DE9309837U1 - Anordnung zum Messen oder Erkennen der Benetzung einer für eine bestimmte Strahlung durchlässigen Wand oder Platte - Google Patents

Anordnung zum Messen oder Erkennen der Benetzung einer für eine bestimmte Strahlung durchlässigen Wand oder Platte

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Description

Anordnung zum Messen oder Erkennen der Benetzung einer für eine bestimmte Strahlung durchlässigen Wand oder Platte
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zum Messen oder Erkennen der Benetzung einer benetzbaren Außenfläche einer für eine bestimmte Strahlung durchlässigen Platte oder Wand.
In vielen Fällen besteht der Wunsch, eine bestimmte Benetzung einer Oberfläche zu erkennen, um daraus beispielsweise Steuerbefehle zum Schließen von Fenstern oder anderen Öffnungen oder zum Entfernen einer störenden Benetzung abzuleiten. Unter dem Begriff Benetzung einer
Oberfläche wird hier das Bedecken oder Berieseln der Oberfläche mit einzelnen Flüssigkeitstropfen oder das Auftreffen von Flüssigkeitstropfen auf diese Oberfläche verstanden, bis hin zu einem auf die Oberfläche aufgebrachten Flüssigkeitsfilm oder einer auf die Oberfläche aufgelaufenen oder auflaufenden Flüssigkeitsschicht einer bestimmten Schichtdicke.
Durch ein Erkennen des Umfanges der Benetzung z.B. durch ein Messen der Menge der benetzenden Flüssigkeit pro Flächeneinheit und / oder pro Zeiteinheit auf der benetzten Oberfläche können gezieltere Steuerbefehle ageleitet werden, mit denen beispielsweise die Benetzung geregelt werden kann, Schließvorgänge abhängig von der bestehenden oder zu erwartenden Flüssigkeitsmenge gesteuert oder ein Vorgang zur Beseitigung der Benetzung abhängig von der Vorgeschichte der Verursachung der Benetzung optimal gesteuert werden kann.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Anordnung der im Oberbegriff des Anspruches 1 angegebenen Art derart auszugestalten, daß eine zusätzliche, aus dem Umfeld der Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Benetzung in diese Anordnung eindringende und sich der Strahlung der Anordnung überlagernde Fremdstrahlung , die Messung oder Erkennung der Benetzung selbst dann nicht wesentlich beeinflußt, stört und verfälscht, wenn die zusätzliche Fremd strahlung einen wesentlichen oder sogar weit überwiegenden Anteil gegenüber der zum Messen oder Erkennen einer Benetzung abgestrahlten Strahlung ausmacht
Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung für eine im Oberbegriff des Anspruches 1 angegebene Anordnung durch die im kennzeichnenden Teil des Anspruches 1 dargestellte technische. Lehre in vorteilhafter Weise gelöst.
Die Erfindung geht von einer Strahlung zum Messen oder Erkennen einer Benetzung einer Außenfläche einer Platte oder Wand aus, die sowohl die Platte oder Wand als auch die die Platte oder Wand benetzende Flüssigkeit ohne wesentliche Dämpfung durchdringt
und von der mit einem zur Senkrechten durch die Platte oder Wand zunehmenden Abstrahlungswinkel in die Platte oder Wand ein zunehmend größerer Anteil dieser Strahlung von der Grenzfläche der äußeren Oberfläche der Platte oder Wand reflektiert wird, bis hin zu einem Grenzwinkel des Einstrahlwinkels, ab dem an einer optisch einwandfreien Grenzfläche eine Totalreflexion der eingestrahlten Strahlung an dieser Oberfläche auftritt.
So entsteht in einer die Platte oder Wand am Ort der Strahlungsquelle senkrecht durchsetzenden Ebene abhängig von der Richtungscharakteristik der Strahlungsstärke der an
die Platte oder Wand angekoppelten Strahlungsquelle und der Dämpfung des Strahlungsflusses in der Platte oder Wand eine Kurve der Strahlungsstärke eines aus der inneren Oberfläche der Platte oder Wand, an die die Strahlungsquelle angekoppelt ist, austretenden Strahlungsflusses. Diese Strahlungsflußkurve weist zwischen dem Ankopplungsort der Strahlungsquelle und dem Ausstrahlungsbereich der unter dem Grenzwinkel der total reflektierten Strahlung ein im allgemeinen breites Maximum auf, wie in Fig 1 der Zeichnung schematisch dargestellt ist An diesem Maximum ist die größte Änderung der Kurve der Strahlungsstärke zu erwarten, wenn die Reflexion der in der Platte oder Wand übertragenen Strahlung an der benetzbaren Oberfläche der Platte oder Wand in einem zwischen diesem Maximum und der Ankopplung der Strahlungsquelle an der inneren Oberfläche liegenden sensoraktiven Bereich der äußeren Oberfläche der Platte oder Wand durch eine Benetzung verändert wird. Hierbei verändert
sich sowohl die Lage als auch die Höhe
dieses Maximums je nach Art der Benetzung der äußeren Oberfläche der Platte oder Wand im sensorakativen Bereich, der im unbenetzten Zustand im Wesentlichen zur Bildung dieses Maximums der Strahlungsstärke an der inneren Oberfläche der Platte oder Wand beiträgt. Als eine sowohl die benetzte Platte oder Wand als auch die Benetzungsfliissigkeit durchfließende Strahlung kommt beispielsweise eine Lichtstrahlung im sichtbaren, ultravioletten oder infraroten Bereich oder eine Ultraschallstrahlung infrage.
