DE69732077T2 - Eine Laserbehandlungsvorrichtung und ein System zur Herstellung von Tintenstrahldruckköpfen - Google Patents

Eine Laserbehandlungsvorrichtung und ein System zur Herstellung von Tintenstrahldruckköpfen Download PDF

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Masaki Ohta-ku Inaba
Tsutomu Ohta-ku Abe
Akira Ohta-ku Goto
Masao Ohta-ku Furukawa
Kouichi Ohta-ku Omata
Toshinori Ohta-ku Hasegawa
Miki Ohta-ku Ito
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Description

  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • GEBIET DER ERFINDUNG
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Laserprozesssystem gemäß dem Oberbegriff von Anspruch 1 und auf ein System zum Herstellen von Tintenstrahlaufzeichnungsköpfen, die bei einem derartigen Laserprozesssystem umfasst sind.
  • Zugehöriger Stand der Technik
  • In der Vergangenheit wurde ein Laseroszillator weitgehend als eine Lichtquelle für ein Laserprozesssystem angewendet. Insbesondere hat ein Impulslaseroszillator, dessen Bereich bis über ultraviolet hinaus geht, als eine Lichtquelle für ein Ausführen einer Polymermusterabrasion ohne irgendeinen Entwicklungsprozess Aufmerksamkeit gewonnen.
  • Als ein Laserprozessverfahren oder ein Laserprozesssystem, das ein Polymer durch die Anwendung einer Abrasion behandelt, wurde ein Verfahren oder ein System vorgeschlagen, das mit einer Laserlichtquelleneinheit und spezifischen Mustern versehen ist. Es ist des Weiteren mit einer Maskeneinheit mit der Maske, die ermöglicht, dass Laserstrahlbündel von der Laserlichtquelleneinheit zu der Werkstückseite durch die Maske übertragen werden; einem optischen Korrektionssystem, das die Laserstrahlbündel von der Laserlichtquelleneinheit projiziert, und mit einem Mess- und Bewegungssystem versehen, das die Werkstückpositionen misst und das Werkstück demgemäß bewegt (wie dies beispielsweise in den Beschreibungen der offengelegten Japanischen Patentanmeldung Nr. 4-9 291 und der offengelegten Japanischen Patentanmeldung Nr. 4-339 585 offenbart ist).
  • Ein Laserprozessverfahren dieser Art wird hauptsächlich für ein genaues Behandeln von Tintenstrahlöffnungen eines Tintenstrahlaufzeichnungskopfes verwendet (siehe die offengelegte Japanische Patentanmeldung Nr. 2-221 842, die offengelegte Japanische Patentanmeldung Nr. 2-187 346, die offengelegte Japanische Patentanmeldung Nr. 3-101 945 und die offengelegte Japanische Patentanmeldung Nr. 3-101 960) und wird zum Bearbeiten von Tintenströmungsbahnen eines Tintenstrahlkopfes (siehe die Japanische offengelegte Patentanmeldung Nr. 2-121 845) unter anderem verwendet.
  • Der Tintenstrahlaufzeichnungskopf, auf den in dieser Anmeldung Bezug genommen wird, wird insbesondere für den Aufzeichnungskopf der Blasenstrahlart unter jenen, die das Tintenstrahlaufzeichnungsverfahren anwenden, aufgegriffen. Der typische Aufbau und das typische Betriebsprinzip eines derartigen Verfahrens sind in den Beschreibungen der US-Patente Nr. 4 723 129 und 4 740 796 beispielsweise offenbart. Dieses Verfahren ist auf das Aufzeichnungssystem des sogenannten Nach-Bedarf-Art und auch auf das Aufzeichnungssystem der kontinuierlichen Art ebenfalls anwendbar. Um dieses Verfahren in Bezug auf die Nach-Bedarf-Art zu beschreiben, ist beispielsweise jeder elektrothermischen Wandlervorrichtungen für eine Flüssigkeitsbahn (Tintenströmungsbahn) angeordnet, die Flüssigkeit (Tinte) enthält, und eine derartige elektrothermische Wandlervorrichtung wird dazu gebracht, dass sie thermische Energie im Ansprechen auf Antriebssignale erzeugt, womit ein Filmsieden an der thermischen Wirkfläche eines Aufzeichnungskopfes erzeugt wird. Als ein Ergebnis wird jede Blase in der Flüssigkeit (Tinte) in einem Verhältnis von 1 : 1 im Ansprechen auf jedes der vorstehend beschriebenen Antriebssignale erzeugt. Durch das Anwachsen und das Zusammenziehen von jeder somit erzeugten Blase wird die Flüssigkeit (Tinte) durch eine Ausstoßöffnung in der Form eines Tropfens ausgestoßen. Das Antriebssignal ist vorzugsweise in der Form von Impulsen, wie dies beispielsweise in den Beschreibungen der US-Patente Nr. 4 463 359 und 4 345 262 offenbart ist. Es wird außerdem bevorzugt, die Temperaturanstiegsrate der Heizfläche so aufzugreifen, wie dies in der Beschreibung des US-Patentes Nr. 4 313 124 offenbart ist.
  • Der Aufbau des vorstehend beschriebenen Aufzeichnungskopfes ist so eingerichtet, dass die Tintenausstoßöffnungen, die geradlinigen oder die unter rechtem Winkel stehenden Flüssigkeitsbahnen (Tintenströmungsbahnen) und die elektrothermischen Wandlervorrichtungen kombiniert werden, wie dies in jeder der vorstehend erwähnten Beschreibungen gezeigt ist. Außerdem kann der Aufbau angeordnet werden, wie er beispielsweise in den Beschreibungen der US-Patente Nr. 4 558 333 und 4 459 600 offenbart ist, bei dem die thermischen Wirkabschnitte in einem gekrümmten Bereich angeordnet sind. Außerdem kann der vorstehend beschriebene Tintenstrahlaufzeichnungskopf so aufgebaut sein, wie dies beispielsweise in der offengelegten Japanischen Patentanmeldung Nr. 59-123 670 offenbart ist, bei der ein Gemeinschaftsschlitz für die Ausstoßöffnungen für eine Vielzahl an elektrothermischen Wandlervorrichtungen verwendet wird, oder so wie es beispielsweise bei der offengelegten Japanischen Patentanmeldung Nr. 59-138 464 offenbart ist, bei der eine Öffnung zum Absorbieren einer Druckwelle der thermischen Energie entsprechend den Ausstoßöffnungen ausgebildet ist. Hierbei sind die in den vorstehend dargelegten Beschreibungen offenbarten Tintenstrahlaufzeichnungsköpfe so angeordnet, dass eine Länge sichergestellt ist, die einer spezifischen Breite durch die Kombination einer Vielzahl an Aufzeichnungsköpfen entspricht. Jedoch kann es möglich sein, den Aufbau derart einzurichten, dass ein Aufzeichnungskopf dazu in der Lage ist, eine Länge zu handhaben, die einer spezifischen Rate entspricht (das heißt die maximale aufzeichenbare Breite eines Aufzeichnungsmediums, das von einem Aufzeichnungsgerät gehandhabt werden kann).
