FI111103B - Laite heijastavassa elementissä tapahtuvan muutoksen mittaamiseksi tai havaitsemiseksi - Google Patents

Laite heijastavassa elementissä tapahtuvan muutoksen mittaamiseksi tai havaitsemiseksi Download PDF

Info

Publication number
FI111103B
FI111103B FI956323A FI956323A FI111103B FI 111103 B FI111103 B FI 111103B FI 956323 A FI956323 A FI 956323A FI 956323 A FI956323 A FI 956323A FI 111103 B FI111103 B FI 111103B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
radiation
signal
radiation source
detection signal
sources
Prior art date
Application number
FI956323A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI956323A (fi
FI956323A0 (fi
Inventor
Gerd Reime
Original Assignee
Gerd Reime
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from DE9309837U external-priority patent/DE9309837U1/de
Priority claimed from DE4339572A external-priority patent/DE4339572A1/de
Priority claimed from DE19934339574 external-priority patent/DE4339574C2/de
Application filed by Gerd Reime filed Critical Gerd Reime
Publication of FI956323A0 publication Critical patent/FI956323A0/fi
Publication of FI956323A publication Critical patent/FI956323A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI111103B publication Critical patent/FI111103B/fi

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/43—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length by measuring critical angle
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B60—VEHICLES IN GENERAL
    • B60S—SERVICING, CLEANING, REPAIRING, SUPPORTING, LIFTING, OR MANOEUVRING OF VEHICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B60S1/00—Cleaning of vehicles
    • B60S1/02—Cleaning windscreens, windows or optical devices
    • B60S1/04—Wipers or the like, e.g. scrapers
    • B60S1/06—Wipers or the like, e.g. scrapers characterised by the drive
    • B60S1/08—Wipers or the like, e.g. scrapers characterised by the drive electrically driven
    • B60S1/0818—Wipers or the like, e.g. scrapers characterised by the drive electrically driven including control systems responsive to external conditions, e.g. by detection of moisture, dirt or the like
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B60—VEHICLES IN GENERAL
    • B60S—SERVICING, CLEANING, REPAIRING, SUPPORTING, LIFTING, OR MANOEUVRING OF VEHICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B60S1/00—Cleaning of vehicles
    • B60S1/02—Cleaning windscreens, windows or optical devices
    • B60S1/04—Wipers or the like, e.g. scrapers
    • B60S1/06—Wipers or the like, e.g. scrapers characterised by the drive
    • B60S1/08—Wipers or the like, e.g. scrapers characterised by the drive electrically driven
    • B60S1/0818—Wipers or the like, e.g. scrapers characterised by the drive electrically driven including control systems responsive to external conditions, e.g. by detection of moisture, dirt or the like
    • B60S1/0822—Wipers or the like, e.g. scrapers characterised by the drive electrically driven including control systems responsive to external conditions, e.g. by detection of moisture, dirt or the like characterized by the arrangement or type of detection means
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B60—VEHICLES IN GENERAL
    • B60S—SERVICING, CLEANING, REPAIRING, SUPPORTING, LIFTING, OR MANOEUVRING OF VEHICLES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B60S1/00—Cleaning of vehicles
    • B60S1/02—Cleaning windscreens, windows or optical devices
    • B60S1/04—Wipers or the like, e.g. scrapers
    • B60S1/06—Wipers or the like, e.g. scrapers characterised by the drive
    • B60S1/08—Wipers or the like, e.g. scrapers characterised by the drive electrically driven
    • B60S1/0818—Wipers or the like, e.g. scrapers characterised by the drive electrically driven including control systems responsive to external conditions, e.g. by detection of moisture, dirt or the like
    • B60S1/0822—Wipers or the like, e.g. scrapers characterised by the drive electrically driven including control systems responsive to external conditions, e.g. by detection of moisture, dirt or the like characterized by the arrangement or type of detection means
    • B60S1/0833—Optical rain sensor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55—Specular reflectivity
    • G01N2021/551—Retroreflectance
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/8422—Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S318/00—Electricity: motive power systems
    • Y10S318/02—Windshield wiper controls

