DE927523C - Elektronenoptisches Doppelsystem mit Zwischenbild fuer elektrostatische UEbermikroskope - Google Patents
Elektronenoptisches Doppelsystem mit Zwischenbild fuer elektrostatische UEbermikroskopeInfo
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- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
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Description
Bei den bekannten Übermikroskopen macht sich die überaus große Baulänge störend bemerkbar! Zur
Herabsetzung der Bauhöhe sind schon verschiedene Vorschläge gemacht warden. Beispielsweise ist es
vorgeschlagen worden, ein Übermikroskop mit einer als Elektronenspiegel wirkenden Proj ektionslin.se
zu versehen. Ferner ist es bei magnetischen Elektronenmikroskopen, vorgeschlagen worden, ein elektron.enoptisches
Doppelsystem zu verwenden, welches
ίο aus zwei koaxialen, an beiden Enden mit Polschuhen
versehenen Rohren besteht, woibei sich innerhalb des inneren Rohres ein Zwischenbild
ergibt.
Es ist ferner bei elektrostatischen Übermikroskopen vorgeschlagen worden, ein. elektronenoptisches
Doppelsystem aus zwei koaxialen, gegeneinander isoliert angeordnetem Rohren aufzubauen,
welche an den Enden mit Lochblenden versehen sind. Das innere Rohr liegt dabei an negativer
Hochspannung gegenüber dem als Abschirmzylinder dienenden Außenrohr. Das äußere Rohr besteht
zweckmäßig aus einem ferromagnetischen Werkstoff, insbesondere Eisen. An jedem Ende der Rohre
bilden die Lochblenden dar beiden Zylinder Bestandteile von Immersionslinsen, welche nur eine
einzige Spannungszufübrung benötigen. Die beiden Immersionslinsen liegen nahe zusammen, denn der
Abstand beträgt zweckmäßig höchstens das 10- bis aofache der Objektivbrennweite. Damit ist der
stoßempfindliche Weg verhältnismäßig kurz.
Diese Anordnung hat weiterhin, noch den Vorteil, daß die beiden Linsen sehr gut zueinander zentriert
sind.
Die Erfindung betrifft eine Weiterbildung des elektronenoptischen. Doppelsystems mit Zwischenbild
für elektrostatische Übermikroskope. Erfindungsgemäß ist zu den zwei koaxialen Rohren
wenigstens ein 'weiteres koaxiales, mit Blenden an den Enden versehenes· Rohr isoliert angeordnet.
Diese Anordnung bringt verschiedene Vorteile mit sich. Zunächst kann bei Verwendung von mehreren
koaxialen Rohren, welche an dien Enden mit Blenden versehen sind, in einfacher Weise eine Spannungsiuntartailung
vorgenommen werden, was bei elektrostatischen Übermikroskopen von besonderem
Vorteil ist. Es ist ferner die Möglichkeit gegeben, die einzelnen Blenden derart an Spannung zu legen,
daß ein System aus zwei Einziellinsen gebildet wird. In diesem Fall wird zweckmäßig das äußerste und
das~ innerste Rohr an Erde gelegt, während das dazwischen
befindliche Mittelrohr mit der negativen Hochspannung verbunden ist.
Der Gegenstand der Erfindung ist an dem in der Abbildung dargestellten Ausführungsbeispiel erläutert.
Das elektronenoptische Doppelsystem ist aus dnei Rohren 1, 4 und 7 aufgebaut, die an den
Enden mit Blenden 2, 5 und S bzw. 3, 6 und 9 versehen sind. Die einzelnen Zylinder sind mit Zuführungen
10, 11 und 12 versehen. Wenn die Linsen
als Einzellinsen geschaltet werden sollen, werden beispielsweise die Zuleitungen 10 und 12 mit der
Erde verbunden, während die Zuleitung 11 zu der negativen Hochspannung führt. Innerhalb des
Rohres 1 werden zweckmäßig noch Streufeld- und Gesichtsfeldblienden angebracht, welche jedoch der
Übersicht haibar nicht dargestellt sind. Die einzelnen Rohre 1, 4 und 7 sind ferner durch Isolierringe
gegeneinander abgestützt. Diese Isolierringe sind ebenfalls in dar Abbildung fortgelassen.
Das elektronenoptische System nach der Erfindung kann entweder allein in einem Übermikroskop
als Abbildungssystem benutzt werden. Wenn jedoch ein Übermikroskop mit extrem hoher Vergrößerung
hergestellt werden soll, dann wird man zweckmäßig hinter dieses System noch ein weiteres System oder
eine Einzellinse' schalten.
Das elektronenoptische Doppelsystem hat nicht nur Bedeutung, wenn es sich um Einzellinsen handelt,
sondern es können mit Hilfe dieses Systems auch Immersionslinsen hergestellt wardien. In
diesem Fall wird sich die mögliche Spannungsverteilung besonders günstig auswirken.
Claims (1)
- PATENTANSPRUCH:Elektronenoptisches Doppelsystem mit Zwischenbild für elektrostatische! Übermikroskope, dadurch gekennzeichnet, daß zu den zwei koaxialen Rohren wenigstens ein weiteres koaxiales, mit Blenden an den Enden versehenes Rohr isoliert angeordnet ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEA6809D DE927523C (de) | 1943-03-05 | 1943-03-05 | Elektronenoptisches Doppelsystem mit Zwischenbild fuer elektrostatische UEbermikroskope |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DEA6809D DE927523C (de) | 1943-03-05 | 1943-03-05 | Elektronenoptisches Doppelsystem mit Zwischenbild fuer elektrostatische UEbermikroskope |
DE902470X | 1943-03-08 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE927523C true DE927523C (de) | 1955-05-12 |
Family
ID=25957609
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEA6809D Expired DE927523C (de) | 1943-03-05 | 1943-03-05 | Elektronenoptisches Doppelsystem mit Zwischenbild fuer elektrostatische UEbermikroskope |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE927523C (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0449740A1 (de) * | 1990-03-30 | 1991-10-02 | Orsay Physics | Vorrichtung zur Fokussierung eines geladenen Teilchenstrahls |
-
1943
- 1943-03-05 DE DEA6809D patent/DE927523C/de not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0449740A1 (de) * | 1990-03-30 | 1991-10-02 | Orsay Physics | Vorrichtung zur Fokussierung eines geladenen Teilchenstrahls |
FR2660485A1 (fr) * | 1990-03-30 | 1991-10-04 | Orsay Physics | Dispositif de focalisation d'un faisceau de particules chargees. |
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