DE98130C - - Google Patents

Description

KAISERLICHES

PATENTAMT.

PATENTSCHRIFT

KLASSE 42$ Instrumente.

im Bilde.

Patentirt im Deutschen Reiche vom 17. August 1897 ab.

Den Gegenstand der vorliegenden Erfindung bildet ein Zeichenapparat zum Nachzeichnen von mikroskopischen Objecten, welcher derart eingerichtet ist, dafs man in dem auf die Zeichenfläche projicirten mikroskopischen Bilde . die Bildverzerrungen bestimmen und die Ungenauigkeiten aus der vergröfserten Nachbildung entfernen kann.

Bei den bekannten, mit einer Camera lucida versehenen mikroskopischen Nachzeichenapparaten waren bis jetzt keinerlei Vorkehrungen vorhanden, um die in dem mikroskopischen Bilde durch die ungleichmäfsige Vergrößerung in gröfserem oder geringerem Mafse verursachten Ungenauigkeiten herauszufinden bezw. zu entfernen. Bei dem vorliegenden Apparat wird dieser Zweck nun dadurch erreicht, dafs man das Object und die Zeichenfläche abschnittweise behandelt, d. h. zunächst einen bestimmten Theil des Objectes und den diesem Theil entsprechenden Theil der Zeichenfläche in das Gesichtsfeld des Mikroskops bezw. des Auges bringt, dann die zunächst anliegenden Theile u. s. w. Man verfährt bei dem Beobachten bezw. Nachzeichnen also so, als wenn das Object und die Zeichenfläche in einzelne Felder von gleicher Gröfse eingetheilt wären, und behandelt diese Felder der Reihe nach.

Angenommen, die Zeichenfläche sei in quadratische Felder von gleicher Gröfse eingetheilt, so wird die gröfste Abweichung an den Randlinien eines solchen Feldes vorhanden sein.

Schiebt man nun das Object in dem Gesichtsfelde des Mikroskops nur so weit weiter vor, dafs die Ka«te oder Ecke des entsprechenden nächsten Feldes des Objectes in die Sehachse (wo keine Verzerrung stattfindet) zu liegen kommt, so ist das an dieser Kante auf der Zeichenfläche wiedergegebene Bild richtig und der Unterschied dieses richtigen Bildes mit dem an dieser Kante ungenauen Bilde der ersten Beobachtung zeigt genau das Mafs der in der ersten Nachzeichnung vorhandenen Verzerrung oder Abweichung an, weiche dann mit Leichtigkeit berichtigt werden kann. In gleicher Weise fährt man in der Nachzeichnung des übrigen Bildes fort, so dafs der Bildfehler des vorher nachgezeichneten Feldes immer durch die Nachzeichnung des nächstfolgenden Feldes bestimmt und berichtigt wird. Es leuchtet ein, dafs das nachgezeichnete Bild um so genauer wird, in je mehr bezw. in je kleinere Felder das Originalobject eingetheilt wird; es ist selbstverständlich, dafs die einzelnen Felder unter sich gleich grofs sein müssen, um eine in allen Theilen gleichmäfsig genaue Nachbildung zu erhalten.

Auf beiliegenden Zeichnungen ist die Erfindung in einer der praktischsten Ausführungsformen zur Veranschaulichung gebracht.

Fig. ι ist eine schematische Darstellung des mikroskopischen Zeichenapparates.

Fig. 2 ist eine Seitenansicht,

Fig. 3 eine Endansicht und

Fig. 4 eine obere Ansicht des Zeichenapparates nach Linie 4-4 der Fig. 3;

Fig. 5 ist ein Grundrifs des in Fig. 2 dargestellten Apparates.

Der Apparat besteht" aus einem Mikroskop AaU¹O² (Fig. 1) mit einer passenden Beleuchtungseinrichtung, z. B. einem Prisma B und einer über dem Ocular des Mikroskops angebrachten Camera lucida C, welche sich aus den Prismen c und c¹ in bekannter Weise zusammensetzt und zum Durchlassen der von dem Object, ζ. Β. einer Type Ddd¹, kommenden Lichtstrahlen nach dem Auge des Beobachters in ihrem Spiegelbelag eine kleine Oeffnung c² besitzt. Oberhalb der Zeichenfläche E und gegenüber dem Spiegelprisma C befindet sich ein Planspiegel c³, welcher ebenfalls unter einem Winkel von 45⁰ steht.

Bezüglich des Materials der Fläche, auf oder in welcher die Nachbildung hergestellt werden soll, herrscht keinerlei Beschränkung. So mag diese Fläche von einem Papierbogen oder einer plastischen oder anderen Masse gebildet werden, auf welcher man mittelst eines Zeichenstiftes bezw. in welche man mit Hülfe eines Stichels, Messers oder dergl. die Nachbildung aufzeichnet, einschneidet oder nachformt. Das Nachbildungsinstrument richtet sich hierbei immer nach der für die Nachbildungsfläche gewählten Masse. Ebenso ist es vollständig gleichgültig, ob die nachzubildenden Objecte farbig sind oder nicht.

Die innere Einrichtung des Mikroskops mag so gewählt werden, dafs die für die Nachbildung nicht nothwendigen Lichtstrahlen des Objectes nicht in das Auge des Beobachters gelangen.

