EP0424264A1 - Source de courant à faible coefficient de température - Google Patents

Source de courant à faible coefficient de température Download PDF

Info

Publication number
EP0424264A1
EP0424264A1 EP90402933A EP90402933A EP0424264A1 EP 0424264 A1 EP0424264 A1 EP 0424264A1 EP 90402933 A EP90402933 A EP 90402933A EP 90402933 A EP90402933 A EP 90402933A EP 0424264 A1 EP0424264 A1 EP 0424264A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
transistor
current source
source
current
transistors
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
EP90402933A
Other languages
German (de)
English (en)
Other versions
EP0424264B1 (fr
Inventor
Frédéric Breugnot
Franck Edme
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
STMicroelectronics SA
Original Assignee
SGS Thomson Microelectronics SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from FR8913758A external-priority patent/FR2653574B1/fr
Priority claimed from FR8913757A external-priority patent/FR2653572A1/fr
Application filed by SGS Thomson Microelectronics SA filed Critical SGS Thomson Microelectronics SA
Publication of EP0424264A1 publication Critical patent/EP0424264A1/fr
Application granted granted Critical
Publication of EP0424264B1 publication Critical patent/EP0424264B1/fr
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
    • G05F3/242Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage
    • G05F3/247Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage producing a voltage or current as a predetermined function of the supply voltage
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
    • G05F3/242Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage
    • G05F3/245Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage producing a voltage or current as a predetermined function of the temperature
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S323/00Electricity: power supply or regulation systems
    • Y10S323/907Temperature compensation of semiconductor