Description

111103
Laite heijastavassa elementissä tapahtuvan muutoksen mittaamiseksi tai havaitsemiseksi
Anordning för att mätä eller känna igen en förändring vid ett reflekterande element #
Keksintö kohdistuu laitteeseen heijastavassa elementissä tapahtuvan tai sen aiheuttaman muutoksen mittaamiseksi tai havaitsemiseksi, jossa laitteen ja heijastavan elementin välissä on määrättyä säteilyä läpäisevä väliaine.
Useissa tapauksissa halutaan havaita heijastavassa elementissä tapahtuvat, esimerkiksi pinnan määrätynlaisesta kastumisesta aiheutuvat muutokset, esimerkiksi ohjauskäskyjen antamiseksi tämän perusteella ikkunoiden tai muiden aukkojen sulkemiseksi tai häiritsevän märkyyden poistamiseksi. Heijastavana elementtinä voi olla esimerkiksi säteilyä läpäisevän levyn tai seinämän heijastava sisäpinta (sisäinen tai kokonaisheijastus), peili tai mikä tahansa muu väline, joka voi olla myös pelkästään hajavaloa heijastava, kuten esimerkiksi laitetta lähestyvä käsi. Pinnan kastumisella tarkoitetaan yksittäisten nestepisaroiden aiheuttamaa pinnan peittymistä tai valumista pinnalla tai nestepisaroiden esiintymistä pinnalla ja pinnalle muodostuvaa nestekalvoa tai vaahtoa tai pinnalle virtaavaa tai .. pinnalla virtaavaa määrätyn paksuista nestekerrosta.
* 4
Havaitsemalla heijastusominaisuuksien muutoksen laajuus voidaan todeta esimerkiksi laitteen edessä liikkuvan tai liikutetun esineen asennon muuttuminen tai esiintyminen. Jos muutoksena on kastuminen, mittaamalla esimerkiksi kastelevan nesteen määrä pinta-alayksikköä kohti ja/tai aikayksikköä " kohti märällä pinnalla voidaan johtaa halutut ohjauskomennot, joilla voidaan esimerkiksi säätää märkyyttä, ohjata sulku-* toimenpiteitä olemassa olevasta tai odotettavissa olevasta nestemäärästä riippuen tai ohjata märkyyden poistavaa toimenpidettä optimaalisesti märkyyden syyn historiasta riippuvalla ' tavalla.
4 2 111103
Keksintö perustuu tehtävään toteuttaa johdannossa esitetyn kaltainen laite siten, että muutoksen mittaavan tai havaitsevan laitteen ympäristöstä tähän laitteeseen tuleva ja laitteen säteilyyn summautuva ylimääräinen vieras säteily ei vaikuta olennaisesti muutoksen mittaukseen tai havaitsemiseen eikä häiritse tai vääristä niitä edes silloin, kun ylimääräinen vieras säteily on huomattavan suuri tai jopa vallitseva mittausta tai havaitsemista varten lähetettyyn säteilyyn verrattuna.
Tämä tehtävä ratkaistaan - väliaineen aktiivisella anturialueella, jossa on ainakin kaksi mittausmatkaa eli mittauskanavaa, joissa on ainakin yksi säteilylähde tai säteilylähderyhmä määrätyn säteilyn säteilemiseksi säteilyä läpäisevään väliaineeseen ja ainakin yksi säteilyvastaanotin tai ryhmä säteilyvastaanottimia, joka tai jotka on sijoitettu heijastavaan elementtiin nähden väliaineen vastakkaisella puolella aktiivisen anturialueen lepotilassa esiintyvän säteilyvastaanottimeen liittyvän säteilylähteen tai -lähteiden paluusäteilyn säteilynvoimak-kuuden vaihtelun maksimin vyöhykkeiden lomittumisalueille vastaanotettua säteilyä vastaavan ilmaisusignaalin kehittämiseksi, - kytkinlaitteella, joka kytkee kunkin yksittäisen mittaus- ·* kanavan toimintaan aikaväleittä!n peräkkäisessä toistuvassa kytkentäjärjestyksessä määrätyllä toimintaketju- eli kyt-kentätaaj uudella, - asetuslaitteella, joka asettaa yksityisen säteilylähteen tai säteilylähderyhmän siten mitoitetun säteilytehon sellaiseksi, että aktiivisen anturialueen lepotilassa jokainen säteilyvastaanottimiin liittyvä säteilylähde tai säteilylähderyhmä kehittää sellaisen ilmaisusignaalin osan, jonka keskimääräinen amplitudiarvo on yhtä suuri kuin muihin säteilylähteisiin tai säteilylähderyhmiin liittyvien ilmaisu-signaalin osien keskimääräinen amplitudi arvo, ja 3 111103 - säteilyvastaanottim(i)en perään kytketyllä suodinpiirillä, joka johtaa kytkentätaajuiselle värähtelylle moduloidun ilmaisusi gnaal in käsittelylaitteelle ohjaus- ja/tai mittaus-; arvosignaalin kehittämiseksi käsittelylaitteessa mitatusta tai todetusta yksittäisiin säteilylähteisiin tai säteily-, lähderyhmiin liittyvien ilmaisusignaalin osien erosta.
Heijastavan elementin muutoksen mittaava tai havaitseva säteily kulkee siten levyn tai seinämän ulkopinnan kastuessa merkittävästi vaimentumatta sekä levyn tai seinämän että levyä tai seinämää kostuttavan nesteen läpi, ja levyn tai seinämän normaaliin nähden määrätyn säteilykulman kasvaessa levyyn tai seinämään lähetetystä säteilystä heijastuu levyn tai seinämän ulkopinnan muodostamasta rajapinnasta yhä suurempi osuus, joka kasvaa tulokulman rajakulmaan asti, josta alkaen optisesti virheettömässä rajapinnassa syntyy lähetetyn säteilyn kokonaisheijastus tästä pinnasta.
Levyn tai seinämän säteilylähteen kohdalla kohtisuoraan leikkaavassa tasossa saadaan siten levyn tai seinämän sisäpinnalla, johon säteilylähde on kytketty, esiintyvän säteily-vuon säteilyvoimakkuuskäyrä, joka riippuu levyyn tai seinämään kytketyn säteilylähteen säteilyvoimakkuuden suuntakuviosta ja säteilyvuon vaimennuksesta levyssä tai seinämässä. Tässä säteilykäyrässä on yleensä leveä maksimi säteilylähteen •' kytkentäpaikan ja rajakulmalla kokonaisheijastuneen säteilyn ulossäteilyalueen välillä, kuten kuviossa 1 on esitetty kaaviollisesti. Säteilyvoimakkuuskäyrän voidaan odottaa muuttuvan voimakkaimmin tämän maksimin kohdalla kastumisen muuttaessa levyssä tai seinämässä etenevän säteilyn heijastumista levyn tai seinämän kastuvasta pinnasta aktiivisella anturialueella, joka on tämän maksimin ja sisäpinnalla olevan säteilylähteen kytkentäkohdan välissä. Tällöin sekä maksimin paikka että korkeus muuttuvat riippuen levyn tai seinämän ulkopinnan kastumisesta aktiivisella anturialueella, joka kuivassa tilassa pääasiasiassa aikaansaa tämän levyn tai seinämän sisäpinnan säteilyvoimakkuuden maksimin kehittymisen.
4 111103
Periaatteessa voi syntyä useita paikallisia maksimeja. Sekä kastuneen levyn tai seinämän että kastavan nesteen läpikulkevana säteilynä tulevat kyseeseen esimerkiksi valonsäteily näkyvällä, uitravioletti- tai infrapunaalueella, ultraääni-säteily tai mahdollisesti kapasitiiviset säteilyt.
Säteilyä läpäisevän väliaineen ei tarvitse olla levy tai seinämä. Laite voi havaita heijastusominaisuuksien muutoksia myös muunlaisessa säteilyä läpäisevässä väliaineessa, kuten esimerkiksi ilmassa, edellyttäen että laitteen, joka käsittää tavanomaisella tavalla säteilylähteen ja säteilyvastaanotti-men, ja heijastavan elementin, kuten esimerkiksi peilin tai käden, välille voi muodostua mittauskanavia. Laite voi havaita pelkästään heijastuneen hajavalon avulla esimerkiksi käden sijainnin muuttumisen tai lähestymisen.
Järjestelyssä, jossa on ainakin kaksi mittauskanavaa, jolloin on yhdentekevää liittyykö yhteen säteilyvastaanottimeen kaksi säteilylähdettä tai säteilylähderyhmää tai liittyykö säteily-lähteeseen useampia säteilyvastaanottimia, ja järjestämällä säteilyvastaanottimet yhden tai useamman levyyn tai seinämään kytketyn säteilylähteen tai -lähteiden levyn tai seinämän pinnalta kulloinkin tulevan säteilyvuojakautuman maksimien alueelle, kytkemällä mittaustiet toimiviksi vuorotellen ja peräkkäin määrätyssä kiertävässä kytkentäjärjestyksessä, * asettamalla säteilylähteiden tai säteilylähderyhmien säteily- teho sellaiseen arvoon, että säteilyvastaanottimien lähdön ilmaisusignaali on heijastavan elementin alku- tai lepotilassa muuttumaton yksityiset säteilylähteet tai säteilylähderyhmät toimiviksi kytkevän kytkentäsekvenssin aikana, ja tavalla, jolla yksityisiin säteilylähteisiin tai säteilylähderyhmiin liittyvien ilmaisusignaalin osien erisuuruutta heijastus-ominaisuuksien muuttuessa, esimerkiksi aktiivisen anturialueen kastumisen seurauksena, käytetään hyväksi, saavutetaan etuna, että laite havaitsee esimerkiksi levyn tai seinämän kastumisen aiheuttaman muutoksen erittäin laajalla alueella ja että säteilyvastaanottimeen kohdistuva suora vieras säteily ei k k • 5 111103 vaikuta lähes ollenkaan mittausta tai havaitsemista varten lähetetyn aktiivisen säteilyn ilmaisuun, vaikka vieraan säteilyn intensiteetti on monta kertaa suurempi kuin aktiivisen säteilyn intensiteetti, ja että vieras säteily ei vaikuta laitteen keksinnön mukaisen toteutuksen ansiosta esimerkiksi • kastumisen muutoksien aiheuttamaan aktiivisen säteilyn muutok siin.
Muutoksen ilmaisun luotettavuus kasvaa edelleen silloin, kun valitaan sellainen säteilyvastaanottimeen liittyvät säteily-lähteet tai säteilylähderyhmät vuorotellen toimintaan kytkevä kytkentätaajuus, joka on huomattavan monta kertaa suurempi kuin nopein odotettavissa oleva säteilyvastaanottimeen vaikuttavan vieraan säteilyn muutosvaihtelu, ja kun vain sellainen ilmaisusignaali tulkitaan, jonka muutosvaihtelulla on sama toistotaajuus kuin kytkentäsekvenssillä.
Keksinnön muita edullisia suoritusmuotoja on esitetty muissa epäitsenäisissä patenttivaatimuksissa.
Keksintöä selitetään lähemmin seuraavassa edullisiin suoritus -esimerkkeihin liittyen. Oheisessa piirustuksessa: kuvio la esittää kohtisuoraa leikkausta säteilyä läpäisevästä levystä tai seinämästä, jossa on siihen kytketty : säteilylähde, kuvio Ib esittää kaaviota, jossa on kuvattu kuviossa la esitetyn laitteen heijastunutta säteilyä esittävä käyrä, > » kuvio 2 esittää osaa kastuvasta levystä tai seinämästä katsottuna sen sisäpinnalta, johon on sijoitettu . sätelylähteet ja säteilyvastaanotin, kuvio 3 esittää lohkokaaviota laitteesta kastumisen mittaami- . seksi tai havaitsemiseksi kuvion 2 mukaisella levyn « 6 111103 tai seinämän aktiivisen anturialueen järjestelyllä, kuvio 4 esittää kaavioita a) - d) säteilyvastaanottimen lähtösignaalin ja ilmaisusignaalin ajallisesta vaihtelusta, kuvio 5 esittää lohkokaaviota toisesta laiteesta levyn tai seinämän kastumisen mittaamiseksi tai toteamiseksi, jossa on kaksi tietyllä tavalla kytkettyä säteily-lähdettä ja säätölaite, kuvio 6 esittää kaaviota levyn tai seinämän sisäpinnan paluusäteilyn säteilyvoimakkuuskäyrien vaihtelusta kahden säteilylähteen ollessa kytketty tähän pintaan tietyllä tavalla, kuvio 7 esittää lohkokaaviota käsittelylaitteesta, kuvio 8 esittää kaaviollista esitystä tuulilasista, kuvio 9 esittää kaavioita a) - d), joissa on esitetty moottorin rajakytkinsignaalin ja moottorin ajoituskaaviot, signaalin vaihtelu vähäisen ja voimakkaan kastumisen tapauksessa sekä aikavakioiden muuttaminen, * kuvio 10 esittää lohkokaaviota eräästä toisesta suoritus muodosta, ja kuviot 11...13 esittävät esimerkkejä eri tulosignaaleista. Keksintöä selitetään seuraavassa esimerkkinä kastumisen mittaus- ja havaitsemislaitteeseen liittyen, joskin laiteella voidaan havaita myös muun kuin kastumisen aiheuttamat heijastus omi nai suuksi en muutokset lepo- tai alkutilaan verrattuna. Tällöin voi tulla kyseeseen esimerkiksi mahdollisesti vain hajavaloa heijastavan elementin sijainnin muutoksen tai lähestymisen havaitseminen, kun esimerkiksi käden lähestyessä 7 111103 näyteikkunaa on suoritettava määrättyjä toimenpiteitä. Suori-tusesimerkeissä säteilyä läpäisevä väliaine on levy tai seinämä 1, kuitenkin voidaan käyttää myös muita, esimerkiksi ei kappalemaisia läpäiseviä väliaineita, joissa muutokset aiheuttaa mittauskanavien muodostumisen mahdollistavan säteily-. lähteiden aktiivista säteilyä heijastavan välineen sijoittu minen mittauslaitteen sädetielle tai välineen liikkuminen sädetiellä.
