-ray imaging device |
US20040256565A1 (en) * | 2002-11-06 | 2004-12-23 | William Adams | X-ray backscatter mobile inspection van |
US8275091B2 (en) | 2002-07-23 | 2012-09-25 | Rapiscan Systems, Inc. | Compact mobile cargo scanning system |
US8503605B2 (en) | 2002-07-23 | 2013-08-06 | Rapiscan Systems, Inc. | Four sided imaging system and method for detection of contraband |
US7369643B2 (en) * | 2002-07-23 | 2008-05-06 | Rapiscan Security Products, Inc. | Single boom cargo scanning system |
US9958569B2 (en) | 2002-07-23 | 2018-05-01 | Rapiscan Systems, Inc. | Mobile imaging system and method for detection of contraband |
US6853707B2 (en) * | 2002-09-05 | 2005-02-08 | Agilent Technologies, Inc. | Shielded x-ray detector |
US7099434B2 (en) | 2002-11-06 | 2006-08-29 | American Science And Engineering, Inc. | X-ray backscatter mobile inspection van |
US20090257555A1 (en) | 2002-11-06 | 2009-10-15 | American Science And Engineering, Inc. | X-Ray Inspection Trailer |
US7505556B2 (en) | 2002-11-06 | 2009-03-17 | American Science And Engineering, Inc. | X-ray backscatter detection imaging modules |
US6927397B2 (en) * | 2002-12-03 | 2005-08-09 | Universities Research Association, Inc. | Systems and methods for detecting neutrons |
US7067079B2 (en) | 2002-12-03 | 2006-06-27 | Universities Research Association, Inc. | Extruded plastic scintillator including inorganic powders |
US6909098B2 (en) * | 2002-12-03 | 2005-06-21 | Universities Research Association Inc. | Systems and methods for detecting nuclear radiation in the presence of backgrounds |
US7149393B2 (en) * | 2002-12-09 | 2006-12-12 | Eastman Kodak Company | Apparatus and method for forming a fiber optic faceplate |
WO2004053472A1 (en) * | 2002-12-10 | 2004-06-24 | Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation A Body Corporate Established Under The Science And Industry Research Act 1949, As Amended, Carring On Scientific And Industrial Research | Radiographic equipment |
US6965662B2 (en) | 2002-12-17 | 2005-11-15 | Agilent Technologies, Inc. | Nonplanar x-ray target anode for use in a laminography imaging system |
US20040140431A1 (en) * | 2003-01-21 | 2004-07-22 | Cti Pet Systems, Inc. | Multi-application highly reflective grid array |
US20050058242A1 (en) | 2003-09-15 | 2005-03-17 | Peschmann Kristian R. | Methods and systems for the rapid detection of concealed objects |
US7054408B2 (en) * | 2003-04-30 | 2006-05-30 | General Electric Company | CT detector array having non pixelated scintillator array |
US7856081B2 (en) | 2003-09-15 | 2010-12-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Methods and systems for rapid detection of concealed objects using fluorescence |
US7366282B2 (en) | 2003-09-15 | 2008-04-29 | Rapiscan Security Products, Inc. | Methods and systems for rapid detection of concealed objects using fluorescence |
JP4406699B2 (ja) * | 2003-08-29 | 2010-02-03 | 独立行政法人 日本原子力研究開発機構 | 光ファイバを利用した放射線及び中性子検出器 |
JP2005214869A (ja) * | 2004-01-30 | 2005-08-11 | Toshiba Corp | 当量線量型放射線検出器 |
US7115875B1 (en) | 2004-02-17 | 2006-10-03 | Photodetection Systems, Inc. | PET scanner with photodetectors and wavelength shifting fibers |