Das Mikroskop A, sowie die Vorrichtung JK (Fig. 2 bis 5) zum Festhalten des zu beobachtenden Objectes werden von einem Winkelstück I getragen, welches verstellbar und mittelst einer Mutter i festklemmbar in einer Nuth P eines geeigneten Untersatzes F angeordnet ist. Letzterer trägt zwei rechtwinklig zu einander verstellbare Platten G und H. Die untere Platte G greift mit Leisten g in entsprechende Nuthen g¹ des Untersatzes und kann daher in dessen Längsrichtung verschoben werden. Zum Feststellen der Platte G in der gewünschten Stellung dient ein Schnepper g¹ und eine Reihe gleich weit von einander abstehender Einschnitte g³ in der einen Leiste g-, ,in welche Einschnitte der Schnepper einspringt, sobald sie in Richtung mit letzterem kommen. Die obere, auf der Platte G liegende Platte H gleitet mit einer Nuth h auf einer Querleiste g·⁴, also rechtwinklig zur Verschiebungsbewegung der unteren Platte G. Die Feststellung der Platte H erfolgt in ähnlicher Weise durch einen in Einschnitte h'² der Schiene g·⁴ eingreifenden Federbolzen ft¹. Der Abstand der Einschnitte ft² ist derselbe wie der der Einschnitte g^s. Das auf die Platte H aufgelegte Papierstück etc. E wird durch passende Klemmleisten /2* festgehalten.

Der Objectträger des Mikroskops A besteht aus einem Rahmen und einem Paar verstellbaren Schiebern oder Platten J K, welche Gegenstücke zu den oben beschriebenen Platten G und H bilden. Der Schieber / ist auf dem Rahmen des Objectträgers in derselben Weise und Richtung verschiebbar wie die Platte G auf dem Untersatz F, und der Schieber K kann auf dem Schieber J in derselben Weise und Richtung verstellt werden, wie die Platte H auf der Platte G. Die Verstellung der Schieber J und K geschieht mit Hülfe geeigneter Stellschrauben j bezw. k, welche von grofser Genauigkeit sein müssen. Die Stellschrauben müssen mit den Einschnitten der Platten G und H in solcher Beziehung stehen, dafs die Bewegung einer Platte um das Einheitsmafs (von einem Einschnitt zum anderen) in demselben Verhältnifs zu der Einheitsbewegung der Schieber J und K steht, wie das Bild zu der Originalgröfse des Objectes. Zum Festhalten des Objectes sind die Schieber mit zweckmäfsigen Einklemm- oder Einspannvorrichtungen ausgerüstet.

Es besteht eine gleichbleibende Beziehung zwischen den Bewegungen der Platten G H und der Schieber JK einerseits und zwischen der Gröfse des auf das Papier projicirten Bildes und der des Originals andererseits. Wenn also die lineare Vergrößerung des Originals das Sechsfache beträgt, so müssen die Bewegungen der Platten G und H bei jeder Einstellung sechsmal so grofs sein, wie die Verschiebungen der Schieber J und K.

Die an dem Mikroskop A angebrachte Platte oder Scheibe L sperrt das Gesichtsfeld des nicht beobachtenden Auges ab, so dafs der Beobachter dieses nicht zu schliefsen braucht.

Die Fig. 4 und 5 lassen erkennen, dafs die im vorliegenden Beispiel nachgezeichnete Type ein »G« ist, und dafs diese in vier Abschnitten nachgezeichnet worden ist. Bei der Nachzeichnung verfährt man so, dafs man zunächst z. B. die linke obere Ecke des dem Felde e¹ entsprechenden Theiles des Objectes in die Sehachse des Mikroskops einstellt. Dieser Theil des Feldes e¹ wird daher ganz genau sein, während die Abweichung nach der rechten und unteren Begrenzungslinie des Feldes e¹ hin sich in zunehmendem Mafse ■bemerkbar machen wird. Hierauf, d. h. nachdem der erste Theil des »G« in dem Feld e¹ nachgezeichnet ist, wird die Type nach links geschoben, bis sich die linke obere Ecke des zweiten Feldes e² der Type bezw. der Zeichenfläche E in der Sehachse des Mikroskops befindet, wozu natürlich ,die Platten G und H

ebenfalls entsprechend verstellt werden müssen. Die Projection des zweiten Viertels der Type stellt den Bildfehler in dem ersten Viertel des projicirten Bildes richtig bezw. zeigt das Mafs der Abweichung an, so dafs diese Ungenauigkeiten in dem ersten Felde e¹, besonders in der Nähe der rechten Begrenzungslinie, sehr leicht berichtigt werden können. In ähnlicher Weise werden die nächsten Felder e³ und e⁴ nachgezeichnet und die erhaltenen Bildtheile von den durch ungleichmäfsige Vergröfserung bewirkten Ungenauigkeiten befreit.

Der vorliegende Nachzeichenapparat ermöglicht also die Eintheilung des Gesichtsfeldes des Mikroskops bezw. der Fläche des nachzuzeichnenden Objectes als auch der Zeichenfläche selbst in Koordinatennetze, welche in einem bestimmten Verhältnifs zu einander stehen, welches Verhältnifs aber nach Wunsch geändert werden kann. Hierdurch wird die Bestimmung der Randfehler und die Herstellung von Nachzeichnungen, welche von den durch die Bildverzerrung verursachten Ungenauigkeiten frei oder doch nahezu frei sind, möglich gemacht.

Die bis jetzt bekannten Nachzeichenapparate liefsen eine solche Bestimmung und Herausschaffung der Bildfehler aus dem projiqirten Bilde nicht zu.

Claims (1)

1. Patent-Anspruch:

   Ein mikroskopischer Nachzeichenapparat mit einem aus zwei Schiebern bestehenden Objectträger und zwei die Zeichenfläche tragenden, unterhalb des Spiegels der Camera lucida angeordneten Platten, welche letzteren ebenso wie die Schieber des Objectträgers rechtwinklig zu einander verstellbar sind, um das mikroskopische Feld und die Zeichenfläche zur Vermeidung oder Bestimmung der Randfehler im Bilde netzartig einzutheilen.

   Hierzu 2 Blatt Zeichnungen.