Definitions

  • the invention relates to integrated circuits, and more particularly to the manner of producing in these circuits a constant constant current source as a function of the temperature and of the supply voltage of the integrated circuit.
  • the reference voltage source can be of the type known as the "bandgap type” reference source.
  • the Anglo-Saxon name “bandgap” designates the energy interval between the valence bands and the conduction bands of a semiconductor; sources of this type use the known dependence between this interval and the temperature, to carry out compensations which make the reference voltage as stable as possible as a function of the temperature.
  • a bandgap type voltage source generally comprises two diodes traversed by different currents (or the same currents, but then the diodes must necessarily have different junction surfaces) and a loop-back differential amplifier amplifying the voltage difference across the diodes and supplying current to the diodes.
  • a reference voltage source of this type is shown in Figure 1. We will return later to the detailed description of this circuit.
  • a Wilson current source comprises two branches parallel to two transistors each and the transistors are mounted so that each of the branches copies the current of the other, two transitors (each belonging to a respective branch) being different in size or in threshold voltage.
  • a reference current source produced from the addition of two currents, one from a first transistor whose gate is controlled by a reference voltage source of the " bandgap ", the other from a second transistor whose gate is controlled by a reference voltage source of the" Wilson mirror "type.
  • the invention is based on the observation that it is possible to produce both a current controlled by a reference source of the "bandgap" type and having a certain variation curve as a function of temperature, and a current controlled by a source “Wilson mirror” type reference and having another variation curve as a function of temperature.
  • a current controlled by a reference source of the "bandgap" type and having a certain variation curve as a function of temperature and a current controlled by a source “Wilson mirror” type reference and having another variation curve as a function of temperature.
  • the "bandgap" type source comprises an operational amplifier looped by resistors and to the input of which are connected diodes, an output field effect transistor having its gate biased by the output of the operational amplifier;
  • the source of the “Wilson mirror” type conventionally comprises four transistors and one output transistor.
  • the output transistors, each driven by a different voltage source, are connected with their connected sources and their connected drains, that is to say that they are in parallel but controlled by different potentials.
  • the nominal current in the transistor controlled by the source of the "bandgap" type is greater than the current in the other transistor, in a ratio of between 1.5 and 3.5, preferably around 2.5.
  • the source of the bandgap type is improved in the following manner: the operational amplifier of the bandgap voltage source comprises two differential branches supplied by a transistor constituting a current generator, and it is proposed that this current generator is made from a field effect transistor whose gate is biased by a bias circuit receiving the reference voltage produced at the output of the reference source bandgap itself.
  • the bias circuit preferably comprises a set of two transistors in series, one of which, connected to a power source Vcc, receives the reference voltage, and the other of which, connected by its source to ground, has its grid connected to its drain and provides on its drain a bias voltage for the current source of the operational amplifier.
  • the voltage source of the "bandgap" type comprises an operational amplifier AO having a first input E1, a second E2, and an output S.
  • the input E1 is connected through a resistor R1 in series with a diode D1 to an electrical ground.
  • the input E2 is connected through a diode D2 to ground.
  • a loop resistance R2 connects the output S to the input E1;
  • a resistor R3 connects the output S to the input E2.
  • the output of the amplifier delivers a reference voltage Vref1 stable in temperature and stable as a function of the supply Vcc of the integrated circuit incorporating this reference source. With current technologies used to make CMOS circuits on silicon, the reference voltage obtained automatically at the amplifier output is for example 1.255 volts.
  • Vbe2 varies with temperature (around -2.2 mV / ° C).
  • R1, R2, R3 and S1 / S2 we will choose the values R1, R2, R3 and S1 / S2 so that the term Vf.R2 / R1 varies exactly in opposite directions (from +2.2 mv / ° C for example) in the desired temperature range.
  • this voltage source to drive the gate of a field effect transistor having its source grounded, we will get in this output transistor a current that varies depending on the temperature.
  • the variation is complex: it results from the fact that the threshold voltage of the output transistor varies with the temperature, this variation being moreover partially compensated by the fact that the mobility of the carriers varies with the temperature.
  • FIG. 2 represents a reference voltage or current source of the "Wilson mirror" type. It comprises two branches in parallel between two supply terminals which are for example the ground and a positive voltage terminal Vcc.
  • the first branch includes a first P-channel MOS transistor T1 in series with a second N-channel transistor T2.
  • the second branch comprises a third transistor, with P channel, T3 in series with a fourth transistor, with N channel T4.
  • the first and the fourth transistors are mounted in resistance, with their drain connected to their gate.
  • the third and second transistors copy the currents in the first and fourth transistors respectively.
  • a current copying arrangement is an arrangement in which the transistor which copies the current of another has its gate and its source connected respectively to the gate and to the source of this other transistor.
  • the current is copied with a proportionality factor which is the ratio between the geometries of the transistors.
  • the stable reference voltage Vref2 generated by this arrangement is taken at the junction point of the drains of the transistors of a branch, here at the junction point of the transistors T3 and T4.
  • the transistors T2 and T4 have different threshold voltages, which is obtained by different doping of their channels.
  • the circuit according to the invention is shown in Figure 3. It comprises two transistors Q1 and Q2 mounted in parallel, that is to say with their sources connected together to ground and their drains connected together. Their gates are controlled separately, one by the voltage Vref1 coming from a reference voltage source of the type of that of FIG. 1, the other by the reference voltage Vref2 coming from a reference voltage source of the type of that of figure 2.
  • the transistors Q1 and Q2 are N channel transistors, to produce a current source I drained to ground. But they could also be P channel transistors whose drains are connected to Vcc, to produce a current source I drained from the supply voltage Vcc.
  • the output current I of the current source thus described is in both cases taken from the combined drains of the two transistors Q1 and Q2. It is the sum of the current I1 in the transistor Q1 and the current I2 in the transistor Q2.
  • the two transistors Q1 and Q2 are in principle not the same size. Their respective sizes depend first of all on the differences in value of the reference voltages. Vref1 and Vref2; these values themselves depend on the values of resistances and junction surfaces or of geometries of transistors; it then depends on the way in which the currents in each of the transistors Q21 and Q2 vary with the temperature.
  • the components of the circuit supplying Vref1 are first chosen.
  • the reference voltage obtained Vrefl is the sum of an elbow voltage Vbe2 of the diode D2 and a voltage which is the well-known "bandgap" voltage (generally represented by the algebraic form kT / q where k and q are physical constants and T the absolute temperature), this voltage being multiplied by a multiplicative factor K.
  • the multiplicative factor K is equal to R2 / R1 multiplied by the natural logarithm of the following expression: R2.S1 / R3.S2 where S1 and S2 are the junction surfaces of diodes D1 and D2; R1, R2, R3 are the values of the resistances.
  • Vref2 By calculating this voltage by conventional voltage and current equations taking into account the fact that the current in a MOS transistor is proportional to the square of the difference between its gate-source voltage and its threshold voltage. The technology gives the threshold voltage of the different transistors. The current is also proportional to the mobility of the carriers, to the capacity of the gate, and to the geometry of the transistor (W / L ratio between width and length of channel).
  • the amplifier will in fact be produced in practice by a simple assembly with a few transistors, such as that which is represented in FIG. 4.
  • the operational amplifier comprises an assembly with two differential branches (Q3, Q4, T′3, T′4) supplied by a constant current source (transistor T5 whose gate is polarized by a bias voltage Vbias), and finally an output stage T6, T7.
  • this current source which supplies the differential branches is produced from a field effect transistor whose gate is biased by a bias circuit receiving the reference voltage produced at the output of the source. reference bandgap itself.
  • FIG. 5 represents the reference source of the bandgap type modified according to the invention.
  • the circuit of FIG. 5 comprises an operational amplifier AO similar to that of FIG. 4 except as regards the current source which supplies its two differential branches.
  • the amplifier AO is also connected in a circuit identical in this example to that of FIG. 1: a non-inverting input E1 of the amplifier is connected by a resistor R1 and a diode D1 to ground. An inverting input E2 is connected by a diode D2 to ground. The non-inverting input is connected to the output of the amplifier by a loop resistance R2; the inversetrse input is connected to the output by a loop resistance R3.
  • the output of the circuit is the output S of the operational amplifier and it is on this output that a stable reference voltage Vref is supplied as a function of the temperature and the supply voltage Vcc of the circuit.
  • the operational amplifier comprises two differential branches supplied by a common current source, and an output stage.
  • the current source comprises the N-channel transistor T5, and a bias circuit of this transistor T5.
  • the first differential branch connected between the drain of transistor T5 and the general supply voltage Vcc of the circuit, comprises a set of two transistors in series Q3 and Q4.
  • Q3 is a P channel transistor connected by its source to Vcc and having its drain connected to its gate.
  • Q4 is an N-channel transistor having its source connected to the current source T5.
  • the second differential branch connected in parallel with the first, comprises a set of two transistors in series T′3 and T′4.
  • T′3 is a P channel transistor connected by its source to Vcc.
  • T′4 is an N channel transistor having its source connected to T5.
  • the entry E1 is constituted by the grid of T′4; the input E2 is constituted by the grid of Q4.
  • the output stage comprises in series between Vcc and the ground a P channel transistor T6 and an N channel transistor T7.
  • T6 has its grid connected to the junction of the drains of T′3 and T′4; it also has its gate connected by a capacitor C to its drain (for conventional reasons of stabilization).
  • T7 has its drain connected to that of T6 and its gate receives a bias voltage which is preferably the same as the bias voltage used for the gate of T5.
  • the output S of the amplifier AO is the common drain of the transistors T6 and T7 of the output stage.
  • the current source supplying the differential branches of the amplifier is biased by a bias circuit which uses the output voltage Vref of the amplifier.
  • the bias circuit comprises two N-channel transistors T8 and T9 in series between the supply voltage Vcc and ground.
  • T8 has its drain connected to Vcc, its source connected to the drain of T9, and its gate connected to the output S of the operational amplifier.
  • T9 has its source connected to ground and its grid connected to its drain.
  • the bias voltage Vbias applied to the gate of the transistor T5 is taken from the junction point of the transistors T8 and T9.
  • the transistor T8 is preferably a transistor whose channel length L is much greater than its width ("long transistor"), for example in a ratio 100 to 3, so that it necessarily remains in saturation (small variation of its drain current even for a large variation in its drain-source voltage).
  • Transistor T9 is, on the contrary, a "short" transistor having a much greater width-to-length ratio (for example of the order of unity), with a channel width of the same order as that of T8.
  • the table below represents the variation in reference voltage as a function of temperature and of the supply voltage Vcc for the assembly according to the invention as described above (table with double input).

