DE908262C - Verfahren zur Herstellung einer temperaturbestaendigen und chemisch bestaendigen, feuchtigkeitsdichten, elektrisch nicht beanspruchten Schutzschicht aus Siliziumdioxyd - Google Patents
Verfahren zur Herstellung einer temperaturbestaendigen und chemisch bestaendigen, feuchtigkeitsdichten, elektrisch nicht beanspruchten Schutzschicht aus SiliziumdioxydInfo
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- DE908262C DE908262C DES3195D DES0003195D DE908262C DE 908262 C DE908262 C DE 908262C DE S3195 D DES3195 D DE S3195D DE S0003195 D DES0003195 D DE S0003195D DE 908262 C DE908262 C DE 908262C
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- H—ELECTRICITY
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- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B3/00—Insulators or insulating bodies characterised by the insulating materials; Selection of materials for their insulating or dielectric properties
- H01B3/02—Insulators or insulating bodies characterised by the insulating materials; Selection of materials for their insulating or dielectric properties mainly consisting of inorganic substances
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/06—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
- C23C14/10—Glass or silica
Description
- Verfahren zur Herstellung einer temperaturbeständigen und chemisch beständigen, feuchtigkeitsdichten, elektrisch nicht beanspruchten Schutzschicht aus Siliziumdioxyd Bekanntlich sind die Schaltelemente der Fernmeldetechnik, wie Widerstände, Spulen u. dgl., mehr oder weniger feuchtigkeitsempfindlich und bedürfen daher für eine exakte Arbeitsweise eines Feuchtigkeitsschutzes. Ein solcher Feuchtigkeitsschutz ist beispielsweise durch ein vollkommen dicht schließendes Gehäuse gegeben.
- Nun stellt aber ein Gehäuse einen nicht unbeträchtlichen Mehraufwand dar, der im Verhältnis zur Größe und zum Wert des Schaltelementes häufig nicht tragbar ist. Man behilft sich dann damit, daß man die Schaltelemente mit einem feuchtigkeitsdichten Überzug versieht. Diese feuchtigkeitsdichten Überzüge, die häufig aus Vergußmassen, Lacküberzügen od. dgl. bestehen, sind jedoch nur bedingt feuchtigkeitssicher und haben weiterhin den Nachteil, daß sie als organische Substanz nicht hoch temperaturbeständig sind und häufig auch leicht chemischen Einflüssen unter-1 iegen.
- Man hat insbesondere bei Widerständen deswegen auch schon anorganische Schutzschichten verwendet, beispielsweise Glasflüsse, Emaille u. dgl. Diese Schichten beeinträchtigen aber zumindest während ihrer Aufbringung den Widerstand, da sie sehr viel Sauerstoff enthalten und bei der Aufbringtemperatur selbst im reduzierenden Gasstrom das Widerstandsmaterial oxydieren.
- Bei der Suche nach ähnlichen anorganischen Schutzschichten, jedoch ohne die beschriebenen Nachteile der Glas- und Glasurschichten, könnte man auf den Gedanken komm, Siliziumdioxyd, das eine glasartige Beschaffenheit und glasartige Eigenschaften besitzt, zu verwenden. Siliziumdioxyd ist ebenfalls hoch temperaturbeständig? den üblicherweise auftretenden chemischen Beanspruchungen völlig gewachsen und vor allem sehr dicht.
- Die zur Herstellung von Siliziumdioxydschichten vorgeschlagenen Verfahren haben jedoch bisher keine praktische Bedeutung gewinnen können, da sie sehr teuer, umständlich und schwierig durchzuführen sind und keine Gewähr für einen einwand-. freien Schutzüberzug bieten. Das zunächst am einfachsten scheinende Verfahren der thermischen Verdampfung von Siliziumdioxyd und Niederschlagen des Metalldampfes auf die gewünschte Unterlage hat praktisch keine Bedeutung, weil die Verdampfungstemperatur für Siliziumdioxyd selbst im Vakuum =sehr hoch liegt und, da S@i@lizi:urndioxyd ein Nichtleiter ist, zur Erwärmung ein beheizbarer Behälter erforderlich ist, der aber selbst dann, wenn er aus Wolfram besteht, nur eine untragbar kurze Lebensdauer hat, weil die für die Verdampfung des Sii!l@i@zsiumdioxyd@s notwendige Temperatur schon nahe bei der Schmelztemperatur des Wolframs liegt.
- Außerdem haben die in dieser Weise gewonnenen Schichten, abgesehen von der Verunreinigung durch mitverdampftes Wolfram, eine dem Leistungsaufwand entsprechend zu geringe Stärke.
