DE908262C - Verfahren zur Herstellung einer temperaturbestaendigen und chemisch bestaendigen, feuchtigkeitsdichten, elektrisch nicht beanspruchten Schutzschicht aus Siliziumdioxyd - Google Patents

Verfahren zur Herstellung einer temperaturbestaendigen und chemisch bestaendigen, feuchtigkeitsdichten, elektrisch nicht beanspruchten Schutzschicht aus Siliziumdioxyd

Info

Publication number
DE908262C
DE908262C DES3195D DES0003195D DE908262C DE 908262 C DE908262 C DE 908262C DE S3195 D DES3195 D DE S3195D DE S0003195 D DES0003195 D DE S0003195D DE 908262 C DE908262 C DE 908262C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
silicon
layer
oxygen
resistant
silicon dioxide
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DES3195D
Other languages
English (en)
Inventor
Dr Fritz Beyerlein
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DES3195D priority Critical patent/DE908262C/de
Application granted granted Critical
Publication of DE908262C publication Critical patent/DE908262C/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B3/00Insulators or insulating bodies characterised by the insulating materials; Selection of materials for their insulating or dielectric properties
    • H01B3/02Insulators or insulating bodies characterised by the insulating materials; Selection of materials for their insulating or dielectric properties mainly consisting of inorganic substances
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • C23C14/10Glass or silica