  • Außerdem kann der Aufbau des vorstehend beschriebenen Aufzeichnungskopfes von einer austauschbaren Chipart oder Kartuschenart sein, die für den Aufzeichnungskopf selbst vorgesehen ist, wobei der Kopf mit dem Gerätehauptkörper elektrisch verbunden ist (zum Zwecke des Betriebs der elektrothermischen Wandlervorrichtungen), und die Tinte wird dann dazu gebracht, dass sie auch lieferfähig ist.
  • Wenn ein Laserbearbeiten oder Laserprozess für die Erzeugung an feinen Nuten wie beispielsweise Tintenströmungsbahnen in Bezug auf den Teil (Werkstück) eines Tintenstrahlaufzeichnungskopfes dieser Art ausgeführt wird, benötigt dies für das herkömmliche Laserprozessverfahren eine gewisse Zeit, um ein derartiges Ausführen zu vollenden, wenn die Nuten dreidimensional mit Unregelmäßigkeiten in der Richtung der Laserstrahlung aufgebaut sind.
  • Wenn beispielsweise der Aufbau der Nuten derart dreidimensional ist, dass die Lieferkraft der Tinte zu lediglich der Öffnungsseite hin begrenzt ist oder dass ein Vorsprung an der Mitte des Weges von jeder Nut vorhanden ist, um einen Widerstand gegenüber der Strömung der Tinte aufzuzeigen, können die Nuten nicht dreidimensional durch ein einmaliges Bearbeiten ausgebildet werden. Hierbei sollte unter Verwendung von zwei oder mehr Arten an Masken ein mehrfaches Bearbeiten ausgeführt werden. Es ist erforderlich, dass ein derartiges Bearbeiten Zeit in Anspruch nimmt, so dass ein Problem einer verringerten Produktivität sich ergibt.
  • Des Weiteren sollte für das Bearbeiten bei dem zweiten und weiteren Male das Werkstück exakt so positioniert werden, wie es für das erste Bearbeiten positioniert worden war. Dieses Positionieren erfordert eine höhere Genauigkeit bei dem für das Positionieren auszuführenden Bildprozess und auch bei jeder Stufe des Werkstückbewegungssystems. Diese Anforderung bringt natürlich ein Problem dahingehend mit sich, dass das Prozesssystem oder Bearbeitungssystem selbst größer gebaut werden sollte.
  • Beim Bearbeiten der dreidimensionalen Nuten ist es natürlich möglich, eine dielektrische Maske so aufzugreifen, dass ein gewisser Prozentsatz ein Laserstrahlbündel zum Zwecke des Bearbeitens direkt übertragen werden kann. Jedoch ist die dielektrische Maske selbst kostspielig, und ein 100-prozentiges Reflexionsvermögen des Lasers kann auch nicht erzielt werden. Des Weiteren ist es außerordentlich schwierig, kleine und hochgradig genaue Muster an der dielektrischen Maske selbst zu erzeugen. Als ein Ergebnis gibt es automatisch eine gewissen Grenze bei der Nutzung der dielektrischen Maske.
  • Ein Laserprozesssystem mit den Merkmalen, die im Oberbegriff von Anspruch 1 zusammengefasst sind, ist aus der Druckschrift EP-A-0 670 221 bekannt. Dieses bekannte Laserprozesssystem ermöglicht ein Ausführen eines einmaligen Prozesses oder Bearbeitens von einem Werkstück mit einem dreidimensionalen Aufbau mit Unregelmäßigkeiten in der Richtung der Laserstrahlung. Für ein Bearbeiten des dreidimensionalen Aufbaus ist bei dem bekannten Verfahren eine zweite Maske zusätzlich zu der ersten Maske mit dem spezifischen Muster, das dem Prozessaufbau des Werkstückes entspricht, erforderlich. Die zweite Maske wird bei einem Abstand von der Oberflächen der ersten Maske angeordnet und hat einen Abschnitt mit einer verringerten Lichtübertragungsfähigkeit.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Im Hinblick auf die Lösung der vorstehend beim Stand der Technik sich ergebenden Probleme wird die vorliegende Erfindung entworfen. Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Laserprozesssystem zu schaffen, das in wirkungsvoller Weise ein einmaliges Bearbeiten eines Werkstückes mit einem dreidimensionalen Aufbau mit Unregelmäßigkeiten in der Richtung der Laserstrahlung effektiv ausführen kann. Außerdem soll die vorliegende Erfindung ein System zum Herstellen von Tintenstrahlköpfen unter Verwendung eines derartigen Laserprozesssystems vorsehen.
  • Gemäß der vorliegenden Erfindung sind diese Aufgaben durch die Gegenstände von den Ansprüchen 1 und 8 und von den unabhängigen Ansprüchen 2 bis 7 gelöst.
  • Für den Impulsultraviolettlaser gemäß Anspruch 3 ist es möglich, entweder einen Xe-Cl-Excimerlaser, einen Kr-F-Excimerlaser, einen Ar-F-Excimerlaser, die vierte Harmonische des YAG-Laser, Mischwellen der Basiswelle des YAG-Laser und die zweite Harmonische und Stickstoffgaslaser anzuwenden.
  • Der Extinktionsabschnitt, der kleiner als der Quotient zwischen der Auflösung und der spezifischen Vergrößerung des optischen Projektionssystems ist, das für die Maske gemäß der vorliegenden Erfindung angeordnet ist, ist nicht auf ein Werkstück fokusiert. Er kann jedoch zuverlässig die Energie der Laserstrahlen schwächen.
  • Daher kann gemäß der vorliegenden Erfindung die Energie des Laserbearbeitens oder des Laserprozesses frei an einem Werkstück in Abhängigkeit von der Anordnung der Extinktionsabschnitte eingestellt werden, was es ermöglicht, ein Werkstück als einen komplizierten dreidimenstionalen Aufbau mit Unregelmäßigkeiten in der Richtung der Laserbestrahlung zu definieren.