Die Anordnung von wenigstens zwei Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen , die alle einem Strahlungsempfänger zugeordnet sind und die bezüglich des Strahlungsempfängers so angeordnet sind, daß der Strahlungsempfänger jeweils in der Zone
des ersten Maximums jeder aus der inneren Oberfläche der Platte oder Wand austretenden Strahlungsflußverteilung der an die Platte oder Wand angekoppelten Strahlungsquellen
angeordnet ist, das abwechselnde und aufeinanderfolgende Wirksamschalten der Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen in einer bestimmten umlaufenden Schaltfolge, das Einstellen der Strahlungsleistung der Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen auf einen Wert, derart, daß das Detektionssignal am Ausgang des Strahlungsempfängers im unbenetzten Zustand der Platte oder Wand im Umlauf einer Schaltfolge zum Wirksamschalten der einzelnen Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen unverändert ist, und die Art des Verwertens des Unterschiedes der den einzelnen Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen zugeordneten Abschnitten des Detektionssignals bei einer Benetzung der Platte oder Wand im sensoraktiven Bereich der Platte oder Wand bringt den Vorteil, daß die Anordnung einen sehr weiten Bereich einer Benetzung der Platte oder Wand detektiert und daß eine unmittelbare Fremdeinstrahlung auf den Strahlungsempfänger auch dann nahezu keine Wirkung auf die Auswertung der für die Messung oder Erkennung der Benetzung der Platte oder Wand ausgesendeten aktiven Strahlung hat, wenn die Intensität der Fremdeinstrahlung um ein wesentliches Vielfaches größer ist als die Intensität der aktiven Strahlung , und daß die Fremdstrahlung aufgrund der
erfindungsgemäßen Ausbildung der Anordnung die durch die Änderungen der Benetzung verursachten Änderungen der aktiven Strahlung nicht beeinflußt
Die Sicherheit der Detektion der Benetzung einer Platte oder Wand wird dadurch noch gesteigert, daß eine Schaltfolgefrequenz der Schaltfolge zum abwechselnden Wirksamschalten der einem Strahlungsempfänger zugeordneten Strahlungsquellen oder Gruppen von
Strahlungsquellen gewählt wird, die ein wesentliches Vielfaches größer ist als die schnellste zu erwartende Änderungsfolge einer auf den Strahlungsempfänger einwirkenden Fremdstrahlung
, und daß nur ein Detektionssignal ausgewertet wird, dessen Änderungsfolge die gleiche Folgefrequenz wie die Schaltfolge aufweist
Je ausgeprägter das Maximium der Kurve der Strahlungsstärke des aus der inneren Oberfläche der Platte oder Wand austretenden Strahlungsflußes einer Strahlungsquelle gestaltet werden kann, desto genauer und sicherer kann eine Benetzung der Platte oder Wand festgestellt und gemessen werden. Deshalb ist es in einer Ausbildung der Erfindung besonders vorteilhaft, die einem Strahlungsempfänger zugeordneten Strahlungsquellen derart an die innere Oberfläche der Platte oder Wand anzukoppeln, daß der Einstrahlungswinkel des Strahles der maximalen Strahlungsstärke einer Strahlungsquelle in die Platte oder Wand etwa gleich dem Winkel ist, für den das erste Maximum der Rückstrahlung aus der inneren Oberfläche der Platte oder Wand in einer die Platte oder Wand am Ort der Strahlungsquelle und des Strahlungsempfängers senkrecht durchdringenden Ebene seinen größten Wert hat
Ebenfalls eine Erhöhung der Genauigkeit und Sicherheit des Erkennens und Messens der Benetzung einer Platte oder Wand wird durch die Anordnung zweier einem Strahlungsempfänger zugeordneter Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen in einer Entfernung von dem Strahlungsempfänger, derart, daß der Strahlungsempfänger einerseits auf der ihm zunächstliegenden Flanke des ersten Maximums der von der einen Strahlungsquelle oder den Strahlungsquellen der einen Gruppe an der inneren Oberfläche der Platte oder Wand erzeugten Kurve der Strahlungsstärke liegt und andererseits auf der von ihm wegliegenden Flanke des ersten Maximums der von der anderen Strahlungsquelle oder den Strahlungsquellen der anderen Gruppe in gleicher Weise erzeugten Kurve der Strahlungsstärke liegt Da sich bei einer Benetzung des sensoraktiven Bereiches der Platte oder Wand das erste Maximum nicht nur in der Höhe, sondern auch in der Entfernung von der zugehörigen Strahlungsquelle ändert, werden durch die Lageveränderung des Maximus auch kleine Änderungen der Benetzung deutlicher detektiert.
In einer Weiterbildung der Erfindung ist an den Detektionszweig nach dem Ausgang des Strahlungsempfängers eine Regelschaltung angeschlossen, deren Regelzeitkonstante um ein wesentliches Vielfaches größer ist als eine Schwingungsperiode des Schaltfolgesignales, das die dem Strahlungsempfänger zugeordneten Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen schaltet. Diese Regelschaltung erzeugt ein von der Differenz der mittleren Amplituden der den einzelnen Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen zugeordneten Abschnitten des Detektionssignales abhängiges Regelsignal zur Einstellung der Strahlungsleistung der dem Strahlungsempfänger zugeordneten Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen, derart, daß die
Differenz der mittleren Amplituden der genannten Abschnitte des Detektionssignals gegen Null geht Dadurch werden langsamere oder bleibende Änderungen im sensoraktiven Bereich der Platte oder Wand, die nicht von der Benetzung verursacht wurden oder die Benetzung nicht betreffen, beim Erkennen oder Messen der Benetzung nicht berücksichtigt
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in weiteren Unteransprüchen angegeben.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand vorteilhafter Ausführungsbeispiele, auf die der Schutzgegenstand nicht beschränkt ist, näher erläutert. In den zugehörigen Zeichnungen zeigen:
Fig 1 a einen senkrechten Schnitt durch eine strahlendurchlässige Platte oder Wand mit einer
angekoppelten Schaltungsquelle,
Fig 1 b ein Diagramm mit einer die Strahlungsstärke der Rückstrahlung darstellenden Kurve
der in Fig 1 a dargestellten Anordnung,
Fig 2 einen Ausschnitt einer benetzbaren Platte oder Wand in einer Ansicht auf deren
innere Oberfläche mit aufgebrachten Strahlungsquellen und einem Strahlungsempfänger,
Fig 3 ein Blockschaltbild einer Anordnung zum Messen oder Feststellen einer Benetzung
mit einer in Fig 2 dargestellten Anordnung des sensoraktiven Bereiches einer Platte
oder Wand,
Fig 4 Diagramme a) bis d) über den zeitlichen Verlauf der Ausgangssignale des Strahlungsempfängers und des Detektionssignales,
Fig 5 ein Blockschaltbild einer weiteren Anordnung zum Messen oder Feststellen einer
Benetzung einer Platte oder Wand mit zwei besonders angekoppelten Strahlungsquellen und einer Regelanordnung,
Fig 6 ein Diagramm des Verlaufes der Strahlungsstärkekurven der Rückstrahlung an der
inneren Oberfläche der Platte oder Wand bei einer besonderen Ankoppelung zweier
Strahlungsquellen an diese Oberfläche,
In Figur la ist eine in einer nicht näher dargestellten Ebene geschnittene Platte oder Wand 1 in einem Ausschnitt dargestellt. Die Ebene verläuft senkrecht zur Platte durch
eine an die Platte oder Wand angekoppelte Strahlungsquelle 2, deren Strahlung in die Platte durch Linien 3 dargestellt ist. Die Strahlungsquelle ist an die innere Oberfläche 4 der Platte 1 so angekoppelt, daß die von ihr erzeugte Strahlung 3 ohne wesentliche Verluste einfließen kann. Diese Strahlung wird entsprechend den optischen Gesetzen an der der inneren Oberfläche 4 der Platte gegenüberliegenden äußeren Oberfläche 5 der Platte 1 zu einem mit zunehmendem Einstrahlwinkel a zunehmenden Anteil von der äußeren Oberfläche reflektiert (reflektierte Strahlung 6) und tritt an der inneren Oberfläche 4 der Platte oder Wand 1 teilweise wieder als rückstrahlende Strahlung 7 aus. Der Verlauf der Strahlungsstärke I dieser Rückstrahlung 7 abhängig vom Abstand &khgr; von der Strahlungsquelle ist als Kurve 8 im Diagramm der Fig 1 b schematisch dargestellt. Diese Kurve weist im Abstandsbereich zwischen der Strahlungsquelle 2 und dem Austritt 9 der Rückstrahlung der ersten Totalreflexion an der inneren Oberfläche 4 der Platte ein erstes Maximum 10 auf, das im wesentlichen von der Abstrahlungscharakteristik der Strahlungsquelle 2 in die Platte 1 abhängt Diese Abstrahlungscharakteristik ist in Fig 1 a schematisch als Kurve 11 dargestellt und kennzeichnet schematisch die winkelabhängige Strahlungsstärke der Strahlungsquelle in die Platte.
