DE3038477A1 - Refraktometer zur edelsteinuntersuchung - Google Patents

Refraktometer zur edelsteinuntersuchung

Info

Publication number
DE3038477A1
DE3038477A1 DE19803038477 DE3038477A DE3038477A1 DE 3038477 A1 DE3038477 A1 DE 3038477A1 DE 19803038477 DE19803038477 DE 19803038477 DE 3038477 A DE3038477 A DE 3038477A DE 3038477 A1 DE3038477 A1 DE 3038477A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
light
refractometer
refraction element
light source
refraction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19803038477
Other languages
English (en)
Inventor
Manfred Ing.(grad.) 2000 Hamburg Eickhorst
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to DE19803038477 priority Critical patent/DE3038477A1/de
Priority to GB8130013A priority patent/GB2085611B/en
Priority to JP56161915A priority patent/JPS5793237A/ja
Priority to IT49459/81A priority patent/IT1197423B/it
Publication of DE3038477A1 publication Critical patent/DE3038477A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/87Investigating jewels
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/43Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length by measuring critical angle

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

~ 2 —
Ing.(grad.) Manfred Eickhorst, Hans-Henny-Jahnn-Weg 21, 2000 Hamburg 76
Refraktometer zur Edelsteinuntersuchung
Gebiet der Erfindung
Die Erfindung betrifft ein Refraktometer zur Messung der Lichtbrechung von Edelsteinen, mit einem Refraktionselemont. z.B. einem Prisma, und mit einem ein dem Refraktionselement nachgeordnetes System optisch abbildender Bauelemente wie Spiegel, Linsen od. dgl. umschließenden Gehäuse sowie mit ein°r Leuchtdioden (LED) - Lichtquelle fdr monochromatisches Licht von annähernd 539 nm.
Stand der Technik
Zur Beleuchtung von Refraktometern, die monochromatisches Licht erfordert, ist es bekannt geworden, als Lichtquellpn für dieses monochromatische Licht Leuchtdioden (LED) zu verwenden, die von außen her an dem das optische Refraktionselement aufnehmenden Refraktometergehäuse angeordnet w°rd»n. Wegen der relativ niedrigen .Lichtstärke solcher LED ist es erforderlich, eine Vielzahl derselben vorzusehen, um für die Bedienungsperson des Refraktometers vernünftige Lichtverhältnisse zu erzielen, da das Licht innerhalb des Gehäuses bis zu seinem Eintritt in das optische Refraktionselement, für das beispielsweise ein Prisma verwendet wird, einen relativ weiten Weg zurückzulegen hat und die Beleuchtungsstärke bekanntlich mit dem Quadrat der Entfernung abnimmt. Durch diese Vielzahl der LED und/oder die Ausbildung einer für sich abgeschlossenen Lichtquelleneinheit außerhalb des Gehäuses bauen solche Refraktometer verhältnismäßig groß.
1 f
. ι
t- O ^_
Darüber hinaus sind auch schon kompakter bauende Geräte bekannt (DE-GM 77 14 524), bei denen eine Lichtquelle in Form einer Soffittenlampe innerhalb des Refraktometergehäuses, und zwar an der Rückwand desselben im Abstand zu dem Refraktionselement angeordnet ist. Eine monochromatisierende Wirkung hat die Lichtquelle dieses bekannten Gerätes nicht, sondern es muß zur Erzielung monochromatischen Lichtes ein geeignetes Filter zwischengeschaltet werden, wodurch die Beleuchtungsstärke wiederum abnimmt. Außerdem genügen solche Anordnungen mit Farbfiltern nicht den Anforderungen an die Monochromasie der Lichtquelle. Es entspricht internationalen Vereinbarungen, zur Refraktometerbeleuchtung bei der Edelsteinuntersuchung monochromatisches Licht von 589 nm mit einer spektralen Bandbreite von 10 nm zu verwenden. Monochromatisches Licht größerer Bandbreite, mit Farbfiltern erzeugtes quasi-monochromatisches Licht oder polychromatisches Licht, z.B. solches von Glühlampen, führt, wie bei dem bekannten Gerät, zu einer bedeutend unschärferen Schattenlinie geringeren Kontrasts und reduziert die Ablesegenauigkeit am Refraktometer um ungefähr eine Zehnerpotenz.
3038m
Aufgabe —
Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde, ein klein'"·1 und kompakt bauendes Refraktometer mit guten Lichtverhältnissen und hoher Ablesegenauigkeit zu schaffen. :
Lösung und Vorteile
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß bei einem Refraktometer der eingangs beschriebenen Art dadurch gelöst, daß die Lichtquelle in an sich bekannter Weise in dem Gehäuse und die Lichtaustrittsfläche mindestens einer Leuchtdiode im -Λ wesentlichen abstandslos zu dem Refraktionselement angeord-" net ist.
Die damit erzielbaren Vorteile bestehen insbesondere darin, daß man als Lichtquelle eine wesentlich kleinere Anzahl Leuchtdioden als bisher bekannt benötigt und zudem in der Lage ist, eine Refraktionseinheit zu bauen, bei der eine unmittelbar monochromatisches Licht abstrahlende Lichtquelle vollständig in das Refraktometergehäuse integriert ist,