  • Des Weiteren ist es gemäß der vorliegenden Erfindung möglich, ein einmaliges Bearbeiten eines komplizierten dreidimensionalen Aufbaus mit Unregelmäßigkeiten in der Richtung der Laserbestrahlung an einem Werkstück auszubilden durch die Anwendung der Maske, die in Anspruch 1 definiert ist. Außerdem kann die geneigte Fläche ohne irgendwelche Absätze glatt gestaltet werden. Daher ist das Herstellsystem einfach aufgebaut.
  • Außerdem wirkt der Extinktionsabschnitt, der kleiner als der Quotient zwischen der kleiner als der Quotient zwischen der Auflösung und zwischen der spezifischen Vergrößerung zum Zeitpunkt des Bearbeitens eines Werkstücks ist, in der gleichen Weise.
  • Des Weiteren ist es gemäß der vorliegenden Erfindung möglich, dass die Extinktionsabschnitte für die Maske beliebig anzuordnen. Daher können, wenn ein Werkstück das zweite Substrat eines Tintenstrahlaufzeichnungskopfes ist, die Tintenströmungsbahnen mit dem komplizierten dreidimensionalen Aufbau für das Werkstück bei einer guten Genauigkeit zum Steuern der Strömung der Tinte ausgebildet werden. Als ein Ergebnis ist es möglich, einen Tintenstrahlaufzeichnungskopf mit ausgezeichneten Eigenschaften im Hinblick auf das Ausstoßen von Tinte zu erzielen.
  • KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • 1 zeigt eine Zeichnung in schematischer Weise von dem Aufbau des Laserprozesssystems gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
  • 2 zeigt eine perspektivische Ansicht von den Teilen des Tintenstrahlaufzeichnungskopfes, die durch das in 1 gezeigten Laserprozesssystem bearbeitet worden sind.
  • 3 zeigt eine Querschnittsansicht von den Zeilen des in 2 gezeigten Tintenstrahlaufzeichnungskopfes.
  • 4 zeigt eine Teilschnittansicht von den wesentlichen Prozesspunkten des zweiten Substrates (Werkstücks), das in 2 oder in 3 gezeigt ist.
  • 5 zeigt eine perspektivische Ansieht der Maskeneinheit des in 1 gezeigten Laserprozesssystems.
  • Die 6A und 6B zeigen vergrößerte Ansichten von vorn von dem Abschnitt a der Maskeneinheit beziehungsweise dem Nutmuster, das in 5 gezeigt ist.
  • Die 7A, 7B, 7C, 7D und 7E zeigen vergrößerte Ansichten von dem Abschnitt a der Maskeneinheit, die in 5 dargestellt ist, gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel.
  • 7F zeigt eine vergrößerte Ansicht von dem Nutenmuster gemäß dem zweiten Ausführungsbeispiel.
  • 8 zeigt eine ausschnittartige Querschnittsansicht von den Teilen des Tintenstrahlaufzeichnungskopfes, die durch die Anwendung der Maskeneinheit gemäß den in den 7A bis 7F gezeigten zweiten Ausführungsbeispiel bearbeitet worden sind.
  • Die 9A und 9B zeigen vergrößerte Ansichten von dem Abschnitt a der Maskeneinheit, die in 5 gezeigt ist, beziehungsweise dem Nutenmuster gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel.
  • Detaillierte Beschreibung der bevorzugten Ausführungsbeispiele
  • Nachstehend ist unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen die vorliegende Erfindung gemäß ihren Ausführungsbeispielen beschrieben.
  • Ausführungsbeispiel 1
  • 1 zeigt eine schematische Aufbauansicht von einem Laserprozesssystem gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Wie dies in 1 gezeigt ist, hat das Laserprozesssystem einen Laseroszillator 1, der als die Laserlichtquelle dient, die Laserstrahlbündel 2 ausgibt; dem Gerätegestell bzw. Geräterahmen 6, der mit dem Prozesssystem versehen ist, das ein Werkstück W mittels Laserstrahlbündel bearbeitet, die von dem Laseroszillator 1 empfangen werden; und einem Informationsverarbeitungs- und -steuersystem 7, das eine Informationsverarbeitung und ein Steuern des Prozesses des Werktückes P ausführt.
  • Die von dem Laseroszillator 1 ausgegebenen Laserstrahlbündel 2 werden durch einen Strahlbündelteiler 3 teilweise reflektiert und die reflektierten Strahlbündel werden mittels einer Energieerfassungseinrichtung 4 überwacht. Andererseits werden die Laserstrahlbündel, die von dem Strahlbündelteiler 3 übertragen werden, durch zwei 45°-Gesamtreflektionsspiegel 5 reflektiert und fallen an dem Geräterahmen 6 ein. Der Strahlbündelteiler 3 ist durch parallelisierte flache Platten aus synthetischem Harz ausgebildet, um einen Teil der Laserstrahlbündel 2 lediglich mittels ihrer Oberflächenreflektion zu trennen.
  • Der Geräterahmen 6 hat ein optisches System 8; ein Beobachtungs- und Messsystem 9, das die Position eines Werkstückes B beobachtet und misst; eine Maskeneinheit 10; und eine Werkstückstation 11, die ermöglicht, dass das Werkstück B bewegt wird. Das optische System 8 ist mit einem optischen Strahlbündelformsystem und einem Kühler-Beleuchtungssystem 8a versehen und mit einem optischen Projektionssystem 8b versehen, das ermöglicht, dass das Bild der Maskeneinheit 10 an der Prozessoberfläche eines Werkstückes W fokussiert wird. Diese Systeme sind an der optischen Achse a der Laserstrahlbündel 2 angeordnet, die an dem Geräterahmen 6 einfällt. Die Maskeneinheit 10 ist zwischen dem optischen Strahlbündelformsystem und dem Köhler-Beleuchtungssystem 8a und dem optischen Projektionssystem 8b angeordnet. Hierbei ist es unter Berücksichtigung der Haltbarkeit der Maskeneinheit 10 erwünscht, ein optisches Kontraktionssystem anzuwenden. Das vorliegende Ausführungsbeispiel ist so eingerichtet, dass ein optisches Projektionssystem 8b angewendet wird, das eine Kontraktion bei einer Leistung von 1/4 ausführt und eine Auflösung von 0,02 mm hat.
  • Die Werkstückstation 11 sollte wunschgemäß mit einer geeigneten Einstelleinrichtung versehen sein, um die Neigung des Werkstückes W in Bezug auf die optische Achse a der vorstehend beschriebenen Weise einzustellen. Beispielsweise kann es möglich sein, die Werkstückstation 11 durch die Kombination an Tischen aufzubauen, die eine Freiheit in Bezug auf die drei Achsen, die senkrecht zueinander stehen, und die fünf Achsen, die sich um zwei Achsen drehen, haben. Durch ein derartiges Anordnen des Aufbaus, das die Mitte der Dreheinstellung mit der Bearbeitungsmitte oder Prozessmitte des Werkstücks W übereinstimmt, ist ein Vereinfachen der Versteuerung einer derartigen Einstelleinrichtung möglich geworden.