Tritt eine Benetzung der äußeren Oberfläche 5 der Platte oder Wand in einem besonders empfindlichen Bereich der äußeren Oberfläche zwischen einer Senkrechten 12 zur Platte am Ort der Strahlungsquelle und einer Senkrechten 12 m durch die Platte am Ort xm des ersten Maximums auf, nämlich in dem sensoraktiven Bereich 14 der Platte oder Wand, in dem von der äußeren Oberfläche die Rückstrahlung für das erste Maximum 10 reflektiert wird, was in Fig 1 durch einen Tropfen 13 in diesem sensoraktiven Bereich 14
schematisch dargestellt ist, wird das optische Reflexionssystem an der äußeren Oberfläche im Auflagebereich 15 des Tropfens 13 derart verändert, daß sich durch die veränderte Reflexion die Form der Kurve 8 der Strahlungsstärke der Rückstrahlung 7 in die durch die Benetzung geänderte Kurve 8V und sich die Lage xm des Maximums 10v in die neue Lage xmv des Maximums 10v der geänderten Kurve 8V verändert.
Ist im Bereich des ersten Maximums 10 der Strahlungsstärke der Rückstrahlung 7, beispielsweise im Abstand xe von der Ankoppelstelle der Strahlungsquelle 2 ein Strahlungsempfänger 16, der in Fig 1 a gestrichelt dargestellt ist, an die innere Oberfläche 4 der Platte oder Wand 1 angekoppelt, empfängt er im unbenetzten Zustand des sensoraktiven Bereiches 14 der Platte eine durch die Kurve 8 gegebene Strahlungsstärke Il der Rückstrahlung 7, im Falle des benetzten Zustandes des sensoraktiven Bereiches der Platte eine Strahlungsstärke 12 der Strahlungskurve 8V der durch die Benetzung veränderten Rückstrahlung der Platte. Die Änderung der Strahlungsstärke von 11 zu I 2 kennzeichnet die Benetzung des sensoraktiven Bereiches 14 der Platte oder Wand 1.
In Fig 2 ist ein Ausschnitt einer benetzbaren Platte oder Wand 1 in einer Ansicht auf die innere Oberfläche 4 der Platte mit drei Gruppen 17,18 und 19 zu je zwei jeweils an die innere Oberfläche angekoppelten Strahlungsquellen dargestellt, nämlich den Strahlungsquellen 2.1 (17), 2.2 (17) der ersten Gruppe 17 , den Strahlungsquellen 2.1 (18), 2.2(18) der zweiten Gruppe 18 und der Strahlungsquellen 2.1 (19), 2.2 (19) der dritten Gruppe 19 , die alle einem gemeinsamen Strahlungsempfänger 16 zugeordnet sind und die kreisförmig so um den gemeinsamen Strahlungsempfänger 16 angeordnet sind,
daß der Strahlungsempfänger auf der etwa ringförmigen Zone 20 des ersten Maximums 10 der Strahlungsstärke der Rückstrahlung der einzelnen Strahlungsquellen 2.1(17) bis 2.2(19) Hegt.
Im dargestellten Ausführungsbeispiel bilden jeweils zwei sich bezüglich dem Strahlungsempfänger gegenüberliegende Strahlungsquellen eine Gruppe von zwei Strahlungsquellen.
Die Wirkungsweise der in Fig 2 dargestellten Anordnung von drei Gruppen von Strahlungsquellen um einen zugehörigen Strahlungsempfänger wird anhand einer in Fig 3 als Ausführungsbeispiel dargestellten Schaltungsanordnung näher erläutert. In Fig 3 ist ein senkrechter Schnitt eines Ausschnittes aus einer benetzbaren Platte 1 oder Wand mit den sechs in Fig 2 schematisch dargestellten, an die innere Oberfläche 4 der Platte 1 angekoppelten Strahlungsquellen 2.1(17) bis 2.2(19) und dem zugehörigen, ebenfalls an die innere Oberfläche angekoppelten Strahlungsempfänger 16 schematisch dargestellt Die Strahlungsquellen sind im dargestellten Ausführungsbeispiel lichtemitierende Dioden, deren einer Anschluß mit dem einen Pol einer Stromquelle 21 verbunden ist. Der andere Pol der Stromquelle ist mit dem Eingang 22 eines dreistelligen Folgeschalters 23 verbunden, der den Signaleingang 22 nach jedem Steuerimpuls 24 an seinem Steuereingang 25 mit dem nächstfolgenden Signalausgang 26.1,26.2 oder 26.3 verbindet. Im dargestellten Ausführungsbeispiel, in dem der Signaleingang mit dem Signalausgang 26.1 verbunden ist, wird der Signaleingang durch den nächsten Steuerimpuls mit dem darauffolgenden Signalausgang 26.2 verbunden. Dadurch werden mit der Schaltfolge der Schaltfolgefrequenz fa des an den Steuereingang 25 des Folgeschalters 23 angeschlossenen Taktgenerators 30 die Strahlungsquellengruppen 17, 18 und 19 abwechselnd nacheinander an die Stromquelle 21 angeschaltet, so daß die Strahlungsquellengruppen 17, 18 und 19 abwechselnd nacheinander bis zum Einschalten der folgenden Gruppe wirksam geschaltet sind.
Der Verlauf der Strahlung der einzelnen Strahlungsquellengruppen in der strahlungsdurchlässigen Platte 1 ist in Fig 3 durch die unterschiedlich strukturierten Linien
27,28 und 29 schematisch angedeutet. Der an der äußeren Oberfläche 5 der Platte reflektierte Anteil tritt an der inneren Oberfläche 4 der Platte teilweise wieder als Rückstrahlung 7 aus. Der in der Zone des ersten Maximums der Strahlungsstärke der Rückstrahlung an die innere Oberfläche der Platte 1 angekoppelte Strahlungsempfänger 16, im dargestellten Ausführungsbeispiel ein Fotoelement, wandelt den empfangenen Strahlungsfluß in ein'elektrisches Ausgangssignal S 16 um, dessen zeitlicher Verlauf 31 über einer Zeitachse t
schematisch im Diagramm a) der Fig 4 dargestellt ist und das aus sich wiederholend aneinandergereihten Signalabschnitten 37, 38,39 gebildet ist. Diese Signalabschnitte entstehen aus der Schaltfolge, mit denen die einzelnen Gruppen 17,18 und 19 der Strahlungsquellen zur Abstrahlung einer Lichtstrahlung für einen kurzen Zeitabschnitt Ta, der gleich der Periodenzeit der Taktfrequenz f a des den Folgeschalter 23 steuernden Taktgenerators 30 ist, ein- und wieder ausgeschaltet werden.