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

L'invention concerne les circuits intégrés, et plus particulièrement la manière de réaliser dans ces circuits une source de courant constant stable en fonction de la température et de la tension d'alimentation du circuit intégré.
Selon l'invention, on propose de réaliser une source de courant stable à partir de deux transistors (Q1, Q2) en parallèle, commandés l'un par une source de tension de référence de type "bandgap" (AO, R1, R2, R3, D1, D2) et l'autre par un miroir de wilson (T1, T2, T3? T4). L'addition des courants des deux transistors donne un courant qui peut être beaucoup plus stable en température que les courants individuels dans chacun des transistors.

Description

  • L'invention concerne les circuits intégrés, et plus particulièrement la manière de réaliser dans ces circuits une source de courant constant stable en fonction de la température et de la tension d'alimentation du circuit intégré.
  • On connaît des sources de courant réalisées à partir d'un transistor à effet de champ et d'une source de tension de référence polarisant la grille de ce transistor. La source de tension de référence peut être du type connu sous le nom de source de référence "de type bandgap". L'appellation anglosaxonne "bandgap" désigne l'intervalle d'énergie entre les bandes de valence et les bandes de conduction d'un semiconducteur; les sources de ce type utilisent la dépendance connue entre cet intervalle et la température, pour effectuer des compensations qui rendent la tension de référence aussi stable que possible en fonction de la température.
  • Une source de tension de type bandgap comprend de manière générale deux diodes parcourues par des courants différents (ou les mêmes courants, mais alors les diodes sont obligatoirement de surfaces de jonction différentes) et un amplificateur différentiel rebouclé amplifiant la différence de tension aux bornes des diodes et alimentant en courant les diodes.
  • Une source de tension de référence de ce type est représentée à la figure 1. On reviendra plus loin sur la description détaillée de ce circuit.
  • On peut bien entendu réaliser à partir de cette source de tension une source de courant, mais la stabilité en température est perdue lors de la conversion tension/courant.
  • On connaît par ailleurs des sources de référence connues sous le nom de source à "miroirs de Wilson". Une telle source est représentée à la figure 2. Elle repose sur les compensations mutuelles de variations de caractéristiques de plusieurs transistors qui recopient mutuellement leurs courants.
  • Schématiquement, une source de courant de Wilson comporte deux branches parallèles à deux transistors chacune et les transistors sont montés de manière que chacune des branches recopie le courant de l'autre, deux transitors (appartenant chacun à une branche respective) étant différents en taille ou en tension de seuil.
  • Là encore, la stabilité obtenue, bien que souvent considérée comme satisfaisante, n'est pas parfaite.
  • On connaît encore d'autres sources de tension de référence dans le détail desquelles il n'est pas nécessaire de rentrer ici.
  • Selon l'invention, on propose de réaliser une source de courant de référence réalisée à partir de l'addition de deux courants, l'un issu d'un premier transistor dont la grille est commandée par une source de tension de référence de type "bandgap", l'autre issu d'un deuxième transistor dont la grille est commandée par une source de tension de référence de type "miroir de Wilson".
  • L'invention repose sur la constatation qu'il est possible de réaliser à la fois un courant piloté par une source de référence de type "bandgap" et ayant une certaine courbe de variation en fonction de la température, et un courant piloté par une source de référence de type "miroir de Wilson" et ayant une autre courbe de variation en fonction de la température. En additionnant les courants de ces deux sources, on peut réaliser une source de courant stable en fonction de la température, tout en conservant la même stabilité en fonction de la tension d'alimentation Vcc du circuit intégré. Il faut noter que ce qui fait la difficulté de la réalisation de sources de courant stables en température c'est l'extrême complexité des variations de caractéristiques de circuit en fonction de la température dès qu'il y a plus de deux ou trois transistors dans le circuit : il faut faire intervenir les variations de tension de seuil de chacun des types de transistors du circuit, et les variations de mobilité des porteurs majoritaires dans le semiconducteur. Ces variations ne sont bien entendu pas linéaires. De manière inattendue, on a trouvé qu'on pouvait, dans une plage de température assez large allant d'environ -40°C à +125°C, obtenir une source de courant encore plus stable que dans l'art antérieur en additionnant les courants de deux transistors pilotés par des sources de tension de types différents et ayant des variations de courant de natures très différentes.
  • Dans un mode de réalisation, la source de type "bandgap" comprend un amplificateur opérationnel bouclé par des résistances et à l'entrée duquel sont connectées des diodes, un transistor à effet de champ de sortie ayant sa grille polarisée par la sortie de l'amplificateur opérationnel; la source de type "miroir de Wilson" comprend classiquement quatre transistors et un transistor de sortie. Les transistors de sortie, pilotés chacun par une source de tension différente, sont connectés avec leurs sources reliées et leurs drains reliés, c'est-à-dire qu'ils sont en parallèle mais commandés par des potentiels différents.
  • Dans une réalisation pratique, on s'arrangera pour que le courant nominal dans le transistor commandé par la source de type "bandgap" soit supérieur au courant dans l'autre transistor, dans un rapport compris entre 1,5 et 3,5, de préférence autour de 2,5.
  • Selon une autre caractéristique de l'invention, la source de type bandgap est perfectionnée de la manière suivante : l'amplificateur opérationnel de la source de tension bandgap comporte deux branches différentielles alimentée par un transistor constituant un générateur de courant, et on propose que ce générateur de courant soit réalisé à partir d'un transistor à effet de champ dont la grille est polarisée par un circuit de polarisation recevant la tension de référence produite à la sortie de la source de référence bandgap elle-même.
  • On aurait pu s'attendre à une certaine instabilité de fonctionnement du circuit puisqu'il utilise sa propre tension de sortie pour fonctionner. On constate cependant expérimentalement que ce montage est tout-à-fait stable (bien qu'il nécessite un temps d'établissement) et que la tension qu'il fournit à sa sortie est finalement plus stable en fonction de la température que les circuits de l'art antérieur.
  • Le circuit de polarisation comprend de préférence un ensemble de deux transistors en série dont l'un, connecté à une source d'alimentation Vcc, reçoit la tension de référence, et dont l'autre, connecté par sa source à la masse, a sa grille reliée à son drain et fournit sur son drain une tension de polarisation pour la source de courant de l'amplificateur opérationnel.
  • D'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront à la lecture de la description détaillée qui suit et qui est faite en référence aux dessins annexés dans lesquels :
    • - la figure 1 représente une source de tension de référence de type bandgap;
    • - la figure 2 représente une source de référence du type à "miroirs de Wilson";
