DE69835050T2 - Vorrichtung zur Einstellung eines Beleuchtungsfeldes - Google Patents

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Description

  • GEBIET DER ERFINDUNG
  • Die vorliegende Erfindung betrifft im Allgemeinen das Beleuchten eines Retikels zur Verwendung bei Lithografie, wie bei der Herstellung von Halbleitervorrichtungen verwendet, und im Besonderen das Regulieren des Beleuchtungsfelds zum Erzeugen einer gleichmäßigen oder gewünschten Belichtung und einer verringerten Linienbreitenvariation.
  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • Bei dem Prozess der Halbleiterherstellung wird Lithografie oder Fotolithografie typischerweise verwendet, um Licht durch ein Retikel zu projizieren, wobei eine mit fotoempfindlichem Resist beschichtete Siliciumscheibe zum Bilden von Schaltelementen in ausgewählten Regionen belichtet wird. Ein Beleuchtungssystem wurde bei der Step-and-Scan-Fotolithografieausstattung verwendet, die unter der Handelsmarke MICRAS-CAN von der SVG Lithography Systems, Inc., Wilton, Connecticut, vertrieben wurde. Bei dieser Fotolithografieausstattung bewegen sich das Retikel und die Scheibe mit unterschiedlichen Geschwindigkeiten. Die unterschiedlichen Geschwindigkeiten weisen ein Verhältnis auf, das der Vergrößerung der Projektionsoptik entspricht. Das Retikel und die Scheibe wird mit einem rechteckigen oder schlitzförmigen Feld, das durch das Beleuchtungssystem gebildet wird, überstrichen. Ein vertikaler Feldbegrenzer rahmt die vertikale Feldhöhe und horizontal rahmende Flügel rahmen die horizontale Feldbreite. Es ist wünschenswert, ein möglichst gleichmäßiges Belichtungsfeld zu haben. Die Beleuchtungsintensität ist das Intergral, in der Überstreichungsrichtung, der Beleuchtung auf der Scheibe. Oft ist die Beleuchtung nicht gleichmäßig genug. Um eine gleichmäßige Belichtung oder eine konstante Beleuchtungsintensität von oben bis unten längs entlang des rechteckig belichteten Feldes zu erreichen, ist oft ein regulierbarer Schlitz erforderlich. In der Vergangenheit wurden regulierbare Schlitze verwendet, die eine Linie von Nägeln oder Vorsprüngen senkrecht zu dem Beleuchtungsstrahl einsetzten. Einzelne Nägel oder Vorsprünge wurden in den Beleuchtungsstrahl geschoben, um die Beleuch tungsintensität oder -energie gleichmäßiger zu machen. Zusätzlich wurden Metallstreifen, die in einem Winkel zu dem Beleuchtungsstrahl platziert wurden, durch Stangen gebogen oder verwölbt, wodurch die Beleuchtungsintensität oder -energie reguliert und gleichmäßiger gemacht wurden. Ein Typ nachgiebigen Elements oder regulierbaren Schlitzes wird in dem US-Patent 4.516.852 mit dem Titel Method and Apparatus for Measuring Intensity Variation in a Light Source", das am 14. Mai 1985 Liu u. a. erteilt wurde, offenbart. Darin wird ein gekrümmter Schlitz offenbart, der mit einem verformbaren Band reguliert wird. Zwar waren diese regulierbaren Schlitzvorrichtungen nach dem Stand der Technik bei der Bereitstellung eines gleichmäßigeren Beleuchtungsfelds nützlich, aber die stets zunehmenden Anforderungen, die in Bezug auf die Verringerung der Strukturgröße von Halbleitervorrichtungen und den zunehmenden Produktionsausstoß an die Lithografie gestellt werden, machen ein noch gleichmäßigeres Beleuchtungsfeld erforderlich.
  • GB 2 126 740 offenbart eine ähnliche Vorrichtung zum Regulieren von Beleuchtung bei einem Beleuchtungsfeld, das die Merkmale umfasst, die in der Einleitung von Anspruch 1 definiert werden, nämlich:
    eine Vielzahl von Flügeln (30),
    eine Vielzahl von Schubstangen (29, 30, 31), wobei eine von jeder Vielzahl von Schubstangen (29, 32) mit Enden von einem der Vielzahl von Flügeln verbunden ist, wobei, wenn die Vielzahl von Schubstangen (29, 32) selektiv bewegt wird, die Vielzahl von Flügeln (29, 32) veranlasst wird, die Beleuchtungsenergie des Beleuchtungsfeldes so zu modifizieren, dass das Beleuchtungsfeld eine im Wesentlichen gleichmäßige Beleuchtungsenergie erzeugt, die zu gleichmäßiger Belichtung eines mit fotoempfindlichem Resist beschichteten Substrats führt.
  • Eine weitere Vorrichtung ist aus JP 61-104 622 bekannt.
  • Aus EP 0 614 124 ist ein Abbildungsverfahren zur Verwendung bei Fotolithografie bekannt, das die folgenden Schritte umfasst, nämlich:
    Verwenden eines Retikels mit einem Muster;
    Regulieren eines Beleuchtungsfeldes mit gleichmäßiger Beleuchtung zum Optimieren der Belichtung eines fotoempfindlichen Substrats; und
    Belichten des fotoempfindlichen Substrats mit einer Abbildung des Retikels.
  • Ein weiteres ähnliches Verfahren ist aus EP 0 313 013 bekannt.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Die vorliegende Erfindung umfasst eine Vorrichtung zum Regulieren eines rechteckigen Beleuchtungsfeldes oder -schlitzes zum Erzeugen eines gleichmäßigen Beleuchtungsfeldes, das beim Überstreichen von Lithografie verwendet wird. Eine Vielzahl von Flügeln ist miteinander gekoppelt oder verbunden, um eine bewegliche Kante entlang einer Länge des rechteckigen Beleuchtungsfeldes zu bilden. Die Enden jedes Flügels sind mit einem Gelenkbolzen an einem Verbindungsglied angebracht. Das Verbindungsglied ist mit einem Gelenkbolzen an einer Schubstange angebracht. Das Verbindungsglied kann ein starres Verbindungsglied oder ein Verformungselement sein. Die Schubstangen sind unabhängig regulierbar, um zu veranlassen, dass die Flügel steuerbar in das rechteckige Beleuchtungsfeld eingefügt und aus ihm herausgenommen werden können. Die Kantenecken der Flügel besitzen einen Radius, der dem Abstand des Gelenkbolzens zu der Kante des Flügels entspricht. Die vorliegende Erfindung umfasst außerdem ein Verfahren, wie in Anspruch 16 beansprucht, zum Erzeugen einer vorgegebenen Belichtungsdosis entlang der Längsrichtung des Beleuchtungsfeldes in Abhängigkeit von der Linienbreite einer abzubildenden Struktur, wobei die Vorrichtung von Anspruch 1 verwendet wird.
  • Die vorliegende Erfindung umfasst des Weiteren ein Abbildungsverfahren nach Anspruch 20, wobei das Beleuchtungsfeld unter Verwendung der Vorrichtung von Anspruch 1 reguliert wird.
  • Entsprechend ist es eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein rechteckiges Beleuchtungsfeld gleichmäßiger zu machen.
  • Eine andere Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, einen konstanten Beleuchtungsfluss entlang einer Längsrichtung des rechteckigen Beleuchtungsfeldes zu erzeugen.
  • Es ist ein Vorteil der vorliegenden Erfindung, dass eine stufenlose kontinuierliche Regulierung an dem rechteckigen Beleuchtungsfeld vorgenommen wird.
  • Es ist ein anderer Vorteil der vorliegenden Erfindung, dass Regulierungen an dem rechteckigen Beleuchtungsfeld leicht vorgenommen werden können.
  • Es ist ein anderer Vorteil der vorliegenden Erfindung, dass ein konstantes Verhältnis der Linienbreite zur Belichtung unter Verbesserung der Systemleistung aufrechterhalten werden kann.
  • Es kann ein Verbindungsglied zwischen dem Flügel und der Schubstange verwendet werden.
  • Diese und andere Aufgaben, Vorteile und Merkmale werden aus der folgenden ausführlichen Beschreibung offensichtlicher.
  • Die Erfindung wird durch die Ansprüche definiert.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • 1 stellt bildlich das Beleuchtungsprofil eines rechteckigen Beleuchtungsfeldes und eine Anwendung der vorliegenden Erfindung dar.
  • 2 stellt grafisch Beleuchtungsenergie dar.
  • 3 stellt schematisch eine Ausführung der vorliegenden Erfindung dar.
  • 4 stellt schematisch die Bewegung der Flügel von 3 dar.
  • 5A ist ein Teilquerschnitt eines Abschnitts einer Ausführung der vorliegenden Erfindung.