von
so daß die Handhabung einer Mehrzahl zusätzlichen Licht-Bauelementen überflüssig ist. Man erhält damit ein Gerät, das ohne wesentliche Lichtverluste arbeitet und eine höchstmögliche Ablesegenauigkeit gewährleistet.
Weiterbildungen der Erfindung
Eine besonders vorteilhafte Ausbildungsform der Erfindung besteht darin, daß die Lichtquelle fest mit dem optischen Refraktionselement verbunden ist. Dadurch ergibt sich eine weitere Erleichterung in der Herstellung und Handhabung, und es wird jeglicher Luft-Zwischenraum zwischen Lichtquelle und optischem Refraktionselement beseitigt.
Bei Herstellung des optischen Refraktionselementes aus einem für diese Zwecke geeigneten Material ist es weiterhin möglich, daß die Lichtquelle in das optische Refraktionselement integriert ist, mit diesem also von Anfang an eine geschlossene Einheit bildet, womit der Forderung nach
ORIGINAL INSPECTED
einem besonders klein bauenden Refraktometer in besonderem Maße Rechnung getragen wird.
Vorzugsweise kann die LED-Lichtquelle in ein Aufsatzteil für das Refraktionselement integriert sein, wodurch sich konstruktiv und hinsichtlich der Montage und Austauschbarkeit eine sehr zweckmäßige Anordnung ergibt.
Weiterhin kann, um eine hohe Beleuchtungsstärke zu erzielen, die Lichtquelle mehrere Leuchtdioden in einer der Geometrie des Refraktionselementes angepaßten dichten Packung der einzelnen Lichtaustrittsflächen der Leuchtdioden umfassen.
Ausführungsbeispiele
Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der schematischen Zeichnung dargestellt und im folgenden beschrieben. In der Zeichnung zeigt
Fig. 1 eine Ansicht eines Refraktometers mit einer in dessen Gehäuse integrierten LED-Beleuchtungsquelle ,
Fig. 2 zwei LED-Beleuchtungsquellen in Verbindung mit einem optischen Refraktionselement,
Fig. 3 im Ausschnitt eine in ein, optisches Refraktionselement integrierte LED-Beleuchtungsquelle und
Fig. 4 ebenfalls im Ausschnitt ein optisches Refraktionselement mit drei LED-Elementen.
COPf
In Fig. 1 erkennt man ein Gehäuse 1 eines Edelstein-Refraktometers, auf dessen Betrachtungsfläche ein Edelstein 2 aufgelegt ist. Die Betrachtungsfläche wird von einer ebenen Fläche eines optischen Refraktionselements, hier in Form eines Prismas 3, gebildet. Dieses Refraktionselement ist ein Körper aus durchscheinendem Material wie Glas od.dgl. bekannten Aufbaus mit einem bestimmten Brechungsindex und kann n^ben der erwähnten Prismaform beispielsweise auch die Form einer Halbkugel od.dgl. haben.
Das optische Refraktionselement 3 weist eine Lichteintrittsfläche 31 auf, gegen die eine Leuchtdiode 4 mit einer Lichtaustrittsfläche 41 anliegt. An der Lichtaustrittsseite des
optischen Refraktionselements 3 ist eine Optik 5 bekannter Bauart vorgesehen, die im wesentlichen zwei Linsen 51, eine Skala 52, ein Prisma 53 und Okular 54 aufweist.
Mit doppelt strichpunktierter Linie ist der Gang ein*»s Lichtstrahls durch das Refraktometer 1 gezeigt. Das von der LED 4 emittierte Licht gelangt direkt, d.h. ohne Unterbrechung und damit ohne Verlust an Beleuchtungsstärke in die Lichteintrittsfläche 31 und somit in das optische Refraktionselement 3, in dem es spektral zerlegt wird. Nach Totalreflexion am Edelstein 2 gelangt dieses Licht dann in die Optik 5 und durch Umlenkung in deren Prisma 53 in das Auge eines Betrachters 6, der dadurch in der Lage ist., entsprechend dem beobachteten Spektralverhalten die Qualität des Edelsteins 2 zu bestimmen.
Bei der Ausbildungsform nach Fig. 2 sind zwei LED 4 in ein
Aufsatzeloment 32 integriert, das unmittelbar an dör Eintrittsflache 31 des optischen Refraktionselements 3 anliegt. Damit bilden die LED 4 mit dam optischen Refraktionselement 3 eine Baueinheit und können im Ganzen montiert und
ggf. ausgetauscht werden, wobei zugleich durch die Anordnung
der Licft'taustrittsflachen 41 der LED 4 in dem Aufsatzteil 32 sichergestellt ist, daß es zu keinerlei Verlusten an Beleuchtungsstärke kommt.
BAD
Wie aus Fig. 3 erkennbar, ist es sogar möglich, ein oder mehrere LLD 4 in das optische Refraktionselament 3 zu integrieren, sofern dieses vom Herstellungsverfahren und insbesondere vorn Material her durchführbar ist, so daß man auch hi^r eine geschlossen» Baueinheit erhält.
Fig. 4 zeigt eine Anordnung mehrerer LED 4 in enger Verteilung über die Lichteintrittsfläche 31 des optischen Refraktionselpments für °inen Fall, daß entweder eine sehr hoh° Beleuchtungsstärke gefordert ist oder abar einzelne LED 4 geringer Einzel-L°uchtstärke verwendet werden, so daß durch die Mehrfachanordnung und gleichmäßige Verteilung über die Lichteintritts fläche 31 eine erhöhte Lichtintensität für dia Beobachtung erzielt w°rden kann.
BAD
Leerseite