An Stellgliedern 32 der Ausgänge 26.1 bis 26.3 des Folgeschaltens 23 wird die Strahlungsleistung der einzelnen Gruppen 17,18 und 19 der Strahlungsquellen so eingestellt, daß jede Gruppe von Strahlungsquellen bei unbenetzter und ungestörter Platte oder Wand 1 für sich den selben Abgleichwert 10 des Ausgangssignales S16 des
Strahlungsempfängers erzeugt, wie im Diagramm b) der Fig 4 an einem zeitlichen Verlauf 33 des ungestörten und abgeglichenen Ausgangssignales S 16 des Strahlungsempfängers 16 schematisch dargestellt ist. Wird der sensoraktive Bereich 14 der Platte 1 beispielsweise durch einen Tropfen 13 benetzt, wie in Fig 3 schematisch dargestellt ist, wird die Strahlführung 27,28 29 durch diese Benetzung derart verändert, daß die Strahlungsflußanteile der einzelnen Strahlungsquellengruppen 17,18 und 19 ihren Anteil an dem abgeglichenen Verlauf 33 des Ausgangssignales S 16 so verschieben, daß beispielsweise ein im Diagramm c) der Fig 4 dargestellter zeitlich ebener Verlauf 34 des Ausgangssignals S 16 des Strahlungsempfängers 16 entsteht Dieses Ausgangssignal S 16 gelangt über einen Verstärker 35 und ein Hochpaßfilter 36 als Detektionssignal SD an den Signaleingang 40 einer Auswertanordnung 41. Die Grenzfrequenz fp des Hochpaßfilters 36 ist so bemessen, daß einerseits der Verlauf 34 des aus den einzelnen Abschnitten 37,38 und 39 des bei einer zu erkennenden oder zu messenden Benetzung des sensoraktiven Bereiches der Platte oder Wand 1 gebildeten Ausgangssignales S 16 vom Filter noch annähernd übertragen wird und daß andererseits Schwankungen von Fremdstrahlungen auf den Strahlungsempfänger 16, die dieser ebenfalls in elektrische Signale umsetzt, nicht mehr im Detektionssignal SD wirksam werden. Dieser zeitliche Verlauf des am Ausgang des Hochpaßfilters 36 gebildete Detektionssignales SD ist im Diagramm d) der Fig 4 in einer dick ausgezogenen Kurve 42 schematisch dargestellt. Im dargestellten Ausführungsbeispiel enthält die Auswertanordnung 4 eine nicht näher dargestellte Schwellwertschaltung, die ein Steuersignal S 41 am Ausgang 41.2 der Auswertanordnung 41 erzeugt, wenn der Verlauf 42 des Detektionssignals SD einen bestimmten Schwellwert SW überragt. Dieses nicht näher dargestellte Steuersignal S 41 zeigt eine Benetzung der benetzten Platte 1 oder Wand im sensoraktiven Bereich 14 der Platte an und kann zur Steuerung von der Benetzung abhängiger Vorgänge verwendet werden.
In Fig 5 ist ein Blockschaltbild eines weiteren Ausführungsbeispiels einer Anordnung zum Messen oder Feststellen einer Benetzung einer Platte 1 oder Wand dargestellt, das sich von dem in Fig 3 dargestellten Ausführungsbeispiel im wesentlichen durch die Art der Anordnung der Strahlungsquellen im sensoraktiven Bereich 14 der Platte oder Wand und durch eine zusätzliche Regelanordnung zur Regelung des Abgleiches der Strahlungsleistung der Strahlungsquellen unterscheidet
Die beiden Strahlungsquellen 2.1 und 2.2 sind so an die innere Oberfläche 4 der Platte 1 angekoppelt, daß der Einstrahlungswinkel aE der maximalen Strahlungsstärke einer Strahlungsquelle 2.1 oder 2.2 in die Platte oder Wand etwa gleich dem Winkel ist, für den das erste Maximum 10 er Rückstrahlung 7 aus der inneren Oberfläche 4 der Platte oder Wand in einer die Platte oder Wand am Ort der Strahlungsquelle und des zugehörigen, ebenfalls an die innere Oberfläche angekoppelten Strahlungsempfängers 16 senkrecht durchdringenden Ebene seinen größten Wert erreicht. Dadurch wird ein ausgeprägteres erstes Maximum 10 der Kurve 8.1 oder 8.2 der Strahlungsstärke der Rückstrahlung 7 der Strahlungsquellen aus der inneren Oberfläche 4 der Platte oder Wand 1 erreicht, wie mittels der in Fig 6 dargestellten Kurven 8.1 und 8.2 der Strahlungsstärken Il für die Rückstrahlung der Strahlungsquellen 2.1 und 2.2 schematisch veranschaulicht ist Darüber hinaus sind die beiden Strahlungsquellen 2.1 und 2.2 mit unterschiedlichen Abständen xl und x2 von ihrem zugehörigen Strahlungsempfänger entfernt, nämlich derart, daß in abgeglichenem Zustand der beiden Strahlungsquellen und bei unbenetzter Platte oder Wand der Strahlungsempfänger 16
auf der Rückflanke 43 des ersten Maximums der Kurve 8.1 der Rückstrahlung der ersten Strahlungsquelle 2.1 und gleichzeitig auf der Vorderflanke 44 des ersten Maximums der Kurve 8.2 der von der zweiten Strahlungsquelle 2.2 verursachten Rückstrahlung aus der inneren Oberfläche 4 der Platte oder Wand 1 liegt
Mit dieser Anordnung der Strahlungsquellen 2.1 und 2.2 wird es möglich, eine Benetzung in der Gestalt eines gleichbleibenden Flüssigkeitsfilms oder einer gleichbleibenden Flüssigkeitsschicht 45, wie sie schematisch auf der äußeren Oberfläche 5 einer Platte oder Wand in Fig 5 dargestellt ist, festzustellen oder zu messen. Durch die Benetzung werden die Flanken 43 und 44 der beiden Kurven 8.1 und 8.2 der Strahlungsstärke der Rückstrahlung für die unbenetzte Platte derart verformt und verlagert, daß der beiden Kurven gemeinsame Abgleichpunkt 46 für das Ausgangssignal S16 des Strahlungsempfängers in zwei Kurvenpunkte 46. lund 46.2 mit zwei unterschiedlichen Amplitudenwerte 146.1 und 146.2 aufsplittet, wie Fig 6 veranschaulicht, so daß daraus ein Signalunterschied des Detektionssignal SD abgeleitet werden kann, zur Bildung eines Steuer- und/oder Meßsignales S 41.
Bei der in Fig 5 dargestellten Anordnung ist die Schalteranordnung zur Steuerung der beiden Strahlungsquellen 2.1 und 2.2 ein Taktgenerator 30 der an einem nicht invertierenden Ausgang 30.0 und an einem invertierenden Ausgang 30.1 abwechselnd einen Stromimpuls jeweils zur Anregung der Ausstrahlung der an den Ausgang angeschlossenen Strahlungsquelle für die Dauer des Stromimpulses erzeugt. Der eine Ausgang des Stromimpulsgenerators 30 enthält zur Einstellung des Stromwertes ein Stromstellglied 32, das durch ein Stellsignal Sr an seinem Stelleingang 47 verstellbar ist. Die Rückstrahlung dieser beiden Strahlungsquellen am Ankopplungsort XE (Fig 6) des Strahlungsempfängers 16 wird von diesem in ein elektrisches Ausgangssignal S 16 gewandelt, das entsprechend zu der in Fig 3 dargestellten Anordnung über einen Verstärker 35 und einen Hoch- oder Bandpaß 36 als Detektionssignal SD an den Ausgang der Filterschaltung 36 gelangt. An den Ausgang der Filterschaltung 36 ist eine Signalzentrierstufe 48 angeschlossen, die die Änderungen des Detektionssignales SD am Ausgang der Filterschaltung 36 einer Mittenspannung Uz aufprägt. Im dargestellten Ausführungsbeispiel enthält die Signalzentrierstrufe 48 einen Synchrondemodulator 49 mit zwei Demodulatorausgängen 49.1 und 49.2, die je einer Strahlungsquelle zugeordnet sind. Die Zuordnung erfolgt über einen Steuertakt S 30.0 des Stromimpulsgenerators 30 , der auch die Abstrahlung der Strahlungsquellen steuert. Den Demodulatorausgängee 49.1 und 49.2 sind im dargestellten Ausführungsbeispiel Demodulationswertspeicher 50.1 und 50.2 nachgeschaltet, die den mittleren Amplitudenwert der von dem Synchrondemodulator 49 abgetasteten , den beiden Strahlungsquellen zugeordneten Signalabschnitten des Demodulationssignals SD momentan speichern und auf diese Weise einen Hüllkurvendemodulator bilden. Aus den momentanen mittleren Amplitudenwerten der beiden Detektionswertspeicher wird in einem anschließenden Operationsverstärker 51 der Differenzwert gebildet und einem
Mittenwert aufgeprägt Dieses so gebildete geglättete Detektionssignal SD m, das gegenüber dem Detektionssignal SD am Ausgang der Filterschaltung 36 wesentlich von Störungen befreit ist, wird sowohl einer Auswertanordnung 41 als auch einer Regelschaltung 52 mit einer hohen Regelzeitkonstanten Tv zugeführt Im dargestellten Ausführungsbeispiel enthält die Regelschaltung ein Zeitkonstantenglied 53 und einen Vergleicher 54, der aus dem Vergleich mit einem Referenzsignal Sref ein Stellsignal Sr
fur den Stelleingang 47 des Stromstellgliedes 32 derart erzeugt, daß die Strahlungsleistung der mit dem Stromstellglied geregelten Strahlungsquelle 2.1 so verändert wird, daß der Unterschied der Detektionsamplitudenwerte am Ausgang der Signalzentrierstufe 48 gegen Null geht. Die Regelgeschwindigkeit, d.h. die Regelzeitkonstante Tv der Regelschaltung 52 ist hierbei so bemessen, daß sie um ein wesentliches Vielfaches größer ist als die langsamsten noch zu erfassenden Änderungen eines Benetzungsvorganges. Die Auswertanordnung 41 kann eingangsseitig auch unmittelbar mit dem Ausgang der beiden Detektionwertspeicher 50.1 und 50.2 verbunden werden, insbesondere dann, wenn mittels der Auswertanordnung die Benetzung gemessen werden soll.