    • - la figure 3 représente une source de courant selon l'invention.
    • - la figure 4 représente un amplificateur opérationnel utilisé dans le circuit de la figure 3;
    • - la figure 5 représente un perfectionnement de la source de tension de type bandgap utilisée dans l'invention.
  • Sur la figure 1, la source de tension du type "bandgap" comprend un amplificateur opérationnel AO ayant une première entrée E1, une deuxième E2, et une sortie S. L'entrée E1 est reliée à travers une résistance R1 en série avec une diode D1 à une masse électrique. L'entrée E2 est reliée à travers une diode D2 à la masse. Une résistance de bouclage R2 relie la sortie S à l'entrée E1; une résistance R3 relie la sortie S à l'entrée E2. La sortie de l'amplificateur délivre une tension de référence Vref1 stable en température et stable en fonction de l'alimentation Vcc du circuit intégré incorporant cette source de référence. Avec les technologies courantes utilisées pour réaliser des circuits CMOS sur silicium, la tension de référence obtenue automatiquement en sortie de l'amplificateur est par exemple de 1,255 volts.
  • Cette stabilité de la tension de sortie repose sur un choix approprié des surfaces de jonction des deux diodes et des courants circulant dana ces diodes. La tension de référence Vref obtenue en sortie de l'amplificateur est la somme de la tension de coude Vbe2 de la diode D2 et d'un terme qui est Vf.R2/R1 où Vf est une tension qui est le produit d'une tension de "bandgap" classique Vt (avec Vt=kT/q) et d'un terme qui est le logarithme népérien du rapport R2.S1/R3.S2, S1 et S2 étant les surfaces de jonction des deux diodes D1 et D2.
  • Le principe de réalisation est simple : on sait calculer ou mesurer en pratique comment varie Vbe2 avec la température (environ -2,2 mV/°C). On va choisir les valeurs R1, R2, R3 et S1/S2 de sorte que le terme Vf.R2/R1 varie exactement en sens contraire (de +2,2 mv/°C par exemple) dans la plage de température désirée.
  • On peut réaliser par exemple une tension de référence de 1,255 volt.
  • Si on se sert de cette source de tension pour piloter la grille d'un transistor à effet de champ ayant sa source à la masse, on obtiendra dans ce transistor de sortie un courant qui varie en fonction de la température. La variation est complexe : elle résulte de ce que la tension de seuil du transistor de sortie varie avec la température, cette variation étant d'ailleurs partiellement compensée par le fait que la mobilité des porteurs varie avec la température.
  • La figure 2 représente une source de tension ou courant de référence du type "à miroirs de Wilson". Elle comprend deux branches en parallèle entre deux bornes d'alimentation qui sont par exemple la masse et une borne à tension positive Vcc. La première branche comprend un premier transistor MOS à canal P T1 en série avec un deuxième transistor à canal N T2. La deuxième branche comprend un troisième transistor, à canal P, T3 en série avec un quatrième transistor, à canal N T4. Le premier et le quatrième transistors sont montés en résistance, avec leur drain connecté à leur grille. Le troisième et le deuxième transistors recopient respectivement les courants dans le premier et le quatrième transistors. On rappelle qu'un montage de recopie de courant est un montage dans lequel le transistor qui recopie le courant d'un autre a sa grille et sa source connectées respectivement à la grille et à la source de cet autre transistor. Le courant est recopié avec un facteur de proportionnalité qui est le rapport entre les géométries des transistors. La tension de référence stable Vref2 engendrée par ce montage est prélevée au point de jonction des drains des transistors d'une branche, ici au point de jonction des transistors T3 et T4. De préférence, les transistors T2 et T4 ont des tensions de seuil différentes, ce qui est obtenu par un dopage différent de leurs canaux.
  • Le circuit selon l'invention est représenté à la figure 3. Il comporte deux transistors Q1 et Q2 montés en parallèle, c'est-à-dire avec leurs sources connectées ensemble à la masse et leurs drains connectés ensemble. Leurs grilles sont commandées séparément, l'une par la tension Vref1 issue d'une source de tension de référence du type de celle de la figure 1, l'autre par la tension de référence Vref2 issue d'une source de tension de référence du type de celle de la figure 2.
  • Dans l'exemple représenté, les transistors Q1 et Q2 sont des transistors à canal N, pour réaliser une source de courant I drainé vers la masse. Mais ils pourraient aussi être des transistors à canal P dont les drains sont connectés à Vcc, pour réaliser une source de courant I drainé de la tension d'alimentation Vcc.
  • Le courant de sortie I de la source de courant ainsi décrite est dans les deux cas prélevé sur les drains réunis des deux transistors Q1 et Q2. C'est la somme du courant I1 dans le transistor Q1 et du courant I2 dans le transistor Q2.
  • Les deux transistors Q1 et Q2 n'ont en principe pas la même taille. Leurs tailles respectives dépend d'abord des différences de valeur des tensions de référence Vref1 et Vref2; ces valeurs dépendent elles-mêmes des valeurs de résistances et surfaces de jonction ou de géométries de transistors; elle depend ensuite de la manière dont les courants dans chacun des transistors Q21 et Q2 varie avec la température.
  • On ne peut bien entendu pas donner de règle de calcul direct pour le choix des dimensions de Q1 et Q2 puisque ces dimensions vont dépendre de la technologie utilisée et puisque de nombreux choix sont possibles même pour une technologie unique. Mais on va expliquer ci-dessous comment on peut procéder en pratique pour réaliser sans difficulté une source de courant selon l'invention.
  • On choisit d'abord les composants du circuit fournissant Vref1. La tension de référence obtenue Vrefl est la somme d'une tension de coude Vbe2 de la diode D2 et d'une tension qui est la tension de "bandgap" bien connue (représentée en général par la forme algébrique kT/q où k et q sont des constantes physiques et T la température absolue), cette tension étant multipliée par un facteur multiplicatif K.
  • Le facteur multiplicatif K est égal à R2/R1 multiplié par le logarithme népérien de l'expression suivante : R2.S1/R3.S2 où S1 et S2 sont les surfaces de jonction des diodes D1 et D2; R1, R2, R3 sont les valeurs des résistances.
  • De même, on peut choisir Vref2 en calculant cette tension par des équations de tensions et courants classiques prenant en compte le fait que le courant dans un transistor MOS est proportionnel au lcarré de la différence entre sa tension grille-source et sa tension de seuil. La technologie donne la tension de seuil des différents transistors. Le courant est également proportionnel à la mobilité des porteurs, à la capacité de la grille, et à la géométrie du transistor (rapport W/L entre largeur et longueur de canal).
  • A partir de Vref1 on peut, par des simulations mathématiques utilisées classiquement en conception de circuits microélectroniques, déterminer quelle va être la courbe de variation en température du courant engendré dans le transistor Q1 et la courbe de variation en température du courant dans le transistor Q2. Ces courbes sont très différentes. Si le courant dans le transistor Q1 est I1 à une température moyenne ambiante (par exemple 25°C), et si le courant dans Q2 est I2, on peut évaluer les variations de I1 et I2 en fonction de la température, puis choisir un rapport entre I1 et I2 tel que la somme I1+I2 varie le moins possible dans une plage de température désirée (par exemple entre -40°C et +125°C).