  • 5B ist ein Teilquerschnitt eines Abschnitts der in 5A dargestellten Ausführung, die um neunzig Grad gedreht ist.
  • 6 ist eine Perspektivansicht.
  • 7 ist ein Blockdiagramm; das Verfahrensschritte nach der vorliegenden Erfindung darstellt.
  • 8A ist eine schematische Darstellung eines Retikels mit einer vertikalen Struktur.
  • 8B ist eine schematische Darstellung eines Retikels mit einer horizontalen Struktur.
  • 9A ist eine schematische Darstellung eines Retikels mit einer ersten Struktur.
  • 9B stellt schematisch ein Retikel mit einer zweiten Struktur orthogonal zu der in 9A dargestellten ersten Struktur dar.
  • 10 ist ein Querschnitt, der schematisch Linien darstellt, die lithografisch auf einem Substrat erzeugt werden.
  • 11 stellt schematisch einen Abschnitt einer lithografisch erzeugten Linie als Draufsicht dar.
  • 12 ist ein Blockdiagramm, das die Verfahrensschritte einer anderen Ausführung der vorliegenden Erfindung darstellt.
  • AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGEN
  • 1 stellt ein Beleuchtungsprofil (10) dar, das durch ein Beleuchtungssystem, nicht dargestellt, erzeugt wird. Das Beleuchtungssystem kann ein zum Beleuchten eines Retikels verwendetes Beleuchtungssystem sein, wie zum Beispiel das Beleuchtungssystem, das offenbart wird in der US-Patentanmeldung Nr. 08/449.301 mit dem Titel Hybrid Illumination System for Use in Photolithography", die als US 5 631 721 A veröffentlicht wurde, das nach Artikel 54 EPÜ nicht zum Stand der Technik gehört und dem nach Artikel 54 (2) EPÜ zum Stand der Technik gehörenden EPD 744 664 A entspricht. Es wird ein rechteckiges Beleuchtungsfeld oder Schlitz (12) gebildet. Das Beleuchtungsfeld (12) besitzt eine Länge entlang der Y-Achse und eine Breite entlang der X-Achse. Die Wellenform (14) stellt die Intensitätsverteilung entlang der X-Richtung oder Breite des rechteckigen Beleuchtungsfelds (12) dar. Das Beleuchtungsprofil (10) kann Ungleichmäßigkeiten aufweisen. Die Wellenform (16) stellt eine Ungleichmäßigkeit dar. Diese Ungleichmäßigkeit kann zu einer ungleichen Belichtung eines mit fotoempfindlichem Resist beschichteten Substrats, wie zum Beispiel einer Scheibe, führen, was zu schlechter Qualität oder verringertem Produktionsausstoß führen kann. Eine regulierbare Schlitzvorrichtung (20) besitzt eine Vielzahl regulierbarer Flügel, die selektiv entlang einer Längsrichtung des rechteckigen Beleuchtungsfeldes oder -schlitzes (12) in das Beleuchtungsprofil (10) eingefügt werden. Die Beleuchtungsenergie oder der Beleuchtungsfluss des rechteckigen Beleuchtungsfeldes wird dadurch reguliert, wobei die Beleuchtungsenergie oder der Beleuchtungsfluss entlang der Längsrichtung des rechteckigen Beleuchtungsfeldes korrigiert oder gleichmäßiger gemacht wird. Daher wird, wenn mit dem rechteckigen Beleuchtungsfeld (12) in der X-Richtung, angezeigt durch den Pfeil (18), überstrichen wird, eine gewünschte gleichmäßigere Belichtung erreicht.
  • 2 stellt grafisch die/den verbesserte(n) gleichmäßigere(n) Beleuchtungsenergie oder -fluss dar, die/der mit der vorliegenden Erfindung erreichbar ist. In 2 stellt die Wellenform (22) den Gesamtbetrag oder das Integral der/des unkorrigierten Beleuchtungsenergie oder -flusses entlang der Breite des rechteckigen Beleuchtungsfeldes, das in 1 dargestellt wird, entlang der Y-Achse oder der Längsrichtung dar. Der Abschnitt (26) der Wellenform (22) stellt die/den verringerte(n) Beleuchtungsenergie oder -fluss als Ergebnis der in 1 dargestellten Ungleichmäßigkeit (16) dar. Die Wellenform (24) stellt die/den gleichmäßigere(n) Beleuchtungsenergie oder -fluss als ein Ergebnis des Einfügens ausgewählter Flügel der regulierbaren Schlitzvorrichtung (20), die in 1 dargestellt wird, in das Beleuchtungsprofil (10) dar. Es ist zu beachten, dass das Energieniveau oder der Energiefluss entlang der Y-Richtung oder Längsrichtung des rechteckigen Beleuchtungsfeldes oder -schlitzes (12), wie in 1 dargestellt, konstanter o der gleichmäßiger ist. Dies führt zu einer wünschenswerten gleichmäßigeren Belichtung eines mit fotoempfindlichem Resist beschichteten Substrats.
  • 3 stellt im Allgemeinen eine Ausführung der vorliegenden Erfindung dar. Ein Rahmen (28) besitzt einen oberen Träger (30) und einen unteren Träger (32). Der obere Träger (30) weist obere Bohrungen (36) darin auf. Der untere Träger (32) weist untere Bohrungen (36) darin auf. Schubstangen (34) sind in den jeweiligen Bohrungen (36 und 38) angeordnet. Die Bohrungen (36 und 38) besitzen einen Durchmesser ausreichender Größe, um Schubstangen (34) zu gestatten, darin zu gleiten. Ein Ende von jeder der Schubstangen (34) ist mit Gewinde versehen und erstreckt sich durch Rahmenbohrungen (40) in dem Rahmen (28). Zwischen dem unteren Träger (32) und einem Abschnitt des Rahmens (28) sind Muttern (39) angeordnet, die auf den mit Gewinde versehenen Abschnitt (35) der Schubstangen (35) geschraubt sind. Die anderen Enden der Schubstangen (34) sind durch Verbindungsglied-Gelenkbolzen (42) an einem Verbindungsglied (44) angebracht. Das andere Ende des Verbindungsglieds (44) ist durch Flügel-Gelenkbolzen (46) an einem Ende eines Flügels (48) angebracht. Somit ist eine Schubstange (44) mit jedem Ende der Flügel (48) mit Ausnahme der Endflügel (50) gekoppelt. Bei den Endflügeln (50) ist ein Ende mit einer Schubstange (44) gekoppelt und das andere Ende mit dem End-Gelenkbolzen (51) mit dem Rahmen (28) gekoppelt. Die Endflügel (50) können Schlitze (53) darin aufweisen. Die Flügel (48) sind im Allgemeinen oder im Wesentlichen von rechteckiger Form, besitzen jedoch zwei Ecken mit einem Radius. Der Radius ist im Wesentlichen dem Abstand zwischen dem Gelenkbolzen (46) und der Kante des Flügels (48) gleich. Verlängerungsträger (52) sind so angebracht, dass sie entlang der Seite des Rahmens (28) gleiten. Die Verlängerungsträger (52) können an einer starren Tragstruktur, die nicht gezeigt wird, angebracht sein. Sicherungsschrauben (54) werden verwendet, um die gleitenden Verlängerungsträger (52) zu befestigen. Die Verlängerungsträger (54) werden verwendet, um den gesamten Rahmen (28) einschließlich der Reihe von Flügeln (48) im Zusammenklang oder alle gleichzeitig zu bewegen oder anzuheben. Dadurch kann die Reihe von Flügeln (48) nach oben oder unten in eine vorgegebene Position bewegt werden, ohne die Flügel (48) einzeln zu bewegen. Dies kann zum anfänglichen Positionieren oder zum schnellen Bewegen der Flügel, wenn eine große Regulierung erforderlich ist, erfolgen.
  • 4 stellt einen Abschnitt der regulierbaren Schlitzvorrichtung einschließlich mehrerer der Flügel (48) und deren Bewegung deutlicher dar. Der Radius (56) an den Ecken der Flügel (48) erzeugt einen stufenlosen Übergang zwischen angrenzenden Flügeln (48). Eine Sägezahnform kann außerdem an dem Schnittpunkt (58) zweier Flügel (48) gebildet sein. Zusätzlich kann ein Ende jedes Flügels (48) einen Schlitz (60) dann aufweisen. Der Schlitz (60) kann an jedem zweiten Flügel-Gelenkbolzen (46) positioniert sein.