Claims (5)

Ing. (grad.) Manfred Eiokhorst, Haiis-Henny-Jahnn-Weg 21, Hamburg 76 Refraktometer zur Edelsteinuntersuchung Patentansprüche :
1. Refraktometer, insbesondere zur Messung der Lichtbrechung von Edelsteinen, mit einem Refraktionselement, z.B. einem Prisma, und mit einem ein dem Refraktionselement nachgeordnetes System optisch abbildender Bauelemente wie Spiegel, Linsen od.dgl. umschließenden Gehäuse sowie mit einer Leuchtdioden (LED) - Lichtquelle für monochromatisches Licht von annähernd 589 nm, d adurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (4) in an sich bekannter Weise in dem Gehäuse (1) und die Lichtaustrittsfläche (41) mindestens einer Leuchtdiode (4) im wesentlichen abstandslos zu dem Refraktionselement (3) angeordnet ist.
2. Refraktometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (4) fest mit dem optischen Refraktionselement (3) verbunden ist.
3. Refraktometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (4) in das optische Refraktionselement (3) integriert ist.
4. Refraktometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (4) in ein Aufsatzteil (32) für das Refraktionselement (3) integriert ist.
5. Refraktometer nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (4) mehrere Leuchtdioden (40) in einer der Geo-
metrie des Refraktionselementes (3) angepaßten dichten Packung der einzelnen Lichtaustrittsflächen (41) der Leuchtdioden (40) umfaßt.
ORlGiNAL INSPECTED
DE19803038477 1980-10-11 1980-10-11 Refraktometer zur edelsteinuntersuchung Withdrawn DE3038477A1 (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19803038477 DE3038477A1 (de) 1980-10-11 1980-10-11 Refraktometer zur edelsteinuntersuchung
GB8130013A GB2085611B (en) 1980-10-11 1981-10-05 Refractometer for testing gemstones
JP56161915A JPS5793237A (en) 1980-10-11 1981-10-09 Refractometer for gem evaluation
IT49459/81A IT1197423B (it) 1980-10-11 1981-10-09 Rifrattometro per la analisi di petre preziose

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19803038477 DE3038477A1 (de) 1980-10-11 1980-10-11 Refraktometer zur edelsteinuntersuchung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3038477A1 true DE3038477A1 (de) 1982-05-06

Family

ID=6114175

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19803038477 Withdrawn DE3038477A1 (de) 1980-10-11 1980-10-11 Refraktometer zur edelsteinuntersuchung