  • Um ein Werkstück W an der Werkstückstation 11 zu positionieren, sollte wunschgemäß eine Vielzahl an Referenzzapfen für die Einspanneinrichtung 11a für die Montage des Werkstücks W an der Werkstückstation 11 eingerichtet sein. Die Zapfen liegen an dem Werkstück W an, das an der Werkstückstation 11 angeordnet wird. Außerdem sollte an der Einspanneinrichtung 11a ein Klemmmechanismus, der ein Luftsaugvorgang oder dergleichen anwendet, neben dem Anlagemechanismus eingerichtet sein. Dieser Klemmmechanismus ist mit einem automatischem Greifer zusammengesetzt, um eine automatische Zuführung des Werkstückes W zu der Werkstückstation 11 auszuführen. Des Weiteren ist eine Vielzahl an Werkstücken W an der Werkstückstation 11 zu einem Zeitpunkt so gesetzt, dass eine Zeitspanne, die zum Befördern und zur Montage von ihnen erforderlich ist, kürzer gestaltet wird. In diesem Fall kann jedoch eine Achse in der Drehrichtung der Einstelleinrichtung nicht an der Mitte des Werkstückes W angeordnet sein. Daher wird es erforderlich, die Referenzwerte zu jedem Zeitpunkt dann zu wechseln, wenn ein Messen ausgeführt wird und wenn das Werkstück bewegt werden soll.
  • Das Beobachtungs- und Messsystem 9 ist durch ein Paar an Messinstrumenten und einem zweiseitigem Spiegel 9d, der an der optischen Achse a angeordnet ist, ausgebildet. Hierbei hat das Beobachtungsinstrument eine Linsenfassung 9a mit einer Objektivlinse; eine Tiefstrahlbeleuchtungsquelle 9b, die in der Linsenfassung 9a eingebaut ist; und einen CCD-Kamera-Sensor 9c, der mit der Linsenfassung 9a verbunden ist.
  • Sowohl die Messinstrumente als auch der Spiegel 9d sind zwischen dem optischen Projektionssystem 8b und der Werkstückstation 11 angeordnet. Der Spiegel 9d wird von der optischen Achse a zurückversetzt, wenn Laser gestrahlt wird. Lediglich dann, wenn eine Messung ausgeführt wird, wird eine Verschiebung zu der optischen Achse a bewirkt. Für das vorliegende Ausführungsbeispiel wird die Bewegung des Spiegels 9d mittels eines Luftzylindermechanismus gesteuert.
  • Zu dem Informationsverarbeitungs- und Steuersystem 7 werden die Positionsdaten von dem Werkstück W von dem Beobachtungs- und Messsystem 9 zurückgeführt, und die Daten über die Strahlenergie werden von dem Energieerfasser 4 zurückgeführt. Zunächst wird das Messergebnis durch das Beobachtungs- und Messsystem 9 zu dem Bildverarbeitungssystem 7a pro Messinstrument gebracht, und dann wird das Ergebnis der Signalverarbeitung für das Steuersystem 7b vorgesehen. In Übereinstimmung mit dem vorstehend beschriebenen Messergebnis arbeitet das Steuersystem 7b den Abstand aus, in den das Werkstück W bewegt werden muss, womit ermöglicht wird, dass die Bewegungseinrichtung 7c den Tisch der Werkstückstation 11 entsprechend verschiebt. Dann wird, wenn der Wert des Beobachtungs- und Steuersystems 9 einen spezifischen Wert erreicht hat, die Positionseinstellung der Bewegungseinrichtung 7c vollendet. Der Spiegel 9b wird von der optischen Achse a zurückversetzt und Signale werden eine spezifische Zeitspanne lang oder eine spezifische Anzahl an Impulsen lang gegeben, um zu bewirken, dass der Laseroszillator 1 Laserstrahlen 2 ausgibt. Außerdem wird die Laserenergieinformation von der Energieerfassungseinrichtung 4 zu dem Steuersystem 7b zurückgeführt, um die zu dem Laseroszillator 1 gegebene Abgabe durch die Schnittstelle 7d einzustellen.
  • Für den Laseroszillator 1, der für das Laserprozesssystem verwendet wird, gibt es derartige mit hoher Leistung ausgestattete Laseroszillatoren, wie beispielsweise ein YAG-Laseroszillator, ein CO2-Laseroszillator, ein Excimerlaser-Oszillator, ein N2-Laseroszillator unter anderem. Für das Werkstück W wird polysulfonisches Harz angewendet, das eine Art an polymeren Harzen ist. Für den Laseroszillator wird ein Kr-F-Excimer-Laseroszillator angewendet, der einer der Excimerlaseroszillatoren ist.
  • Das zu bearbeitende Werkstück W ist eines der Teile, die einen Tintenstrahlaufzeichnungskopf bilden, der für ein Tintenstrahlaufzeichnungsgerät verwendet wird. Genauer gesagt ist ein zweites Substrat 19, das als das Plattenelement für den in den 2 und 3 dargestellten Tintenstrahlaufzeichnungskopf dient, das zu bearbeitende Werkstück W.
  • Hierbei ist in Verbindung mit den 2 und 3 ein Tintenstrahlaufzeichnungskopf beschrieben. Der Tintenstrahlaufzeichnungskopf hat ein erstes Substrat 20, das durch Silikon ausgebildet ist, an dem Energie erzeugende Vorrichtungen per Muster nachgebildet sind, um Energie zu erzeugen, die für ein Ausstoßen von Tinte genutzt wird, und das vorstehend erwähnte zweite Substrat 19, das in haftender Weise an das erste Substrat 20 geklebt ist. Für die Energie erzeugenden Vorrichtungen werden elektrothermische Wandlervorrichtungen 18 (Wärme erzeugende Widerstände oder dergleichen) angewendet, um thermische Energie dann zu erzeugen, wenn eine Anlegespannung geliefert wird. Eine Vielzahl an elektrothermischen Wandlervorrichtungen sind parallel angeordnet und mittels der Filmausbildungstechnologie an dem ersten Substrat 20 zusammen mit einer Verdrahtung aus Aluminium oder dergleichen ausgebildet, die eine elektrische Energie liefert. An dem zweiten Substrat 19 sind im Allgemeinen Nuten 19b, von denen jede entsprechend jeder elektrothermischen Wandlervorrichtung 18 ausgebildet ist, um eine jeweilige Tintenströmungsbahn 14 zu bilden, die in leitfähiger Weise mit einer Tintenflüssigkeitskammer 13 verbunden ist, die nachstehend beschrieben ist; ein mit einer Vertiefung versehener Abschnitt 19a, der die Tintenflüssigkeitskammer 13 ausbildet, die vorübergehend Tinte enthält, die zu jeder Tintenströmungsbahn 14 geliefert wird; eine Tintenlieferöffnung 12, die Tinte von einem (nicht gezeigten) Tintenbehälter zu der Tintenflüssigkeitskammer 13 induziert; und eine Öffnungsplatte 17 mit einer Vielzahl an Ausstoßöffnungen 16, die in der Platte entsprechend jeder Tintenströmungsbahn 14 angeordnet sind, vorgesehen.
