DE8803587U1 - Prüfspitze für den Gebrauch an SMT-bestückten Leiterplatten - Google Patents

Prüfspitze für den Gebrauch an SMT-bestückten Leiterplatten

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DE8803587U1
DE8803587U1 DE8803587U DE8803587U DE8803587U1 DE 8803587 U1 DE8803587 U1 DE 8803587U1 DE 8803587 U DE8803587 U DE 8803587U DE 8803587 U DE8803587 U DE 8803587U DE 8803587 U1 DE8803587 U1 DE 8803587U1
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Germany
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DE8803587U
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Wandel & Goltermann & Co 7412 Eningen De GmbH
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Wandel & Goltermann & Co 7412 Eningen De GmbH
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02Contact members
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    • H01R13/24Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
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    • GPHYSICS
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    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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    • H01R11/00Individual connecting elements providing two or more spaced connecting locations for conductive members which are, or may be, thereby interconnected, e.g. end pieces for wires or cables supported by the wire or cable and having means for facilitating electrical connection to some other wire, terminal, or conductive member, blocks of binding posts
    • H01R11/11End pieces or tapping pieces for wires, supported by the wire and for facilitating electrical connection to some other wire, terminal or conductive member
    • H01R11/18End pieces terminating in a probe

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Description

Wandel & GoItermann GmbH & Co 7121 Eningen u.A.
A270 Gbm
Prüfspitze für den Gebrauch an SMT-bestückten Leiterplatten
Die Neuerung betrifft eine Prüfspitze für den Gebrauch an bestückten SMT-Leiterplatten gemäß dem Oberbegriff des A-isoruchs 1.
Solche Prüfspitzen sind allgemein bekannt. Sie haben eine relativ dicke, lange und starre Kontaktspitze, die mit einer im Handgriff eingelassenen Buchsen verbunden ist, in die der Stecker eines Prüfkabeis einführbar ist.
Die bekannten Prüfspitzen haben verschiedene Nachteile:
-Zufolge des notwendigerweise starken Anpressdruckes werden Bauelemente und Leiterplatten stark beansprucht. -Sie rutschen leicht vom zu kontaktierenden Schaltungspunkt ab.
-Ihre Kontaktspitzen können nicht oder nur umständlich auegewechselt werden.
Der Neuerung liegt die Aufgabe zugrunde, bei einer Prüfspitze der eingangs genannten Art die obengenannten Nachteile zu vermeiden
Diese Aufgabe wird durch die im Schutzanspruch 1 gekennzeichneten Merkmale gelöst. Auf diese Weise ist es möglich, eine sicher und schonend kontaktierende Prüfspitze zu schaffen, deren Kontakt bei Abnutzung leicht ausgewechselt werdwn kann.
Beispielsweise aus DE-OS 36 01 732 oder DB-OS 36 04 717 sind Kontaktelemente bekannt, die in Vielzahl in Prüfadapter eingesetzt werden und die eine im Prüfadapter befestigbare Führungshttlse besitzen, in der eine Kontaktspitze entgegen der Kraft einer Fe der achsial verschieblich gelagert ist.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den spirüchen gekennzeichnet.
&psgr; VHVV VV WVVW ' &Ggr;
Die Erfindung v/ird &eegr; ae'h; stalte/^ ein 'Send d«?i in der Zeichnung dar- > gestellten AusfUhrungetteispiele1 e'flMutert. Hierbei zeigt
Figur 1 &rgr;ine Seitenansicht eines ersten Ausführungsbeispiels,
figur 2 einen teilweise geschnitten dargestellten Ausschnitt aus einem Längsschnitt durch den in Figur 1 enthaltenen Randgriff,
Figur 3 einen teilweise geschnitten dargestellten Ausschnitt aus der in Figur 1 dargestellten Anordnung und
Figur 4 einen der Darstellung in Figur 3 entsprechenden Aus schnitt aus einem zweiten AusfUhrungsbeispiel.
Bei dem in den Figuren 1 und 2 dargestellten ersten Ausführungsbeispiel ist in einem vorderen Ende eines als langgestreckter Handgriff dienenden Isolierstoffrohres 1, dessen Vorderbereich ( mit einem ringförmigen Wulst 2 versehen ist, eine Kontaktspitze 3 angeordnet, die in Richtung ihrer Achse 4 entgegen der Kraft einer Feder 5 verschiebar gelagert und di& mit einem Prüfkabel 6 verbunden ist, das das Innere des Isolierstoffrohres 1 durchsetzt und an dessen hinterem Ende aus diesem austritt.
Gemäß Figur 2 ist das Isolierstoffrohr 1 an seinem vorderen Ende mit einer koaxialen Gewindebohrung 7 versehen, in die der mit einem entsprechenden Gewinde 8 versehene Mittelteil 9 eines in Figur 3 näher dargestellten Patronenlagers 9, 10, 12 eingeschraubt ist. Das hintere Ende eines im Isolierstoffrohr 1 angeordneten Hinterteils 10 des Patronenlagers bildet einen LötanschluB 11 für das Prüfkabel 6, und ein aus dem Isolierstoffrohr 1 V herausragendes Vorderteil 12 des Patronenlagers ist mit einer Bohrung 13 zur Aufnahme einer Kontaktstiftpatrone versehen, deren Führungshülse 14 den Kontaktstift 3 und die Schraubenfeder S aufnimmt.
Bei dem in Figur 4 in eine« Ausschnitt dargestellten zweiten Ausführungsbeispiel ist die Kontaktspitze 20 in einer eine Schraubenfeder 21 aufnehmenden Bohrung 22 gelagert, die unmittelbar im vorderen Teil 23 eines Einsatzstückes angeordneten ist. Ein mittlerer Teil 24 des Einsatzstückes ist mit einem Gewimde 25 zur Befestigung in einer entsprechenden koaxialen Gewindebohrung (7 in Figur 1) im vorderen Ende des Isolierstoffrohres (1 in Figur 1) versehen, und dessen hinteres Teil 26 ist als Aufnahme 27 zum Einlöten eines Prüfkabeis 28 ausgebildet.
;2