  • Par exemple, si la simulation donne pour I1 la courbe de variation suivante :
    125°C I1 + 30%
    75°C I1 + 16%
    25°C I1
    -20°C I1 - 17%
    -40°C I1 - 25%
    et si la simulation donne pour I2 la variation suivante :
    125°C I2 - 50%
    75°C I2 - 29%
    25°C I2
    -20°C I2 + 50%
    -40°C I2 + 85%
    il est facile de voir que I1 varie de -25% à +30% tandis que 12 varie en sens inverse mais beaucoup plus. Pour obtenir une variation aussi faible que possible de I1+I2 il sera donc nécessaire de prendre pour valeur de base I2 une valeur nettement plus faible que la valeur de base de I1. Plus précisément même, vers les températures élevées (125°C), on peut compenser les variations de I1 et I2 si I1/I2 = 1,66 alors que vers les températures basses la compensation serait optimale si I2/I1 était égal à 3,4. En prenant une valeur intermédiaire telle que par exemple I1/I2 = 2,6 on aboutit à la courbe de variation suivante de la somme I1+I2, la valeur de référence étant prise à 25°C :
    125°C + 7,77%
    75°C + 3,5%
    25°C I1+12 ( = 3,6 fois I2)
    -20°C + 1,6%
    -40°C + 5,5%
  • Il est clair par conséquent que pour un rapport I1/I2 de 2,6 à température ambiante la stabilité de la somme I1+I2 est bien meilleure que celle des courants I1 et I2, sur une large plage de températures. Les dimensions des transistors Q1 et Q2 et/ou les valeurs de Vref1 et Vref2 seront donc choisis, dans cet exemple, de manière à obtenir un rapport de courants de 2,6 à température ambiante. On rappelle à ce sujet la règle de calcul classique dans un transistor MOS : le courant est proportionnel d'une part au rapport W/L (largeur sur longueur de canal) et d'autre part au carré de la différence entre tension grille-source et tension de seuil.
  • On a ainsi décrit la manière de réaliser en pratique une source de courant dont l'expérience montre qu'elle est particulièrement stable.
  • Toutefois, la stabilité obtenue n'est pas aussi parfaite qu'on le désirerait et on s'est aperçu qu'elle repose partiellement sur les caractéristiques de l'amplificateur opérationnel qui n'a pas, dans la réalité, un gain infini et une impédance d'entrée infinie.
  • L'amplificateur sera en effet réalisé en pratique par un montage simple à quelques transistors, tel que celui qui est représenté à la figure 4.
  • Dans cet exemple, réalisé en technologie CMOS, l'amplificateur opérationnel comprend un montage à deux branches différentielles (Q3, Q4, T′3, T′4) alimentées par une source de courant constant (transistor T5 dont la grille est polarisée par une tension de polarisation Vbias), et enfin un étage de sortie T6, T7.
  • On propose selon l'invention que cette source de courant qui alimente les branches différentielles soit réalisée à partir d'un transistor à effet de champ dont la grille est polarisée par un circuit de polarisation recevant la tension de référence produite à la sortie de la source de référence bandgap elle-même.
  • La figure 5 représente la source de référence de type bandgap modifiée selon l'invention.
  • Le circuit de la figure 5 comporte un amplificateur opérationnel AO similaire à celui de la figure 4 sauf en ce qui concerne la source de courant qui alimente ses deux branches différentielles.
  • L'amplificateur AO est par ailleurs connecté dans un circuit identique dans cet exemple à celui de la figure 1 : une entrée non-inverseuse E1 de l'amplificateur est reliée par une résistance R1 et une diode D1 à la masse. Une entrée inverseuse E2 est reliée par une diode D2 à la masse. L'entrée non inverseuse est reliée à la sortie de l'amplificateur par une résistance de bouclage R2; l'entrée inversetrse est reliée à la sortie par une résistance de bouclage R3. La sortie du circuit est la sortie S de l'amplificateur opérationnel et c'est sur cette sortie qu'est fournie une tension de référence Vref stable en fonction de la température et de la tension d'alimentation Vcc du circuit.
  • Dans l'exemple représenté, l'amplificateur opérationnel comporte deux branches différentielles alimentées par une source de courant commune, et un étage de sortie.
  • La source de courant comprend le transistor à canal N T5, et un circuit de polarisation de ce transistor T5.
  • La première branche différentielle, connectée entre le drain du transistor T5 et la tension d'alimentation générale Vcc du circuit, comprend un ensemble de deux transistors en série Q3 et Q4. Q3 est un transistor à canal P connecté par sa source à Vcc et ayant son drain relié à sa grille. Q4 est un transistor à canal N ayant sa source connectée à la source de courant T5.
  • La deuxième branche différentielle, connectée en parallèle avec la première, comprend un ensemble de deux transistors en série T′3 et T′4. T′3 est un transistor à canal P connecté par sa source à Vcc. T′4 est un transistor à canal N ayant sa source connectée à T5.
  • L'entrée E1 est constituée par la grille de T′4; l'entrée E2 est constituée par la grille de Q4.
  • L'étage de sortie comprend en série entre Vcc et la masse un transistor à canal P T6 et un transistor à canal N T7. T6 a sa grille reliée à la jonction des drains de T′3 et T′4; il a aussi sa grille reliée par une capacité C a son drain (pour des raisons classiques de stabilisation). T7 a son drain relié à celui de T6 et sa grille reçoit une tension de polarisation qui est de préférence la même que la tension de polarisation utilisée pour la grille de T5. La sortie S de l'amplificateur AO est le drain commun des transistors T6 et T7 de l'étage de sortie.
  • Selon l'invention on prévoit que la source de courant alimentant les branches différentielles de l'amplificateur est polarisée par un circuit de polarisation qui utilise la tension de sortie Vref de l'amplificateur.
  • Dans l'exemple préférentiel représenté, le circuit de polarisation comprend deux transistors à canal N T8 et T9 en série entre la tension d'alimentation Vcc et la masse. T8 a son drain relié à Vcc, sa source reliée au drain de T9, et sa grille reliée à la sortie S de l'amplificateur opérationnel. T9 a sa source reliée à la masse et sa grille reliée à son drain. La tension de polarisation Vbias appliquée à la grille du transistor T5 est prélevée sur le point de jonction des transistors T8 et T9.
  • Le transistor T8 est de préférence un transistor dont la longueur de canal L est bien supérieure à sa largeur ("transistor long"), par exemple dans un rapport 100 à 3, pour qu il reste obligatoirement en saturation (petite variation de son courant drain même pour une forte variation de sa tension drain-source). Le transistor T9 est au contraire un transistor "court" ayant un rapport largeur sur longueur beaucoup plus grand (par exemple de l'ordre de l'unité), avec une largeur de canal du même ordre que celle de T8.
  • On peut résumer ci-dessous les performances de la source de tension selon l'invention, dans un exemple pratique : le tableau ci-dessous représente la variation de tension de référence en fonction de la température et de la tension d'alimentation Vcc pour le montage selon l'invention tel que décrit ci-dessus (tableau à double entrée). La tension de référence nbminale pour 25°C et Vcc = 5 volts est de 1,256 volt dans cet exemple.
    T°C: -40°C 25°C 125°C
    Vcc:
    4 volts 1,252 v 1,256 v 1,256 v
    5 volts 1,252 v 1,256 v 1,256 v
    6 volts 1,252 v 1,256 v 1,257 v
  • On voit donc que la tension de référence obtenue est d'une très grande stabilité en fonction de la température et de la tension Vcc.
  • La combinaison avec la source de Wilson est d'autant meilleure.