PL1733213T3 (pl) | 2004-04-09 | 2010-07-30 | American Science & Eng Inc | Eliminowanie przesłuchu w bramce kontrolnej z rozpraszaniem wstecznym, zawierającej wiele źródeł, przez zapewnienie, że tylko jedno źródło emituje promieniowanie w tym samym czasie |
WO2005103759A1 (en) | 2004-04-20 | 2005-11-03 | Forimtech Sa | Large area radiation imaging detector |
US7141799B1 (en) * | 2005-03-30 | 2006-11-28 | Ut-Battelle, Llc | Fiber optic thermal/fast neutron and gamma ray scintillation detector |
US7471764B2 (en) | 2005-04-15 | 2008-12-30 | Rapiscan Security Products, Inc. | X-ray imaging system having improved weather resistance |
DE102005017557B4 (de) * | 2005-04-16 | 2010-11-04 | Mirion Technologies (Rados) Gmbh | Leichtgewichtiger Flächendetektor für Teilchenstrahlung kontaminierter Objekte |
US7335891B2 (en) * | 2005-06-27 | 2008-02-26 | General Electric Company | Gamma and neutron radiation detector |
EP1949139A2 (en) | 2005-10-24 | 2008-07-30 | American Science & Engineering, Inc. | X-ray inspection based on scatter detection |
KR100773993B1 (ko) * | 2006-03-10 | 2007-11-08 | (주)케이디티 | 광여기 시트 |
CL2007000849A1 (es) * | 2006-03-29 | 2008-02-15 | Australian Nuclear Science Tec | Metodo para determinar la distancia desde un punto de referencia de un marcador que emite radiacion, comprende medir la intensidad de la primera y segunda porciones penetrantes, determinar el cociente entre las intensidades y determinar la distancia |
EP2010943A2 (en) | 2006-04-21 | 2009-01-07 | American Science & Engineering, Inc. | X-ray imaging of baggage and personnel using arrays of discrete sources and multiple collimated beams |
JP4455534B2 (ja) * | 2006-05-09 | 2010-04-21 | 株式会社東芝 | 放射線検出器およびその製造方法 |
US8842808B2 (en) | 2006-08-11 | 2014-09-23 | American Science And Engineering, Inc. | Scatter attenuation tomography using a monochromatic radiation source |
RU2448342C2 (ru) | 2006-08-11 | 2012-04-20 | Эмерикэн Сайэнс Энд Энджиниэринг, Инк. | Система контроля объекта (варианты) |
US7924979B2 (en) | 2006-08-23 | 2011-04-12 | American Science And Engineering, Inc. | Scatter attenuation tomography |
KR20090046849A (ko) | 2006-08-23 | 2009-05-11 | 아메리칸 사이언스 앤 엔지니어링, 인크. | 산란 감쇠 단층 촬영 방법 |
WO2008127385A2 (en) * | 2006-10-24 | 2008-10-23 | Thermo Niton Analyzers Llc | Apparatus for inspecting objects using coded beam |
GB0626055D0 (en) * | 2006-12-29 | 2007-11-07 | Bae Systems Plc | Detection of ionising radiation |
US7842908B2 (en) * | 2007-08-14 | 2010-11-30 | Raytheon Company | Sensor for eye-safe and body-fixed semi-active laser guidance |
JP2011503624A (ja) * | 2007-11-19 | 2011-01-27 | アメリカン サイエンス アンド エンジニアリング,インコーポレイテッド | 人スクリーニングのための複数画像収集および合成 |
US8314399B2 (en) * | 2008-02-07 | 2012-11-20 | General Electric Company | Radiation detector with optical waveguide and neutron scintillating material |
GB0803640D0 (en) | 2008-02-28 | 2008-04-02 | Rapiscan Security Products Inc | Scanning systems |
EP2255220B1 (en) * | 2008-03-13 | 2015-05-13 | Koninklijke Philips N.V. | Low-power tdc-adc and anger logic in radiation detection applications |
US20090230925A1 (en) | 2008-03-14 | 2009-09-17 | Nathan Nathan | Power Saver |