Kuviossa la on esitetty leikkauksena lähemmin esittämättä jätetyssä tasossa leikattu levy tai seinämä 1. Taso kulkee kohtisuoraan levyyn nähden levyyn tai seinämään kytketyn säteily-lähteen 2 kautta, jonka säteilylähteen säteily levyyn on esitetty viivoilla 3. Säteilylähde on kytketty levyn 1 sisäpintaan 4 siten, että säteilylähteen kehittämä säteily 3 voi tunkeutua sisään ilman suuria häviöitä. Levyn sisäpintaan 4 nähden vastakkaisen levyn 1 ulkopinnan 5 puolella ulkopinta heijastaa optiikan lakien mukaisesti tulokulman mukana kasvavan osuuden tästä säteilystä (heijastunut säteily 6), joka palaa osittain levyn tai seinämän 1 sisäpinnalle 4 paluu-säteilynä 7. . Tämän paluusäteilyn 7 säteilyvoimakkuuden I vaihtelu säteilylähteestä mitatun etäisyyden x funktiona on esitetty kaaviollisesti käyränä 8 kuvion Ib kaaviossa. Tällä käyrällä on säteilylähteen 2 ja ensimmäisen kokonaisheijastuksen paluusäteilyn levyn sisäpinnan 4 ulostulokohdan 9 väli- \ sellä alueella esimerkiksi ensimmäinen maksimi 10, joka riippuu pääasiassa säteilylähteen 2 säteilyominaisuuksista levyn 1 sisällä. Signaalikäyristä voidaan myös ilmaista ja tulkita useita maksimeja. Tämä säteilyominaiskäyrä on esitetty kuviossa la kaaviollisesti käyränä 11 ja se osoittaa kaaviollisesti säteilylähteen kulmasta riippuvan säteilyvoimakkuuden levyn sisällä.
Jos levyn tai seinämän ulkopinta 5 kastuu säteilylähteen kohdalla olevan levyn normaalin 12 ja levyn ensimmäisen maksimin kohdalla xm leikkaavan normaalin 12 m välillä olevalla erityisen herkällä alueella eli levyn tai seinämän r 8 111103 aktiivisella anturialueella 14, jonka alueen kohdalta maksimin 10 paluusäteily heijastuu ulkopinnasta, joka on esitetty-kuviossa 1 kaaviollisesti tällä aktiivisella anturialueella 14 olevan pisaran 13 avulla, ulkopinnan optinen heijastusjärjes -telmä muuttuu pisaran 13 kiinnitysalueella 15 siten, että muuttunut heijastuminen muuttaa paluusäteilyn 7 säteilyvoimakkuus-käyrän 8 kastumisen muuttamaksi käyräksi 8' ja maksimin 10 paikan xm muuttuneen käyrän 8' maksimin 10' uudeksi paikaksi xi' .
Jos levyn tai seinämän 1 sisäpinnalle 4 kytketään paluu-säteilyn 7 säteilyvoimakkuuden maksimin 10 kohdalle, esimerkiksi etäisyydelle xe säteilylähteen 2 kytkentäkohdasta, säteilyvastaanotin 16, joka on esitetty kuviossa la katkoviivoin, se vastaanottaa mittauskanavan kautta levyn aktiivisen anturialueen 14 ollessa kuivassa tilassa käyrän 8 antaman paluusäteilyn 7 säteilyvoimakkuuden II ja levyn aktiivisen anturialueen kastuneessa tilassa kastumisen muuttaman levyn paluusäteilun säteilykäyrän 8' säteilyvoimakkuuden 12. Säteily-voimakkuuden muuttuminen arvosta II arvoon 12 ilmaisee levyn tai seinämän 1 aktiivisen anturialueen 14 kastumisen.
Kuvio 2 esittää levyn sisäpinnalta 4 katsottuna osaa kastuvasta levystä tai seinämästä 1, jossa on kulloinkin kolme ryhmää 17, 18 ja 19 sisäpinnalle kytkettyjä säteilylähteitä, V nimittäin ensimmäisen ryhmän säteilylähteet 2.1 (17), 2.2 (17), toisen ryhmän 18 säteilylähteet 2.1 (18), 2.2 (18) ja kolmannen ryhmän 19 säteilylähteet 2.1 (19), 2.2 (19), jotka liittyvät kaikki yhteiseen säteilyvastaanottimeen 16 ja jotka on sijoitettu ympyrämäisesti yhteisen säteilyvastaanottimen 16 ympärille siten, että säteilyvastaanotin on yksityisten * säteilylähteiden 2.1(17) - 2.2(19) paluusäteilyn säteily- voimakkuuden maksimien 10 olennaisesti renkaanmuotoisilla vyöhykkeillä 20.
Esitetyssä suoritusmuodossa kulloinkin kaksi säteilyvastaanottimen vastakkaisilla puolilla olevaa säteilylähdettä muodos- 4 * 9 111103 taa kahden säteilylähteen ryhmän. Luonnollisesti voidaan ajatella myös toisenlaisia järjestelyitä, joissa säteily-lähteen ympärille on sijoitettu kehämäisesti useita säteily-vastaanottimia, kunhan ainakin kahta mittauskanavaa voidaan tunnustella ja säätää toisistaan riippumattomasti.
Seuraavassa selitetään lähemmin kuviossa 2 esitetyn laitteen, jossa on kolme säteilylähderyhmää niihin liittyvän säteily-vastaanottimen ympärillä, toimintatapaa kuviossa 3 suoritus -esimerkkinä esitettyyn piirijärjestelyyn liittyen. Kuviossa 3 on esitetty kaaviollisesti poikittaisleikkaus kastuvan levyn 1 tai seinämän osasta, jossa on kuusi kuviossa 2 kaaviollisesti esitettyä, levyn 1 sisäpintaan 4 kytkettyä säteilylähdettä 2.1 (17) -2.2 (19) ja niihin liittyvä samoin sisäpinnalle kytket ty säteilyvastaanotin 16. Säteilylähteet ovat esitetyssä suori-tusesimerkissä valoa emittoivia diodeja, joiden toinen liitäntä on kytketty virtalähteen 21 toiseen napaan. Virtalähteen toinen napa on kytketty kolmiasentoisen vuorokytkimen 23 tuloon 22, joka kytkin kytkee signaalitulon 22 jokaisen kytkimen ohjaustuloon 25 tuodun ohjauspulssin 24 jälkeen seuraavaan signaalilähtöön 26. 1, 26. 2 tai 26. 3. Esitetyssä suoritusesimerkissä, jossa signaalitulo on yhdistetty signaali-lähtöön 26. 1, seuraava ohjauspulssi kytkee signaalitulon seuraavaan signaalilähtöön 26. 2. Tämä kytkee säteilylähde-ryhmät 17, 18 ja 19 vuorotellen peräkkäin virtalähteeseen 21 * vuorokytkimen 23 ohjaustuloon 25 kytketyn kellogeneraattorin 30 kytkentätaajuuden fa mukaisella kytkentäsekvenssillä, niin että säteilylähderyhmät 17, 18 ja 19 tulevat kytketyiksi vuorotellen peräkkäin toimintaan seuraavan ryhmän kytkentään asti.
:* Yksityisten säteilylähderyhmien säteilyn vaihtelu säteilyä läpäisevässä levyssä 1 on esitetty kaaviollisesti kuviossa 3 erilaisilla viivoilla 27, 28 ja 29. Levyn ulkopinnasta 5 heijastunut osa palaa osaksi levyn sisäpinnalle 4 paluu-säteilynä 7. Levyn 1 sisäpintaan paluusäteilyn säteilyn-voimakkuuden maksimin alueelle kytketty säteilyvastaanotin 16, m 10 111103 joka on esitetyssä suoritusesimerkissä valoherkkä elementti, muuntaa vastaanotetun säteilyvuon sähköiseksi lähtösignaaliksi S 16, jonka ajallinen vaihtelu 31 aika-akselilla t on esitetty kaaviollisesti kuvion 4 kaaviossa a) ja joka muodostuu toistuvasti toisiaan seuraavista signaalin osista 37, 38, 39. Nämä signaalin osat syntyvät kytkentäsekvenssistä, jolla yksityisiä säteilylähderyhmiä 17, 18 ja 19 kytketään päälle ja pois lyhyen aikavälin Ta ajaksi, joka on yhtä suuri kuin vuoro-kytkintä 23 ohjaavan kellogeneraattorin 30 kellotaajuuden fa j akso.
Yksityisten säteilylähderyhmien 17, 18 ja 19 säteilyteho asetellaan vuorokytkimen 23 lähdöissä 26. 1 - 26. 3 olevissa asetuselimissä 32 siten, että jokainen säteilylähderyhmä kehittää kuivan ja häiriöttömän levyn tai seinämän 1 tapauksessa yhtäsuuren säteilyvastaanottimen lähtösignaalin S16 tasoitetun arvon I 0, kuten kuvion 4 kaavion b) säteilyvastaanottimen 16 häiriöttömän ja tasoitetun lähtösignaalin S 16 ajallinen vaihtelu 33 esittää kaaviollisesti. Jos esimerkiksi pisara 13 kastaa levyn 1 aktiivisen anturialueen 14, kuten kuviossa 3 on esitetty kaaviollisesti, tämä kastuminen muuttaa säteen kulkua 27, 28, 29 siten, että yksityisten säteilylähde ryhmien 17, 18 ja 19 säteilyvuon osuudet siirtävät lähtö-signaalin S 16 tasoitettua kulkua 33 siten, että saadaan esimerkiksi kuvion 4 kaaviossa c) esitetty säteilyvastaan-* ottimen 16 lähtösignaalin S 16 ajallisesti tasainen kulku 34.
Tämä lähtösignaali S 16 johdetaan vahvistimen 35 ja ylipääs-tösuotimen 36 kautta ilmaisusignaalina SD käsittelylaitteen 41 tuloon 40. Ylipäästösuotimen 36 rajataajuus fp mitoitetaan toisaalta siten, että suodin juuri vielä läpäisee levyn tai seinämän 1 aktiivisen anturialueen havaittavan tai mitattavan kastumisen aikaansaaman yksityisistä osista 37, 38 ja 39
muodostuvan lähtösignaalin S 16 ja toisaalta siten, että säteilyvastaanottimeen 16 vaikuttavan vieraan säteilyn aiheuttamia vaihteluja, jotka vastaanotin myös muuttaa sähköisiksi signaaleiksi, ei esiinny enää ilmaisusignaalissa SD. Tämä ylipäästösuotimen 36 lähtöön muodostuneen ilmaisusignaalin SD
11 111103 ajallinen vaihtelu on esitetty kaaviollisesti kuvion 4 kaaviossa d) paksuin viivoin piirrettynä käyränä. Esitetyssä suoritus -esimerkissä käsittelylaite 4 sisältää lähemmin esittämättä jätetyn kynnysarvopiirin, joka kehittää ohjaussignaalin S 41 käsittelylaitteen 41 lähtöön 41.2, kun ilmaisusignaalin SD vaihtelu 42 ylittää määrätyn kynnysarvon SW. Tämä lähemmin esittämättä jätetty ohjaussignaali S 41 ilmaisee kastuneen levyn 1 tai seinämän kastumisen aktiivisella anturialueella 14 ja sitä voidaan käyttää kastumisesta riippuvien toimenpiteiden ohj aamiseen.
Kuviossa 5 on edelleen suoritusesimerkkinä esitetty lohko-kaavio laitteesta levyn 1 tai seinämän kastumisen mittaamiseksi tai havaitsemiseksi, jonka erona kuviossa 3 esitettyyn suoritusesimerkkiin on pääasiassa tapa, jolla säteilylähteet on sijoitettu levyn tai seinämän aktiiviselle anturialueelle, ja lisänä oleva säätölaite säteilylähteiden säteilytehon tasauksen säätämiseksi.
Molemmat säteilylähteet 2.1 ja 2.2 on kytketty levyn 1 sisäpinnalle siten, että säteilylähteen 2. 1 tai 2. 2 levyyn tai seinämään säteilemän maksimisäteilyvoimakkuuden säteilykulma aE on suunnilleen yhtä suuri kuin kulma, jolla 10 levyn tai seinämän sisäpinnalta 4 lähtevän paluusäteilyn 7 maksimi levyn tai seinämän säteilylähteen kohdalla ja samoin sisäpinnalle * kytketyn säteilyvastaanottimen 16 kohdalla kohtisuoraan leikkaavassa tasossa saavuttaa suurimman arvonsa. Tämän avulla levyn tai seinämän 1 sisäpinnalta 4 lähtevän säteilylähteiden paluusäteilyn 7 säteilyvoimakkuuden käyrään 8. 1 tai 8. 2 saadaan selvä ensimmäinen maksimi 10. 1, kuten on havainnollistettu kaaviollisesti kuviossa 6 esitetyillä säteilyni*. . lähteiden 2.1 ja 2.2 paluusäteilyn säteilyvoimakkuuksien II käyrillä 8.1 ja 8.2. Mitä selväpiirteisemmäksi levyn tai seinämän sisäpinnalta lähtevän säteilyvuon säteilyvoimakkuus-käyrän maksimi voidaan tehdä, sitä tarkemmin ja luotettavammin levyn tai seinämän kastuminen voidaan havaita ja mitata. Tämän vuoksi on erittäin edullista kytkeä säteilyvastaanottimiin 12 111103 liittyvät säteilylähteet levyn tai seinämän sisäpintaan myös silloin, kun mittaus suoritetaan vasta useampien heijastusten jälkeen. Tämän lisäksi molemmat säteilylähteet 2.1 ja 2.2 sijoitetaan eri etäisyyksille xl ja x2 niihin liittyvistä säteilyvastaanottimista siten, että molempien säteilylähteiden ollessa tasatussa tilassa ja levyn tai seinämän ollessa kuiva säteilyvastaanotin 16 on ensimmäisen säteilylähteen 2. 1 paluusäteilyn käyrän 8. 1 ensimmäisen maksimin 10. 1 taka-luiskalla 43 ja samanaikaisesti toisen säteilylähteen 2. 2 aiheuttaman levyn tai seinämän 1 sisäpinnasta 4 lähtevän paluusäteilyn käyrän 8. 2 ensimmäisen maksimin etuluiskalla 44. Tämä suurentaa levyn tai seinämän kastumisen havaitsemisen ja mittauksen tarkkuutta ja luotettavuutta, koska levyn tai seinämän aktiivisen anturialueen kastuessa maksimin korkeuden lisäksi muuttuu myös maksimin etäisyys asianomaisesta säteilylähteestä. Maksimin sijainnin muutoksen avulla voidaan siten ilmaista selvästi myös pienet kastumisen muutokset.
