FI65496C - Maetfoenster foer processrefraktometer - Google Patents

Maetfoenster foer processrefraktometer Download PDF

Info

Publication number
FI65496C
FI65496C FI822993A FI822993A FI65496C FI 65496 C FI65496 C FI 65496C FI 822993 A FI822993 A FI 822993A FI 822993 A FI822993 A FI 822993A FI 65496 C FI65496 C FI 65496C
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
window
prism
wall
processrefraktometer
maetfoenster
Prior art date
Application number
FI822993A
Other languages
English (en)
Other versions
FI822993A0 (fi
FI65496B (fi
Inventor
Esko Matti Kamrat
Original Assignee
K Patents Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by K Patents Oy filed Critical K Patents Oy
Priority to FI822993A priority Critical patent/FI65496C/fi
Publication of FI822993A0 publication Critical patent/FI822993A0/fi
Priority to US06/515,485 priority patent/US4571075A/en
Application granted granted Critical
Publication of FI65496B publication Critical patent/FI65496B/fi
Publication of FI65496C publication Critical patent/FI65496C/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/43Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length by measuring critical angle

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

1 65496
P RO S ES SIREFRAKTOMETRIN MITTAUSIKKUNA
Keksintö kohdistuu prosessirefraktometrin mittausikkunaan. Prosessi re fraktometrejä käytetään yleisesti liuoksen konsentraation jatkuvaan mittaukseen teollisuudessa. Mittausmenetelmä perustuu siihen,että mitattava liuos on kosketuksissa prosessirefraktomet-5 rin mittausikkunan kanssa ja rajapintaa valaistaan erisuuntaisilla valonsäteillä ikkunan läpi. Heijastuneesta valosta määritellään valosähköisen analysaattorin avulla liuoksen ja ikkunan rajapinnan kokonaisheijastusrajakulma, joka on liuoksen konsentraation mitta.
10 Sekä valonlähteestä tulevien että analysaattoriin lähtevien valonsäteiden pitäisi läpäistä ikkunan pinnat mahdollisimman kohtisuorasi i. Kuitenkin ikkunan toisella, prosessia vastaan olevalla puolella pitäisi valonsäteiden kulman ikkunan pintanormaaliin nähden olla melko suuri. Tämä merkitsee sitä, että ikkuna ei voi olla ta-15 vai linen ikkuna, jossa läpinäkyvän kappaleen rajapintoina on kaksi keskenään yhdensuuntaista tasoa, vaan ikkunan läpinäkyvän osan on oltava prisman muotoinen.
Koska ikkunan tehtävä on myös suojata valonlähdettä ja valosähköistä analysaattoria prosessiliuokselta, on tiivistystavan oltava luo-20 tettava ja paineenkestävä. On eduksi, jos ikkunan ja prosessines-teen rajapinta on samassa tasossa prosessiseinämän pinnan kanssa, koska tällöin ikkunan pinta pysyy paremmin puhtaana. Jos ikkunan pinta ei ole puhdas, syntyy konsentraation mittausvirheitä. Lisäksi ikkunan tulee olla tukevasti kiinnitetty, koska pienikin liike 25 aiheuttaa merkittävän mittausvirheen.
Ennestään ei tunneta ikkunaratkaisua, jossa yhdistyisivät kaikki yllämainitut hyvät ominaisuudet. Tunnetuista ratkaisuista tavallisimmissa käytetään läpinäkyvänä kappaleena prismaa, jonka läpileikkaus on symmetrisen trapetsin muotoinen. Valonlähde on symmetria-30 akselin toisella puolella ja valosähköinen analysaattori toisella puolella. Valonlähteestä lähtevät säteet osuvat kohtisuorasti pitempään rinnakkaissivuun, heijastuvat symmetria-akselin samalla puolella olevasta vinosivusta ja kohtaavat lyhemmän rinnakkaissivun, joka muodostaa ikkunan prosessinpuoleisen rajapinnan. Rajapinnasta 2 65496 heijastunut valo heijastuu vielä toisesta vinosivusta kohtisuoraan pitemmän rinnakkaissivun läpi valosähköiseen analysaattoriin. Prosessiseinämässä on prosessiin päin kapeneva kartionmuotoinen reikä, johon prisma on sovitettu. Kuitenkin, jotta prisma ja tiiviste 5 pysyisivät kiinni, ei reikä ole kokonaisuudessaan kartionmuotoinen, vaan prosessin puolella on kavennus, joka muodostaa prismaa ja tiivistettä tukevan reunan. Tämä merkitsee sitä, että prisman proses-sinpuoleinen pinta on prosessiseinämän pintaa alempana olevassa syvennyksessä. Tunnettu on myös ratkaisu, missä käytetään samanmuo-10 toista prismaa, mutta prisma ja prosessieeinämä muodostavat suoran tason. Tässä ratkaisussa prosessiseinämän reikä on kartionmuotoinen koko seinämän läpi ja tiivisteenä on ohut Teflon-kalvo, joka on muotoiltu reiän seinämän mukaan. Tämän ratkaisun haittana on, että ikkuna ei ole kiinteästi kiinnitetty, vaan kelluu tiivisteen päällä. 15 Lisäksi tiivistystäpä on epäluotettava.
Keksinnölle on tunnusomaista se, mitä on esitetty patenttivaatimuksessa. Patenttivaatimuksen mukaisessa ratkaisussa ikkunan proses-sinpuoleinen taso ja prosessiseinämä muodostavat tasaisen pinnan, mutta kuitenkin ikkunan läpinäkyvä kappale on niin jäykästi kiin-20 nitetty, ettei se pääse heilumaan eikä pyörimään. Lisäksi molemmat tiivisteet ovat tasopintojen välissä, niin että voidaan valita paras mahdollinen standarditiiviste. Ennestään tunnetuista ratkaisuista poiketen prosessipaine puristaa ikkunan läpinäkyvän kappaleen tiivistettä vasten, mikä lisää turvallisuutta. Lisäksi on 25 eduksi, että valon kulku tapahtuu ilman ylimääräisiä prismansisäi-siä heijastuksia, koska ylimääräisten heijastuspintojen kunto vaikuttaa mittaustulokseen.
Oheisissa kuvissa 1 ja 2 on havainnollistettu keksinnön mukaisen prosessirefraktometrin mittausikkuna. Prosessiseinämässä 1 on pro-30 sessin puolella V-muotoinen ura 2. Mittausikkunan läpinäkyvä kappale on spinel lista tehty kattoprisma 3» joka on sovitettu V-uraan 2 niin että prisman kaksi optista pintaa 4,5 ovat V-uran 2 kumpaakin seinämää vasten. Prisman kolmas, optinen pinta 6 muodostaa yhtenäisen suoran tason prosessiseinämän 1 kanssa. Kummassakin V-uran 3 65496 2 sivussa on tiivisteuran ympäröimä reikä 7,8. Tiivisteenä on käytetty O-rengasta. Optinen järjestelmä toimii niin, että valonlähteestä lähtevä valo 15 kulkee V-uran 2 toisella sivulla olevan reiän 7 kautta prisman 3 sisään ja osuu prisman 3 prosessinvastai-5 seen sivuun 6. Siitä heijastunut valo poistuu prismasta 3 V-uran 2 toisella sivulla olevan reijän 8 kautta valosähköistä analysaattoria kohti. Prisman 3 kiinnitys on järjestetty niin, että prisman pro-sessinpuoleisen sivun 6 vastakkaisilta reunoilta on työstetty materiaalia siten, että muodostuu kaksi vinoa tasoa9,10, joita vasten 10 poikkileikkaukseltaan prismanmuotoisten kiinnityskappaleiden 11,12 toisessa päässä olevat vastaavat tasot 13 puristuvat. Kiinnityskap-paleet 11,12 ja niiden tasot 13 on valmistettu siten, että kun ne ruuveilla 1^1 kiinnitetään prosessiseinämäan 1, ne lukitsevat, prisman 3 paikoilleen V-uraan 2 ja muodostavat samalla tasaisen pinnan 15 prosessiseinämän 1 kanssa.

