FI65496C - Maetfoenster foer processrefraktometer - Google Patents
Maetfoenster foer processrefraktometer Download PDFInfo
- Publication number
- FI65496C FI65496C FI822993A FI822993A FI65496C FI 65496 C FI65496 C FI 65496C FI 822993 A FI822993 A FI 822993A FI 822993 A FI822993 A FI 822993A FI 65496 C FI65496 C FI 65496C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- window
- prism
- wall
- processrefraktometer
- maetfoenster
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/43—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length by measuring critical angle
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
1 65496
P RO S ES SIREFRAKTOMETRIN MITTAUSIKKUNA
Keksintö kohdistuu prosessirefraktometrin mittausikkunaan. Prosessi re fraktometrejä käytetään yleisesti liuoksen konsentraation jatkuvaan mittaukseen teollisuudessa. Mittausmenetelmä perustuu siihen,että mitattava liuos on kosketuksissa prosessirefraktomet-5 rin mittausikkunan kanssa ja rajapintaa valaistaan erisuuntaisilla valonsäteillä ikkunan läpi. Heijastuneesta valosta määritellään valosähköisen analysaattorin avulla liuoksen ja ikkunan rajapinnan kokonaisheijastusrajakulma, joka on liuoksen konsentraation mitta.
10 Sekä valonlähteestä tulevien että analysaattoriin lähtevien valonsäteiden pitäisi läpäistä ikkunan pinnat mahdollisimman kohtisuorasi i. Kuitenkin ikkunan toisella, prosessia vastaan olevalla puolella pitäisi valonsäteiden kulman ikkunan pintanormaaliin nähden olla melko suuri. Tämä merkitsee sitä, että ikkuna ei voi olla ta-15 vai linen ikkuna, jossa läpinäkyvän kappaleen rajapintoina on kaksi keskenään yhdensuuntaista tasoa, vaan ikkunan läpinäkyvän osan on oltava prisman muotoinen.
Koska ikkunan tehtävä on myös suojata valonlähdettä ja valosähköistä analysaattoria prosessiliuokselta, on tiivistystavan oltava luo-20 tettava ja paineenkestävä. On eduksi, jos ikkunan ja prosessines-teen rajapinta on samassa tasossa prosessiseinämän pinnan kanssa, koska tällöin ikkunan pinta pysyy paremmin puhtaana. Jos ikkunan pinta ei ole puhdas, syntyy konsentraation mittausvirheitä. Lisäksi ikkunan tulee olla tukevasti kiinnitetty, koska pienikin liike 25 aiheuttaa merkittävän mittausvirheen.
Ennestään ei tunneta ikkunaratkaisua, jossa yhdistyisivät kaikki yllämainitut hyvät ominaisuudet. Tunnetuista ratkaisuista tavallisimmissa käytetään läpinäkyvänä kappaleena prismaa, jonka läpileikkaus on symmetrisen trapetsin muotoinen. Valonlähde on symmetria-30 akselin toisella puolella ja valosähköinen analysaattori toisella puolella. Valonlähteestä lähtevät säteet osuvat kohtisuorasti pitempään rinnakkaissivuun, heijastuvat symmetria-akselin samalla puolella olevasta vinosivusta ja kohtaavat lyhemmän rinnakkaissivun, joka muodostaa ikkunan prosessinpuoleisen rajapinnan. Rajapinnasta 2 65496 heijastunut valo heijastuu vielä toisesta vinosivusta kohtisuoraan pitemmän rinnakkaissivun läpi valosähköiseen analysaattoriin. Prosessiseinämässä on prosessiin päin kapeneva kartionmuotoinen reikä, johon prisma on sovitettu. Kuitenkin, jotta prisma ja tiiviste 5 pysyisivät kiinni, ei reikä ole kokonaisuudessaan kartionmuotoinen, vaan prosessin puolella on kavennus, joka muodostaa prismaa ja tiivistettä tukevan reunan. Tämä merkitsee sitä, että prisman proses-sinpuoleinen pinta on prosessiseinämän pintaa alempana olevassa syvennyksessä. Tunnettu on myös ratkaisu, missä käytetään samanmuo-10 toista prismaa, mutta prisma ja prosessieeinämä muodostavat suoran tason. Tässä ratkaisussa prosessiseinämän reikä on kartionmuotoinen koko seinämän läpi ja tiivisteenä on ohut Teflon-kalvo, joka on muotoiltu reiän seinämän mukaan. Tämän ratkaisun haittana on, että ikkuna ei ole kiinteästi kiinnitetty, vaan kelluu tiivisteen päällä. 15 Lisäksi tiivistystäpä on epäluotettava.