Tällä säteilylähteiden 2.1 ja 2.2 järjestelyllä voidaan havaita tai mitata tasaisena pysyvän nestekalvon tai tasaisena pysyvän nestekerroksen 45 muodossa oleva kastuminen, jollainen on esitetty kaaviollisesti kuviossa 5 levyn tai seinämän ulkopinnalla 5. Kastuminen muokkaa ja siirtää kuivan levyn molempien paluusäteilyn säteilyvoimakkuuskäyrien 8. 1 ja 8. 2 luiskia 43 ja 44 siten, että säteilyvastaanottimen lähtösignaa-: Iin S16 molempien käyrien yhteinen tasauspiste 46 jakautuu kahdeksi käyräpi s teeksi 46. 1 ja 46. 2, joilla on erilaiset amplitudi arvot I 46. 1 ja I 46. 2, kuten kuviosta 6 ilmenee, niin että tästä voidaan johtaa ilmaisusignaalin SD signaaliero ohjaus- ja/tai mittaussignaalin S 41 muodostamiseksi.
. Kuviossa 5 esitetyssä laitteessa molempia säteilylähteitä 2. 1 ja 2.2 ohjaavana kytkinlaitteena on kellogeneraattori 30, joka kehittää vuorotellen ei-invertoivaan lähtöön 30.Oja invertoivaan lähtöön 30. 1 virtapulssin lähtöön kytketyn säteilylähteen säteilyn herättämiseksi virtapulssin keston ajaksi. Virta-pulssi generaattori n 30 toisessa lähdössä on virran arvon 13 111103 asettelemista varten virranasetuselin 32, jota voidaan säätää sen asetustuloon 47 tulevan asetussigaalin Sr avulla. Säteily-vastaanotin 16 muuntaa näiden molempien säteilylähteiden paluusäteilyn säteilyvastaanottimen kytkentäpaikassa XE (kuvio 6) sähköiseksi lähtösignaaliksi S 16, joka johdetaan kuviossa , 3 esitettyä laitetta vastaavasti vahvistimen 35 ja yli- tai kaistanpäästösuotimen 36 kautta ilmaisusignaalina SD suodin-piirin 36 lähtöön. Suodinpiirin 36 lähtöön on kytketty signaalinkeskitysaste 48, joka asettaa suodinpiirin 36 lähdössä olevan ilmaisusignaalin SD muutosten keskijännitteeksi Uz. Esitetyssä suoritusesimerkissä signaalinkeskitysaste 48 sisältää synkronisen ilmaisimen 49, jossa on kaksi ilmaisin-lähtöä 49. 1 ja 49. 2, jotka kumpikin vastaavat yhtä säteily-lähteistä. Vastaavuus saadaan aikaan virtapulssigeneraattorin 30 ohjauskellotaajuuden S 30.0 avulla, joka ohjaa myös säteily-lähteiden säteilyä. Esitetyssä suoritusmuodossa ilmaisimen lähtöjen 49.1 ja 49.2 jälkeen on kytketty ilmaisuarvomuistit 50.1 ja 50.2, jotka tallentavat hetkellisesti synkronisen ilmaisimen 49 tunnustelemat, molempiin säteilylähteisiin liittyvien ilmaisusignaalin SD signaaliosien keskimääräiset amplitudiarvot ja muodostavat tällä tavalla verhokäyräil-maisimen. Molempien havaintoarvomuistien hetkellisistä keskimääräisistä amplitudiarvoista muodostetaan seuraavassa operaatiovahvistimessa 51 erotusarvo ja sen keskiarvo asetetaan. Tämä siten muodostettu tasoitettu ilmaisusignaali SD m,
: josta suodinpiirin 36 lähdössä esiintyvän ilmaisusignaalin SD
häiriöt on olennaisesti poistettu, syötetään sekä käsittelylaitteelle 41 että säätöpiirille 52, jolla on suuri säätöaika-vakio Tv. Esitetyssä suoritusesimerkissä säätöpiiri sisältää aikavakioelimen 53 ja komparaattorin 54, joka kehittää vertailusignaaliin Sref nähden suoritetun vertailun tuloksena . asetussignaalin Sr virranasetuselimen 32 asetustuloon 47 siten, että virranasetuselimen säätämän säteilylähteen 2. 1 säteilyteho muuttuu siten, että signaalinkeskitysasteen 48 lähdön ilmaistujen amplitudiarvojen erotus menee nollaan. Säätönopeus, ts. säätöpiirin 52 säätöaikavakio Tv, mitoitetaan tällöin siten, että se on huomattavan monta kertaa suurempi 14 111103 kuin hitaimmat havaittavat kastumistapahtuman muutokset. Käsittelylaitteen 41 tulo voidaan myös yhdistää suoraan molempien havaintoarvomuistien 50.1 ja 50.2 lähtöihin, etenkin silloin, kun käsittelylaitteen avulla on mitattava kastumista. Säätöaikavakio on huomattavan monta kertaa suurempi kuin säteilyvastaanottimeen liittyvien säteilylähteitä tai säteily-lähderyhmiä kytkevän kytkentäohjaussignaalin jakso. Tämän avulla voidaan poistaa levyn tai seinämän aktiivisen anturi-alueen hitaiden tai jatkuvien muutosten, jotka eivät johdu kastumisesta tai jotka eivät liity kastumiseen, vaikutus kastumisen havaitsemisessa tai mittaamisessa ja tunnetuissa järjestelmissä ongelmalliset vanhenemisesta, likaantumisesta tai lämpötilaeroista johtuvat vaikutukset voidaan helposti välttää. Haluttaessa voidaan myös kytkeä useita säteilyvastaan-ottimia, esimerkiksi valodiodeja, ja useita sätelylähteitä, esimerkiksi hohtodiodeja, sarjaan mittauskanavien lukumäärien ja mittaustulosten luotettavuuden lisäämiseksi. Esimerkiksi voidaan käyttää neljää hohtodiodia siten sijoitettuina, että yksi valodiodi on neliön kulmiin sijoitettujen neljän hohto-diodin keskellä. Tämän avulla saadaan neljä toisistaan riippumatonta mittauslaitetta. Lukumäärää voidaan helposti kasvattaa jatkamalla tätä kaaviota, jos laitteelle asetetaan suurempia luotettavuusvaatimuksia. Toteutuksella, jossa yhteen säteilyvastaanottimeen liittyy useita säteilylähteitä, on etuna käänteiseen laitteeseen (useita vastaanottimia - yksi lähde) • verrattuna, että esimerkiksi autojen tuulilasinpyyhkimien ohjauksessa vieraan valon, joka haittaa vain osaa mittaus -kanavista, vaikutus voidaan suodattaa helpommin pois.
Kun jotakin laitetta (tuulilasinpyyhintä, sadetuslaitteistoa) ohjataan kastumisesta riippuen, kuvion 7 laite 112 voidaan .* tehdä epäherkemmäksi, jotta suuremmat muutokset voidaan havaita luotettavammin. Esimerkkinä voidaan mainita tuulilasin-pyyhkimen jättämät juovat, jotka aiheuttaisivat suurella herkkyydellä signaalin, vaikka ne kuivuvat itsestään. Siten esimerkiksi aikavakio voi ainakin poistolaitteen pyyhkäistessä mittauskanavien yli olla niin pieni, että poistolaitteen 15 111103 synnyttämä signaali häviää lähes kokonaan, tai käsittelylaitteessa voi olla muistiyksikkö, joka tallentaa pääasiassa ne signaalit, jotka saadaan, kun aikavakio on asetettu pitkäksi, ja ainakin osittain poistavat ne signaalit, jotka saadaan lyhyellä aikavakiolla poistolaitteen pyyhkäistessä mittauskanavien yli.
Käsittelylaite voi vertailla signaalien, jotka saadaan poisto-laitteen pyyhkäistessä mittauskanavien yli, voimakkuuksia ja kun voimakkuus alittaa aseteltavan raja- arvon, tämä nollaa muistiyksikön, jonka sisällöstä riippuen poistolaitetta ohjataan. Laite voi tämän avulla reagoida nopeasti ja joustavasti, esimerkiksi kun ajoneuvon tuulilasinpyyhin on palautettava nopeasti lepotilaan, koska ajoneuvo on pysähtynyt liikennevaloihin tai ajaa tunneliin. Tällöin pyyhkimisestä aiheutuneet signaalit, eli ennen kaikkea vesiaallosta johtuvat signaalit, voidaan integroida. Jos saatu arvo on raja-arvon alapuolella, aloitetaan laitteen palautus.
Kuviossa 9a on esitetty kuivaustoimituksen ajallinen kulku pyyhittäessä kuvion 2 mukaista mukaista tuulilasia lasin-pyyhkimillä 125, jolloin lasinpyyhin ylittää laitteen kohdassa x. Lasinpyyhkimen 125 edessä siirtyvä vesiaalto aiheuttaa voimakkaan pulssin ja tulosignaalin Es (Ql) (esim. vesimäärä Q1 kuviossa 9b). Tämä signaali voi vääristää tuloksia. Jos • herkkyyttä sen sijaan pienennetään tällä hetkellä, signaali ei voi aiheuttaa haitallista vaikutusta. Aikavakio voidaan muuttaa asetusvälineillä 114 tai kytkinvälineillä 121 arvosta Tv arvoon Tv2 tai herkkyyttä muutetaan tietyn ajan tl kuluttua pyyhkimen käynnistyssignaalin 130 jälkeen esimerkiksi ajastimella T2 (kuvio 9d). Tulosignaali Es(Q2) ylittää tällöin vain t vähän kynnysarvon As (Tv2), jota on suurennettu kynnysarvoon As (Tv) nähden.
Muistiyksikköön 115 sisältyy ensimmäinen muisti 116, joka antaa signaalinsa kynnysarvosta riippuvan vaimennuselimen 117 kautta toiselle muistille 118. Voimakkaat signaalit voidaan 16 111103 johtaa ohituspiirin 122 avulla suoraan toiselle muistille 118. Muistin sisällöstä riippuen mittausarvosignaali Ms johdetaan oskillaattorin 23 kautta tuulilasinpyyhkimien moottorille M, joka voi rajakytkimensä E avulla antaa signaalin asetus -välineille 113, 114. Tämä yhteys rajakytkimeen ei kuitenkaan ole ehdottoman välttämätön. Signaalin voimakkuudesta riippuen tuulilasinpyyhin voidaan myös ohjata suoraan jatkuvasti käytetyksi tai jopa pyyhkimen moottorin nopeampaan käynti -portaaseen.
Pyyhkimisen aikana saatuja arvoja voidaan käyttää kuivakäynti-ohjauksen käsittelyyn. Esimerkiksi jos ajoneuvo on pysäytettävä liikennevaloihin tai se ajaa tunneliin, poistettava vesimäärä voi pienentyä heti yhdellä kertaa. Lasinpyyhkimen 125 kohdalla oleva vesiaalto tulee pienemmäksi. Jos pyyhkäistäessä saatavat signaalit integroidaan integraattorilla 119, saadaan mitta vesiaallolle. Jos mittausarvo alittaa raja-arvon G ref ja esim. kiikkukytkimeitä 124 saadaan ilmoitus pyyhkimen toiminnan jatkumisesta, kytkinvälineet 120 nollaavat muistin 118 ilmoituksen antamiseksi säätölaitteelle 129. Kiikkukytkin palautetaan jokaisella uudella pyyhkimen käynnistyssignaalil-la. Kuivakäynti vältetään, pyyhin saattaa kuitenkin turvallisuussyistä olla ajettava alas vähitellen alaslaskemalla.
Yksittäiset tapahtumat voivat silloin tällöin aiheuttaa : laitteen laukeamisen, vaikka siihen ei ole syytä. Tällöin voi olla kyseessä esimerkiksi ajoneuvoon sijoitetun laitteen tapauksessa hyönteisen osuminen tai vastaava kertatapahtuma. Tarkoitukseton tuulilasinpyyhkimien käynnistyminen voi pelästyttää ajoneuvon kuljettajan. Laite havaitsee tämän vuoksi onko kyseessä yksittäistapahtuma ja antaa signaalivuon käsittelylaitteelle 41 vasta, kun saadaan muita signaaleja.
Käsittelylaitteen 41 eteen on tämän vuoksi kuviossa 10 kytketty kytkinvälineet 160, jotka avautuvat ensimmäisen signaalin tullessa. Ensimmäinen signaali johdetaan kynnysarvo-kytkimelle 164, joka vertaa signaalia vertailusignaaliin Wref.
« 17 111103
Jos signaali on suurempi kuin vertailuarvo, kytkinvälineitä 160 ohjataan ajastimen 161 välityksellä, jolla vasta laitteen ja käsittelylaitteen 41 välinen yhteys muodostetaan. Jos seuraava tulosignaali esiintyy ajastimen 161 määräämän ajan sisällä, se pääsee välittömästi käsittelylaitteelle 41 mutta myös se kulkee kynnysarvokytkimen 164 kautta. Jos kynnysarvo ylittyy jälleen, ajastin 161, joka muodostaa aikakontrolloidun yhteyden, käynnistetään uudelleen.
Kuvioissa 11...13 on esitetty eri tulosignaaleja. Hyönteisen osuessa saadaan kuvion 11 mukainen tulosignaali Es ajan t funktiona. Laite havaitsee kertamuutoksen, joka säädetään pois. Koska määrättynä aikana ei kuitenkaan tule toista signaalia, se ei vaikuta käsittelylaitteeseen 41.
Kuvion 12 mukaisen vesipisaran tapauksessa laite säätää muutoksen pois, tällöin kuitenkin tulee uusia muutoksia, niin että saadaan kuvioon 11 verrattuna hitaampi vaimentuminen. Jos signaalilla on sopiva vertailuarvo, käsittelylaite käynnistää poistolaitteen. Tämä vesipisara eroaa signaalimuodoltaan selvästi kuvion 13 tuulen liikuttamasta pisarasta, joka voi useampien signaalien vuoksi laukaista poistolaitteen.
/ • t • · f