Claims (1)

  1. 4 65496 Patenttivaatimus Prosessirefraktometrin mittausikkuna, joka koostuu.prosessisei-nämään (l) upotetusta kattoprismasta (3) tiivisteineen ja kiin-nitysosineen (11, 12), tunnettu siitä, että prisma (3) on sovitettu prosessiseinämän (l) prosessinpuoleiseen V-muotoi-5 seen uraan (2), niin että kaksi kattoprisman optista pintaa (k, 5. ovat V-muotoisen uran (2) seinämiä vasten ja niin että kolmas optinen pinta ((S) ja upotetut kiinnitysosat (li, 12) muodostavat yhtenäisen suoran tason prosessiseinämän (l) kanssa sekä niin, että V-muotoisen uran (2) molemmissa seinämissä on tiivisteen 10 ympäröimä reikä (7,8) valon kulkua varten.
FI822993A 1982-08-30 1982-08-30 Maetfoenster foer processrefraktometer FI65496C (fi)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI822993A FI65496C (fi) 1982-08-30 1982-08-30 Maetfoenster foer processrefraktometer
US06/515,485 US4571075A (en) 1982-08-30 1983-07-20 Measuring window for a process refractometer

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI822993A FI65496C (fi) 1982-08-30 1982-08-30 Maetfoenster foer processrefraktometer
FI822993 1982-08-30

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI822993A0 FI822993A0 (fi) 1982-08-30
FI65496B FI65496B (fi) 1984-01-31
FI65496C true FI65496C (fi) 1984-05-10

Family

ID=8515967

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI822993A FI65496C (fi) 1982-08-30 1982-08-30 Maetfoenster foer processrefraktometer