Claims (11)

1. Source de courant de référence caractérisée en ce qu'elle est réalisée à partir de l'addition de deux courants, l'un (I1) issu d'un premier transistor (Q1) dont la grille est commandée par une source de tension de référence (Vref1) de type "bandgap", l'autre (I2) issu d'un deuxième transistor (Q2) dont la grille est commandée par une source de tension de référence (Vref2) de type "miroir de Wilson".
2. Source de courant selon la revendication 1, caractérisée en ce que la source de référence de type bandgap" comporte un amplificateur opérationnel (AO) ayant une entrée inverseuse et une entrée non-inverseuse, avec deux diodes (D1 et D2) raccordées à ces entrées et des résistances de bouclage (R2, R3) et d'entrée (R1) pour l'amplificateur.
3. Source de courant selon la revendication 2, caractérisée en ce que les diodes sont raccordées d'un côté à une masse électrique, et de l'autre chacune à une entrée respective de l'amplificateur, une résistance d'entrée (R1) étant interposée entre au moins l'une des diodes (D1) et l'entrée correspondant à cette diode, et une résistance de bouclage respective (R2, R3) étant prévue entre une sortie de l'amplificateur et chacune des entrées.
4. Source de courant selon l'une des revendications 1 à 3, caractérisée en ce que la source de type "miroir de wilson" comprend deux branches en parallèle entre deux bornes d'alimentation, la première branche comportant un premier transistor à canal P (T1) en série avec un deuxième transistor à canal N (T2), la deuxième branche comportant un troisième transistor à canal P (T3) en série avec un quatrième transistor à canal N (T4), le deuxième et le troisième transistors étant montés de manière à recopier respectivement les courants du quatrième et du premier.
5. Source de courant selon l'une des revendications 1 à 4, caractérisée en ce que les deux transistors dont les grilles sont commandées par les sources de référence ont des géométries choisies en relation avec les valeurs de tension délivrées par les sources de référence pour minimiser la variation du courant global de la source en fonction de la température.
6. Source de courant selon la revendication 5, caractérisée en ce que le courant dans le transistor commandé par la source de type "bandgap" a une valeur nominale environ 2,5 fois supérieure à la valeur nominale du courant dans le transistor commandé par l'autre source de courant.
7. Source de courant selon l'une des revendications précédentes, dans lequel la source de tension de type bandgap comporte un amplificateur opérationnel (AO), des diodes (D1, D2) et des résistances (R1, R2, R3) alimentées en courant par la sortie de l'amplificateur, l'amplificateur opérationnel comportant deux branches différentielles (Q3, Q4; T′3, T′4) alimentées par une source de courant (T5), cette source de courant comprenant un transistor et un circuit de polarisation de ce transistor, caractérisée en ce que pour produire une tension de polarisation de la grille du transistor (T5) de la source de courant, le circuit de polarisation utilise la tension de référence stable issue de la sortie de l'amplificateur opérationnel.
8. Source de courant selon la revendication 7, caractérisée en ce que le circuit de polarisation comprend deux transistors en série, la grille de l'un des transistors (T8) recevant la tension de référence stable Vref, la grille de l'autre transistor (T9) étant reliée à son drain, et le point de jonction des deux transistors étant relié à la grille du transistor de la source de courant.
9. Source de courant selon la revendication 8, caractérisée en ce que les deux transistors du circuit de polarisation sont à canal N, le transistor (T8) qui reçoit la tension de référence sur sa grille ayant son drain connecté à la tension d'alimentation Vcc du circuit et l'autre (T9) ayant sa source à la masse.
10. Source de courant selon la revendication 9, caractérisée en ce que le transistor (T8) qui reçoit la tension de référence sur sa grille est un transistor à canal long et l'autre transistor (T9) du circuit de polarisation est un transistor à canal court.
11. Source de courant selon l'une des revendications 1 à 9, caractérisée en ce que l'amplificateur comporte une entrée non-inverseuse (E1) et une entrée inverseuse (E2), l'une des entrées étant reliée par une diode à une masse, l'autre étant reliée par une résistance et une diode en série à la masse, et la sortie étant rebouclée à travers une résistance respective (R2, R3) sur chacune des entrées.
EP90402933A 1989-10-20 1990-10-18 Source de courant à faible coefficient de température Expired - Lifetime EP0424264B1 (fr)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR8913758 1989-10-20
FR8913758A FR2653574B1 (fr) 1989-10-20 1989-10-20 Source de courant a faible coefficient de temperature.
FR8913757 1989-10-20
FR8913757A FR2653572A1 (fr) 1989-10-20 1989-10-20 Circuit de reference de tension.