  • Der Betrieb der Vorrichtung ist mit Bezugnahme auf die 3 und 4 gut zu erkennen. Regulierungen der Beleuchtungsenergie erfolgen durch Bewegen von Schubstangen (34), die Flügel (48) selektiv in die/den Beleuchtungsenergie oder -fluss verschieben. Die Schubstangen (34) werden unabhängig durch Drehen von Muttern (39) reguliert. Wenn die Schubstangen (34) veranlasst werden, sich in den oberen und unteren Trägern (30 und 32) auf- und abwärts zu bewegen, werden die jeweiligen Flügel bewegt. Verbindungsglieder (44), die an den Flügeln (48) angebracht sind, erzeugen seitliche oder zur Seite gerichtete Flexibilität. Die Flexibilität wird auf Grund der nominellen differentiellen Seitwärtsbewegung des Zwischenraums zwischen Schubstangen (34) benötigt, wenn die Flügel (48) aus einer geraden Linie herausbewegt werden. Ohne diese Flexibilität der Seitwärtsbewegung könnten übermäßige Spannung und Beanspruchung an den Schubstangen (34) oder den Flügeln (48) platziert werden. Die Schlitze (60) in Flügeln (48) helfen zusätzlich, Spannung oder Beanspruchung auf Grund der Bewegung von Flügeln (48) zu verringern. Außerdem können Schlitze (53) in den Enden (50) angeordnet sein. Die Flexibilität kann außerdem durch Anbringen von Verbindungsgliedern (44) mit einem Verformungselement statt einem Gelenkbolzen (42) erzeugt werden. Zusätzlich kann ein Verformungselement statt des starren Verbindungsglieds (44) verwendet werden, um zur Seite gerichtete Flexibilität zu erzeugen. Wenn Reibungskräfte nicht ausreichen, um die Flügel (48) sicher in Position zu halten, kann ein Ende der Flügellinie federbelastet werden, so dass eine vorgegebene Spannung oder Vorspannung auf die Flügel (48) ausgeübt wird.
  • Es ist festzustellen, dass zwar die Schubstangen (34) so dargestellt wurden, dass sie mit einem mit Gewinde versehenen Abschnitt und einer Mutter bewegt werden, jedoch eine andere geeignete Einrichtung oder Vorrichtung zum Bewegen der Schubstangen (34) möglich ist, wie andere mechanische oder elektromechanische Einrichtungen, die den Fachleuten wohlbekannt sind. Zusätzlich können andere mit Gewinde versehene oder schraubenartige Schubstangenkonstruktionen leicht dazu eingerichtet werden, die Flügel (48) beim Ausführen der vorliegenden Erfindung zu bewegen. Zwar hängt die Auflösung der regulierbaren Schlitzvorrichtung lediglich von der Anzahl verwendeter Einzelflügel (48) ab, jedoch wurde im Allgemeinen eine so geringe Anzahl wie ungefähr fünfzehn Einzelflügel (48) mit großem Erfolg verwendet.
  • Die 5A und 5B stellen einen Teilquerschnitt einer anderen Ausführung der vorliegenden Erfindung dar. Die 5A und 5B stellen eine andere Konstruktion für eine der Schubstangen- dar, die beim Ausführen der vorliegenden Erfindung verwendet werden kann. Es ist festzustellen und es versteht sich, dass die 5A und 5B lediglich eine der Schubstangen darstellen, bei denen es eine Anzahl oder eine Vielzahl von Schubstangen mit einer Anzahl oder Vielzahl von Flügeln gäbe, die dem in den 1 und 3 Dargestellten ähnlich wäre. In den 5A und 5B sind die Flügel (148) mit einem Flügel-Gelenkbolzen (146) schwenkbar miteinander verbunden. Der Gelenkbolzen (146) erstreckt sich durch eine mit Gewinde versehene Schubstangenverlängerung (137) hindurch. Die Schubstangenverlängerung (137) ist so gegabelt, dass die Flügel (148) dazwischenpassen können. Die Schubstangenverlängerung (137) besitzt eine Längsbohrung (141) und innere Gewindegänge (139) darin. Die Schubstange (134) besitzt äußere Gewindegänge (135) daran. Die Schubstange (134) besitzt außerdem einen verringerten Durchmesser (131), in dem ein Träger (130) positioniert ist. Der verringerte Durchmesser (131) verhindert, dass sich die Schubstange (134) axial bewegt. Die untere Hälfte der Schubstange (130) wird von einer Schraubenfeder (162) umschrieben. Die Schraubenfeder (162) wird an einem Ende durch den Träger (130) und an dem anderen durch einen an der Schubstange (134) angebrachten Federanschlag (164) begrenzt. An einem Ende der Schubstange (134) kann ein Knopf (166) angeordnet sein. In der Längsbohrung (141) der mit Gewinde versehenen Schubstangenverlängerung (137) ist wenigstens ein Verformungselement (144) angeordnet. Das Verformungselement (144) ist mit einem Bolzen (146), der durch Schlitze (160) in den Flügeln (148) hindurch angeordnet ist, an der Schubstangenverlängerung (137) angebracht. Die Schlitze (160) sind längliche Löcher, die in den Flügeln (148) angeordnet sind. Nicht alle Flügel (148) müssen längliche Löcher oder Schlitze (160) besitzen. Das andere Ende des Verformungselements (144) ist mit dem Bolzen (142) an der mit Gewinde versehenen Schubstangenverlängerung (137) befestigt. Das Verformungselement (144) erzeugt ein flexibles Verbindungsglied, das seitliche oder zur Seite gerichtete Bewegung der Flü gel (148) ermöglicht. Entsprechend sind die Flügel (148) flexibel mit der mit Gewinde versehenen Schubstangenverlängerung (137) verbunden, die in die Schubstange (134) geschraubt ist. 5B ist ein Teilquerschnitt, der eine andere Ansicht der mit Gewinde versehenen Schubstangenverlängerung (137) darstellt, die von der in 5A dargestellten Ansicht ungefähr um neunzig Grad gedreht oder rotiert ist. In 5B sind die Verformungselemente (144) deutlicher dargestellt. 5B stellt zwei Verformungselemente dar, eines auf jeder Seite der Flügel (148). Es ist jedoch festzustellen, dass lediglich ein Verformungselement benötigt wird, auch wenn bei manchen Anwendungen zwei bevorzugt sein könnten. Die Verformungselemente (144) können außerdem einen rechteckigen Querschnitt aufweisen, so dass zur Seite gerichtete oder seitliche Bewegung der Flügelreihe ermöglicht wird und Bewegung aus der Ebene der Flügelreihe heraus durch die größere Längsabmessung des rechteckigen Querschnitts des Verformungselements (144) begrenzt wird.
  • Der Betrieb der Ausführung, die in den 5A und 5B dargestellt wird, dürfte gut verständlich sein. Wenn der Knopf (166) so gedreht wird, dass die Schubstange (134) in beide Richtungen, wie durch den Pfeil (168) angezeigt, gedreht wird, wird die mit Gewinde versehene Schubstangenverlängerung (137) veranlasst, sich nach oben und unten in die Richtung, die durch den Pfeil (170) dargestellt wird, zu bewegen. Entsprechend werden die Enden der Flügel (148) veranlasst, sich nach oben und unten zu bewegen. Dadurch werden die Flügel (148) in die Beleuchtung eingefügt oder aus ihr entfernt, wie im Allgemeinen als 10 in 1 dargestellt wird. Die Feder (162) platziert eine leichte Spannung an den äußeren Gewindegängen (135) und inneren Gewindegängen (139), die ein ungewolltes Drehen verhindern sowie ein Spiel, das bestehen könnte, aufnehmen. Wenn eine Vielzahl von Schubstangen bei einem System mit einer Vielzahl von miteinander verbundenen Flügeln (148) verwendet wird, veranlasst das Auf- und Abwärtsbewegen der Schubstangen (134) die Flügel (148), sich nach oben und unten zu bewegen, wobei zur Seite gerichtete oder seitliche Kräfte an den Bolzen (146) platziert werden und die Flügel (148) aneinander angebracht werden. Ein großer Teil dieser seitlichen oder zur Seite gerichteten Kräfte wird durch die Bewegung des Verformungselements (144) seitlich oder zur Seite gerichtet ausgeglichen. Die in den 5A und 5B dargestellte Ausführung ist daher derjenigen, die in den 3 und 4 dargestellt wird, ähnlich. Die starren Verbindungsglieder (44), die in den 3 und 4 dargestellt werden, werden jedoch durch Verformungselemente (144) ersetzt. Sowohl das Verbindungsglied (44), das in den 3 und 4 dargestellt wird, als auch das Verformungselement (144), das in den 5A und 5B dargestellt wird, sind insofern eine Art Verbindungsglied, als sie beide die Flügel (48 und 148) mit den Schubstangen (34 und 134) verbinden oder koppeln, um dieselbe Funktion oder denselben Zweck beim Erzeugen von zur Seite gerichteter oder seitlicher Bewegung zu erfüllen, wenn die Vielzahl von Flügeln (48 oder 148) in die Beleuchtung hinein- oder aus ihr herausbewegt wird, wie in 1 dargestellt.