- Gemäß der Erfindung wird ein neuartiges Verfahren angegeben, um in einfacher Weise beliebig starke, vollkommen homogene, glasklare Schutzschichten aus Sliziumdioxyd herzustellen. Dieses Verfahren besteht darin, daß zunächst durch thermische Verdampfung eines Gemenges von Silizium-Sauerstoff-Verbindungen und Reduktionsmitteln bzw. von Silizium und Sauerstoffverbindungen und Niederschlägen der gebildeten Dämpfe eine Silizium und Sauerstoff in annähernd gleichen atomaren Mengenverhältnissen enthaltende Schicht erzeugt wird, worauf diese Schicht dann einer oxydierenden Behandlung unterworfen wird, so daß aus der zunächst aus Siliziumoxyd bestehenden Schicht eine Schicht aus Siliziumdioxyd gebildet wird.
- Wie sich nämlich zeigte, verdampfen Silizium-Sauerstoff-Verbindungen zusammen mit Reduktionsmitteln schon bei weit niedrigeren Temperaturen als Siliziumdioxyd und bilden verhältnismäßig starke Si0-Schichten, die durch den einfachen Vorgang einer oxydierenden Behandlung in irgendeiner bekannten Weise zu der gewünschten Si 02 Schicht umgewandelt werden können. Die Aufdampfung der Si0-Schicht erfolgt zweckmäßigenveise entweder im Vakuum oder unter Schutzgas. Als Reduktionsmittel kann auch Siliziurri_selbst benutzt werden, so daß`:es möglich ist, Silizium: und irgendwelche Metalloxyde, ja sogar Silizium und Siliziumdioxyd als Gemenge zu verwenden. Die Umwandlung der Si 0-Schicht in die S'02-Schicht kann beispielsweise durch den Sauerstoff der Atmosphärenluft oder auch durch oxydierende Gase oder Dämpfe erfolgen, wobei es zweckmäßig sein kann, eine erhöhte Temperatur zur Beschleunigung der Reaktion anzuwenden. Es zeigte sich, daß die Einwirkung der oxydierenden Gase auch dadurch unterstützt werden kann, daß man gleichzeitig fotochemisch wirksame Strahlen, beispielsweise ultraviolette Strahlen, in Anwendung bringt.
- Nun kann die Umwandlung der Si0-Schicht jedoch auch durch Zuhilfenahme von oxydierenden Flüssigkeiten, beispielsweise Säuren, tve Salpetersäure, erreicht werden, wobei es ebenfalls zweckmäßig sein kann, erhöhte Temperaturen anzuwenden. Auch auf dem Wege .der elektrolytischen Oxydation läßt sich die S1 O-SChicht in die Si 02 Schicht umwandeln. Eine elektrolytische Oxydation wird zweckmäßigerweise in sauren Lösungen., beispielsweise in schwefelsauren Lösungen, vor-,genommen.
- Die in dieser Weise hergestellte Siliziumdioxydschicht kann dazu dienen, kleine Kondensatorkörper, Spulen oder insbesondere elektrische Widerstände vor dem Zutritt von Feuchtigkeit zu schützen. Es können sowohl sogenannte Schichtwiderstände als auch Drahtwiderstände, insbesondere mit sehr dünnen Widerstandsdrähten, nach dem Verfahren der Erfindung mit einem Überzug versehen werden.
- Es ist jedoch nicht nötig, daß die erfindungsgemäß hergestellte Isolierschicht allein als Schutzschicht verwendet wird, sie kann beispielsweise auch dazu dienen; Schutzschichten anderer Art, die beispielsweise mit. Poren durchsetzt sind, hinsieht- i lieh ihrer Dichtigkeit zu verbessern, indem man sie auf diese aufbringt.
- Die erfindungsgemäß hergestellte Siliziumdioxydschicht hat den großen Vorzug, gegenüber den praktisch vorkommenden chemischen Einwirkungen völlig beständig zu sein und diese Beständigkeit auch im Lauf der Zeit beizubehalten. Außerdem ist sie sehr temperaturbeständig und behält auch bei höheren Temperaturen ihre chemische Beständigkeit bei. Weiterhin ist sie vollkommen dicht und geschlossen. Ein Abblättern und Rissigwerden der Schicht ist nicht zu befürchten, da sie sieh sehr fest mit der Unterlage verbindet. Schließlich ist das Verfahren zur Herstellung dieser Siliziumdioxydschicht so einfach und billig, daß es in großem Umfang- überall dort; wo dichte Schutzschichten benötigt werden, angewendet werden kann.