Publications (2)

Publication Number Publication Date
EP0424264A1 true EP0424264A1 (fr) 1991-04-24
EP0424264B1 EP0424264B1 (fr) 1993-01-20

Family

ID=26227612

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
EP90402933A Expired - Lifetime EP0424264B1 (fr) 1989-10-20 1990-10-18 Source de courant à faible coefficient de température

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5103159A (fr)
EP (1) EP0424264B1 (fr)
DE (1) DE69000803T2 (fr)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0504983A1 (fr) * 1991-03-20 1992-09-23 Koninklijke Philips Electronics N.V. Circuit de référence conçu pour fournir un courant de référence présentant un coefficient de température déterminé

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1245237B (it) * 1991-03-18 1994-09-13 Sgs Thomson Microelectronics Generatore di tensione di riferimento variabile con la temperatura con deriva termica prestabilita e funzione lineare della tensione di alimentazione
IT1252324B (it) * 1991-07-18 1995-06-08 Sgs Thomson Microelectronics Circuito integrato regolatore di tensione ad elevata stabilita' e basso consumo di corrente.
US5428287A (en) * 1992-06-16 1995-06-27 Cherry Semiconductor Corporation Thermally matched current limit circuit
EP0627817B1 (fr) * 1993-04-30 1999-04-07 STMicroelectronics, Inc. Comparateur de tension avec sommation de courants continus de type bandgap et commutateur d'alimentation l'utilisant
US5497348A (en) * 1994-05-31 1996-03-05 Texas Instruments Incorporated Burn-in detection circuit
US6060945A (en) * 1994-05-31 2000-05-09 Texas Instruments Incorporated Burn-in reference voltage generation
US6204701B1 (en) 1994-05-31 2001-03-20 Texas Instruments Incorporated Power up detection circuit
US6127881A (en) * 1994-05-31 2000-10-03 Texas Insruments Incorporated Multiplier circuit
GB9417267D0 (en) * 1994-08-26 1994-10-19 Inmos Ltd Current generator circuit
US5880599A (en) * 1996-12-11 1999-03-09 Lsi Logic Corporation On/off control for a balanced differential current mode driver
US5883507A (en) * 1997-05-09 1999-03-16 Stmicroelectronics, Inc. Low power temperature compensated, current source and associated method
JP3586073B2 (ja) 1997-07-29 2004-11-10 株式会社東芝 基準電圧発生回路
EP0911978B1 (fr) * 1997-10-23 2002-02-13 STMicroelectronics S.r.l. Génération de tensions de références symétriques à faible bruit et compensées en température
GB0211564D0 (en) * 2002-05-21 2002-06-26 Tournaz Technology Ltd Reference circuit
US6737849B2 (en) 2002-06-19 2004-05-18 International Business Machines Corporation Constant current source having a controlled temperature coefficient
US6919716B1 (en) 2002-08-28 2005-07-19 Cisco Technology, Inc. Precision avalanche photodiode current monitor
US7372316B2 (en) * 2004-11-25 2008-05-13 Stmicroelectronics Pvt. Ltd. Temperature compensated reference current generator
KR100738964B1 (ko) * 2006-02-28 2007-07-12 주식회사 하이닉스반도체 밴드갭 기준전압 발생 회로
KR20100124381A (ko) * 2009-05-19 2010-11-29 삼성전자주식회사 직접 게이트 구동 기준 전류원 회로
FR2995723A1 (fr) * 2012-09-19 2014-03-21 St Microelectronics Crolles 2 Circuit de fourniture de tension ou de courant
JP6083421B2 (ja) * 2014-08-28 2017-02-22 株式会社村田製作所 バンドギャップ基準電圧回路

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2070820A (en) * 1980-02-28 1981-09-09 Seiko Instr & Electronics Constant current circuit
US4325018A (en) * 1980-08-14 1982-04-13 Rca Corporation Temperature-correction network with multiple corrections as for extrapolated band-gap voltage reference circuits
GB2125586A (en) * 1982-08-03 1984-03-07 Burr Brown Res Corp Precision band-gap voltage reference circuit
EP0140677A2 (fr) * 1983-10-27 1985-05-08 Fujitsu Limited Amplificateur différentiel utilisant une source de courant constant

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4443753A (en) * 1981-08-24 1984-04-17 Advanced Micro Devices, Inc. Second order temperature compensated band cap voltage reference
JPS5952321A (ja) * 1982-09-17 1984-03-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電流源回路
US4935690A (en) * 1988-10-31 1990-06-19 Teledyne Industries, Inc. CMOS compatible bandgap voltage reference
US4849684A (en) * 1988-11-07 1989-07-18 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laaboratories CMOS bandgap voltage reference apparatus and method
FR2652672B1 (fr) * 1989-10-02 1991-12-20 Sgs Thomson Microelectronics Memoire a temps de lecture ameliore.