  • An dem Boden in der Nähe des mit der Vertiefung versehenen Abschnittes 19a von jeder Nut 19b, die die Tintenströmungsbahn 14 bildet, ist ein Vorsprungsabschnitt 15 angeordnet. Die Tiefe h1 der Tintenströmungsbahn 15 an dem Vorsprungsabschnitt 15 ist flacher als die Tiefe h des Abschnittes gestaltet, bei dem eine elektrothermische Wandlervorrichtung 18 angeordnet ist. Dieser Vorsprungsabschnitt 15 zeigt einen Widerstand gegenüber der Tintenströmung in der Tintenströmungsbahn 14 in einer derartigen Weise, dass der Schäumenergie der Tinte, die durch die elektrothermischen Wandlervorrichtung 18 erzeugt wird, nicht ermöglicht wird, zu der Seite der Tintenflüssigkeitskammer 13 zu entweichen, womit folglich die Eigenschaften des Tinteausstoßens verbessert werden.
  • Da der Tintenstrahlaufzeichnungskopf in der vorstehend beschriebenen Weise aufgebaut ist, wird thermische Energie durch jede der elektrothermischen Wandlervorrichtungen 18 dann erzeugt, wenn elektrische Energie zu jeder der jeweiligen elektrothermischen Wandlervorrichtungen 18 geliefert wird. Mittels der Wärme, die durch die derartige Energie erzeugt wird, wird ein Filmsieden in der Tinte an der jeweiligen elektrothermischen Wandlervorrichtung mit sich gebracht, um jede der Tintenblase in der Tintenströmungsbahn 14 zu erzeugen. Durch das Anwachsen dieser Blase wird ein Tintentropfen aus der Ausstoßöffnung 16 ausgestoßen.
  • Wie dies in 4 gezeigt ist, ist die Nut 19b mit dem Vorsprungsabschnitt 15 an dem zweiten Substrat 19 (Werkstück W), das vorstehend beschrieben ist, durch die Bestrahlung der Laserstrahlbündel 2 von der Oberflächenseite, die mit dem ersten Substrat 20 (siehe 3) verbunden ist, mittels des vorstehend beschriebenen Laserprozesssystems bearbeitet. Die Ausstoßöffnung 16 wird außerdem durch das Laserprozesssystem bearbeitet. In dieser Hinsicht kann die Ausstoßöffnung 16 vor dem Bearbeiten der Nut 19b bearbeitet werden oder sie kann nach der Bearbeitung der Nut 19b bearbeitet werden. Gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel wird, nach dem die Nut 19b bearbeitet worden ist, die Öffnung von der Seite der Nut 19b durch die Bestrahlung des Kr-F-Excimerlasers bearbeitet.
  • Es ist erwünscht, das Werkstück W mittels Spritzformen (Spritzgießen) unter Verwendung von Polysulfon, Polyethersulfon, Polyphenyloxid oder anderen Materialien mit einem ausgezeichneten Widerstandsvermögen gegenüber Tinte zu erzeugen. Gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel wird das Werkstück durch das Ausbilden unter Verwendung eines Polysulfonspritzgießverfahrens vorbereitet. Beim Bearbeiten der Nut 19b ist es besser, das Werkstück W geringfügig gegenüber der optischen Achse a zu neigen, um zu verhindern, dass die Laserstrahlbündel 2 durch das Vorhandensein der Öffnungsplatte 17 unterbrochen werden. Gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel wird die Nut 19b bearbeitet, indem das Werkstück W bei ungefähr 5° über der optischen Achse a geneigt wird.
  • Nachstehend ist in Verbindung mit den 5A und den 6A und 6B der Aufbau der Maskeneinheit 10 beschrieben. 5 zeigt eine perspektivische Ansicht der Maskeneinheit 10, die in 1 gezeigt ist. Die 6A und 6B zeigen vergrößerte Ansichten von vorn von dem Abschnitt a in 5.
  • In 5 ist mit dem Bezugszeichen 21 das Plattenelement bezeichnet, das an dem Geräterahmen 6 montiert ist, der in geringfügiger Weise in den Richtungen X, Y und Z beweglich ist, und mit dem Bezugszeichen 22 ist ein Maskenhalter bezeichnet, der an dem Plattenelement 21 befestigt ist. Die Maske 23 wird durch den Maskenhalter 22 lösbar gehalten.
  • Die Maske 23 ist mit einem oder mit mehreren Mustern 24a der Nut 19b versehen, die in der Größe ausgebildet sind, die vier mal dem Muster der Nut 19b entsprechen. Die Laserstrahlen 2, die durch die Maske 23 übertragen werden, werden auf 1/4 der Leistung durch das optische Projektionssystem 8b (siehe 1) kontrahiert, wie dies vorstehend beschrieben ist. Daher wird das Muster der Nut 19b an dem Werkstück W bei einer erwünschten Größe fokussiert.
  • Was das Material der Maske 23 anbelangt, so wird synthetisches Quarz verwendet, das eine Übertragung der Laserstrahlen ermöglicht. Eine Beschichtungslage 25, die die Laserstrahlen absorbiert oder reflektiert, ist durch eine Chromlage abgelagert worden.
  • In den 6A und B ist mit dem Bezugszeichen 26 ein Extinktionsabschnitt bezeichnet, der geringer als der Quotient der Auflösung und der vorstehend erwähnten spezifischen Vergrößerung des optischen Projektionssystems vorgesehen für die Maske 23 ist. Jeder Extinktionsabschnitt 26 ist eine viereckige Chromlage mit 0,002 mm für jede Seite und wird mittels eines Pseudofehlerdiffusionsmusters verteilt, wie dies in den 6A und 6B gezeigt ist.