Claims (9)
- PATENTANSPRÜCHE: i. Verfahren zur Herstellung einer temperatürbeständigen und chemisch beständigen, feuchtigkeitsdichten, elektrisch nicht --beanspruchten.-Schutzschicht aus Siliziumdioxyd, beispielsweise eines Schutzüberzuges auf Widerständen, dadurch gekennzeichnet, daß durch thermische Verdampfung eines Gemenges von Silizium-Sauerstoff-Verbindungen und Reduktionsmitteln bzw. Silizium und Sauerstoffverbindungen und Niederschlagen der gebildeten Dämpfe eine Silizium und Sauerstoff in annähernd gleichen atomaren Mengenverhältnissen enthaltende Schicht erzeugt wird und daß diese Schicht einer oxydierenden Behandlung unterworfen wird.
- 2. Verfahren nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daB die Aufdampfung der aus Silizium und Sauerstoff in gleichen atomaren Mengenverhältnissen bestehenden Schicht im Vakuum oder unter Schutzgas vorgenommen wird.
- 3. Verfahren nach Anspruch i oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß als Reduktionsmittel Silizium benutzt wird. ¢.
- Verfahren nach Anspruch i bis 3, dadurch gekennzeichnet, daB ein Gemenge von Silizium und Siliziumdioxyd verwendet wird.
- 5. Verfahren nach Anspruch i bis q., dadurch gekennzeichnet, daß die Oxydation der aus Silizium und Sauerstoff in gleichen atomaren Mengenverhältnissen bestehenden Schicht durch Einwirkung der Atmosphärenluft oder anderer oxydierender Gase oder Dämpfe, gegebenenfalls bei erhöhter Temperatur, erzielt wird.
- 6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daB die Einwirkung der oxydierenden Gase durch gleichzeitige Anwendung fotochemisch wirksamer Strahlen, vorzugsweise von ultravioletten Strahlen, unterstützt wird.
- 7. Verfahren nach Anspruch i bis q., dadurch gekennzeichnet, daB die Oxydation der aus Silizium und Sauerstoff in gleichen atomaren Mengenverhältnissen bestehenden Schicht durch Einwirkung von oxydierenden Flüssigkeiten, beispielsweise Säuren, wie Salpetersäure, gegebenenfalls bei erhöhter Temperatur, erzielt wird. B.
- Verfahren nach Anspruch i bis q., dadurch gekennzeichnet, daß die Oxydation der aus Silizium und Sauerstoff in gleichen atomaren Mengenverhältnissen bestehenden Schicht durch elektrolytische Oxydation, vorzugsweise in sauren Lösungen, beispielsweise in schwefelsauren Lösungen, erzielt wird.
- 9. Verfahren nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daB die Si 02 -Schutzschicht auf bereits vorhandene Schutzschichten zu deren Verbesserung angebracht wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DES3195D DE908262C (de) | 1942-04-24 | 1942-04-24 | Verfahren zur Herstellung einer temperaturbestaendigen und chemisch bestaendigen, feuchtigkeitsdichten, elektrisch nicht beanspruchten Schutzschicht aus Siliziumdioxyd |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DES3195D DE908262C (de) | 1942-04-24 | 1942-04-24 | Verfahren zur Herstellung einer temperaturbestaendigen und chemisch bestaendigen, feuchtigkeitsdichten, elektrisch nicht beanspruchten Schutzschicht aus Siliziumdioxyd |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE908262C true DE908262C (de) | 1954-04-05 |
Family
ID=7470013
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DES3195D Expired DE908262C (de) | 1942-04-24 | 1942-04-24 | Verfahren zur Herstellung einer temperaturbestaendigen und chemisch bestaendigen, feuchtigkeitsdichten, elektrisch nicht beanspruchten Schutzschicht aus Siliziumdioxyd |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE908262C (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1619970A1 (de) * | 1966-10-10 | 1970-07-30 | Ibm | Verfahren zum Herstellen von passivierenden duennen Schichten mit verminderter Stoerstoffdiffusion und mit verminderter Ionenwanderung |
DE2443718A1 (de) * | 1973-10-16 | 1975-04-17 | Hoya Lens Co Ltd | Verfahren zum auftragen eines antireflexionsfilms auf die oberflaeche eines optischen koerpers |
-
1942
- 1942-04-24 DE DES3195D patent/DE908262C/de not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE1619970A1 (de) * | 1966-10-10 | 1970-07-30 | Ibm | Verfahren zum Herstellen von passivierenden duennen Schichten mit verminderter Stoerstoffdiffusion und mit verminderter Ionenwanderung |
DE2443718A1 (de) * | 1973-10-16 | 1975-04-17 | Hoya Lens Co Ltd | Verfahren zum auftragen eines antireflexionsfilms auf die oberflaeche eines optischen koerpers |
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