Claims (3)

Schutzansprüche
1. Prüfspitze für den Gebrauch an bestückten SMT-Leiterplatten, mit einem langgestreckten Handgriff, mit einem an einem vorderui Ende des Handgriffs isoliert angeordneten Kontaktelement und mit einem mit dem Kontaktelement verbunden, am hinteren Ende des Handgriffs isoliert angeordneten Anschlußmittel, dadurch gekenn zeichnet, daß das Kontaktelement eine in an sich bekannter Weise entgegen der Kraft einer Schraubenfeder (5, 21) in einer Bohrung (13, 22) achsial verschiebbar gelagerte Kontaktspitze (3, 20) ist und daß &sr Handgriff ein langgestrecktes Isolierstoffrohr (1, 27) ist.
2. Prüfspitze nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet:, daß das Kontaktelement eine an sich für den Einsatz in ?rüfadaptern bekannte Patrone ist, in deren Hülse (14) die Schraubenfeder (5) und die Kontaktspitze (3) angeordnet sind, wobei die Kontaktspitze (3) in der Hülse (14) entgegen der Kraft der Schraubenfeder (5) achsial verschiebbar gelagerte ist, und daß im vorderen Ende des Isolierstoffrohres (1) zur Aufnahme der Hülse (14) der Patrone ein Patronenlager (9, 10, 12) befestigt ist, an dem ein Prüfkabel (5) fest angeschlossen ist, das das Isolierstoffrohr (1) durchsetzt und aus ihm nach hinten austritt.
3.Prüfspitze nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein in einem vorderen Ende des Handgriffs (1) befestigbarer und mit einem Prüfkabel (28) verbindbares Einsatzstück (23, 24, 26) die Kontaktspitze (20) und eine Schraubenfeder (21) unmittelbar in einer Bohrung (22) aufnimmt.
• · f I I I I I
DE8803587U 1988-03-17 1988-03-17 Prüfspitze für den Gebrauch an SMT-bestückten Leiterplatten Expired DE8803587U1 (de)

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DE (1) DE8803587U1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3920850A1 (de) * 1989-06-24 1991-01-10 Feinmetall Gmbh Federkontaktstift

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE3920850A1 (de) * 1989-06-24 1991-01-10 Feinmetall Gmbh Federkontaktstift

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