Claims (6)

1. Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Benetzung einer benetzbaren äußeren Oberfläche (5) einer für eine bestimmte Strahlung durchlässigen Platte oder Wand (1),
gekennzeichnet
- durch einen sensoraktiven Bereich (14) in der Platte oder Wand(l), in der wenigstens zwei Strahlungsquellen (2.1,2.2) oder Gruppen (17,18,19) von Strahlungsquellen zum Einstrahlen der bestimmten Strahlung (3) in die strahlungsdurchlässige Platte oder Wand an die der benetzbaren äußeren Oberfläche (5) gegenüberliegende innere Oberfläche (4) der Platte oder Wand angekoppelt sind,
- durch eine Schalteranordnung (23,30) zu einem zeitabschnittsweisen Wirksamschalten jeder der einzelnen Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen in einer aufeinanderfolgenden, sich wiederholenden Schaltfolge einer bestimmten Schaltfolgefrequenz (fa),
- durch wenigstens einen Strahlungsempfänger (16), der im Überlappungsbereich (Fig 2) der Zonen (20) eines ersten Maximums (10) des Strahlungsstärkeverlaufs (8) des bei unbenetztem sensoraktivem Bereich aus der inneren Oberfläche der Platte oder Wand austretenden Rückstrahlung (7) der dem Strahlungsempfänger zugeordneten Strahlungsquellen an der
inneren Oberfläche angekoppelt ist, zur Erzeugung eines der empfangenen Strahlung entsprechenden Detektionssignales (SD)
- durch eine Einstellanordnung (32) zur Einstellung einer derart bemessenen Strahlungsleistung der einzelnen Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen, daß bei unbenetztem sensoraktivem Bereich jede der dem Strahlungsempfänger zugeordnete Strahlungsquelle oder Gruppe von Strahlungsquellen einen Abschnitt (37) des Detektionssignales erzeugt, dessen mittlerer Amplitudenwert gleich dem mittleren
Amplitudenwert der den anderen Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen zugeordneten Abschnitten (38,39) des Detektionssignales ist.
- und durch eine dem (den) Strahlungsempfänger(n) nachgeschaltete Filterschaltung (36) zur Übertragung des auf eine Schwingung der Schaltfolgefrequenz modulierten Detektionssignales (SD) an eine Auswertanordnung (41) zur Erzeugung eines Steuer- und/oder Meßwertsignales (S 41) aus dem in der Auswertanordnung gemessenen oder festgestellten Unterschied der den einzelnen Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen zugeordneten Abschnitten
des Detektionssignales.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Schalteranordnung ein Stromimpulsgenerator (30) mit einem nichtinvertierenden Ausgang (30.0) und einem invertierenden Ausgang (30.1) ist und daß in wenigstens einem (30.1) der Ausgänge ein Stromstellglied (32) zum Einstellen einer bestimmten Strahlungsleistung der zugehörigen, von dem Ausgang (30.1) geschalteten Strahlungsquelle (2.1) oder Gruppe von Strahlungsquellen angeordnet ist
3. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Filterschaltung ein Hochpaß (36) ist.
4. Anordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch zwei an die der benetzbaren äußeren Oberfläche (5) gegenüberliegende innere Oberfläche (4) der Platte oder Wand (1) angekoppelte Strahlungsquellen (2.1,2.2), von denen die erste Strahlungsquelle (2.1) soweit vom zugehörigen gemeinsamen Strahlungsempfänger (16) entfernt ist, daß der Strahlungsempfänger auf der von der Strahlungsquelle abliegenden Flanke (43) des ersten Maximums (10.1) der bei unbenetztem sensoraktivem Bereich (14) von der ersten Strahlungsquelle an der inneren Oberfläche der Platte oder Wand erzeugten Strahlungsstärkekurve (8.1) und die zweite Strahlungsquelle (2.2) soweit von dem gemeinsamen Strahlungsempfänger entfernt ist, daß der Strahlungsempfänger auf der der zweiten Strahlungsquelle zunächst liegenden Flanke (44) des ersten Maximums (10.2) der bei unbenetztem sensoraktiven Bereich von der zweiten Strahlungsquelle an der inneren Oberfläche der Platte oder Wand erzeugten Strahlungsstärkekurve (8.2) liegt.
5. Anordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine dem Ausgang der Filterschaltung (36) nachgeschaltete, eine Signalzentrierstufe (48) und einen Regelsignalgenerator (52) enthaltende Regelanordnung
- in der die Signalzentrierstufe (48) für jede einem Strahlungsempfänger (16) zugeordnete Strahlungsquelle (2.1,2.2) oder Gruppe von Strahlungsquellen einen Detektionswertspeicher (50.1,50.2) zum speichern des mittleren Amplitudenwertes jeweils des der Strahlungsquelle (z.B. 2.1) zugeordneten Signalabschnittes (z.B. 37) des Detektionssignales (SD) enthält,
- in der die Signalzentrierstufe außerdem eine Tastschaltung (49) zum Abtasten des Amplitudenwertes der der wirksam geschalteten Strahlungsquelle zugeordneten Signalabschnitte des Detektionssignales und zum Einspeichern des mittleren Amplitudenwertes dieser Signalabschnitte in den zugehörigen Detektionswertspeicher und eine Vergleicheranordnung (51) zur Erzeugung eines Differenzwertes aus den gespeicherten Amplitudenwerten zweier Detektionswertspeicher enthält
- und in der der Regelsignalgenerator (52) der Signalzentrierstufe nachgeschaltet ist und eine gegenüber der Schwingungsperiode der bestimmten Schaltfolgefrequenz (fa) um ein wesentliches Vielfaches größere Regelzeitkonstante (Tr) für ein im Regelsignalgenerator aus der Differenz der mittleren Amplitudenwerten der den einzelnen Strahlungsquellen oder Gruppen von Strahlungsquellen zugeordneten Signalabschnitten des Detektionssignales erzeugtes Regelsignal (Sr) zur Einstellung des (der) Stromstellgliedes (glieder) (32) enthält, welche Einstellung durch das Regelsignal derart geführt ist, daß die Differenz der mittleren Amplitudenwerte der Signalabschnitte des Detektionssignales gegen Null geht
6. Anordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine Ankopplung der einem Strahlungsempfänger (16) zugeordneten Strahlungsquellen (2.1,2.2) an die innere Oberfläche (4) einer Platte oder Wand (1) derart, daß der Einstrahlungswinkel (aE) des Strahles der maximalen Strahlungsstärke (I) einer Strahlungsquelle (2.1) in die Platte oder Wand etwa gleich dem Winkel ist, für den das erste Maximum (10) der Rückstrahlung (7) aus der inneren Oberfläche (4) der Platte oder Wand (1) in einer die Platte oder Wand am Ort der Strahlungsquelle (2.1) und des zugehörigen Strahlungsempfängers (16) senkrecht durchdringenden Ebene seinen größten Wert erreicht
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DE4339573A DE4339573C2 (de) 1993-07-02 1993-11-19 Auswertevorrichtung für Signale, die von einer Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Benetzung einer Fläche ermittelt wurden
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DE4411772A DE4411772A1 (de) 1993-07-02 1994-04-06 Einrichtung zur Steuerung einer Scheibenwischanlage
DE4411773A DE4411773C2 (de) 1993-07-02 1994-04-06 Einrichtung zur Steuerung einer Scheibenwischanlage
DE4411770A DE4411770C2 (de) 1993-07-02 1994-04-06 Einrichtung zur Steuerung einer Scheibenwischanlage
ES94918294T ES2110763T3 (es) 1993-07-02 1994-06-18 Dispositivo para la medicion o deteccion de una modificacion en un elemento reflectante.
AU69683/94A AU6968394A (en) 1993-07-02 1994-06-18 Device for controlling a windscreen-washer installation
US08/578,683 US5726547A (en) 1993-07-02 1994-06-18 Windshield wiper arrangement including wiper control system
JP7503209A JPH09500345A (ja) 1993-07-02 1994-06-18 ウィンドワイパー装置の制御装置
EP94918290A EP0705186B2 (de) 1993-07-02 1994-06-18 Einrichtung zur steuerung einer scheibenwischanlage
PCT/DE1994/000710 WO1995001270A1 (de) 1993-07-02 1994-06-18 Einrichtung zur steuerung einer scheibenwischanlage
US08/578,685 US5666037A (en) 1993-07-02 1994-06-18 Arrangement for measuring or detecting a change in a retro-reflective element
PCT/DE1994/000714 WO1995001561A1 (de) 1993-07-02 1994-06-18 Anordnung zum messen oder erkennen einer veränderung an einem rückstrahlenden element
JP50321095A JP3362852B2 (ja) 1993-07-02 1994-06-18 反射要素における変化の測定または識別装置
AU69684/94A AU6968494A (en) 1993-07-02 1994-06-18 Arrangement for measuring or detecting a change in a retro-reflective component
DE59403980T DE59403980D1 (de) 1993-07-02 1994-06-18 Anordnung zum messen oder erkennen einer veränderung an einem rückstrahlenden element
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ES94918290T ES2102230T5 (es) 1993-07-02 1994-06-18 Dispositivo para controlar un sistema de limpiaparabrisas.
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Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4339574A1 (de) * 1993-11-19 1995-05-24 Gerd Reime Auswertevorrichtung
DE4339572A1 (de) * 1993-11-19 1995-05-24 Gerd Reime Vorrichtung mit einer Meßanordnung
WO1995021371A1 (de) * 1994-02-07 1995-08-10 Itt Automotive Europe Gmbh Schaltungsanordnung zum empfangen von lichtsignalen
DE4431117A1 (de) * 1994-09-01 1996-03-14 Gerd Reime Schaltung für den Empfang eines Wechsellicht enthaltenden Lichtsignals
DE19504606A1 (de) * 1995-02-11 1996-08-14 Kostal Leopold Gmbh & Co Kg Optoelektronische Einrichtung
WO1996037390A1 (de) * 1995-05-27 1996-11-28 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung zum betreiben eines scheibenwischers
EP0705186B1 (de) * 1993-07-02 1997-03-12 Gerd Reime Einrichtung zur steuerung einer scheibenwischanlage
US5666037A (en) * 1993-07-02 1997-09-09 Reime; Gerd Arrangement for measuring or detecting a change in a retro-reflective element
DE19643465A1 (de) * 1996-10-22 1998-04-30 Bosch Gmbh Robert Steuervorrichtung für einen optischen Sensor
WO1998051549A1 (en) * 1997-05-14 1998-11-19 Hegyi Dennis J Multi-function light sensor for vehicle
WO1999022961A1 (de) 1997-11-03 1999-05-14 Valeo Auto-Electric Wischer Und Motoren Gmbh Einrichtung zur beeinflussung einer beleuchtungseinrichtung
DE19801745A1 (de) * 1998-01-20 1999-07-22 Itt Mfg Enterprises Inc Vorrichtung zur Überwachung des Zustands einer Fensterscheibe
DE102008007527A1 (de) 2008-02-05 2009-08-06 Volkswagen Ag Scheibenwischeranlage für ein Fahrzeug mit einem Regensensor
EP2924462A1 (de) 2014-03-25 2015-09-30 ELMOS Semiconductor AG Sensorsystem zur Erkennung der Eigenschaften einer Übertragungsstrecke
US9520953B2 (en) 2012-02-23 2016-12-13 Elmos Semiconductor Ag Method and sensor system for measuring the properties of a transmission path of a measuring system between a transmitter and a receiver
US9658323B2 (en) 2011-12-06 2017-05-23 Elmos Semiconductor Ag Method for measuring a transmission path by means of compensating amplitude measurement and delta-sigma method, and device for implementing the method

Families Citing this family (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5568027A (en) * 1995-05-19 1996-10-22 Libbey-Owens-Ford Co. Smooth rain-responsive wiper control
DE19519502A1 (de) * 1995-05-27 1996-11-28 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zum Betreiben eines Scheibenwischers
DE19631059A1 (de) * 1996-08-01 1998-02-05 Teves Gmbh Alfred Optische Sensoren mit integriertem Detektor zum Erkennen der Verschmutzung des Lichtaustrittsfensters