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2070820A (en) * 1980-02-28 1981-09-09 Seiko Instr & Electronics Constant current circuit
US4325018A (en) * 1980-08-14 1982-04-13 Rca Corporation Temperature-correction network with multiple corrections as for extrapolated band-gap voltage reference circuits
GB2125586A (en) * 1982-08-03 1984-03-07 Burr Brown Res Corp Precision band-gap voltage reference circuit
EP0140677A2 (fr) * 1983-10-27 1985-05-08 Fujitsu Limited Amplificateur différentiel utilisant une source de courant constant

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS vol. SC-8, no. 3, juin 1973, NEW YORK, USA pages 222 - 226; K.E. KUIJK: "A PRECISION REFERENCE VOLTAGE SOURCE" *
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 8, no. 153 (P-287)(1590) 17 juin 1984, & JP-A-59 52321 (MATSUSHITA) 26 mars 1984, *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0504983A1 (fr) * 1991-03-20 1992-09-23 Koninklijke Philips Electronics N.V. Circuit de référence conçu pour fournir un courant de référence présentant un coefficient de température déterminé

Also Published As

Publication number Publication date
DE69000803T2 (de) 1993-06-09
EP0424264B1 (fr) 1993-01-20
US5103159A (en) 1992-04-07
DE69000803D1 (de) 1993-03-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0424264B1 (fr) Source de courant à faible coefficient de température
EP0733961B1 (fr) Générateur de courant de référence en technologie CMOS
FR2623307A1 (fr) Source de courant a deux bornes avec compensation de temperature
FR2478342A1 (fr) Stabilisateur de courant realise a l'aide de transistors a effet de champs fonctionnant selon le mode d'enrichissement
FR2465355A1 (fr) Circuit generateur de tension de reference de bande interdite
FR2975510A1 (fr) Dispositif de generation d'une tension de reference de bande interdite ajustable a fort taux de rejection d'alimentation
FR2912013A1 (fr) Dispositif de generation de courant de polarisation ayant un coefficient de temperature ajustable.
FR2677793A1 (fr) Circuit pour produire une tension d'alimentation interne.
CH697322B1 (fr) Procédé de génération d'un courant sensiblement indépendent de la température et dispositif permettant de mettre en oeuvre ce procédé.
FR2975512A1 (fr) Procede et dispositif de generation d'une tension de reference ajustable de bande interdite
FR2890259A1 (fr) Circuit de generation d'un courant de reference et circuit de polarisation
CH628462A5 (fr) Source de tension de reference.
EP2067090A1 (fr) Circuit electronique de reference de tension
EP1566717A1 (fr) Dispositif de génération d'une tension électrique de référence de précision améliorée et circuit intégré électronique correspondant
EP0188401B1 (fr) Source de tension de référence
FR2637747A1 (fr) Procede pour produire une tension de decalage nulle dans un circuit suiveur de tension et amplificateur a tension de decalage nulle
EP0649079B1 (fr) Circuit générateur de tension stabilisée du type bandgap
FR2470485A1 (fr) Amplificateurs equilibres de classe ab
FR2825806A1 (fr) Circuit de polarisation a point de fonctionnement stable en tension et en temperature
FR2801145A1 (fr) Circuit d'alimentation a courant constant
CH644231A5 (fr) Circuit a gain variable commande par une tension.
FR3071116A1 (fr) Dispositif modifiant la valeur d'impedance d'une resistance de reference
EP1324170A1 (fr) Circuit à transconductance sensiblement constante
EP0524294A1 (fr) Circuit d'amplification a commande de gain exponentielle.
FR2757964A1 (fr) Regulateur de tension serie

Legal Events

Date Code Title Description
PUAI Public reference made under article 153(3) epc to a published international application that has entered the european phase

Free format text: ORIGINAL CODE: 0009012

AK Designated contracting states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): DE FR GB IT

17P Request for examination filed

Effective date: 19910307

17Q First examination report despatched

Effective date: 19910606

ITF It: translation for a ep patent filed
GRAA (expected) grant

Free format text: ORIGINAL CODE: 0009210

AK Designated contracting states

Kind code of ref document: B1

Designated state(s): DE FR GB IT

REF Corresponds to:

Ref document number: 69000803

Country of ref document: DE

Date of ref document: 19930304

GBT Gb: translation of ep patent filed (gb section 77(6)(a)/1977)

Effective date: 19930422

PLBE No opposition filed within time limit

Free format text: ORIGINAL CODE: 0009261

STAA Information on the status of an ep patent application or granted ep patent

Free format text: STATUS: NO OPPOSITION FILED WITHIN TIME LIMIT

26N No opposition filed
REG Reference to a national code

Ref country code: FR

Ref legal event code: D6

PGFP Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo]

Ref country code: DE

Payment date: 20001009

Year of fee payment: 11

REG Reference to a national code

Ref country code: GB

Ref legal event code: IF02

PG25 Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo]

Ref country code: DE

Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES

Effective date: 20020702

PGFP Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo]

Ref country code: FR

Payment date: 20021008

Year of fee payment: 13

PGFP Annual fee paid to national office [announced via postgrant information from national office to epo]

Ref country code: GB

Payment date: 20021016

Year of fee payment: 13

PG25 Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo]

Ref country code: GB

Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES

Effective date: 20031018

GBPC Gb: european patent ceased through non-payment of renewal fee

Effective date: 20031018

PG25 Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo]

Ref country code: FR

Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES

Effective date: 20040630

REG Reference to a national code

Ref country code: FR

Ref legal event code: ST

PG25 Lapsed in a contracting state [announced via postgrant information from national office to epo]

Ref country code: IT

Free format text: LAPSE BECAUSE OF NON-PAYMENT OF DUE FEES;WARNING: LAPSES OF ITALIAN PATENTS WITH EFFECTIVE DATE BEFORE 2007 MAY HAVE OCCURRED AT ANY TIME BEFORE 2007. THE CORRECT EFFECTIVE DATE MAY BE DIFFERENT FROM THE ONE RECORDED.

Effective date: 20051018