US8017906B2 (en) * | 2008-04-08 | 2011-09-13 | Robert Sigurd Nelson | Slit and slot scan, SAR, and compton devices and systems for radiation imaging |
GB0809107D0 (en) | 2008-05-20 | 2008-06-25 | Rapiscan Security Products Inc | Scannign systems |
GB0810638D0 (en) | 2008-06-11 | 2008-07-16 | Rapiscan Security Products Inc | Photomultiplier and detection systems |
WO2010005977A2 (en) * | 2008-07-07 | 2010-01-14 | University Of Florida Research Foundation, Inc. | Method and apparatus for x-ray radiographic imaging |
JP2008304947A (ja) * | 2008-09-11 | 2008-12-18 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 光導波路および光導波路構造体 |
CN101710182A (zh) * | 2008-09-19 | 2010-05-19 | 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 | 形成闪烁设备的方法 |
US7795650B2 (en) * | 2008-12-09 | 2010-09-14 | Teledyne Scientific & Imaging Llc | Method and apparatus for backside illuminated image sensors using capacitively coupled readout integrated circuits |
WO2010129926A1 (en) | 2009-05-07 | 2010-11-11 | The Regents Of The University Of California | Novel lanthanide doped barium mixed halide scintillators |
US8275092B1 (en) | 2009-06-15 | 2012-09-25 | American Science And Engineering, Inc. | Three-dimensional mapping based on scattered penetrating radiation |
US8824632B2 (en) * | 2009-07-29 | 2014-09-02 | American Science And Engineering, Inc. | Backscatter X-ray inspection van with top-down imaging |
PL2459991T3 (pl) | 2009-07-29 | 2020-01-31 | American Science & Engineering, Inc. | Przyczepa do odgórnej kontroli rentgenowskiej |
CN105676258B (zh) * | 2009-10-07 | 2019-03-22 | 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 | 检测目标辐射的系统和方法 |
PL2494340T3 (pl) * | 2009-10-29 | 2020-11-02 | Rapiscan Systems, Inc. | Mobilny system kontroli statku powietrznego |
EP3686902A1 (en) | 2009-12-03 | 2020-07-29 | Rapiscan Systems, Inc. | Time of flight backscatter imaging system |
US8199875B2 (en) * | 2009-12-11 | 2012-06-12 | General Electric Company | System and method of acquiring multi-energy CT imaging data |
JP5548892B2 (ja) * | 2010-01-08 | 2014-07-16 | 独立行政法人日本原子力研究開発機構 | ピクセル型二次元イメージ検出器 |
JP2011158291A (ja) * | 2010-01-29 | 2011-08-18 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線像変換パネル |
CN201754188U (zh) * | 2010-02-03 | 2011-03-02 | 中国原子能科学研究院 | 塑料闪烁体探测器光电倍增管固定装置 |
EP2539697A4 (en) | 2010-02-25 | 2017-05-10 | Rapiscan Systems, Inc. | A high-energy x-ray spectroscopy-based inspection system and methods to determine the atomic number of materials |
EP2539696A4 (en) * | 2010-02-26 | 2017-10-25 | Rapiscan Systems, Inc. | Integrated portable checkpoint system |
JP2011227044A (ja) * | 2010-03-30 | 2011-11-10 | Fujifilm Corp | 放射線撮影装置 |
JP2010181412A (ja) * | 2010-03-15 | 2010-08-19 | Toshiba Corp | 放射線弁別測定方法および放射線弁別測定装置 |
JP5376528B2 (ja) * | 2010-05-06 | 2013-12-25 | 独立行政法人日本原子力研究開発機構 | 放射線および中性子イメージ検出器 |
WO2011159911A2 (en) * | 2010-06-18 | 2011-12-22 | Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. | Radiation detection system including a scintillating material and an optical fiber and method of using the same |