DE19644565A1 (de) * 1996-10-26 1998-04-30 Teves Gmbh Alfred Sich bewegende Objekte, feststellende Überwachungseinrichtung, insbesondere für Kraftfahrzeuge
DE19725287A1 (de) * 1997-06-14 1998-12-17 Itt Mfg Enterprises Inc Regensensor mit gebondeten Sensor-Chips
DE19729103A1 (de) * 1997-07-08 1999-01-14 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung und Verfahren zum Betreiben eines Regensensors
EP0893318A3 (de) * 1997-07-22 2000-05-03 Nippon Sheet Glass Co. Ltd. Transparentes Substrat mit Wassertropfendetektor und Signalauslöseverfahren und Ausgangssignal-Stabilisierungsverfahren dafür
DE19749331A1 (de) * 1997-11-07 1999-05-20 Kostal Leopold Gmbh & Co Kg Verfahren zum Detektieren von auf einer Windschutzscheibe befindlichen Objekten sowie Vorrichtung
EP0947402A3 (de) * 1998-04-03 1999-12-01 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Wassersensor
DE19815747C1 (de) 1998-04-08 1999-10-28 Bosch Gmbh Robert Sensoreinrichtung zur Erfassung einer Benetzung auf einer Scheibe
DE19815746C1 (de) * 1998-04-08 1999-11-04 Bosch Gmbh Robert Sensoreinrichtung zur Erfassung einer Benetzung auf einer Scheibe
DE19860214A1 (de) * 1998-12-24 2000-07-13 Bosch Gmbh Robert Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung eines störungsbehafteten Empfangssignals
DE19904280B4 (de) * 1999-02-03 2005-08-18 BSH Bosch und Siemens Hausgeräte GmbH Vorrichtung und Verfahren zur Ermittlung von Ablagerungen an Glasoberflächen in Spülmaschinen
DE50014297D1 (de) * 1999-06-18 2007-06-14 Valeo Wischersysteme Gmbh Regensensor zur detektion von feuchtigkeitstropfen
DE10005125A1 (de) * 2000-02-07 2001-08-09 Valeo Auto Electric Gmbh Verfahren zum Kalibrieren eines Regensensors
DE10117397A1 (de) * 2001-04-06 2002-10-10 Valeo Auto Electric Gmbh Sensor zur Detektion von Schmutz und/oder Feuchtigkeit auf einer Außenseite einer Scheibe
DE10311800A1 (de) * 2003-03-12 2004-09-23 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Verfahren zum Betreiben eines Sensors zur Detektion von Störeinflüssen auf einem durchlässigen Körper
DE10316107A1 (de) * 2003-04-09 2004-10-21 Daimlerchrysler Ag Verfahren zur Auswertung eines Regensensors
DE10330526A1 (de) * 2003-07-05 2005-01-27 Hella Kgaa Hueck & Co. Sensor zur berührungslosen Detektion von Schmutzpartikeln
DE10340702A1 (de) * 2003-09-04 2005-03-31 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Verfahren zum Betreiben einer Sensorvorrichtung zur Detektion von Störeinflüssen auf der Außenseite eines optisch durchlässigen Körpers
DE10351254A1 (de) * 2003-11-03 2005-06-02 Adc Automotive Distance Control Systems Gmbh Vorrichtung zur Erfassung von Verschmutzungen auf einer lichtdurchlässigen Abdeckscheibe vor einem optischen Einheit
DE102005013021A1 (de) * 2005-03-22 2006-09-28 Leopold Kostal Gmbh & Co. Kg Optoelektronische Sensoreinrichtung für ein Kraftfahrzeug
JP4779860B2 (ja) * 2006-08-03 2011-09-28 株式会社デンソー 雨滴量検出装置及びワイパー制御装置
DE102007004974A1 (de) * 2007-01-26 2008-07-31 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Sensormodul zur Detektion von Aerosolen und/oder Regentropfen und Betriebsverfahren hierfür
CN102991463B (zh) * 2010-11-23 2014-11-05 江苏日盈电子股份有限公司 车用雨量阳光感应控制系统
CN103376243B (zh) * 2012-04-18 2015-10-28 原相科技股份有限公司 雨刷控制装置、光学雨滴检测装置及其检测方法
DE102012024597B4 (de) 2012-12-13 2014-07-24 Elmos Semiconductor Ag Zeitauflösendes Verzögerungsmesssystem
DE102013013664B3 (de) * 2013-08-17 2014-08-14 Elmos Semiconductor Ag Zeitauflösendes Verzögerungsmesssystem
EP3036561B1 (de) 2013-08-22 2018-01-31 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Störkompensierte vorrichtung zur vermessung einer optischen signalübertragungsstrecke
DE102015002282A1 (de) 2014-05-09 2015-11-12 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zum insbesondere dreidimensionalen optischen Scannen und Vermessen von Objekten und zur Objekterkennung mittels Lichtlaufzeitmessung
DE102014017237A1 (de) 2014-11-21 2016-05-25 Mechaless Systems Gmbh Messsystem zur energiesparenden optischen Abstandsmessung
DE102014019172B4 (de) 2014-12-17 2023-12-07 Elmos Semiconductor Se Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung von festen Objekten, Kochdunst und Rauch mit einem kompensierenden optischen Messsystem
DE102014019773B4 (de) 2014-12-17 2023-12-07 Elmos Semiconductor Se Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung von festen Objekten, Kochdunst und Rauch mittels des Displays eines Mobiltelefons
DE102015006174B3 (de) * 2015-05-08 2016-08-11 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke
DE102015015245A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015244A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015390A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Ag Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015389A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Ag Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015248A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
DE102015015246A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Einfache Gestenerkennungsvorrichtung
FR3050889A1 (fr) * 2016-04-27 2017-11-03 STMicroelectronics (Alps) SAS Circuit d'emission optique en creneaux
DE102017106812B4 (de) 2016-05-09 2018-01-11 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und zugehöriges Verfahren zur selbständigen Adresskonfiguration konfektionierbarer, flexibler LED-Sensor-Bänder
DE102017106813B4 (de) 2016-05-09 2018-01-18 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und zugehöriges Verfahren zur selbständigen Adresskonfiguration konfektionierbarer, flexibler Sensor-Bänder
DE102017106811B4 (de) 2016-05-09 2018-01-11 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und zugehöriges Verfahren zur selbständigen Adresskonfiguration konfektionierbarer, flexibler LED-Bänder
DE102017100308B3 (de) 2016-12-06 2018-05-30 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke mit verringerter EMV Empfindlichkeit
DE102017100306B4 (de) 2017-01-09 2021-08-12 Elmos Semiconductor Se Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke mittels Mehrfachmodulation
DE102017100305B4 (de) 2017-01-09 2021-08-12 Elmos Semiconductor Se Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer optischen, kapazitiven, induktiven Übertragungsstrecke mittels Mehrfachmodulation
DE102020212657A1 (de) 2020-10-07 2022-04-07 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung System zum optischen Detektieren von Ablagerungen auf einer Oberfläche und Sensor mit System

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE8202355U1 (de) * 1982-01-30 1983-03-31 Vdo Adolf Schindling Ag, 6000 Frankfurt Einrichtung zum erkennen von fremdstoffen auf einer scheibe
DE3140865A1 (de) * 1981-10-14 1983-05-11 Hans-Wolfgang 8000 München Diesing Schaltungsanordnung fuer gepulste reflexionslichtschranken
DE3203091A1 (de) * 1982-01-30 1983-08-18 Vdo Adolf Schindling Ag, 6000 Frankfurt Einrichtung zum erkennen von fremdstoffen auf einer scheibe