Keksinnölle on tunnusomaista se, mitä on esitetty patenttivaatimuksessa. Patenttivaatimuksen mukaisessa ratkaisussa ikkunan proses-sinpuoleinen taso ja prosessiseinämä muodostavat tasaisen pinnan, mutta kuitenkin ikkunan läpinäkyvä kappale on niin jäykästi kiin-20 nitetty, ettei se pääse heilumaan eikä pyörimään. Lisäksi molemmat tiivisteet ovat tasopintojen välissä, niin että voidaan valita paras mahdollinen standarditiiviste. Ennestään tunnetuista ratkaisuista poiketen prosessipaine puristaa ikkunan läpinäkyvän kappaleen tiivistettä vasten, mikä lisää turvallisuutta. Lisäksi on 25 eduksi, että valon kulku tapahtuu ilman ylimääräisiä prismansisäi-siä heijastuksia, koska ylimääräisten heijastuspintojen kunto vaikuttaa mittaustulokseen.
Oheisissa kuvissa 1 ja 2 on havainnollistettu keksinnön mukaisen prosessirefraktometrin mittausikkuna. Prosessiseinämässä 1 on pro-30 sessin puolella V-muotoinen ura 2. Mittausikkunan läpinäkyvä kappale on spinel lista tehty kattoprisma 3» joka on sovitettu V-uraan 2 niin että prisman kaksi optista pintaa 4,5 ovat V-uran 2 kumpaakin seinämää vasten. Prisman kolmas, optinen pinta 6 muodostaa yhtenäisen suoran tason prosessiseinämän 1 kanssa. Kummassakin V-uran 3 65496 2 sivussa on tiivisteuran ympäröimä reikä 7,8. Tiivisteenä on käytetty O-rengasta. Optinen järjestelmä toimii niin, että valonlähteestä lähtevä valo 15 kulkee V-uran 2 toisella sivulla olevan reiän 7 kautta prisman 3 sisään ja osuu prisman 3 prosessinvastai-5 seen sivuun 6. Siitä heijastunut valo poistuu prismasta 3 V-uran 2 toisella sivulla olevan reijän 8 kautta valosähköistä analysaattoria kohti. Prisman 3 kiinnitys on järjestetty niin, että prisman pro-sessinpuoleisen sivun 6 vastakkaisilta reunoilta on työstetty materiaalia siten, että muodostuu kaksi vinoa tasoa9,10, joita vasten 10 poikkileikkaukseltaan prismanmuotoisten kiinnityskappaleiden 11,12 toisessa päässä olevat vastaavat tasot 13 puristuvat. Kiinnityskap-paleet 11,12 ja niiden tasot 13 on valmistettu siten, että kun ne ruuveilla 1^1 kiinnitetään prosessiseinämäan 1, ne lukitsevat, prisman 3 paikoilleen V-uraan 2 ja muodostavat samalla tasaisen pinnan 15 prosessiseinämän 1 kanssa.
Claims (1)
- 4 65496 Patenttivaatimus Prosessirefraktometrin mittausikkuna, joka koostuu.prosessisei-nämään (l) upotetusta kattoprismasta (3) tiivisteineen ja kiin-nitysosineen (11, 12), tunnettu siitä, että prisma (3) on sovitettu prosessiseinämän (l) prosessinpuoleiseen V-muotoi-5 seen uraan (2), niin että kaksi kattoprisman optista pintaa (k, 5. ovat V-muotoisen uran (2) seinämiä vasten ja niin että kolmas optinen pinta ((S) ja upotetut kiinnitysosat (li, 12) muodostavat yhtenäisen suoran tason prosessiseinämän (l) kanssa sekä niin, että V-muotoisen uran (2) molemmissa seinämissä on tiivisteen 10 ympäröimä reikä (7,8) valon kulkua varten.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI822993A FI65496C (fi) | 1982-08-30 | 1982-08-30 | Maetfoenster foer processrefraktometer |
US06/515,485 US4571075A (en) | 1982-08-30 | 1983-07-20 | Measuring window for a process refractometer |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI822993A FI65496C (fi) | 1982-08-30 | 1982-08-30 | Maetfoenster foer processrefraktometer |
FI822993 | 1982-08-30 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FI822993A0 FI822993A0 (fi) | 1982-08-30 |
FI65496B FI65496B (fi) | 1984-01-31 |
FI65496C true FI65496C (fi) | 1984-05-10 |
Family
ID=8515967
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FI822993A FI65496C (fi) | 1982-08-30 | 1982-08-30 | Maetfoenster foer processrefraktometer |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4571075A (fi) |
FI (1) | FI65496C (fi) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9719919B2 (en) | 2013-01-23 | 2017-08-01 | Janesko Oy | Method for measuring refractive index, and refractometer |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4834104A (en) * | 1985-08-01 | 1989-05-30 | C. R. Bard, Inc. | Method and apparatus for measuring specific gravity of a flowing liquid |
USH1470H (en) * | 1994-03-28 | 1995-08-01 | Ewing Kenneth J | Refractive index-based sensor for the discrimination of chlorinated hydrocarbons from groundwater |