  • 6 ist eine Perspektivansicht, die eine Ausführung der vorliegenden Erfindung in einer zusammengebauten Form darstellt, die in einem Lithografiewerkzeug angeordnet sein kann. Der Rahmen (228) ist an einer Aufnahme (274) angebracht. Eine Vielzahl von Schubstangen (234), bei dieser Ausführung fünfzehn, wird durch den Rahmen (228) in Position gehalten. Auf ein Ende der Vielzahl von Schubstangen (234) ist eine Vielzahl von mit Gewinde versehenen Schubstangenverlängerungen (237) aufgeschraubt. Jede Schubstangenverlängerung (234) ist durch einen Flügel-Gelenkbolzen (246) mit zwei Flügeln (248) verbunden. Die Flügel-Gelenkbolzen (246) bringen außerdem ein Ende eines Verbindungsglieds, nicht gezeigt, an den mit Gewinde versehenen Schubstangenverlängerungen (237) und Flügeln (248) an. Das Verbindungsglied kann ein starres Verbindungsglied oder ein flexibles Verbindungsglied, wie ein Verformungselement, sein. Verbindungsglied-Gelenkbolzen (248) bringen das andere Ende des Verbindungsglieds, nicht gezeigt, an den mit Gewinde versehenen Schubstangenverlängerungen (246) an. Die Struktur ist derjenigen, die in den 5A und 5B dargestellt wird, sehr ähnlich. Jedes Ende der Reihe verbundener Flügel (248) ist an einem Verlängerungsträger (252) angebracht. Verlängerungsträger (252) gleiten in dem Rahmen (228) und werden mit der Sicherungsschraube (54) in Position verriegelt. Verlängerungsträger (252) ermöglichen der Reihe verbundener Flügel (248), in einer Gruppe angehoben zu werden. Dies erleichtert anfängliches Positionieren der Reihe verbundener Flügel (248). Federn (262) sind um jede Schubstange (34) herum angeordnet. An dem anderen Ende der Schubstangen (234) sind Knöpfe (266) angeordnet. Die Knöpfe (266) werden verwendet, um die Schubstangen (234) einzeln zu drehen, wodurch die jeweiligen Flügel (248) veranlasst werden, sich nach oben und unten zu bewegen oder sich in ein rechteckiges Beleuchtungsfeld, nicht gezeigt, hinein- oder aus diesem herauszubewegen. Eine stationäre Abschirmung (272) kann in der Nähe der Reihe von Flügeln (248) angeordnet sein.
  • Bei manchen Anwendungen kann es wünschenswert sein, eine vorgegebene ungleichmäßige Belichtung für ein mit fotoempfindlichem Resist beschichtetes Substrat oder einen Wafer zu erzeugen. Zum Beispiel kann dies gewünscht werden, wenn Strukturen, die auf dem mit fotoempfindlichem Resist beschichteten Substrat abzubilden sind, unterschiedliche Linienbreiten aufweisen. Diese unterschiedlichen Linienbreiten können sich an unterschiedlichen Positionen entlang den Längsrichtungen des Beleuchtungsfeldes befinden. Normalerweise ist es wünschenswert, die Gleichmäßigkeit entlang der Länge des rechteckigen Beleuchtungsfeldes konstant zu halten. Wenn jedoch das Abbilden einer Vielfalt unterschiedlicher Linienbreiten gewünscht wird, ist es vorteilhaft, die Belichtungsdosis als eine Funktion der Linienbreite zu variieren. Ein konstantes Verhältnis der Linienbreite zu der Belichtungsdosis kann aufrechterhalten werden, um das Abbilden und die Systemleistung zu verbessern. Das heißt, dass, wenn eine Linienbreite relativ breit ist, die Belichtungsdosis an der entsprechenden Längsposition in dem Beleuchtungsfeld erhöht wird, und, wenn eine Linienbreite relativ schmal ist, die Belichtungsdosis an der entsprechenden Längsposition in dem Beleuchtungsfeld gesenkt wird. Die bevorzugte oder korrigierte Belichtungsdosis ist unabhängig von der Ausrichtung der Struktur, wenn zum Beispiel die Linie in eine vertikale oder horizontale Richtung ausgerichtet ist. Das Erhöhen oder Senken einer Belichtungsdosis entlang der Längsrichtung eines Beleuchtungsfeldes wird mit der Vorrichtung der vorliegenden Erfindung leicht vollzogen. Simulationen haben gezeigt, dass ein solches Korrekturverfahren über den Bereich linearer Reaktion eines Systems von der Strukturgröße und -art unabhängig ist. Zusätzlich wird die Vorspannung zwischen Gruppenstrukturen und isolierten Strukturen nicht beeinflusst.
  • 7 ist ein Blockdiagramm, das ein Verfahren nach der vorliegenden Erfindung darstellt. Der Kasten (310) steht für den Verfahrensschritt des Einfügens einer Vielzahl verbundener Schubstangen in ein Beleuchtungsfeld. Die verbundenen Schubstangen können eine Vorrichtung, wie in den 3 bis 6 dargestellt, umfassen. Der Kasten (312) steht für den Verfahrensschritt des Bestimmens einer bevorzugten Belichtungsdosis als eine Funktion der Linienbreite einer abzubildenden Struktur. Die bevorzugte Belichtungsdosis kann auf Basis wohlbekannter Techniken leicht berechnet werden und kann solche Variablen, wie unter anderem Resistart, Substratmaterial, Beleuchtungsenergie, Beleuchtungswellenlänge, Überstreichungsgeschwindigkeit, berücksichtigen. Die Berechnungen können durch einen Rechner durchgeführt werden oder aus einer Verweis tabelle, die Belichtungsdosis als eine Funktion der Linienbreite nennt, ermittelt werden. Die bevorzugte Belichtungsdosis kann sogar durch tatsächliche Versuchsergebnisse oder eine Reihe von Versuchsbelichtungen ermittelt werden. Der Kasten (314) steht für den Schritt des Regulierens der einzelnen verbundenen Schubstangen, so dass sie eine vorgegebene Menge elektromagnetischer Strahlung sperren. Dies erzeugt eine vorgegebene Belichtungsdosis an vorgegebenen Positionen entlang der Länge des Beleuchtungsfeldes. Der Kasten (318) steht für den Schritt des Belichtens eines mit fotoempfindlichem Resist beschichteten Substrats durch Überstreichen des Substrats mit dem Beleuchtungsfeld. Beim Ausführen des Verfahrens wird die Belichtungsdosis entlang einer Längsrichtung des Beleuchtungsfeldes als eine Funktion der Linienbreite des Musters auf dem Retikel an einer entsprechenden Position reguliert. Wenn die Linienbreiten auf dem Retikel schwanken, werden entsprechende Positionen entlang des Beleuchtungsfeldes reguliert, um eine gewünschte oder optimierte Belichtungsdosis zu erreichen. Die Regulierungen der Belichtungsdosis können automatisch durch Motoren, die an den verbundenen Schubstangen angebracht sind, erfolgen. Die Regulierungen der Belichtungsdosis des Beleuchtungsfeldes werden für jedes verwendete Retikel vorgenommen und können für jedes unterschiedliche Retikel leicht geändert werden.
  • Bei einer anderen Ausführung der vorliegenden Erfindung werden unterschiedliche Strukturtypen von Mustern getrennt abgebildet, um die Bildung einer Abbildung auf einem fotoempfindlichen Substrat, wie einer mit fotoempfindlichem Resist oder Fotoresist beschichteten Scheibe, zu optimieren. Die 8A und 8B stellen Retikel mit unterschiedlichen Strukturtypen dar. Ein vertikales Retikel (410) wird mit einem vertikalen Strukturtyp (412) darauf dargestellt. Ein horizontales Retikel (412) wird mit einem horizontalen Strukturtyp (416) darauf dargestellt. Der vertikale Strukturtyp (412), der auf dem vertikalen Retikel (410) dargestellt ist, ist zu Darstellungszwecken stark vereinfacht. Es ist festzustellen, dass das vertikale Retikel (410) aus einer großen Anzahl von Elementen besteht, die auf einem fotoempfindlichen Substrat oder einem mit Fotoresist beschichteten Substrat abzubilden sind. Das vertikale Retikel (412) enthält jedoch vorwiegend vertikale Strukturtypen darauf, wie Linien, die primär in der vertikalen Richtung ausgerichtet sind. Auf ähnliche Weise stellt 8B ein horizontales Retikel (414) mit horizontalen Strukrturtypen (416) darauf dar. Ähnlich wie bei dem vertikalen Retikel (410) ist festzustellen, dass das horizontale Retikel (414) eine relativ große Anzahl horizontaler Strukturtypen (416) darauf aufweist, wie Linien, die vorwiegend in der horizontalen Richtung ausgerichtet sind. Die vertikalen Strukturtypen (412) befinden sich orthogonal oder in rechten Winkeln zu den horizontalen Strukturtypen (416). Die Verwendung der Begriffe horizontal und vertikal ist relativ und erfolgt aus Zweckmäßigkeit. Die horizontalen und vertikalen Ausrichtungen der Strukturtypen können in Bezug auf das Retikel gedreht sein. Dies wird in den 9A und 9B dargestellt. In 9A weist ein erstes Retikel (418) einen ersten Strukturtyp (420) darauf auf. In 9B weist ein zweites Retikel (422) einen zweiten Strukturtyp (424) darauf auf. Die ersten und zweiten Strukturtypen (420 und 424) können in verschiedenen Winkeln relativ zu der Retikelausrichtung ausgerichtet sein. Vorzugsweise ist jedoch der erste Strukturtyp (420) orthogonal relativ zu dem zweiten Strukturtyp (424).