Country Status (2)

Country Link
US (1) US4571075A (fi)
FI (1) FI65496C (fi)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9719919B2 (en) 2013-01-23 2017-08-01 Janesko Oy Method for measuring refractive index, and refractometer

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4834104A (en) * 1985-08-01 1989-05-30 C. R. Bard, Inc. Method and apparatus for measuring specific gravity of a flowing liquid
USH1470H (en) * 1994-03-28 1995-08-01 Ewing Kenneth J Refractive index-based sensor for the discrimination of chlorinated hydrocarbons from groundwater
FR2743146B1 (fr) * 1995-12-29 1998-02-13 Gaz De France Refractometre et procede pour mesurer l'indice, ou la variation d'indice, de refraction d'un fluide ou d'un corps visqueux
US5870185A (en) * 1996-10-21 1999-02-09 C.F.C. Technology, Inc. Apparatus and method for fluid analysis
US6387705B1 (en) 2000-05-02 2002-05-14 Equilone Enterprises, Llc Alkylation process using refractive index analyzer
JP2004150923A (ja) * 2002-10-30 2004-05-27 Atago:Kk 屈折計
WO2006086682A2 (en) * 2005-02-11 2006-08-17 Swagelok Company Fluid concentration sensing arrangement
DE102007050731B3 (de) * 2007-10-22 2009-01-08 Flexim Flexible Industriemesstechnik Gmbh Durchlicht-Refraktometer
US20100025112A1 (en) * 2008-07-29 2010-02-04 Baker Hughes Incorporated In-situ refraction apparatus and method
US9038451B2 (en) * 2010-07-08 2015-05-26 Baker Hughes Incorporated Optical method for determining fouling of crude and heavy fuels
US9063080B2 (en) 2013-07-26 2015-06-23 Ecolab Usa Inc. Method of deposition monitoring
FI128037B (fi) 2015-06-29 2019-08-15 Janesko Oy Sovitelma refraktometrin mittaikkunan yhteydessä ja refraktometri
DE202016101446U1 (de) 2016-03-16 2017-06-19 Flexim Flexible Industriemesstechnik Gmbh Prozessrefraktometer

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE113777C (fi) *
FR1383146A (fr) * 1963-11-14 1964-12-24 Centre Nat Rech Scient Réfractomètre à réflexion
GB1151301A (en) * 1967-05-10 1969-05-07 Mario Maselli Refractometer
US3628867A (en) * 1969-08-20 1971-12-21 Anacon Inc Refractometer
DE3038477A1 (de) * 1980-10-11 1982-05-06 Manfred Ing.(grad.) 2000 Hamburg Eickhorst Refraktometer zur edelsteinuntersuchung

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9719919B2 (en) 2013-01-23 2017-08-01 Janesko Oy Method for measuring refractive index, and refractometer

Also Published As

Publication number Publication date
US4571075A (en) 1986-02-18
FI822993A0 (fi) 1982-08-30
FI65496B (fi) 1984-01-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI65496C (fi) Maetfoenster foer processrefraktometer
FI63835C (fi) Foerfarande foer identifiering av ett virkes ytegenskaper
US4701052A (en) Dew point hygrometer
ATE190719T1 (de) Anordnung zur analyse von substanzen an der oberfläche eines optischen sensors
ATE34611T1 (de) Optischer sensor.
JPS56126747A (en) Inspecting method for flaw, alien substance and the like on surface of sample and device therefor
KR860004303A (ko) 광산란분석에 의해 사 또는 필라멘트의 평균단면특성을 측정하는 방법
EP0321836A2 (en) Improved reflectance photometer
US20200158625A1 (en) Flow cell and optical system for analyzing fluid
FI78355B (fi) Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden.
US20050007596A1 (en) Apparatus and method for increasing the sensitivity of in-line infrared sensors
FI93583B (fi) Prisma
EP0116746A3 (en) Apparatus and method for measuring refractive index of liquids
SU1718737A3 (ru) Оптическое устройство дл измерени влажности пористого вещества
US3420138A (en) Variable angle attenuated total reflection attachment
US3635563A (en) Apparatus for detecting small rotations
JPH02259451A (ja) 濁度計
JPS6058820B2 (ja) 透明物質の表面分析方法
SU898298A1 (ru) Устройство дл технологического контрол целлюлозной и бумажной массы
SU911251A1 (ru) Проточный рефрактометр
SU1103082A1 (ru) Погружной датчик фотоколориметра
FI118905B (fi) Mittausjohdin
SU1188528A1 (ru) Датчик угломерного устройства
SU802849A1 (ru) Кювета дл рефрактометрическогодЕТЕКТиРОВАНи B жидКОСТНОй XPO-МАТОгРАфии
SU1141315A1 (ru) Способ измерени величины двойного лучепреломлени полимерных материалов

Legal Events

Date Code Title Description
MA Patent expired

Owner name: K-PATENTS OY