DE7714524U1

DE7714524U1 - Refraktometer fuer edelsteine mit pruefkoerper und lichtquelle

Info

Publication number: DE7714524U1
Application number: DE19777714524
Authority: DE
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 1977-05-07
Filing date: 1977-05-07
Publication date: 1978-10-26

Description

Manfred Eickhorst, Hans-Henny-Jahnn-Weg 21, 2000 Hamburg 76.

Refraktometer für Edelsteine mit Prüfkörper und Lichtquelle..

Die Erfindung betrifft ein Refraktometer, insbesondere zur Messung der Lichtbrechung von Edelsteinen, mit einem einen Prüfkörper und ein diesem nachgeordnetes System optisch abbildender Bauelemente wie Spiegel, Linsen od.dgl. umschließenden Gehäuse sowie einer den Prüfkörper beleuchtenden Lichtquelle.

Refraktometer dieser Art (z.B. GB-PS 462 332) dienen als Basisgeräte in Juweliergeschäften. Gemäß- internationaler Praxis wird bei ihnen die Lichtbrechung bei einer Beleuchtung der Wellenlänge 589 nm vorgenommen. Die Bauart der bekannten Refraktometer macht es erforderlich, Beleuchtungseinrichtungen, mit denen Licht dieser Wellenlänge erzeugt wird, z.B. Natriumdampf-Spektrallampen, Glühlampen mit Interferenzfilter dieser Wellenlänge oder Farbglasfilter für einfachere Ansprüche, mit einem relativ aufwendigen Kondensor-System zur Einstrahlung lüonochromatischen Lichtes in das Refraktometer auszustatten. Die Beleuchtungseinrichtung befindet sich bei den bekannten Geräten also in jedem Fall außerhalb des Gerätes und bedingt einerseits einen verhältnismäßig hohen Kosten- und Konstruktionsaufwand, während andererseits durch die außerhalb des Gerätes angebrachte Beleuchtungseinrichtung das Gerät im ganzen größer baut-und schlechter zu handhaben ist.

Aufgabe der Erfindung ist en, ein Gerät der eingangs erwähnten Art zu schaffen, das einfach zu handhaben, robust gebaut und preiswert in der Herstellung ist.

Diese Aufgabe wird erfindungsgeaiäß dadurch gelöst, daß die Lichtquelle mindestens teilweise von dem Gehäuse umschlossen ist.

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Auf diese Weise wird die Lichtquelle stärker gegen äußere Einflüsse, beispielsweise gegen die Gefahr von Beschädigungen durch unachtsame Handhabung, geschützt, und es ist möglich, die Lichtquelle in unmittelbarer Nähe des Prüfkörpers anzuordnen, wodurch beispielsweise besondere Focussierungseinrichtungen überflüssig sind. Dies schlägt sich vor allem im Fortfall eines Kondensor-Systems und damit in den Herstellungskosten bei gleicher Ausleuchtung des Prüfkörpers und Meßgenauigkeit nieder.

Aus diesem Grunde auch ist die Lichtquelle vorzugsweise punktförmig, so daß ihr Abstand zu dem zumeist halbkugel- oder trapezförmigen lichtbrechenden Prüfkörper nur wenige Zentimeter beantragen wird.

Besonders zweckmäßig ist es, als Lichtquelle eine Soffittenlampe vorzusehen, da diese nicht nur punktförmig ist, sondern ihre fadenförmige Glühwendel eine besonders günstige Ausleuchtung der Optik des Refraktometers gewährleisten. Eine solche Soffitenlampe wird vorzugsweise mit einer Leistung von 10 W vorgesehen, wodurch sich eine kostenmäßig günstige Auslegung des Niederspannungstransformators und eine zweckmäßige Helligkeitsregelung mit Hilfe eines Potentiometers ergeben. Ei:ne solche punktförmige Soffittenlampe ergibt, im Vergleich zu den bisher üblichen Beleuchtungseinrichtungen, mit erheblich einfacheren Mitteln einen gleichen, wenn nicht sogar besseren Effekt bezüglich der für das Messen der Edelsteine erforderlichen Lichtverhältnisse.

Aus Gründen konstruktiver Einfachheit, leichter Montierbarkeit und eines schnellen Austausches im Falle von Defekten ist das Gehäuse gemäß einer bevorzugten Ausbildungsform der Erfindung mit einer abnehmbaren Rückwand versehen, die die Lichtquelle sowie ggf. weitere, für die Energieversorgung wichtige Bauelemente trägt. In dem Gehäuse wird zweckmäßigerweise die gesamte elektrische Spannungsversorgung untergebracht sein, die beispielsweise Transformator, Potentiometer etc. umfaßt.

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Vorzugsweise liegen die Oberfläche des Prüfkörpers, auf die das Meßobjekt j also der Edelstein, aufzulegen ist, und eine Betrachtungslupe, die den Abschluß des optisch abbildenden Systems des Refraktometers bildet, in einer gemeinsamen horizontalen Arbeitsebene des Gehäuses. Dadurch ist es einereeits möglich, eine großzügig dimensionierte Arbeitsfläche um den Prüfkörper herum vorzusehen, die dem Juwelier ein schnelles, angenehmes Arbeiten ermöglicht, während andererseits auf diese Weise leicht Zubehörvorrxchtungen, beispielsweise 2um Drehen des Edelsteins, angebracht werden können.