Claims (12)

111103 18
1. Laite heijastavassa elementissä tapahtuvan tai sen aiheuttaman muutoksen mittaamiseksi tai havaitsemiseksi, jossa laitteen ja heijastavan elementin välissä on määrättyä säteilyä läpäisevä väliaine, tunnettu - väliaineen aktiivisesta anturialueesta (14), jossa on ainakin kaksi mittauskanavaa, joissa on ainakin yksi säteily-lähde (2.1, 2.2) tai säteilylähderyhmä (17, 18, 19) määrätyn säteilyn (3) säteilemiseksi säteilyä läpäisevään väliaineeseen ja ainakin yksi säteilyvastaanotin (16) tai ryhmä säteilyvastaanottimia, joka tai jotka on sijoitettu säteily-vastaanottimiin liittyvän säteilylähteen tai -lähteiden väliaineen heijastavaan elementtiin nähden, aktiivisen anturialueen ollessa lepotilassa, vastakkaiselta puolelta esille tulevan paluusäteilyn (7) säteilyvoimakkuuden vaihtelun (8) maksimin (10) vyöhykkeiden (20) lomittumisalueelle, vastaanotettua säteilyä vastaavan ilmaisusignaalin (SD) kehittämiseksi, - kytkinlaitteesta (23, 30), joka kytkee kunkin yksittäisen mittauskanavan toimintaan aikaväleittäin peräkkäisessä toistuvassa kytkentäjärjestyksessä määrätyllä kytkentä-taajuudella (fa), - asetuslaitteesta (32) yksityisen säteilylähteen tai säteily- . lähderyhmän siten mitoitetun säteilytehon asettamiseksi ft sellaiseksi, että aktiivisen anturialueen lepotilassa jokainen säteilyvastaanottimiin liittyvä säteilylähde tai säteilylähderyhmä kehittää sellaisen ilmaisusignaalin osan (37), jonka keskimääräinen amplitudiarvo on yhtä suuri kuin muihin säteilylähteisiin tai säteilylähderyhmiin liittyvien ilmaisusignaalin osien (38, 39) keskimääräinen amplitudi- arvo, j a - säteilyvastaanottim(i)en perään kytketystä suodinpiiristä (36), joka johtaa kytkentätaajuiselle värähtelylle moduloidun ilmaisusignaalin (SD) käsittelylaitteelle (41) ohjaus-ja/tai mittausarvosignaalin (S 41) kehittämiseksi käsittely- 1 laitteessa mitatusta tai todetusta yksittäisiin säteily- 19 111103 lähteisiin tai säteilylähderyhmiin liittyvien ilmaisu-signaalin osien erosta.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laite, tunnettu siitä, että väliaine on määrättyä säteilyä läpäisevä levy tai seinämä (1), johon laite on sijoitettu, ja että heijastava elementti on levyn tai seinämän (1) kastuva ulkopinta (5), jolloin lepotilassa kuivan levyn tai seinämän (1) aktiivisen anturialueen kautta kulkee ainakin kaksi mittauskanavaa, ja että säteilylähteet on kytketty kastuvan ulkopinnan (5) vastakkaisella puolella olevaan levyn tai seinämän sisäpintaan (4).
3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laite, tunnettu siitä, että mittauskanavat muodostuvat ainakin kahdesta säteilylähteestä (2.1, 2.2) tai säteilylähderyhmästä (17, 18, 19. ja ainakin kahdesta säteilyvastaanottimesta (16).
4. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laite, tunnettu siitä, että kytkinlaite on virtapulssigeneraattori (30), jossa on ei-invertoiva lähtö (30.0) ja invertoiva lähtö (30.1), ja että ainakin toiseen lähdöistä on sijoitettu virranasetuselin (32) määrätyn säteilytehon asettamiseksi asianomaiselle, lähdön (30.1) kytkemälle säteilylähteelle (2.1) tai säteily-lähderyhmälle.
5. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laite, tunnettu siitä, että suodinpiiri on ylipäästöelin (36).
6. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laite, tunnettu kahdesta väliaineen heijastavaan elementtiin nähden vastakkaiselle puolelle kytketystä säteilylähteestä (2.1, 2.2), joista ensimmäinen säteilylähde (2.1) on sijoitettu niin kauas asianomaisesta yhteisestä säteilyvastaanottimesta (16), että säteilyvastaanotin on ensimmäisen säteilylähteen väliaineen tälle puolelle aktiivisen anturialueen (14) lepotilassa * ollessa kehittämän säteilynvoimakkuuskäyrän (8. 1) ensimmäisen 20 111103 maksimin (10.1) säteilylähteestä poispäin olevalla luiskalla (43) ja toinen säteilylähde (2. 2) on niin kaukana yhteisestä säteilyvastaanottimesta, että säteilyvastaanotin on toisen säteilylähteen väliaineen tälle puolelle aktiivisen anturi-alueen lepotilassa ollessa kehittämän säteilyvoimakkuuskäyrän (8.2) ensimmäisen maksimin (10.2) toisen säteilylähteen puolella olevalla luiskalla (44).
7. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laite, tunnettu suodinpiirin (36) lähtöön kytketystä signaalinkeskitysasteen (48) ja säätösignaaligeneraattorin (52) sisältävästä säätölaitteesta - jossa signaalinkeskitysaste (48) sisältää jokaista säteily-vastaanottimeen (16) liittyvää säteilylähdettä (2.1, 2.2) tai säteilylähderyhmää varten havaintoarvomuistin (50.1, 50.2) ilmaisusignaalin (SD) kyseiseen säteilylähteeseen (esim. 2.1) kulloinkin liittyvän signaaliosan (esim. 37) keskimääräisen amplitudiarvon tallentamiseksi, - jossa signaalinkeskitysaste sisältää lisäksi tunnustelu-piirin (49) toimintaan kytkettyyn säteilylähteeseen liittyvän ilmaisusignaalin signaaliosan amplitudiarvon tarkistamiseksi ja tämän signaaliosan keskimääräisen amplitudiarvon tallentamiseksi asianomaiseen havaintoarvomuistiin ja komparaattorilaitteen (51) kahden havaintoarvomuistin ; tallennettujen amplitudiarvojen erotuksen muodostamiseksi, ja - jossa signaalinkeskitysasteen jälkeen on kytketty säätö-signaaligeneraattori (52), joka sisältää mainitun määrätyn kytkentaajuuden (fa) jaksoon verrattuna huomattavan monta kertaa suuremman säätöaikavakion (Tr) yksittäisiin säteily-lähteisiin tai sateilylähderyhmiin liittyvien ilmaisu-signaalin signaaliosien keskimääräisten amplitudiarvojen erotuksesta säätösignaaligeneraattorissa kehitetylle säätö-signaalille (Sr) mainitun ainakin yhden virranasetuselimen (32) asettamiseksi, jota asettelua ohjataan säätösignaalilla siten, että ilmaisusignaalin signaaliosien keskimääräisten *. amplitudiarvoj en erotus menee kohti nollaa. « 21 111103
8. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laite, tunnettu siitä, että säteilyvastaanottimeen (16) liittyvät säteily-lähteet (2.1, 2.2) on kytketty levyn tai seinämän (1) sisä pintaan siten, että säteilylähteen (2. 1) maksimisäteily- 4 voimakkuuden (I) säteen säteilykulma (aE) levyssä tai seinämässä on likimain yhtä suuri kuin kulma, jolla levyn tai seinämän (1) sisäpinnalta (4) lähtevän paluusäteilyn (7) ensimmäinen maksimi (10) levyn tai seinämän säteilylähteen (2.1) ja asianomaisen säteilyvastaanottimen (16) kohdalla kohtisuoraan leikkaavassa tasossa saavuttaa suurimman arvonsa.
9. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laite, tunnettu siitä, että käsittelylaite (41) arvioi poistolaitteen mittauskanavien yli pyyhkäistessä saatujen signaalien voimakkuuden ja voimakkuuden alittaessa aseteltavan raja- arvon tyhjentää muistiyksikön (115), jonka sisällöstä riippuen poistolaitetta ohjataan.
10. Patenttivaatimuksen 9 mukainen laite, tunnettu siitä, että raja-arvon alittuessa kytkentävälineet (120) palauttavat poistolaitteen ja asetusvälineet (114) asettavat aikavakiolle ajallisesti pitkän arvon. . . 11. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laite, tunnettu siitä, että käsittelylaitteen eteen on kytketty kytkinvälineet (160) , että ainakin ensimmäinen lähtösignaali (Es) on estetty siten, että yhteys käsittelylaitteeseen (41) muodostetaan vasta seuraavilla signaaleilla.
12. Patenttivaatimuksen 11 mukainen laite, tunnettu siitä, että ensimmäinen tulosignaali (Es) ohjaa ajastinta (161) , joka muodostaa laitteen ja käsittelylaitteen (41) välisen yhteyden määrätyksi aikaväliksi, ja että seuraavat signaalit aloittavat aikavälin uudelleen. 22 111103
FI956323A 1993-07-02 1995-12-29 Laite heijastavassa elementissä tapahtuvan muutoksen mittaamiseksi tai havaitsemiseksi FI111103B (fi)