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JPS5793237A (de)
DE (1) DE3038477A1 (de)
GB (1) GB2085611B (de)
IT (1) IT1197423B (de)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI65496C (fi) * 1982-08-30 1984-05-10 K Patents Oy Maetfoenster foer processrefraktometer
JPS6236509A (ja) * 1985-08-10 1987-02-17 Fujitsu Ltd 形状検査方法およびその装置
US4749274A (en) * 1986-01-24 1988-06-07 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Apparatus for detecting fuel mixture ratio
CN105424705B (zh) * 2015-12-16 2017-11-17 中国地质大学(武汉) 一种可调式宝石折射仪

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2728310A1 (de) * 1976-10-20 1978-04-27 Yuasa Battery Co Ltd Vorrichtung zur optischen messung der dichte des elektrolyten eines bleiakkumulators, insbesondere eines bleisaeureakkumulators
DE7714524U1 (de) * 1977-05-07 1978-10-26 Eickhorst, Manfred, 2000 Hamburg Refraktometer fuer edelsteine mit pruefkoerper und lichtquelle
DE7714525U1 (de) * 1977-05-07 1978-10-26 Eickhorst, Manfred, 2000 Hamburg Refraktometer fuer edelsteine mit gehaeuse und beleuchtungseinrichtung

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5538328B2 (de) * 1972-06-20 1980-10-03
JPS552943A (en) * 1978-06-21 1980-01-10 Tadashi Saito Optical fiber type precious stone discriminator

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2728310A1 (de) * 1976-10-20 1978-04-27 Yuasa Battery Co Ltd Vorrichtung zur optischen messung der dichte des elektrolyten eines bleiakkumulators, insbesondere eines bleisaeureakkumulators
DE7714524U1 (de) * 1977-05-07 1978-10-26 Eickhorst, Manfred, 2000 Hamburg Refraktometer fuer edelsteine mit pruefkoerper und lichtquelle
DE7714525U1 (de) * 1977-05-07 1978-10-26 Eickhorst, Manfred, 2000 Hamburg Refraktometer fuer edelsteine mit gehaeuse und beleuchtungseinrichtung

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
The Journal of Gemmology, Vol. XVIII, No. 2, April 1980, Seiten 82-85 *

Also Published As

Publication number Publication date
GB2085611A (en) 1982-04-28
IT1197423B (it) 1988-11-30
IT8149459A0 (it) 1981-10-09
GB2085611B (en) 1984-08-08
JPS5793237A (en) 1982-06-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3240942C2 (de)
DE2928462A1 (de) Endoskop
DE7706786U1 (de) Lichtleitfaser mit querlicht
DE2061098B2 (de) Oximeter. Ausscheidung in: 2065515
DE19541233A1 (de) Objekttisch für Mikroskope
DE102005044580A1 (de) Anordnung zur Beleuchtung eines Feldes
DE3515809A1 (de) Optisches beleuchtungssystem fuer ein endoskop
DE2512548A1 (de) Datenanzeigevorrichtung mit fluessigkristallen
DE19950899A1 (de) Beleuchtbare optische Vergrösserungsvorrichtung
DE3038477A1 (de) Refraktometer zur edelsteinuntersuchung
DE10214566B4 (de) Homogen paralleles Licht emittierende Leuchtdiode
DE2600371A1 (de) Optischer baustein
DE102008018051A1 (de) Optisches Bauteil und Beleuchtungsvorrichtung mit demselben
DE1913711A1 (de) Beleuchtungssystem fuer optische Instrumente
DE2326841B2 (de) Optische kollimatorvorrichtung fuer die blickfeldanzeige
DE3512520C2 (de)
DE102009040093A1 (de) Medizinische Leuchte für Hintergrundlicht und Anregungslicht
DE2647991A1 (de) Anzeigevorrichtung
DE202006019540U1 (de) Leuchte
DE712329C (de) Ellipsoidmonochromator
DE562442C (de) Vorrichtung zur Beleuchtung der Skalen von Messinstrumenten
DE644791C (de) Einrichtung zur Beleuchtung und zum Ablesen von Skalen und Beschriftungen
CH696216A5 (de) Zeilenbeleuchtung.
DE682289C (de) Strahlengang fuer lichtelektrische Kolorimeter, Spektralkolorimeter u. dgl.
DE2527770B2 (de) Objektträger zur Durchführung von Agglutinationsreaktionen

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8130 Withdrawal