FR2743146B1 (fr) * | 1995-12-29 | 1998-02-13 | Gaz De France | Refractometre et procede pour mesurer l'indice, ou la variation d'indice, de refraction d'un fluide ou d'un corps visqueux |
US5870185A (en) * | 1996-10-21 | 1999-02-09 | C.F.C. Technology, Inc. | Apparatus and method for fluid analysis |
US6387705B1 (en) | 2000-05-02 | 2002-05-14 | Equilone Enterprises, Llc | Alkylation process using refractive index analyzer |
JP2004150923A (ja) * | 2002-10-30 | 2004-05-27 | Atago:Kk | 屈折計 |
WO2006086682A2 (en) * | 2005-02-11 | 2006-08-17 | Swagelok Company | Fluid concentration sensing arrangement |
DE102007050731B3 (de) * | 2007-10-22 | 2009-01-08 | Flexim Flexible Industriemesstechnik Gmbh | Durchlicht-Refraktometer |
US20100025112A1 (en) * | 2008-07-29 | 2010-02-04 | Baker Hughes Incorporated | In-situ refraction apparatus and method |
US9038451B2 (en) * | 2010-07-08 | 2015-05-26 | Baker Hughes Incorporated | Optical method for determining fouling of crude and heavy fuels |
US9063080B2 (en) | 2013-07-26 | 2015-06-23 | Ecolab Usa Inc. | Method of deposition monitoring |
FI128037B (fi) | 2015-06-29 | 2019-08-15 | Janesko Oy | Sovitelma refraktometrin mittaikkunan yhteydessä ja refraktometri |
DE202016101446U1 (de) | 2016-03-16 | 2017-06-19 | Flexim Flexible Industriemesstechnik Gmbh | Prozessrefraktometer |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE113777C (fi) * | ||||
FR1383146A (fr) * | 1963-11-14 | 1964-12-24 | Centre Nat Rech Scient | Réfractomètre à réflexion |
GB1151301A (en) * | 1967-05-10 | 1969-05-07 | Mario Maselli | Refractometer |
US3628867A (en) * | 1969-08-20 | 1971-12-21 | Anacon Inc | Refractometer |
DE3038477A1 (de) * | 1980-10-11 | 1982-05-06 | Manfred Ing.(grad.) 2000 Hamburg Eickhorst | Refraktometer zur edelsteinuntersuchung |
-
1982
- 1982-08-30 FI FI822993A patent/FI65496C/fi not_active IP Right Cessation
-
1983
- 1983-07-20 US US06/515,485 patent/US4571075A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9719919B2 (en) | 2013-01-23 | 2017-08-01 | Janesko Oy | Method for measuring refractive index, and refractometer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4571075A (en) | 1986-02-18 |
FI822993A0 (fi) | 1982-08-30 |
FI65496B (fi) | 1984-01-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
FI65496C (fi) | Maetfoenster foer processrefraktometer | |
FI63835C (fi) | Foerfarande foer identifiering av ett virkes ytegenskaper | |
US4701052A (en) | Dew point hygrometer | |
ATE190719T1 (de) | Anordnung zur analyse von substanzen an der oberfläche eines optischen sensors | |
ATE34611T1 (de) | Optischer sensor. | |
JPS56126747A (en) | Inspecting method for flaw, alien substance and the like on surface of sample and device therefor | |
KR860004303A (ko) | 광산란분석에 의해 사 또는 필라멘트의 평균단면특성을 측정하는 방법 | |
EP0321836A2 (en) | Improved reflectance photometer | |
US20200158625A1 (en) | Flow cell and optical system for analyzing fluid | |
FI78355B (fi) | Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden. | |
US20050007596A1 (en) | Apparatus and method for increasing the sensitivity of in-line infrared sensors | |
FI93583B (fi) | Prisma | |
EP0116746A3 (en) | Apparatus and method for measuring refractive index of liquids | |
SU1718737A3 (ru) | Оптическое устройство дл измерени влажности пористого вещества | |
US3420138A (en) | Variable angle attenuated total reflection attachment | |
US3635563A (en) | Apparatus for detecting small rotations | |
JPH02259451A (ja) | 濁度計 | |
JPS6058820B2 (ja) | 透明物質の表面分析方法 | |
SU898298A1 (ru) | Устройство дл технологического контрол целлюлозной и бумажной массы | |
SU911251A1 (ru) | Проточный рефрактометр | |
SU1103082A1 (ru) | Погружной датчик фотоколориметра | |
FI118905B (fi) | Mittausjohdin | |
SU1188528A1 (ru) | Датчик угломерного устройства | |
SU802849A1 (ru) | Кювета дл рефрактометрическогодЕТЕКТиРОВАНи B жидКОСТНОй XPO-МАТОгРАфии | |
SU1141315A1 (ru) | Способ измерени величины двойного лучепреломлени полимерных материалов |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MA | Patent expired |
Owner name: K-PATENTS OY |