  • 10 stellt schematisch einen Querschnitt eines Abschnitts einer mit lithografischen Techniken hergestellten Halbleitervorrichtung dar. Auf einem Substrat (426) sind eine erste Linie (428) und eine zweite Linie (430) angeordnet. In 10 ist lediglich eine Schicht dargestellt, wobei jedoch typischerweise in Abhängigkeit von der Halbleitervorrichtung, die hergestellt wird, viele unterschiedliche Schichten hinzugefügt werden können. Die erste Linie (428) besitzt eine seitliche Breite W und einen Zwischenraum zwischen angrenzenden Linien.
  • 11 ist eine Draufsicht der ersten Linie (428), die auf dem in 10 dargestellten Substrat (426) gebildet ist. Die erste Linie (428) besitzt eine erste Kante (432) und eine zweite Kante (434). Es ist im Allgemeinen wünschenswert, dass die Kanten (432 und 434) gerade sind, so dass die Linienbreite gleichmäßig ist. Bei sehr kleinen Linienbreiten, in der Größenordnung von 20 Nanometern, ist es oft sehr schwierig, eine gleichmäßige Linienbreite und daher gerade Kanten mit bestehenden lithografischen Techniken zu erreichen. Entsprechend können manche Breiten entlang der Linie relativ schmal sein, wie die Breite W', und manche Breiten entlang der Linie (428) können relativ breit sein, wie die Breite W''. Diese Ausführung der vorliegenden Erfindung hilft, die Variation der Linienbreite ungeachtet des Strukturtyps zu verringern.
  • 12 stellt in Blockdiagrammform eine bevorzugte Ausführung der vorliegenden Erfindung zum Regulieren des Beleuchtungsfeldes und daher der Belichtung dar, um eine gleichmäßigere Linienbreite unter Verwendung unterschiedlicher ausgewählter Strukturtypen zu erreichen. Der Kasten (436) steht für den Schritt des Auswählens eines einzel nen zu optimierenden Strukturtyps, wie zum Beispiel ein Strukturtyp von einer entweder vertikalen oder horizontalen Ausrichtung. Der Kasten (438) steht für den Schritt des Verwendens eines Retikels mit dem ausgewählten Strukturtyp, der ausgewählt wurde, um optimiert zu werden. Der Kasten (448) steht für den Schritt des Regulierens eines Beleuchtungsfeldes zum Optimieren der Belichtung, um eine gleichmäßigere Linienbreite mit geringer Variation zu erreichen. Der Schritt des Regulierens des Beleuchtungsfeldes wird vorzugsweise unter Verwendung des regulierbaren Schlitzes der vorliegenden Erfindung durchgeführt. Wenn zum Beispiel eine Linienbreite relativ schmal ist, wird elektromagnetische Beleuchtung dadurch gesperrt, dass der regulierbare Schlitz an der Position des schmalen Abschnitts der Linienbreite in das Beleuchtungsfeld eingefügt wird, wodurch die Belichtung verringert wird und dadurch die resultierende Linienbreite nach der Verarbeitung erhöht wird. Wenn eine Linienbreite relativ breit ist, wird der regulierbare Schlitz reguliert, um die elektromagnetische Strahlung an der Position des breiten Abschnitts der Linienbreite zu erhöhen, wodurch die Belichtung erhöht wird, was zu einer Verringerung der Linienbreite an der Position der relativ breiten Linienbreite führt. Der Kasten (442) steht für den Schritt des Belichtens eines fotoempfindlichen Substrats mit der Dosis, die aus dem Regulierungs-Beleuchtungsfeld resultiert. Als Folge wird die Linienbreitengleichmäßigkeit stark erhöht. Das in 12 dargestellte Verfahren wird dann für eine Anzahl gewünschter Strukturtypen wiederholt. Es ist jedoch zu bevorzugen, dass lediglich zwei ausgewählte Strukturtypen, die orthogonal sind, ausgewählt werden. Die beiden ausgewählten Strukturtypen weisen vorzugsweise eine vertikale und horizontale Ausrichtung auf und sind orthogonal, können jedoch eine Winkelausrichtung aufweisen. Durch das Ausführen der vorliegenden Erfindung können sehr kleine Elemente oder Strukturen mit Linienbreiten in der Größenordnung von 20 Nanometern um bis zu 50 % der Linienbreite reguliert werden.
  • Die vorliegende Erfindung ist besonders geeignet für Deep-Ultraviolet-Step-and-Scan-Lithographie-Systeme. Bei einem Überstreichungssystem können verschiedene Variable und Faktoren dazu führen, dass das Lithografie-Werkzeug eine bestimmte Signatur aufweist. Diese Signatur kann zum Abbilden oder Drucken von schwankenden Linienbreiten führen. Die vorliegende Erfindung kann Regulierungen an dem Beleuchtungsfeld oder -schlitz verwenden, um die Signatur des Lithografie-Werkzeugs auszugleichen. Jedoch können unterschiedliche Strukturtypen unterschiedliche Regulierungen benötigen, um die resultierende Linienbreite zu optimieren. Die Linienbreitenvariation als eine Funk tion von Position entlang des Beleuchtungsfeldes oder -schlitzes kann in Abhängigkeit von unterschiedlichen Strukturtypausrichtungen variieren. Dies impliziert unterschiedliche Fokusebenenverschiebung bei Strukturen, die in verschiedenen Ausrichtungen ausgerichtet sind. Im Allgemeinen wird dieser Unterschied als eine Kombination von Gleichtakt-Fokusebenenverschiebung und Gegentakt-Fokusebenenverschiebung dargestellt. Bei Gleichtakt-Fokusebenenverschiebung können Regulierungen so vorgenommen werden, dass beide Strukturtypen, horizontal und vertikal, ähnlich beeinflusst oder gemeinsam reguliert werden. Gegentakt-Fokusebenenverschiebung führt dazu, dass jeder Strukturtyp, horizontal und vertikal-, getrennt beeinflusst wird: Gleichtakt-Fokusebenenverschiebung resultiert aus optischer Feldöffnung, Retikel-/Tischebenheit und anderen Variablen. Gegentakt-Fokusebenenverschiebung resultiert aus Astigmatismus und horizontaler vertikaler Vorspannung. Während die Verwendung unterschiedlicher Retikel mit unterschiedlichen Strukturtypen zu zusätzlicher Verarbeitungszeit führen kann, könnte die zusätzliche Verarbeitungszeit lediglich für kritische Schichten erforderlich sein, die in der Praxis aus einem geringen Prozentsatz der Gesamtschichten, die zum Herstellen einer Vorrichtung erforderlich sind, bestehen. Daher sollte die zusätzliche Verarbeitungszeit relativ klein sein. Beim Ausführen des Verfahrens dieser Ausführung der vorliegenden Erfindung werden die Linienbreitenvariationen an Positionen entlang der Länge des Beleuchtungsfeldes oder -schlitzes für jeden Strukturtyp, der Linienbreitenkorrektur benötigt, gemessen. Dies kann einleitend mit einer herkömmlichen Technik durchgeführt werden, wie ein Versuchsmuster mit Messungen, die durchgeführt werden. Die gemessene erforderliche Linienbreitenvariationskorrektur wird in ein erforderliches Dosisprofil für jeden Strukturtyp umgewandelt. Dieses Dosisprofil wird verwendet, um eine erforderliche Einstellung regulierbaren Schlitzes für eine Linienbreitenvariationskorrektur für jeden Strukturtyp zu erzeugen. Das Verfahren dieser Ausführung der vorliegenden Erfindung kann den zuvor offenbarten regulierbaren Schlitz oder ein anderes Äquivalent oder eine ähnliche Struktur zum Verändern der Beleuchtungsenergie entlang eines Beleuchtungsfeldes oder -schlitzes verwenden. Eine Mehrfachbelichtungstechnik wird verwendet, um das fotoempfindliche Substrat mehrmals zu belichten, wobei jede Belichtung ein unterschiedliches Retikel mit einem einzelnen Strukturtyp verwendet. Bei jeder Belichtung wird das Beleuchtungsfeld mit einem regulierbaren Schlitz nach der gemessenen oder berechneten Linienbreitenvariationskorrektur für jeden Strukturtyp reguliert. Im Allgemeinen werden zwei Retikel verwendet, was zu zwei unterschiedlichen Belichtungen führt. Horizontale und vertikale Vorspannung wird korrigiert, wobei jedes Retikel lediglich den bestimmten Strukturtyp aufweist. Die Retikelkonstruktion kann das Einfügen spezieller Linienendstrukturen erfordern, um gutes Zusammenfügen der Strukturen in unterschiedlichen Ausrichtungen zu ermöglichen, wo sie aneinandergefügt werden müssen.