Applications Claiming Priority (10)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE9309837 1993-07-02
DE9309837U DE9309837U1 (de) 1993-07-02 1993-07-02 Anordnung zum Messen oder Erkennen der Benetzung einer für eine bestimmte Strahlung durchlässigen Wand oder Platte
DE4339572A DE4339572A1 (de) 1993-11-19 1993-11-19 Vorrichtung mit einer Meßanordnung
DE4339574 1993-11-19
DE4339572 1993-11-19
DE19934339574 DE4339574C2 (de) 1993-11-19 1993-11-19 Auswertevorrichtung für Signale, die von einer Meßanordnung zum Messen oder Erkennen einer Benetzung einer Fläche ermittelt wurden
DE4403221A DE4403221A1 (de) 1993-07-02 1994-02-03 Anordnung zum Messen oder Erkennen einer Veränderung an einem rückstrahlenden Element
DE4403221 1994-02-03
DE9400714 1994-06-18
PCT/DE1994/000714 WO1995001561A1 (de) 1993-07-02 1994-06-18 Anordnung zum messen oder erkennen einer veränderung an einem rückstrahlenden element

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI956323A0 FI956323A0 (fi) 1995-12-29
FI956323A FI956323A (fi) 1996-02-28
FI111103B true FI111103B (fi) 2003-05-30

Family

ID=27435862

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI956323A FI111103B (fi) 1993-07-02 1995-12-29 Laite heijastavassa elementissä tapahtuvan muutoksen mittaamiseksi tai havaitsemiseksi

Country Status (9)

Country Link
US (1) US5666037A (fi)
EP (1) EP0706648B1 (fi)
JP (1) JP3362852B2 (fi)
KR (1) KR100302088B1 (fi)
AU (1) AU6968494A (fi)
DE (1) DE59403980D1 (fi)
ES (1) ES2110763T3 (fi)
FI (1) FI111103B (fi)
WO (1) WO1995001561A1 (fi)