WO2011163108A2 (en) * | 2010-06-21 | 2011-12-29 | American Science And Engineering, Inc. | Detector with active collimators |
GB2482024A (en) * | 2010-07-16 | 2012-01-18 | Symetrica Ltd | Radiation Detector |
US8796636B2 (en) * | 2010-09-13 | 2014-08-05 | Parttec, Ltd. | Neutron detector having enhanced absorption and bifurcated detection elements |
US8592775B2 (en) * | 2010-10-27 | 2013-11-26 | Partec, Ltd. | Radiation detector having a ribbed scintillator |
WO2012109307A1 (en) | 2011-02-08 | 2012-08-16 | American Science And Engineering, Inc. | Backscatter energy analysis for classification of materials based on positional non-commutativity |
US8908831B2 (en) | 2011-02-08 | 2014-12-09 | Rapiscan Systems, Inc. | Covert surveillance using multi-modality sensing |
PL3252506T3 (pl) | 2011-02-08 | 2021-05-31 | Rapiscan Systems, Inc. | Tajny nadzór przy użyciu wykrywania multimodalnego |
RU2589394C2 (ru) | 2011-04-15 | 2016-07-10 | Американ Сайенс Энд Инджиниринг, Инк. | Система обратного рассеяния с изменяемым размером матрицы датчиков |
US9146201B2 (en) | 2012-02-02 | 2015-09-29 | American Science And Engineering, Inc. | Convertible scan panel for x-ray inspection |
EP2810296A4 (en) | 2012-02-03 | 2015-12-30 | Rapiscan Systems Inc | COMBINED MULTIVUE IMAGING SYSTEM FOR DIFFUSION AND TRANSMISSION |
CA2864354C (en) * | 2012-02-14 | 2023-02-28 | American Science And Engineering, Inc. | X-ray inspection using wavelength-shifting fiber-coupled scintillation detectors |
JP6114981B2 (ja) | 2012-10-17 | 2017-04-19 | 株式会社リガク | X線発生装置 |
BR112014013226B1 (pt) | 2013-01-31 | 2021-08-24 | Rapiscan Systems, Inc | Sistema de inspeção de segurança portátil e método de implantação do mesmo |
US9417060B1 (en) | 2013-07-25 | 2016-08-16 | American Science And Engineering, Inc. | X-ray theodolite |
US9535019B1 (en) | 2013-10-04 | 2017-01-03 | American Science And Engineering, Inc. | Laterally-offset detectors for long-range x-ray backscatter imaging |
JP6367969B2 (ja) * | 2014-04-17 | 2018-08-01 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | 高いアスペクト比を有することが可能である感光要素を有する放射線検出器 |
US10228487B2 (en) | 2014-06-30 | 2019-03-12 | American Science And Engineering, Inc. | Rapidly relocatable modular cargo container scanner |
CN104597479A (zh) * | 2014-12-30 | 2015-05-06 | 中国原子能科学研究院 | 中子位置探测装置 |
BR112017015316A2 (pt) | 2015-01-16 | 2018-07-10 | Rapiscan Systems, Inc. | sistemas de inspeção não invasivos e métodos para a detecção de materiais de interesse |
US10656304B2 (en) | 2015-09-10 | 2020-05-19 | American Science And Engineering, Inc. | Backscatter characterization using interlinearly adaptive electromagnetic X-ray scanning |
US10720300B2 (en) | 2016-09-30 | 2020-07-21 | American Science And Engineering, Inc. | X-ray source for 2D scanning beam imaging |
CN207752159U (zh) * | 2017-09-27 | 2018-08-21 | 清华大学 | 阵列式大面积总放探测装置 |
-
2013
- 2013-02-04 CA CA2864354A patent/CA2864354C/en active Active
- 2013-02-04 MX MX2014009790A patent/MX337476B/es active IP Right Grant
- 2013-02-04 EP EP13749372.2A patent/EP2825904B1/en active Active
- 2013-02-04 DE DE202013012100.9U patent/DE202013012100U1/de not_active Expired - Lifetime
- 2013-02-04 CN CN201380016922.5A patent/CN104204854B/zh active Active