  • Der regulierbare Schlitz kann jedes Mal, wenn ein unterschiedlicher Strukturtyp mit einem unterschiedlichen Retikel belichtet wird, manuell verändert werden. Jedoch kann der regulierbare Schlitz mit geeigneten wohlbekannten Motoren, Sensoren und Software-Steuerung zum Einstellen der unterschiedlichen Positionen des regulierbaren Schlitzes leicht automatisiert werden. Entsprechend kann der regulierbare Schlitz schnell und genau eingestellt werden, wobei die Zeit, die zum Regulieren des Schlitzes und damit der Beleuchtungsfeldenergie erforderlich ist, erheblich verringert wird. Um die Retikelwechselzeit zu verringern, können Retikel mit den beiden unterschiedlichen Strukturtypen, horizontal und vertikal, auf demselben Substrat angeordnet werden. Dies kann bei herkömmlichen Retikeln ohne Feldgrößenverlust möglich sein.
  • Entsprechend steigert diese Ausführung der vorliegenden Erfindung in starkem Maße die Systemleistung bei einem überstreichenden Lithografie-Werkzeug und ermöglicht die gesteuerte Herstellung sehr feiner Strukturgrößen oder Linienbreiten.
  • Entsprechend ist festzustellen, dass die vorliegende Erfindung das Regulieren eines rechteckigen Beleuchtungsfeldes oder -schlitzes in hohem Maße erleichtert und gleichmäßigere Beleuchtungsenergie erzeugt, die bei einem überstreichenden Lithografie-System nützlich ist. Der verbundene Flügelsatz erzeugt stufenlose Übergänge, die in starkem Maße die Fähigkeit zum Regulieren der Beleuchtungsenergie verbessern, um Gleichmäßigkeit bei der Belichtung eines mit fotoempfindlichem Resist beschichteten Substrats, wie eine Halbleiterscheibe, zu erzeugen. Zusätzlich erleichtert der Prozess oder das Verfahren des Regulierens des Beleuchtungsfeldes nach einer Ausführung der vorliegenden Erfindung in starkem Maße das Steuern der Linienbreiten von Elementen mit relativ kleinen Strukturgrößen.
  • Auch wenn die bevorzugten Ausführungen dargestellt und beschrieben wurden, ist für Fachleute offensichtlich, dass verschiedene Modifizierungen vorgenommen werden können, ohne von dem Umfang dieser Erfindung, die in den Ansprüchen dargelegt wird, abzuweichen.

Claims (27)

  1. Vorrichtung zum Regulieren von Beleuchtungsenergie in einem Beleuchtungsfeld (12) bei Lithografie, die umfasst: eine Vielzahl von Flügeln (48); eine Vielzahl von Schubstangen (34), die mit entsprechenden Enden der Flügel verbunden sind; wobei die Vielzahl von Schubstangen (34) selektiv so bewegt werden kann, dass die Vielzahl von Flügeln veranlasst wird, die Beleuchtungsenergie des Beleuchtungsfeldes (12) so zu modifizieren, dass das Beleuchtungsfeld eine im wesentlichen gleichmäßige Beleuchtungsenergie erzeugt, die zu gleichmäßiger Belichtung eines mit fotoempfindlichem Resist beschichteten Substrats führt; wobei die Vorrichtung dadurch gekennzeichnet ist, dass jedes Ende einer Vielzahl der Flügel schwenkbar mit einem Ende eines anderen der Flügel verbunden ist; und eine jede der Vielzahl von Schubstangen mit jedem der entsprechenden verbundenen Enden von zwei der Flügel gekoppelt ist.
  2. Vorrichtung zum Regulieren von Beleuchtungsenergie nach Anspruch 1, die umfasst: ein Verbindungsglied (44), das zwischen jedem der Vielzahl von Flügeln und jeder der Vielzahl von Schubstangen angeordnet ist.
  3. Vorrichtung zum Regulieren von Beleuchtungsenergie nach Anspruch 2, wobei das Verbindungsglied ein starres Verbindungsglied ist.
  4. Vorrichtung zum Regulieren von Beleuchtungsenergie nach Anspruch 2, wobei das Verbindungsglied ein Verformungselement ist.
  5. Vorrichtung zum Regulieren von Beleuchtungsenergie nach Anspruch 1, wobei die Vielzahl von Schubstangen (34) wenigstens acht Schubstangen einschließt, wobei die Vielzahl von Schubstangen (34) eine Anzahl einschließt, die Auflösung ermöglicht, die ausreicht, um Beleuchtungsanforderungen zu erfüllen.
  6. Vorrichtung zum Regulieren von Beleuchtungsenergie nach Anspruch 1, die des Weiteren umfasst: einen Rahmen (28), wobei der Rahmen die Vielzahl von Schubstangen hält; und einen Verlängerungsträger (52), der an dem Rahmen angebracht ist, wobei es der Verlängerungsträger dem Rahmen ermöglicht, zu gleiten und die Vielzahl von Flügeln zusammen als eine Gruppe zu bewegen.
  7. Vorrichtung zum Regulieren von Beleuchtungsenergie nach Anspruch 6, die des Weiteren umfasst: Sicherungsschrauben (54) zum Befestigen des Verlängerungsträgers (52).
  8. Vorrichtung zum Regulieren von Beleuchtungsenergie nach den Ansprüchen 1 bis 7, wobei ein Ende jeder der Vielzahl von Schubstangen mit Gewinde versehen ist.
  9. Vorrichtung zum Regulieren von Beleuchtungsenergie nach den Ansprüchen 1 bis 8, wobei jeder der Vielzahl von Flügeln einen Schlitz (60) in einem Ende hat, an dem sie schwenkbar miteinander verbunden sind.
  10. Vorrichtung zum Regulieren von Beleuchtungsenergie nach den Ansprüchen 1 bis 9, wobei die Flügel eine Kante bilden, die an die Beleuchtungsenergie angrenzend angeordnet ist, und jede der Vielzahl von Schubstangen enthält: eine Schubstangenverlängerung (137) mit einer Längsbohrung (141); ein Verformungselement (144) mit einem ersten und einem zweiten Ende, das in der Längsbohrung der Schubstangenverlängerung angeordnet ist; einen ersten Bolzen (146), der sich in die Schubstangenverlängerung hinein erstreckt und zwei der Vielzahl von Flügeln sowie das erste Ende des Verformungselementes schwenkbar aneinander anbringt; einen zweiten Bolzen (142), der sich in die Schubstangenverlängerung hinein erstreckt und an dem zweiten Ende des Verformungselementes angebracht ist; und eine Schubstange, die mit Gewindegängen mit der Schubstangenverlängerung gekoppelt ist; wobei, wenn die Schubstange gedreht wird, zwei der Vielzahl im Wesentlichen rechteckiger Flügel auf vorgegebene Weise in die Beleuchtungsenergie hinein und aus ihr herausbewegt werden, um die Beleuchtungsenergie des Beleuchtungsfeldes zu regulieren.
  11. Vorrichtung zum Regulieren von Beleuchtungsenergie nach Anspruch 10, die des Weiteren umfasst: einen Träger (130), der die Schubstange hält.
  12. Vorrichtung zum Regulieren von Beleuchtungsenergie nach Anspruch 11, die des Weiteren umfasst: eine Federanschlag (164), der an der Schubstange angeordnet ist; und eine Feder (162), die zwischen dem Träger und dem Federanschlag angeordnet ist.
  13. Vorrichtung zum Regulieren von Beleuchtungsenergie nach Anspruch 12, die des Weiteren umfasst: einen Knopf (166), der an einem Ende der Schubstange angeordnet ist.
  14. Vorrichtung zum Regulieren von Beleuchtungsenergie nach Anspruch 10, wobei zwei Ecken jeder der Vielzahl im Wesentlichen rechteckiger Flügel eine abgerundete Kante haben, die durch einen Radius gebildet wird.
  15. Vorrichtung zum Regulieren von Beleuchtungsenergie nach Anspruch 14, wobei der Radius einem Abstand von der abgerundeten Kante zu dem ersten Bolzen gleich ist.