Description

  • Verfahren zur Herstellung einer temperaturbeständigen und chemisch beständigen, feuchtigkeitsdichten, elektrisch nicht beanspruchten Schutzschicht aus Siliziumdioxyd Bekanntlich sind die Schaltelemente der Fernmeldetechnik, wie Widerstände, Spulen u. dgl., mehr oder weniger feuchtigkeitsempfindlich und bedürfen daher für eine exakte Arbeitsweise eines Feuchtigkeitsschutzes. Ein solcher Feuchtigkeitsschutz ist beispielsweise durch ein vollkommen dicht schließendes Gehäuse gegeben.
  • Nun stellt aber ein Gehäuse einen nicht unbeträchtlichen Mehraufwand dar, der im Verhältnis zur Größe und zum Wert des Schaltelementes häufig nicht tragbar ist. Man behilft sich dann damit, daß man die Schaltelemente mit einem feuchtigkeitsdichten Überzug versieht. Diese feuchtigkeitsdichten Überzüge, die häufig aus Vergußmassen, Lacküberzügen od. dgl. bestehen, sind jedoch nur bedingt feuchtigkeitssicher und haben weiterhin den Nachteil, daß sie als organische Substanz nicht hoch temperaturbeständig sind und häufig auch leicht chemischen Einflüssen unter-1 iegen.
  • Man hat insbesondere bei Widerständen deswegen auch schon anorganische Schutzschichten verwendet, beispielsweise Glasflüsse, Emaille u. dgl. Diese Schichten beeinträchtigen aber zumindest während ihrer Aufbringung den Widerstand, da sie sehr viel Sauerstoff enthalten und bei der Aufbringtemperatur selbst im reduzierenden Gasstrom das Widerstandsmaterial oxydieren.
  • Bei der Suche nach ähnlichen anorganischen Schutzschichten, jedoch ohne die beschriebenen Nachteile der Glas- und Glasurschichten, könnte man auf den Gedanken komm, Siliziumdioxyd, das eine glasartige Beschaffenheit und glasartige Eigenschaften besitzt, zu verwenden. Siliziumdioxyd ist ebenfalls hoch temperaturbeständig? den üblicherweise auftretenden chemischen Beanspruchungen völlig gewachsen und vor allem sehr dicht.
  • Die zur Herstellung von Siliziumdioxydschichten vorgeschlagenen Verfahren haben jedoch bisher keine praktische Bedeutung gewinnen können, da sie sehr teuer, umständlich und schwierig durchzuführen sind und keine Gewähr für einen einwand-. freien Schutzüberzug bieten. Das zunächst am einfachsten scheinende Verfahren der thermischen Verdampfung von Siliziumdioxyd und Niederschlagen des Metalldampfes auf die gewünschte Unterlage hat praktisch keine Bedeutung, weil die Verdampfungstemperatur für Siliziumdioxyd selbst im Vakuum =sehr hoch liegt und, da S@i@lizi:urndioxyd ein Nichtleiter ist, zur Erwärmung ein beheizbarer Behälter erforderlich ist, der aber selbst dann, wenn er aus Wolfram besteht, nur eine untragbar kurze Lebensdauer hat, weil die für die Verdampfung des Sii!l@i@zsiumdioxyd@s notwendige Temperatur schon nahe bei der Schmelztemperatur des Wolframs liegt.
  • Außerdem haben die in dieser Weise gewonnenen Schichten, abgesehen von der Verunreinigung durch mitverdampftes Wolfram, eine dem Leistungsaufwand entsprechend zu geringe Stärke.
  • Gemäß der Erfindung wird ein neuartiges Verfahren angegeben, um in einfacher Weise beliebig starke, vollkommen homogene, glasklare Schutzschichten aus Sliziumdioxyd herzustellen. Dieses Verfahren besteht darin, daß zunächst durch thermische Verdampfung eines Gemenges von Silizium-Sauerstoff-Verbindungen und Reduktionsmitteln bzw. von Silizium und Sauerstoffverbindungen und Niederschlägen der gebildeten Dämpfe eine Silizium und Sauerstoff in annähernd gleichen atomaren Mengenverhältnissen enthaltende Schicht erzeugt wird, worauf diese Schicht dann einer oxydierenden Behandlung unterworfen wird, so daß aus der zunächst aus Siliziumoxyd bestehenden Schicht eine Schicht aus Siliziumdioxyd gebildet wird.
  • Wie sich nämlich zeigte, verdampfen Silizium-Sauerstoff-Verbindungen zusammen mit Reduktionsmitteln schon bei weit niedrigeren Temperaturen als Siliziumdioxyd und bilden verhältnismäßig starke Si0-Schichten, die durch den einfachen Vorgang einer oxydierenden Behandlung in irgendeiner bekannten Weise zu der gewünschten Si 02 Schicht umgewandelt werden können. Die Aufdampfung der Si0-Schicht erfolgt zweckmäßigenveise entweder im Vakuum oder unter Schutzgas. Als Reduktionsmittel kann auch Siliziurri_selbst benutzt werden, so daß`:es möglich ist, Silizium: und irgendwelche Metalloxyde, ja sogar Silizium und Siliziumdioxyd als Gemenge zu verwenden. Die Umwandlung der Si 0-Schicht in die S'02-Schicht kann beispielsweise durch den Sauerstoff der Atmosphärenluft oder auch durch oxydierende Gase oder Dämpfe erfolgen, wobei es zweckmäßig sein kann, eine erhöhte Temperatur zur Beschleunigung der Reaktion anzuwenden. Es zeigte sich, daß die Einwirkung der oxydierenden Gase auch dadurch unterstützt werden kann, daß man gleichzeitig fotochemisch wirksame Strahlen, beispielsweise ultraviolette Strahlen, in Anwendung bringt.
  • Nun kann die Umwandlung der Si0-Schicht jedoch auch durch Zuhilfenahme von oxydierenden Flüssigkeiten, beispielsweise Säuren, tve Salpetersäure, erreicht werden, wobei es ebenfalls zweckmäßig sein kann, erhöhte Temperaturen anzuwenden. Auch auf dem Wege .der elektrolytischen Oxydation läßt sich die S1 O-SChicht in die Si 02 Schicht umwandeln. Eine elektrolytische Oxydation wird zweckmäßigerweise in sauren Lösungen., beispielsweise in schwefelsauren Lösungen, vor-,genommen.
  • Die in dieser Weise hergestellte Siliziumdioxydschicht kann dazu dienen, kleine Kondensatorkörper, Spulen oder insbesondere elektrische Widerstände vor dem Zutritt von Feuchtigkeit zu schützen. Es können sowohl sogenannte Schichtwiderstände als auch Drahtwiderstände, insbesondere mit sehr dünnen Widerstandsdrähten, nach dem Verfahren der Erfindung mit einem Überzug versehen werden.
  • Es ist jedoch nicht nötig, daß die erfindungsgemäß hergestellte Isolierschicht allein als Schutzschicht verwendet wird, sie kann beispielsweise auch dazu dienen; Schutzschichten anderer Art, die beispielsweise mit. Poren durchsetzt sind, hinsieht- i lieh ihrer Dichtigkeit zu verbessern, indem man sie auf diese aufbringt.
  • Die erfindungsgemäß hergestellte Siliziumdioxydschicht hat den großen Vorzug, gegenüber den praktisch vorkommenden chemischen Einwirkungen völlig beständig zu sein und diese Beständigkeit auch im Lauf der Zeit beizubehalten. Außerdem ist sie sehr temperaturbeständig und behält auch bei höheren Temperaturen ihre chemische Beständigkeit bei. Weiterhin ist sie vollkommen dicht und geschlossen. Ein Abblättern und Rissigwerden der Schicht ist nicht zu befürchten, da sie sieh sehr fest mit der Unterlage verbindet. Schließlich ist das Verfahren zur Herstellung dieser Siliziumdioxydschicht so einfach und billig, daß es in großem Umfang- überall dort; wo dichte Schutzschichten benötigt werden, angewendet werden kann.