Die Erfindung wird im folgenden anhand des in der schematischen Zeichnung in Form eines perspektivischen Zerfallbildes mit te"ilweiser Schnittdarstellung gezeigten Ausführungsbeispiels näher erläutert.

Ein Gehäuse 1, hier in Form einer kastenförmigen Gehäusezelle gemäß der DT-PS 22 14 507, weist eine abnehmbare Rückwand und eine horizontale Arbeitsebene 12 auf.

An bzw. in dem Gehäuse 1 befindet sich ein Refraktometer 2 bekannter Bauart, wie es z.B. aus der GB-PS 462 332 bekannt ist. Das Refraktometer 2 sowie seine funktionswesentlichen Elemente sind hier nur angedeutet und nicht in Einzelheiten dargestellt. So erkennt man einen Prüfkörper 21, dessen Oberfläche 211 die Auflagefläche für Meßobjekte H in Form von Edelsteinen bildet und in der horizontalen Arbeitsebene 12 des Gehäuses 1 liegt. Weiter umfaßt das Refraktometer ein abbildendes optisches System 22, das aus Spiegeln, Linsen etc. I besteht und hier lediglich hinsichtlich seines Strahlenganges f strichpunktiert angedeutet ist. Am Ausgang des optischen }

Systems 22 befindet sich eine Betrachtungslupe 23, die eben- \ falls in der Arbeitsebene 12 des Gehäuses 1 liegt. \

Die abnehmbare Rückwand 11 des Gehäuses 1 trägt Fassungen

für eine Lichtquelle 3, die aus einer Soffittenlampe besteht. *

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Weiter sind an der Rückwand 11 die erforderlichen Bauteile für die Energieversorgung der Lampe angebracht. Diese sind zusammengefaßt mit dem Bezugszeichen 32 bezeichnet und bestehen beispielsweise aus einem Niederspannungstransformator, einem Potentiometer zur Helligkeitsregelung und weiteren, ggf. erforderlichen oder gewünschten Bauteilen.

Die Oberfläche 211 des Prüfkörpers 21 ist durch einen am Gehäuse schwenkbar befestigten Deckel 16 abdeckbar.

Aus dem dargestellten Beispiel geht hervor, daß sich die Lichtquelle 3 in unmittelbarer Nähe des Prüfkörpers 21 befindet. Das von der Soffittenlampe ausgestrahlte, von einem hier nicht näher gezeigten Filter monochromatisierte Licht wird also direkt und ohne das Erfordernis der Zwischenschaltung irgendwelcher Focussierungseinrichtungen direkt in den Prüfkörper 21 geworfen, in dem es nach den Gesetzen der Optik zu dessen Oberfläche 211 gelangt. Auf dieser Oberfläche befindet sich der zu messende Edelstein M. Entsprechend der Lichtbrechungseigenschaften des jeweiligen Edelsteines wird das monochromatische Licht an dessen Oberfläche 211 mehr oder weniger stark totalreflektiert, worauf es innerhalb des Refraktometers 2 gemäß dem abbildenden optischen System 22 zur Betrachtungslupe 23 gelangt. Das Maß der Brechung kann- die Bedienungsperson in dieser Lupe 23 direkt ablesen.

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Bez,ugs zeichenliste

Gehäuse

11 abnehmbare Rückwand

12 horizontale Arbeitsebene 16 Deckel

Refraktometer

21 Prüfkörper 211 Oberfläche

22 abbildendes optisches System

23 (Betrachtungs-)Lupe

Lichtquelle

31 Fassung

32 Spannungsversorgung

Meßobjekt (Edelstein)

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Claims

■ I ■

Schutzansprüche :

1. Refraktometer, insbesondere zur Messung der Lichtbrechung von Edelsteinen, mit einem einen Prüfkörper und ein diesem nachgeordnetes System optisch abbildender Bauelemente wie Spiegel, Linsen od.dgl. umschließenden Gehäuse sowie einer den Prüfkörper beleuchtenden Lichtquelle, dadurch gekennzeichnet , daß die Lichtquelle <3) mindestens teilweise von dem Gehäuse (1) umschlossen ist.

2. Refraktometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß die Lichtquelle (3) punktförmig ist.

3. Refraktometer nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (3) eine Soffittenlampe ist.

H. Refraktometer nach einem der Ansprüche Ibis 3, dadurch gekennzeichnet , daß das Gehäuse (1) mit einer

·' abnehmbaren Rückwand (11) versehen ist, die die Lichtquelle (3) trägt.

5. Refraktometer nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet , daß in dem Gehäuse (1) die elektrische Spannungsversorgung (32), z.B. ein Transformator, untergebracht ist.

6. Refraktometer nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet , daß die Oberfläche (211) des Prüfkörpers (21) und eine BetrachtungBlupe (23) in einer gemeinsamen horizontalen Arbeitsebene (12) des Gehäuses (1) liegen.

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