  • Der Abschnitt A zeigt eine rechtwinklige Zone von 0,020 mm × 0,016 mm ((Richtung X) × (Richtung Y) in den 6A und 6B) an, bei der die Pseudo-Fehler-Diffusion des Extinktionsabschnittes 26 vorgesehen ist. Das Muster 24a der Nut 19b der Maske 23 ist durch 6 Zonen A in der Richtung X und durch die 72-Zonen in der Richtung Y ausgebildet.
  • Wie dies vorstehend beschrieben ist, beträgt die Auflösung des optischen Projektionssystems 0,002 mm und die spezifische Vergrößerung beträgt ¼ der Leistung. Jeder Extinktionsabschnitt 26 ist eine viereckige Chromlage mit 0,002 mm für eine Seite. Daher ist (die Auflösung des optischen Projektionssystems 0,002 mm)/(die spezifische Vergrößerung ein Viertel) = 0,008 mm. Die Chromlage ist kleiner als 0,008 mm und wird zu 0,0005 mm an der Oberfläche des Werkstückes W. Als ein Ergebnis wird dieser Abschnitt nicht an dem Werkstück W fokussiert. Jedoch werden die Laserstrahlen zuverlässig in dieser Weise ausgelöscht das heißt es erfolgt eine Extinktion.
  • In dem der Aufbau und das Prinzip in der vorstehend beschriebenen Weise angewendet werden, wird die Strahlung mit 200 Impulsen auf die Prozessfläche der eines Werkstückes auferlegt, wobei die Energiekonzentration 1 J/cm × Impuls beträgt. Dann wird es möglich, 200 Nuten mittels einem einmaligen Bearbeiten auszubilden, wobei jede Nut die Tiefe (h), 40 μm × die Breite, 30 mm × die Länge, 452 μm, bei Abständen von 42,5 μm hat, wobei sogar jeder Abschnitt mit 288 μm vorhanden ist, dessen Tiefe (h1) auf 25 μm gesteuert wird (siehe 3). In dieser Weise ist es möglich eine Tintenstrahlaufzeichnungskopf mit ausgezeichneten Eigenschaften im Hinblick auf ein Ausstoßen von Tinte ohne ein Verringern von seiner Produktivität zu erhalten.
  • Ausführungsbeispiel 2
  • Die 7A bis 7E zeigen vergrößerte Ansichten von vorn von dem Abschnitt a (siehe 5) der Maske 23 des Laserprozesssystems gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. 7F zeigt eine vergrößerte Ansicht von dem Nutenmuster. 8 zeigt eine schematische Ansicht von der Tintenströmungsbahn 14 an dem zweiten Substrat 19, das mittels des Musters 24b der Nut 19b bearbeitet worden ist.
  • Wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel wird das Muster 24b der Nut 19b der Maske 23 wie folgt erzeugt:
    Zone D (ein Muster mit 8 Extinktionsabschnitten 26 mit 2 μm Mikrometer jeweils bei 320 μm2), sechs in der Richtung X und drei in der Richtung Y;
    Zone C (ein Muster mit 16 Extinktionsabschnitten 26 mit 2 μm × 2 μm jeweils bei 320 μm2), sechs in der Richtung X und zwei in der Richtung Y;
    Zone B (ein Muster mit 24 Extinktionsabschnitten 26 mit 2 μm × 2 μm jeweils bei 320 μm2), sechs in der Richtung X und zdre in der Richtung Y;
    Zone A (ein Muster mit 32 Extinktionsabschnitten 26 mit 2 μm × 2 μm jeweils bei 320 μm2), sechs in der Richtung X und 67 in der Richtung Y;
    Zone E (ein Muster mit 48 Extinktionsabschnitten 26 mit 2 μm × 2 μm jeweils bei 320 μm2), sechs in der Richtung X und 33 in der Richtung Y;
  • Ein Werkstück W wird wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel unter Verwendung des Musters 24b der Nut 19b bearbeitet. Dann ist es möglich, 200 Nuten durch ein einmaliges Bearbeiten auszubilden, wobei jede Nute in die Tiefe (a) mal die Breite, 30 μm × die Länge, 452 μm bei Abständen von 42,5 μm hat, wobei der Aufbau bis zu der Tiefe der Nut h2 = 50 μm h3 = 30 μm und h4 = 20 μm gesteuert wird, wie dies in 8 gezeigt ist.
  • Der somit hergestellte Nutenaufbau hat den Aufbau, der durch die in den 7A bis 7C gezeigten Abschnitte D, C und B ausgebildet ist. Daher wird es leichter, den geneigten Abschnitt 27 gleichförmig ohne irgendwelche Absätze auszubilden.
  • Bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel wird es ermöglicht, dass die Übertragungsfähigkeit der Laserstrahlen sich allmählich unter Verwendung des Aufbaus, der durch die Abschnitte D, C und B ausgebildet ist, ändert, und der geneigte Abschnitt 27 wird gleichförmig ohne irgendwelche Absätze ausgebildet. Es ist ebenfalls möglich, den absatzfreien und gleichförmig geneigten Abschnitt 27 in einer derartigen Weise auszubilden, das an Stelle des Anwendens des durch die Abschnitte D, C und B des vorliegenden Ausführungsbeispiels ausgebildeten Aufbaus die Extinktionsabschnitte 26 so angeordnet sind, dass die Übertragungsfähigkeit allmählich durch das Anwenden eines Fehlerdiffusionsverfahrens oder dergleichen verringert oder erhöht wird, und dass die Übertragungsfähigkeit der Laserstrahlen sich demgemäß allmählich ändert. Durch die Maske des vorliegenden Ausführungsbeispiels und die Anwendung eines derartigen Verfahrens wird es leichter, einen komplizierten dreidimensionalen Aufbau gleichförmiger auszubilden, indem die Übertragungsfähigkeit der Laserstrahlen genauer geändert wird.
  • Ausführungsbeispiel 3
  • Die 9A und 9B zeigen vergrößerte Ansichten von vorn von dem Abschnitt a der Maske 23 des Laserprozesssystems gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung, wobei außerdem das Nutenmuster gezeigt ist. Wie bei dem ersten und bei dem zweiten Ausführungsbeispiel beträgt der Extinktionsabschnitt 0,002 mm × 0,12 mm (die Richtung Y × die Richtung X in den 9A und 9B). Kein Bild kann in der Richtung Y fokussiert werden.