  16. Verfahren zum Regulieren eines länglichen Beleuchtungsfeldes, um eine vorgegebene Belichtungsdosis elektromagnetischer Strahlung einem mit fotoempfindlichem Resist beschichteten Substrat zuzuführen, wobei es die folgenden Schritte umfasst: Bestimmen einer Position und einer Breite einer Vielzahl verschiedener Linienbreiten entlang eines Retikels (410, 414, 418, 422); Bestimmen einer Belichtungsdosis als eine Funktion der Vielzahl verschiedener Linienbreiten an entsprechenden Positionen entlang der Länge des Retikels; Regulieren des Beleuchtungsfeldes (12) an den entsprechenden Positionen auf die Belichtungsdosis, wobei die vorgegebene Belichtungsdosis ermittelt wird, indem die Gesamtbelichtung als eine Funktion der Position und der Breite der Vielzahl verschiedener Linienbreiten zur Verbesserung der Systemleistung optimiert wird; Regulieren des Beleuchtungsfeldes mittels einer Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 15, wobei die Vielzahl verbundener Schubstangen bewegt wird, um zu bewirken, dass die Flügel die Beleuchtungsenergie des Beleuchtungsfeldes modifizieren.
  17. Verfahren zum Regulieren eines Beleuchtungsfeldes nach Anspruch 16, das des Weiteren die folgenden Schritte umfasst: Bestimmen einer bevorzugten Belichtungsdosis in einer Längsrichtung des Beleuchtungsfeldes (12) als eine Funktion der Linienbreite einer abzubildenden Struktur; Regulieren jeder der Vielzahl verbundener Schubstangen (34), um eine vorgegebene Menge elektromagnetischer Strahlung zu sperren, wobei eine vorgegebene Belichtungsdosis in der Längsrichtung des Beleuchtungsfeldes (12) erzeugt wird; Belichten eines mit fotoempfindlichem Resist beschichteten Substrats (426) durch Überstreichen des Substrats mit dem Beleuchtungsfeld, wobei verbesserte Abbildung der Struktur unter Verbesserung der Systemleistung erreicht wird.
  18. Verfahren zum Regulieren eines Beleuchtungsfeldes (12) nach Anspruch 17, wobei das Beleuchtungsfeld (12) rechteckig ist.
  19. Verfahren zum Regulieren eines Beleuchtungsfeldes nach Anspruch 17, wobei der Schritt des Regulierens jeder der Vielzahl verbundener Schubstangen (34) dazu führt, dass ein im Wesentlichen konstantes Verhältnis von Linienbreite zu Belichtung in der Längsrichtung des Beleuchtungsfeldes erreicht wird.
  20. Abbildungsverfahren zum Einsatz bei Fotolithografie, das die folgenden Schritte umfasst: Auswählen eines Strukturtyps (412, 416, 420, 424), der gesteuert werden soll; Einsatz eines Retikels (410, 414, 418, 422), das ein Muster mit dem ausgewählten Strukturtyp hat; Regulieren eines Beleuchtungsfeldes (12), um Belichtung eines fotoempfindlichen Substrats auf Basis des ausgewählten Strukturtyps zu optimieren; und Belichten des fotoempfindlichen Substrats mit einem Bild des Retikels, wobei Linienbreitenvariation des Musters gesteuert wird; Regulieren des Beleuchtungsfeldes mittels einer Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 15, wobei die Vielzahl der verbundenen Schubstangen bewegt wird, um zu bewirken, dass die Flügel die Beleuchtungsenergie des Beleuchtungsfeldes modifizieren.
  21. Abbildungsverfahren nach Anspruch 20, das des Weiteren den folgenden Schritt umfasst: Wiederholen der Schritte des Einsetzens, Regulierens und Belichtens mit einem anderen ausgewählten Strukturtyp (412, 416, 420, 424).
  22. Abbildungsverfahren nach Anspruch 21, wobei der ausgewählte Strukturtyp und der andere ausgewählte Strukturtyp eine Ausrichtung haben, die orthogonal ist.
  23. Abbildungsverfahren nach Anspruch 22, wobei der ausgewählte Strukturtyp und der andere ausgewählte Strukturtyp Ausrichtungen haben, die in Bezug auf das Retikel horizontal und vertikal sind.
  24. Abbildungsverfahren nach Anspruch 22, wobei der ausgewählte Strukturtyp und der andere ausgewählte Strukturtyp Ausrichtungen haben, die in Bezug auf das Retikel geneigt sind.
  25. Abbildungsverfahren nach Anspruch 24, wobei der ausgewählte Strukturtyp und der andere Strukturtyp Ausrichtungen haben, die in Bezug auf das Retikel um 45° geneigt sind.
  26. Abbildungsverfahren nach Anspruch 20, wobei der Schritt des Regulierens des Beleuchtungsfeldes das gesteuerte Sperren eines Teils elektromagnetischer Strahlen an einem Rand des Beleuchtungsfeldes umfasst.
  27. Abbildungsverfahren nach einem der Ansprüche 20 bis 26, das des Weiteren die folgenden Schritte umfasst: Auswählen eines ersten zu steuernden Strukturtyps (412, 416, 420, 424); Verwenden des ersten Retikels (410, 414, 418, 422), das ein erstes Muster hat, auf dem sich primär der erste Strukturtyp befindet; Regulieren eines Beleuchtungsfeldes (12), um gesteuert elektromagnetische Strahlung zu ändern, die an verschiedenen Positionen in dem Beleuchtungsfeld abgegeben wird, und Variationen der Linienbreite auf Basis des ersten Strukturtyps des ersten Musters des ersten Retikels bei Reproduktion auf einem fotoempfindlichen Substrat zu verringern; Belichten des fotoempfindlichen Substrats (426) mit einem Bild des ersten Retikels; Auswählen eines zweiten zu steuernden Strukturtyps, wobei der zweite Strukturtyp eine Ausrichtung orthogonal zu dem ersten Strukturtyp hat; Verwenden des zweiten Retikels, das ein zweites Muster hat, auf dem sich primär der zweite Strukturtyp befindet; Regulieren des Beleuchtungsfeldes (12), um gesteuert elektromagnetische Strahlung zu ändern, die an verschiedenen Positionen in dem Beleuchtungsfeld abgegeben wird, und Variation der Linienbreite auf Basis des zweiten Strukturtyps des zweiten Musters des zweiten Retikels bei Reproduktion auf dem fotoempfindlichen Substrat zu verringern; und Belichten des fotoempfindlichen Substrats (426) mit einem Bild des zweiten Retikels, wobei Variationen der Linienbreite eines auf dem fotoempfindlichen Substrats reproduzierten Bildes im Wesentlichen sowohl in horizontaler als auch in vertikaler Ausrichtung verringert werden.