DE3235590A1 (de) * 1982-09-25 1984-03-29 Fraunhofer Ges Forschung Vorrichtung zum optischen erfassen von fremdkoerpern
DE3825665A1 (de) * 1987-07-31 1989-02-09 Veglia Borletti Srl Sensorvorrichtung zur feststellung des vorhandenseins von wassertroepfchen auf einer fahrzeug-scheibe und mit der sensorvorrichtung arbeitendes scheibenwischer-steuergeraet
DE9010998U1 (de) * 1990-03-01 1990-10-25 Sartorius AG, 3400 Göttingen Komparatorschaltung für Signale einer Lichtschranke
DE4027367C1 (en) * 1990-08-30 1991-07-04 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart, De Deposit detector for outer surface of pane - uses radiation source and receiver at right angles to pane esp. windscreen to detect rain drops
DE4102146C1 (en) * 1991-01-25 1991-09-26 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart, De Rain and dirt sensor for motor vehicle windscreen - uses light source below or at inner side of pane and light measurer at top or outside

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2630470A1 (de) * 1976-07-07 1978-01-12 Schmidt Karl Heinz Selbsttaetige steuerung von kraftfahrzeug-scheibenwischanlagen
JPS59140146A (ja) * 1983-01-28 1984-08-11 Jidosha Denki Kogyo Co Ltd ワイパ間欠駆動制御装置
DE3314770A1 (de) * 1983-04-23 1984-10-31 Sidler GmbH & Co, 7400 Tübingen Einrichtung zum steuern eines scheibenwischermotors
DE3619208A1 (de) * 1986-06-07 1987-12-10 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zum optischen erfassen von fremdkoerpern
DE3733762A1 (de) * 1987-10-06 1989-04-20 Karl Gerhard Scheibenverschmutzungsmelder
JP2515765Y2 (ja) * 1988-04-18 1996-10-30 愛三工業株式会社 電動機
DE3935807A1 (de) * 1989-10-27 1991-05-02 Swf Auto Electric Gmbh Wischanlage fuer kraftfahrzeuge
DE4018903A1 (de) * 1990-06-13 1991-12-19 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zum betreiben eines scheibenwischers
DE4231763C2 (de) * 1992-09-23 1995-07-06 Kostal Leopold Gmbh & Co Kg Einrichtung zur Steuerung einer Scheibenwischanlage

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3140865A1 (de) * 1981-10-14 1983-05-11 Hans-Wolfgang 8000 München Diesing Schaltungsanordnung fuer gepulste reflexionslichtschranken
DE8202355U1 (de) * 1982-01-30 1983-03-31 Vdo Adolf Schindling Ag, 6000 Frankfurt Einrichtung zum erkennen von fremdstoffen auf einer scheibe
DE3203091A1 (de) * 1982-01-30 1983-08-18 Vdo Adolf Schindling Ag, 6000 Frankfurt Einrichtung zum erkennen von fremdstoffen auf einer scheibe
DE3235590A1 (de) * 1982-09-25 1984-03-29 Fraunhofer Ges Forschung Vorrichtung zum optischen erfassen von fremdkoerpern
DE3825665A1 (de) * 1987-07-31 1989-02-09 Veglia Borletti Srl Sensorvorrichtung zur feststellung des vorhandenseins von wassertroepfchen auf einer fahrzeug-scheibe und mit der sensorvorrichtung arbeitendes scheibenwischer-steuergeraet
DE9010998U1 (de) * 1990-03-01 1990-10-25 Sartorius AG, 3400 Göttingen Komparatorschaltung für Signale einer Lichtschranke
DE4027367C1 (en) * 1990-08-30 1991-07-04 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart, De Deposit detector for outer surface of pane - uses radiation source and receiver at right angles to pane esp. windscreen to detect rain drops
DE4102146C1 (en) * 1991-01-25 1991-09-26 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart, De Rain and dirt sensor for motor vehicle windscreen - uses light source below or at inner side of pane and light measurer at top or outside

Cited By (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6118383A (en) * 1993-05-07 2000-09-12 Hegyi; Dennis J. Multi-function light sensor for vehicle
EP0705186B1 (de) * 1993-07-02 1997-03-12 Gerd Reime Einrichtung zur steuerung einer scheibenwischanlage
US5666037A (en) * 1993-07-02 1997-09-09 Reime; Gerd Arrangement for measuring or detecting a change in a retro-reflective element
US5726547A (en) * 1993-07-02 1998-03-10 Reime; Gerd Windshield wiper arrangement including wiper control system
DE4339574C2 (de) * 1993-11-19 1999-07-15 Gerd Reime Auswertevorrichtung für Signale, die von einer Meßanordnung zum Messen oder Erkennen einer Benetzung einer Fläche ermittelt wurden
DE4339572A1 (de) * 1993-11-19 1995-05-24 Gerd Reime Vorrichtung mit einer Meßanordnung
DE4339574A1 (de) * 1993-11-19 1995-05-24 Gerd Reime Auswertevorrichtung
WO1995021371A1 (de) * 1994-02-07 1995-08-10 Itt Automotive Europe Gmbh Schaltungsanordnung zum empfangen von lichtsignalen
US5900960A (en) * 1994-02-07 1999-05-04 Itt Automobive Europe Gmbh Circuit arrangement for receiving light signals
US5789738A (en) * 1994-09-01 1998-08-04 Reime; Gerd Circuit for setting the operating point of an opto-electronic component
DE4431117A1 (de) * 1994-09-01 1996-03-14 Gerd Reime Schaltung für den Empfang eines Wechsellicht enthaltenden Lichtsignals
DE19504606C2 (de) * 1995-02-11 1999-01-07 Kostal Leopold Gmbh & Co Kg Optoelektronische Einrichtung zur Erfassung von auf der Außenseite einer transparenten Scheibe sich ablagerndem Niederschlag
DE19504606A1 (de) * 1995-02-11 1996-08-14 Kostal Leopold Gmbh & Co Kg Optoelektronische Einrichtung
WO1996037390A1 (de) * 1995-05-27 1996-11-28 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung zum betreiben eines scheibenwischers
EP0871579B2 (de) † 1996-10-22 2011-01-26 Robert Bosch Gmbh Steuervorrichtung für einen optischen sensor
DE19643465A1 (de) * 1996-10-22 1998-04-30 Bosch Gmbh Robert Steuervorrichtung für einen optischen Sensor
DE19643465C2 (de) * 1996-10-22 1999-08-05 Bosch Gmbh Robert Steuervorrichtung für einen optischen Sensor, insbesondere einen Regensensor
WO1998051549A1 (en) * 1997-05-14 1998-11-19 Hegyi Dennis J Multi-function light sensor for vehicle
WO1999022961A1 (de) 1997-11-03 1999-05-14 Valeo Auto-Electric Wischer Und Motoren Gmbh Einrichtung zur beeinflussung einer beleuchtungseinrichtung
US6373215B1 (en) 1998-01-20 2002-04-16 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Device for monitoring the state of a window pane
DE19801745A1 (de) * 1998-01-20 1999-07-22 Itt Mfg Enterprises Inc Vorrichtung zur Überwachung des Zustands einer Fensterscheibe
DE102008007527A1 (de) 2008-02-05 2009-08-06 Volkswagen Ag Scheibenwischeranlage für ein Fahrzeug mit einem Regensensor
DE102008007527B4 (de) 2008-02-05 2018-06-07 Volkswagen Ag Scheibenwischeranlage für ein Fahrzeug mit einem Regensensor
US9658323B2 (en) 2011-12-06 2017-05-23 Elmos Semiconductor Ag Method for measuring a transmission path by means of compensating amplitude measurement and delta-sigma method, and device for implementing the method
US9520953B2 (en) 2012-02-23 2016-12-13 Elmos Semiconductor Ag Method and sensor system for measuring the properties of a transmission path of a measuring system between a transmitter and a receiver
EP2924462A1 (de) 2014-03-25 2015-09-30 ELMOS Semiconductor AG Sensorsystem zur Erkennung der Eigenschaften einer Übertragungsstrecke
EP2924463A1 (de) 2014-03-25 2015-09-30 ELMOS Semiconductor AG Sensorsystem zur Erkennung der Eigenschaften einer Übertragungsstrecke

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