  • In dem das Muster 24c der Nut 19b so ausgebildet wird, dass 179 von derartigen Extinktionsabschnitten 26 bei Abständen von 0,006 mm vorgesehen werden, wird ein Werkstück W wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel bearbeitet. Dann ist es möglich, 200 Nuten mittels einem einmaligen Bearbeiten auszubilden, wobei jede Nut die Tiefe (h), 40 μm × die Breite, 30 μm × die Länge, 243,5 μm bei Abständen von 42,5 μm hat, wobei sogar bei jedem Abschnitt die Tiefe (h1) auf 28 μm gesteuert wird. In dieser Weise ist es möglich, einen Tintenstrahlaufzeichnungskopf mit ausgezeichneten Eigenschaften im Hinblick auf ein Ausstoßen von Tinte ohne Verringerung der Produktivität desselben wie bei dem ersten und bei dem zweiten Ausführungsbeispiel zu erhalten.
  • Ausführungsbeispiel 4
  • Nachstehend ist unter Bezugnahme auf die 3, 6A und 6B ein viertes Ausführungsbeispiel beschrieben. Bei dem vorliegenden Ausführungsbeispiel wird das gleiche System wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel angewendet. Mit dem Bezugszeichen 28 ist ein Extinktionsabschnitt bezeichnet, der kleiner als der Quotient der Auflösung und der vorstehend erwähnten spezifischen Vergrößerung des optischen Projektionssystems ist. Der Extinktionsabschnitt ist eine viereckige Chromlage von 0,012 mm × 0,012 mm. Das Nutenmuster wird mittels einer Fehlerstreuung (Fehlerdiffusion) ausgebildet oder so wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel eingerichtet.
  • Die Auflösung des Prozesses beträgt 0,004 mm, wenn die Nut, deren Tiefe (h) 40 μm beträgt, durch die Anwendung des gleichen Systems wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel bearbeitet wird. die spezifische Vergrößerung beträgt 1/4 der Leistung. Der Extinktionsabschnitt 28, der kleiner als der Quotient der der Auflösung von dem Prozess und der vorstehend erwähnten spezifischen Vergrößerung ist, ist die viereckige Chromlage mit 0,012 mm für eine Seite, das heißt die Chromlage, die kleiner als 0,016 mm = (die Prozessauflösung, 0,004 mm)/(die spezifische Vergrößerung, 1/4 der Leistung) ist. Diese Lage wird zu 0,003 mm an der Oberfläche des Werkstücks W, was ermöglicht, ein Bild darauf zu fokussieren. Da jedoch diese Lage kleiner als die Prozessauflösung ist, wird kein Prozess bewirkt, sondern lediglich der sich ergebenden Kontrast wird verringert.
  • Durch das vorstehend beschriebene Prinzip und den vorstehend beschriebenen Aufbau wird das Laserbearbeiten in dem gleichen Zustand wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel ausgeführt. Dann ist es möglich, die Nut, deren Tiefe (h1) auf 25 μm gesteuert wird, durch ein einmaliges Bearbeiten wie bei dem ersten Ausführungsbeispiel auszubilden.
  • Ausführungsbeispiel 5
  • Unter Bezugnahme auf das zweite Ausführungsbeispiel wird der gleiche Effekt ebenfalls in einem Fall erreicht, bei dem an Stelle des Extinktionsabschnittes 26 der Extinktionsabschnitt 28 (der eine viereckige Chromlage mit 0,012 mm für eine Seite ist) verwendet wird, wobei dieser Abschnitt kleiner als der Quotient der Auflösung und der vorstehend erwähnten spezifischen Vergrößerung ist, wenn das Werkstück bearbeitet wird.
  • Ausführungsbeispiel 6
  • Unter Bezugnahme auf das dritte Ausführungsbeispiel wird der gleiche Effekt ebenfalls in einem Fall erreicht, bei dem an Stelle des Extinktionsabschnittes 26 der Extinktionsabschnitt 28 (der die Chromlage mit 0,012 mm × 0,120 mm ist) verwendet wird, wobei dieser Abschnitt kleiner als der Quotient der Auflösung und der vorstehend erwähnten spezifischen Vergrößerung ist, wenn das Werkstück bearbeitet wird.
  • In dieser Hinsicht wird Chrom für die Beschichtungslage 25a die Laserstrahlbündel absorbiert oder reflektiert, für das erste bis sechste Ausführungsbeispiel verwendet. Jedoch kann Aluminium, Nickel oder Phosphorbronze statt dessen verwendet werden. In jedem Fall ist es möglich, den gleichen Effekt wie bei dem ersten bis sechsten Ausführungsbeispiel zu erzielen.
  • Im Allgemeinen gibt es für das Fixbinarisationsverfahren, das als ein Halbton-Wiedergabeverfahren für ein binär kodiertes Aufzeichnen aufgegriffen werden kann, solche Verfahren, wie beispielsweise das Verfahren der zufälligen Schwankung (random dither method), das Verfahren der geordneten Schwankung (organized dither method), das Durchschnittsfehlerminimierverfahren, das Mittelwertsteuerverfahren, das dynamische Grenzwertverfahren, das Fehlerdiffusionsverfahren, das Mehrstufenteilquantisierungsverfahren (multiplestage divisional quantization method), das Eingriffspixelteilverfahren (in-mesh pixel splitting method), das Zufallsmusterverfahren (random pattern method), das geordnete Dichtemusterverfahren (organized density pattern method) und das Konditionalentscheidungsverfahren ((conditional decision method). Für das adaptive Binarisationsverfahren gibt es ein Verfahren zum unterscheiden von Bildzonen in Übereinstimmung mit den charakteristischen Größen der Umfangsbildpunkte (Pixel) und ein Verfahren zum Unterscheiden von Bildzonen in Übereinstimmung mit den charakteristischen Größen der Ortogonalkonversion oder dergleichen. Bei den vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispielen wurde die Anwendung des Fehlerdiffusionsverfahrens (wobei eine Pseudofehlerdiffusion umfasst war) als deren typisches Beispiel beschrieben. Hierbei ist jedoch die vorliegende Erfindung nicht unbedingt auf das Fehlerdiffusionsverfahren beschränkt. Es ist möglich, den Gegenstand der vorliegenden Erfindung durch die Anwendung von einem beliebigen anderen der vorstehend erwähnten Verfahren von den Fixbinarisationsverfahren und adaptive Binarisationsverfahren zu verwirklichen.
  • Wie dies vorstehend beschrieben ist, können gemäß dem Laserprozesssystem der vorliegenden Erfindung die Extinktionsabschnitte der Laserstrahlbündel in einer beliebigen Form an dem Muster der Maske eingerichtet sein. Als ein Ergebnis ist es möglich, komplizierte dreidimensionale Unregelmäßigkeiten in der Richtung der Laserbestrahlung und gleichmäßig ohne irgendwelche Absätze durch das Ausführen eines einmaligen Bearbeitens eines Werkstückes zu behandeln. Es ist ebenfalls erleichtert worden, die Extinktion der Extinktionsabschnitte fein einzustellen, womit die Prozessgenauigkeit bei dem Werkstück wesentlich verbessert wird.