- 2013-02-04 KR KR1020147025181A patent/KR102105727B1/ko active IP Right Grant
- 2013-02-04 KR KR1020207011500A patent/KR20200044997A/ko active Application Filing
- 2013-02-04 US US13/758,189 patent/US9285488B2/en active Active
- 2013-02-04 PL PL125062U patent/PL125062U1/pl unknown
- 2013-02-04 ES ES13749372.2T patent/ES2685971T3/es active Active
- 2013-02-04 ES ES201600177U patent/ES1153640Y/es not_active Expired - Fee Related
- 2013-02-04 JP JP2014556590A patent/JP2015513075A/ja active Pending
- 2013-02-04 CA CA3080221A patent/CA3080221A1/en active Pending
- 2013-02-04 CN CN201710257152.3A patent/CN107193034A/zh active Pending
- 2013-02-04 RU RU2014133352A patent/RU2606698C2/ru active
- 2013-02-04 PE PE2014001271U patent/PE20150237Z/es active IP Right Grant
- 2013-02-04 DE DE202013012103.3U patent/DE202013012103U1/de not_active Expired - Lifetime
- 2013-02-04 PL PL125720U patent/PL125720U1/pl unknown
- 2013-02-04 BR BR112014019517-0A patent/BR112014019517B1/pt active IP Right Grant
- 2013-02-04 KR KR1020207011502A patent/KR102293638B1/ko active IP Right Grant
- 2013-02-04 WO PCT/US2013/024585 patent/WO2013122763A1/en active Application Filing
- 2013-02-04 KR KR1020217004548A patent/KR102266814B1/ko active IP Right Grant
- 2013-02-04 ES ES201500706U patent/ES1154460Y/es not_active Expired - Fee Related
- 2013-02-04 ES ES201600176U patent/ES1153636Y/es not_active Expired - Fee Related
-
2014
- 2014-08-12 IL IL234076A patent/IL234076B/en active IP Right Grant
- 2014-08-13 CL CL2014002144U patent/CL2014002144U1/es unknown
- 2014-08-14 GT GT201400009U patent/GT201400009U/es unknown
-
2015
- 2015-03-27 HK HK15103106.8A patent/HK1202633A1/xx unknown
- 2015-04-27 HK HK15104048.7A patent/HK1203632A1/xx unknown
-
2016
- 2016-02-23 US US15/050,894 patent/US9658343B2/en active Active
- 2016-11-24 JP JP2016227710A patent/JP6203367B2/ja active Active
-
2017
- 2017-04-18 US US15/490,787 patent/US10209372B2/en active Active
-
2018
- 2018-03-17 HK HK18103738.1A patent/HK1244541A1/zh unknown
- 2018-05-07 JP JP2018089172A patent/JP6525477B2/ja active Active
- 2018-05-07 JP JP2018089173A patent/JP2018136343A/ja active Pending
- 2018-05-31 IL IL259730A patent/IL259730A/en unknown
- 2018-05-31 IL IL259737A patent/IL259737B/en unknown
-
2019
- 2019-01-08 US US16/242,163 patent/US20190383953A1/en not_active Abandoned
- 2019-04-12 CN CN201980088326.5A patent/CN113302521B/zh active Active
- 2019-04-12 CN CN202410731745.9A patent/CN118501923A/zh active Pending
- 2019-12-26 JP JP2019235372A patent/JP2020060590A/ja active Pending
-
2021
- 2021-07-30 JP JP2021125145A patent/JP7138751B2/ja active Active
Also Published As
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
ES2685971T3 (es) | Inspección de rayos X usando detectores de centelleo acoplados mediante fibra con desplazamiento de longitud de onda | |
US11579327B2 (en) | Handheld backscatter imaging systems with primary and secondary detector arrays | |
ES1154459U (es) | Dispositivo de portal de inspección por rayos X | |
EP3908670A1 (en) | Spectral discrimination using wavelength-shifting fiber-coupled scintillation detectors |