Claims (9)

  1. PATENTANSPRÜCHE: i. Verfahren zur Herstellung einer temperatürbeständigen und chemisch beständigen, feuchtigkeitsdichten, elektrisch nicht --beanspruchten.-Schutzschicht aus Siliziumdioxyd, beispielsweise eines Schutzüberzuges auf Widerständen, dadurch gekennzeichnet, daß durch thermische Verdampfung eines Gemenges von Silizium-Sauerstoff-Verbindungen und Reduktionsmitteln bzw. Silizium und Sauerstoffverbindungen und Niederschlagen der gebildeten Dämpfe eine Silizium und Sauerstoff in annähernd gleichen atomaren Mengenverhältnissen enthaltende Schicht erzeugt wird und daß diese Schicht einer oxydierenden Behandlung unterworfen wird.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daB die Aufdampfung der aus Silizium und Sauerstoff in gleichen atomaren Mengenverhältnissen bestehenden Schicht im Vakuum oder unter Schutzgas vorgenommen wird.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch i oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß als Reduktionsmittel Silizium benutzt wird. ¢.
  4. Verfahren nach Anspruch i bis 3, dadurch gekennzeichnet, daB ein Gemenge von Silizium und Siliziumdioxyd verwendet wird.
  5. 5. Verfahren nach Anspruch i bis q., dadurch gekennzeichnet, daß die Oxydation der aus Silizium und Sauerstoff in gleichen atomaren Mengenverhältnissen bestehenden Schicht durch Einwirkung der Atmosphärenluft oder anderer oxydierender Gase oder Dämpfe, gegebenenfalls bei erhöhter Temperatur, erzielt wird.
  6. 6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daB die Einwirkung der oxydierenden Gase durch gleichzeitige Anwendung fotochemisch wirksamer Strahlen, vorzugsweise von ultravioletten Strahlen, unterstützt wird.
  7. 7. Verfahren nach Anspruch i bis q., dadurch gekennzeichnet, daB die Oxydation der aus Silizium und Sauerstoff in gleichen atomaren Mengenverhältnissen bestehenden Schicht durch Einwirkung von oxydierenden Flüssigkeiten, beispielsweise Säuren, wie Salpetersäure, gegebenenfalls bei erhöhter Temperatur, erzielt wird. B.
  8. Verfahren nach Anspruch i bis q., dadurch gekennzeichnet, daß die Oxydation der aus Silizium und Sauerstoff in gleichen atomaren Mengenverhältnissen bestehenden Schicht durch elektrolytische Oxydation, vorzugsweise in sauren Lösungen, beispielsweise in schwefelsauren Lösungen, erzielt wird.
  9. 9. Verfahren nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daB die Si 02 -Schutzschicht auf bereits vorhandene Schutzschichten zu deren Verbesserung angebracht wird.
DES3195D 1942-04-24 1942-04-24 Verfahren zur Herstellung einer temperaturbestaendigen und chemisch bestaendigen, feuchtigkeitsdichten, elektrisch nicht beanspruchten Schutzschicht aus Siliziumdioxyd Expired DE908262C (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES3195D DE908262C (de) 1942-04-24 1942-04-24 Verfahren zur Herstellung einer temperaturbestaendigen und chemisch bestaendigen, feuchtigkeitsdichten, elektrisch nicht beanspruchten Schutzschicht aus Siliziumdioxyd

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES3195D DE908262C (de) 1942-04-24 1942-04-24 Verfahren zur Herstellung einer temperaturbestaendigen und chemisch bestaendigen, feuchtigkeitsdichten, elektrisch nicht beanspruchten Schutzschicht aus Siliziumdioxyd

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE908262C true DE908262C (de) 1954-04-05

Family

ID=7470013

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DES3195D Expired DE908262C (de) 1942-04-24 1942-04-24 Verfahren zur Herstellung einer temperaturbestaendigen und chemisch bestaendigen, feuchtigkeitsdichten, elektrisch nicht beanspruchten Schutzschicht aus Siliziumdioxyd