  • Außerdem gibt es anders als bei dem herkömmlichen Verfahren keinen Bedarf an der Anwendung einer Vielzahl an Masken zum Ausführen eines Mehrstufenprozesses oder eines Mehrstufenbearbeitens. Daher werden die Prozesskosten bei dem Werkstück wesentlich verringert. Gleichzeitig wird das Prozesssystem selbst bei niedrigen Kosten gebaut.
  • Des Weiteren ist es gemäß dem Laserprozesssystem der vorliegenden Erfindung möglich, ein Werkstück so zu bearbeiten, dass dreidimensionale Nuten in einem erwünschten Aufbau bei guter Genauigkeit bearbeitet werden können. Daher kann, wenn der Prozessgegenstand die Tintenströmungsbahnen eines Tintenstrahlaufzeichnungskopfes ist, der Aufbau der Nuten, die zu der derartigen Strömungsbahnen werden, so endbearbeitet werden, dass der zu einem komplizierten dreidimensionalen Aufbau bei guter Genauigkeit wird, wobei dies am besten für das Steuern der Strömung der Tinte geeignet ist. Folglich ist es gemäß der vorliegenden Erfindung möglich, einen Tintenstrahlaufzeichnungskopf mit ausgezeichneten Eigenschaften im Hinblick auf ein Ausstoßen der Tinte zu erzielen.
  • Außerdem führt gemäß der vorliegenden Erfindung ein System zum Herstellen der Tintenstrahlaufzeichnungsköpfe das vorstehend beschriebene Laserprozesssystem aus, um zu ermöglichen, dass ein Tintenstrahlaufzeichnungskopf mit ausgezeichneten Eigenschaften im Hinblick auf ein Ausstoßen von Tinte erhalten wird.
  • Das Laserprozessverfahren hat zumindest entweder eine Laserlichtquelle, ein optisches Strahlbündelformsystem zum Formen eines Laserstrahlbündels, einer Maske mit spezifischen Mustern, die dem Prozessaufbau eines Werkstückes entsprechen, ein optisches Beleuchtungssystem für ein Beleuchten der Maske und ein optisches Projektionssystem zum Fokussieren der Musterbilder der Maske an der Prozessoberfläche von dem Werkstück mit einer spezifischen Vergrößerung. Diese Maske ist mit einem Extinktsionsabschnitt versehen, der kleiner als der Quotient aus der Auflösung und der spezifischen Vergrößerung des optischen Projektionssystems ist. Durch das somit eingerichtete Verfahren kann ein Werkstück bearbeitet werden, das komplizierte dreidimensionale Formen mit Unregelmäßigkeiten in der Richtung der Laserbestrahlung durch ein einmaliges Bearbeiten vorgesehen werden. Außerdem ermöglichen die Extinktionsabschnitte ein leichtes und fein vorgesehenes Einstellen der Extinktion derart, dass die Genauigkeit des Bearbeitens des Werkstückes verbessert wird.

Claims (8)

  1. Laserprozesssystem mit einer Maske (23) mit einem spezifischen Muster (24a, 24b, 24c) entsprechend einem Prozessaufbau eines Werkstücks (W), einem optischen Beleuchtungssystem (1, 8a) zum Beleuchten der Maske (24), wobei das optische Beleuchtungssystem eine Laserlichtquelle (1) zum Ausgeben eines Laserstrahlbündels (2) und ein optisches Strahlbündelformsystem (8a) zum Formen des Laserstrahlbündels aufweist, und einem optischen Projektionssystem (8b) zum Fokussieren eines Bildes von dem Muster (24a, 24b, 24c) der Maske (23) an der Prozessoberfläche von dem Werkstück (W) mit einer spezifischen Vergrößerung und mit einer Auflösung an der Prozessoberfläche, dadurch gekennzeichnet, dass das Muster (24a, 24b, 24c) zumindest einen Abschnitt (A, B, C, D, E) mit verringerter Lichtübertragungsfähigkeit hat und der Abschnitt (A, B, C, D, E) mit der verringerten Lichtübertragungsfähigkeit ausgebildet ist, indem zumindest ein Extinktionsabschnitt (26, 28) vorgesehen ist, der kleiner als der Quotient zwischen der Auflösung des optischen Projektionssystems (8a) und der spezifischen Vergrößerung ist.
  2. Laserprozesssystem gemäß Anspruch 1, wobei der Extinktionsabschnitt ein Abschnitt ist, der das Laserstrahlbündel zu 100 reflektiert oder absorbiert oder lediglich diesen mit weniger als dem Grenzwert des Laserbehandelns des Werkstücks überträgt.
  3. Laserprozesssystem gemäß Anspruch 1 oder Anspruch 2, wobei die Laserlichtquelle (1) ein Impulsultraviolettlaser ist.
  4. Laserprozesssystem gemäß Anspruch 1, wobei das Werkstück (W) ein zweites Substrat (19) von einem Tintenstrahlaufzeichnungskopf ist, der ein erstes Substrat (20) hat, das mit einer oder mehreren Flüssigkeitsausstoßenergie erzeugenden Vorrichtungen (18) zum Ausstoßen von Tinte versehen ist, wobei das zweite Substrat (19) eine oder mehrere Nuten (19b) hat, die an diesem ausgebildet sind, wobei sie Tintenströmungsbahnen (14) definieren, und wobei der Prozessaufbau der Aufbau der Nuten (19b) des zweiten Substrates (19) ist.
  5. Laserprozesssystem gemäß Anspruch 4, wobei der Abschnitt (A, B, C, D, E) mit der verringerten Lichtübertragungsfähigkeit ein Abschnitt ist, der bei dem Muster (24a, 24b, 24c) einer Nut (19b) von dem Tintenstrahlaufzeichnungskopf ausgebildet an der Maske (23) vorhanden ist.
  6. Laserprozesssystem gemäß Anspruch 5, wobei der Extinktionsabschnitt (26, 28) unregelmäßig in dem Abschnitt (A, B, C, D, E) mit der verringerten Lichtübertragungsfähigkeit angeordnet ist.
  7. Laserprozesssystem gemäß Anspruch 5, wobei der Extinktionsabschnitt (26, 28) ein Abschnitt ist, der unter Verwendung eines Festbinärverfahrens und/oder eines Adaptationsbinärverfahrens eingerichtet ist.
  8. System zum Herstellen von Tintenstrahlaufzeichnungsköpfen unter Verwendung eines Laserprozesssystems gemäß einem der Ansprüche 1 bis 7.
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