Families Citing this family (85)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4403982A1 (de) * 1994-02-07 1995-08-10 Gerd Reime Schaltungsanordnung zum Empfangen von Lichtsignalen
FR2723448B1 (fr) * 1994-08-02 1996-10-31 Valeo Electronique Dispositif de detection d'eau ou analogue sur une glace de vehicule automobile
DE19519485C2 (de) * 1995-05-27 1998-01-29 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zum Betreiben eines Scheibenwischers
DE19601781C2 (de) * 1996-01-19 2001-06-21 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zum Betreiben eines Scheibenwischers mit einer automatischen Wischersteuerung
DE19601805C2 (de) * 1996-01-19 2003-02-13 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zum Betreiben eines Scheibenwischers
US5661303A (en) * 1996-05-24 1997-08-26 Libbey-Owens-Ford Co. Compact moisture sensor with collimator lenses and prismatic coupler
WO1998033072A1 (de) * 1997-01-24 1998-07-30 Gerd Reime Beschleunigungssensor zur erfassung von trägheitskräften
DE19702392C1 (de) * 1997-01-24 1998-06-10 Gerd Reime Beschleunigungssensor zur Erfassung von Trägheitskräften
US5923027A (en) * 1997-09-16 1999-07-13 Gentex Corporation Moisture sensor and windshield fog detector using an image sensor
US7019275B2 (en) * 1997-09-16 2006-03-28 Gentex Corporation Moisture sensor and windshield fog detector
US6681163B2 (en) 2001-10-04 2004-01-20 Gentex Corporation Moisture sensor and windshield fog detector
US6097167A (en) * 1997-07-22 2000-08-01 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Water drop detector or transparent substrate and initiating method and output stabilizing method therefor
DE19839730C1 (de) 1998-09-01 2000-03-30 Gerd Reime Schutzvorrichtung für Bügelgeräte
JPH11295214A (ja) * 1998-04-14 1999-10-29 Nippon Sheet Glass Co Ltd 水滴及び光量検出センサ
DE19815746C1 (de) * 1998-04-08 1999-11-04 Bosch Gmbh Robert Sensoreinrichtung zur Erfassung einer Benetzung auf einer Scheibe
DE19815747C1 (de) * 1998-04-08 1999-10-28 Bosch Gmbh Robert Sensoreinrichtung zur Erfassung einer Benetzung auf einer Scheibe
US6262407B1 (en) * 1998-12-31 2001-07-17 Libbey-Owens-Ford Co. Moisture sensor with automatic emitter intensity control
US6313457B1 (en) 1999-01-25 2001-11-06 Gentex Corporation Moisture detecting system using semiconductor light sensor with integral charge collection
DE50014297D1 (de) * 1999-06-18 2007-06-14 Valeo Wischersysteme Gmbh Regensensor zur detektion von feuchtigkeitstropfen
DE10001943C2 (de) 2000-01-18 2001-12-06 Gerd Reime Vorrichtung und Verfahren zum Auswerten eines von einem Näherungssensor stammenden Nutzsignals
DE10001955A1 (de) * 2000-01-18 2001-07-19 Gerd Reime Opto-elektronischer Schalter
DE10024156A1 (de) * 2000-05-19 2001-11-29 Gerd Reime Verfahren und Vorrichtung zur optoelektronischen Positionsbestimmung eines Gegenstands
WO2002021107A1 (fr) * 2000-09-08 2002-03-14 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Detecteur de depot et dispositif de commande comprenant ce detecteur
EP1361423A4 (en) * 2000-12-22 2006-03-22 Niles Co Ltd DEPOSIT DETECTOR AND CONTROL DEVICE USING THE SAME
SE0101555D0 (sv) * 2001-05-04 2001-05-04 Amersham Pharm Biotech Ab Fast variable gain detector system and method of controlling the same
JP3437843B2 (ja) 2001-07-06 2003-08-18 沖電気工業株式会社 絶縁膜の形成方法及び集積回路の製造方法
DE10133823A1 (de) * 2001-07-16 2003-02-27 Gerd Reime Optoelektronische Vorrichtung zur Positions- und Bewegungserfassung sowie zugehöriges Verfahren
US6927384B2 (en) * 2001-08-13 2005-08-09 Nokia Mobile Phones Ltd. Method and device for detecting touch pad unit
US6985137B2 (en) * 2001-08-13 2006-01-10 Nokia Mobile Phones Ltd. Method for preventing unintended touch pad input due to accidental touching
US20030048257A1 (en) * 2001-09-06 2003-03-13 Nokia Mobile Phones Ltd. Telephone set having a touch pad device
CN1564997A (zh) 2001-09-07 2005-01-12 米－茵有限公司 操作装置
US6617564B2 (en) 2001-10-04 2003-09-09 Gentex Corporation Moisture sensor utilizing stereo imaging with an image sensor
DE10211307A1 (de) 2002-03-13 2003-11-20 Mechaless Systems Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur optoelektronischen Erkennung der Bewegung und/oder Position eines Objekts
DE10251133B3 (de) * 2002-10-31 2004-07-29 Gerd Reime Einrichtung zur Steuerung einer Beleuchtung, insbesondere für Fahrzeuginnenräume sowie Verfahren zu ihrer Steuerung
DE10300224A1 (de) * 2003-01-03 2004-07-22 Gerd Reime Optoelektronische Messanordnung sowie damit versehener Drehknopf
DE10300223B3 (de) * 2003-01-03 2004-06-24 Gerd Reime Optoelektronische Messanordnung mit Fremdlichtkompensation sowie Verfahren zur phasenkorrekten Kompensation eines Signals der Messanordnung
US7295186B2 (en) * 2003-01-14 2007-11-13 Avago Technologies Ecbuip (Singapore) Pte Ltd Apparatus for controlling a screen pointer that distinguishes between ambient light and light from its light source
EP1623896A4 (en) * 2003-05-15 2006-06-14 Niles Co Ltd METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING WIPER
DE10322552A1 (de) * 2003-05-20 2004-12-30 Gerd Reime Verfahren und Vorrichtung zum Messen eines modulierten Lichtsignals
DE10346741B3 (de) * 2003-10-08 2005-03-24 Mechaless Systems Gmbh Verfahren zur Bestimmung und/oder Auswertung eines differentiellen optischen Signals
DE102004010492A1 (de) 2004-03-04 2005-09-22 Robert Bosch Gmbh Regensensor, insbesondere für ein Kraftfahrzeug
DE102004025345B3 (de) * 2004-05-19 2005-11-03 Daimlerchrysler Ag Vorrichtung und Verfahren zum Erkennen eines Objekts in oder an einer verschließbaren Öffnung
DE102004062417A1 (de) * 2004-12-20 2006-06-29 Gerd Reime Vorrichtung und Verfahren zur optoelektronischen Bestimmung der Lage eines Objekts
DE102005010745B3 (de) * 2005-03-09 2006-04-27 Gerd Reime Sicherheitsvorrichtung für Tür-, Tor- oder Fensterelemente sowie zugehöriges Verfahren
DE102005013352B4 (de) 2005-03-23 2020-07-09 Mechaless Systems Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Erkennen eines Objekts in oder an einer verschließbaren Öffnung
ES2414955T3 (es) 2005-07-29 2013-07-23 Gerd Reime Procedimiento y dispositivo para la medición de la distancia por medio de sensores capacitivos o inductivos
DE102005045993B4 (de) 2005-07-29 2008-11-13 Gerd Reime Verfahren zur Lichtlaufzeitmessung
DE102006020570A1 (de) 2006-05-01 2007-11-08 Mechaless Systems Gmbh Optoelektronische Vorrichtung zur Erfassung der Position und/oder Bewegung eines Objekts sowie zugehöriges Verfahren
JP4779860B2 (ja) * 2006-08-03 2011-09-28 株式会社デンソー 雨滴量検出装置及びワイパー制御装置
JP5455639B2 (ja) 2006-12-08 2014-03-26 ジョンソン コントロールズ テクノロジー カンパニー 表示装置及びユーザインターフェース
DE102007048402A1 (de) 2007-10-09 2009-04-16 Gerd Reime Bedieneinheit und Verfahren zur Auslösung einer Funktion
DE102007053881B4 (de) 2007-11-09 2010-05-12 Gerd Reime Messverfahren und Messvorrichtung zur induktiven Winkel- und/oder Positionsbestimmung
DE102008004419A1 (de) 2008-01-14 2009-07-16 Elmos Semiconductor Ag Beleuchtungsvorrichtung als Außenbeleuchtung und Verfahren zu deren Steuerung
DE102008004420A1 (de) 2008-01-14 2009-07-16 Elmos Semiconductor Ag Beleuchtungssystem für Innenräume sowie Verfahren zu dessen Steuerung
DE102008005783B4 (de) 2008-01-23 2011-04-14 Gerd Reime Feuchteunabhängiger kapazitiver Einklemmschutz
DE102008016938B3 (de) 2008-04-01 2009-12-31 Elmos Semiconductor Ag Vorrichtung zur Überwachung einer Monitorsteuerung
JP5600313B2 (ja) * 2008-04-21 2014-10-01 エフエスシー カンパニー，リミテッド 雨滴感知センサー
FR2940432B1 (fr) * 2008-12-23 2011-01-21 H2I Technologies Dispositif pour quantifier et localiser un signal lumineux module a une frequence predeterminee
DE102009009061A1 (de) 2009-01-21 2010-07-29 Gerd Reime Verfahren zum induktiven Erzeugen eines elektrischen Messsignals sowie zugehörige Sensorvorrichtung
DE102009029928A1 (de) 2009-06-19 2010-12-23 Gerd Reime Metalldetektor
WO2010133501A1 (de) 2009-05-18 2010-11-25 Sick Ag Sensor zum detektieren metallischer objekte
DE102009021804A1 (de) 2009-05-18 2010-11-25 Gerd Reime Metalldetektor
EP2288053A1 (de) 2009-08-19 2011-02-23 Mechaless Systems GmbH Optischer Empfänger zum Empfangen von Licht
JP2011122870A (ja) * 2009-12-09 2011-06-23 Seiko Epson Corp 光学式位置検出装置及び投射型表示装置
JP2011122867A (ja) * 2009-12-09 2011-06-23 Seiko Epson Corp 光学式位置検出装置および位置検出機能付き表示装置
DE102010014462A1 (de) 2010-04-09 2011-10-13 Ecomal Deutschland Gmbh Steuereinrichtung zum Ansteuern eines elektrischen Verbrauchers und Verfahren zum Betrieb einer solchen Steuereinrichtung
DE102010028719A1 (de) * 2010-05-07 2011-11-10 Robert Bosch Gmbh Suchgerät
EP2405283B1 (de) 2010-07-06 2014-03-05 Mechaless Systems GmbH Optoelektronische Messanordnung mit einer Kompensationslichtquelle
DE102010027499A1 (de) 2010-07-16 2012-01-19 Mechaless Systems Gmbh Optisches Bedienelement, insbesondere Taster oder Schalter
EP2418512A1 (de) 2010-07-30 2012-02-15 Mechaless Systems GmbH Optoelektronische Messanordnung mit Fremdlichtkompensation
JP5741088B2 (ja) 2011-03-14 2015-07-01 セイコーエプソン株式会社 位置検出システム及び投射型表示システム
DE102011014374B3 (de) * 2011-03-17 2012-04-12 Gerd Reime Optoelektronischer Drehgeber
JP5776281B2 (ja) * 2011-04-08 2015-09-09 セイコーエプソン株式会社 光学式位置検出装置、及びロボットハンド装置
US8620523B2 (en) 2011-06-24 2013-12-31 Gentex Corporation Rearview assembly with multiple ambient light sensors
US9224889B2 (en) 2011-08-05 2015-12-29 Gentex Corporation Optical assembly for a light sensor, light sensor assembly using the optical assembly, and vehicle rearview assembly using the light sensor assembly
EP2602635B1 (de) 2011-12-06 2014-02-19 ELMOS Semiconductor AG Verfahren zur Vermessung einer Übertragungsstrecke mittels kompensierender Amplitudenmessung und Delta-Sigma-Methode sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
WO2013113456A1 (de) 2012-02-03 2013-08-08 Mechaless Systems Gmbh Kompensation eines optischen sensors über die leiterplatte
EP2631674A1 (de) * 2012-02-23 2013-08-28 ELMOS Semiconductor AG Verfahren und Sensorsystem zur Vermessung der Eigenschaften einer Übertragungsstrecke eines Messsystems zwischen Sender und Empfänger
CN103411630A (zh) * 2012-11-28 2013-11-27 上海兰宝传感科技股份有限公司 智能型偏振反射式光电传感器
EP2936201B1 (de) 2012-12-21 2020-04-15 Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft Vorrichtung zur bestimmung einer eigenschaft eines uebertragungskanals zwischen einem sender und einem empfaenger
US9207116B2 (en) 2013-02-12 2015-12-08 Gentex Corporation Light sensor
US9870753B2 (en) 2013-02-12 2018-01-16 Gentex Corporation Light sensor having partially opaque optic
JP2015007611A (ja) * 2013-05-30 2015-01-15 株式会社リコー 付着物検出装置、ワイパー装置及び移動体
US10948576B2 (en) 2018-02-15 2021-03-16 Ford Global Technologies, Llc Surface dirtiness detection
WO2020005962A1 (en) * 2018-06-25 2020-01-02 Littelfuse, Inc. Optical rain sensor with dynamic optical configuration control