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE908262C (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1619970A1 (de) * 1966-10-10 1970-07-30 Ibm Verfahren zum Herstellen von passivierenden duennen Schichten mit verminderter Stoerstoffdiffusion und mit verminderter Ionenwanderung
DE2443718A1 (de) * 1973-10-16 1975-04-17 Hoya Lens Co Ltd Verfahren zum auftragen eines antireflexionsfilms auf die oberflaeche eines optischen koerpers

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1619970A1 (de) * 1966-10-10 1970-07-30 Ibm Verfahren zum Herstellen von passivierenden duennen Schichten mit verminderter Stoerstoffdiffusion und mit verminderter Ionenwanderung
DE2443718A1 (de) * 1973-10-16 1975-04-17 Hoya Lens Co Ltd Verfahren zum auftragen eines antireflexionsfilms auf die oberflaeche eines optischen koerpers

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2113437A1 (de) Plattierter Metallformkoerper und Verfahren zu seiner Herstellung
DE2233654A1 (de) Thermisch zersetzbare masse zur herstellung von elektrischen widerstaenden
DE908262C (de) Verfahren zur Herstellung einer temperaturbestaendigen und chemisch bestaendigen, feuchtigkeitsdichten, elektrisch nicht beanspruchten Schutzschicht aus Siliziumdioxyd
EP0465759B1 (de) Infrarotstrahler mit geschützter Reflexionsschicht und Verfahren zu seiner Herstellung
DE914266C (de) Verfahren zur Herstellung einer temperaturbestaendigen elektrisch beanspruchten Isolierschicht, insbesondere eines Dielektrikums fuer elektrische Kondensatoren
DE937212C (de) Verfahren zum Aufdampfen einer Dielektrikumschicht auf leitenden Unterlagen
DE1293401B (de) Verfahren zur Herstellung festhaftender, gasdichter UEberzuege auf Formkoerper aus Niob oder Tantal oder Legierungen dieser Metalle
DE1019140B (de) Verfahren zur Oberflaechenbehandlung von Metallen durch Aufbringen von Silikatschichten
DE579205C (de) Elektrischer Widerstand und Verfahren zu seiner Herstellung
DE1544318C3 (de) Verfahren zum Erzeugen dotierter Zonen in Halbleiterkörpern
EP1284002B1 (de) Elektrisches bauelement und verfahren zu dessen herstellung
DE975411C (de) Verfahren zur Herstellung von UEberzuegen aus elementarem Silizium auf mindestens ander Oberflaeche das Element Silizium, vorzugsweise in Form von Siliziumoxyd oder Silikat, enthaltenden Werkstoffen, wie Quarz, Glas oder keramischen Erzeugnissen
DE596042C (de) Verfahren zur Herstellung eines feuchtigkeitssicheren, waermebestaendigen, elektrisch isolierenden UEberzuges
DE2036832C3 (de) Verfahren zum Metallisieren von Oberflächen keramischer Körper
DE2310726C2 (de) Verfahren zur Erhöhung der mechanischen Festigkeit von Gegenständen aus Glas, Keramik und dgl.
DE859915C (de) Verfahren zur Herstellung von Hochohmwiderstaenden
DE730626C (de) Verfahren zur Herstellung von hochohmigen Schichten im Innern von Vakuumroehren
DE1521531A1 (de) Verfahren zum Aufbringen von isolierenden UEberzuegen auf Metallteilen
DE881687C (de) Verfahren zur Herstellung von Schutzschichten auf elektrischen Widerstaenden
DE2165520C3 (de) Verfahren zum Erhöhen der Spannungsund Isolationsfestigkeit von Ferritmagnetec und Anwendung dieses Verfahrens zur Herstellung eines Schutzgasrelais
DE2244467C3 (de) Verfahren zur Herstellung eines Aluminiumdrahtes mit einer elektrischen Isolationsschicht durch Behandeln mit einer Chromat enthaltenden Lösung
CH246105A (de) Elektrischer Kondensator mit mindestens teilweise aus nichtleitenden Umsetzungsprodukten einer Belegung bestehendem Dielektrikum.
DE600012C (de) Verfahren zur Herstellung elektrisch isolierter Leiter
DE1925921C (de) Verfahren zur Herstellung von Widerstandselementen für hochohmige elektrische Schichtwiderstände
DE1690472A1 (de) Elektrischer Widerstand und Verfahren zu dessen Herstellung