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US08/829,099 US5966202A (en) 1997-03-31 1997-03-31 Adjustable slit
US829099 1997-03-31
US09/023,407 US5895737A (en) 1997-03-31 1998-02-12 Method for adjusting an illumination field based on selected reticle feature
US23407 1998-02-12

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Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6628370B1 (en) * 1996-11-25 2003-09-30 Mccullough Andrew W. Illumination system with spatially controllable partial coherence compensating for line width variances in a photolithographic system
US6013401A (en) * 1997-03-31 2000-01-11 Svg Lithography Systems, Inc. Method of controlling illumination field to reduce line width variation
US6292255B1 (en) * 1997-03-31 2001-09-18 Svg Lithography Systems, Inc. Dose correction for along scan linewidth variation
JP4370608B2 (ja) * 1998-03-09 2009-11-25 株式会社ニコン 走査露光方法、走査型露光装置及びその製造方法、並びにデバイス製造方法
US6741394B1 (en) 1998-03-12 2004-05-25 Nikon Corporation Optical integrator, illumination optical apparatus, exposure apparatus and observation apparatus
EP0952491A3 (de) * 1998-04-21 2001-05-09 Asm Lithography B.V. Lithographischer Apparat
US6404499B1 (en) * 1998-04-21 2002-06-11 Asml Netherlands B.V. Lithography apparatus with filters for optimizing uniformity of an image
JP3762102B2 (ja) * 1998-06-04 2006-04-05 キヤノン株式会社 走査型投影露光装置及びそれを用いたデバイスの製造方法
US6346979B1 (en) * 1999-03-17 2002-02-12 International Business Machines Corporation Process and apparatus to adjust exposure dose in lithography systems
JP2001044111A (ja) * 1999-07-29 2001-02-16 Nec Corp 走査型露光装置とその制御方法
DE10062579A1 (de) * 1999-12-15 2001-06-21 Nikon Corp Optischer Integrierer,optische Beleuchtungseinrichtung, Photolithographie-Belichtungseinrichtung,und Beobachtungseinrichtung
SG107560A1 (en) 2000-02-25 2004-12-29 Nikon Corp Exposure apparatus and exposure method capable of controlling illumination distribution
US6307619B1 (en) 2000-03-23 2001-10-23 Silicon Valley Group, Inc. Scanning framing blade apparatus
US6704090B2 (en) * 2000-05-11 2004-03-09 Nikon Corporation Exposure method and exposure apparatus
US6509952B1 (en) 2000-05-23 2003-01-21 Silicon Valley Group, Inc. Method and system for selective linewidth optimization during a lithographic process
US6888615B2 (en) * 2002-04-23 2005-05-03 Asml Holding N.V. System and method for improving linewidth control in a lithography device by varying the angular distribution of light in an illuminator as a function of field position
US6784976B2 (en) * 2002-04-23 2004-08-31 Asml Holding N.V. System and method for improving line width control in a lithography device using an illumination system having pre-numerical aperture control
US20060268251A1 (en) * 2003-07-16 2006-11-30 Markus Deguenther Illumination system for a microlithographic projection exposure apparatus
US7408616B2 (en) * 2003-09-26 2008-08-05 Carl Zeiss Smt Ag Microlithographic exposure method as well as a projection exposure system for carrying out the method
WO2005040927A2 (en) * 2003-10-18 2005-05-06 Carl Zeiss Smt Ag Device and method for illumination dose adjustments in microlithography
JP4581639B2 (ja) * 2003-11-13 2010-11-17 株式会社ニコン 可変スリット装置、照明装置、露光装置、及びデバイスの製造方法
TWI387855B (zh) * 2003-11-13 2013-03-01 尼康股份有限公司 A variable slit device, a lighting device, an exposure device, an exposure method, and an element manufacturing method
JP2005175040A (ja) * 2003-12-09 2005-06-30 Canon Inc 照明光学系及び露光装置
US7023524B2 (en) * 2003-12-18 2006-04-04 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US20060087634A1 (en) * 2004-10-25 2006-04-27 Brown Jay M Dynamic illumination uniformity and shape control for lithography
JP2006134932A (ja) * 2004-11-02 2006-05-25 Nikon Corp 可変スリット装置、照明光学装置、露光装置、及び露光方法
US7362413B2 (en) * 2004-12-09 2008-04-22 Asml Netherlands B.V. Uniformity correction for lithographic apparatus
US7687211B2 (en) * 2005-04-08 2010-03-30 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. System and method for photolithography in semiconductor manufacturing
US20070139630A1 (en) * 2005-12-19 2007-06-21 Nikon Precision, Inc. Changeable Slit to Control Uniformity of Illumination
JP2007335849A (ja) 2006-05-17 2007-12-27 Canon Inc 遮光装置および露光装置
EP2161736B1 (de) * 2006-06-16 2018-07-18 Nikon Corporation Variable Schlitzvorrichtung, Beleuchtungsvorrichtung, Belichtungsvorrichtung, Belichtungsverfahren und Vorrichtungsherstellungsverfahren
US20080090396A1 (en) * 2006-10-06 2008-04-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Light exposure apparatus and method for making semiconductor device formed using the same
JP4838698B2 (ja) * 2006-12-19 2011-12-14 キヤノン株式会社 露光装置およびデバイス製造方法
US8081296B2 (en) * 2007-08-09 2011-12-20 Nikon Corporation Illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
WO2009022506A1 (ja) 2007-08-10 2009-02-19 Nikon Corporation 照明光学装置、露光装置、およびデバイス製造方法
DE102008001553B4 (de) * 2008-05-05 2015-04-30 Carl Zeiss Smt Gmbh Komponente zur Einstellung einer scanintegrierten Beleuchtungsenergie in einer Objektebene einer Mikrolithographie-Projektionsbelichtungsanlage
US8467034B2 (en) * 2008-07-02 2013-06-18 Nikon Corporation Light shielding unit, variable slit apparatus, and exposure apparatus
JP2010123755A (ja) * 2008-11-19 2010-06-03 Canon Inc 露光装置及びデバイス製造方法
NL2004770A (nl) * 2009-05-29 2010-11-30 Asml Holding Nv Lithographic apparatus and method for illumination uniformity correction and uniformity drift compensation.
JP6626273B2 (ja) * 2015-06-03 2019-12-25 キヤノン株式会社 露光装置及び物品の製造方法
CN107255210B (zh) * 2017-05-16 2019-02-26 西安电子科技大学 一种基于柔性Sarrus机构的恒力支撑机构

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4017162A (en) * 1973-08-13 1977-04-12 Varian Techtron Pty. Ltd. Adjustable slit mechanism
US4047808A (en) * 1975-08-13 1977-09-13 Varian Techtron Proprietary Limited Adjustable slit mechanism
US4516852A (en) * 1981-08-13 1985-05-14 The Perkin-Elmer Corp. Method and apparatus for measuring intensity variation in a light source
EP0072443B1 (de) * 1981-08-13 1986-06-04 The Perkin-Elmer Corporation Verfahren und Vorrichtung für die Messung der Intensitätsverteilung in einem Projektionssystem
JPS5883836A (ja) * 1981-11-13 1983-05-19 Hitachi Ltd 円弧状照明光形成スリツト
JPS5928337A (ja) * 1982-08-09 1984-02-15 Hitachi Ltd プロジエクシヨンアライナ
US4509290A (en) * 1983-03-18 1985-04-09 Stanfield Jr Alvin M Shutter construction
JPS59229534A (ja) * 1984-05-16 1984-12-24 Canon Inc スリツト露光シヤツタ−
JPS61104622A (ja) * 1984-10-29 1986-05-22 Nec Corp バリアブルアバ−チヤ−
JPS62193125A (ja) * 1986-02-19 1987-08-25 Canon Inc 露光むら補正装置
US4769667A (en) * 1986-07-04 1988-09-06 Fuji Photo Film Co., Ltd. Shutter control apparatus for a camera
US4890239A (en) * 1987-10-20 1989-12-26 Shipley Company, Inc. Lithographic process analysis and control system
NL8800738A (nl) * 1988-03-24 1989-10-16 Philips Nv Roentgenonderzoekapparaat met een instelbaar spleetvormig diafragma.
JPH01298719A (ja) * 1988-05-27 1989-12-01 Hitachi Ltd 露光装置
JP3049777B2 (ja) * 1990-12-27 2000-06-05 株式会社ニコン 投影露光装置及び方法、並びに素子製造方法
JP3049775B2 (ja) * 1990-12-27 2000-06-05 株式会社ニコン 投影露光装置及び方法、並びに素子製造方法
JP3148818B2 (ja) * 1990-11-15 2001-03-26 株式会社ニコン 投影型露光装置
US5107530A (en) * 1991-06-06 1992-04-21 The State Of Oregon Acting By And Through The Oregon State Board Of Higher Education On Behalf Of Oregon State University X-ray diffractometer with shutter control
JPH05197126A (ja) * 1992-01-20 1993-08-06 Oki Electric Ind Co Ltd ホトマスク及びこれを用いたパターン形成方法
JP3277589B2 (ja) * 1992-02-26 2002-04-22 株式会社ニコン 投影露光装置及び方法
JP3210123B2 (ja) * 1992-03-27 2001-09-17 キヤノン株式会社 結像方法及び該方法を用いたデバイス製造方法
JPH06188169A (ja) * 1992-08-24 1994-07-08 Canon Inc 結像方法及び該方法を用いる露光装置及び該方法を用いるデバイス製造方法
JPH06181167A (ja) * 1992-10-14 1994-06-28 Canon Inc 像形成方法及び該方法を用いてデバイスを製造する方法及び該方法に用いるフォトマスク
EP0614124A3 (de) * 1993-02-01 1994-12-14 Nippon Kogaku Kk Belichtungsvorrichtung.
JPH0845818A (ja) * 1994-07-28 1996-02-16 Nikon Corp 露光方法
JPH0729788A (ja) * 1993-07-07 1995-01-31 Nec Corp 投影式露光機
JP3200244B2 (ja) * 1993-07-16 2001-08-20 キヤノン株式会社 走査型露光装置
US5469905A (en) * 1993-09-07 1995-11-28 Fold-A-Shield Security and hurricane shutter
DE29503859U1 (de) * 1994-03-07 1995-05-04 Hyundai Electronics Industries Co., Ltd., Ichon, Kyoungki Vorgefertigte, modifizierte Beleuchtungsvorrichtung zur Herstellung feiner Muster in einer Halbleitervorrichtung
US5472814A (en) * 1994-11-17 1995-12-05 International Business Machines Corporation Orthogonally separated phase shifted and unphase shifted mask patterns for image improvement
US5635999A (en) * 1995-05-19 1997-06-03 Eastman Kodak Company Iris diaphragm for high speed photographic printers having improved speed and reliability
US5631721A (en) * 1995-05-24 1997-05-20 Svg Lithography Systems, Inc. Hybrid illumination system for use in photolithography
US5680588A (en) * 1995-06-06 1997-10-21 International Business Machines Corporation Method and system for optimizing illumination in an optical photolithography projection imaging system

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