Family Cites Families (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2200878A1 (de) * 1972-01-08 1973-08-23 Licentia Gmbh Lichtschranke
CH568627A5 (fi) * 1974-07-15 1975-10-31 Cerberus Ag
DE2630470A1 (de) * 1976-07-07 1978-01-12 Schmidt Karl Heinz Selbsttaetige steuerung von kraftfahrzeug-scheibenwischanlagen
FI60079C (fi) * 1980-02-29 1981-11-10 Vaisala Oy Foerfarande och anordning foer angivande av daggpunkt eller liknande
DE3140865A1 (de) * 1981-10-14 1983-05-11 Hans-Wolfgang 8000 München Diesing Schaltungsanordnung fuer gepulste reflexionslichtschranken
DE3203091C2 (de) * 1982-01-30 1985-06-13 Vdo Adolf Schindling Ag, 6000 Frankfurt Einrichtung zum Steuern der Scheibenreinigungsanlage eines Kraftfahrzeugs
DE3218279A1 (de) * 1982-05-13 1983-11-17 Manfred 1000 Berlin Lau Automatischer intervallschalter fuer scheibenwischer
DE3235590C2 (de) * 1982-09-25 1984-11-22 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 8000 München Vorrichtung zum optischen Erfassen von Fremdkörpern
JPS59140146A (ja) * 1983-01-28 1984-08-11 Jidosha Denki Kogyo Co Ltd ワイパ間欠駆動制御装置
DE3314770A1 (de) * 1983-04-23 1984-10-31 Sidler GmbH & Co, 7400 Tübingen Einrichtung zum steuern eines scheibenwischermotors
JPS6111637A (ja) * 1984-06-27 1986-01-20 Nec Corp 液体センサ
US4620141A (en) * 1985-07-03 1986-10-28 Vericom Corp. Rain-controlled windshield wipers
DE3619208A1 (de) * 1986-06-07 1987-12-10 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zum optischen erfassen von fremdkoerpern
DE3715798A1 (de) * 1987-05-12 1988-01-07 Erich Ing Grad Huber Opto-elektronische einrichtung zum erkennen von verschmutzung transparenter schutzscheiben und ausloesen der reinigungsmassnahmen
DE3722510A1 (de) * 1987-07-08 1989-01-26 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zum regenabhaengigen ein- und ausschalten eines elektrischen scheibenwischermotors
IT212441Z2 (it) * 1987-07-31 1989-07-04 Veglia Borletti Srl Dispositivo sensore della presenza di gocce di acqua su un cristallo di un veicolo e apparecchiatura dicomando di un tergicristallo provvista del detto dispositivo
IT212332Z2 (it) * 1987-07-31 1989-07-04 Veglia Borletti Srl Dispositivo sensore della presenza di gocce d acqua su un cristallo di un veicolo e apparecchiatura dicomando di un tergicristallo provvista del detto dispositivo
DE3733762A1 (de) * 1987-10-06 1989-04-20 Karl Gerhard Scheibenverschmutzungsmelder
DE3800327A1 (de) * 1988-01-08 1989-07-27 Bosch Gmbh Robert Verfahren zum betreiben eines scheibenwischers und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
US4871917A (en) 1988-04-19 1989-10-03 Donnelly Corporation Vehicular moisture sensor and mounting apparatus therefor
US5117168A (en) * 1988-12-19 1992-05-26 Fujitsu Ten Limited Windshield wiper control apparatus
US4960996A (en) * 1989-01-18 1990-10-02 Hochstein Peter A Rain sensor with reference channel
ES2063959T3 (es) * 1989-01-26 1995-01-16 Voralp Ets Dispositivo para el control del medio de accionamiento de un accesorio de vehiculo.
US4916374A (en) * 1989-02-28 1990-04-10 Donnelly Corporation Continuously adaptive moisture sensor system for wiper control
US4956591A (en) * 1989-02-28 1990-09-11 Donnelly Corporation Control for a moisture sensor
US4973844A (en) 1989-07-10 1990-11-27 Donnelly Corporation Vehicular moisture sensor and mounting apparatus therefor
DE3935807A1 (de) * 1989-10-27 1991-05-02 Swf Auto Electric Gmbh Wischanlage fuer kraftfahrzeuge
US5059877A (en) * 1989-12-22 1991-10-22 Libbey-Owens-Ford Co. Rain responsive windshield wiper control
US5082629A (en) * 1989-12-29 1992-01-21 The Board Of The University Of Washington Thin-film spectroscopic sensor
DE4000735A1 (de) * 1990-01-12 1991-07-18 Vdo Schindling Verfahren und anordnung zur steuerung eines scheibenwischers
DE4018903A1 (de) * 1990-06-13 1991-12-19 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zum betreiben eines scheibenwischers
DE4036407C2 (de) * 1990-11-15 1994-06-01 Telefunken Microelectron Sensorsystem
DE4112847A1 (de) * 1991-04-19 1992-10-22 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zum betreiben eines regendetektors
DE4217390C2 (de) * 1991-06-24 1994-06-16 Kostal Leopold Gmbh & Co Kg Einrichtung zur Steuerung einer Scheibenwischanlage
DE4120750A1 (de) * 1991-06-24 1993-01-07 Kostal Leopold Gmbh & Co Kg Einrichtung zur steuerung einer scheibenwischanlage
DE4134432A1 (de) * 1991-10-18 1993-04-22 Daimler Benz Ag Verfahren zur anpassung der ansprechempfindlichkeit eines niederschlagssensorsystems an umgebungsverhaeltnisse und sensorsystem mit einem niederschlagssensor
DE4141348C3 (de) * 1991-12-14 1999-04-29 Kostal Leopold Gmbh & Co Kg Einrichtung zur Steuerung einer Scheibenwischanlage
DE4231763C2 (de) * 1992-09-23 1995-07-06 Kostal Leopold Gmbh & Co Kg Einrichtung zur Steuerung einer Scheibenwischanlage
DE4209680A1 (de) * 1992-03-25 1993-09-30 Bosch Gmbh Robert Regensensor
DE4229491A1 (de) * 1992-09-04 1993-01-07 Steinbacher Peter Dipl Ing Fh Vorrichtung zur steuerung einer scheibenwischeranlage fuer kraftfahrzeuge
DE9309837U1 (de) * 1993-07-02 1993-09-02 Reime Gerd Anordnung zum Messen oder Erkennen der Benetzung einer für eine bestimmte Strahlung durchlässigen Wand oder Platte
US5483346A (en) * 1994-04-11 1996-01-09 Butzer; Dane C. Polarization based optical sensor utilizing total internal reflection

Also Published As

Publication number Publication date
JPH08512131A (ja) 1996-12-17
WO1995001561A1 (de) 1995-01-12
FI956323A (fi) 1996-02-28
JP3362852B2 (ja) 2003-01-07
KR100302088B1 (ko) 2001-12-28
AU6968494A (en) 1995-01-24
FI956323A0 (fi) 1995-12-29
EP0706648A1 (de) 1996-04-17
US5666037A (en) 1997-09-09
EP0706648B1 (de) 1997-09-03
DE59403980D1 (de) 1997-10-09
ES2110763T3 (es) 1998-02-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI111103B (fi) Laite heijastavassa elementissä tapahtuvan muutoksen mittaamiseksi tai havaitsemiseksi
US4595866A (en) Windshield wiper control apparatus
US5229602A (en) Contamination sensor for transparent elements having a reflection light barrier and a working voltage controller
US7772793B2 (en) Raindrop detecting device and method of selecting wiping mode for vehicle
JPH07181131A (ja) 光学水滴検出装置
JPH10507428A (ja) 視界検出及び雨による曇り検出用センサ
KR19990082870A (ko) 물방울 검출센서
US20210116544A1 (en) Distance measuring device
FI95080B (fi) Menetelmä ja laitteisto levyn pinnalla olevien epäpuhtauksien havaitsemiseksi
JP2008275390A (ja) 雨滴検出装置
KR20170115248A (ko) 다중 민감도 영역을 갖는 레인센서
KR100609802B1 (ko) 자동 이미터 강도 제어 기능을 갖는 수분 센서
US6373215B1 (en) Device for monitoring the state of a window pane
CA2065298C (en) Sensing moisture on screen and automated controlled wiping
US6239444B1 (en) Water drop detector on transparent substrate and initiating method and output stabilizing method therefor
JPS5889430A (ja) ワイパ及び照明制御装置
JPS59106348A (ja) ワイパ自動制御装置
US6239570B1 (en) Wiper controller apparatus of water drop sensitive type
JP2013071518A (ja) 雨滴検出装置
JPH11295214A (ja) 水滴及び光量検出センサ
JP2001099948A (ja) レインセンサ
JPS58112855A (ja) ワイパ駆動モ−ド制御装置
JP2004294101A (ja) 雨滴検出装置
JP2002286629A (ja) 雨滴検出装置及びその方法
JPH0729588B2 (ja) 自動ワイパ装置